JP4294053B2

JP4294053B2 - 試験装置

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Publication number: JP4294053B2
Application number: JP2006519038A
Authority: JP
Inventors: 敦章渋谷
Original assignee: 敦章渋谷
Priority date: 2004-12-14
Filing date: 2004-12-14
Publication date: 2009-07-08
Anticipated expiration: 2024-12-14
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Description

本発明は、電子デバイスを試験する試験装置に関する。特に本発明は、複数のテストモジュールが生成した信号を電子デバイスに供給する試験装置に関する。

従来、半導体回路等の電子デバイスを試験する試験装置の構成として、電子デバイスを載置するデバイスインターフェースと、デバイスインターフェースを介して電子デバイスと接続され、電子デバイスに入力する入力信号の生成等を行う複数のテストモジュールと、テストモジュールを制御するための信号を供給する制御部とを備える構成が知られている。テストモジュールは、デバイスインターフェースと制御部との間に設けられたスロットに設置される。

複数のテストモジュールは、それぞれ機能毎に設けられており、例えば電子デバイスに供給する電源電力を生成するモジュール、電子デバイスに供給するパターン信号を生成するモジュール等が設けられる。

デバイスインターフェースには、複数のテストモジュールに対応して複数のコネクタが設けられており、それぞれのコネクタは、対応するテストモジュールと、電子デバイスの所定の入力ピンとを接続する。

このような従来の試験装置においては、それぞれのテストモジュールは、それぞれ所定のコネクタに接続される必要がある。特に、電源電力を生成するテストモジュールが、異なるコネクタに接続された場合、電子デバイスのパターン入力ピンに大電力が供給されてしまう恐れがある。

テストモジュールの配置が固定されている試験装置では、このような問題は生じないが、近年においては、テストモジュールの配置を変更できる試験装置が開発されている。このような構造の試験装置では、テストモジュールを誤配置する可能性があり、電子デバイスの例えばパターン入力ピンに電源モジュールが接続される可能性が生じてしまう。

このため本発明は、上述した課題を解決することのできる試験装置を提供することを目的とする。この目的は、請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。

上記課題を解決するために、本発明の第１の形態においては、電子デバイスを試験する試験装置であって、電子デバイスを試験するために予め定められた試験プログラムに基づいて制御信号を生成する制御部と、制御信号に基づいて、電子デバイスに供給する試験信号を生成する複数のテストモジュールと、複数のテストモジュールと対応して設けられ、対応するテストモジュールが生成した試験信号を、電子デバイスの予め定められたピンに供給するコネクタを有するデバイスインターフェースとを備え、電子デバイスに供給するべき電源電力を生成するテストモジュールは、複数のコネクタのうち予め定められたコネクタと接続されている場合に電源電力を出力し、予め定められたコネクタと接続されていない場合に電源電力を出力しない試験装置を提供する。

それぞれのコネクタは所定の位置に設けられた２つの検出用ピンを有し、電源電力を生成するテストモジュールに接続されるべき予め定められたコネクタの２つの検出用ピンは短絡されており、予め定められたコネクタ以外のコネクタの２つの検出用ピンは短絡されておらず、電源電力を生成するテストモジュールは、接続されたコネクタの２つの検出用ピンが短絡されているか否かを検出し、２つの検出用ピンが短絡されている場合に、電源電力を電子デバイスに供給してよい。

電源電力を生成するテストモジュールは、生成した電源電力を外部に出力するか否かを切り替えるスイッチと、対応するコネクタの２つの検出用ピンに接続され、２つの検出用ピンが短絡されているか否かを検出し、検出結果に基づいてスイッチを制御するスイッチ制御部とを有してよい。

デバイスインターフェースは、診断用のテストモジュールから受け取る診断用信号を、それぞれのコネクタを介して、それぞれのテストモジュールに順次供給する診断用デコーダを更に有し、制御部は、それぞれのコネクタを介した診断用信号が、いずれのテストモジュールに供給されたかを検出し、当該検出結果に基づいてそれぞれのテストモジュールが、いずれのコネクタに接続されているかを検出し、電源電力を生成するテストモジュールが予め定められたコネクタと接続されている場合に、当該テストモジュールから電子デバイスに電源電力を供給させてよい。

デバイスインターフェースは、それぞれのテストモジュールを、いずれのコネクタと接続するかを切り替えるスイッチ回路を更に有してよい。

なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。

本発明によれば、テストモジュールが誤接続された場合に電子デバイスが破損することを防ぐことができる。

本発明の実施形態に係る試験装置１００の構成の一例を示す図である。デバイスインターフェース３０の概念図の一例である。それぞれのコネクタ３６の構成の一例を示す図である。電源電力を生成するテストモジュール５０の構成の一部、及びコネクタ３６の構成の一部を示す図である。パフォーマンスボード３４の構成の一例を示す図である。診断用のテストモジュール５０−１の構成の一例を示す図である。他のテストモジュール５０の構成の一例を示す図である。コネクタ３６の構成の一例を示す図である。コンフィグレーションファイルのデータ構造の一例を示す図である。試験装置１００のコンフィグレーション方法の一例を示すフローチャートである。Ｓ３０８、Ｓ３１０、Ｓ３１２の処理の詳細を説明するフローチャートである。

符号の説明

１０・・・システムコントローラ、１２・・・コンフィグレーションメモリ、１４・・・ハブ、１６・・・サイト、１８・・・バススイッチ部、２０・・・スロット、３０・・・デバイスインターフェース、３２・・・スイッチ回路、３４・・・パフォーマンスボード、３６・・・コネクタ、３８・・・診断用デコーダ、３９・・・ピン、５０・・・テストモジュール、５２・・・診断用信号生成部、５４・・・バッファ、５６・・・電圧シフト回路、５８・・・デバイス試験用回路、６０・・・制御部、６２・・・ロケーションセンス回路、６４・・・スロット、６６・・・バッファ、６８・・・プルアップ抵抗、７０・・・診断用回路、７２・・・デバイスピン、７４・・・診断用ピン、８０・・・診断用デコーダ、８２・・・デジタルアナログコンバータ、８４・・・電力増幅回路、８６・・・スイッチ、８８・・・スイッチ制御部、１００・・・試験装置、２００・・・電子デバイス

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。

図１は、本発明の実施形態に係る試験装置１００の構成の一例を示す図である。試験装置１００は、例えば半導体チップ等の複数の電子デバイス（２００−１〜２００−８、以下２００と総称する）を試験する装置であって、制御部６０、バススイッチ部１８、複数のスロット（２０−１〜２０−６４、以下２０と総称する）、複数のテストモジュール（５０−１〜５０−６４、以下５０と総称する）、及びデバイスインターフェース３０を備える。

制御部６０は、電子デバイス２００を試験するために予め定められた試験プログラムに応じて、複数の制御信号をバススイッチ部１８に入力する。制御部６０は、システムコントローラ１０、コンフィグレーションメモリ１２、ハブ１４、及び複数のサイト（１６−１〜１６−８、以下１６と総称する）を有する。

システムコントローラ１０は、試験プログラムに応じて試験装置１００の動作を制御する。即ち、試験プログラムに応じた制御信号を生成する。複数のサイト１６は、試験するべき複数の電子デバイス２００に対応して設けられ、対応する電子デバイス２００に接続されるテストモジュール５０を制御し、当該テストモジュール５０と信号の授受を行う。ハブ１４は、システムコントローラ１０が生成した制御信号を、それぞれのサイト１６に分配する。また、コンフィグレーションメモリ１２は、試験装置１００の設定を示すコンフィグレーションファイルを予め格納する。ここで、コンフィグレーションファイルは、試験装置１００のユーザが予め格納するファイルであってよく、試験装置１００の設定とは、例えばバススイッチ部１８の設定、使用するテストモジュール５０の情報、デバイスインターフェース３０の設定、バススイッチ部１８の出力ポートがデバイスインターフェース３０のいずれのコネクタと接続されるべきかを示す情報、それぞれのスロット２０に設置されるべきテストモジュール５０を識別するモジュール識別情報等である。

バススイッチ部１８は、複数の出力ポートを有し、入力される信号をいずれの出力ポートから出力するかを切り替える。即ち、バススイッチ部１８は、それぞれのサイト１６に、いずれの出力ポートを割り当てるかを設定する。本例におけるバススイッチ部１８は一例として、サイト１６−１に、出力ポート１〜８を割り当て、サイト１６−２に、出力ポート９〜１６を割り当て、以下同様にそれぞれのサイト１６に８個のポートを割り当てる。制御部６０は、バススイッチ部１８を制御することにより、それぞれの制御信号をいずれの出力ポートから出力するかを制御する。

複数のスロット２０は、テストモジュール５０が設置されるスロットであって、バススイッチ部１８の複数の出力ポートに対応して設けられる。それぞれのテストモジュール５０は、対応する電子デバイス２００と信号の授受を行うモジュールであり、電子デバイス２００を試験するためのそれぞれの機能毎に設けられる。例えばテストモジュール５０は、対応する電子デバイス２００に入力するべき入力信号を制御信号に基づいて生成し、対応する電子デバイス２００が出力する出力信号を受け取り、当該電子デバイス２００の良否を判定するモジュールであってよく、また電子デバイス２００に電源電力を供給するモジュールであってもよい。またテストモジュール５０は、アナログ又はディジタルの信号の授受を電子デバイス２００と行うモジュールであってよく、直流又は交流の信号の授受を電子デバイス２００と行うモジュールであってもよい。

デバイスインターフェース３０は、電子デバイス２００を載置するボードであって、電子デバイス２００とテストモジュール５０とを電気的に接続する。デバイスインターフェース３０は、複数の電子デバイス２００が接続される複数のコネクタが設けられるパフォーマンスボード３４と、複数のスロット２０をいずれのコネクタに接続するかを切り替えるスイッチ回路３２とを有する。パフォーマンスボード３４は、一般にロードボードと呼ばれる場合もある。

本例における試験装置１００によれば、バススイッチ部１８を切り替えることにより、バススイッチ部１８の入力ポートと、出力ポート及びスロット２０とを任意に接続することができる。またスイッチ回路３２を切り替えることにより、バススイッチ部１８の出力ポート及びスロット２０と、デバイスインターフェース３０のコネクタとを任意に接続することができる。スイッチ回路３２は、例えば複数のケーブルを有しており、ケーブルの配線を変更することによって、スロット２０と当該コネクタとの接続を変更してよい。なお、スイッチ回路３２を、テストフィクスチャと呼ぶ場合もある。

図２は、デバイスインターフェース３０の概念図の一例である。図２に示すように、デバイスインターフェース３０は、複数のテストモジュール５０に対応して設けられた複数のコネクタ（３６−１〜３６−６４、以下３６と総称する）を有する。

それぞれのコネクタ３６は、対応するテストモジュール５０と接続され、また電子デバイス２００の所定のピンと接続される。例えば、電子デバイス２００の電源ピンと接続されるコネクタ３６は、複数のテストモジュール５０のうちの電源電力生成用のテストモジュール５０と接続され、電子デバイス２００に電源電力を供給する。

電子デバイス２００に供給するべき電源電力を生成するテストモジュール５０は、複数のコネクタ３６のうち、予め定められたコネクタ３６と接続されている場合に電源電力を電子デバイス２００に供給し、当該予め定められたコネクタ３６と接続されていない場合に電源電力を電子デバイス２００に供給しない。ここで、予め定められたコネクタ３６とは、電子デバイス２００の電源ピンに接続されるコネクタ３６である。

電源電力を生成するテストモジュール５０が、当該予め定められたコネクタ３６に接続されているか否かは、当該テストモジュール５０により検出してよく、また制御部６０が検出してもよい。まず、テストモジュール５０により検出する場合について説明する。

図３は、それぞれのコネクタ３６の構成の一例を示す図である。それぞれのコネクタ３６は、複数のピン（３９−１〜３９−１２、以下３９と総称する）を有する。また、それぞれのコネクタ３６は、所定の位置に設けられた２つの検出用ピンを有する。本例においては、ピン３９−１及びピン３９−２が当該検出用ピンとして機能する。

ここで、電源電力生成用のテストモジュール５０が接続されるべき、当該予め定められたコネクタ３６のピン３９−１及びピン３９−２は短絡されており、電源電力生成用のテストモジュール５０が接続されないコネクタ３６のピン３９−１及びピン３９−２は、短絡されていない。

電源電力を生成するテストモジュール５０は、接続されたコネクタ３６のピン３９−１及びピン３９−２が短絡されているか否かを検出し、当該ピンが短絡されている場合に、電源電力を電子デバイス２００に供給する。また、当該ピンが短絡されていない場合に、電源電力を電子デバイスに供給しない。

図４は、電源電力を生成するテストモジュール５０の構成の一部、及びコネクタ３６の構成の一部を示す図である。テストモジュール５０は、デジタルアナログコンバータ８２、電力増幅回路８４、スイッチ８６、及びスイッチ制御部８８を有する。

デジタルアナログコンバータ８２は、予め設定される電圧値に応じた電圧を生成する。電力増幅回路８４は、デジタルアナログコンバータ８２が生成した電圧に基づいて、電子デバイス２００に供給するべき電源電力を生成する。スイッチ８６は、電力増幅回路８４が生成した電源電力を外部に出力するか否かを切り替える。

スイッチ制御部８８は、対応するコネクタ３６の２つの検出用ピン（ピン３９−１及びピン３９−２）に接続され、当該ピンが短絡されているか否かを検出し、検出結果に基づいてスイッチを制御する。つまり、スイッチ制御部８８は、当該ピンが短絡されている場合に、スイッチ８６をオン状態とし、電源電力を電子デバイス２００に供給させ、当該ピンが短絡されてない場合に、スイッチ８６をオフ状態とし、電源電力を電子デバイス２００に供給させない。

本例においては、電源電力を生成するテストモジュール５０がスイッチ制御部８８を有していたが、他の例においては、デバイスインターフェース３０が、スイッチ制御部８８を有していてもよい。この場合、電源電力生成用のテストモジュール５０は、スイッチ制御部８８が出力する信号を受け取る入力端子を有しており、スイッチ８６は、当該入力端子が受け取った信号に応じて動作する。

本例における試験装置１００によれば、電源電力を生成するテストモジュール５０が、予め定められたコネクタ３６に接続されている場合にのみ、電源電力を出力するため、テストモジュール５０を誤接続した場合に電子デバイス２００が破損することを防ぐことができる。

次に、制御部６０により、テストモジュール５０とコネクタ３６との接続を検出する場合について説明する。

図５は、パフォーマンスボード３４の構成の一例を示す図である。パフォーマンスボード３４は、複数のコネクタ（３６−１〜３６−６４、以下３６と総称する）と、診断用デコーダ３８とを有する。

複数のコネクタ３６は、スイッチ回路３２を介してテストモジュール５０に接続され、当該テストモジュール５０と電子デバイス２００とを電気的に接続する。前述したように、スイッチ回路３２を設定することにより、任意のテストモジュール５０と、任意のコネクタ３６とを接続することができる。

本例における試験装置１００は、電子デバイス２００を試験する試験モードと、バススイッチ部１８の出力ポートとコネクタ３６との接続関係を確認するための診断モードとを有する。

試験モードで動作する場合、それぞれのテストモジュール５０は、対応するコネクタ３６を介して電子デバイス２００と信号の授受を行う。診断モードで動作する場合、試験装置１００は、所定のスロット２０に診断用のテストモジュール５０を設置し、診断用のテストモジュール５０は、それぞれのコネクタ３６から、スイッチ回路３２、他のテストモジュール５０、バススイッチ部１８の出力ポートの順に診断用の信号を伝送させる。制御部６０は、それぞれのコネクタ３６に供給した診断用信号が、他のテストモジュール５０のいずれに伝送されるかを検出し、スイッチ回路３２の設定が、コンフィグレーションメモリ１２が格納したコンフィグレーションファイルと整合するかを確認する。即ち、制御部６０は、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタ３６に接続されているかの検出結果と、コンフィグレーションファイルとを比較することにより、複数の出力ポート、複数のテストモジュール５０、複数のコネクタ３６が正しく接続されているか否かを判定する。

制御部６０は、電源電力を生成するテストモジュール５０が、予め定められたコネクタ３６と接続されている場合、当該テストモジュール５０に電源電力を電子デバイス２００に供給させる。また制御部６０は、当該テストモジュール５０が当該予め定められたコネクタ３６と接続されていない場合、当該テストモジュール５０に電源電力を出力させない。例えば、制御部６０は、接続の判定結果に基づいて、当該テストモジュール５０に与える制御信号を生成してよい。

また、制御部６０は、複数の出力ポート、複数のテストモジュール５０、複数のコネクタ３６が正しく接続されていない場合、試験装置１００のユーザにその旨を通知してもよい。

次に、接続を判定する場合の具体的な動作を説明する。
診断用デコーダ３８は、診断用のテストモジュール５０が設置されたスロット２０から受け取る診断用信号を、それぞれのコネクタ３６を介して、それぞれのテストモジュール５０に順次供給する。診断用のテストモジュール５０が設置されるスロット２０は予め定められており、本例においては、診断用のテストモジュール５０はスロット２０−１に設置される。

そして、診断用デコーダ３８は、複数のコネクタ３６のうち、予め定められたコネクタ３６−１を介してスロット２０−１から受け取る診断用信号を、それぞれのテストモジュール５０に順番に供給する。ここで、試験装置１００が診断モードで動作する場合、制御部６０は、診断用のテストモジュール５０−１が設置されるべきスロット２０−１と、複数のコネクタ３６のうちの当該予め定められたコネクタ３６−１とを接続するようにスイッチ回路３２を制御し、診断用のテストモジュール５０−１に診断用信号を生成させるための制御信号を供給する。

診断用のテストモジュール５０−１は、与えられる制御信号に応じて、それぞれのコネクタ３６を指定する診断用信号を生成する。例えば診断用テストモジュール５０−１は、それぞれのコネクタ３６を２進数で指定する複数ビットの診断用信号を生成する。診断用デコーダ８０は、２進数の診断用信号を、当該２進数で示されるビットのみが１となる複数ビットの診断用信号にデコードする。診断用デコーダ８０が出力する診断用信号のそれぞれのビットは、複数のコネクタ３６のいずれかに対応付けられており、当該診断用信号のそれぞれのビットは、対応するコネクタ３６を介してテストモジュール５０に供給される。例えば、診断用のテストモジュール５０−１は、１ずつ増加する２進数の診断用信号を順次生成することにより、それぞれのテストモジュール５０に、所定の論理値を示す診断用信号を順次供給することができる。以下、一例としてＨ論理の診断用信号を用いて説明する。

図６は、診断用のテストモジュール５０−１の構成の一例を示す図である。診断用のテストモジュール５０−１は、診断用信号生成部５２、バッファ５４、及び電圧シフト回路５６を有する。

診断用信号生成部５２は、前述したように、バススイッチ部１８を介して制御部６０から与えられる制御信号に応じて診断用信号を生成する。例えば制御部６０は、それぞれのコネクタ３６を順次指定する複数の制御信号を、診断用信号生成部５２に順次供給し、診断用信号生成部５２は、それぞれの制御信号において指定されたコネクタ３６に対応する２進数の診断用信号を順次生成する。バッファ５４は、診断用信号生成部５２と電圧シフト回路５６との間に設けられ、診断用信号生成部５２が生成した診断用信号を、コネクタ３６−１を介して診断用デコーダ３８に供給する。また電圧シフト回路５６は、バッファ５４が出力する診断用信号の電圧レベルを任意のレベルに調整する。

図７は、他のテストモジュール５０の構成の一例を示す図である。ここで、他のテストモジュール５０とは、診断用のテストモジュール５０−１が設置されるべきスロット２０ではないスロット２０に設置されるテストモジュール５０である。

テストモジュール５０は、電子デバイス２００を試験するためのデバイス試験用回路５８と、Ｈ論理を示す診断用信号を受け取った場合に、所定の信号を制御部６０に出力する診断用回路７０とを有する。

デバイス試験用回路５８は、試験装置１００が試験モードで動作する場合に制御部６０から与えられる制御信号により制御される。またデバイス試験用回路５８は、電子デバイス２００を試験した結果を、バススイッチ部１８を介して制御部６０に通知する。

診断用回路７０は、Ｈ論理を示す診断用信号を受け取った場合に、所定の信号を制御部６０に出力する。本例において診断用回路７０は、当該所定の信号を、当該テストモジュール５０が設置されたスロット２０と対応する、バススイッチ部１８の出力ポート及び入力ポートを介して制御部６０に出力する。ここで、当該所定の信号とは、診断用信号であってもよい。また、診断用回路７０は、当該テストモジュール５０の情報を併せて制御部６０に出力してもよい。

制御部６０は、診断用回路７０が出力する信号を、バススイッチ部１８のいずれの出力ポートを介して受け取ったかにより、制御信号により指定したコネクタ３６が、バススイッチ部１８のいずれの出力ポートと接続されているかを検出することができる。また制御部６０は、診断用回路７０が出力する信号を、バススイッチ部１８のいずれの入力ポートを介して受け取ったかにより、バススイッチ部１８の入力ポート、出力ポート、スロット２０、及びコネクタ３６の接続が、コンフィグレーションファイルと整合するかを判定することができる。

診断用回路７０は、プルアップ抵抗６８、バッファ６６、ロケーションセンス回路６２、及び識別メモリ６４を有する。バッファ６６は診断用信号をロケーションセンス回路６２に入力する。ロケーションセンス回路６２は、診断用信号が入力される入力端子（Loc_SENSE1）を有し、当該入力端子にＨ論理が入力された場合に、制御部６０に所定の信号を出力する。

識別メモリ６４は、当該テストモジュール５０の、モジュール識別情報、製造者識別情報、製造型番、製造番号等を格納する。診断用回路７０は、Ｈ論理の診断用信号を受け取った場合に、これらのテストモジュール５０の情報を制御部６０に併せて出力する。この場合、制御部６０は、それぞれのスロット２０に設置されたテストモジュール５０から受け取ったモジュール識別情報と、コンフィグレーションファイルにおける当該スロット２０に設置されるべきテストモジュール５０のモジュール識別情報とを比較し、それぞれのスロット２０に正しいテストモジュール５０が設置されているか否かを更に判定することができる。

また、テストモジュール５０が複数のコネクタ３６と接続されている場合、ロケーションセンス回路６２は、当該複数のコネクタ３６と接続される複数の入力端子を有する。この場合、ロケーションセンス回路６２は、それぞれの入力端子に入力される信号毎に、所定の信号を出力することが好ましい。例えば、ロケーションセンス回路６２が２つの入力端子（Loc_SENSE1、LOC_SENSE2）を有している場合、ロケーションセンス回路６２は、入力端子（Loc_SENSE1）に入力された信号の論理値がＨであるか否かを示す情報、及び入力端子（LOC_SENSE2）に入力された信号の論理値がＨであるか否かを示す情報を、制御部６０に通知することが好ましい。また、ロケーションセンス回路６２が複数の入力端子を有する場合において、一のコネクタ３６と接続される場合には、当該コネクタ３６と接続されるロケーションセンス回路６２の入力端子以外の入力端子には、Ｌ論理の信号が与えられる。

図８は、コネクタ３６の構成の一例を示す図である。コネクタ３６は、デバイス試験用回路５８と電子デバイス２００とを接続するためのデバイスピン７２、及び診断用回路７０と診断用デコーダ３８とを接続するための診断用ピン７４とを有する。このような構成により、電子デバイス２００を試験するために試験装置１００を設定した後、当該設定を変更せずに、試験装置１００が正しく設定されたか否かを確認することができる。それぞれのコネクタ３６において、デバイスピン７２と診断用ピン７４とは、予め定められたピン配列で設けられていることが好ましい。また、診断用のテストモジュール５０−１が接続されるコネクタ３６は、診断用ピン７４により、診断用デコーダ３８と診断用のテストモジュール５０−１とを接続する。

図９は、コンフィグレーションファイルのデータ構造の一例を示す図である。図９に示すように、コンフィグレーションメモリ１２は、スロット２０の識別番号（Slot)、それぞれのスロット２０に設置されるべきテストモジュール名（Board Name）、それぞれのスロット２０にテストモジュール５０が設置されるかを示す存在情報（Existence）、当該テストモジュール５０の製造者識別情報（Vendor ID)、当該テストモジュール５０の識別情報（Module ID）、当該テストモジュール５０が設置されるべき物理的な位置を示す物理番号（Physical）、当該テストモジュール５０の製造型番（Product ID）、当該テストモジュール５０の製造番号（Product S/N）、当該テストモジュール５０に接続されるべきバススイッチ部１８の入力ポート番号、当該テストモジュール５０に接続されるべきコネクタ３６の識別番号（PB１、PB２）、及び当該テストモジュール５０に接続されるべきバススイッチ部１８の出力ポート番号（Bus Port）を対応付けたコンフィグレーションファイルを予め格納する。

図１０は、試験装置１００のコンフィグレーション方法の一例を示すフローチャートである。まず、電子デバイス２００を試験するためにスイッチ回路３２の設定を行い、当該設定を固定する。次に、当該設定が固定されたか否かを判定する（Ｓ３００）。当該設定が固定されていない場合、フェイル処理（Ｓ３０４）を行い、コンフィグレーションを終了する。当該設定が固定されている場合、所定のスロット２０に、診断用のテストモジュール５０−１が設置されているかを判定する（Ｓ３０２）。

診断用のテストモジュール５０−１が所定のスロット２０に設置されていない場合、フェイル処理（Ｓ３０４）を行い、コンフィグレーションを終了する。診断用のテストモジュール５０−１が所定のスロット２０に設置されている場合、コンフィグレーションファイルに設定されている物理番号の最大値（Module_max）を取得する（Ｓ３０６）。

次に、物理番号を１からModule_maxまで変化させ、それぞれの物理番号に対応するコネクタ３６をに、Ｈ論理となる診断用信号を順次供給し、それぞれのテストモジュール５０に診断用信号を順次供給する（診断用信号供給ステップＳ３０８）。

次に、それぞれのコネクタ３６を介した診断用信号が、いずれのテストモジュール５０に供給されたかを検出する（信号検出ステップＳ３１０）。そして、信号検出ステップＳ３１０における検出結果に基づいて、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタ３６に接続されているかを検出する（位置検出ステップＳ３１２）。Ｓ３１０及びＳ３１２の処理は、Ｓ３０８において、いずれかのコネクタ３６に診断用信号を供給する毎に、繰り返し行われてよい。

図１１は、Ｓ３０８、Ｓ３１０、Ｓ３１２の処理の詳細を説明するフローチャートである。まず、接続関係を診断するべきコネクタ３６を指定する（Ｓ３１４）。ここでは、コネクタ識別番号１（PB_Jno=1）を指定する。

そして、指定したコネクタ３６に供給する診断用信号を、診断用のテストモジュール５０−１に生成させる（Ｓ３１６）。コネクタ識別番号１を指定した場合、例えばテストモジュール５０−１は、２進数で１を示す診断用信号を生成する。

次に、物理番号を指定する（Ｓ３１８）。ここでは、物理番号１（module_no=1）を指定する。そして、当該物理番号に対応するコネクタ３６の識別番号（PB_connector=PB_1）を、コンフィグレーションファイルから取得する（Ｓ３２０)。ここで、当該テストモジュール５０が複数のコネクタ３６と接続される場合、Ｓ３２０においては、当該物理番号に対して複数のコネクタ識別番号が取得される（例えば、PB_connector=PB_1 and PB_2）。

次に、Ｓ３１４において指定したコネクタ識別番号（PB_Jno）と、Ｓ３２０において取得したコネクタ識別番号(PB_cpnnector）とを比較する（Ｓ３２２）。PB_cpnnector=PB_Jnoである場合、当該物理番号に対応するテストモジュール５０の診断用回路７０にＨ論理の診断用信号が供給されたかを検出する（Ｓ３２４）。当該テストモジュール５０の診断用回路７０にＨ論理の診断用信号が供給されたかは、例えば当該診断用回路７０から当該物理番号に対応するバススイッチ部１８の出力ポートに出力される信号に基づいて検出することができる。つまり、出力ポートに出力される信号に基づいて、診断用回路７０の入力端子（Loc_SENSE）にＨ論理の診断用信号が入力されたかを検出する。

PB_cpnnector=PB_Jnoである場合、スイッチ回路３２の設定が正しく行われていれば、当該物理番号に対応するテストモジュール５０にＨ論理の診断用信号が供給されるため、当該診断用回路７０にＨ論理の診断用信号が供給されたことを検出した場合、Ｐａｓｓ処理（Ｓ３２６）を行い、検出されなかった場合、Ｆａｉｌ処理（Ｓ３３０）を行う。

また、Ｓ３２２においてPB_cpnnector=PB_Jnoでない場合、当該物理番号に対応するテストモジュール５０の診断用回路７０にＨ論理の診断用信号が供給されていないかを検出する（Ｓ３２４）。PB_cpnnector=PB_Jnoでない場合、スイッチ回路３２の設定が正しく行われていれば、当該物理番号に対応するテストモジュール５０にはＬ論理の信号が供給されるため、当該診断用回路７０にＨ論理の診断用信号が供給されたことを検出した場合、Ｆａｉｌ処理（Ｓ３３０）を行い、Ｌ論理の信号が供給されたことを検出した場合、Ｐａｓｓ処理（Ｓ３２６）を行う。

そして、指定した物理番号が、Ｓ３０６において所得した物理番号の最大値に１を加えたものと等しいか否かを判定することにより、全ての物理番号を走査したかを判定し（Ｓ３３２）、未走査の物理番号が有る場合には、指定した当該物理番号に１を加え（Ｓ３３４）、Ｓ３２０〜Ｓ３３２の処理を繰り返す。全ての物理番号を走査した場合には、指定したコネクタ識別番号が、既知のコネクタ数より大きくなったか否かを判定することにより、全てのコネクタ３６に対して診断を行ったかを判定し（Ｓ３３６）、未診断のコネクタ３６が有る場合には、指定したコネクタ識別番号に１を加え（Ｓ３３８）、Ｓ３１６〜Ｓ３３６の処理を繰り返す。全てのコネクタ３６に対して診断が終了した場合には、コンフィグレーションの処理を終了する。

このような処理により、全てのコネクタ３６に対して、正しい出力ポートやスロット２０等と接続されているかを診断することができる。

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載から明らかである。

以上から明らかなように、本発明によれば、テストモジュール５０が誤接続された場合に電子デバイス２００が破損することを防ぐことができる。

Claims

電子デバイスを試験する試験装置であって、
前記電子デバイスを試験するために予め定められた試験プログラムに基づいて制御信号を生成する制御部と、
前記制御信号に基づいて、前記電子デバイスに供給する試験信号を生成する複数のテストモジュールと、
前記複数のテストモジュールと対応して設けられ、対応する前記テストモジュールが生成した前記試験信号を、前記電子デバイスの予め定められたピンに供給するコネクタを有するデバイスインターフェースと
を備え、
前記電子デバイスに供給するべき電源電力を生成する前記テストモジュールは、前記複数のコネクタのうち予め定められたコネクタと接続されている場合に前記電源電力を出力し、前記予め定められたコネクタと接続されていない場合に前記電源電力を出力しない
試験装置。
それぞれの前記コネクタは所定の位置に設けられた２つの検出用ピンを有し、
前記電源電力を生成する前記テストモジュールに接続されるべき前記予め定められたコネクタの前記２つの検出用ピンは短絡されており、
前記予め定められたコネクタ以外の前記コネクタの前記２つの検出用ピンは短絡されておらず、
前記電源電力を生成する前記テストモジュールは、接続された前記コネクタの前記２つの検出用ピンが短絡されているか否かを検出し、前記２つの検出用ピンが短絡されている場合に、前記電源電力を前記電子デバイスに供給する
請求項１に記載の試験装置。
前記電源電力を生成する前記テストモジュールは、
生成した前記電源電力を外部に出力するか否かを切り替えるスイッチと、
対応する前記コネクタの前記２つの検出用ピンに接続され、前記２つの検出用ピンが短絡されているか否かを検出し、検出結果に基づいて前記スイッチを制御するスイッチ制御部と
を有する請求項２に記載の試験装置。
前記デバイスインターフェースは、診断用の前記テストモジュールから受け取る診断用信号を、それぞれの前記コネクタを介して、それぞれの前記テストモジュールに順次供給する診断用デコーダを更に有し、
前記制御部は、それぞれの前記コネクタを介した前記診断用信号が、いずれの前記テストモジュールに供給されたかを検出し、当該検出結果に基づいてそれぞれの前記テストモジュールが、いずれの前記コネクタに接続されているかを検出し、前記電源電力を生成する前記テストモジュールが前記予め定められたコネクタと接続されている場合に、当該テストモジュールから前記電子デバイスに前記電源電力を供給させる
請求項１に記載の試験装置。
前記デバイスインターフェースは、それぞれの前記テストモジュールを、いずれの前記コネクタと接続するかを切り替えるスイッチ回路を更に有する
請求項２又は４に記載の試験装置。