JP3987686B2 - 静磁界補正方法およびmri装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、静磁界補正方法およびMRI(Magnetic Resonance Imaging)装置に関し、さらに詳しくは、MRI装置の静磁界の強度を補正するための静磁界補正方法、MRI装置の静磁界の均一度を補正するための静磁界補正方法およびそれらの静磁界補正方法を好適に実施しうるMRI装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
永久磁石型MRI装置においては、永久磁石の磁気特性のばらつきが大きいため、複数の小型磁石を付加して、目標の静磁界強度になるように補正している。
【0003】
他方、MRI装置において、十分な画質を確保するために、静磁界の均一度は非常に重要である。特に、近年開発が進んでいるEPI(Echo Plannar Imaging)法等は静磁界均一度に非常に敏感なので、静磁界均一度を十分高くする必要がある。
このため、シム材や整磁板を用いて、静磁界均一度を補正している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
複数の小型磁石を付加する従来の静磁界強度の補正方法では、迅速な補正や微細な補正が難かしい問題点がある。
また、例えばNdFeB磁石は温度による磁気特性の変動が大きいため勾配コイルの発熱等の影響で静磁界強度が変動し、さらにMRI装置の近くで金属塊が動いたり(例えば車両の通過)すると静磁界強度が変動するが、このような静磁界強度の変動に対処できない問題点がある。
【0005】
他方、シム材や整磁板を用いる従来の静磁界均一度の補正方法では、迅速な補正や微細な補正が難かしい問題点がある。
【0006】
そこで、本発明の第1の目的は、MRI装置の静磁界強度を迅速に且つ微細に補正することが出来る静磁界補正方法およびその静磁界補正方法を好適に実施しうるMRI装置を提供することにある。
また、本発明の第2の目的は、MRI装置の静磁界均一度を迅速に且つ微細に補正することが出来る静磁界補正方法およびその静磁界補正方法を好適に実施しうるMRI装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
第1の観点では、MRI装置の磁気回路を構成するヨークに磁界補正コイルを付設し、前記磁界補正コイルに補正電流を流して補正磁界を発生させ、撮像領域の静磁界に補正磁界を加えることで撮像領域の静磁界を補正することを特徴とする静磁界補正方法を提供する。
上記第1の観点による磁界変動測定方法では、ヨークに磁界補正コイルを付設し、補正磁界を加えるので、補正電流を調整することで、静磁界強度および静磁界均一性を迅速に且つ微細に補正することが出来る。
【0008】
第2の観点では、本発明は、上記構成の静磁界補正方法において、第1ヨークに第1磁界補正コイルを付設し、前記第1ヨークに対して撮像領域を挟んだ位置にある第2ヨークに第2磁界補正コイルを付設し、前記第1磁界補正コイルで第1補正磁界を発生させ、前記第2磁界補正コイルで前記第1補正磁界と同方向・等強度の第2補正磁界を発生させることを特徴とする静磁界補正方法を提供する。
上記第2の観点による磁界変動測定方法では、撮像領域を挟んだ位置にある一対のヨークで同方向・等強度の補正磁界を発生させるので、静磁界強度を補正することが出来る。
【0009】
第3の観点では、本発明は、上記構成の静磁界補正方法において、第1ヨークに第1磁界補正コイルを付設し、前記第1ヨークに対して撮像領域を挟んだ位置にある第2ヨークに第2磁界補正コイルを付設し、前記第1磁界補正コイルで第1補正磁界を発生させ、前記第2磁界補正コイルで前記第1補正磁界と方向および強度の少なくとも一方が異なる第2補正磁界を発生させることを特徴とする静磁界補正方法を提供する。
上記第3の観点による磁界変動測定方法では、撮像領域を挟んだ位置にある一対のヨークで方向および強度の少なくとも一方が異なる補正磁界を発生させるので、静磁界強度および静磁界均一度を補正することが出来る。
【0010】
第4の観点では、本発明は、上記構成の静磁界補正方法において、FID信号を収集し、前記FID信号より共鳴周波数を求め、前記共鳴周波数とRF送受信系との周波数ずれを求め、前記周波数ずれから補正電流を決定することを特徴とする静磁界補正方法を提供する。
上記第4の観点による磁界変動測定方法では、共鳴周波数を実測して周波数ずれから補正電流を決定するので、静磁界強度および静磁界均一度を正確に補正することが出来る。
【0011】
第5の観点では、本発明は、上記構成の静磁界補正方法において、小型ファントムと小型コイルとを組み合わせたNMRプローブを撮像領域の近傍に設置しておき、前記小型コイルからRFパルスを送信し前記小型ファントムからのFID信号を前記小型コイルで受信し、前記FID信号から共鳴周波数を求めることを特徴とする静磁界補正方法を提供する。
上記第5の観点による磁界変動測定方法では、NMRプローブを用いて共鳴周波数を実測するので、患者の撮影中でも撮影に影響を与えずに静磁界強度および静磁界均一度を補正することが出来る。よって、特に変動を補正するのに好適である。
【0012】
第6の観点では、本発明は、上記構成の静磁界補正方法において、前記磁気回路を構成する部材の温度を計測し、温度特性より共鳴周波数を求め、前記共鳴周波数と目標周波数との周波数差を求め、前記周波数差から補正電流を決定することを特徴とする静磁界補正方法を提供する。
上記第6の観点による磁界変動測定方法では、温度を実測し温度特性から補正電流を決定するので、特に温度による変動を補正するのに好適である。
【0013】
第7の観点では、本発明は、磁気回路を構成するヨークと、前記ヨークに付設され補正磁界を発生させる磁界補正コイルと、前記磁界補正コイルに補正電流を供給する磁界補正コイル用電源とを具備したことを特徴とするMRI装置を提供する。
上記第7の観点によるMRI装置では、前記第1の観点による磁界変動測定方法を好適に実施しうる。
【0014】
第8の観点では、本発明は、上記構成のMRI装置において、撮像領域を挟んだ位置にある第1ヨークおよび第2ヨークと、前記第1ヨークに付設され第1補正磁界を発生させる第1磁界補正コイルと、前記第2ヨークに付設され前記第1補正磁界と同方向・等強度の第2補正磁界を発生させるべく前記第1磁界補正コイルと直列接続された第2磁界補正コイルと、前記第1磁界補正コイルおよび前記第2磁界補正コイルの直列回路に補正電流を供給する磁界補正コイル用電源とを具備したことを特徴とするMRI装置を提供する。
上記第8の観点によるMRI装置では、前記第2の観点による磁界変動測定方法を好適に実施しうる。
【0015】
第9の観点では、本発明は、上記構成のMRI装置において、撮像領域を挟んだ位置にある第1ヨークおよび第2ヨークと、前記第1ヨークに付設され第1補正磁界を発生させる第1磁界補正コイルと、前記第2ヨークに付設され第2補正磁界を発生させる第2磁界補正コイルと、前記第1磁界補正コイルに第1補正電流を供給する第1磁界補正コイル用電源と、前記第2磁界補正コイルに第2補正電流を供給する第2磁界補正コイル用電源とを具備したことを特徴とするMRI装置を提供する。
上記第9の観点によるMRI装置では、前記第3の観点による磁界変動測定方法を好適に実施しうる。
【0016】
第10の観点では、本発明は、上記構成のMRI装置において、FID信号を収集し、前記FID信号より共鳴周波数を求め、前記共鳴周波数とRF送受信系との周波数ずれを求め、前記周波数ずれから補正電流を決定する補正電流決定手段を具備したことを特徴とするMRI装置を提供する。
上記第10の観点によるMRI装置では、前記第4の観点による磁界変動測定方法を好適に実施しうる。
【0017】
第11の観点では、本発明は、上記構成のMRI装置において、撮像領域の近傍に設置された、小型ファントムと小型コイルとを組み合わせたNMRプローブを具備し、前記補正電流決定手段は、前記小型コイルからRFパルスを送信し前記小型ファントムからのFID信号を前記小型コイルで受信し、前記FID信号から共鳴周波数を求めることを特徴とするMRI装置を提供する。
上記第11の観点によるMRI装置では、前記第5の観点による磁界変動測定方法を好適に実施しうる。
【0018】
第12の観点では、本発明は、上記構成のMRI装置において、前記磁気回路を構成する部材の温度を計測する温度センサと、温度特性より共鳴周波数を求め、前記共鳴周波数と目標周波数との周波数差を求め、前記周波数差から補正電流を決定する補正電流決定手段とを具備したことを特徴とするMRI装置を提供する。
上記第12の観点によるMRI装置では、前記第6の観点による磁界変動測定方法を好適に実施しうる。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、図を参照して本発明の実施の形態を説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
【0020】
−第1の実施形態−
第1の実施形態は、静磁界強度のみを補正する(静磁界均一度は補正しない)実施形態である。
図1は、本発明の第1の実施形態にかかるMRI装置100を示す構成ブロック図である。
このMRI装置100は、撮影ユニット30と、制御ユニット40と、操作ユニット50とを具備している。
【0021】
前記撮影ユニット30は、勾配コイル1と、送信コイル2と、受信コイル3と、NMRプローブ16と、マグネット温度センサ17と、B0補正コイル20とを含んでいる。
【0022】
前記制御ユニット40は、計算機14と、シーケンス記憶回路7と、勾配コイル駆動回路4と、RF系信号送受信回路15aと、プローブ系信号送受信回路15bと、B0補正コイル駆動回路18と、B0補正コイル駆動回路19とを含んでいる。
前記RF系信号送受信回路15aは、ゲート変調回路8と、RF発振回路9と、RF電力増幅器5と、前置増幅器6と、位相検波器10と、A/D変換器11とを含んでいる。
前記プローブ系信号送受信回路15bは、上記RF系信号送受信回路15aと同様の構成である。
【0023】
前記操作ユニット50は、表示装置12と、操作コンソール13とを含んでいる。
【0024】
図2は、MRI装置100の模式的斜視図である。
撮影ユニット30は、上下に対向して設置され中間に撮影空間を形成するマグネットユニット31と、それらマグネットユニット31を磁気的に接続して磁気回路を構成する支柱ヨークPyと、その支柱ヨークPyの中央部を100〜200ターン巻くようにして付設されたB0補正コイル20と、テーブル33とを含んでいる。
図示していないが、前記マグネットユニット31の中間に掲載される撮影空間に、受信コイル3が設置されている。
【0025】
図3は、前記マグネットユニット31の内部を模式的に示す断面図である。
マグネットユニット31の内部には、垂直方向に静磁界を発生させる永久磁石Mがある。
前記永久磁石Mの表面には、被検体を内部に収容しうる受信コイル3の内部に均一な静磁界の撮像領域を形成するための整磁板Spがそれぞれ設置されている。
前記永久磁石Mと、前記整磁板Spと、ベースヨークByおよび支柱ヨークPyとにより、磁気回路が構成される。
【0026】
前記整磁板Spの表面には、勾配磁界を発生するための勾配コイル1Gがそれぞれ設置されている。
また、前記勾配コイル1Gの内側には、送信コイル2が設置されている。
そして、勾配コイル1Gと送信コイル2の間に挟まれるように、NMRプローブ16が設置されている。
なお、前記永久磁石Mの代わりに超伝導磁石を用いてもよい。
【0027】
図4は、前記NMRプローブ16を示す断面説明図である。
NMRプローブ16は、FID信号を発しうるNaCl溶液またはCuSO4溶液を封止した小型ファントムFtと、その小型ファントムFtを取り巻く小型コイルCoとを組み合わせた構造である。
【0028】
図5は、補正電流Iの説明図である。
撮像領域を挟んだ位置にある一対の支柱ヨークPyに付加したB0補正コイル20を直列に接続し、B0補正コイル駆動電源19から補正電流Iを供給し、一対のB0補正コイル20で同方向・等強度の補正磁界B0cを発生させ、永久磁石Mで発生する静磁界B0mに加えることで、静磁界を目標の静磁界強度B0に補正する。
【0029】
なお、図5は、永久磁石Mで発生する静磁界B0mでは静磁界強度が不足する場合を想定して補正磁界B0cの方向(補正電流Iの方向)を描いているが、永久磁石Mで発生する静磁界B0mでは静磁界強度が過剰になる場合は補正磁界B0cの方向(補正電流Iの方向)を逆にすればよい。
【0030】
図6は、永久磁石Mで発生する静磁界B0mでは静磁界強度が不足する場合に、不足する分をB0補正コイル20で発生する補正磁界B0cにより補償して、目標の静磁界強度B0を得る概念の説明図である。
【0031】
図7は、B0補正プリスキャン処理の手順を示すフロー図である。
このB0補正プリスキャン処理は、受信コイル3に被検体を入れた状態でチューニングのために実行されるプリスキャン処理の一つとして実行される。
ステップS1では、グラジエント・エコー・シーケンス(180゜パルスを用いず、α゜のRFパルスを送信コイル2から送信するパルスシーケンス)により受信コイル3で被検体からのFID信号を収集する。
ステップS2では、FID信号から共鳴周波数υを求め、その共鳴周波数υとRF送受信系との周波数ずれ(RF系送受信回路15aのRF発振回路9の発振周波数との周波数ずれ)Δfを求める。
ステップS3では、周波数ずれΔfが十分小さくないならばステップS4へ進む。十分小さいならば処理を終了する。
【0032】
ステップS4では、前記周波数ずれΔfに相当する磁界強度ずれΔB0を求める。
ΔB0=2π・Δf/γ
但し、γは磁気回転比
次に、前記磁界強度ずれΔB0を補正するための補正電流Iの値を計算する。
【0033】
ステップS5では、補正電流Iの値を更新する。前記B0補正コイル駆動回路18は、補正電流Iの更新された値を計算機14から読み出し、B0補正コイル駆動電源19からB0補正コイル20へ供給する。そして、前記ステップS1に戻る。
【0034】
上記B0補正プリスキャン処理により、静磁界B0を目標の静磁界強度に十分近づくように補正することが出来る。
【0035】
図8は、B0補正スキャン処理の手順を示すフロー図である。
このB0補正スキャン処理は、被検体を撮影するイメージング用スキャンと同期して実行される。
ステップS11では、NMRプローブ16の小型コイルCoからRFパルスを送信し、小型ファントムFtからFID信号を収集する。
ステップS12では、FID信号から共鳴周波数を求め、その共鳴周波数とRF送受信系との周波数ずれΔfを求める。
ステップS13では、周波数ずれΔfに相当する強度の磁界を補正するための補正電流Iの値を計算する。
ステップS14では、イメージング用スキャンのパルスシーケンスの繰り返しと同期して補正電流Iの値を更新する。前記B0補正コイル駆動回路18は、補正電流Iの更新された値を計算機14から読み出し、B0補正コイル駆動電源19からB0補正コイル20へ供給する。
ステップS15では、イメージング用スキャンが終了するまで前記ステップS11〜S14を反復する。そして、イメージング用スキャンが終了すれば、処理を終了する。
【0036】
上記B0補正スキャン処理により、イメージング用スキャン中でも静磁界B0を目標の静磁界強度に補正することが出来る。
【0037】
図9は、B0温度補正処理の手順を示すフロー図である。
このB0温度補正処理は、イメージング用スキャンと同期して実行してもよいし、イメージング用スキャンと関係なく周期的に実行してもよいし、任意のタイミングで実行してもよい。
ステップS21では、マグネット温度センサ17によりマグネット温度を測定する。
ステップS22では、予め測定して作成しておいたマグネット温度−周波数ずれ特性テーブルを用いてマグネット温度を周波数ずれΔfに換算する。
ステップS23では、周波数ずれΔfに相当する強度の磁界を補正するための補正電流Iの値を計算する。
ステップS24では、補正電流Iの値を更新する。イメージング用スキャン中なら、パルスシーケンスの繰り返しと同期して補正電流Iの値を更新する。前記B0補正コイル駆動回路18は、補正電流Iの更新された値を計算機14から読み出して、B0補正コイル駆動電源19からB0補正コイル20へ供給する。そして、処理を終了する。
【0038】
上記B0温度補正処理により、勾配コイル1の発熱等の影響による静磁界強度B0の変動を補正することが出来る。
【0039】
以上の第1の実施形態のMRI装置100によれば、静磁界強度を迅速に且つ微細に補正することが出来る。
【0040】
−第2の実施形態−
第2の実施形態は、静磁界強度および静磁界均一度を補正する実施形態である。
図10は、補正電流Ia,Ibの説明図である。
撮像領域を挟んだ位置にある一対の支柱ヨークPyに付加したB0補正コイル20にそれぞれB0補正コイル駆動電源19a,19bから補正電流Ia,Ibを供給し、一対のB0補正コイル20で方向および強度の少なくとも一方が異なる補正磁界B0a,B0bを発生させ、永久磁石Mで発生する静磁界B0mに加える。
補正電流Ia,Ibは、撮影領域の中心における静磁界強度の過不足を補償する0次成分Ioと1次の静磁界不均一を補償する1次成分iとからなる。すなわち、1次成分iにより補正磁界B0a,B0bに強度差を生じ、補正磁界B0a,B0bを合成した補正磁界B0cに1次の傾斜ができる。この1次の傾斜で1次の静磁界不均一を補償する。
【0041】
なお、図10は、永久磁石Mで発生する静磁界B0mでは静磁界強度が不足する場合を想定して補正磁界B0a,B0bの方向(補正電流Ia,Ibの方向)を描いているが、永久磁石Mで発生する静磁界B0mでは静磁界強度が過剰になる場合は補正磁界B0a,B0bの一方または両方の方向(補正電流Ia,Ibの一方または両方の方向)を逆にすればよい。
【0042】
図11は、永久磁石Mで発生する静磁界B0mでは静磁界強度が不足し且つ1次の不均一がある場合に、不足する静磁界強度および1次の不均一をB0補正コイル20で発生する補正磁界Ba,Bbで補償して、目標の静磁界強度B0と静磁界均一度を得る概念の説明図である。
【0043】
補正電流Ia,Ibの0次成分Ioは、前述の第1の実施形態と同様にして決定できる。
【0044】
補正電流Ia,Ibの1次成分iは、次に説明する1次成分決定処理により決定できる。
図12は、1次成分決定処理の手順を示すフロー図である。
この1次成分決定処理は、受信コイル3に被検体を入れた状態でチューニングのために実行されるプリスキャン処理の一つとして実行される。
ステップS31では、補正磁界B0cにより形成できる1次の傾斜の方向をX軸とするときXZ平面をスキャン面としてプリスキャンによりTE(エコー時間)がΔTE[sec]だけ異なる2枚分のデータRxz1,Rxz2を収集する。また、XY平面をスキャン面としてプリスキャンによりTE(エコー時間)がΔTEだけ異なる2枚分のデータRxy1,Rxy2を収集する。
【0045】
ステップS32では、データRxz1,Rxz2,Rxy1,Rxy2をそれぞれ2次元フーリエ変換して複素数2次元データを得る。次に、各ピクセルの実部と虚部のアークタンジェント(arctangent)で求められる角度のみをピクセル値とした角度2次元データをそれぞれ計算する。これらの角度2次元データを位相マップMxz1,Mxz2,Mxy1,Mxy2と呼ぶ。
【0046】
ステップS33では、2枚の位相マップMxz1,Mxz2の差より位相誤差マップNxzを求める。また、2枚の位相マップMxy1,Mxy2の差より位相誤差マップNxyを求める。次に、位相誤差マップNxzからノイズ部分を除去し信号部分のみ抽出し、位相が折り返っている部分があれば折り返りをなくし、データをZ軸方向に加算平均し、1次元位相誤差データFxz(x)を得る。また、位相誤差マップNxyからノイズ部分を除去し信号部分のみ抽出し、位相が折り返っている部分があれば折り返りをなくし、データをY軸方向に加算平均し、1次元位相誤差データFxy(x)を得る。
【0047】
ステップS34では、1次元位相誤差データを最小自乗近似する。
Fxz(x)=Pxz0+Pxz1・x+Pxz2・x2+…
Fxy(x)=Pxy0+Pxy1・x+Pxy2・x2+…
そして、係数Pxz1,Pxy1を平均したものを1次係数Px1とする。この1次係数Px1は、ΔTE[sec]の時間に磁場不均一によってスピンが回った位相量であり、X軸方向の1次成分なので、単位は[rad/cm]となる。
【0048】
ステップS35では、1次係数Px1[rad/cm]を静磁界強度のX軸方向の勾配値ΔG[Gauss/cm]に換算する。
ΔG=Px1/(2π・ΔTE・γ)
但し、γ=4257[Hz/Gauss]
【0049】
ステップS36では、静磁界強度のX軸方向の勾配値ΔGすなわち静磁界のX軸方向の1次の不均一を補償しうる補正電流Ia,Ibの1次成分iを計算する。
【0050】
以上の第2の実施形態のMRI装置によれば、静磁界強度およびX方向の静磁界均一度を迅速に且つ微細に補正することが出来る。
【0051】
−第3の実施形態−
第3の実施形態は、支柱ヨークPyを4本とした実施形態である。
図13に示すように、支柱ヨークPyを4本とし、それぞれにB0補正コイル20を付設し、対向する支柱ヨークPyに付設したB0補正コイル20を対にして補正電流を制御する。
【0052】
第3の実施形態のMRI装置によれば、静磁界強度およびX−Y方向の静磁界均一度を迅速に且つ微細に補正することが出来る。
【0053】
【発明の効果】
本発明の静磁界補正方法およびMRI装置によれば、静磁界強度および静磁界均一度を迅速に且つ微細に補正することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るMRI装置の構成ブロック図である。
【図2】本発明に係るMRI装置の要部斜視図である。
【図3】本発明に係るMRI装置の要部を示す垂直断面図である。
【図4】NMRプローブの一例を示す垂直断面図ある。
【図5】第1の実施形態にかかる補正電流を示す模式図である。
【図6】第1の実施形態にかかるB0補正磁界を示す模式図である。
【図7】第1の実施形態に係るB0補正プリスキャン処理のフロー図である。
【図8】第1の実施形態に係るB0補正スキャン処理のフロー図である。
【図9】第1の実施形態に係るB0温度補正処理のフロー図である。
【図10】第2の実施形態に係る補正電流を示す模式図である。
【図11】第2の実施形態にかかるB0補正磁界を示す模式図である。
【図12】第2の実施形態に係る1次成分決定処理のフロー図である。
【図13】第3の実施形態に係る支柱ヨークを示す水平断面図である。
【符号の説明】
14 計算機
15a RF系信号送受信回路
15b プローブ系信号送受信回路
16 NMRプローブ
17 マグネット温度センサ
18 B0補正コイル駆動回路
19,19a,19b B0補正コイル駆動電源
20 B0補正コイル
100 MRI装置
Py 支柱ヨーク
M 永久磁石
Claims (2)
- MRI装置の磁気回路を構成する第1ヨークと第2ヨークとを有しており、前記第1ヨークに第1磁界補正コイルを付設し、前記第1ヨークに対して撮像領域を挟んだ位置にある前記第2ヨークに第2磁界補正コイルを付設し、
前記第1磁界補正コイルで第1補正磁界を発生させ、前記第2磁界補正コイルで前記第1補正磁界と方向および強度の少なくとも一方が異なる第2補正磁界を発生させ、撮像領域の静磁界に前記第1補正磁界及び前記第2補正磁界を加えることで撮像領域の静磁界を補正することを特徴とする静磁界補正方法。 - 磁気回路を構成する第1ヨークおよび第2ヨークであって、撮像領域を挟んだ位置にある第1ヨークおよび第2ヨークと、
前記第1ヨークに付設され第1補正磁界を発生させる第1磁界補正コイルと、
前記第2ヨークに付設され第2補正磁界を発生させる第2磁界補正コイルと、
前記第1磁界補正コイルに第1補正電流を供給する第1磁界補正コイル用電源と、
前記第2磁界補正コイルに第2補正電流を供給する第2磁界補正コイル用電源とを具備し、
前記第2補正磁界は前記第1補正磁界と方向および強度の少なくとも一方が異なり、
前記撮像領域の静磁界に前記第1補正磁界及び前記第2補正磁界を加えることで前記撮像領域の静磁界を補正することを特徴とするMRI装置。
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