JP4331322B2 - Mri装置 - Google Patents

Mri装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4331322B2
JP4331322B2 JP15198399A JP15198399A JP4331322B2 JP 4331322 B2 JP4331322 B2 JP 4331322B2 JP 15198399 A JP15198399 A JP 15198399A JP 15198399 A JP15198399 A JP 15198399A JP 4331322 B2 JP4331322 B2 JP 4331322B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic field
coil
static magnetic
magnet
piece
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP15198399A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000333932A (ja
JP2000333932A5 (ja
Inventor
仁志 吉野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Medical Corp filed Critical Hitachi Medical Corp
Priority to JP15198399A priority Critical patent/JP4331322B2/ja
Publication of JP2000333932A publication Critical patent/JP2000333932A/ja
Publication of JP2000333932A5 publication Critical patent/JP2000333932A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4331322B2 publication Critical patent/JP4331322B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気共鳴イメージング装置(以下、MRI装置と記す。)、特に静磁場発生手段が発生する磁場の均一度調整に好適なイメージング装置構造に関する。
【0002】
【従来の技術】
図5及び図6に静磁場の発生に永久磁石を用い磁気回路を構成する静磁場発生部2を示す。図5は静磁場発生部の斜視図、図6は磁場発生部以外についても図示した縦断面図である。図5で、静磁場発生部2は、被検体を収容してMR計測を行う計測空間Hを挟んで上下に対向して配置された下部磁石部Aと上部磁石部B、この下部磁石部A、上部磁石部Bの発する磁束の磁気回路をなすカラム57a,57bより成る。上部磁石部Aと下部磁石部Bとは、基本的にほぼ同様な構成から成り、図5の下部磁石部Aの外観では、ヨーク51a、永久磁石52a、磁極片53aとを示した。上部磁石部Bは基本的に下部磁石部Aを反転したものである。図6において、一対の鉄製ヨーク51a、51bで永久磁石52a、52b及び磁極片53a、53bを各々支持し、ヨーク51a、51bを2本のカラム57a,57bで所定の距離だけ隔てて対向保持して構成されている。この静磁場発生部2において永久磁石52aと52bとは互いに極性を異ならせて対向配置されており、磁気回路は永久磁石52a⇒磁極片53a⇒磁極片53b⇒永久磁石52b⇒ヨーク51b⇒カラム(磁気系路体)57a、57b⇒ヨーク51a⇒永久磁石52aで形成される。
【0003】
さらに、磁極片53a、53bの計測空間Hに面した表面には略同心円上に鉄片54または磁石片55が配置されている。さらに対向する磁極片53a、53bの周縁部は上下とも同一形状の環状突起部56を有する。この環状突起部56は、周辺への磁束の漏れを抑え内部空間の均一度を改善するためのものである(詳細は、特開昭60−88407号参照)。これらの構成部品のうち、磁極片53a、53bと鉄片54または磁石片55は被検体が入る空間、つまり磁極片53a、53bの間の中央の磁場均一度をより高度に均一にするためにある。(ここで、均一度とは(ある空間の磁場変化量)÷(中心磁場強度)で表わされ、通常ppmを単位として表現される。)鉄片54または磁石片55は、製造段階での、ある空間の磁場均一度調整に特に役立つ(以下、磁極片53a、53bに鉄片54または磁石片55を配置し磁場均一度調整する方法を鉄片シミングと呼ぶ)。
【0004】
静磁場発生部2の被検体が入り得る有効ギャップは、磁極片53a、53bの環状突起部56の表面部間距離となる。更に、この空間内には、被検体の他、開口部用外装カバー50とイメージングに必要な送信側高周波コイル14a、14b及び受信側高周波コイル(図示せず)、が配置されている。この他に、傾斜磁場コイル9a、9bがあるが、傾斜磁場コイル9a、9bは磁極片53の凹部に収容されることもある。
【0005】
以上のような静磁場発生部において、(イ)磁場均一度は環境により変化するため、鉄製のヨーク51b及び又は51aを微小に上下又は傾斜させること、(ロ)鉄製のヨーク51a、51bの中央部と永久磁石52a、52bの中央部を貫いて位置した鉄製のボス58a、58bを上下させること、(ハ)永久磁石52a、52b外周に位置した鉄製のボルト59a、59bを上下させること、の全部又はその一部を用いて磁場均一度の調整を行う。以上の(イ)、(ロ)、(ハ)の3通りの磁場調整法をメカニカルシミングと呼び、鉄片シミングと区別している。
【0006】
製造段階での磁場調整は鉄片シミングとメカニカルシミングを併用し、イメージング装置据え付け時にはメカニカルシミングを用いて調整する例が多い。
【0007】
この静磁場発生源に永久磁石を用いた静磁場発生装置は周囲温度の変化により磁場強度が変化する。一般的に永久磁石の磁場強度の変化の温度係数は−1000ppm/℃程度である。即ち、温度が1℃上がると、静磁場強度が1000ppm弱くなる。核磁気共鳴イメージング装置では静磁場に傾斜磁場を加えて、位置を磁場の大きさに対応させ、位置に応じた共鳴周波数の信号を発生させる。この位置に応じた周波数を持つ核磁気共鳴信号を検出し、位置の特定を行う。然るに、静磁場の強度が温度の影響を受けて変化すると、結局位置の特定に誤差を含むことになる。画像上に問題とならない磁場強度の変化限度は一般には5ppm/撮影時間、である。言い換えると、撮影時間内に5/1000℃以内に温度変化を抑える必要がある。この1つの方法として本発明者らは、特願昭61−185277号に記したように磁気回路の周囲を断熱材で覆い、内部に温度調整用ヒータを設けヒータへの電流を制御して磁気回路温度を一定に保つ制御方法を提案している。図6に示した50は断熱材であり、外気温変化、傾斜磁場コイル9の発熱による磁気回路2への影響を緩和するものである。本来は静磁場発生部全面に配置されているが説明に必要な部分のみを図示した。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来技術は、次のような解決すべき課題を有していた。
メカニカルシミングでは磁場不均一項の低次項のみの調整が可能であり、外来直流磁場、磁気回路内温度分布変化で発生する高次項磁場不均一変化に対応できず、画像に歪やアーチファクトを発生させるという問題を有していた。 この問題は従来例で説明した鉄片シミングで解決可能であるが、各種の部品、例えば、開口部用外装カバー50と送信側高周波コイル14a、傾斜磁場コイル9、断熱材60を一旦外して鉄片の位置を調整する必要がある。
【0009】
前述のように、永久磁石型の静磁場発生部2は温度変化に敏感であるため、各種部品を外すことによる温度変化を原因とする磁場均一度変化が起こり、本来調整すべき不均一項が変化し、調整が困難であった。製造段階で行っている鉄片シミングは一定に温度管理された部屋で行っているため問題はないが、これを部屋が温度管理されていない据え付け時や、点検時に行うことは、鉄片シミングを行う時間、温度変化を起こした磁石を安定にするまでの時間、温度変化途中でのシミング実行の結果確認までの時間等、長時間を要するので、一般的には前記メカニカルシミングで留めていた。
しかし近年EPI撮影法などの高速撮影法が普及し始め、MRI装置の静磁場はより高度な磁場均一度が必要不可欠となってきた。
【0010】
本発明の目的は、磁場均一度の調整を迅速に行うことができるMRI装置を提供することにある。特に鉄片シミングを迅速に可能にする構造を有したMRI装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために本発明は、被検体を収容する空間に均一な静磁場を発生する静磁場発生手段と、前記静磁場へ重畳する勾配磁場を発生する傾斜磁場コイルを含む傾斜磁場発生手段と、被検体へ照射する高周波磁場を発生する高周波コイルと、被検体から発生するNMR信号を検出する手段と、
前記検出された信号を画像化する手段とを備え
前記静磁場発生手段の表面から所定距離を置いた位置であって、前記均一磁場空間と前記静磁場発生手段の表面との間に、前記静磁場の均一度を調整する磁性部材片を支持手段によって所定位置へ配置可能としたことを特徴とするMRI装置において、前記所定位置は複数個あり、該複数個の位置には鉄片又は磁石片が配置されることとしたものである。そして、本発明では、前記磁性部材片の支持手段は前記高周波コイルのコイル支持体を用いると良く、また、前記磁性部材片を前記コイル支持体へ前記高周波コイルの中心に対し同心円状の位置に複数個配置すると良い。更に、前記高周波コイルは着脱可能なカバーに覆われており、このカバーを取り外すことにより前記磁性部材片の着脱、又は位置の微調整を可能とすると良い。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。図1は本発明の実施の形態のMRI装置の全体構成図を示すブロック図である。このMRI装置は、磁気共鳴(NMR)現象を利用して被検体1の断層画像を得るもので、そのために、被検体1を収容する空間を有した静磁場発生部2と、中央処理装置(以下、CPUという)8と、シーケンサ7と、送信系4と、傾斜磁場発生系3と、受信系5と信号処理系6とを備えている。
【0013】
上記静磁場発生部2は、超電導磁石、常電導磁石または永久磁石から成る静磁場発生源を有し、被検体1の周りにその体軸方向または体軸と直角方向に均一な磁束を発生するもので、上記被検体1の周りのある広がりを持った空間にある所定の均一な磁場強度を有した計測空間を形成する。
【0014】
上記シーケンサ7は、CPU8の制御で動作し、被検体1の断層画像のデータ収集に必要な種々の命令を送信系4及び傾斜磁場発生系3並びに受信系5に送るものである。
【0015】
上記送信系4は、高周波発振器11と変調器12と高周波増幅器13と送信用高周波コイル14aとから成り、上記高周波発振器11から出力された高周波パルスをシーケンス7の命令に従って、変調器12で振幅変調し、この振幅変調された高周波パルスを高周波増幅器13で増幅した後に被検体1に近接して配置された送信用高周波コイル14aに供給することにより、電磁波が上記被検体1に照射されるようになっている。
【0016】
上記傾斜磁場発生系3はX、Y、Zの三方向に巻かれた傾斜磁場コイル9とそれぞれのコイルを駆動する傾斜磁場電源10とから成り、上記シーケンサ7からの命令に従ってそれぞれのコイルの傾斜磁場電源10を駆動することにより、X、Y、Zの直交する三方向の傾斜磁場Gx、Gy、Gzを被検体1に印加するようになっている。この傾斜磁場の加え方により、被検体1に対するスライス面を設定することができる。
【0017】
上記受信系5は、受信用高周波コイル14bと増幅器15と直交位相検波器16とA/D変換器17とから成り、上記送信用の高周波コイル14aから照射された電磁波による被検体の応答の電磁波(NMR信号)を被検体1に近接して配置された受信用高周波コイル14bで検出し、増幅器15及び直交位相検波器16を介してA/D変換器17に入力してディジタル量に変換する。この際、A/D変換器17はシーケンサ7からの命令によるタイミングで、直交位相検波器16から出力された二系列の信号をサンプリングし、二系列のディジタルデータを出力する。それらのディジタル信号は信号処理系6に送られフーリエ変換されるようになっている。この信号処理系6は、CPU8と磁気ディスク18及び磁気テープ19等の記録装置とCRT等のディスプレイ20とから成り、上記ディジタル信号を用いてフーリエ変換、補正係数計算、画像再構成等の処理を行い、任意断面の信号強度分布あるいは複数の信号に適当な演算を行って得られた画像をディスプレイ20に表示するようになっている。
【0018】
次に本発明の一実施の形態を示す。図2は従来例で用いた図6の下部分に対応したものと同じで、静磁場発生部2の磁石中心断面図である。傾斜磁場コイル9は、磁極片53aに固定されているスタッドボルト61にネジ63で固定され、その上面は磁極片53aの環状突起部56の上面と一致している。すなわち、傾斜磁場コイル9は磁極片53aの凹部に収容されている。送信用高周波コイル14aは、傾斜磁場コイル9を貫通して磁極片53aに固定されているスタッドボルト62に、ネジ64で固定されている。60は断熱材で、傾斜磁場コイル9で発生した熱が磁極片53aを介して永久磁石ブロック52aへ伝達されることを防止するものである。したがって、この熱伝達の防止の観点から、傾斜磁場コイル9及び送信用高周波コイル14aを固定するためのスタッドボルト61、62は熱伝導率の低い材質、例えば、ステンレス製や樹脂製のものを用いることが好ましい。その他は従来例で説明した内容と同一であるので省略する。
【0019】
図3は本発明に係る送信用高周波コイル14aの斜視図である。70は銅板で形成されたコイルで、75がその保持部材であり、例えばエポキシ樹脂製である。この保持部材75には、前記スタッドボルト62へこの送信用高周波コイル14aを固定するための穴の他に、コイル70の中心点を中心とした同心円上に複数個のネジ加工が施された穴71が設けられ、それらの穴71に磁石片又は鉄片の挿入が可能となっている。
【0020】
図4は図3の穴71部の断面図である。74が磁石片、73が鉄片、72は樹脂製ネジである。磁場の空間的歪み補正のため、鉄片か磁石片を使用する必要があり、同一の穴71で両方使用可能にするため、以下の構成としている。保持部材75の穴71はネジ穴とし、磁石を使用する場合にはその穴に磁石片74を挿入し樹脂製ネジ72で抜け防止をする構造としている。さらに鉄片使用の場合には、鉄片の変わりに鉄製ネジを保持部材75のネジ穴にねじ込むことで固定する構造としている。磁石片74のかわりに鉄片を挿入し樹脂製ネジ72で固定する構造でも良い。
【0021】
次に、本発明による静磁場均一度の調整方法について説明する。据え付け時の磁場均一度測定時又はファントム撮影によって画像歪が認められた場合には、先ず前記メカニカルシミングを実行する。そしてメカニカルシミングを実行しても磁場均一度が達成できなくなったところで、図2に示すカバー50を取り外す。このカバー50を取り外すと、送信用高周波コイル14aが露出し、図3の鉄片シミング用の穴71が現われる。
【0022】
そして、前記磁場均一度測定結果又はファントム画像歪を参照しながら、磁場強度の不均一を生じている個所を特定し、その位置に対応した所の穴71へ、シミング用の鉄片73又は磁石片74を挿入し、あるいはその位置の鉄片73又は磁石片74を取り外す。
【0023】
本実施の形態によれば、均一度の調整が非常に微小な場合には、穴71のネジ構造を利用し、鉄片73又は磁石片74を穴の深さ方向へその位置を調整することで対応することも可能である。
【0024】
本実施の形態によれば以下の如き効果がある。
・開口部カバーを外すだけで鉄片シミングが可能となった。
・据え付け時の高精度磁場均一度調整が可能となり、高精度磁場均一度を必要とするEPI撮影法などに対応が可能となる。
・鉄片シミングにおいても静磁場発生手段の温度を変化させずにすむため据え付け時間を短縮できる。
・アーチファクトを低減できる。
【0025】
MRI装置における計測空間、すなわち均一磁場空間は通常、球状又は楕円球状に形成されるため、以上の如き構成は、磁場不均一部分が生ずる位置は様々であるので、図6の上部分に対しても同様の構造を採用すると良い。これによって、上下において静磁場均一度の調整が可能となる。勿論、上下のいずれか一方のみを上記の如き構成とする例もある。
【0026】
更に、均一度調整のための穴71は、高周波コイル70を搭載した部材72に設けたが、高周波コイル70を別体とし、調整のためだけの部材を設けて、この部材中に同心円状の穴を設けて調整するやり方もある。また、同心円状配置穴としたが、縦横マトリックス状の如き穴配置例もある。
更に、当然のことながら、メカニカルシミングと併せて均一度調整を行うことが好ましい。
【0027】
なお、本発明を永久磁石方式のMRI装置に適用した実施形態を説明したが、本発明はこれに限定されるのではなく、静磁場の発生源が計測空間を間に挟んで対向して設けられる方式のものであれば、超電導方式や常電導方式のMRI装置にも適用可能であることは言うまでもない。
【0028】
【発明の効果】
本発明によれば、鉄片シミングによる磁場均一度調整を極めて容易に実現可能になった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のMRI装置の一実施の形態の全体構成ブロック図である。
【図2】一実施の形態のMRI装置の断面図である。
【図3】一実施の形態の送信用高周波コイルの斜視図である。
【図4】一実施の形態の送信用高周波コイルの断面図である。
【図5】従来の静磁場発生手段の斜視図である。
【図6】従来の静磁場発生手段の断面図である。
【符号の説明】
14a 送信用高周波コイル
71 穴
72 樹脂製sネジ
73 鉄片
74 磁石片
75 保持部材

Claims (4)

  1. 被検体を収容する空間に均一な静磁場を発生する静磁場発生手段と、前記静磁場へ重畳する勾配磁場を発生する傾斜磁場コイルを含む傾斜磁場発生手段と、被検体へ照射する高周波磁場を発生する高周波コイルと、被検体から発生するNMR信号を検出する手段と、
    前記検出された信号を画像化する手段とを備え、
    前記静磁場発生手段の表面から所定距離を置いた位置であって、前記均一磁場空間と前記静磁場発生手段の表面との間に、前記静磁場の均一度を調整する磁性部材片を支持手段によって所定位置へ配置可能とし
    前記所定位置は複数個あり、該複数個の位置には鉄片又は磁石片が配置され
    前記静磁場発生手段は、上下に1対から成る磁石部と、前記磁石部より前記空間側に配置され、上下に1対から成る磁極片とを含み、
    前記磁極片は周縁部に同一形状の環状突起部を備えたMRI装置において、
    前記磁性部材片の支持手段は前記高周波コイルのコイル支持体であることを特徴とするMRI装置。
  2. 前記複数個の所定位置にはネジ穴が配置され、そのネジ構造を利用して、前記鉄片か磁石片の深さ方向への位置調節されることを特徴とする請求項1記載のMRI装置。
  3. 前記磁性部材片を前記コイル支持体へ前記高周波コイルの中心に対し同心円状の位置に複数個配置したことを特徴とする請求項1に記載のMRI装置。
  4. 前記高周波コイルは着脱可能なカバーに覆われていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載のMRI装置。
JP15198399A 1999-05-31 1999-05-31 Mri装置 Expired - Fee Related JP4331322B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15198399A JP4331322B2 (ja) 1999-05-31 1999-05-31 Mri装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15198399A JP4331322B2 (ja) 1999-05-31 1999-05-31 Mri装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2000333932A JP2000333932A (ja) 2000-12-05
JP2000333932A5 JP2000333932A5 (ja) 2006-06-29
JP4331322B2 true JP4331322B2 (ja) 2009-09-16

Family

ID=15530506

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15198399A Expired - Fee Related JP4331322B2 (ja) 1999-05-31 1999-05-31 Mri装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4331322B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4767688B2 (ja) * 2003-10-15 2011-09-07 株式会社日立メディコ 磁気共鳴イメージング装置
JP2005261806A (ja) * 2004-03-22 2005-09-29 Hitachi Medical Corp 磁気共鳴イメージング装置
WO2005115239A1 (ja) * 2004-05-31 2005-12-08 Hitachi Medical Corporation 磁気共鳴イメージング装置
GB201114045D0 (en) * 2011-08-15 2011-09-28 Emscan Ltd Magnet
DE102020115546A1 (de) 2020-06-11 2021-12-16 Technische Universität Dresden, Körperschaft des öffentlichen Rechts Flanschstabilisator für ein Formteil aus Faserwerkstoff, Formteil, Verfahren zur Herstellung eines Formteils und Verwendung eines Flanschstabilisators

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000333932A (ja) 2000-12-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4037272B2 (ja) 磁気共鳴イメージング装置及びそれに用いられる静磁場発生装置
US5173661A (en) Nuclear magnetic resonance spectrometer
JP3987686B2 (ja) 静磁界補正方法およびmri装置
JPH0763457B2 (ja) 磁気共鳴イメ−ジング装置
US20010013778A1 (en) Magnetic resonance imaging apparatus
JP4331322B2 (ja) Mri装置
EP1214906A1 (en) Open-type magnet device for mri
JP4648722B2 (ja) 磁気共鳴イメージング装置
US8198897B2 (en) Superconductive magnetic device, magnetic resonance imaging apparatus and magnetic field inhomogeneity compensation method
JP4392941B2 (ja) 磁気共鳴イメージング装置
JP2006518242A (ja) Mriシステムの振動による磁界の乱れの補償
US20030110564A1 (en) Magnetic resonance imaging apparatus
JPH03224538A (ja) 一次の静磁場不均一を補正して計測する過程を備えたmri装置
Wang Hardware of MRI System
JPH09238917A (ja) 磁気共鳴診断用コイルアセンブリ
JP2002017705A (ja) 磁気共鳴イメージング装置
JP2008125928A (ja) シムトレイ温度制御装置を備えた磁気共鳴イメージング装置
GB2343251A (en) MRI gradient field probe
JP3492003B2 (ja) 磁気共鳴イメージング装置用静磁場発生装置
JP2001070284A (ja) 静磁場発生装置及びそれを用いた磁気共鳴イメージング装置
JPH07303620A (ja) 静磁場ドリフト補正コイル及び静磁場ドリフト補正方法
JPH07327958A (ja) 磁気共鳴イメージング装置
JPH10262947A (ja) 磁気共鳴検査装置
JP5149004B2 (ja) 磁気共鳴イメージング装置
JPH03258243A (ja) 磁気共鳴イメージング装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060512

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060512

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080404

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080821

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081014

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090323

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090413

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20090428

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090601

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090618

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120626

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120626

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130626

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees