JP4100640B2 - 冷熱衝撃装置用冷凍機の電子膨張弁制御装置 - Google Patents
冷熱衝撃装置用冷凍機の電子膨張弁制御装置 Download PDFInfo
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、試験室と与えられたパルスで作動する電子膨張弁を備えた冷凍回路の蒸発器で冷却される予冷室とを備え前記試験室の設定温度が少なくとも低温条件を含む温度条件に設定されて測定温度が設定温度になるように制御されることがある冷熱衝撃装置に使用される電子膨張弁制御装置に関し、特に温度昇降時間を短縮する技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
冷熱衝撃装置は、通常高温槽と試験室と低温槽とを備え、試験室と高温槽及び低温槽の間とで交互に空気を切換循環させることにより、試料に熱衝撃を与えるように構成されている。そして、試験室と高温槽を用いた高温さらしや試験室内の空気を外気と循環させる常温さらし中には、低温槽は予め冷却された状態になっているように予冷運転されている。この場合、従来の冷熱衝撃装置では、予冷運転における温度制御を簡単で安定した制御にするために、電子膨張弁に最大パルスより小さい一定パルスを固定的に与えている。
【0003】
ところが、このように電子膨張弁のパルスを固定すると、例えば図5に二点鎖線で示す如く、常温さらしから低温さらしへの移行時に、試験室内の温度と蓄冷器を備えた予冷室の予冷温度とが同程度まで接近する中和温度に到るまでは循環空気の温度が急降下するが、それから設定温度の低温に到達するまでの時間が長くなる。特に試料が発熱する場合にはその傾向が大きくなり、試料に与える熱衝撃効果を低下させるという問題があった。
【0004】
なお、例えば冷蔵庫のように、温度制御部分が一か所であってその部分のみの温度を低温に制御する装置では、電子膨張弁の特定の開度制御方法が提案されている。(特開平5ー141788号公報参照)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は従来技術に於ける上記問題を解決し、冷熱衝撃装置の予冷室の温度制御性を良好に維持すると共に、温度降下時間を短縮して熱衝撃性能を良くする電子膨張弁制御装置を提供することを課題とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記課題を解決するために、試験室と与えられたパルスで作動する電子膨張弁を備えた冷凍回路の蒸発器で冷却される予冷室とを備え前記試験室の設定温度が少なくとも低温条件を含む温度条件に設定されて測定温度が前記設定温度になるように制御されることがある冷熱衝撃装置に使用される電子膨張弁制御装置において、
前記電子膨張弁に与えるパルスを最大のパルスより小さい一定パルスに設定する一定パルス設定部と、前記試験室内の温度を前記低温条件に下げる温度降下時には前記設定温度と前記測定温度との差異に対応して前記一定パルスより大きくなるように変動パルスを算出して前記電子膨張弁に与える変動パルス計算部と、前記試験室内の温度がほぼ一定であるときには前記一定パルスを与え前記温度降下時には前記変動パルスを与えるように前記電子膨張弁に与えるパルスを切り換えるパルス切換部と、を有することを特徴とする。
【0007】
【発明の実施の形態】
図1は本発明を適用した電子膨張弁制御装置及びその関連装置部分の構成例を示し、図2はこれを装着可能な冷熱衝撃装置の本体部分の構造例を示す。
電子膨張弁制御装置が使用される冷熱衝撃装置の本体部分100は、断熱壁101で囲われていて、その内部には、試験室1とその両側に位置する高温槽2及び予冷室である低温槽3とが配設されている。試験室1と各槽2、3との間は、開口部を除いて断熱壁101で仕切られていて、高温槽側及び低温槽側の開口部には、それぞれ循環空気の入口/出口ダンパー11/12及び13/14が装着されている。又、本例では常温さらし用の入口/出口ダンパー15/16設けられていると共に、これらを介して試験室1に外気を出し入れできるように本体外部に図示しない常温さらし用送風機が設けられている。符号17は試験室1の上部に装着された2個の温度センサである。試験室1には電子部品等の試験されるべき試料Wが入れられる。
【0008】
高温槽2及び低温槽3には、それぞれ、高温槽用及び低温槽用の送風機21及び31、それらの駆動モータ21a及び31a、加熱器及び温調用加熱器22及び32、槽内循環用ダクトを形成する仕切板23/33、温度センサ24、34、37、等が設けられている。低温槽には更に、低熱量を保有できる蓄冷器35及び冷凍回路4を構成する蒸発器36が設けられている。なお図1では、高温さらし状態を実線で示し低温さらし状態を二点鎖線で示している。これらの間ではダンパーが切り換えられ、高温空気及び低温空気の循環経路が切り換えられる。
【0009】
冷凍回路4は、前記蒸発器36を除いて図2では図示していないが本体部分100の外部の機械室に配設されていて、冷媒の流れ方向の順に、蒸発器36、圧縮機41、凝縮器42、電子膨張弁43等を主要構造部分として形成されている。電子膨張弁にはパルス信号が与えられ、それに対応した開度で蒸発器36に冷媒が流され、低温槽3が冷却される。
【0010】
電子膨張弁制御装置は、本例では冷熱衝撃装置の本体部分100の外に配設される操作制御盤200に設けられていて、一定パルス設定部5、変動パルス計算部6、パルス切換部7等で構成されている。操作制御盤200には、冷熱衝撃試験のための試験条件設定部201やその他図示しない通常の操作ボタンや制御回路等が設けられている。試験条件設定部201では、高温TH 、低温TL 及び常温TN の入力が可能になっていて、試験条件により、例えば図3のように一定の時間間隔で常温TN と低温TL とが順番に設定され、常温さらし−低温さらしから成る冷熱衝撃試験が行われる。その結果、TH 、TL 及びTN のうちの何れか2つ又は全部の間で、温度をサイクル変動させ、試料Wの冷熱衝撃試験を行うことができる。
【0011】
一定パルス設定部5は、電子膨張弁43に与えるパルスを一定パルスP0 に設定してこれを発信する。この一定パルスP0 は、設定する低温側の温度条件、高−低温の温度差、予冷温度、予冷室の放熱量、温調のための再加熱の熱量等に対応して定められるが、通常の試験条件では最大パルスよりかなり小さい値になっていて、冷凍機は最大冷凍能力より低い能力で運転されている。
【0012】
変動パルス計算部6は、電子膨張弁43に変動パルスPdを与えられるように、試験条件設定部201で設定され前記のように一定サイクルで変動する試験室1の設定温度SVと試験室1内の温度センサ17で実測された測定温度PVとの差異に対応した変動パルスとして、本例では、前記差異に対応して算出される補正パルスPcを前記一定パルスP0 に加えた変動パルスPd=P0 +Pcを算出する。そのため、変動パルス計算部6には、温度センサ17及び試験条件設定部201からそれぞれ測定温度PV及び設定温度SVが送られる。
【0013】
補正パルスPcは適当な方法で計算可能であるが、本例では、
Pc=〔PV−(SV+OF)〕×n −−−−(1)
の式で計算されている。ここで、OFはオフセットで温度のオーバーシュートやアンダーシュートを防止するために設けられ、nは温度差とパルスとの対比係数(パルス数/℃)であり、共に微調整できるようになっている。なお上式によれば、温度降下時にはPcがプラスになり、PdはP0 より大きくなり、電子膨張弁43の開度が大きくなる。
【0014】
なお、上式は温度降下時だけに適用される式であり、変動パルス計算部6は温度降下時だけを対象としたものであってもよいが、本例では、後述するように温度上昇時に対しても同様の式を適用するようにしている。このときには、
Pc=〔PV−(SV−OF)〕×n −−−−(2)
の式で計算される。この場合には、PVがSVより小さくPcがマイナスになるので、OFをマイナスすることにより、温度のオーバーシュートやアンダーシュートが防止される。なお、温度上昇時には上記のようにPcがマイナスになるので、PdはP0 より小さくなり、電子膨張弁43の開度は小さくなる。
【0015】
パルス切換部7は、試験室1内が何れかのさらし温度になってほぼ一定温度で運転されているときには一定パルスP0 を与え、少なくとも試験室1を低温条件TL に温度降下させるときには変動パルスPdを与えるように電子膨張弁43に与えるパルスを切り換える。なお本例では、前記の如く温度上昇時にもPdを用いている。
【0016】
パルス切換部7に与える上記のような切換のための信号としては、SVとPVとの比較値やPVの変化率等、温度変化中と到達後とを区別できる適当な信号が用いられる。本例では、変動パルス計算部6から(PV−SV)の値を受け取り、パルス切換部7でSV≒PV又は絶対値(PV−SV)<αの式によって温度昇降中か温度到達後かを判断している。αは小さい値である。そして、TH 、TL 又はTN の何れかの温度到達後で一定さらし温度になると、一定パルスP0 を通過させて電子膨張弁43に送り、さらし温度間の変動中であれば、P0 に代えてPdを通過させるように切り換える。
【0017】
なお上記では、変動パルスPdを(P0 +Pc)として算出したが、Pd=xP0 のような計算式により、変数xをSVとPVとの差異に対応させて計算することも可能である。又、以上ではSVとPVとの差異として(PV−SV)を用いたが、SV/PVのような他の計算方法を用いることもできる。
【0018】
以上のような電子膨張弁制御装置及びこれが適用される冷熱衝撃装置は次のように運転され、その作用効果が発揮される。
例えば常温−低温間の冷熱衝撃試験では、試験条件設定部201には試験条件として常温さらし温度である常温TN =25℃及び低温さらし温度である低温TL =−65℃を入力する。このときには、ダンパー11〜14が閉まり、常温さらし用空気の入口/出口ダンパー15/16が開き、外部の常温さらし用送風機が外気をダンパー15から試験室1内に送り込んで試料Wに当てつつダンパー16から排出している。高温槽2では送風機21及び加熱器22が運転停止状態になっている。
【0019】
電子膨張弁43には一定パルスP0 が送られ、それに対応した開度で冷媒が流れている。低温槽3内では、送風機31が運転され、空気は蒸発器36で冷却され、加熱器32で加熱されて温調されつつ蓄冷器35を冷却するように内部循環し、内部を−80℃に維持する予冷運転が行われている。加熱器32の出力は温度センサ34の温度検出によって制御されている。この状態では、低温槽3において試料からの発熱負荷がないので、一定パルスP0 に対応した適当な冷凍能力による冷却と再加熱とにより、少ない消費電力で制御性良く予冷温度を保持することができる。
【0020】
この状態で所定時間が経過し、低温さらしに移行すべく設定温度SVが低温TL に設定されると、常温空気入口/出口ダンパー15/16が閉じると共に常温さらし用送風機が停止し、低温槽3への入口/出口ダンパー13/14が開き、送風機31によって予冷された空気が試験室1内に送り込まれる。これにより、試験室1内の温度は急降下し、短時間で中和温度Tmに到達する。
【0021】
一方、SVがTL に設定されることにより、温度センサ17で検出されるPVとの間で大きな温度差(PV−SV)が発生する。これにより、電子膨張弁制御装置の変動パルス計算部6では、式(1)によって補正パルスPc及び変動パルスPd=P0 +Pcが算出される。又、上記温度差が大きくなるため、パルス切換部7ではこれを温度降下中と判断し、P0 をPdに切り換えて通過させる。そして、電子膨張弁43にはP0 より大きく最初はほぼ最大パルスに近いパルスが送られる。その結果、冷凍能力が増大し、試験室1内の温度降下を促進させ、特に前記中和温度Tmより低い範囲においてSVへの到達を早めることになる。この場合、試料Wに発熱負荷があっても、大きな冷凍能力により、発熱負荷を処理しつつ試験室1を迅速に温度降下させることができる。
【0022】
測定温度PVが設定温度SVに到達すると、所定時間の低温さらしが続行されると共に、PV≒SVになることにより、パルス切換部7は設定温度に到達したと判断してPdに代えてP0 を通過させる。温度到達後には、冷凍能力は低温さらしの温度の−80℃を維持するだけで足りるので、このようにパルスを下げて弁開度を絞ることにより、省エネ運転と良好な制御性とを得ることができる。
低温さらし時間が経過すると、常温さらしのために常温TN が設定される。これにより、低温槽3への入口/出口ダンパー13/14が閉じて常温空気入口/出口ダンパー15/16が開くと共に常温さらし用送風機が運転され、常温空気が試験室1内に流れ込んで通過する。これによって試験室1内の温度は急上昇する。
【0023】
一方、SVがTN に設定されることにより、温度センサ17で検出されるPVとの間で大きな温度差(PV−SV)が今度はマイナス値として発生する。これにより、電子膨張弁制御装置の変動パルス計算部6では式(2)によって補正パルスPc及び変動パルスPd=P0 +Pcが算出される。この場合のPcはマイナス値になる。又、上記温度差が大きくなるため、パルス切換部7にはその数値が入れられ、P0 をPdに切り換えて通過させる。そして、電子膨張弁43にはP0 より更に小さい変動パルスPdが送られる。その結果、冷凍能力が減少し、低温槽3では低温さらし温度−65℃からこれより更に低い予冷温度−80℃への移行が緩慢になり、低温槽3の温度低下の抑制によって試験室1の常温への復帰が促進される。又、常温空気による冷凍能力の持ち出しが減り、省エネも図られる。
【0024】
測定温度PVが設定温度SVに到達すると、所定時間の常温さらしが続行されると共に、PV≒SVになることによってパルス切換部7はPdに代えてP0 を通過させる。これにより、設定温度到達後には低温槽3内を予冷するのに適当な冷凍能力に復帰し、次の低温さらしに備えて低温槽が好条件で予冷される。
【0025】
高温−低温間の冷熱衝撃試験でも、同様な方法で試験条件設定部201に試験条件として例えば高温さらし温度TH =160℃及び低温TL =−65℃を入力する。このときには、最初に全てのダンパー11〜16が閉まり、高温槽2では送風機21及び加熱器22が運転され、空気が循環され内部は例えば175℃に予熱される。低温槽3側も前記と同様に予冷される。そして、高温側及び低温側のダンパーが所定時間毎に交互に開閉し、高温さらしと低温さらしとが繰り返し実行される。
【0026】
この場合にも、電子膨張弁制御装置は同様に作動し、試験室1の温度昇降時には電子膨張弁43を変動パルスPdで開閉させ、温度到達後には一定パルスP0 の開度にする。そして、温度到達時間の短縮、ハンチング等のない良好な予冷制御、省エネ等、常温−低温さらしの場合と同様の効果を得ることができる。
【0027】
なお、冷熱衝撃装置では、高温さらし−常温さらしの試験が行われることもあるが、このときには、通常冷凍回路4や低温槽3の諸機器の運転が停止される。但し、運転の継続性等の要請から、冷凍回路の運転を継続させる場合には、本例の電子膨張弁制御装置を適用することが可能である。その場合には、本例の電子膨張弁制御装置による冷凍能力の調整により、高温−常温間の温度移行を間接的に補助することになる。
【0028】
図4は発明者等が行った実験結果の一例を示す。
図において左側の「パルス可変時」は本例の電子膨張弁制御装置を採用した運転結果であり、右側の「パルス固定時」は比較のために行ったと従来の装置による運転結果である。図示の如く、25℃士の常温さらしから−65℃の低温さらしに移行させると、従来の装置では、最大パルスNの70%程度の一定パルスP0 が電子膨張弁に与えられ、温度降下時間が12分であったが、本例の装置では、常温から低温への設定変更後に変動パルスPdが直ちに最大パルスNに近い値まで上昇し、温度降下が促進され、温度降下時間が従来の装置の場合より2分間短縮されて10分になった。その結果、熱衝撃性能の向上と試験時間の短縮を図ることができた。
【0029】
【発明の効果】
以上の如く本発明によれば、電子膨張弁に与えるパルスを一定パルスに設定する一定パルス設定部を備えているので、設定する低温条件に対応して一定パルスを適当な値に固定することにより、予冷室を一定温度にする予冷運転時には、通常設けられる温度制御用の加熱器によって予冷室内の温度を簡単に且つ精度良く制御することができる。又、このときには、予冷室内に試料からの発熱負荷がないので、一定パルスを大きい値にする必要がない。従って運転時の省エネも図られる。
【0030】
又、設定温度と測定温度との差異に対応した変動パルスを算出する変動パルス計算部を設けているので、試験室を例えば常温条件から低温条件に温度降下させるために温度を低温に設定したときには、一定パルスより大きくなるように変動パルスを算出し、これを電子膨張弁に与えてその開度を大きくすることが可能になる。
【0031】
そして、試験室内が一定温度で運転されているときには一定パルスを与え、少なくとも試験室を低温条件に温度降下させるときには変動パルスを与えるように、電子膨張弁に与えるパルスを切り換える切換手段を設けているので、前記の如く予冷室の予冷運転時には、冷凍能力を一定にして、通常予冷室内に設けられる温度制御用の加熱器によって予冷室内の温度を精度良く制御できると共に、温度降下時には、一定パルスより大きくなった変動パルスによって電子膨張弁の開度を大きくして冷凍機の冷却能力を増大させ、低温条件への温度到達時間を短くすることができる。特に、試料からの発熱があるときには温度降下時間が長くなるが、この場合にも低温への到達時間を短縮し、冷熱衝撃装置としての性能を良好に維持することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した電子膨張弁制御装置及び関連部分の全体構成の一例を示す説明図である。
【図2】上記装置を適用できる冷熱衝撃装置の一例を示す断面図である。
【図3】上記装置による常温さらし−低温さらしのサイクル図である。
【図4】上記装置及び従来の装置を用いた実験結果を示す説明図である。
【図5】従来の電子膨張弁制御の場合の常温さらし−低温さらしにおける温度変化状態を示す説明図である。
【符号の説明】
1 試験室
3 低温槽(予冷室)
4 冷凍回路
5 一定パルス設定部
6 変動パルス計算部
7 パルス切換部
36 蒸発器
43 電子膨張弁
100 本体部分(冷熱衝撃装置)
P0 一定パルス
Pc 補正パルス
Pd 変動パルス
SV 設定温度
PV 測定温度
TL 低温(低温条件)
TH 、TN 高温、常温(温度条件)
Claims (1)
- 試験室と与えられたパルスで作動する電子膨張弁を備えた冷凍回路の蒸発器で冷却される予冷室とを備え前記試験室の設定温度が少なくとも低温条件を含む温度条件に設定されて測定温度が前記設定温度になるように制御されることがある冷熱衝撃装置に使用される電子膨張弁制御装置において、
前記電子膨張弁に与えるパルスを最大のパルスより小さい一定パルスに設定する一定パルス設定部と、前記試験室内の温度を前記低温条件に下げる温度降下時には前記設定温度と前記測定温度との差異に対応して前記一定パルスより大きくなるように変動パルスを算出して前記電子膨張弁に与える変動パルス計算部と、前記試験室内の温度がほぼ一定であるときには前記一定パルスを与え前記温度降下時には前記変動パルスを与えるように前記電子膨張弁に与えるパルスを切り換えるパルス切換部と、を有することを特徴とする電子膨張弁制御装置。
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JP27666798A JP4100640B2 (ja) | 1998-09-11 | 1998-09-11 | 冷熱衝撃装置用冷凍機の電子膨張弁制御装置 |
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JP27666798A JP4100640B2 (ja) | 1998-09-11 | 1998-09-11 | 冷熱衝撃装置用冷凍機の電子膨張弁制御装置 |
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- 1998-09-11 JP JP27666798A patent/JP4100640B2/ja not_active Expired - Lifetime
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