JP4339094B2 - 表面検査装置 - Google Patents
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Description
d=dm+dw=一定 …(1)
の関係を有する。
そして、ステップS3へ進み、光学系・ミラー間距離dmに対応する駆動信号をセンサヘッド位置調整用アジャストモータ18へ出力して、ルーチンを終了する。尚、光学系・ミラー間距離設定ルーチンは、円筒体2毎に入力しても良いが、生産ロット後に入力しても良い。
αm=45°+(α/2) …(2)
から算出し、ミラー12を傾斜させる。このミラー12の傾斜は手動によって行っても、ステッピングモータ等のモータで駆動させるようにしても良い。
尚、dは焦点距離に基づいて設定される対物光学系24の先端からテーパ部2bまでの距離である。
その結果、図10に示すように、対物光学系24の先端からテーパ部2bまでの距離dを常に一定の状態にしたまま、テーパ部2bを連続的に走査することができるため、作業効率が大幅に上昇する。
2a 内面
2b テーパ部
4,4’ 表面検査装置
4a 装置本体
5 回転センサ用スライダ
6 スライダ用ガイドロッド
7 送り用駆動モータ
8 スライダ用スクリュー軸
9 ガイドナット
10 回転筒用モータ
11 回転筒
11a 窓部
12 ミラー
13 ミラー軸
14 筒状体
15 ブラケット
16 筒状体用ガイドロッド
17 筒状体用スクリュー軸
18 センサヘッド位置調整用アジャストモータ
20 センサヘッド
31 制御装置
α,αm 傾斜角
d 距離
dm,dm’光学系・ミラー間距離
dt 測定距離
dw,dw’ ミラー・テーパ部間距離
Claims (4)
- 円筒体の内面に検査光を照射し、その反射光量の変化に基づき該内面の欠陥部の有無を検査する表面検査装置において、
上記内面の軸芯上に、検査光を該軸芯方向へ出射するセンサヘッドの光軸を一致させた状態で配設し、
上記センサヘッドの光軸上に、上記検査光を上記内面に対し略直角に照射させると共に上記円筒体に対して相対回転する反射部材を配設し、
上記センサヘッドをその光軸に沿って上記反射部材に対して移動可能に支持し、
上記センサヘッドを移動させることにより、上記軸芯に沿う方向に形成されている上記内面を走査するときは、上記センサヘッドと上記反射部材との距離を、上記円筒体の内径と該センサヘッドの焦点距離とに基づき、上記センサヘッドから上記反射部材を介して上記内面へ至る距離と上記センサヘッドの焦点距離との関係が一定となるように設定し、且つ上記内面に形成されたテーパ部を走査するときは、該テーパ部から上記反射部材を経て上記センサヘッドに至る距離を、該センサヘッドの焦点距離に対して一定となるように、上記センサヘッドと上記反射部材との距離を制御する手段を設けた
ことを特徴とする表面検査装置。 - 上記反射部材は、上記センサヘッドに外装された回転筒に固設されており、
上記回転筒の回転により上記反射部材を回転させる
ことを特徴とする請求項1記載の表面検査装置。 - 上記反射部材は、上記センサヘッドに外装された回転筒に固設されており、
上記回転筒の回転により上記反射部材を回転させると共に、
上記センサヘッドは、上記回転筒と同軸上に配設した筒状体に固設されており、
上記回転筒と上記筒状体とを軸芯方向へ一体移動させることで上記内面を螺旋状に走査させる
ことを特徴とする請求項1又は2記載の表面検査装置。 - 上記回転筒に対して上記筒状体を軸芯方向へ移動可能に支持したことを特徴とする請求項3記載の表面検査装置。
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- 2003-12-02 JP JP2003403725A patent/JP4339094B2/ja not_active Expired - Lifetime
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