JP4151066B2 - データ収集装置 - Google Patents

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JP4151066B2
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    • G01D9/30Producing one or more recordings, each recording being of the values of two or more different variables there being a separate recording element for each variable, e.g. multiple-pen recorder

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • Recording Measured Values (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はデータ収集装置に関するものであり、詳しくは、複数測定点の測定データを、それぞれの測定対象に応じて異なる測定周期で並行測定できるようにしたものである。
【0002】
【従来の技術】
例えば電気自動車に用いる燃料電池系統の走行特性測定にあたり、発進時や加速時や減速時などにおける燃料電池の温度変化や燃料電池の出力端子発生電圧の変動さらには自動車の電気系統各部に供給される電圧変動などを同時に並行して測定することが考えられる。この場合、温度変化は比較的緩やかであることから測定周期は例えば2秒程度でもよいが、電圧変動は負荷の時定数の大小による影響を受けるものの温度変化に比べれば相当早いので例えば0.1秒の測定周期が必要になる。
【0003】
そこで、このような多点測定用のデータ収集装置として、例えば図15のような構成の装置が実用化されている。図15において、大きなブロックとしてとらえると、装置全体を制御する制御ユニット10と、それぞれにスキャナを介してアナログ入力信号が入力されるA/D変換器を有する3つの測定モジュール20〜40とで構成されている。
【0004】
これら測定モジュール20〜40はサンプリング周期が低速・中速・高速と異なるものであり、例えば測定モジュール20は測定チャンネルCH1〜CH10をサンプリング周期2秒で順次測定するように駆動制御され、測定モジュール30は測定チャンネルCH11〜CH20をサンプリング周期1秒で順次測定するように駆動制御され、測定モジュール40は測定チャンネルCH21〜CH30をサンプリング周期0.1秒で順次測定するように駆動制御される。
【0005】
制御ユニット10において、タイマ11は装置全体の時間関係を管理する。ここでは特に測定インターバル(サンプリング周期)を決めて、制御部12へ割り込みをかける。
【0006】
制御部12は、装置全体を制御する。測定に関しては、タイマ11からの割り込みに従って各測定モジュール20〜40に対してコマンド信号線14を介して測定開始コマンドを送信し、測定が終了した時点でモジュールデータ調停部15を介して各測定モジュール20〜40より測定データを収集し、メモリ13に保存する。
【0007】
コマンド信号線14は、機能としてはコマンド送信時に調停して送信するだけでなく、コマンドを同時に各測定モジュール20〜40へ送信する機能も持つ。
【0008】
モジュールデータ調停部15は、制御部12と各測定モジュール20〜40との間におけるデータ受信の調停を行う。具体的には、バスライン接続方式やシリアル通信を利用し、各測定モジュール20〜40から送信されてくる測定データのタイミングを調停して制御部12へ送る。
【0009】
測定モジュール例えば20において、制御部21は測定モジュール20全体を制御する。すなわち制御部21は、制御部12から送信された測定開始コマンドを受信すると、スイッチ選択部22にスキャナ23を構成するスイッチSW01〜SW10を順次選択駆動するための信号を送る。
【0010】
スイッチ選択部22は、スキャナ23を構成するスイッチSW01〜SW10を順次選択駆動することにより、各測定チャンネルCH1〜CH10のアナログ信号を順次選択的にA/D変換器24に入力する。ここで、A/D変換器24としては例えば積分型を用いる。
【0011】
A/D変換器24は、スキャナ23を介して入力されるアナログ信号をデジタル信号に変換し、測定データとして制御部21に出力する。
【0012】
図15の動作を図16のタイミングチャートを用いて説明する。
(1)制御部12は、タイマ11からの割り込みに従って各測定モジュール20〜40に対してコマンド信号線14を介して同時に測定開始コマンドを送信する。
【0013】
(2)測定開始コマンドを受信した各測定モジュール20〜40の制御部は、測定動作を開始し、それぞれのスイッチ選択部に、それぞれのスキャナを構成するスイッチSW01〜SW10,SW11〜SW20,SW21〜SW30の先頭SW01,SW11,SW21を選択駆動するための信号を送る。
【0014】
(3)各測定モジュール20〜40のA/D変換器は、各スキャナの先頭のスイッチSW01,SW11,SW21が選択駆動されることにより、測定チャンネルCH1,CH11,CH21のアナログ信号をデジタル信号に変換し、変換結果を測定データとして各測定モジュール20〜40の制御部に出力する。
【0015】
(4)各測定モジュール20〜40の制御部は、測定データを制御ユニット10に転送する。
【0016】
(5)制御ユニット10のモジュールデータ調停部15は、各測定モジュール20〜40から送られてくる測定データを調停して受信し、制御部12へ転送する。
【0017】
(6)制御部12は測定データをメモリ13へ保存する。
【0018】
(7)測定チャンネルCH1,CH11,CH21の測定が終わると、各測定モジュール20〜40のスイッチ選択部22はそれぞれ2番目のスイッチSW02,SW12,SW22を選択駆動して測定チャンネルCH2,CH12,CH22の測定を行う。
【0019】
(8)以下、同様な処理をCH10,CH20,CH30まで実行し、初回の測定開始コマンドに基づく一連の測定は終了する。
【0020】
(9)その後は、設定されたサンプリング周期でタイマ11から割り込みが入って測定開始コマンドが送信されることにより、その周期で(1)から(8)までの測定を同様に繰り返す。
【0021】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、このような従来の構成によれば、制御ユニット10から各測定モジュール20〜40へほぼ同時に測定開始コマンドを送信することにより、各測定モジュール20〜40が同じサンプリング周期内で測定データを収集するように駆動している。
【0022】
この結果、装置全体のサンプリング周期は3つの測定モジュール20〜40の中で最も遅い測定モジュール20のサンプリング周期(2秒)になってしまい、
(1)サンプリング周期が1秒の測定モジュール30や0.1秒の測定モジュール40が組み込まれているにも拘わらず2秒の測定しか行えず、それらの能力を十分に発揮させることができない。
(2)複数周期の測定モジュールが組み込まれているにも拘わらず、装置全体として1つのサンプリング周期の測定しかできない。
という問題がある。
【0023】
本発明は、これらの問題点を解決するものであり、複数の測定モジュールで構成されるデータ収集装置において、同時に複数のサンプリング周期によるデータ収集が行えるデータ収集装置を提供することを目的とする。
【0024】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成する請求項1の発明は、
スキャナを介してアナログ入力信号が入力されるA/D変換器を有し、サンプリング周期の異なる複数の測定モジュールを備えたデータ収集装置において、
全体を制御する制御ユニットと、前記各測定モジュールへの測定開始コマンド送信の有無を定めた測定シーケンスの内容を保存するメモリを具備し、
前記制御ユニットは制御部とコマンド制御部を備え、
前記制御部は前記コマンド制御部に測定開始コマンドを出力するタイミングで前記メモリに格納されている前記各測定モジュールへの測定開始コマンド送信の有無を定めた測定シーケンスの内容を確認し、
前記コマンド制御部は前記メモリに格納されている測定シーケンスの内容を測定開始コマンドのタイミングで確認して測定開始コマンドを送信すべき測定モジュールを選択して測定開始コマンドを送信することにより、前記各測定モジュールを任意のサンプリング周期で同時に駆動することを特徴とする。
【0025】
請求項2の発明は、請求項1記載のデータ収集装置において、
A/D変換器として積分型を用い、測定モジュール毎に異なる積分時間を設定して測定対象に合わせたノイズ除去特性を選択することを特徴とする。
【0026】
請求項3の発明は、請求項1記載のデータ収集装置において、
各測定モジュールで用いるA/D変換器は少なくとも測定モジュール内で同一方式であり、比較的低速の測定モジュールでは積分型を用い、中速型の測定モジュールでは逐次比較型を用い、高速測定モジュールではΔ−Σ型を用いることを特徴とする
【0032】
これらにより、複数の測定モジュールで構成されされたデータ収集装置において、それぞれの測定モジュールに最適な複数のサンプリング周期による同時データ収集を行うことができる。
【0033】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は本発明の実施の形態の一例を示すデータ収集装置のブロック図であり、図15と共通する部分には同一の符号を付けている。
図1において、制御ユニット10には、図15のタイマ11、制御部12、メモリ13、コマンド信号線14およびモジュールデータ調停部15に加えて、コマンドメモリ16およびコマンド制御部17が接続されている。
【0034】
コマンドメモリ16には、測定開始の前に、測定シーケンスの内容が保存される。ここで測定シーケンスとは、測定開始コマンドを送信するタイミングにおいて、どの測定モジュールに測定開始コマンドを送信するのか、すなわち各測定モジュール毎への測定開始コマンド送信の有無を定めたものをいう。例えば最も遅いサンプリング周期の測定モジュール20のサンプリング周期を1サイクルとして、その間それよりも短いサンプリング周期の測定モジュール30,40に対してどのタイミングで測定開始コマンドを送信するのかのシーケンスを制御部12で計算し、その結果を例えば図2のようなテーブル形式でコマンドメモリ16へ保存しておく。
【0035】
コマンド制御部17は、制御部12から出力される測定開始コマンドのタイミングでコマンドメモリ16に格納されている測定シーケンスの内容を確認し、測定開始コマンドを送信すべき測定モジュールを選択して測定開始コマンドを送信する。
【0036】
図1および図2の例では、測定モジュール20のサンプリング周期は2秒になっているので、制御ユニット10は20回の測定のうち1回目の測定時にのみ測定開始コマンドを送信する。測定モジュール30のサンプリング周期は1秒になっているので、制御ユニット10は1回目と11回目の測定時に測定開始コマンドを送信する。そして、測定モジュール40のサンプリング周期は0.1秒になっているので、制御ユニット10は毎回測定時に測定開始コマンドを送信する。
【0037】
図3は図1および図2の組み合わせにおける動作を示すタイミングチャートである。1回目の測定のための測定開始コマンドMC1は、各測定モジュール20〜40に入力される。各測定モジュール20〜40のスイッチは、順次1つずつ選択的に駆動される。すなわち、測定モジュール20ではスイッチSW01〜SW10がサンプリング周期2秒で順次選択的に駆動され、測定モジュール30ではスイッチSW11〜SW20がサンプリング周期1秒で順次選択的に駆動され、測定モジュール40ではスイッチSW21〜SW30がサンプリング周期0.1秒で順次選択的に駆動される。
【0038】
2回目の測定のための測定開始コマンドMC2は1回目の測定が終わった測定モジュール40のみに入力され、測定モジュール40のスイッチSW21〜SW30はサンプリング周期0.1秒で順次選択的に駆動される。
【0039】
3回目の測定のための測定開始コマンドMC3は1回目の測定が終わった測定モジュール30と2回目の測定が終わった測定モジュール40に入力され、測定モジュール30のスイッチSW11〜SW20はサンプリング周期1秒で順次選択的に駆動され、測定モジュール40のスイッチSW21〜SW30はサンプリング周期0.1秒で順次選択的に駆動される。
【0040】
4回目の測定のための測定開始コマンドMC4は1回目の測定が終わった測定モジュール20と2回目の測定が終わった測定モジュール30と3回目の測定が終わった測定モジュール40に入力され、測定モジュール20のスイッチSW01〜SW10はサンプリング周期2秒で順次選択的に駆動され、測定モジュール30のスイッチSW11〜SW20はサンプリング周期1秒で順次選択的に駆動され、測定モジュール40のスイッチSW21〜SW30はサンプリング周期0.1秒で順次選択的に駆動される。
【0041】
図4は制御ユニット10の動作を説明するフローチャート、図5は測定モジュール20の動作を説明するフローチャートである。
図4において、制御ユニット10の制御部12はコマンドメモリ16に保存されている測定シーケンスデータに基づき測定シーケンスを設定する(SP1)。
【0042】
続いて制御部12はタイマ11からの割込みの有無を確認し(SP2)、割込みがあった場合には測定開始コマンドを発行する(SP3)。
【0043】
制御部12は測定開始コマンドを発行すると、コマンドメモリ16に保存されている測定シーケンスデータに基づき測定シーケンスを確認する(SP4)。
【0044】
コマンド制御部17は、選択されている測定モジュールに測定開始コマンドを送信する(SP5)。
【0045】
モジュールデータ調停部15は各測定モジュール20〜40について測定データの有無を判断する(SP6)。そして、制御部12は各測定モジュール20〜40の測定データをメモリ13に格納する(SP7〜9)。
【0046】
これらステップSP6〜9の動作を全測定データを受信し終えるまで繰り返して実行し、全測定データを受信し終えたらステップSP2に戻って次の測定動作を実行する(SP10)。
【0047】
一方、図5において、測定モジュール例えば20は測定開始コマンド待機状態にある(SP1)。測定開始コマンドを受信すると(SP2)、測定動作を開始する(SP3)。まずスイッチSW01をオンにし(SP4)、測定チャンネルCH1のアナログ測定信号についてA/D変換を開始する(SP5)。A/D変換が完了したら(SP5)、測定チャンネルCH1の測定データを制御ユニット10に転送する(SP7)。
【0048】
続いて、スイッチSW02をオンにし(SP8)、測定チャンネルCH2のアナログ測定信号についてA/D変換を開始する(SP9)。A/D変換が完了したら(SP10)、測定チャンネルCH2の測定データを制御ユニット10に転送する(SP11)。
【0049】
以下同様なステップをスイッチSW10/測定チャンネルCH10まで繰り返して実行した後、測定開始コマンド待機状態に戻る(SP1)。
【0050】
このように構成することにより、同一の装置あるいはシステムに、サンプリング周期の異なる複数の測定モジュールを組み込むことができ、相互にサンプリング周期の影響を受けることなく、各測定モジュールの性能を十分に生かした測定が行える。
【0051】
具体的には、前述のような電気自動車燃料電池系統の走行特性測定にあたり、各部の温度変化の測定周期を例えば2秒とし、電圧変動の測定周期を例えば0.1秒として測定できる。
【0052】
さらに、A/D変換器として積分型を用いる場合には、各測定モジュール毎に異なる積分時間が設定できるので、測定対象に合わせたノイズ除去特性を選択できる。
【0053】
なお、上記実施例では、スキャナと積分型のA/D変換器を用いる例を説明したが、例えば図6に示すように各測定チャンネルCH1〜CH8にそれぞれ逐次比較型A/D変換器51〜51を設けるようにしてもよい。図6の例では、測定モジュール50はサンプリング周期が1msの低速モジュールとし、測定モジュール60はサンプリング周期が100μsの中速モジュールとし、測定モジュール70はサンプリング周期が10μsの高速モジュールとしている。
【0054】
図7は図6の動作を説明するタイミングチャートである。
図7に示すように、最もサンプリング周期の短い(10μs)測定モジュール70に合わせ全測定モジュール50〜70の測定を行って全測定データを各測定モジュールのメモリ(例えば測定モジュール50はメモリ53)に格納する。そして、測定後に、各測定モジュールの制御部(例えば測定モジュール50は制御部51)は、設定サンプリング周期に合わせて必要なデータだけを制御ユニット10に出力する。すなわち、測定モジュール70については全てのデータを出力し、測定モジュール60はサンプリング周期が100μsであることから10個のデータから1個だけを出力し、測定モジュール50はサンプリング周期が1msであることから100個のデータから1個だけを出力する。これら測定データの出力にあたっては、単純に1個だけを抽出して出力してもよいし、該当する測定期間内における測定データの単純平均値や最大頻出値を演算してその結果を出力してもよいし、隣接する測定期間の移動平均値を演算して出力してもよい。
【0055】
図7において、単純に1個だけを抽出して出力する場合には、測定が不要な時間であっても測定が行われるので、特にA/D変換器で電力が無駄に消費されて不要な熱が発生することになる。この問題を回避するためには、各測定モジュール内に個別にサンプリング周期を設定するためのタイマを設け、図8に示すように各測定モジュール毎に必要なサンプリング周期で測定するように駆動すればよい。
【0056】
図8のタイミングチャートのように各測定モジュール内に個別にサンプリング周期を設定するためのタイマを設けることにより、その測定モジュールの性能に合わせたサンプリング周期での測定が実現できる。
【0057】
図9は本発明の他の実施形態例を示すブロック図であり、図1と共通する部分には同一の符号を付けてそれらの説明は省略する。図9において、制御ユニット10のコマンドメモリ16およびコマンド制御部17は各測定モジュール20〜40間の測定シーケンスを制御する。
【0058】
一方、各測定モジュール20〜40には、どの測定チャンネルについて測定を実行するのかを制御する機能が組み込まれている。具体的には、測定開始に先立って、制御ユニット10から例えば測定モジュール20のメモリ25に、スイッチSW01〜SW10の測定シーケンスの内容が保存される。測定開始後において、制御部21およびスイッチ選択部22は、測定開始コマンドを受信したタイミングで、メモリ25に保存されている測定シーケンスの内容を照合しながら、指定されている測定チャンネルについて測定を実行するように対応するスイッチを選択的に駆動する。同様に、図示しない測定モジュール30のメモリにはスイッチSW11〜SW20の測定シーケンスの内容が保存され、測定モジュール40のメモリにはスイッチSW21〜SW30の測定シーケンスの内容が保存される。
【0059】
これにより、サンプリング周期の異なる複数の測定モジュールが混在する場合であっても、各測定モジュールをそれぞれの能力を十分に発揮できる最適なサンプリング周期で同時に駆動でき、測定対象に応じて異なるサンプリング周期での同時測定が実現できる。
【0060】
図10も本発明の他の実施形態例を示すブロック図であり、図15と共通する部分には同一の符号を付けてそれらの説明は省略する。図10において、各測定モジュール20〜40には、各測定モジュール内で独自のサンプリング周期で測定するための時間を決めるタイマが設けられている。図10では、測定モジュール20におけるタイマ25を例示している。これらタイマは、各測定モジュールに共通の測定開始コマンドに基づき、所定周期のサンプリングタイミング信号を出力する制御手段であるタイミング回路として機能する。
【0061】
これら各測定モジュール20〜40に設けられているタイマの出力信号の周期は、図11に示すように分周すると装置全体のサンプリング周期(測定モジュール内で最も遅いサンプリング周期)と一致するように設定されている。測定モジュール20のタイマはサンプリング周期が2秒の信号を出力し、測定モジュール30のタイマはサンプリング周期が1秒の信号を出力し、測定モジュール40のタイマはサンプリング周期が0.1秒の信号を出力する。
【0062】
装置全体としては、図12に示すように、測定開始コマンドMCを受信してから各タイマは信号出力を開始し、所定分周分のクロックパルスを出力する。所定数のクロックパルスを出力した後は次の測定開始コマンドを受信するまで待機状態になり、未出力状態になる。各測定モジュール20〜40は、測定開始コマンドMCを受信する毎にクロックパルス出力を繰り返す。
【0063】
図13は図10の制御ユニット10の動作を説明するフローチャート、図14は図10の測定モジュール20の動作を説明するフローチャートである。
図13において、制御ユニット10の制御部12はタイマ11からの割り込みの有無を確認し(SP1)、割り込みがあった場合には測定開始コマンドを発行する(SP2)。これにより、各測定モジュール20〜40に測定開始コマンドMCが送信される(SP3)。
【0064】
制御部12は各測定モジュール20〜40について測定データの有無を判断する(SP4)。そして、制御部12は各測定モジュール20〜40の測定データをメモリ13に格納する(SP5〜7)。
【0065】
これらステップSP4〜7の動作を全測定データを受信し終えるまで繰り返して実行し、全測定データを受信し終えたらステップSP1に戻って次の測定動作を実行する(SP8)。
【0066】
一方、図14において、測定モジュール例えば20のタイマ26は測定開始コマンド待機状態にある(SP1)。測定開始コマンドを受信すると(SP2)、タイマ26はスタートする(SP3)。そして、測定モジュール20の制御部21はタイマ26からの割り込みの有無を確認し(SP4)、割り込みがあった場合には測定動作をスタートさせて(SP5)、まずスイッチSW01をオンにする(SP6)。これにより、測定チャンネルCH1のアナログ測定信号についてA/D変換を開始し(SP7)、A/D変換が完了したら(SP8)、測定チャンネルCH1の測定データを制御ユニット10に転送する(SP9)。
【0067】
続いて、スイッチSW02をオンにし(SP10)、測定チャンネルCH2のアナログ測定信号についてA/D変換を開始する(SP11)。A/D変換が完了したら(SP12)、測定チャンネルCH2の測定データを制御ユニット10に転送する(SP13)。
【0068】
以下同様なステップを、スイッチSW10/測定チャンネルCH10まで繰り返して実行する。なお、次に送信されてくる測定開始コマンドまでの間に測定モジュール独自で測定を繰り返す回数nが前もって設定されている場合には、スイッチSW10/測定チャンネルCH10の測定が完了した時点でその回数Nを確認する(SP14)。所定回数N回に達するまではSP4以降の処理を繰り返して実行し、所定回数N回に達することにより測定開始コマンド待機状態に戻る(SP1)。
【0069】
このように構成することにより、図1と同様に、同一の装置あるいはシステムに、サンプリング周期の異なる複数の測定モジュールを組み込むことができ、相互にサンプリング周期の影響を受けることなく、各測定モジュールの性能を十分に生かした測定が行える。
【0070】
これにより、例えば前述のような電気自動車燃料電池系統の走行特性測定にあたっては、各部の温度変化の測定周期を例えば2秒とし、電圧変動の測定周期を例えば0.1秒として測定できる。
【0071】
さらに、A/D変換器として積分型を用いる場合には、各測定モジュール毎に異なる積分時間が設定できるので、測定対象に合わせたノイズ除去特性を選択できる。
【0072】
なお、図10ではスキャナと積分型のA/D変換器を用いる例を説明したが、図6のような逐次比較型A/D変換器を設けるものでもよい。
【0073】
また、各測定モジュールで用いるA/D変換器は、少なくとも測定モジュール内で同一方式であればよく、比較的低速の測定モジュールでは積分型を用い、中速型の測定モジュールでは逐次比較型を用い、高速測定モジュールではΔ−Σ型を用いたものを組み合わせてもよい。
【0074】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、複数の測定モジュールで構成されたデータ収集装置において、それぞれの測定モジュールに最適な複数のサンプリング周期による同時データ収集を行うことができ、電気自動車に用いる燃料電池系統の走行特性測定をはじめとする各種のデータ収集装置に好適である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の一例を示すブロック図である。
【図2】本発明における測定開始コマンド送信シーケンス説明図である。
【図3】図1の動作を説明するタイミングチャートである。
【図4】図1の制御ユニット10の動作を説明するフローチャートである。
【図5】図1の測定モジュール20の動作を説明するフローチャートである。
【図6】本発明の実施の形態の他の示すブロック図である。
【図7】図6の動作を説明するタイミングチャートである。
【図8】図6の動作を説明するタイミングチャートである。
【図9】本発明の実施の形態の他の示すブロック図である。
【図10】本発明の実施の形態の他の示すブロック図である。
【図11】図10の動作を説明するタイミングチャートである。
【図12】図10の動作を説明するタイミングチャートである。
【図13】図10の制御ユニット10の動作を説明するフローチャートである。
【図14】図10の測定モジュール20の動作を説明するフローチャートである。
【図15】従来のデータ収集装置の一例を示すブロック図である。
【図16】図15の動作を説明するタイミングチャートである。
【符号の説明】
10 制御ユニット
11 タイマ
12 制御部
13,53 メモリ
14 コマンド信号線
15 モジュールデータ調停部
16 コマンドメモリ
17 コマンド制御部
20〜40,50〜70 測定モジュール
21,52 制御部
22 スイッチ選択部
23 スキャナ
24,51 A/D変換器
25 メモリ
26 タイマ

Claims (3)

  1. スキャナを介してアナログ入力信号が入力されるA/D変換器を有し、サンプリング周期の異なる複数の測定モジュールを備えたデータ収集装置において、
    全体を制御する制御ユニットと、前記各測定モジュールへの測定開始コマンド送信の有無を定めた測定シーケンスの内容を保存するメモリを具備し、
    前記制御ユニットは制御部とコマンド制御部を備え、
    前記制御部は前記コマンド制御部に測定開始コマンドを出力するタイミングで前記メモリに格納されている前記各測定モジュールへの測定開始コマンド送信の有無を定めた測定シーケンスの内容を確認し、
    前記コマンド制御部は前記メモリに格納されている測定シーケンスの内容を測定開始コマンドのタイミングで確認して測定開始コマンドを送信すべき測定モジュールを選択して測定開始コマンドを送信することにより、前記各測定モジュールを任意のサンプリング周期で同時に駆動することを特徴とするデータ収集装置。
  2. A/D変換器として積分型を用い、測定モジュール毎に異なる積分時間を設定して測定対象に合わせたノイズ除去特性を選択することを特徴とする請求項1記載のデータ収集装置。
  3. 各測定モジュールで用いるA/D変換器は少なくとも測定モジュール内で同一方式であり、比較的低速の測定モジュールでは積分型を用い、中速型の測定モジュールでは逐次比較型を用い、高速測定モジュールではΔ−Σ型を用いることを特徴とする請求項1記載のデータ収集装置。
JP2002248395A 2002-08-28 2002-08-28 データ収集装置 Expired - Fee Related JP4151066B2 (ja)

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