JP4207124B2 - 輝線描画処理方法及び輝線描画処理プログラム - Google Patents
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Description
前記対象画像データに対して所定の閾値より高輝度の画素を選択する第一処理ステップと、前記第一処理ステップにおける選択画素群のうち任意の注目画素から連続する選択画素の画素数を計数する計数処理を複数方向に実行し、計数対象画素が画像端部に到ることなく、計数値が対象画像データの画素サイズに対して許容される前記選択画素の画素数で定まる輝点許容画素サイズ以下となる注目画素群を選択する第二処理ステップと、前記第二処理ステップで選択された各注目画素に対して、複数方向に計数処理された計数値をその加重平均で正規化した値の積を評価値として求め、その評価値に基づいて中心画素を識別する第三処理ステップと、前記第三処理ステップで識別された中心画素を中心とする輝点許容画素サイズに基づく所定範囲内に存在する他の中心画素との間で前記評価値の高い画素を選択し、選択された画素のうち前記評価値の高いものから順に設定された個数の画素を輝点画素として選択する第四処理ステップと、からなる輝点検出ステップと、
輝線定義式として前記輝点を長軸の端部とする楕円の定義式と、入力設定された前記楕円の長軸及び短軸の長さ、輝線本数、及び輝線開始角度からなる輝線定義データに基づいて輝線画像を生成する輝線描画第一ステップと、前記輝点画素の画素データを生成する輝線描画第二ステップと、前記輝線画像の各画素データを、前記輝点画素の画素データを基準として輝線の長さ方向及び幅方向に所定の減衰率で減衰処理して得られる画素データと、対象画像の画素データに基づいて生成する輝線描画第三ステップと、生成された輝線画素データを対象画像データ上に描画する輝線描画第四ステップと、からなる輝線描画ステップとを備えた点にある。
対象画像データに対して所定の閾値より高輝度の画素を選択する第一処理手段と、前記第一処理手段における選択画素群のうち任意の注目画素から連続する選択画素の画素数を計数する計数処理を複数方向に実行し、計数値が対象画像データの画素サイズに対して許容される前記選択画素の画素数で定まる輝点許容画素サイズ以下となる注目画素群を選択する第二処理手段と、前記第二処理手段で選択された各注目画素に対して、複数方向に計数処理された計数値をその加重平均で正規化した値の積を評価値として求め、その評価値に基づいて中心画素を識別する第三処理手段と、前記第三処理手段で識別された中心画素を中心とする輝点許容画素サイズに基づく所定範囲内に存在する他の中心画素との間で前記評価値の高い画素を選択し、選択された画素のうち前記評価値の高いものから順に設定された個数の画素を輝点画素として選択する第四処理手段と、からなる輝点検出処理手段と、
輝線定義式として前記輝点を長軸の端部とする楕円の定義式と、入力設定された前記楕円の長軸及び短軸の長さ、輝線本数、及び輝線開始角度からなる輝線定義データに基づいて輝線画像を生成する輝線描画第一処理手段と、前記輝点画素の画素データを生成する輝線描画第二処理手段と、前記輝線輪郭画像の各画素データを、前記輝点画素の画素データを基準として輝線の長さ方向及び幅方向に所定の減衰率で減衰処理して得られる画素データと、対象画像の画素データに基づいて生成する輝線描画第三処理手段と、生成された輝線画素データを対象画像データ上に描画する輝線描画第四処理手段と、からなる輝線描画処理手段として機能させる点にある。
ここに、i,j=−1〜1であり、絶対値は、既にマイナス値に変換された画素を参照する場合を考慮するものである。
ここに、i,j=−R〜R
ここに、r;任意の値、b;0からの任意の値、x;−r〜r
ここに、x;−L〜L
20:スキャナ制御部
30画像処理部
31:入力画像処理部
32A:プレスキャン用画像メモリ
32B:本スキャン用画像メモリ
33A,33B:画像変換処理部
34:読取条件設定部
35:キーボード
36:マウス
37画像処理条件設定部
38:表示部
39出力画像処理部
40:フィルム画像入力装置
50:画像出力装置
Claims (5)
- 対象画像データの輝点画素を基点として輝線を描画する輝線描画処理方法であって、
前記対象画像データに対して所定の閾値より高輝度の画素を選択する第一処理ステップと、前記第一処理ステップにおける選択画素群のうち任意の注目画素から連続する選択画素の画素数を計数する計数処理を複数方向に実行し、計数対象画素が画像端部に到ることなく、計数値が対象画像データの画素サイズに対して許容される前記選択画素の画素数で定まる輝点許容画素サイズ以下となる注目画素群を選択する第二処理ステップと、前記第二処理ステップで選択された各注目画素に対して、複数方向に計数処理された計数値をその加重平均で正規化した値の積を評価値として求め、その評価値に基づいて中心画素を識別する第三処理ステップと、前記第三処理ステップで識別された中心画素を中心とする輝点許容画素サイズに基づく所定範囲内に存在する他の中心画素との間で前記評価値の高い画素を選択し、選択された画素のうち前記評価値の高いものから順に設定された個数の画素を輝点画素として選択する第四処理ステップと、からなる輝点検出ステップと、
輝線定義式として前記輝点を長軸の端部とする楕円の定義式と、入力設定された前記楕円の長軸及び短軸の長さ、輝線本数、及び輝線開始角度からなる輝線定義データに基づいて輝線画像を生成する輝線描画第一ステップと、前記輝点画素の画素データを生成する輝線描画第二ステップと、前記輝線画像の各画素データを、前記輝点画素の画素データを基準として輝線の長さ方向及び幅方向に所定の減衰率で減衰処理して得られる画素データと、対象画像の画素データに基づいて生成する輝線描画第三ステップと、生成された輝線画素データを対象画像データ上に描画する輝線描画第四ステップと、からなる輝線描画ステップとを備えた輝線描画方法。 - 前記輝線描画第三ステップにおいて、対象画像の画素データが既に他の輝線画像の画素データとして生成されている場合には、生成されている画素データを対象画像の画素データとして採用する請求項1記載の輝線描画方法。
- コンピュータを、
対象画像データに対して所定の閾値より高輝度の画素を選択する第一処理手段と、前記第一処理手段における選択画素群のうち任意の注目画素から連続する選択画素の画素数を計数する計数処理を複数方向に実行し、計数値が対象画像データの画素サイズに対して許容される前記選択画素の画素数で定まる輝点許容画素サイズ以下となる注目画素群を選択する第二処理手段と、前記第二処理手段で選択された各注目画素に対して、複数方向に計数処理された計数値をその加重平均で正規化した値の積を評価値として求め、その評価値に基づいて中心画素を識別する第三処理手段と、前記第三処理手段で識別された中心画素を中心とする輝点許容画素サイズに基づく所定範囲内に存在する他の中心画素との間で前記評価値の高い画素を選択し、選択された画素のうち前記評価値の高いものから順に設定された個数の画素を輝点画素として選択する第四処理手段と、からなる輝点検出処理手段と、
輝線定義式として前記輝点を長軸の端部とする楕円の定義式と、入力設定された前記楕円の長軸及び短軸の長さ、輝線本数、及び輝線開始角度からなる輝線定義データに基づいて輝線画像を生成する輝線描画第一処理手段と、前記輝点画素の画素データを生成する輝線描画第二処理手段と、前記輝線輪郭画像の各画素データを、前記輝点画素の画素データを基準として輝線の長さ方向及び幅方向に所定の減衰率で減衰処理して得られる画素データと、対象画像の画素データに基づいて生成する輝線描画第三処理手段と、生成された輝線画素データを対象画像データ上に描画する輝線描画第四処理手段と、からなる輝線描画処理手段として機能させるための輝線描画処理プログラム。 - 前記輝線描画第三処理手段において、対象画像の画素データが既に他の輝線画像の画素データとして生成されている場合には、生成されている画素データを対象画像の画素データとして採用する請求項3記載の輝線描画プログラム。
- 請求項3または4記載の輝線描画処理プログラムがインストールされた画像処理装置。
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