JP2000333932A - Mri装置 - Google Patents

Mri装置

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JP2000333932A JP11151983A JP15198399A JP2000333932A JP 2000333932 A JP2000333932 A JP 2000333932A JP 11151983 A JP11151983 A JP 11151983A JP 15198399 A JP15198399 A JP 15198399A JP 2000333932 A JP2000333932 A JP 2000333932A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明の目的は、静磁場発生手段が発生する
磁場均一度調整に好適なイメージング装置構造の提供に
ある。 【解決手段】 静磁場発生部の磁極片上の第一の磁性
片、磁石片に加え、静磁場発生部と外装カバーとの間に
第二磁性片、磁石片を配置する手段を有する構成とし
た。さらに、配置手段が略同心円上に磁性片または磁石
片を配置可能とすること、磁性片または磁石片の取り付
け、取り外しが外装カバーを外すだけで可能となる位置
に磁性片または磁石片配置手段を設けることが望まし
く、具体的には送信用高周波コイルの保持部材と磁性片
または磁石片の略同心円上配置手段を兼ねる構造が最適
な課題達成のための構成である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気共鳴イメージ
ング装置(以下、MRI装置と記す。)、特に静磁場発
生手段が発生する磁場の均一度調整に好適なイメージン
グ装置構造に関する。
【0002】
【従来の技術】図5及び図6に静磁場の発生に永久磁石
を用い磁気回路を構成する静磁場発生部2を示す。図5
は静磁場発生部の斜視図、図6は磁場発生部以外につい
ても図示した縦断面図である。図5で、静磁場発生部2
は、被検体を収容してMR計測を行う計測空間Hを挟ん
で上下に対向して配置された下部磁石部Aと上部磁石部
B、この下部磁石部A、上部磁石部Bの発する磁束の磁
気回路をなすカラム57a,57bより成る。上部磁石
部Aと下部磁石部Bとは、基本的にほぼ同様な構成から
成り、図5の下部磁石部Aの外観では、ヨーク51a、
永久磁石52a、磁極片53aとを示した。上部磁石部
Bは基本的に下部磁石部Aを反転したものである。図6
において、一対の鉄製ヨーク51a、51bで永久磁石
52a、52b及び磁極片53a、53bを各々支持
し、ヨーク51a、51bを2本のカラム57a,57
bで所定の距離だけ隔てて対向保持して構成されてい
る。この静磁場発生部2において永久磁石52aと52
bとは互いに極性を異ならせて対向配置されており、磁
気回路は永久磁石52a⇒磁極片53a⇒磁極片53b
⇒永久磁石52b⇒ヨーク51b⇒カラム(磁気系路
体)57a、57b⇒ヨーク51a⇒永久磁石52aで
形成される。
【0003】さらに、磁極片53a、53bの計測空間
Hに面した表面には略同心円上に鉄片54または磁石片
55が配置されている。さらに対向する磁極片53a、
53bの周縁部は上下とも同一形状の環状突起部56を
有する。この環状突起部56は、周辺への磁束の漏れを
抑え内部空間の均一度を改善するためのものである(詳
細は、特開昭60−88407号参照)。これらの構成
部品のうち、磁極片53a、53bと鉄片54または磁
石片55は被検体が入る空間、つまり磁極片53a、5
3bの間の中央の磁場均一度をより高度に均一にするた
めにある。(ここで、均一度とは(ある空間の磁場変化
量)÷(中心磁場強度)で表わされ、通常ppmを単位
として表現される。)鉄片54または磁石片55は、製
造段階での、ある空間の磁場均一度調整に特に役立つ
(以下、磁極片53a、53bに鉄片54または磁石片
55を配置し磁場均一度調整する方法を鉄片シミングと
呼ぶ)。
【0004】静磁場発生部2の被検体が入り得る有効ギ
ャップは、磁極片53a、53bの環状突起部56の表
面部間距離となる。更に、この空間内には、被検体の
他、開口部用外装カバー50とイメージングに必要な送
信側高周波コイル14a、14b及び受信側高周波コイ
ル(図示せず)、が配置されている。この他に、傾斜磁
場コイル9a、9bがあるが、傾斜磁場コイル9a、9
bは磁極片53の凹部に収容されることもある。
【0005】以上のような静磁場発生部において、
(イ)磁場均一度は環境により変化するため、鉄製のヨ
ーク51b及び又は51aを微小に上下又は傾斜させる
こと、(ロ)鉄製のヨーク51a、51bの中央部と永
久磁石52a、52bの中央部を貫いて位置した鉄製の
ボス58a、58bを上下させること、(ハ)永久磁石
52a、52b外周に位置した鉄製のボルト59a、5
9bを上下させること、の全部又はその一部を用いて磁
場均一度の調整を行う。以上の(イ)、(ロ)、(ハ)
の3通りの磁場調整法をメカニカルシミングと呼び、鉄
片シミングと区別している。
【0006】製造段階での磁場調整は鉄片シミングとメ
カニカルシミングを併用し、イメージング装置据え付け
時にはメカニカルシミングを用いて調整する例が多い。
【0007】この静磁場発生源に永久磁石を用いた静磁
場発生装置は周囲温度の変化により磁場強度が変化す
る。一般的に永久磁石の磁場強度の変化の温度係数は−
1000ppm/℃程度である。即ち、温度が1℃上が
ると、静磁場強度が1000ppm弱くなる。核磁気共
鳴イメージング装置では静磁場に傾斜磁場を加えて、位
置を磁場の大きさに対応させ、位置に応じた共鳴周波数
の信号を発生させる。この位置に応じた周波数を持つ核
磁気共鳴信号を検出し、位置の特定を行う。然るに、静
磁場の強度が温度の影響を受けて変化すると、結局位置
の特定に誤差を含むことになる。画像上に問題とならな
い磁場強度の変化限度は一般には5ppm/撮影時間、
である。言い換えると、撮影時間内に5/1000℃以
内に温度変化を抑える必要がある。この1つの方法とし
て本発明者らは、特願昭61−185277号に記した
ように磁気回路の周囲を断熱材で覆い、内部に温度調整
用ヒータを設けヒータへの電流を制御して磁気回路温度
を一定に保つ制御方法を提案している。図6に示した5
0は断熱材であり、外気温変化、傾斜磁場コイル9の発
熱による磁気回路2への影響を緩和するものである。本
来は静磁場発生部全面に配置されているが説明に必要な
部分のみを図示した。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、次の
ような解決すべき課題を有していた。メカニカルシミン
グでは磁場不均一項の低次項のみの調整が可能であり、
外来直流磁場、磁気回路内温度分布変化で発生する高次
項磁場不均一変化に対応できず、画像に歪やアーチファ
クトを発生させるという問題を有していた。 この問題
は従来例で説明した鉄片シミングで解決可能であるが、
各種の部品、例えば、開口部用外装カバー50と送信側
高周波コイル14a、傾斜磁場コイル9、断熱材60を
一旦外して鉄片の位置を調整する必要がある。
【0009】前述のように、永久磁石型の静磁場発生部
2は温度変化に敏感であるため、各種部品を外すことに
よる温度変化を原因とする磁場均一度変化が起こり、本
来調整すべき不均一項が変化し、調整が困難であった。
製造段階で行っている鉄片シミングは一定に温度管理さ
れた部屋で行っているため問題はないが、これを部屋が
温度管理されていない据え付け時や、点検時に行うこと
は、鉄片シミングを行う時間、温度変化を起こした磁石
を安定にするまでの時間、温度変化途中でのシミング実
行の結果確認までの時間等、長時間を要するので、一般
的には前記メカニカルシミングで留めていた。しかし近
年EPI撮影法などの高速撮影法が普及し始め、MRI
装置の静磁場はより高度な磁場均一度が必要不可欠とな
ってきた。
【0010】本発明の目的は、磁場均一度の調整を迅速
に行うことができるMRI装置を提供することにある。
特に鉄片シミングを迅速に可能にする構造を有したMR
I装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明は、被検体を収容する空間に均一な静磁場を発
生する静磁場発生手段と、前記静磁場へ重畳する勾配磁
場を発生する傾斜磁場コイルを含む傾斜磁場発生手段
と、被検体へ照射する高周波磁場を発生する高周波コイ
ルと、被検体から発生するNMR信号を検出する手段
と、前記検出された信号を画像化する手段とを備えたM
RI装置において、前記静磁場発生手段の表面から所定
距離を置いた位置であって、前記静磁場発生手段の均一
磁場空間と前記静磁場発生手段の表面との間に、前記静
磁場の均一度を調整する磁性体片又は磁極片を支持手段
によって所定位置へ配置可能としたものである。そし
て、本発明では、前記磁性体片又は磁極片の支持手段は
前記高周波コイルのコイル支持体を用いると良く、ま
た、前記磁性体片又は磁極片を前記コイル支持体へ前記
高周波コイルの中心に対し同心円状の位置に複数個配置
すると良い。更に、前記高周波コイルは着脱可能なカバ
ーに覆われており、このカバーを取り外すことにより前
記磁性体片又は磁極片の着脱、又は位置の微調整を可能
とすると良い。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて詳細に説明する。図1は本発明の実施の
形態のMRI装置の全体構成図を示すブロック図であ
る。このMRI装置は、磁気共鳴(NMR)現象を利用
して被検体1の断層画像を得るもので、そのために、被
検体1を収容する空間を有した静磁場発生部2と、中央
処理装置(以下、CPUという)8と、シーケンサ7
と、送信系4と、傾斜磁場発生系3と、受信系5と信号
処理系6とを備えている。
【0013】上記静磁場発生部2は、超電導磁石、常電
導磁石または永久磁石から成る静磁場発生源を有し、被
検体1の周りにその体軸方向または体軸と直角方向に均
一な磁束を発生するもので、上記被検体1の周りのある
広がりを持った空間にある所定の均一な磁場強度を有し
た計測空間を形成する。
【0014】上記シーケンサ7は、CPU8の制御で動
作し、被検体1の断層画像のデータ収集に必要な種々の
命令を送信系4及び傾斜磁場発生系3並びに受信系5に
送るものである。
【0015】上記送信系4は、高周波発振器11と変調
器12と高周波増幅器13と送信用高周波コイル14a
とから成り、上記高周波発振器11から出力された高周
波パルスをシーケンス7の命令に従って、変調器12で
振幅変調し、この振幅変調された高周波パルスを高周波
増幅器13で増幅した後に被検体1に近接して配置され
た送信用高周波コイル14aに供給することにより、電
磁波が上記被検体1に照射されるようになっている。
【0016】上記傾斜磁場発生系3はX、Y、Zの三方
向に巻かれた傾斜磁場コイル9とそれぞれのコイルを駆
動する傾斜磁場電源10とから成り、上記シーケンサ7
からの命令に従ってそれぞれのコイルの傾斜磁場電源1
0を駆動することにより、X、Y、Zの直交する三方向
の傾斜磁場Gx、Gy、Gzを被検体1に印加するよう
になっている。この傾斜磁場の加え方により、被検体1
に対するスライス面を設定することができる。
【0017】上記受信系5は、受信用高周波コイル14
bと増幅器15と直交位相検波器16とA/D変換器1
7とから成り、上記送信用の高周波コイル14aから照
射された電磁波による被検体の応答の電磁波(NMR信
号)を被検体1に近接して配置された受信用高周波コイ
ル14bで検出し、増幅器15及び直交位相検波器16
を介してA/D変換器17に入力してディジタル量に変
換する。この際、A/D変換器17はシーケンサ7から
の命令によるタイミングで、直交位相検波器16から出
力された二系列の信号をサンプリングし、二系列のディ
ジタルデータを出力する。それらのディジタル信号は信
号処理系6に送られフーリエ変換されるようになってい
る。この信号処理系6は、CPU8と磁気ディスク18
及び磁気テープ19等の記録装置とCRT等のディスプ
レイ20とから成り、上記ディジタル信号を用いてフー
リエ変換、補正係数計算、画像再構成等の処理を行い、
任意断面の信号強度分布あるいは複数の信号に適当な演
算を行って得られた画像をディスプレイ20に表示する
ようになっている。
【0018】次に本発明の一実施の形態を示す。図2は
従来例で用いた図6の下部分に対応したものと同じで、
静磁場発生部2の磁石中心断面図である。傾斜磁場コイ
ル9は、磁極片53aに固定されているスタッドボルト
61にネジ63で固定され、その上面は磁極片53aの
環状突起部56の上面と一致している。すなわち、傾斜
磁場コイル9は磁極片53aの凹部に収容されている。
送信用高周波コイル14aは、傾斜磁場コイル9を貫通
して磁極片53aに固定されているスタッドボルト62
に、ネジ64で固定されている。60は断熱材で、傾斜
磁場コイル9で発生した熱が磁極片53aを介して永久
磁石ブロック52aへ伝達されることを防止するもので
ある。したがって、この熱伝達の防止の観点から、傾斜
磁場コイル9及び送信用高周波コイル14aを固定する
ためのスタッドボルト61、62は熱伝導率の低い材
質、例えば、ステンレス製や樹脂製のものを用いること
が好ましい。その他は従来例で説明した内容と同一であ
るので省略する。
【0019】図3は本発明に係る送信用高周波コイル1
4aの斜視図である。70は銅板で形成されたコイル
で、75がその保持部材であり、例えばエポキシ樹脂製
である。この保持部材75には、前記スタッドボルト6
2へこの送信用高周波コイル14aを固定するための穴
の他に、コイル70の中心点を中心とした同心円上に複
数個のネジ加工が施された穴71が設けられ、それらの
穴71に磁石片又は鉄片の挿入が可能となっている。
【0020】図4は図3の穴71部の断面図である。7
4が磁石片、73が鉄片、72は樹脂製ネジである。磁
場の空間的歪み補正のため、鉄片か磁石片を使用する必
要があり、同一の穴71で両方使用可能にするため、以
下の構成としている。保持部材75の穴71はネジ穴と
し、磁石を使用する場合にはその穴に磁石片74を挿入
し樹脂製ネジ72で抜け防止をする構造としている。さ
らに鉄片使用の場合には、鉄片の変わりに鉄製ネジを保
持部材75のネジ穴にねじ込むことで固定する構造とし
ている。磁石片74のかわりに鉄片を挿入し樹脂製ネジ
72で固定する構造でも良い。
【0021】次に、本発明による静磁場均一度の調整方
法について説明する。据え付け時の磁場均一度測定時又
はファントム撮影によって画像歪が認められた場合に
は、先ず前記メカニカルシミングを実行する。そしてメ
カニカルシミングを実行しても磁場均一度が達成できな
くなったところで、図2に示すカバー50を取り外す。
このカバー50を取り外すと、送信用高周波コイル14
aが露出し、図3の鉄片シミング用の穴71が現われ
る。
【0022】そして、前記磁場均一度測定結果又はファ
ントム画像歪を参照しながら、磁場強度の不均一を生じ
ている個所を特定し、その位置に対応した所の穴71
へ、シミング用の鉄片73又は磁石片74を挿入し、あ
るいはその位置の鉄片73又は磁石片74を取り外す。
【0023】本実施の形態によれば、均一度の調整が非
常に微小な場合には、穴71のネジ構造を利用し、鉄片
73又は磁石片74を穴の深さ方向へその位置を調整す
ることで対応することも可能である。
【0024】本実施の形態によれば以下の如き効果があ
る。 ・開口部カバーを外すだけで鉄片シミングが可能となっ
た。 ・据え付け時の高精度磁場均一度調整が可能となり、高
精度磁場均一度を必要とするEPI撮影法などに対応が
可能となる。 ・鉄片シミングにおいても静磁場発生手段の温度を変化
させずにすむため据え付け時間を短縮できる。 ・アーチファクトを低減できる。
【0025】MRI装置における計測空間、すなわち均
一磁場空間は通常、球状又は楕円球状に形成されるた
め、以上の如き構成は、磁場不均一部分が生ずる位置は
様々であるので、図6の上部分に対しても同様の構造を
採用すると良い。これによって、上下において静磁場均
一度の調整が可能となる。勿論、上下のいずれか一方の
みを上記の如き構成とする例もある。
【0026】更に、均一度調整のための穴71は、高周
波コイル70を搭載した部材72に設けたが、高周波コ
イル70を別体とし、調整のためだけの部材を設けて、
この部材中に同心円状の穴を設けて調整するやり方もあ
る。また、同心円状配置穴としたが、縦横マトリックス
状の如き穴配置例もある。更に、当然のことながら、メ
カニカルシミングと併せて均一度調整を行うことが好ま
しい。
【0027】なお、本発明を永久磁石方式のMRI装置
に適用した実施形態を説明したが、本発明はこれに限定
されるのではなく、静磁場の発生源が計測空間を間に挟
んで対向して設けられる方式のものであれば、超電導方
式や常電導方式のMRI装置にも適用可能であることは
言うまでもない。
【0028】
【発明の効果】本発明によれば、鉄片シミングによる磁
場均一度調整を極めて容易に実現可能になった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のMRI装置の一実施の形態の全体構成
ブロック図である。
【図2】一実施の形態のMRI装置の断面図である。
【図3】一実施の形態の送信用高周波コイルの斜視図で
ある。
【図4】一実施の形態の送信用高周波コイルの断面図で
ある。
【図5】従来の静磁場発生手段の斜視図である。
【図6】従来の静磁場発生手段の断面図である。
【符号の説明】
14a 送信用高周波コイル 71 穴 72 樹脂製sネジ 73 鉄片 74 磁石片 75 保持部材

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検体を収容する空間に均一な静磁場を
    発生する静磁場発生手段と、前記静磁場へ重畳する勾配
    磁場を発生する傾斜磁場コイルを含む傾斜磁場発生手段
    と、被検体へ照射する高周波磁場を発生する高周波コイ
    ルと、被検体から発生するNMR信号を検出する手段
    と、前記検出された信号を画像化する手段とを備えたM
    RI装置において、 前記静磁場発生手段の表面から所定距離を置いた位置で
    あって、前記静磁場発生手段の均一磁場空間と前記静磁
    場発生手段の表面との間に、前記静磁場の均一度を調整
    する磁性体片又は磁極片を支持手段によって所定位置へ
    配置可能としたことを特徴とするMRI装置。
  2. 【請求項2】 前記磁性体片又は磁極片の支持手段は前
    記高周波コイルのコイル支持体であることを特徴とする
    請求項1に記載のMRI装置。
  3. 【請求項3】 前記磁性体片又は磁極片を前記コイル支
    持体へ前記高周波コイルの中心に対し同心円状の位置に
    複数個配置したことを特徴とする請求項2に記載のMR
    I装置。
  4. 【請求項4】 前記高周波コイルは着脱可能なカバーに
    覆われており、このカバーを取り外すことにより前記磁
    性体片又は磁極片の着脱、又は位置の微調整を可能とし
    たことを特徴とする請求項1乃至3に記載のMRI装
    置。
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