JP4171238B2 - 過熱検出回路 - Google Patents
過熱検出回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4171238B2 JP4171238B2 JP2002093770A JP2002093770A JP4171238B2 JP 4171238 B2 JP4171238 B2 JP 4171238B2 JP 2002093770 A JP2002093770 A JP 2002093770A JP 2002093770 A JP2002093770 A JP 2002093770A JP 4171238 B2 JP4171238 B2 JP 4171238B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diode
- temperature
- voltage
- detection
- detection circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、過熱検出回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、この種の過熱検出回路としては、例えば特開平４−３１９７７２号公報に記載の過熱検出回路が提案されている。集積回路には、負荷の異常、組み付けの異常等にともなう熱効果の異常、入力信号の異常等によって破壊や特性劣化が生ずるのを防止するために温度を検出する過熱検出回路やその信号により電源回路や信号回路を制御して破壊を防止する保護回路を有するものが多い。
【０００３】
従来の過熱検出回路の回路例を図２に示す。過熱検出回路は、温度検出部１、基準電圧発生部２およびコンパレータ３から構成されている。
【０００４】
温度検出部１は、電源ＶＤ、温度検出用ダイオード１１および定電流回路１２を有して構成されている。なお、温度検出用ダイオード１１の順方向電圧ＶＦは温度上昇と共に低下する。温度検出用ダイオード１１のアノードは定電流源１２を介して電源ＶＤに接続されており、温度検出用ダイオード１１には定電流回路１２から定電流が流れる。そして、温度上昇に伴い温度検出用ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔは低下する。
【０００５】
基準電圧発生部２は、抵抗２６および抵抗２７を有して構成され、直列接続された抵抗２６、２７は電源ＶＤの電圧を分圧しており、抵抗２６、２７の接続点より基準電圧Ｖｃを生成する。
【０００６】
コンパレータ３は、第１の入力端子には抵抗２６、２７の接続点から基準電圧（閾値電圧）Ｖｃが入力され、第２の入力端子には温度検出部１の温度検出用ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔが入力され、第１、第２の入力端子の電圧を比較し出力する。
【０００７】
上記した過熱検出回路において、温度上昇に伴って温度検出用ダイオード１１のアノード電圧ＶＦは低下し、温度検出用ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔが第１の入力端子の電圧、すなわち閾値電圧Ｖｃより低くなった場合に、コンパレータの出力電圧が反転する。このようにして過熱状態を検出している。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、温度検出用ダイオード１１の順方向電圧ＶＦは素子によるばらつきを有しており、上記したような回路では加熱検出の温度もばらついてしまう。
【０００９】
本発明は上記問題に鑑みたもので、温度検出用ダイオードの順方向電圧が素子によってばらつきがある場合でも、その影響を低減させ加熱検出の温度ばらつきを低減させることができる過熱検出回路を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１に記載の発明では、温度変化に伴い順方向電圧（ＶＦ）が変化する第１のダイオード（１１）を有する温度検出手段（１）と、第１のダイオード（１１）と同じ温度特性をもった第２のダイオード（２１）を有し、第２のダイオード（２１）は電源（ＶＤ）に接続された第２の定電流回路（２２）および定電圧回路（２３）間に接続され、第２のダイオード（２１）および定電圧回路（２３）と並列に接続された複数の抵抗（２４、２５）の接続点から抵抗分割によって基準電圧（Ｖｃ）を生成する基準電圧発生手段（２）と、第１の入力端子は第１のダイオード（１１）のアノードに接続され、第２の入力端子は複数の抵抗（２４、２５）の接続点に接続された比較手段（３）と、を備えたことを特徴としている。
【００１２】
これにより、複数の抵抗（２４、２５）の接続点から抵抗分割によって生成される基準電圧（Ｖｃ）は、第１のダイオード（１１）の順方向電圧（ＶＦ）と同様のばらつきを有して変化する。したがって、この基準電圧（Ｖｃ）に基づいて過熱検出することにより、第１のダイオード（１１）の順方向電圧（ＶＦ）が素子によってばらつきがある場合でも、その影響を低減させ加熱検出の温度ばらつきを低減させることができる。
【００１３】
なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
【００１４】
【発明の実施の形態】
（第１実施形態）
本発明の一実施形態を適用した過熱検出回路の回路構成を図１に示す。この第１実施形態では、基準電圧発生部２において、温度検出用ダイオード１１と同じ電気特性、温度特性を有する第２のダイオード２１、安定化電源２３および定電流源２２を備えた点が図２に示すものと異なり、その他の温度検出部１およびコンパレータ３は図２に示すものと同じである。
【００１５】
本回路例では、第２のダイオード２１のカソードは安定化電源２３に接続され、アノードは第２の定電流源２２を介して電源ＶＤに接続されるとともに、抵抗２４および抵抗２５を介して接地されている。また、抵抗２４と抵抗２５の接続点はコンパレータ３の第１の入力端子に接続されている。
【００１６】
上記した過熱検出回路において、直列に接続された抵抗２４、２５にはダイオード２１の順方向電圧ＶＦと安定化電源２３の電圧の和の電圧が印加される。そして、温度検出用ダイオード１１と第２のダイオード２１の順方向電圧ＶＦの電気特性、温度特性のばらつきが同等であることから、直列に接続された抵抗２４と抵抗２５に印加される電圧はダイオード１１の順方向電圧ＶＦのばらつきに応じて同様に変動し、コンパレータ３の閾値電圧Ｖｃもダイオード１１の順方向電圧ＶＦのばらつきに応じて同様に変動する。そして、過熱検出温度はコンパレータ３の閾値電圧Ｖｃにより設定され、コンパレータ３の閾値電圧Ｖｃがダイオード１１の電気特性、温度特性のばらつきに応じて同様に変動するので、過熱検出の温度ばらつきを小さくすることができる。
【００１７】
図１に示した本実施形態で使用されている過熱検出回路の温度に対する電圧特性を図３に示す。この図に示される▲２▼は、温度検出用ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔで、▲５▼は閾値電圧Ｖｃである。また、温度検出用ダイオード１１の順方向電圧ＶＦは、最大±３０ｍＶのばらつきを有しており、ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔの上限および下限を▲１▼、▲３▼に示す。また、温度検出用ダイオード１１と第２のダイオード２１の順方向電圧ＶＦの電気特性、温度特性のばらつきは同等であることから、コンパレータ３の閾値電圧Ｖｃも同様のばらつきを有しており、閾値電圧Ｖｃの上限および下限を▲４▼、▲６▼に示す。
【００１８】
そして、温度検出用ダイオード１１と第２のダイオード２１の順方向電圧ＶＦの電気特性、温度特性のばらつきは同等であることから、温度検出用ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔが上限となる場合、コンパレータ３の閾値電圧Ｖｃも上限となる。したがって、この場合▲１▼および▲４▼が交差する１５３℃で過熱検出する。また、温度検出用ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔが下限となる場合、コンパレータ３の閾値電圧Ｖｃも下限となり、▲３▼および▲６▼が交差する１２８℃で過熱検出する。したがって、図１に示す加熱検出回路の加熱検出温度範囲は１２８℃〜１５３℃である。
【００１９】
一方、図３に示した▲７▼は、図２に示した従来の加熱検出回路の閾値電圧Ｖｃであり、温度と関係なく５００ｍＶである。そして、温度検出用ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔの下限を示す▲３▼と閾値電圧Ｖｃ▲７▼が交差する温度は１２３℃で、温度検出用ダイオード１１のアノード電圧の上限を示す▲１▼と閾値電圧Ｖｃ▲７▼が交差する温度は１５８℃である。したがって、図２に示す従来の加熱検出回路の加熱検出温度範囲は１２３℃〜１５８℃である。
【００２０】
上記したように、図２に示す従来の加熱検出回路の加熱検出温度範囲は１２３℃〜１５８℃であるのに対し、図１に示す本実施例の加熱検出回路の加熱検出温度範囲は１２８℃〜１５３℃で、加熱検出の温度範囲が狭くなっている。そして、
温度検出用ダイオード１１の順方向電圧ＶＦは、従来と同じ最大±３０ｍＶのばらつきを有していながら、その影響を低減させ加熱検出の温度ばらつきを低減させていることが分かる。
【００２１】
なお、温度検出部１としては、図１に示す構成のものに限らず、温度変化に伴い順方向電圧ＶＦが変化し、順方向電圧ＶＦに応じた電圧を出力するものであれば、他の構成のものであってもよい。また、基準電圧発生部２においても、図１に示す構成のものに限らず、第１のダイオード１１と同じ温度特性をもった第２のダイオード２１を有し、第１のダイオード１１と同様の温度特性をもった基準電圧Ｖｃを生成するものであれば、他の構成のものであってもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る過熱検出回路の構成を示す図である。
【図２】従来の過熱検出回路の構成を示す図である。
【図３】過熱検出回路の電圧−温度特性を示す図である。
【符号の説明】
１・・・温度検出部、２、４・・・基準電圧発生部、３・・・コンパレータ、
１１・・・温度検出用ダイオード、２１・・・第２のダイオード、
１２、２２・・・第１、第２の定電流回路、２３・・・安定化電源。
【発明の属する技術分野】
本発明は、過熱検出回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、この種の過熱検出回路としては、例えば特開平４−３１９７７２号公報に記載の過熱検出回路が提案されている。集積回路には、負荷の異常、組み付けの異常等にともなう熱効果の異常、入力信号の異常等によって破壊や特性劣化が生ずるのを防止するために温度を検出する過熱検出回路やその信号により電源回路や信号回路を制御して破壊を防止する保護回路を有するものが多い。
【０００３】
従来の過熱検出回路の回路例を図２に示す。過熱検出回路は、温度検出部１、基準電圧発生部２およびコンパレータ３から構成されている。
【０００４】
温度検出部１は、電源ＶＤ、温度検出用ダイオード１１および定電流回路１２を有して構成されている。なお、温度検出用ダイオード１１の順方向電圧ＶＦは温度上昇と共に低下する。温度検出用ダイオード１１のアノードは定電流源１２を介して電源ＶＤに接続されており、温度検出用ダイオード１１には定電流回路１２から定電流が流れる。そして、温度上昇に伴い温度検出用ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔは低下する。
【０００５】
基準電圧発生部２は、抵抗２６および抵抗２７を有して構成され、直列接続された抵抗２６、２７は電源ＶＤの電圧を分圧しており、抵抗２６、２７の接続点より基準電圧Ｖｃを生成する。
【０００６】
コンパレータ３は、第１の入力端子には抵抗２６、２７の接続点から基準電圧（閾値電圧）Ｖｃが入力され、第２の入力端子には温度検出部１の温度検出用ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔが入力され、第１、第２の入力端子の電圧を比較し出力する。
【０００７】
上記した過熱検出回路において、温度上昇に伴って温度検出用ダイオード１１のアノード電圧ＶＦは低下し、温度検出用ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔが第１の入力端子の電圧、すなわち閾値電圧Ｖｃより低くなった場合に、コンパレータの出力電圧が反転する。このようにして過熱状態を検出している。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、温度検出用ダイオード１１の順方向電圧ＶＦは素子によるばらつきを有しており、上記したような回路では加熱検出の温度もばらついてしまう。
【０００９】
本発明は上記問題に鑑みたもので、温度検出用ダイオードの順方向電圧が素子によってばらつきがある場合でも、その影響を低減させ加熱検出の温度ばらつきを低減させることができる過熱検出回路を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１に記載の発明では、温度変化に伴い順方向電圧（ＶＦ）が変化する第１のダイオード（１１）を有する温度検出手段（１）と、第１のダイオード（１１）と同じ温度特性をもった第２のダイオード（２１）を有し、第２のダイオード（２１）は電源（ＶＤ）に接続された第２の定電流回路（２２）および定電圧回路（２３）間に接続され、第２のダイオード（２１）および定電圧回路（２３）と並列に接続された複数の抵抗（２４、２５）の接続点から抵抗分割によって基準電圧（Ｖｃ）を生成する基準電圧発生手段（２）と、第１の入力端子は第１のダイオード（１１）のアノードに接続され、第２の入力端子は複数の抵抗（２４、２５）の接続点に接続された比較手段（３）と、を備えたことを特徴としている。
【００１２】
これにより、複数の抵抗（２４、２５）の接続点から抵抗分割によって生成される基準電圧（Ｖｃ）は、第１のダイオード（１１）の順方向電圧（ＶＦ）と同様のばらつきを有して変化する。したがって、この基準電圧（Ｖｃ）に基づいて過熱検出することにより、第１のダイオード（１１）の順方向電圧（ＶＦ）が素子によってばらつきがある場合でも、その影響を低減させ加熱検出の温度ばらつきを低減させることができる。
【００１３】
なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
【００１４】
【発明の実施の形態】
（第１実施形態）
本発明の一実施形態を適用した過熱検出回路の回路構成を図１に示す。この第１実施形態では、基準電圧発生部２において、温度検出用ダイオード１１と同じ電気特性、温度特性を有する第２のダイオード２１、安定化電源２３および定電流源２２を備えた点が図２に示すものと異なり、その他の温度検出部１およびコンパレータ３は図２に示すものと同じである。
【００１５】
本回路例では、第２のダイオード２１のカソードは安定化電源２３に接続され、アノードは第２の定電流源２２を介して電源ＶＤに接続されるとともに、抵抗２４および抵抗２５を介して接地されている。また、抵抗２４と抵抗２５の接続点はコンパレータ３の第１の入力端子に接続されている。
【００１６】
上記した過熱検出回路において、直列に接続された抵抗２４、２５にはダイオード２１の順方向電圧ＶＦと安定化電源２３の電圧の和の電圧が印加される。そして、温度検出用ダイオード１１と第２のダイオード２１の順方向電圧ＶＦの電気特性、温度特性のばらつきが同等であることから、直列に接続された抵抗２４と抵抗２５に印加される電圧はダイオード１１の順方向電圧ＶＦのばらつきに応じて同様に変動し、コンパレータ３の閾値電圧Ｖｃもダイオード１１の順方向電圧ＶＦのばらつきに応じて同様に変動する。そして、過熱検出温度はコンパレータ３の閾値電圧Ｖｃにより設定され、コンパレータ３の閾値電圧Ｖｃがダイオード１１の電気特性、温度特性のばらつきに応じて同様に変動するので、過熱検出の温度ばらつきを小さくすることができる。
【００１７】
図１に示した本実施形態で使用されている過熱検出回路の温度に対する電圧特性を図３に示す。この図に示される▲２▼は、温度検出用ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔで、▲５▼は閾値電圧Ｖｃである。また、温度検出用ダイオード１１の順方向電圧ＶＦは、最大±３０ｍＶのばらつきを有しており、ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔの上限および下限を▲１▼、▲３▼に示す。また、温度検出用ダイオード１１と第２のダイオード２１の順方向電圧ＶＦの電気特性、温度特性のばらつきは同等であることから、コンパレータ３の閾値電圧Ｖｃも同様のばらつきを有しており、閾値電圧Ｖｃの上限および下限を▲４▼、▲６▼に示す。
【００１８】
そして、温度検出用ダイオード１１と第２のダイオード２１の順方向電圧ＶＦの電気特性、温度特性のばらつきは同等であることから、温度検出用ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔが上限となる場合、コンパレータ３の閾値電圧Ｖｃも上限となる。したがって、この場合▲１▼および▲４▼が交差する１５３℃で過熱検出する。また、温度検出用ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔが下限となる場合、コンパレータ３の閾値電圧Ｖｃも下限となり、▲３▼および▲６▼が交差する１２８℃で過熱検出する。したがって、図１に示す加熱検出回路の加熱検出温度範囲は１２８℃〜１５３℃である。
【００１９】
一方、図３に示した▲７▼は、図２に示した従来の加熱検出回路の閾値電圧Ｖｃであり、温度と関係なく５００ｍＶである。そして、温度検出用ダイオード１１のアノード電圧Ｖｔの下限を示す▲３▼と閾値電圧Ｖｃ▲７▼が交差する温度は１２３℃で、温度検出用ダイオード１１のアノード電圧の上限を示す▲１▼と閾値電圧Ｖｃ▲７▼が交差する温度は１５８℃である。したがって、図２に示す従来の加熱検出回路の加熱検出温度範囲は１２３℃〜１５８℃である。
【００２０】
上記したように、図２に示す従来の加熱検出回路の加熱検出温度範囲は１２３℃〜１５８℃であるのに対し、図１に示す本実施例の加熱検出回路の加熱検出温度範囲は１２８℃〜１５３℃で、加熱検出の温度範囲が狭くなっている。そして、
温度検出用ダイオード１１の順方向電圧ＶＦは、従来と同じ最大±３０ｍＶのばらつきを有していながら、その影響を低減させ加熱検出の温度ばらつきを低減させていることが分かる。
【００２１】
なお、温度検出部１としては、図１に示す構成のものに限らず、温度変化に伴い順方向電圧ＶＦが変化し、順方向電圧ＶＦに応じた電圧を出力するものであれば、他の構成のものであってもよい。また、基準電圧発生部２においても、図１に示す構成のものに限らず、第１のダイオード１１と同じ温度特性をもった第２のダイオード２１を有し、第１のダイオード１１と同様の温度特性をもった基準電圧Ｖｃを生成するものであれば、他の構成のものであってもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る過熱検出回路の構成を示す図である。
【図２】従来の過熱検出回路の構成を示す図である。
【図３】過熱検出回路の電圧−温度特性を示す図である。
【符号の説明】
１・・・温度検出部、２、４・・・基準電圧発生部、３・・・コンパレータ、
１１・・・温度検出用ダイオード、２１・・・第２のダイオード、
１２、２２・・・第１、第２の定電流回路、２３・・・安定化電源。
Claims (1)
- 定電流回路（１２）を介して電源（ＶＤ）に接続され、温度変化に伴い順方向電圧（ＶＦ）が変化する第１のダイオード（１１）を有する温度検出手段（１）と、
前記第１のダイオード（１１）と同じ温度特性をもった第２のダイオード（２１）を有し、前記第２のダイオード（２１）は電源（ＶＤ）に接続された第２の定電流回路（２２）および定電圧回路（２３）間に接続され、前記第２のダイオード（２１）および前記定電圧回路（２３）と並列に接続された複数の抵抗（２４、２５）の接続点から抵抗分割によって基準電圧（Ｖｃ）を生成する基準電圧発生手段（２）と、
第１の入力端子と第２の入力端子を有し、前記第１の入力端子は前記第１のダイオード（１１）のアノードに接続され、前記第２の入力端子は前記複数の抵抗（２４、２５）の接続点に接続された比較手段（３）と、を備えたことを特徴とする過熱検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002093770A JP4171238B2 (ja) | 2002-03-29 | 2002-03-29 | 過熱検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002093770A JP4171238B2 (ja) | 2002-03-29 | 2002-03-29 | 過熱検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003294542A JP2003294542A (ja) | 2003-10-15 |
| JP4171238B2 true JP4171238B2 (ja) | 2008-10-22 |
Family
ID=29238075
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002093770A Expired - Fee Related JP4171238B2 (ja) | 2002-03-29 | 2002-03-29 | 過熱検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4171238B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005347377A (ja) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Ricoh Co Ltd | 過熱保護回路を備えた半導体集積回路 |
| JP4752904B2 (ja) * | 2008-12-09 | 2011-08-17 | 日本電気株式会社 | 温度測定回路、及び、方法 |
-
2002
- 2002-03-29 JP JP2002093770A patent/JP4171238B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2003294542A (ja) | 2003-10-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| MXPA04005093A (es) | Controlador de vehiculo. | |
| CN109426296B (zh) | 温度传感器及侦测温度的方法 | |
| US8908344B2 (en) | Overheating protection circuit | |
| US8371750B2 (en) | Physical quantity detecting apparatus | |
| US5543996A (en) | Protective circuit for protecting transistor from thermal destruction | |
| WO2020003842A1 (ja) | 電流検出装置 | |
| JP4641164B2 (ja) | 過熱検出回路 | |
| TWI405380B (zh) | 過電壓與過溫度偵測電路 | |
| US20060152875A1 (en) | Overcurrent protection device | |
| JP5310219B2 (ja) | 物理量検出装置 | |
| JP4171238B2 (ja) | 過熱検出回路 | |
| JP2000258257A (ja) | 温度判定方法および装置 | |
| JP2017198537A (ja) | 過電流検出回路 | |
| JP3818197B2 (ja) | 複数の過熱検出回路を有する回路装置 | |
| US20030052705A1 (en) | Circuit configuration for the voltage supply of a two-wire sensor | |
| CN113396321B (zh) | Mosfet过热检测 | |
| JP2000241252A (ja) | 温度検出回路 | |
| JPH11340459A (ja) | 温度検出回路 | |
| JP4284790B2 (ja) | 半導体モジュールの温度検出装置 | |
| JPS6365894B2 (ja) | ||
| JPS5853730A (ja) | 熱検知回路 | |
| JP3751822B2 (ja) | 電源装置 | |
| JPH1186177A (ja) | ２線式信号伝送器 | |
| JP2022192015A (ja) | 半導体装置 | |
| JP2001147163A (ja) | 半導体素子の温度検出装置及び温度検出方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040601 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051125 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051206 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060113 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060613 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080808 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110815 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120815 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130815 Year of fee payment: 5 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |