JP4198047B2 - 光検出装置、固体撮像装置およびカメラシステム - Google Patents

光検出装置、固体撮像装置およびカメラシステム Download PDF

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Description

本発明は、光検出装置、複数の光検出装置を備えた固体撮像装置および固体撮像装置を備えたカメラシステムに関する。
CCD型イメージセンサやMOS型イメージセンサなどの半導体イメージセンサは、多くの画像入力デバイス装置に適用されている。特に近年消費電力が小さく、かつ周辺回路と同じCMOS技術で作成できる利点を生かして、MOS型イメージセンサが見直されている。さらにMOS型イメージセンサの分野においては、MOSトランジスタのサブスレッシュド領域を利用し、光の照射量に対して出力が対数特性をもつ、高ダイナミックレンジ動作を特徴とした、いわゆる対数変換型イメージセンサも注目されている(例えば特許文献1参照)。
図10に対数変換型イメージセンサの単位画素毎に設けられる光検出装置900を示す。光検出装置900においては、フォトダイオード901で生成される光電流Ipdと、対数変換用MOSトランジスタ902のサブスレッシュド電流Idsとがつりあうように、出力電圧Voutの値が決定される。
ここでMOSトランジスタのサブスレッシュド電流Idsは以下の式(1)で表される。
Ids=Io exp((φg−Vs)q/kT) (1)
ここで、Ioは比例定数であり、qは電子1個あたりの電荷量、kはボルツマン定数、Tは絶対温度を表す。φgはゲート下部のサーフェスポテンシャル、Vsはソース電位である。
ゲート電圧Vgとサーフェスポテンシャルφgの関係は一般に以下の式(2)で表される。
Vg=mφg+a (2)
ここで、m=dVg/dφg=1+Cd/Cox〜1.1(Cox:酸化膜容量、Cd:ゲート下部の空乏層容量)、
aは定数である。これより以下の式(3)が得られる。
Ids=Io exp(((Vg−a)/m−Vs)q/kT) (3)
ここで、図10よりIds=Ipd、Vg=Vddとすると、Vout(=Vs)は以下の式(4)のように表される。
Vout=(Vdd−a)/m−(kT/q)ln(Ipd/Io) (4)
以上から、光電流Ipdに対して出力Voutが対数特性をもつことがわかる。さらに異なる光量での光電流をIpd1とIpd2とし、そのときの出力電圧をVout1、Vout2とすれば、以下の式(5)が得られる。
Vout2−Vout1=−(kT/q)ln(Ipd2/Ipd1) (5)
例えば常温の時に光量が10倍に変化する時(すなわちIpd2=Ipd1×10)、
Vout2−Vout1=−(kT/q)ln(10) 〜 −60mV (6)
となる。これは、光量変化率に対する出力電圧変化量が絶対温度以外に依存せず、一定値であることを示している。今、光量変化率をαとすれば、その時の出力電圧変化量は
ΔVout=−(kT/q)ln(α) (7)
と表される。
なお、イメージセンサが2次元に配列された複数の光検出装置を備える場合、図11に示す光検出装置910のような光検出装置が用いられる。光検出装置910は、光検出装置900の構成要素に加えて、インピーダンス変換のための画素アンプ911と行選択スイッチ部912とを備え、列毎に信号が出力されるのが一般的である。光検出装置910では、信号線SELに電圧が印加されることにより行選択スイッチ部912がON状態となり、画素アンプ911から出力された信号が列出力ライン913へ出力される。
サブスレッシュド領域で動作する対数変換用MOSトランジスタ902には、素子毎にMOSトランジスタ特性にバラツキがある。このため、各画素間で対数変換用MOSトランジスタ902の動作点がずれることで、いわゆる2次元的な固定パターンノイズが発生することは知られている。この対策として、各画素での出力信号とリセット信号との差分を出力する回路(CDS回路)を用いることで固定パターンノイズ低減を図っている(例えば特許文献2参照)。
図12に光検出装置920を示す。光検出装置920は、光検出装置910の構成要素に加えて、定電流電源914と、定電流電源914と対数変換用MOSトランジスタ902とに接続されたスイッチ部915とを備える。
図13は、光検出装置920の駆動パルスタイミング例を示す。出力信号読み出しタイミングt1には、SELスイッチを導通させて出力信号を列出力ラインに出力する。この時、Voutの波形は暗時の場合は電位が高く、明時の場合は電位が低い波形となる。
次に、タイミングt2にて、スイッチ部915を導通させ、出力信号と比較して十分大きい定電流を発生する定電流電源914に対数変換用MOSトランジスタ902のソース電極とを導通させることで、入力がVddなるソースフォロワ回路が形成される。この状態は、フォトダイオード901に過剰な光が入射している状態と同等であり、Voutの電位は明時暗時に関わらず十分に下がる。
その後タイミングt3にて、SELスイッチを導通させ、Voutの電位が十分に下がった時点の出力信号をリセット信号として、列出力ライン913に出力する。リセット信号には、対数変換用MOSトランジスタの特性バラツキが含まれる(より正確には画素アンプの特性バラツキも含まれる)ため、後段のCDS回路(図示せず)によって、各画素の対数変換用トランジスタ902の特性バラツキが相殺され、結果として固定パターンノイズが低減される。タイミングt4以降はスイッチ部915をオフ状態にし、通常の光検出動作を次の読み出し時(1フレーム期間後)まで続ける。
特開2003−158683公報 特開2001−245214公報
上述したような従来の光検出装置では、式(6)より10倍の光量変化率に対して出力電圧変化量は約60mVである。光検出装置の動作可能な入射光量範囲の上限は、対数変換用MOSトランジスタの動作がサブスレッシュド領域から逸脱するくらいの大きな電流が発生する高輝度時の光量であり、入射光量範囲の下限は、フォトダイオードで発生する暗電流成分が無視できないくらい小さな電流が発生する低輝度時の光量である。その光量範囲は、160dB(=10の8乗)程度である。そのため、出力電圧変化量は60mV×8=480mV程度しかなく、従来の線形変換型イメージセンサの出力電圧変化量が約1V程度あることと比較して、対数変換型イメージセンサは出力信号のダイナミックレンジが不足している。対数変換型イメージセンサの場合、出力信号を効率よくAD変換するためには、アナログアンプなどでゲインを上げざるを得ず、ノイズが大きくなりるので画質劣化が生じてしまう。このように、対数変換型イメージセンサは、従来の線形変換型イメージセンサに比べて絶対的な出力電圧変化量が小さいことが課題である。
上記課題を鑑みて、本発明は、フォトダイオードから発生した電気信号の電圧値のダイナミックレンジを大きくすることができ、且つ入射光量の変化に伴う電気信号の電圧値の変化量を大きくすることができる光検出装置、複数の光検出装置を備えた固体撮像装置、および固体撮像装置を備えたカメラシステムを提供することを目的とする。
本発明の光検出装置は、入射光量に応じた電気信号を発生するフォトダイオードと、 前記電気信号の電圧値を対数変換する対数変換用トランジスタとを備え、前記対数変換用トランジスタは、ソース領域およびドレイン領域のうちの一方である第1領域と、前記ソース領域および前記ドレイン領域のうちの他方である第2領域と、ゲート電極とを備え、 前記第1領域は前記フォトダイオードに接続されており、前記対数変換用トランジスタがサブスレッシュド領域で動作するように、前記第2領域には第1電圧が印加されており、 前記対数変換用トランジスタが前記電気信号の電圧値を対数変換するときに、前記ゲート電極の電圧をフローティング状態にする手段をさらに備え、前記第1領域と前記ゲート電極との間のキャパシタンスは、前記第2領域と前記ゲート電極との間のキャパシタンスよりも大きく、そのことにより上記目的が達成される。
上記ゲート電極と上記第1領域とが重複しているゲート幅に直交する方向の長さは、上記ゲート電極と上記第2領域とが重複しているゲート幅に直交する方向の長さよりも大きくてもよい。
上記ゲート電極と上記第1領域とが重複しているゲート幅は、上記ゲート電極と上記第2領域とが重複しているゲート幅よりも大きくてもよい。
前記第1領域の前記ゲート電極下に拡散している面積は、前記第2領域の前記ゲート電極下に拡散している面積よりも広くてもよい。
上記対数変換用トランジスタによって対数変換された電圧値を有する電気信号を増幅する増幅部と、上記増幅部に接続された第1スイッチ部とをさらに備え、上記増幅部は増幅した電気信号を上記第1スイッチ部を介して出力してもよい。
上記ゲート電極の電圧をフローティング状態にする手段は、上記ゲート電極に接続された第2スイッチ部であり、上記第2スイッチ部がオン状態のときは上記ゲート電極に第2電圧が印加され、上記第2スイッチ部がオフ状態のときは上記ゲート電極の電圧はフローティング状態にされてもよい。
定電流を発生する定電流電源部と、上記第1領域と上記定電流電源部とに接続された第3スイッチ部とをさらに備え、上記第3スイッチ部がオン状態のときに上記第1領域に上記定電流が入力されてもよい。
上記第2スイッチ部および上記第3スイッチ部がオン状態のときに上記対数変換用トランジスタはリセット信号を発生してもよい。
上記第2スイッチ部がオン状態であって上記第1電圧がローレベルに下がった後にハイレベルにした後に上記対数変換用トランジスタはリセット信号を発生してもよい。
上記第1領域と上記フォトダイオードとに接続された第4スイッチ部をさらに備え、上記第4スイッチ部がオン状態のときに上記第1領域に上記電気信号が入力されてもよい。
上記第4スイッチ部がオフ状態のときに上記対数変換用トランジスタはリセット信号を発生してもよい。
本発明の複数の光検出装置を備えた固体撮像装置において、上記複数の光検出装置のそれぞれは、入射光量に応じた電気信号を発生するフォトダイオードと、上記電気信号の電圧値を対数変換する対数変換用トランジスタとを備え、上記対数変換用トランジスタは、ソース領域およびドレイン領域のうちの一方である第1領域と、上記ソース領域および上記ドレイン領域のうちの他方である第2領域と、ゲート電極とを備え、上記第1領域は上記フォトダイオードに接続されており、上記対数変換用トランジスタがサブスレッシュド領域で動作するように、上記第2領域には所定の電圧が印加されており、上記複数の光検出装置のそれぞれは、上記対数変換用トランジスタが上記電気信号の電圧値を対数変換するときに、上記ゲート電極の電圧をフローティング状態にする手段をさらに備え、前記第1領域と前記ゲート電極との間のキャパシタンスは、前記第2領域と前記ゲート電極との間のキャパシタンスよりも大きいものであり、そのことにより上記目的が達成される。
本発明の固体撮像装置を備えたカメラシステムにおいて、上記固体撮像装置は複数の光検出装置を備え、上記複数の光検出装置のそれぞれは、入射光量に応じた電気信号を発生するフォトダイオードと、上記電気信号の電圧値を対数変換する対数変換用トランジスタとを備え、上記対数変換用トランジスタは、ソース領域およびドレイン領域のうちの一方である第1領域と、上記ソース領域および上記ドレイン領域のうちの他方である第2領域と、ゲート電極とを備え、上記第1領域は上記フォトダイオードに接続されており、上記対数変換用トランジスタがサブスレッシュド領域で動作するように、上記第2領域には所定の電圧が印加されており、上記複数の光検出装置のそれぞれは、上記対数変換用トランジスタが上記電気信号の電圧値を対数変換するときに、上記ゲート電極の電圧をフローティング状態にする手段をさらに備え、前記第1領域と前記ゲート電極との間のキャパシタンスは、前記第2領域と前記ゲート電極との間のキャパシタンスよりも大きいものであり、そのことにより上記目的が達成される。
本発明によれば、フォトダイオードから発生した電気信号の電圧値を対数変換用トランジスタが対数変換するときに、対数変換用トランジスタのゲート電極の電圧はフローティング状態にされる。このことにより、フォトダイオードから発生した電気信号の電圧値のダイナミックレンジを大きくすることができ、且つ入射光量の変化に伴う電気信号の電圧値の変化量を大きくすることができるので、高感度の光検出装置が実現でき、高画質の画像を得ることが出来る。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら説明する。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1における光検出装置100を示す。
光検出装置100は、入射光量に応じた電気信号を発生するフォトダイオード101と、フォトダイオード101が発生した電気信号の電圧値を対数変換する対数変換用トランジスタ102とを備える。対数変換用トランジスタ102は例えばMOSトランジスタであり、ソース領域およびドレイン領域のうちの一方である第1領域105と、ソース領域およびドレイン領域のうちの他方である第2領域104と、ゲート電極103とを備える。本発明の実施の形態では、第1領域105はソース領域であり、第2領域104はドレイン領域であるが、回路構成に応じて逆でもよい。ソース領域105はフォトダイオード101に接続されている。対数変換用トランジスタ102がサブスレッシュド領域で動作するように、ドレイン領域104には電源ラインVddから所定の電圧が印加されている。ゲート電極103は電源ラインVddに接続されていない。
光検出装置100は、フォトダイオード101が発生した電気信号の電圧値を対数変換用トランジスタ102が対数変換するときに、ゲート電極103の電圧をフローティング状態にする手段を備える。光検出装置100では、ゲート電極103に電源ラインVddを接続していない構成が、ゲート電極103の電圧をフローティング状態にする手段にあたる。
従来の対数変換用トランジスタのゲート電極が電源ラインVddに接続されているのに対し、本発明の光検出装置100のゲート電極103は、電源ラインVddに接続されておらず、電位的にフローティング状態となっている。このときの、ゲート電極103とドレイン領域104との間のキャパシタンスであるカップリング容量をCgd、ゲート電極103とソース領域105との間のキャパシタンスであるカップリング容量をCgs、ゲート電極103と基板との間のキャパシタンスであるカップリング容量をCgbとする。今、ある光量での出力信号電圧をVout、光電流をIpd、ゲート電圧をVgとすれば、式(3)より、下記式(8)が得られる。
Ipd=Io exp(((Vg−a)/m−Vout)q/kT) (8)
光量がα倍に変化した場合、式(8)は下記式(9)に変形される。
α×Ipd=Io exp(((Vg+ΔVg−a)/m−(Vout+ΔVout))
q/kT) (9)
ここで、ΔVoutはVoutの変化量を示し、ΔVgはVgの変化量を示す。
ここで、ゲート電極103のカップリング容量成分をβとする。β=Cgs/(Cgd
+Cgs+Cgb)、0<β<1とすると、ΔVg=ΔVout×βであるので、式(8)および式(9)より下記式(10)が得られる。
ΔVout=−(kT/q)ln(α)/(1−β/m) (10)
上述した式(7)に比べ、式(10)には1/(1−β/m)の項が乗されている。通常、サブスレッシュド領域ではCgd=Cgs、Cgb<<Cgsであるからβ〜0.5、m=1.1となる。このとき、ΔVoutは下記式(11)で表される。
ΔVout=−(kT/q)ln(α)×1.8 (11)
式(11)より、光検出装置100は、出力信号の電圧変化量を1.8倍にすることができる。従って、光量の変化範囲が、160dB(=10の8乗)の場合、出力信号の電圧変化量は60mV×1.8×8=860mV程度になり、従来の線形変換型イメージセンサの出力信号の電圧変化量(約1V)とほぼ同等の値が得ることができる。同時に光の変化量に対する出力信号の電圧変化量が1.8倍になっているため、感度も1.8倍に向上する。
このように、本実施の形態の光検出装置100は、フォトダイオードから発生した電気信号の電圧値のダイナミックレンジを大きくすることができ、且つ入射光量の変化に伴う電気信号の電圧値の変化量を大きくすることができるので、高感度に光を検出することが出来る。
なお、出力電圧変化量を更に上げるために、カップリング容量Cgsを、カップリング容量Cgdよりも大きくしてもよい。ゲート電極103、ソース領域105、ドレイン領域104それぞれのレイアウトを変えることで、カップリング容量Cgsとカップリング容量Cgdとの間の大小比を変えることができる。
図2に、対数変換用トランジスタ102の上面図を示す。図2に示す例では、対数変換用トランジスタ102のゲート幅2Wum(すなわちゲート電極103とソース領域105とが重複している幅)は、対数変換用トランジスタ102のゲート幅Wum(すなわちゲート電極103とドレイン領域104とが重複している幅)よりも約2倍大きい。また、ソース領域105のゲート電極103下に拡散している面積は、ドレイン領域104のゲート電極103下に拡散している面積よりも広い。
図2に示す例では、βおよびΔVoutは以下の式(12)、(13)で表される。β〜Cgs/(Cgd+Cgs)=0.67 (12)
ΔVout=−(kT/q)ln(α)×2.5 (13)
式(13)より、光の変化範囲が160dB(=10の8乗)の場合における出力信号の電圧変化量を、60mV×2.5×8=1200mVと更に大きくできるとともに、感度は2.5倍に向上する。
図3に、対数変換用トランジスタ102の断面図を示す。図3に示す例では、ソース領域105として機能する高濃度拡散領域105aとゲート電極103とが重複する長さ3Lumは、ドレイン領域104として機能する高濃度拡散領域104aとゲート電極103とが重複する長さLumよりも約3倍長い。重複する長さを変えることでも、ソース領域105のゲート電極103下に拡散している面積を、ドレイン領域104のゲート電極103下に拡散している面積よりも広くすることができ、カップリング容量Cgsをカップリング容量Cgdよりも大きくすることができる。図3の例(ここでは、ゲート幅はドレイン側とゲート側とで同じ長さとする)では、βおよびΔVoutは以下の式(14)
、(15)で表される。
β〜Cgs/(Cgd+Cgs)=0.75 (14)
ΔVout=−(kT/q)ln(α)×3.1 (15)
式(15)より、光の変化範囲が160dB(=10の8乗)の場合の出力信号の電圧変化量を60mV×3.1×8=1490mVとかなり大きくすることができる。この時の感度向上率は3.1倍である。
なお、ゲート電極103とソース領域105との間、およびゲート電極103とドレイン領域104との間のそれぞれにコンデンサー素子を設けても、出力信号の電圧変化量を大きくするという上記と同様の効果が得られる。
(実施の形態2)
図4に、本発明の実施の形態2における固体撮像装置200を示す。固体撮像装置200は、2次元に配列された複数の光検出装置400と、垂直走査回路部201と、水平走査回路部202とを備える。図4では、説明を簡単にするために4つの光検出装置400を示しているが、光検出装置400の個数は任意である。例えば、固体撮像装置200の画素数が500万画素である場合には、固体撮像装置200は光検出装置400を約500万個備える。
光検出装置400は、光検出装置100が備える構成要素に加えて、対数変換された電気信号の電圧である出力電圧Voutを増幅するための増幅部411と、行選択スイッチ部412と、定電流を発生する定電流電源414と、定電流電源414と対数変換用トランジスタ102とに接続されたスイッチ部415と、ゲート電極103と電源ラインVddとに接続されたスイッチ部416とを備える。
垂直走査回路部201は光検出装置400を行単位で選択し、水平走査回路部202は光検出装置400を列単位で選択する。垂直走査回路部201および水平走査回路部202は光検出装置400の動作を制御する制御部として機能する。垂直走査回路部201は、複数のラインSELのうちの所定のラインSELの電圧値を制御することにより、所定のラインSELに接続された行選択スイッチ部412のON状態とOFF状態とを切り替える。行選択スイッチ部412がON状態のときに列出力ライン213に出力された出力信号が水平走査回路部202に入力される。垂直走査回路部201は、複数のラインSWのうちの所定のラインSWの電圧値を制御することにより、所定のラインSWに接続されたスイッチ部415、416のON状態とOFF状態とを切り替える。スイッチ部415がOFF状態のとき、ソース領域105には、フォトダイオード101から出力された電気信号は入力されるが、定電流電源部414から出力された定電流は入力されないため、この状態では、対数変換用MOSトランジスタ102は、フォトダイオード101から出力された電気信号を対数変換する。また、スイッチ部415がOFF状態のときは同時にスイッチ部416もOFF状態になり、電源ラインVddとゲート電極103とが電気的に切断されることにより、ゲート電極103の電圧はフローティング状態にされる。このように、スイッチ部416は、フォトダイオード101から出力された電気信号の電圧値を対数変換用トランジスタ102が対数変換するときに、ゲート電極103の電圧をフローティング状態にする手段として機能する。
図5は固体撮像装置200の駆動パルスタイミングを示している。図4および図5を参照して固体撮像装置200の動作について説明する。
対数変換用トランジスタ102のゲート電極103をフローティング状態にするためには、一定期間毎にゲート電極103を一定電位に固定する必要がある。出力信号読み出しタイミングt1には、対数変換用トランジスタ102のゲート電極103がフローティング状態となっている状態で行選択スイッチ部412をON状態にして出力信号を出力する。この時、Voutの波形は、図13と同様、暗時の場合は電位が高く、明時の場合は電位が低い波形となる。
次に、タイミングt2にて、スイッチ部415、416をON状態にして、出力信号と比較して十分大きい定電流を発生する定電流電源414とソース領域105とを導通させることで、ソースフォロワ回路が形成される。同時に、対数変換用トランジスタ102のゲート電極103が、電源ラインVddの電圧に固定される。この状態は、フォトダイオード101に過剰な光が入射している状態と同等であり、Voutの電位は明時暗時に関わらず十分に下がる。
その後、タイミングt3にて、行選択スイッチ部412をON状態にして、電圧Voutの値が十分に下がった時点で対数変換用トランジスタ102から発生する出力信号をリセット信号として、列出力ライン213に出力する。
リセット信号には、対数変換用トランジスタ102の特性バラツキが含まれる(より正確には画素アンプの特性バラツキも含まれる)ため、後段のCDS回路(図示せず)によって、各画素の対数変換用トランジスタ102の特性バラツキが相殺され、結果として固定パターンノイズが低減される。タイミングt4以降はスイッチ部415、416をOFF状態にすることによりゲート電極103をフローティング状態にして、通常の光検出動作を次の読み出し時(1フレーム期間後)まで続ける。
(実施の形態3)
図6に、本発明の実施の形態3における固体撮像装置300を示す。固体撮像装置300は、2次元に配列された複数の光検出装置600と、垂直走査回路部201aと、水平走査回路部202とを備える。図6では、説明を簡単にするために4つの光検出装置600を示しているが、光検出装置600の個数は任意である。例えば、固体撮像装置300の画素数が500万画素である場合には、固体撮像装置300は、光検出装置600を約500万個備える。
光検出装置600では、光検出装置400の構成要素から定電流電源414と、スイッチ部415とが省略されている。光検出装置600は、フォトダイオード101とソース領域105とに接続されたスイッチ部815を備える。本実施の形態では、ドレイン領域104は、垂直走査回路部201aから伸びる電源ラインVdに接続されている。スイッチ部815のゲート電極はライン/SW(/はバーを表す)に接続されている。
垂直走査回路部201aは、複数のラインSWのうちの所定のラインSWの電圧値を制御することにより、所定のラインSWに接続されたスイッチ部416のON状態とOFF状態とを切り替える。垂直走査回路部201aは、複数のライン/SWのうちの所定のライン/SWの電圧値を制御することにより、所定のライン/SWに接続されたスイッチ部815のON状態とOFF状態とを切り替える。垂直走査回路部201aは、複数のラインSELのうちの所定のラインSELの電圧値を制御することにより、所定のラインSELに接続された行選択スイッチ部412のON状態とOFF状態とを切り替える。行選択スイッチ部412がON状態のときに列出力ライン213に出力された出力信号が水平走査回路部202に入力される。
行選択スイッチ部412をON状態にしてリセット信号を出力するとき、リセット信号は、厳密にはフォトダイオード101に流れている明時の光電流や暗時の光電流の影響を受けることになる。その影響を受けないようにするため、光検出装置600は、フォトダイオード101と対数変換型トランジスタのソース領域105との間に接続されたスイッチ部815を備えている。スイッチ部815のON状態とOFF状態とは、ラインSWに出力される信号の反転信号がライン/SWに出力されることによって切り替えられる。このため、スイッチ部416がON状態のとき(すなわちリセット信号出力時)にスイッチ部815はOFF状態となり、フォトダイオード101とソース領域105とが切り離される。対数変換用トランジスタ102は、フォトダイオード101とソース領域105とが切り離された状態でリセット信号を出力する。フォトダイオード101とソース領域105とが切り離された状態でリセット信号を出力することにより、フォトダイオード101に流れている光電流の影響をリセット信号が受けなくなり、より正しい電圧値のリセット信号を得ることが出来る。
図7は、光検出装置600の改変例である光検出装置600aを示す。光検出装置600aでは、光検出装置600の構成要素からスイッチ部815が省略されている。固体撮像装置300が光検出装置600の代わりに光検出装置600aを備えるときは、固体撮像装置300からライン/SWが省略される。
図8は、光検出装置600aを備える固体撮像装置300の駆動パルスタイミングを示している。対数変換用トランジスタ102のゲート電極103をフローティング状態にするためには、一定期間毎にゲート電極103を一定電位に固定する必要がある。出力信号読み出しタイミングt1には、対数変換用トランジスタ102のゲート電極103がフローティング状態になっている状態で、行選択スイッチ部412をON状態にして出力信号を出力する。この時、Voutの波形は図5と同様、暗時の場合は電位が高く、明時の場合は電位が低い波形となる。
次に、タイミングt2にて、垂直走査回路部201aは、スイッチ部416をON状態にして、対数変換用トランジスタ102のゲート電極103を電源ラインVddの電圧に固定するとともに、電源ラインVdの電圧をローレベルに下げることによってVoutの電圧を明時暗時に関わらず強制的にローレベルの電圧に固定する。その後、電源ラインVdの電圧をハイレベルに戻すと、サブスレッシュド電流が電源ラインVdとソース領域105間で流れる。タイミングt3にて行選択スイッチ部412をON状態にしたときに対数変換用トランジスタ102から発生する出力信号をリセット信号として、列出力ライン213に出力する。
リセット信号には、対数変換用トランジスタ102の特性バラツキが含まれる(より正確には画素アンプの特性バラツキも含まれる)ため、後段のCDS回路(図示せず)によって、各画素の対数変換用トランジスタ102の特性バラツキが相殺され、結果として固定パターンノイズが低減される。タイミングt4以降はスイッチ部416をOFF状態にすることによりゲート電極103をフローティング状態にして、通常の光検出動作を次の読み出し時(1フレーム期間後)まで続ける。
光検出装置600においては、図8に示すタイミングt3にて、行選択スイッチ部412をON状態にしてリセット信号を出力するとき、フォトダイオード101とソース領域105とが切り離されるので、リセット信号が光電流の影響を受けなくなり、より正しい電圧値のリセット信号を得ることが出来る。その他の光検出装置600の動作は光検出装置600aと同じである。
(実施の形態4)
図9に、本発明の実施の形態4におけるカメラシステム700を示す。カメラシステム700は、例えば、ビデオカメラ、デジタルカメラ、携帯端末装置、スキャナ、ファクシミリ等であり得る。
カメラシステム700は、光学レンズ部701と、固体撮像装置702と、メモリ部703と、入力インターフェース部704と、制御部705と、バス706とを備える。バス706は、各構成要素同士を接続する。
光学レンズ部701は外部からの入射光を集光する。固体撮像装置702は、光学レンズ部701によって集光された光を受け取り、受け取った光を画像信号に変換する。メモリ部703は、画像信号が示す画像情報を記憶する。入力インターフェース部704はユーザから入力された命令を制御部705に出力する。制御部705はユーザからの命令に応じて、光学レンズ部701、固体撮像装置702、メモリ部703、入力インターフェース部704の動作を制御する。固体撮像装置702は例えば実施の形態2および3で説明した固体撮像装置200または300である。カメラシステム700では、上述した高感度の固体撮像装置200または300を備えるので、高画質の画像を得ることが出来る。
本発明によれば、フォトダイオードから発生した電気信号の電圧値を対数変換用トランジスタが対数変換するときに、対数変換用トランジスタのゲート電極の電圧はフローティング状態にされる。このことにより、フォトダイオードから発生した電気信号の電圧値のダイナミックレンジを大きくすることができ、且つ入射光量の変化に伴う電気信号の電圧値の変化量を大きくすることができるので、高感度の光検出装置が実現でき、高画質の画像を得ることが出来る。
このように本発明は、光検出装置、固体撮像装置およびカメラシステムの分野において得に有用である。
本発明の実施の形態1における光検出装置を示す図 本発明の実施の形態1における対数変換用トランジスタの上面図 本発明の実施の形態1における対数変換用トランジスタの断面図 本発明の実施の形態2における固体撮像装置を示す図 本発明の実施の形態2における固体撮像装置の駆動パルスタイミングを示す図 本発明の実施の形態3における固体撮像装置を示す図 本発明の実施の形態3における光検出装置を示す図 本発明の実施の形態3における固体撮像装置の駆動パルスタイミングを示す図 本発明の実施の形態4におけるカメラシステムを示す図 従来の光検出装置を示す図 従来の光検出装置の他の例を示す図 従来の光検出装置のさらに他の例を示す図 図12の光検出装置の駆動パルスタイミングを示す図
符号の説明
101 フォトダイオード
102 対数変換用トランジスタ

Claims (13)

  1. 入射光量に応じた電気信号を発生するフォトダイオードと、
    前記電気信号の電圧値を対数変換する対数変換用トランジスタとを備え、
    前記対数変換用トランジスタは、ソース領域およびドレイン領域のうちの一方である第1領域と、前記ソース領域および前記ドレイン領域のうちの他方である第2領域と、ゲート電極とを備え、
    前記第1領域は前記フォトダイオードに接続されており、
    前記対数変換用トランジスタがサブスレッシュド領域で動作するように、前記第2領域には第1電圧が印加されており、
    前記対数変換用トランジスタが前記電気信号の電圧値を対数変換するときに、前記ゲート電極の電圧をフローティング状態にする手段をさらに備え、
    前記第1領域と前記ゲート電極との間のキャパシタンスは、前記第2領域と前記ゲート電極との間のキャパシタンスよりも大きい、光検出装置。
  2. 前記ゲート電極と前記第1領域とが重複しているゲート幅は、前記ゲート電極と前記第2領域とが重複しているゲート幅よりも大きいかまたは、前記ゲート電極と前記第1領域とが重複しているゲート幅に直交する方向の長さは、前記ゲート電極と前記第2領域とが重複しているゲート幅に直交する方向の長さよりも長い、請求項1に記載の光検出装置。
  3. 前記第1領域の前記ゲート電極下に拡散している面積は、前記第2領域の前記ゲート電極下に拡散している面積よりも広い、請求項1に記載の光検出装置。
  4. 前記第1領域の前記ゲート電極下に拡散している面積は、前記第2領域の前記ゲート電極下に拡散している面積よりも広い、請求項2に記載の光検出装置。
  5. 前記対数変換用トランジスタによって対数変換された電圧値を有する電気信号を増幅する増幅部と、
    前記増幅部に接続された第1スイッチ部とをさらに備え、
    前記増幅部は増幅した電気信号を前記第1スイッチ部を介して出力する、請求項1に記載の光検出装置。
  6. 前記ゲート電極の電圧をフローティング状態にする手段は、前記ゲート電極に接続された第2スイッチ部であり、
    前記第2スイッチ部がオン状態のときは前記ゲート電極に第2電圧が印加され、前記第2スイッチ部がオフ状態のときは前記ゲート電極の電圧はフローティング状態にされる、請求項1に記載の光検出装置。
  7. 定電流を発生する定電流電源部と、
    前記第1領域と前記定電流電源部とに接続された第3スイッチ部とをさらに備え、
    前記第3スイッチ部がオン状態のときに前記第1領域に前記定電流が入力される、請求項6に記載の光検出装置。
  8. 前記第2スイッチ部および前記第3スイッチ部がオン状態のときに前記対数変換用トランジスタはリセット信号を発生する、請求項7に記載の光検出装置。
  9. 前記第2スイッチ部がオン状態であって前記第1電圧がローレベルに下がった後にハイレベルにした後に前記対数変換用トランジスタはリセット信号を発生する、請求項6に記載の光検出装置。
  10. 前記第1領域と前記フォトダイオードとに接続された第4スイッチ部をさらに備え、
    前記第4スイッチ部がオン状態のときに前記第1領域に前記電気信号が入力される、請求項6に記載の光検出装置。
  11. 前記第4スイッチ部がオフ状態のときに前記対数変換用トランジスタはリセット信号を発生する、請求項10に記載の光検出装置。
  12. 複数の光検出装置を備えた固体撮像装置であって、
    前記複数の光検出装置のそれぞれは、
    入射光量に応じた電気信号を発生するフォトダイオードと、
    前記電気信号の電圧値を対数変換する対数変換用トランジスタとを備え、
    前記対数変換用トランジスタは、ソース領域およびドレイン領域のうちの一方である第1領域と、前記ソース領域および前記ドレイン領域のうちの他方である第2領域と、ゲート電極とを備え、
    前記第1領域は前記フォトダイオードに接続されており、
    前記対数変換用トランジスタがサブスレッシュド領域で動作するように、前記第2領域には所定の電圧が印加されており、
    前記複数の光検出装置のそれぞれは、前記対数変換用トランジスタが前記電気信号の電圧値を対数変換するときに、前記ゲート電極の電圧をフローティング状態にする手段をさらに備え、
    前記第1領域と前記ゲート電極との間のキャパシタンスは、前記第2領域と前記ゲート電極との間のキャパシタンスよりも大きい、固体撮像装置。
  13. 固体撮像装置を備えたカメラシステムであって、
    前記固体撮像装置は複数の光検出装置を備え、
    前記複数の光検出装置のそれぞれは、
    入射光量に応じた電気信号を発生するフォトダイオードと、
    前記電気信号の電圧値を対数変換する対数変換用トランジスタとを備え、
    前記対数変換用トランジスタは、ソース領域およびドレイン領域のうちの一方である第1領域と、前記ソース領域および前記ドレイン領域のうちの他方である第2領域と、ゲート電極とを備え、
    前記第1領域は前記フォトダイオードに接続されており、
    前記対数変換用トランジスタがサブスレッシュド領域で動作するように、前記第2領域には所定の電圧が印加されており、
    前記複数の光検出装置のそれぞれは、前記対数変換用トランジスタが前記電気信号の電圧値を対数変換するときに、前記ゲート電極の電圧をフローティング状態にする手段をさらに備え、
    前記第1領域と前記ゲート電極との間のキャパシタンスは、前記第2領域と前記ゲート電極との間のキャパシタンスよりも大きい、カメラシステム。
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DE102007048890B3 (de) * 2007-10-11 2009-03-19 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. DEPFET-Transistor mit großem Dynamikbereich und Halbleiterdetektor

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP3725007B2 (ja) * 2000-06-06 2005-12-07 シャープ株式会社 対数変換型画素構造およびそれを用いた固体撮像装置
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