TWI405380B - 過電壓與過溫度偵測電路 - Google Patents

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TWI405380B
TWI405380B TW098144328A TW98144328A TWI405380B TW I405380 B TWI405380 B TW I405380B TW 098144328 A TW098144328 A TW 098144328A TW 98144328 A TW98144328 A TW 98144328A TW I405380 B TWI405380 B TW I405380B
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0084Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring voltage only
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/0203Particular design considerations for integrated circuits
    • H01L27/0248Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection

Description

過電壓與過溫度偵測電路
本案係關於一種偵測電路,尤指一種過電壓與過溫度偵測電路。
近年來隨著科技的進步,具有各式各樣不同功能的電子產品已逐漸被研發出來,這些具有各式各樣不同功能的電子產品不但滿足了人們的各種不同需求,更融入每個人的日常生活,使得人們生活更為便利。
這些各式各樣不同功能的電子產品係由各種電子元件所組成,每一個電子元件需要在適當的電壓與溫度下才能正常運作,因此,設計人員會依據各個電子元件的特性設計適當的電壓值與散熱器,使電子產品可以正常運作。然而,電子元件的運作溫度會隨著環境溫度上升而對應上升,供電系統提供的電壓會因為雷擊或其他設備啟動運轉影響而忽然上升,這些情況都有可能導致電子元件在過高的電壓或溫度狀況下運作,導致電子元件運作不正常甚至損壞。
為了防止因為過高的電壓或溫度,使電子元件不正常運作或損壞,需要分別利用過電壓偵測電路(over voltage protection circuit,OVP circuit)與過溫度偵測電路(over temperature protection circuit,OTP circuit)即時監測電子元件電壓與溫度,當溫度或電壓過高時,才可以立即停止電子產品運作。
由於傳統過電壓偵測電路與過溫度偵測電路分別為獨立且較複雜的電路,電子產品需要分別設置電路較複雜的傳統過電壓偵測電路與過溫度偵測電路,不但會增加整體電路的複雜度,更會使得成本與體積增加,無法符合現今小型電子產品的要求。
因此,如何發展一種可改善上述習知技術缺失之過電壓與過溫度偵測電路,實為相關技術領域者目前所迫切需要解決之問題。
本案之目的在於提供一種過電壓與過溫度偵測電路,用以同時監測電子元件溫度與電壓是否分別超過上限值,非分別獨立的過電壓偵測電路與過溫度偵測電路,其電路較為簡單,不但可以降低整體電路的複雜度,更會使得成本與體積降低,符合現今小型電子產品的要求。
為達上述目的,本案之一較廣義實施態樣為提供一種過電壓與過溫度偵測電路,以監測溫度與第一電壓是否分別超過溫度上限值與電壓上限值,過電壓與過溫度偵測電路包含:電壓限制電路,連接於第一電壓之端點與偵測端之間,以限制及控制第一電壓之電能經由電壓限制電路傳送至偵測端之電能大小;溫度感測電路,連接於偵測端與共接端之間,且溫度感測電路之等效電阻隨著溫度而變化;電流源電路,連接於偵測端,以提供第一電流至偵測端,使偵測端產生偵測電壓;第一比較電路,連接於偵測端且接收第一參考電壓值,以比較偵測電壓之電壓值與第一參考電壓值,而對應產生溫度狀態訊號;以及第二比較電路,連接於偵測端且接收第二參考電壓值,以比較偵測電壓之電壓值與第二參考電壓值,而對應產生電壓狀態訊號;其中,當溫度大於溫度上限值時,溫度狀態訊號為致能狀態,當第一電壓之電壓值大於電壓上限值時,電壓狀態訊號為致能狀態。
體現本案特徵與優點的一些典型實施例將在後段的說明中詳細敘述。應理解的是本案能夠在不同的態樣上具有各種的變化,其皆不脫離本案的範圍,且其中的說明及圖示在本質上係當作說明之用,而非用以限制本案。
請參閱第一圖,其係為本案較佳實施例之過電壓與過溫度偵測電路之電路示意圖。如第一圖所示,過電壓與過溫度偵測電路1用以同時監測溫度與第一電壓Vcc 是否分別超過溫度上限值與電壓上限值,該過電壓與過溫度偵測電路1包含電壓限制電路11、溫度感測電路12、電流源電路13、第一比較電路14、第二比較電路15。於本實施例中,電壓限制電路11可以是但不限為齊納二極體Dz (Zener diode),連接於第一電壓Vcc 之端點(未圖示)與偵測端Ka 之間,且具有限制電壓值Vz ,用以限制及控制第一電壓Vcc 之電能經由電壓限制電路11傳送至偵測端Ka 之電能大小。
於本實施例中,溫度感測電路12可以是但不限為第一負溫度係數電阻RT (negative temperature coefficientthermister,NTC Thermister),連接於偵測端Ka 與共接端COM之間,因此溫度感測電路12之等效電阻會隨著溫度而變化。電流源電路13連接於偵測端Ka ,用以接收第二電壓VDD 之電能而產生第一電流I1 至偵測端Ka ,使偵測端Ka 產生偵測電壓Va
於本實施例中,第一比較電路14與第二比較電路15分別可以是但不限為第一運算放大器OP1(Operational amplifier,OP)與第二運算放大器OP2,第一運算放大器OP1的正輸入端接收第一參考電壓值Vref1 ,負輸入端連接於偵測端Ka ,用以比較偵測電壓Va 之電壓值與第一參考電壓值Vref1 ,而對應產生溫度狀態訊號SOTP 。第二運算放大器OP2的負輸入端接收第二參考電壓值Vref2 ,正輸入端連接於偵測端Ka ,用以比較偵測電壓Va 之電壓值與第二參考電壓值Vref2 ,而對應產生電壓狀態訊號SOVP
當溫度T上升時,第一負溫度係數電阻RT 之電阻值會對應下降,所以溫度感測電路12之等效電阻亦會隨之降低,對應使偵測電壓Va 之電壓值降低。相反地,當溫度T下降時,第一負溫度係數電阻RT 之電阻值會對應上升,所以溫度感測電路12之等效電阻亦會隨之上升,對應使偵測電壓Va 之電壓值上升。
至於,電壓限制電路11則是利用限制電壓值Vz ,限制及控制第一電壓Vcc 之電能是否經由電壓限制電路11傳送至偵測端Ka ,而改變偵測電壓Va 之電壓值與流入溫度感測電路12之第二電流I2 大小。當第一電壓Vcc 之電壓值上升而大於限制電壓值Vz 時,第一電壓Vcc 之電能會經由齊納二極體Dz 傳送至偵測端Ka ,使第二電流I2 之電流值與偵測電壓Va 之電壓值上升,此時,偵測電壓Va 與第一電壓Vcc 間之電壓差值為限制電壓值Vz 。相反地,當第一電壓Vcc 之電壓值下降而小於限制電壓值Vz 時,齊納二極體Dz 會停止第一電壓Vcc 之電能通過,使第一電壓Vcc 之電能無法通過齊納二極體Dz 至偵測端Ka ,此時第二電流I2 會等於第一電流I1
請參閱第二圖並配合第一圖,第二圖係為本案較佳實施例之過電壓與過溫度偵測電路之偵測電壓之對應關係示意圖。如第二圖所示,依第一參考電壓值Vref1 與第二參考電壓值Vref2 將偵測電壓Va 於不同電壓值對應區分為第一區A1、第二區A2以及第三區A3。第一區A1與第三區A3分別代表第一電壓Vcc 之電壓值超過電壓上限值與溫度T超過溫度上限值,而第二區A2則代表溫度T未超過溫度上限值且第一電壓Vcc 之電壓值未超過電壓上限值之正常狀況。
當溫度T上升而超過溫度上限值時,偵測電壓Va 之電壓值會對應低於第一參考電壓值Vref1 ,在第三區A3變化,經由第一運算放大器OP1判斷將溫度狀態訊號SOTP 改變為高電位的致能狀態(Enable)。相反地,當溫度T降低而未超過溫度上限值時,偵測電壓Va 之電壓值會對應高於第一參考電壓值Vref1 ,未在第三區A3變化,經由第一運算放大器OP1判斷將溫度狀態訊號SOTP 改變為低電位的禁能狀態(disable)。
當第一電壓Vcc 之電壓值上升而超過電壓上限值時,偵測電壓Va 之電壓值會對應高於第二參考電壓值Vref2 ,在第一區A1變化,經由第二運算放大器OP2判斷將電壓狀態訊號SOVP 改變為高電位的致能狀態。相反地,當第一電壓Vcc 之電壓值降低而未超過電壓上限值時,偵測電壓Va 之電壓值會對應低於第二參考電壓值Vref2 ,未在第一區A1變化,經由第二運算放大器OP2判斷將電壓狀態訊號SOVP 改變為低電位的禁能狀態。
請參閱第三圖並配合第一圖,第三圖係為本案另一較佳實施例之過電壓與過溫度偵測電路之電路示意圖。第三圖與第一圖不同之處在於第三圖之第一比較電路14與第二比較電路15分別更包含第一去彈跳電路141(debounce)與第二去彈跳電路151,用以防止因雜訊造成溫度狀態訊號SOTP 或電壓狀態訊號SOVP 對應為錯誤的狀態。其中,第一去彈跳電路141連接於第一運算放大器OP1的輸出,而第二去彈跳電路151連接於第二運算放大器OP2的輸出。至於,第三圖之過電壓與過溫度偵測電路1之運作原理同於第一圖,在此不再贅述。
請參閱第四圖A並配合第一圖,第四圖A係為本案較佳實施例之過電壓與過溫度偵測電路之另一偵測電壓之對應關係示意圖。如第四圖A所示,當溫度T為超過溫度上限值之第三溫度值T3 時,溫度感測電路12之等效電阻會降低,使偵測電壓Va 之電壓值對應為低於第一參考電壓值Vref1 之第一偵測電壓值Va1 ,溫度狀態訊號SOTP 會對應為致能狀態。當溫度T由第三溫度值T3 大幅下降為低於過溫度下限值之第一溫度值T1 時,溫度感測電路12之等效電阻會對應上升,使偵測電壓Va 之電壓值為高於第一參考電壓值Vref1 與第二參考電壓值Vref2 之第二偵測電壓值Va2 ,而溫度狀態訊號SOTP 會對應由致能狀態改變為禁能狀態。然而,此時不論第一電壓Vcc 之電壓值是否超過電壓上限值,高於第二參考電壓值Vref2 之第二偵測電壓值Va2 卻已經會使電壓狀態訊號SOVP 改變為致能狀態。
為防止上述問題產生,除了選用適當的第一負溫度係數電阻RT 外,亦可以將第二電壓VDD 之電壓值設定為小於第二參考電壓值Vref2 之第一電壓設定值Vx1 。請參閱第四圖A並配合第四圖B與第一圖,第四圖B係為本案較佳實施例之過電壓與過溫度偵測電路之另一偵測電壓之對應關係示意圖。如第四圖B所示,將第二電壓VDD 之電壓值設定為小於第二參考電壓值Vref2 之第一電壓設定值Vx1 後,在第一電壓Vcc 之電壓值未超過電壓上限值的情況下,當溫度T大幅下降而未超過溫度上限值且小於第二溫度值T2 時,溫度感測電路12之等效電阻雖然會持續上升,但是偵測電壓Va 之電壓值卻不會再隨之上升,而是維持在第一電壓設定值Vx1 以下。由於,第一電壓設定值Vx1 小於第二參考電壓值Vref2 ,因此不會造成電壓狀態訊號SOVP 改變為致能狀態之錯誤。
於一些實施例中,本案之過電壓與過溫度偵測電路1係選用適當的第一負溫度係數電阻RT ,而第一電壓Vcc 與第二電壓VDD 之額定電壓值設計為相等,即可以使本案之過電壓與過溫度偵測電路1正確運作。此外於一些實施例中,過電壓與過溫度偵測電路1之電流源電路13可以選用定電流式,第一電流I1 之電流值為固定值,再依上述方法防止因溫度T持續大幅下降造成電壓狀態訊號SOVP 改變為致能狀態之錯誤。於一些實施例中,電流源電路13為可變電流式,第一電流I1 之電流值為非固定值,而是因應第二參考電壓值Vref2 而變化,因此,在第一電壓Vcc 之電壓值未超過電壓上限值的情況下,即使溫度T持續大幅下降,電流源電路13會將偵測端Ka 之電壓值限制在第二參考電壓值Vref2 以下,不會造成電壓狀態訊號SOVP 改變為致能狀態之錯誤。另外於一些實施例中,電流源電路13為可變電流式,第一電流I1 之電流值亦非固定值,但是第一電流I1 之電流值是隨著溫度T變化,因此,在第一電壓Vcc 之電壓值未超過電壓上限值的情況下,即使溫度T持續大幅下降,電流源電路13一樣會將偵測端Ka 之電壓值制限在第二參考電壓值Vref2 以下,不會造成電壓狀態訊號SOVP 改變為致能狀態之錯誤。
請參閱第五圖並配合第一圖,第五圖係為本案另一較佳實施例之過電壓與過溫度偵測電路之電路示意圖。第五圖與第一圖不同之處在於第五圖之過電壓與過溫度偵測電路1更包含第一開關Q1 ,連接於偵測端Ka 與電流源電路13的輸出之間。由於第一開關Q1 的控制端接收小於第二參考電壓值Vref2 之第二電壓設定值Vx2 ,因此第一開關Q1 的控制端與第一開關Q1 連接之偵測端Ka 之間不可以小於第一開關Q1 的最小導通電壓值Vth ,對應使偵測端Ka 之偵測電壓Va 之電壓值小於第二參考電壓值Vref2 。由此可知,利用此方式一樣可以防止因溫度T持續大幅下降造成電壓狀態訊號SOVP 改變為致能狀態之錯誤。於一些實施例中,第五圖之第二電壓設定值Vx2 非設定為小於第二參考電壓值Vref2 ,而是設定為小於第二參考電壓值Vref2 減第一開關Q1 的最小導通電壓值Vth ,其關係式為
V x 2 <V ref 2 -V th  ............(1)。
於此設定下,偵測電壓Va 之電壓值一樣可以小於第二參考電壓值Vref2 ,而防止因溫度T持續大幅下降造成電壓狀態訊號SOVP 改變為致能狀態之錯誤。至於,第五圖之過電壓與過溫度偵測電路1之運作原理同於第一圖,在此不再贅述。
請參閱第六圖並配合第一圖,第六圖係為本案另一較佳實施例之過電壓與過溫度偵測電路之電路示意圖。第六圖與第一圖不同之處在於第六圖之溫度感測電路12除了包含第一負溫度係數電阻RT 外更包含第二負溫度係數電阻RG ,與第一負溫度係數電阻RT 串聯連接,因此,溫度感測電路12之等效電阻為第一負溫度係數電阻RT 與第二負溫度係數電阻RG 之電阻值相加。由於,第一負溫度係數電阻RT 與第二負溫度係數電阻RG 之溫度係數彼此不相同,所以可以改善單一個第一負溫度係數電阻RT 時,因其溫度係數過大,溫度T持續下降會造成電壓狀態訊號SOVP 改變為致能狀態之錯誤。舉例而言,溫度係數較大之第一負溫度係數電阻RT 於25度與125度時之電阻值分別為12k歐姆(Ω,Ohm)與470k歐姆,兩者之間相差40倍,利用溫度係數較小之第二負溫度係數電阻RG 與第一負溫度係數電阻RT 串聯連接,可以使溫度感測電路12之等效電阻於25度與125度時之電阻值分別為212k歐姆與636k歐姆,兩者之間僅相差3倍。至於,第六圖之過電壓與過溫度偵測電路1之運作原理同於第一圖,在此不再贅述。
於一些實施例中,溫度感測電路12更可以只包含單一個隨溫度變化之第一負溫度係數電阻RT 以及至少一個不隨溫度變化之電阻,再藉由彼此連接構成溫度感測電路12,不論連接關係為何,此溫度感測電路12之等效電阻亦會隨著溫度而變化。上述之第一開關Q1 可以是但不限定為雙載體電晶體(Bipolar Junction Transistor,BJT)或場效電晶體(Field-Effect Transistor,FET)。
綜上所述,本案之過電壓與過溫度偵測電路可同時監測電子元件溫度與電壓是否分別超過上限值,其不同於傳統之電路,非分別獨立的過電壓偵測電路與過溫度偵測電路,電路較為簡單,不但可以降低整體電路的複雜度,更使得成本與體積降低,符合現今小型電子產品的要求。
本案得由熟習此技術之人士任施匠思而為諸般修飾,然皆不脫如附申請專利範圍所欲保護者。
1...過電壓與過溫度偵測電路
11...電壓限制電路
12...溫度感測電路
13...電流源電路
14...第一比較電路
15...第二比較電路
141...第一去彈跳電路
151...第二去彈跳電路
OP1...第一運算放大器
OP2...第二運算放大器
RT ...第一負溫度係數電阻
RG ...第二負溫度係數電阻
Q1 ...第一開關
COM...共接端
Dz ...齊納二極體
Ka ...偵測端
Vcc ...第一電壓
VDD ...第二電壓
Vz ...限制電壓值
Va ...偵測電壓
Vref1 ...第一參考電壓值
Vref2 ...第二參考電壓值
Va1 ...第一偵測電壓值
Va2 ...第二偵測電壓值
Vx1 ...第一電壓設定值
Vx2 ...第二電壓設定值
SOTP ...溫度狀態訊號
SOVP ...電壓狀態訊號
I1 ...第一電流
I2 ...第二電流
A1~A3...第一~三區
T1 ~T3 ...第一~第三溫度值
T...溫度
第一圖:係為本案較佳實施例之過電壓與過溫度偵測電路之電路示意圖。
第二圖:係為本案較佳實施例之過電壓與過溫度偵測電路之偵測電壓之對應關係示意圖。
第三圖:係為本案另一較佳實施例之過電壓與過溫度偵測電路之電路示意圖。
第四圖A:係為本案較佳實施例之過電壓與過溫度偵測電路之另一偵測電壓之對應關係示意圖。
第四圖B:係為本案較佳實施例之過電壓與過溫度偵測電路之另一偵測電壓之對應關係示意圖。
第五圖:係為本案另一較佳實施例之過電壓與過溫度偵測電路之電路示意圖。
第六圖:係為本案另一較佳實施例之過電壓與過溫度偵測電路之電路示意圖。
1...過電壓與過溫度偵測電路
11...電壓限制電路
12...溫度感測電路
13...電流源電路
14...第一比較電路
15...第二比較電路
OP1...第一運算放大器
OP2...第二運算放大器
RT ...第一負溫度係數電阻
COM...共接端
Dz ...齊納二極體
Ka ...偵測端
Vcc ...第一電壓
VDD ...第二電壓
Vz ...限制電壓值
Va ...偵測電壓
Vref1 ...第一參考電壓值
Vref2 ...第二參考電壓值
SOTP ...溫度狀態訊號
SOVP ...電壓狀態訊號
I1 ...第一電流
I2 ...第二電流

Claims (25)

  1. 一種過電壓與過溫度偵測電路,以監測一溫度與一第一電壓是否分別超過一溫度上限值與一電壓上限值,該過電壓與過溫度偵測電路包含:一電壓限制電路,連接於該第一電壓之端點與一偵測端之間,以限制及控制該第一電壓之電能經由該電壓限制電路傳送至該偵測端之電能大小;一溫度感測電路,連接於該偵測端與一共接端之間,且該溫度感測電路之等效電阻隨著溫度而變化;一電流源電路,連接於該偵測端,以提供一第一電流至該偵測端,使該偵測端產生一偵測電壓;一第一比較電路,連接於該偵測端且接收一第一參考電壓值,以比較該偵測電壓之電壓值與該第一參考電壓值,而對應產生一溫度狀態訊號;以及一第二比較電路,連接於該偵測端且接收一第二參考電壓值,以比較該偵測電壓之電壓值與該第二參考電壓值,而對應產生一電壓狀態訊號;其中,當該溫度大於該溫度上限值時,該溫度狀態訊號為致能狀態,當該第一電壓之電壓值大於該電壓上限值時,該電壓狀態訊號為致能狀態。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之過電壓與過溫度偵測電路,其中該電壓限制電路具有一限制電壓值,當該第一電壓之電壓值小於該限制電壓值時,該電壓限制電路停止該第一電壓之電能通過,使該第一電壓之電能無法通過該電壓限制電路至該偵測端。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之過電壓與過溫度偵測電路,當該第一電壓之電壓值上升而大於該限制電壓值時,該第一電壓之電能會經由該電壓限制電路傳送至該偵測端,使流入該溫度感測電路之一第二電流之電流值與該偵測電壓之電壓值上升。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之過電壓與過溫度偵測電路,當該第一電壓之電壓值下降而小於該限制電壓值時,該電壓限制電路會停止該第一電壓之電能通過,使該第一電壓之電能無法通過該電壓限制電路至該偵測端,其中該第二電流等於該第一電流。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之過電壓與過溫度偵測電路,其中該電壓限制電路為一齊納二極體,連接於該第一電壓之端點與該偵測端之間,以限制及控制該第一電壓之電能經由該電壓限制電路傳送至該偵測端之電能大小。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之過電壓與過溫度偵測電路,當該溫度上升時,該溫度感測電路之等效電阻對應下降,對應使該偵測電壓之電壓值降低。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之過電壓與過溫度偵測電路,當該溫度下降時,該溫度感測電路之等效電阻對應上升,對應使該偵測電壓之電壓值上升。
  8. 如申請專利範圍第6項所述之過電壓與過溫度偵測電路,其中該溫度感測電路為包含一第一負溫度係數電阻,連接於該偵測端與該共接端之間。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之過電壓與過溫度偵測電路,其中該溫度感測電路更包含一第二負溫度係數電阻,與該第一負溫度係數電阻串聯連接。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之過電壓與過溫度偵測電路,其中該溫度感測電路包含一隨溫度變化之電阻以及至少一個不隨負溫度變化之電阻,彼此連接構成該溫度感測電路。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之過電壓與過溫度偵測電路,其中該第一比較電路包含一第一運算放大器,該第一運算放大器的正輸入端接收該第一參考電壓值,該第一運算放大器的負輸入端連接於該偵測端,以比較該偵測電壓之電壓值與該第一參考電壓值,而對應產生該溫度狀態訊號。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之過電壓與過溫度偵測電路,當該溫度上升而超過該溫度上限值時,該偵測電壓之電壓值會低於該第一參考電壓值,經由該第一運算放大器判斷將該溫度狀態訊號改變為致能狀態。
  13. 如申請專利範圍第11項所述之過電壓與過溫度偵測電路,當該溫度降低而未超過該溫度上限值時,該偵測電壓之電壓值會高於該第一參考電壓值,經由該第一運算放大器判斷將該溫度狀態訊號改變為禁能狀態。
  14. 如申請專利範圍第11項所述之過電壓與過溫度偵測電路,其中該第一比較電路更包含一第一去彈跳電路,連接於該第一運算放大器的輸出,以防止因雜訊造成該溫度狀態訊號對應為錯誤的狀態。
  15. 如申請專利範圍第1項所述之過電壓與過溫度偵測電路,其中該第二比較電路包含一第二運算放大器,該第二運算放大器的負輸入端接收該第二參考電壓值,該第二運算放大器的正輸入端連接於該偵測端,以比較該偵測電壓之電壓值與該第二參考電壓值,而對應產生該電壓狀態訊號。
  16. 如申請專利範圍第15項所述之過電壓與過溫度偵測電路,當該第一電壓之電壓值上升而超過該電壓上限值時,該偵測電壓之電壓值會高於該第二參考電壓值,經由該第二運算放大器判斷將該電壓狀態訊號改變為致能狀態。
  17. 如申請專利範圍第16項所述之過電壓與過溫度偵測電路,當該第一電壓之電壓值降低而未超過該電壓上限值時,該偵測電壓之電壓值會低於該第二參考電壓值,經由該第二運算放大器判斷將該電壓狀態訊號改變為禁能狀態。
  18. 如申請專利範圍第15項所述之過電壓與過溫度偵測電路,該第二比較電路更包含一第二去彈跳電路,連接於該第二運算放大器的輸出,以防止因雜訊造成該電壓狀態訊號對應為錯誤的狀態。
  19. 如申請專利範圍第1項所述之過電壓與過溫度偵測電路,其中該電流源電路為定電流,且接收一第二電壓之電能而產生固定電流值之該第一電流至該偵測端。
  20. 如申請專利範圍第19項所述之過電壓與過溫度偵測電路,其中該第二電壓之電壓值設定為小於該第二參考電壓值。
  21. 如申請專利範圍第1項所述之過電壓與過溫度偵測電路,更包含一第一開關,連接於該偵測端與該電流源電路的輸出之間,該第一開關的控制端接收一第二電壓設定值。
  22. 如申請專利範圍第21項所述之過電壓與過溫度偵測電路,其中該第二電壓設定值設定為小於該第二參考電壓值減該第一開關的一最小導通電壓值。
  23. 如申請專利範圍第21項所述之過電壓與過溫度偵測電路,其中該第一開關為雙載體電晶體或場效電晶體。
  24. 如申請專利範圍第1項所述之過電壓與過溫度偵測電路,其中該電流源電路為可變電流式,該第一電流之電流值係因應該第二參考電壓值而變化,在該第一電壓之電壓值未超過該電壓上限值的情況下,該偵測端之電壓值限制在該第二參考電壓值以下。
  25. 如申請專利範圍第1項所述之過電壓與過溫度偵測電路,其中該電流源電路為可變電流式,該第一電流之電流值係隨著該溫度變化,在該第一電壓之電壓值未超過該電壓上限值的情況下,該偵測端之電壓值限制在該第二參考電壓值以下。
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