JP4210995B2 - 輝点検出方法及び輝点検出プログラム - Google Patents
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Description
ここに、i,j=−1〜1であり、絶対値は、既にマイナス値に変換された画素を参照する場合を考慮するものである。
ここに、i,j=−R〜R
ここに、r;任意の値、b;0からの任意の値、x;−r〜r
ここに、x;−L〜L
20:スキャナ制御部
30画像処理部
31:入力画像処理部
32A:プレスキャン用画像メモリ
32B:本スキャン用画像メモリ
33A,33B:画像変換処理部
34:読取条件設定部
35:キーボード
36:マウス
37画像処理条件設定部
38:表示部
39出力画像処理部
40:フィルム画像入力装置
50:画像出力装置
Claims (15)
- 対象画像データに対して所定の閾値より高輝度の画素を選択する第一ステップと、
前記第一ステップにおける選択画素群のうち任意の注目画素から連続する選択画素の画素数を計数する計数処理を複数方向に実行し、計数値が対象画像データの画素サイズに対して許容される前記選択画素の画素数で定まる輝点許容画素サイズ以下となる注目画素群を選択する第二ステップと、
前記第二ステップで選択された注目画素群に対して、前記計数値に基づく所定の評価関数に従って評価値を求め、その評価値に基づいて中心画素を識別する第三ステップと、
前記第三ステップで識別された中心画素を中心とする輝点許容画素サイズに基づく所定範囲内に存在する他の中心画素との間で前記評価値の高い画素を輝点画素として選択する第四ステップとからなる輝点検出方法。 - 前記評価関数は、前記注目画素について複数方向に計数処理された計数値をその加重平均で正規化した値の乗算として与えられ、その演算結果が評価値として求められる請求項1記載の輝点検出方法。
- 前記注目画素に隣接する画素群に対して各画素の評価値より大なる評価値を有する注目画素を前記中心画素と識別する請求項2記載の輝点検出方法。
- 前記第四ステップで選択された輝点画素を基点として輝線描画処理を施す輝線描画ステップをさらに備えた請求項1から3の何れかに記載の輝点検出方法。
- 前記輝線描画ステップは、前記輝点画素を基点として、所定の輝線定義式に基づいて輝線画像を生成する輝線描画第一ステップと、
前記輝点画素の画素データを生成する輝線描画第二ステップと、
前記輝線画像の各画素データを、前記輝点画素の画素データを基準として輝線の長さ方向及び幅方向に所定の減衰率で減衰処理して得られる画素データと、対象画像の画素データに基づいて生成する輝線描画第三ステップと、
生成された輝線画素データを対象画像データ上に描画する輝線描画第四ステップとからなる請求項4記載の輝点検出方法。 - 前記輝線定義式が、前記基点を長軸の端部とする楕円の定義式であり、前記輝線描画第一ステップに、前記楕円の長軸及び短軸の長さ、輝線本数、及び輝線開始角度からなる輝線定義データを入力する入力ステップを設けてある請求項5記載の輝点検出方法。
- 請求項1から3の何れかに記載の輝点検出方法が、写真フィルムから低解像度で読み取られた対象画像に対して施され、請求項4から6の何れかに記載の輝線描画ステップが、前記写真フィルムから高解像度で読み取られた対象画像に対して施される輝点検出方法。
- コンピュータを、
対象画像データに対して所定の閾値より高輝度の画素を選択する第一処理手段と、
前記第一処理手段における選択画素群のうち任意の注目画素から連続する選択画素の画素数を計数する計数処理を複数方向に実行し、計数値が対象画像データの画素サイズに対して許容される前記選択画素の画素数で定まる輝点許容画素サイズ以下となる注目画素群を選択する第二処理手段と、
前記第二処理手段で選択された注目画素群に対して、前記計数値に基づく所定の評価関数に従って評価値を求め、その評価値に基づいて中心画素を識別する第三処理手段と、
前記第三処理手段で識別された中心画素を中心とする輝点許容画素サイズに基づく所定範囲内に存在する他の中心画素との間で前記評価値の高い画素を輝点画素として選択する第四処理手段として機能させるための輝点検出プログラム。 - 前記評価関数は、前記注目画素について複数方向に計数処理された計数値をその加重平均で正規化した値の乗算として与えられ、その演算結果が評価値として求められる請求項8記載の輝点検出プログラム。
- 前記注目画素に隣接する画素群に対して各画素の評価値より大なる評価値を有する注目画素を前記中心画素と識別する請求項9記載の輝点検出プログラム。
- 前記第四処理手段で、選択された輝点画素を基点として輝線描画処理を施す輝点描画処理手段をさらに備えた請求項8から10の何れかに記載の輝点検出プログラム。
- 前記輝線描画手段は、前記輝点画素を基点として、所定の輝線定義式に基づいて輝線画像を生成する輝線描画第一処理手段と、
前記輝点画素の画素データを生成する輝線描画第二処理手段と、
前記輝線画像の各画素データを、前記輝点画素の画素データを基準として輝線の長さ方向及び幅方向に所定の減衰率で減衰処理して得られる画素データと、対象画像の画素データに基づいて生成する輝線描画第三処理手段と、
生成された輝線画素データを対象画像データ上に描画する輝線描画第四処理手段とからなる請求項11記載の輝点検出プログラム。 - 前記輝線定義式が、前記基点を長軸の端部とする楕円の定義式であり、前記輝線描画第一処理手段に、前記楕円の長軸及び短軸の長さ、輝線本数、及び輝線開始角度からなる輝線定義データを入力する入力処理手段を設けてある請求項12記載の輝点検出プログラム。
- 請求項8から10の何れかに記載の輝点検出プログラムが、写真フィルムから低解像度で読み取られた対象画像に対して実行され、請求項11から13の何れかに記載の輝線描画処理手段が、前記写真フィルムから高解像度で読み取られた対象画像に対して実行される輝点検出プログラム。
- 請求項8から14の何れかに記載の輝点検出プログラムがインストールされた画像処理装置。
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