JP4216434B2 - 試験紙測定装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、試験紙を移動させながら呈色測定する試験紙測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
試験紙を尿、血液、唾液などに浸し、その呈色を測定して陽性、陰性などを自動的に判定する試験紙測定装置が知られている。
この種の試験紙測定装置には、試験紙を移動させながら、光学測定するものがあり、その移動のための機構として、モータの回転を直線運動に変えるラック・ピニオン機構などが採用されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、モータを使った機構を採用すると、試験紙測定装置は大きく重くなり、また消費電力も大きいので、もっとコンパクトで、電力を消費しない機構が望まれていた。
そこで、本発明は、試験紙を移動させながら呈色測定する試験紙測定装置において、簡単な構成で、試験紙を移動させることのできる試験紙測定装置を実現することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段及び発明の効果】
本発明の試験紙測定装置は、往復移動可能に設定された試験紙保持テーブルと、前記テーブルが一端まで移動したときに前記テーブルを試験紙測定装置本体にロックすることができるとともに、そのロックを解除することができるロック/ロック解除手段と、前記テーブルを前記一端から飛び出す方向に弾性的に付勢する付勢手段と、前記テーブルの前記一端から飛び出す方向への動きに対して抵抗を与える抵抗付与手段とを有するものである(請求項1)。
【0005】
前記の構成であれば、試験紙を保持した状態で、ロック解除されたテーブルが飛び出すときに、抵抗付与手段の働きでほぼ一定の速度になって飛び出す。したがって、従来のようにモータなどで等速移動させなくても、簡単な構成で、従来と同様の試験紙の移動を実現することができる。
前記ロック/ロック解除手段は、前記テーブルを押し込むとロックし、前記テーブルをもう一度押し込むとロック解除する構成であれば(請求項2)、非常に簡単な操作で試験紙の呈色測定を始めることができる。
【0006】
前記テーブルにラックが設けられ、前記抵抗付与手段は、当該ラックに連結されたギヤに回転抵抗を与えることとすれば(請求項3)、直線運動をするテーブルに、容易に抵抗を与えることができる。
前記テーブルにラックが設けられ、前記付勢手段は、当該ラックに連結されたギアを回転付勢することとすれば(請求項4)、直線運動をするテーブルを、容易に付勢することができる。
【0007】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、添付図面を参照しながら詳細に説明する。
図1は、試験紙測定装置の概略斜視図であり、試験紙測定装置は、試験紙測定装置本体1と、測定ごとに取り替える試験紙ホルダー2とからなる。
試験紙測定装置本体1は、往復移動可能に設定された試験紙保持テーブル3、測定結果である陽性、陰性などを表示する表示部6,電源スイッチ5などを有している。試験紙保持テーブル3には、試験紙ホルダー2が設置される凹部3aが設けられている。
【0008】
試験紙ホルダー2は、試験紙4を一体に保持するものであり、測定が終われば、試験紙4とともに使い捨てとなる。
図2は、試験紙測定方法の上カバー1aと、それに固定される回路基板とを取り外して見た平面図である。
試験紙測定装置本体1には、試験紙保持テーブル3を導入する区画を設けるとともにピン13を取り付けた仕切板11が設置されている。ピン13は仕切板11の下方(図2の紙面の裏側)に突出して設けられている。
【0009】
また、この仕切板11には、試験紙4を光学測定するための窓11aが開けられている。試験紙保持テーブル3は、この仕切板11の下部に挿入される。
図3は、仕切板11を取り外した状態を示す平面図である(なお、ピン13は仕切板11に固定されているので取り外されて見えないが、図3、図6では仮想的に描いてある)。長方形の試験紙保持テーブル3は、試験紙測定装置本体1に挿入可能に設けられており、その片側には、ラック16が形成されている。そしてこのラック16と噛み合うアイドルギヤ15及びアイドルギヤ15と噛み合う駆動ギヤ14が、試験紙測定装置本体1に設けられている。
【0010】
アイドルギヤ15は、粘性ダンパ(図示せず)を装着している。粘性ダンパは、例えばアイドルギヤ15と同伴して回転する羽根車をグリスなどの粘性体の中に設置したものである。
駆動ギヤ14は、ねじりコイルバネにより一回転方向に弾性的に付勢されているものである。その付勢方向は、試験紙保持テーブル3が試験紙測定装置本体1から飛び出す方向に相当する。
【0011】
試験紙保持テーブル3には、さらに試験紙保持テーブル3を最後まで押し込んだときに、試験紙保持テーブル3を試験紙測定装置本体1にロックし、所定の操作によりそのロックを解除するためのロック部材3bが形成されている。この部材3b、前述したピン13とともに、ロック/ロック解除手段を構成する。
図4は、試験紙保持テーブル3に装着されたロック部材3bを示す斜視図である。ロック部材3bは、滑りやすい樹脂などで形成され、試験紙保持テーブル3に設けられた凹部3cに、試験紙保持テーブル3の挿入方向Bに対して垂直の方向Aに移動自在に装着される。ロック部材3bは、図4に示すように、ピン13を導入する溝32,33,34、段部35及びピン13と係合する突起31を有している。
【0012】
試験紙保持テーブル3を挿入すると、ロック部材3bの溝32が、ピン13の位置まで移動する。以下、ピン13を基準にして説明する。試験紙保持テーブル3をさらに挿入すると、溝32は、徐々に盛り上がり、それから垂直に落ちて溝33につながっている。溝33は、横向きに落ちて、さらに低い溝34につながっている。溝34は、試験紙保持テーブル3を引き出すに連れて、突起31を取り巻くようにカーブしながら盛り上がり、垂直に落ちて、溝32につながる。
【0013】
ロック部材3bの中央部の、溝32,34に取り囲まれる位置には、突起31が配置されている。突起31は、ピン13と係合するための凹部31aを有し、この凹部31aの下にピン13を導くための段部35が設けられている。
図5は、ロック部材3bとピン13との係合を説明する図である。図5(a)は試験紙保持テーブル3を挿入している様子、(b)は係合位置、(c)(d)はロックを解除した後の様子を示す。なお、99は、ロック部材3bと凹部3cとの隙間を示す。
【0014】
試験紙保持テーブル3を挿入すると、ピン13は、溝32に導入される(図5(a))。試験紙保持テーブル3をさらに挿入していくと、ピン13は、溝33に落ちる。このとき、試験紙保持テーブル3を離せば、溝32,33の境界が斜めに区切られているため、ロック部材3bは紙面上向きの力を受けて上に動き、ピン13は、段部35を経由してロック部材3bの凹部31aにはまりこむ(図5(b))。これで試験紙保持テーブル3はロックされる。
【0015】
次に、試験紙保持テーブル3を少し押し込むと、ピン13は、段部35から溝34に落ちる。このまま手を離すと、試験紙保持テーブル3は、駆動ギヤ14により紙面左向きの力を受けているので動き出すが、このとき、段部35と溝34の境界が斜めに区切られているため、ロック部材3bは紙面上向きの力を受けて上に動く。したがって、ピン13は、凹部31aに戻らないで、溝34に落ちる(図5(c))。
【0016】
そして、試験紙保持テーブル3がさらに動くと、ピン13は、溝34に沿って上がっていき、溝32に落ちて、その後ロック部材3bから離れる。
以上のようにして、試験紙保持テーブル3が最奥まで押し込んだときに試験紙保持テーブル3を試験紙測定装置本体1にロックすることができるとともに、試験紙保持テーブル3をもう一度押すことによりそのロックを解除することができる。
【0017】
図6は、試験紙保持テーブル3を最奥まで押し込んでロックさせた状態を示す平面図である。ピン13がロック部材3bの突起31に係合することによりロックが達成されている。
図7は、ロック状態を示す図6をX−Xで切った断面図である。上カバー1aと、それに固定される回路基板23も描いている。ピン13は、前述したロック部材3bの段部35に載って、凹部31aに係合されている。
【0018】
回路基板23には、LEDを有する投光部21と、フォトダイオードを有する受光部22と、試験紙保持テーブル3の位置を検出するスイッチ41が設置されている。投光部21の先端にはレンズ21aが配置され、これにより、試験紙4の表面に焦点が合わせられている。LEDの発光波長は、試験紙4に現れるマークに吸収される光の波長にしている(例えば試験紙4に現れるマークが赤色であれば、LEDは緑色の光を発光する)。前記スイッチ41は、回動可能なアーム41aを備えており、このアーム41aの位置を感知することにより、試験紙保持テーブル3の挿入/解除を検出する。
【0019】
以上のような構成により、試験紙保持テーブル3をロック状態から解除すると、試験紙保持テーブル3は、ほぼ等速で飛び出す(以下「自走」という)とともに、前記スイッチ41が働き、この間に試験紙からの反射強度を経時的に測定することができる。
次に、試験紙測定方法を説明する。この試験紙測定方法は、試験紙保持テーブル3に設置された試験紙4を、試験紙保持テーブル3の自走中に連続測定する方法である。
【0020】
図8は、試験紙4に現れたマークの位置を示す図である。図の中の矢印Dは試験紙保持テーブル3の自走方向を示す。試験紙4には、通常、コントロールライン4aと、テストライン4bの2つの着色ラインが現れる。本発明では、コントロールライン4aを、テストライン4bの反射強度を判断するための参照値を得るために用いる。
以後、テストライン4bの反射強度をTで表し、コントロールライン4aの反射強度をCで表し、試験紙4の地の反射強度をRで表す。
【0021】
図9のグラフは、試験紙ホルダー2に保持された試験紙保持テーブル3の自走中の連続測定結果を示す。縦軸は反射強度(単位は任意であるが、ここでは電圧で表している)、横軸は前記スイッチ41がオンからオフに変わった後の自走経過時間(単位msec)である。縦軸の値が大きいほど反射が強いことを示す。
このグラフによれば、4つの谷a,b,c,d、中間部e、山fが現れている。最初に現れる谷aは、試験紙ホルダー2の試験紙露出窓のエッジ36を表している。次の谷bはコントロールライン4aを表し、その次の谷cはテストライン4bを表し、次の谷dは試験紙ホルダー2の試験紙露出窓のエッジ37を表す。山fは試験紙ホルダー2の試験紙露出窓のエッジ38を表す。また谷aと谷bとの間、谷bと谷cとの間、谷cと谷dとの間は、試験紙4の地の部分を表す。
【0022】
回路基板23に搭載されているマイクロコンピュータの行う試験紙測定方法を説明する。
図9の反射強度のグラフを微分したデータに基づいて、谷又は山の位置を判定する。例えば、反射強度のグラフが図10(a)のような谷を含むものであれば、それを微分したデータは図10(b)のようになるので、負から正になるゼロクロス点を谷の位置とし、正から負になるゼロクロス点を山の位置とする。
【0023】
自走中、現れる谷aとそれに続く山部との差(図9V1参照)を求め、それが初めて第1のしきい値を越えれば、試験紙露出窓のエッジ36とみなす。第1のしきい値と比較するのは、ノイズにより現れる小さな谷を排除するためである。
続いて現れる谷bと続く山部との差(図9V2参照)を求め、それが第2のしきい値以上であれば、コントロールライン4aとみなす。この第2のしきい値と比較するのは、ノイズにより現れる小さな谷を排除するためである。
【0024】
続いて現れる谷cと続く山部との差(図9V3参照)を求め、それが第3のしきい値以上であれば、テストライン4bとみなす。この第3のしきい値と比較するのは、ノイズにより現れる小さな谷を排除するためである。
ただし陰性の場合は、谷cは存在せず、続いて現れる谷dを谷cと認識するため、続く山部fとの差(図9V4参照)を求め、それが第4のしきい値以上であれば、谷cは存在しなかった、つまりテストライン4bは検出されなかったとみなし、陰性と判定する。第4のしきい値は、エッジ37,38を検出するためのしきい値となる。
【0025】
以上の判定により、コントロールライン4aに基づく谷bと、テストライン4bに基づく谷cと、各山部とを特定できたことになる。
そこで、谷bでのコントロールライン4aの反射強度をCで表し、谷cでのテストライン4bの反射強度をTで表し、試験紙4の地の反射強度をRで表す。ここで、反射強度Rは、(1)谷bと谷cの間の山部の反射強度Rとしてもよく、(2)各山部ごとの値の、中央値若しくは平均値をとって反射強度Rとしてもよい。
【0026】
マイクロコンピュータは、次のように判定式DETを求める。
DET=(R−T)/(R−C)
この式によれば、テストライン4bの反射強度Tと地の反射強度Rとの差をとり、コントロールライン4aの反射強度Cと地の反射強度Rとの差をとることにより、地の影響を除いている。また、地の影響を除いたテストライン4bの反射強度(R−T)を、地の影響を除いたコントロールライン4aの反射強度(R−C)(この(R−C)が「参照値」となる)で割ることにより、試験条件(例えばサンプル間差、試験紙間差)の影響を除いている。
【0027】
マイクロコンピュータは、定性判定のためのしきい値T1,T2(0<T1<T2<1)を記憶しており、求めた判定式DETをしきい値T1,T2と比較することにより、陰性、擬陽性、陽性の判定を行う。すなわち、0<DET<T1であれば陰性、T1<DET<T2であれば擬陽性、T2<DET<1であれば陽性とする。
マイクロコンピュータは、以上のようにして求めた判定式DETの数値、陰性、擬陽性、陽性などの判定結果を表示部6に表示させる。
【0028】
以上で、本発明の実施の形態を説明したが、本発明の実施は、以上に限られるものではなく、本発明の範囲内で種々の変更を施すことが可能である。例えば、試験紙保持テーブル3を試験紙測定装置本体1にロックすることができるとともに、そのロックを解除するロック/ロック解除手段として、図5、図6に示したもの以外に他の公知の手段を採用することができる。また、試験紙保持テーブル3を付勢する付勢手段として、ねじりコイルバネを組み込んだギヤ14に限らず、図11に示したような試験紙保持テーブル3の一端を押す圧縮コイルバネ14aなど、公知のものを採用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】試験紙測定方法の概略斜視図である。
【図2】試験紙測定方法を、上カバー1aとそれに固定される回路基板とを取り外して見た平面図である。
【図3】仕切板11を取り外した状態を示す平面図である。
【図4】試験紙保持テーブル3に装着されたロック部材3bを示す斜視図である。
【図5】ロック部材3bとピン13との関係を説明する図であり、(a)は試験紙保持テーブル3を挿入しているとき、(b)は係合位置、(c)(d)はロックを解除した後の様子を示す。
【図6】試験紙保持テーブル3を最奥まで押し込んでロックさせた状態を示す平面図である。
【図7】ロック状態を示す図6をX−Xで切った断面図である。
【図8】試験紙4に現れたマークの位置を示す図である。
【図9】試験紙保持テーブル3の自走中の連続測定結果を示すグラフである。
【図10】 (a)は典型的な反射強度のグラフ、(b)はそれを微分したグラフである。
【図11】試験紙保持テーブル3を付勢する付勢手段として、圧縮コイルバネ14aを利用した例を示す斜視図である。
【符号の説明】
1 試験紙測定装置本体
2 試験紙ホルダー
3 試験紙保持テーブル
3b ロック部材
3c 凹部
4 試験紙
4a コントロールライン
4b テストライン
5 電源スイッチ
6 表示部
11 仕切板
11a 窓
13 ピン
14 駆動ギヤ
14a 圧縮コイルバネ
15 アイドルギヤ
16 ラック
21 投光部
21a レンズ
22 受光部
23 回路基板
31 突起
32,33,34 溝
35 段部
41 スイッチ
41a アーム
36,37,38 エッジ

Claims (4)

  1. 試験紙を移動させながら呈色測定する試験紙測定装置において、
    往復移動可能に設定された試験紙保持テーブルと、
    前記テーブルが一端まで移動したときに前記テーブルを試験紙測定装置本体にロックすることができるとともに、そのロックを解除することができるロック/ロック解除手段と、
    前記テーブルを前記一端から飛び出す方向に弾性的に付勢する付勢手段と、
    前記テーブルの前記一端から飛び出す方向への動きに対して抵抗を与える抵抗付与手段とを有することを特徴とする試験紙測定装置。
  2. 前記ロック/ロック解除手段は、前記テーブルを押し込むとロックし、前記テーブルをもう一度押し込むとロック解除するものである請求項1記載の試験紙測定装置。
  3. 前記テーブルにラックが設けられ、
    前記抵抗付与手段は、当該ラックに連結されたギヤに回転抵抗を与えることを特徴とする請求項1記載の試験紙測定装置。
  4. 前記テーブルにラックが設けられ、
    前記付勢手段は、当該ラックに連結されたギアを回転付勢することを特徴とする請求項1記載の試験紙測定装置。
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