JP4240116B2 - 光ディスク装置 - Google Patents

Description

本発明は、光ディスク装置に関する。

従来、光ディスクの種別は、光ピックアップを光ディスクに近づけてゆき、光ディスクの表面層から反射される信号が検出されてから、記録層から反射される信号が検出されるまでの時間の長さに基づいて、判別されている（例えば、特許文献１，２）。
また、光ディスクの記録層から反射されて検出される信号の形状に基づいて、光ディスクの種別を判別するものも知られている（例えば、特許文献３）。
また、光ピックアップのレーザー焦点が光ディスクを透過する際にＦＥ信号に現れるＳ字カーブを検出し、表面層からＳ字カーブが検出されてから記録層からＳ字カーブが検出されるまでの時間の長さに基づいて、光ディスクがＨＤ−ＤＶＤかＢＤかを判別するものも知られている（特許文献４）
特開２００５−２５９２５２号公報 特開２００５−３１７１１６号公報 特開２００５−３４６８０９号公報 特開２００６−１３４３６７号公報

しかしながら、光ディスクの表面層から反射される信号は小さいため、検出できない場合もあり、その場合には、光ディスクの記録層から反射される信号を表面層から反射される光と誤検出することとなり、光ピックアップの対物レンズが光ディスクに接触してしまったり、光ディスクの種別を判別することができないという問題がある。特許文献１〜４は、光ディスクの表面層から反射される信号が検出できることを前提としており、上記問題を解決することができない。

本発明の課題は、光ピックアップの光ディスクへの衝突を防ぐとともに、光ディスクの種別をより確実に判別することができる光ディスク装置を提供することである。

請求項１に記載の発明は、情報が光学的に記録される光ディスクのディスク表面に対して垂直方向に移動可能な光ピックアップを備える光ディスク装置において、
前記光ピックアップを前記光ディスクのディスク表面に対して垂直方向に駆動する駆動手段と、
前記駆動手段により前記光ピックアップを初期位置から前記ディスク表面へ近づける駆動が開始された後、前記光ピックアップにより第１の閾値以上の信号が検出されてから、再び、前記光ピックアップにより第１の閾値以下の信号が検出されるまでの第１時間を、計時手段に計時させる第１計時制御手段と、
前記第１計時制御手段により計時された前記第１時間が所定時間より短いか否かを判断する判断手段と、
前記判断手段により、前記第１時間が所定時間より短いと判断された場合に、前記光ピックアップにより第１の閾値以下の信号が検出されてから、再び、前記光ピックアップにより前記第１の閾値よりも大きい第２の閾値以上の信号が検出されるまでの第２時間を、前記計時手段に計時させる第２計時制御手段と、
前記第２計時制御手段により計時させた第２時間に基づいて光ディスクの種別を判別する判別手段と、
前記判断手段により、前記第１時間が所定時間以上と判断された場合に、前記駆動手段により前記光ピックアップを初期位置に戻す駆動制御手段と、
前記光ピックアップにより検出された信号を増幅する増幅器と、
前記判断手段により、前記第１時間が所定時間以上と判断された場合に、前記増幅器による増幅率を所定の値分上げて、前記第１計時制御手段を再び実行させる制御を行う制御手段と、
を備えたことを特徴としている。

請求項２に記載の発明は、情報が光学的に記録される光ディスクのディスク表面に対して垂直方向に移動可能な光ピックアップを備える光ディスク装置において、
前記光ピックアップを前記光ディスクのディスク表面に対して垂直方向に駆動する駆動手段と、
前記駆動手段により前記光ピックアップを初期位置から前記ディスク表面へ近づける駆動が開始された後、前記光ピックアップにより所定の閾値以上の信号が検出されてから、再び、前記光ピックアップにより所定の閾値以下の信号が検出されるまでの第１時間を、計時手段に計時させる第１計時制御手段と、
前記第１計時制御手段により計時された前記第１時間が所定時間より短いか否かを判断する判断手段と、
前記判断手段により、前記第１時間が所定時間より短いと判断された場合に、前記光ピックアップにより所定の閾値以下の信号が検出されてから、再び、前記光ピックアップにより所定の閾値以上の信号が検出されるまでの第２時間を、前記計時手段に計時させる第２計時制御手段と、
前記第２計時制御手段により計時させた第２時間に基づいて光ディスクの種別を判別する判別手段と、
前記判断手段により、前記第１時間が所定時間以上と判断された場合に、前記駆動手段により前記光ピックアップを初期位置に戻す駆動制御手段と、
を備えたことを特徴としている。

請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の光ディスク装置において、
前記光ピックアップにより検出された信号を増幅する増幅器と、
前記判断手段により、前記第１時間が所定時間以上と判断された場合に、前記増幅器による増幅率を所定の値分上げて、前記第１計時制御手段を再び実行させる制御を行う制御手段を備えることを特徴としている。

請求項４に記載の発明は、請求項２に記載の光ディスク装置において、
前記判断手段により、前記第１時間が所定時間以上と判断された場合に、前記所定の閾値を所定の値分下げて、前記第１計時制御手段を再び実行させる制御を行う制御手段を備えることを特徴としている。

請求項１に記載の発明によれば、駆動手段により、光ピックアップが光ディスクのディスク表面に対して垂直方向に駆動され、第１計時制御手段により、駆動手段によって光ピックアップを初期位置からディスク表面へ近づける駆動が開始された後、光ピックアップにより第１の閾値以上の信号が検出されてから、再び、光ピックアップにより第１の閾値以下の信号が検出されるまでの第１時間が、計時手段に計時され、判断手段により、第１計時制御手段によって計時させた第１時間が所定時間より短いか否かが判断され、第２計時制御手段により、判断手段によって、第１時間が所定時間より短いと判断された場合に、光ピックアップにより第１の閾値以下の信号が検出されてから、再び、光ピックアップにより第１の閾値より大きい第２の閾値以上の信号が検出されるまでの第２時間が、計時手段に計時され、判別手段により、第２計時制御手段によって計時させた第２時間に基づいて光ディスクの種別が判別され、駆動制御手段により、判断手段によって、第１時間が所定時間以上と判断された場合に、駆動手段により光ピックアップが初期位置に戻されるので、光ピックアップによって検出された信号がディスク表面層から反射される信号か否かを正確に判断でき、第１時間が所定時間以上である場合、即ち、検出された信号がディスク表面層から反射される信号ではないと判断した場合には、光ピックアップが初期位置に戻されるので、光ディスクの記録層から反射される信号を表面層から反射される信号と間違えて光ピックアップをさらに光ディスクの表面へ近づけてしまうことを防ぐことができ、光ピックアップの光ディスクへの衝突を防ぐことができる。
また、第１時間が所定時間より短いか否かにより、光ピックアップにより検出された信号が光ディスクの表面層から反射される信号か否かが正確に判断されるので、正確な第２時間を計測することができ、光ディスクの種別をより確実に判別することができる。

また、増幅器により、光ピックアップによって検出された信号が増幅され、制御手段により、判断手段によって第１時間が所定時間以上と判断された場合に、増幅器による増幅率を所定の値分上げて、第１計時制御手段を再び実行させる制御が行われるので、光ディスクの表面層から反射される信号が検出されなかった場合に、再度、光ディスクの表面層から反射される信号の検出が行われる際、より検出されやすくなることとなって、光ディスクの種別をより確実に判別することができる。

また、第２時間の計測終了時点となる光ディスクの記録層から反射される信号の検出においては、第１の閾値より大きい第２の閾値が用いられるので、ノイズなどを光ディスクの記録層から反射される信号と間違えて検出することが防止されることとなって、光ディスクの種別をより一層確実に判別することができる。

請求項２に記載の発明によれば、駆動手段により、光ピックアップが光ディスクのディスク表面に対して垂直方向に駆動され、第１計時制御手段により、駆動手段によって光ピックアップを初期位置からディスク表面へ近づける駆動が開始された後、光ピックアップにより所定の閾値以上の信号が検出されてから、再び、光ピックアップにより所定の閾値以下の信号が検出されるまでの第１時間が、計時手段に計時され、判断手段により、第１計時制御手段によって計時させた第１時間が所定時間より短いか否かが判断され、第２計時制御手段により、判断手段によって、第１時間が所定時間より短いと判断された場合に、光ピックアップにより所定の閾値以下の信号が検出されてから、再び、光ピックアップにより所定の閾値以上の信号が検出されるまでの第２時間が、計時手段に計時され、判別手段により、第２計時制御手段によって計時させた第２時間に基づいて光ディスクの種別が判別され、駆動制御手段により、判断手段によって、第１時間が所定時間以上と判断された場合に、駆動手段により光ピックアップが初期位置に戻されるので、光ピックアップによって検出された信号がディスク表面層から反射される信号か否かを正確に判断でき、第１時間が所定時間以上である場合、即ち、検出された信号がディスク表面層から反射される信号ではないと判断した場合には、光ピックアップが初期位置に戻されるので、光ディスクの記録層から反射される信号を表面層から反射される信号と間違えて光ピックアップをさらに光ディスクの表面へ近づけてしまうことを防ぐことができ、光ピックアップの光ディスクへの衝突を防ぐことができる。
また、第１時間が所定時間より短いか否かにより、光ピックアップにより検出された信号が光ディスクの表面層から反射される信号か否かが正確に判断されるので、正確な第２時間を計測することができ、光ディスクの種別をより確実に判別することができる。

請求項３に記載の発明によれば、請求項２に記載の発明と同様の効果が得られることは勿論のこと、特に、増幅器により、光ピックアップによって検出された信号が増幅され、制御手段により、判断手段によって第１時間が所定時間以上と判断された場合に、増幅器による増幅率を所定の値分上げて、第１計時制御手段を再び実行させる制御が行われるので、光ディスクの表面層から反射される信号が検出されなかった場合に、再度、光ディスクの表面層から反射される信号の検出が行われる際、より検出されやすくなることとなって、光ディスクの種別をより確実に判別することができる。

請求項４に記載の発明によれば、請求項２に記載の発明と同様の効果が得られることは勿論のこと、特に、制御手段により、判断手段によって第１時間が所定時間以上と判断された場合に、所定の閾値を所定の値分下げて、第１計時制御手段を再び実行させる制御が行われるので、光ディスクの表面層から反射される信号が検出されなかった場合に、再度、光ディスクの表面層から反射される信号の検出が行われる際、より検出されやすくなることとなって、光ディスクの種別をより確実に判別することができる。

以下、図を参照して、本発明に係る光ディスク装置を実施するための最良の形態を詳細に説明する。

（第１の実施形態）
まず、本発明の第１の実施形態に係る光ディスク装置１００の構成について図１，図２を参照しながら説明する。第１の実施形態に係る光ディスク装置１００は、例えば、図１，図２に示すように、光ピックアップ１，光検出器２，全加算信号検出部３，ゲイン調整器４，二値化信号検出部５，時間計測部６，駆動部７，アクチュエータ８、ＣＰＵ（Central Processing Unit）９，ＲＡＭ（Random Access Memory）１０，記憶部１１等を備えて構成されている。

光ピックアップ１は、例えば、光源１Ａ，カップリングレンズ１Ｂ，ビームスプリッタ１Ｃ，対物レンズ１Ｄ，集光レンズ１Ｅ等を備えて構成される。
光源１Ａは、例えば、半導体レーザやＬＥＤ（Light Emitting Diode）等である。
カップリングレンズ１Ｂは、例えば、光源１Ａとビームスプリッタ１Ｃとの間に設けられ、光源１Ａから出射された発散光の発散角を所望の角に変えることにより、平行光に変換する。
ビームスプリッタ１Ｃは、例えば、カップリングレンズ１Ｂと対物レンズ１Ｄとの間に設けられ、カップリングレンズ１Ｂを透過した光源１Ａから出射されたレーザ光と、光ディスクｄから反射される反射光とを分離させる。
対物レンズ１Ｄは、例えば、後述するアクチュエータ８により保持され、ビームスプリッタ１Ｃを透過したレーザ光を集光して光ディスクｄに照射する。
集光レンズ１Ｅは、例えば、ビームスプリッタ１Ｃと光検出器２との間に設けられ、ビームスプリッタ１Ｃを反射した反射光を集光して光検出器２に出射する。

光検出器２は、例えば、集光レンズ１Ｅと全加算信号検出部３との間に設けられ、集光レンズ１Ｅを透過した反射光を４分割し、それぞれの反射光の強度に応じた４つの電気信号を全加算信号検出部３に出力する。

全加算信号検出部３は、例えば、光検出器２から出力される４つの電気信号を加算する処理を行って全加算信号を生成し、ゲイン調整器４へ出力する。

ゲイン調整器４は、全加算信号検出部３から出力される全加算信号を所定の増幅率に基づいて増幅し、二値化信号検出部５に出力し、増幅器として機能する。

二値化信号検出部５は、例えば、ゲイン調整器４から出力される電気信号に対して、所定の閾値に基づいてニ値化処理を行って二値化信号を生成する。なお、所定の閾値は、例えば、第１の閾値（例えば、図３のＬ１）又は第２の閾値（例えば、図３のＬ２）であって、ＣＰＵ９が後述する第１計時プログラム１１Ａ又は第２計時プログラム１１Ｃを実行することにより設定される。

時間計測部６は、例えば、ＣＰＵ９が後述する第１計時プログラム１１Ａ又は第２計時プログラム１１Ｃを実行することにより制御されて、計時を行い、計時手段として機能する。

駆動部７は、例えば、アクチュエータ８を駆動することにより、対物レンズ１Ｄを光ディスクｄの表面に対して垂直方向に駆動し、駆動手段として機能する。

ＣＰＵ９は、例えば、記憶部１１に格納された処理プログラム等を読み出して、ＲＡＭ１０に展開して実行することにより、光ディスク装置１００の制御を行う。

ＲＡＭ１０は、ＣＰＵ９により実行された処理プログラム等を、ＲＡＭ１０内のプログラム格納領域に展開するとともに、入力データや上記処理プログラムが実行される際に生じる処理結果等をデータ格納領域に格納する。

記憶部１１は、例えば、プログラムやデータ等が予め記憶されている記録媒体（図示せず）を有しており、この記録媒体は、例えば、半導体メモリ等で構成されている。また、記憶部１１は、ＣＰＵ９が光ディスク装置１００全体を制御する機能を実現させるための各種データ，各種処理プログラム，これらプログラムの実行により処理されたデータ等を記憶する。より具体的には、記憶部１１は、例えば、図２に示すように、第１計時プログラム１１Ａ，判断プログラム１１Ｂ，第２計時プログラム１１Ｃ，駆動プログラム１１Ｄ，制御プログラム１１Ｅ，判別プログラム１１Ｆ等を格納している。

第１計時プログラム１１Ａは、例えば、ＣＰＵ９に、駆動部７により光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄを初期位置からディスク表面へ近づける駆動が開始された後、光ピックアップ１により第１の閾値Ｌ１以上の信号が検出されてから、再び、光ピックアップ１により第１の閾値Ｌ１以下の信号が検出されるまでの第１時間を、時間計測部６に計時させる機能を実現させるプログラムである。
より具体的には、第１計時プログラム１１Ａは、例えば、ＣＰＵ９に、二値化信号検出部５で用いられる閾値を第１の閾値Ｌ１に設定し、駆動部７により光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄの駆動が開始された後、光ディスクｄから反射される反射光が光ピックアップ１により受光され、光ピックアップ１により受光された反射光が光検出器２により電気信号に変換され、光検出器２により変換された電気信号から全加算信号検出部３により全加算信号が生成され、ゲイン調整器４により増幅された全加算信号が第１の閾値Ｌ１以上となってから、再び、第１の閾値Ｌ１以下となるまでの第１時間を、時間計測部６に計時させる機能を実現させるプログラムである。
ＣＰＵ９は、第１計時プログラム１１Ａを実行することにより、第１計時制御手段として機能する。

判断プログラム１１Ｂは、例えば、ＣＰＵ９に、第１計時プログラム１１Ａを実行することによって、時間計測部６に計時させた第１時間が所定時間Ｔｄより短いか否かを判断する機能を実現させるプログラムである。なお、この所定時間Ｔｄは、予め、光ディスク装置１００において設定されている時間であり、ディスク表面層を検出する時間（例えば、図３のｔ２―ｔ１）よりも長く、且つ記録層を検出する時間（図５のｔ６−ｔ５）よりも短い任意の値が設定される。ＣＰＵ９は、かかる判断プログラム１１Ｂを実行することにより、判断手段として機能する。

第２計時プログラム１１Ｃは、例えば、ＣＰＵ９に、判断プログラム１１Ｂを実行することにより、第１時間が所定時間Ｔｄより短いと判断した場合に、光ピックアップ１により第１の閾値Ｌ１以下の信号が検出されてから、再び、光ピックアップ１により第２の閾値Ｌ２以上の信号が検出されるまでの第２時間を、時間計測部６に計時させる機能を実現させるプログラムである。ここで、第２の閾値Ｌ２とは、例えば、第１の閾値Ｌ１よりも大きい値である。
より具体的には、第２計時プログラム１１Ｃは、例えば、ＣＰＵ９に、判断プログラム１１Ｂを実行することにより、第１時間が所定時間Ｔｄより短いと判断した場合に、二値化信号検出部５で用いられる閾値を第２の閾値Ｌ２に設定し、光ディスクｄから反射される反射光が光ピックアップ１により受光され、光ピックアップ１により受光された反射光が光検出器２により電気信号に変換され、光検出器２により変換された電気信号から全加算信号検出部３により全加算信号が生成され、ゲイン調整器４により増幅された全加算信号が第１の閾値Ｌ１以下となってから、再び、第２の閾値Ｌ２以上となるまでの第２時間を、時間計測部６に計時させ、第２の閾値Ｌ２以上の全加算信号が検出された場合に、二値化信号検出部５で用いられる閾値を第１の閾値Ｌ１に変更する機能を実現させるプログラムである。
ＣＰＵ９は、第２計時プログラム１１Ｃを実行することにより、第２計時制御手段として機能する。

駆動プログラム１１Ｄは、例えば、ＣＰＵ９に、判断プログラム１１Ｂを実行することにより、第１時間が所定時間Ｔｄ以上であると判断した場合に、駆動部７により光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄを初期位置に戻させる機能を実現させるプログラムである。ＣＰＵ９は、かかる駆動プログラム１１Ｄを実行することにより、駆動制御手段として機能する。

制御プログラム１１Ｅは、例えば、ＣＰＵ９に、判断プログラム１１Ｂを実行することにより、第１時間が所定時間Ｔｄ以上であると判断した場合に、ゲイン調整器４による増幅率を所定の値分上げて、第１計時プログラム１１Ａを再び実行させる制御を行う機能を実現させるプログラムである。ＣＰＵ９は、制御プログラム１１Ｅを実行することにより、制御手段として機能する。

判別プログラム１１Ｆは、例えば、ＣＰＵ９に、第２計時プログラム１１Ｃを実行することにより計時した第２時間の長さに基づいて、光ディスクｄの種別を判別する機能を実現させるプログラムである。ＣＰＵ９は、かかる判別プログラム１１Ｆを実行することにより、判別手段として機能する。

次に、駆動部７により光ピックアップ１が初期位置からディスク表面へ近づけるように駆動された場合における、全加算信号検出部３により生成される全加算信号、二値化信号検出部５により生成される二値化信号、及び、時間計測部６による計測動作の経時変化の一例を、図３に示すタイミングチャートを参照しながら説明する。

まず、光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄが初期位置からディスク表面へと駆動され、対物レンズ１Ｄの焦点が光ディスクｄの表面層に近づくにつれて全加算信号が上昇し、その後、対物レンズ１Ｄの焦点が光ディスクｄの表面層を通過して遠ざかるにつれて全加算信号が減少してほぼ初期値に戻る。
このとき、全加算信号の値が第１の閾値Ｌ１以上となった場合に、二値化信号が「Ｈｉ」となり（図３のｔ１の時点）、全加算信号の値が第１の閾値Ｌ１より小さくなった場合に、二値化信号が「Ｌｏｗ」となる（図３のｔ２の時点）。
また、このとき、ＣＰＵ９が第１計時プログラム１１Ａを実行することにより、時間計測部６が制御されて、二値化信号が「Ｈｉ」となった際（図３のｔ１の時点）に計時が開始され、二値化信号が「Ｌｏｗ」となった際（図３のｔ２の時点）に計時が終了し、第１時間が計時される。

次に、駆動部７により光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄがさらにディスク表面へ近づけられ、対物レンズ１Ｄの焦点が光ディスクｄの記録層に近づくにつれて全加算信号が上昇し、その後、対物レンズ１Ｄの焦点が光ディスクｄの記録層を通過して遠ざかるにつれて全加算信号が減少する。
そして、このとき、全加算信号の値が第２の閾値Ｌ２以上となった場合に、二値化信号が「Ｈｉ」となり（図３のｔ３の時点）、全加算信号の値が第１の閾値Ｌ１以下となった場合に二値化信号が「Ｌｏｗ」となる（図３のｔ４の時点）。
また、このとき、ＣＰＵ９が第２計時プログラム１１Ｃを実行することにより、時間計測部６が制御されて、二値化信号が「Ｌｏｗ」となった際（図３のｔ２の時点）に計時が開始され、二値化信号が「Ｈｉ」となった際（図３のｔ３の時点）に計時が終了し、第２時間が計時される。

次に、上述のような構成の第１の実施形態に係る光ディスク装置１００におけるディスク判別動作について図４に示すフローチャートを参照しながら説明する。
まず、駆動部７により、光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄが初期位置からディスク表面へ近づける駆動が開始されると（ステップＳ１）、二値化信号検出部５により二値化信号が「Ｈｉ」となったことが検出され（ステップＳ２）、ＣＰＵ９が、第１計時プログラム１１Ａを実行することにより、時間計測部６が制御されて計時が開始される（ステップＳ３）。

次に、二値化信号検出部５により二値化信号が「Ｌｏｗ」となったことが検出され（ステップＳ４）、ＣＰＵ９は、第１計時プログラム１１Ａの実行に基づいて、時間計測部６を制御し、計時を終了させる（ステップＳ５）。

次に、ＣＰＵ９は、判断プログラム１１Ｂを実行することにより、ステップＳ３〜ステップＳ５において計時された時間Ｔｍが所定時間Ｔｄより小さいか否かを判断する（ステップＳ６）。

ステップＳ６において、ＣＰＵ９が、Ｔｍ≧Ｔｄであると判断した場合に（ステップＳ６；Ｎｏ）、ＣＰＵ９は、Ｔｍをリセットするとともに、駆動プログラム１１Ｄを実行することにより、光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄの位置を初期位置に戻す（ステップＳ７）。

次に、ＣＰＵ９は、制御プログラム１１Ｅを実行することにより、ゲイン調整器４による増幅率を所定の値分上げて、ステップＳ１に戻る（ステップＳ８）。

ステップＳ６において、ＣＰＵ９が、Ｔｍ＜Ｔｄであると判断した場合に（ステップＳ６；Ｙｅｓ）、ＣＰＵ９は、第２計時プログラム１１Ｃを実行することにより、二値化信号検出部５において用いられる閾値を第２の閾値Ｌ２に設定するとともに、時間計測部６を制御して、リセット後、計時を開始させる（ステップＳ９）。

次に、二値化信号検出部５により二値化信号が「Ｈｉ」となったことが検出されると（ステップＳ１０）、ＣＰＵ９は、第２計時プログラム１１Ｃの実行に基づいて、時間計測部６を制御し、計時を終了させる（ステップＳ１１）。

次に、ＣＰＵ９は、判別プログラム１１Ｆを実行することにより、ステップＳ９〜ステップＳ１１において計測された時間（第２時間）に基づいて、光ディスクｄの種別を判別するとともに、二値化信号検出部５において用いられる閾値を第１の閾値Ｌ１に設定し（ステップＳ１２）、本処理を終了する。

次に、光ディスクｄの表面層の全加算信号が第１の閾値Ｌ１よりも小さい場合における、全加算信号、二値化信号、及び、時間計測部６による計測動作の経時変化の一例を、図５に示すタイミングチャートを参照しながら説明する。

まず、光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄが初期位置からディスク表面へと駆動され、対物レンズ１Ｄの焦点が光ディスクｄの表面層に近づくにつれて全加算信号が上昇し、その後、対物レンズ１Ｄの焦点が光ディスクｄの表面層を通過して遠ざかるにつれて全加算信号が減少してほぼ初期値に戻る。
このとき、光ディスクｄの表面層の全加算信号の値は第１の閾値Ｌ１より小さいため、二値化信号は「Ｌｏｗ」のままである。
また、このとき、二値化信号が「Ｌｏｗ」のままであるため、時間計測部６による計時は行われない。

次に、駆動部７により光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄがさらにディスク表面への近づけられ、対物レンズ１Ｄの焦点が光ディスクｄの記録層に近づくにつれて全加算信号が上昇し、その後、対物レンズ１Ｄの焦点が光ディスクｄの記録層を通過して遠ざかるにつれて全加算信号が減少する。
そして、このとき、全加算信号の値が第１の閾値Ｌ１以上となった場合に、二値化信号が「Ｈｉ」となり（図５のｔ５の時点）、全加算信号の値が第１の閾値Ｌ１以下となった場合に二値化信号が「Ｌｏｗ」となる（図５のｔ６の時点）。
また、このとき、ＣＰＵ９が第１計時プログラム１１Ａを実行することにより、時間計測部６が制御されて、二値化信号が「Ｈｉ」となった際（図５のｔ５の時点）に計時が開始され、二値化信号が「Ｌｏｗ」となった際（図５のｔ６の時点）に計時が終了し、第１時間が計時される。

従って、光ディスクｄの表面層において検出される全加算信号が第１の閾値Ｌ１より小さい場合には、光ディスクｄの記録層において検出される二値化信号の「Ｈｉ」／「Ｌｏｗ」に基づいて第１時間が計測されることとなる。ここで、光ディスクｄの記録層において計測される時間（図５のｔ６−ｔ５）は、常に、所定時間Ｔｄより大きくなるように、所定時間Ｔｄが予め設定されている。そのため、光ディスクｄの表面層において検出される全加算信号が第１の閾値Ｌ１より小さく、光ディスクｄの記録層において第１時間が計測された場合は、図４のフローチャートのステップＳ６において、ＣＰＵ９が判断プログラム１１Ｂを実行することにより、Ｔｍ≧Ｔｄと判断され、ＣＰＵ９が駆動プログラム１１Ｄ，制御プログラム１１Ｅを実行することにより、ゲイン調整器４が調節された後、再度ディスク判別が最初から行われることとなり、対物レンズ１Ｄの焦点が光ディスクの記録層を通過した後も光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄが光ディスクｄに近づけられることはない。

以上に説明した本発明の第１の実施形態に係る光ディスク装置１００によれば、駆動部７により、光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄが光ディスクｄのディスク表面に対して垂直方向に駆動され、ＣＰＵ９が第１計時プログラム１１Ａを実行することにより、駆動部７によって光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄを初期位置からディスク表面へ近づける駆動が開始された後、光ピックアップ１により第１の閾値Ｌ１以上の信号が検出されてから、再び、光ピックアップ１により第１の閾値Ｌ１以下の信号が検出されるまでの第１時間が、時間計測部６に計時され、ＣＰＵ９が判断プログラム１１Ｂを実行することにより、第１計時プログラム１１Ａを実行することによって計時させた第１時間が所定時間Ｔｄより短いか否かが判断され、ＣＰＵ９が第２計時プログラム１１Ｃを実行することにより、判断プログラム１１Ｂを実行することによって、第１時間が所定時間Ｔｄより短いと判断された場合に、光ピックアップ１により第１の閾値Ｌ１以下の信号が検出されてから、再び、光ピックアップ１により第１の閾値Ｌ１より大きい第２の閾値Ｌ２以上の信号が検出されるまでの第２時間が、時間計測部６に計時され、ＣＰＵ９が判別プログラム１１Ｆを実行することにより、第２計時プログラム１１Ｃを実行することによって計時させた第２時間に基づいて光ディスクの種別が判別され、ＣＰＵ９が駆動プログラム１１Ｄを実行することにより、判断プログラム１１Ｂを実行することによって、第１時間が所定時間Ｔｄ以上と判断した場合に、駆動部７により光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄが初期位置に戻されるので、光ピックアップ１によって検出された信号がディスク表面層から反射される信号か否かを正確に判断でき、第１時間が所定時間Ｔｄ以上である場合、即ち、検出された信号がディスク表面層から反射される信号ではないと判断した場合には、光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄが初期位置に戻されるので、記録層から反射される信号を表面層から反射される信号と間違えて光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄをさらに光ディスクｄの表面へ近づけてしまうことを防ぐことができ、光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄの光ディスクｄへの衝突を防ぐことができる。
また、第１時間が所定時間Ｔｄより短いか否かにより、光ピックアップ１により検出された信号が光ディスクｄの表面層から反射される信号か否かが正確に判断されるので、正確な第２時間を計測することができ、光ディスクｄの種別をより確実に判別することができる。

また、ゲイン調整器４により、光ピックアップ１によって検出された信号が増幅され、ＣＰＵ９が制御プログラム１１Ｅを実行することにより、判断プログラム１１Ｂを実行することによって第１時間が所定時間Ｔｄ以上と判断された場合に、ゲイン調整器４による増幅率を所定の値分上げて、ＣＰＵ９に第１計時プログラム１１Ａを再び実行させる制御が行われるので、光ディスクｄの表面層から反射される信号が検出されなかった場合に、再度、光ディスクｄの表面層から反射される信号の検出が行われる際、より検出されやすくなこととなって、光ディスクｄの種別をより確実に判別することができる。

また、第２時間の計測終了時点となる光ディスクｄの記録層から反射される信号の検出においては、第１の閾値Ｌ１より大きい第２の閾値Ｌ２が用いられるので、ノイズなどを光ディスクの記録層から反射される信号と間違えて検出することが防止されることとなって、光ディスクｄの種別をより一層確実に判別することができる。

（第２の実施形態）
第２の実施形態に係る光ディスク装置２００は、例えば、図６，図７に示すように、ゲイン調整器４を備えず、全加算信号検出部３０，二値化信号検出部５０，記憶部１２の構成のみが第１の光ディスク装置１００と異なるので、同一の構成に関しては、同一の符号を用いるとともに、その説明を省略する。

全加算信号検出部３０は、例えば、光検出器２から出力される４つの電気信号を加算する処理を行って全加算信号を生成し、二値化信号検出部５０へ出力する。

二値化信号検出部５０は、例えば、全加算信号検出部３０から出力される電気信号に対して、所定の閾値に基づいてニ値化処理を行って二値化信号を生成する。なお、所定の閾値は、例えば、第１の閾値Ｌ１又は第１の閾値Ｌ２であって、ＣＰＵ９が第１計時プログラム１２Ａ又は第２計時プログラム１２Ｃを実行することにより設定される。

記憶部１２は、例えば、プログラムやデータ等が予め記憶されている記録媒体（図示せず）を有しており、この記録媒体は、例えば、半導体メモリ等で構成されている。また、記憶部１２は、ＣＰＵ９が光ディスク装置２００全体を制御する機能を実現させるための各種データ，各種処理プログラム，これらプログラムの実行により処理されたデータ等を記憶する。より具体的には、記憶部１２は、例えば、図７に示すように、第１計時プログラム１２Ａ，判断プログラム１１Ｂ，第２計時プログラム１２Ｃ，駆動プログラム１１Ｄ，制御プログラム１２Ｅ，判別プログラム１１Ｆ等を格納している。

第１計時プログラム１２Ａは、例えば、ＣＰＵ９に、駆動部７により光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄを初期位置からディスク表面へ近づける駆動が開始された後、光ピックアップ１により第１の閾値Ｌ１以上の信号が検出されてから、再び、光ピックアップ１により第１の閾値Ｌ１以下の信号が検出されるまでの第１時間を、時間計測部６に計時させる機能を実現させるプログラムである。
より具体的には、第１計時プログラム１２Ａは、例えば、ＣＰＵ９に、二値化信号検出部５０で用いられる閾値を第１の閾値Ｌ１に設定し、駆動部７により光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄの駆動が開始された後、光ディスクｄから反射される反射光が光ピックアップ１により受光され、光ピックアップ１により受光された反射光が光検出器２により電気信号に変換され、光検出器２により変換された電気信号から全加算信号検出部３０により生成された全加算信号が第１の閾値Ｌ１以上となってから、再び、第１の閾値Ｌ１以下となるまでの第１時間を、時間計測部６に計時させる機能を実現させるプログラムである。
ＣＰＵ９は、第１計時プログラム１２Ａを実行することにより、第１計時制御手段として機能する。

第２計時プログラム１２Ｃは、例えば、ＣＰＵ９に、判断プログラム１１Ｂを実行することにより、第１時間が所定時間Ｔｄより短いと判断した場合に、光ピックアップ１により第１の閾値Ｌ１以下の信号が検出されてから、再び、光ピックアップ１により第２の閾値Ｌ２以上の信号が検出されるまでの第２時間を、時間計測部６に計時させる機能を実現させるプログラムである。ここで、第１の閾値Ｌ２とは、例えば、第１の閾値Ｌ１よりも大きい値である。
より具体的には、第２計時プログラム１２Ｃは、例えば、ＣＰＵ９に、判断プログラム１１Ｂを実行することにより、第１時間が所定時間Ｔｄより短いと判断した場合に、二値化信号検出部５０で用いられる閾値を第２の閾値Ｌ２に設定し、光ディスクｄから反射される反射光が光ピックアップ１により受光され、光ピックアップ１により受光された反射光が光検出器２により電気信号に変換され、光検出器２により変換された電気信号から全加算信号検出部３０により生成された全加算信号が第１の閾値Ｌ１以下となってから、再び、第２の閾値Ｌ２以上となるまでの第２時間を、時間計測部６に計時させ、第２の閾値Ｌ２以上の全加算信号が検出された場合に、二値化信号検出部５０で用いられる閾値を第１の閾値Ｌ１に変更する機能を実現させるプログラムである。
ＣＰＵ９は、第２計時プログラム１２Ｃを実行することにより、第２計時制御手段として機能する。

制御プログラム１２Ｅは、例えば、ＣＰＵ９に、判断プログラム１１Ｂを実行することにより、第１時間が所定時間Ｔｄ以上であると判断した場合に、二値化信号検出部５０において用いられる第１の閾値Ｌ１を所定の値分下げて、第１計時プログラム１２Ａを再び実行させる制御を行う機能を実現させるプログラムである。ＣＰＵ９は、制御プログラム１２Ｅを実行することにより、制御手段として機能する。

次に、上述のような構成の第２の実施形態に係る光ディスク装置２００におけるディスク判別動作について図８に示すフローチャートを参照しながら説明する。
まず、駆動部７により、光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄが初期位置からディスク表面へ近づける駆動が開始されると（ステップＳ１０１）、二値化信号検出部５０により二値化信号が「Ｈｉ」となったことが検出され（ステップＳ１０２）、ＣＰＵ９が、第１計時プログラム１２Ａを実行することにより、時間計測部６が制御されて計時が開始される（ステップＳ１０３）。

次に、二値化信号検出部５０により二値化信号が「Ｌｏｗ」となったことが検出され（ステップＳ１０４）、ＣＰＵ９は、第１計時プログラム１２Ａの実行に基づいて、時間計測部６を制御し、計時を終了させる（ステップＳ１０５）。

次に、ＣＰＵ９は、判断プログラム１１Ｂを実行することにより、ステップＳ１０３〜ステップＳ１０５において計時された時間Ｔｍが所定時間Ｔｄより短いか否かを判断する（ステップＳ１０６）。

ステップＳ１０６において、ＣＰＵ９が、Ｔｍ≧Ｔｄであると判断した場合に（ステップＳ１０６；Ｎｏ）、ＣＰＵ９は、Ｔｍをリセットするとともに、駆動プログラム１１Ｄを実行することにより、光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄの位置を初期位置に戻す（ステップＳ１０７）。

次に、ＣＰＵ９は、制御プログラム１２Ｅを実行することにより、二値化信号検出部５０において用いられる第１の閾値Ｌ１を所定の値分下げて、ステップＳ１に戻る（ステップＳ１０８）。

ステップＳ１０６において、ＣＰＵ９が、Ｔｍ＜Ｔｄであると判断した場合に（ステップＳ６；Ｙｅｓ）、ＣＰＵ９は、第２計時プログラム１２Ｃを実行することにより、二値化信号検出部５０において用いられる閾値を第２の閾値Ｌ２に設定するとともに、時間計測部６を制御して、リセット後、計時を開始させる（ステップＳ１０９）。

次に、二値化信号検出部５０により二値化信号が「Ｈｉ」となったことが検出されると（ステップＳ１１０）、ＣＰＵ９は、第２計時プログラム１２Ｃの実行に基づいて、時間計測部６を制御し、計時を終了させる（ステップＳ１１１）。

次に、ＣＰＵ９は、判別プログラム１１Ｆを実行することにより、ステップＳ１０９〜ステップＳ１１１において計測された時間（第２時間）に基づいて、光ディスクｄの種別を判別するとともに、二値化信号検出部５０において用いられる閾値を第１の閾値Ｌ１に設定し（ステップＳ１１２）、本処理を終了する。

以上に説明した第２の実施形態に係る光ディスク装置２００によれば、駆動部７により、光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄが光ディスクｄのディスク表面に対して垂直方向に駆動され、ＣＰＵ９が第１計時プログラム１２Ａを実行することにより、駆動部７によって光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄを初期位置からディスク表面へ近づける駆動が開始された後、光ピックアップ１により第１の閾値Ｌ１以上の信号が検出されてから、再び、光ピックアップ１により第１の閾値Ｌ１以下の信号が検出されるまでの第１時間が、時間計測部６に計時され、ＣＰＵ９が判断プログラム１１Ｂを実行することにより、第１計時プログラム１２Ａを実行することによって計時させた第１時間が所定時間Ｔｄより短いか否かが判断され、ＣＰＵ９が第２計時プログラム１２Ｃを実行することにより、判断プログラム１１Ｂを実行することによって、第１時間が所定時間Ｔｄより短いと判断された場合に、光ピックアップ１により第１の閾値Ｌ１以下の信号が検出されてから、再び、光ピックアップ１により第１の閾値Ｌ１より大きい第２の閾値Ｌ２以上の信号が検出されるまでの第２時間が、時間計測部６に計時され、ＣＰＵ９が判別プログラム１１Ｆを実行することにより、第２計時プログラム１２Ｃを実行することによって計時させた第２時間に基づいて光ディスクの種別が判別され、ＣＰＵ９が駆動プログラム１１Ｄを実行することにより、判断プログラム１１Ｂを実行することによって、第１時間が所定時間Ｔｄ以上と判断した場合に、駆動部７により光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄが初期位置に戻されるので、光ピックアップ１によって検出された信号がディスク表面層から反射される信号か否かを正確に判断でき、第１時間が所定時間Ｔｄ以上である場合、即ち、検出された信号がディスク表面層から反射される信号ではないと判断した場合には、光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄが初期位置に戻されるので、記録層から反射される信号を表面層から反射される信号と間違えて光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄをさらに光ディスクｄの表面へ近づけてしまうことを防ぐことができ、光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄの光ディスクｄへの衝突を防ぐことができる。
また、第１時間が所定時間Ｔｄより短いか否かにより、光ピックアップ１により検出された信号が光ディスクｄの表面層から反射される信号か否かが正確に判断されるので、正確な第２時間を計測することができ、光ディスクｄの種別をより確実に判別することができる。

また、ＣＰＵ９が制御プログラム１２Ｅを実行することにより、判断プログラム１１Ｂを実行することによって第１時間が所定時間Ｔｄ以上と判断された場合に、二値化信号検出部５０において用いられる第１の閾値Ｌ１が所定の値分下げられて、ＣＰＵ９に第１計時プログラム１２Ａを再び実行させる制御が行われるので、再度、光ディスクｄの表面層から反射される信号の検出が行われる際、より検出されやすくなこととなって、光ディスクｄの種別をより確実に判別することができる。

また、第２時間の計測終了時点となる光ディスクｄの記録層から反射される信号の検出においては、第１の閾値Ｌ１より大きい第２の閾値Ｌ２が用いられるので、ノイズなどを光ディスクの記録層から反射される信号と間違えて検出することが防止されることとなって、光ディスクｄの種別をより一層確実に判別することができる。

なお、図４又は図８のフローチャートにおいて、Ｔｍ≧Ｔｄの場合に、ゲイン増幅器４の増幅率を所定の値分上げて、又は、第１閾値Ｌ１を所定の値分下げて、再度第１時間の検出に戻るようにしたが、光ピックアップ１の対物レンズ１Ｄを初期位置に戻して所定のエラー表示を行うだけでもよい。
また、第２時間の計測の終了時点を、全加算信号が第２閾値Ｌ２以上となったときとしたが、第１閾値Ｌ１以上となったときとしてもよい。

本発明の第１の実施形態に係る光ディスク装置の概略構成を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係る光ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。 本発明に係る光ディスク装置において検出される全加算信号，二値化信号の経時変化及び時間計測部における計測動作の経時変化の一例を示すタイミングチャートである。 本発明の第１の実施形態に係るディスク判別動作の一例を説明するフローチャートである。 本発明に係る光ディスク装置において検出される全加算信号，二値化信号の経時変化及び時間計測部における計測動作の経時変化の一例を示すタイミングチャートである。 本発明の第２の実施形態に係る光ディスク装置の概略構成を示す図である。 本発明の第２の実施形態に係る光ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。 本発明の第２の実施形態に係るディスク判別動作の一例を説明するフローチャートである。

符号の説明

１ 光ピックアップ
４ ゲイン調整器（増幅器）
６ 時間計測部（計時手段）
７ 駆動部（駆動手段）
９ ＣＰＵ（第１計時制御手段，判断手段，第２計時制御手段，駆動制御手段，制御手段，判別手段）
１１Ａ，１２Ａ 第１計時プログラム（第１計時制御手段）
１１Ｂ 判断プログラム（判断手段）
１１Ｃ，１２Ｃ 第２計時プログラム（第２計時制御手段）
１１Ｄ 駆動プログラム（駆動制御手段）
１１Ｅ，１２Ｅ 制御プログラム（制御手段）
１１Ｆ 判別プログラム（判別手段）
１００，２００ 光ディスク装置
ｄ 光ディスク

Claims (4)

1. 情報が光学的に記録される光ディスクのディスク表面に対して垂直方向に移動可能な光ピックアップを備える光ディスク装置において、
   前記光ピックアップを前記光ディスクのディスク表面に対して垂直方向に駆動する駆動手段と、
   前記駆動手段により前記光ピックアップを初期位置から前記ディスク表面へ近づける駆動が開始された後、前記光ピックアップにより第１の閾値以上の信号が検出されてから、再び、前記光ピックアップにより第１の閾値以下の信号が検出されるまでの第１時間を、計時手段に計時させる第１計時制御手段と、
   前記第１計時制御手段により計時された前記第１時間が所定時間より短いか否かを判断する判断手段と、
   前記判断手段により、前記第１時間が所定時間より短いと判断された場合に、前記光ピックアップにより第１の閾値以下の信号が検出されてから、再び、前記光ピックアップにより前記第１の閾値よりも大きい第２の閾値以上の信号が検出されるまでの第２時間を、前記計時手段に計時させる第２計時制御手段と、
   前記第２計時制御手段により計時させた第２時間に基づいて光ディスクの種別を判別する判別手段と、
   前記判断手段により、前記第１時間が所定時間以上と判断された場合に、前記駆動手段により前記光ピックアップを初期位置に戻す駆動制御手段と、
   前記光ピックアップにより検出された信号を増幅する増幅器と、
   前記判断手段により、前記第１時間が所定時間以上と判断された場合に、前記増幅器による増幅率を所定の値分上げて、前記第１計時制御手段を再び実行させる制御を行う制御手段と、
   を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
2. 情報が光学的に記録される光ディスクのディスク表面に対して垂直方向に移動可能な光ピックアップを備える光ディスク装置において、
   前記光ピックアップを前記光ディスクのディスク表面に対して垂直方向に駆動する駆動手段と、
   前記駆動手段により前記光ピックアップを初期位置から前記ディスク表面へ近づける駆動が開始された後、前記光ピックアップにより所定の閾値以上の信号が検出されてから、再び、前記光ピックアップにより所定の閾値以下の信号が検出されるまでの第１時間を、計時手段に計時させる第１計時制御手段と、
   前記第１計時制御手段により計時された前記第１時間が所定時間より短いか否かを判断する判断手段と、
   前記判断手段により、前記第１時間が所定時間より短いと判断された場合に、前記光ピックアップにより所定の閾値以下の信号が検出されてから、再び、前記光ピックアップにより所定の閾値以上の信号が検出されるまでの第２時間を、前記計時手段に計時させる第２計時制御手段と、
   前記第２計時制御手段により計時させた第２時間に基づいて光ディスクの種別を判別する判別手段と、
   前記判断手段により、前記第１時間が所定時間以上と判断された場合に、前記駆動手段により前記光ピックアップを初期位置に戻す駆動制御手段と、
   を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
3. 前記光ピックアップにより検出された信号を増幅する増幅器と、
   前記判断手段により、前記第１時間が所定時間以上と判断された場合に、前記増幅器による増幅率を所定の値分上げて、前記第１計時制御手段を再び実行させる制御を行う制御手段を備えることを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
4. 前記判断手段により、前記第１時間が所定時間以上と判断された場合に、前記所定の閾値を所定の値分下げて、前記第１計時制御手段を再び実行させる制御を行う制御手段を備えることを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。

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