JP4068306B2

JP4068306B2 - 磁気記憶装置の固定装置

Info

Publication number: JP4068306B2
Application number: JP2001018922A
Authority: JP
Inventors: 雅敏平本; 廣明二宮; 啓之鈴木
Original assignee: Hitachi Ltd; Adtex Inc
Current assignee: Hitachi Ltd; Adtex Inc
Priority date: 2001-01-26
Filing date: 2001-01-26
Publication date: 2008-03-26
Anticipated expiration: 2021-01-26
Also published as: JP2002230701A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気記憶装置を固定する固定装置に係り、特に、複数の磁気記憶装置を同時に試験する試験装置に用いるに好適な磁気記憶装置の固定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
磁気記憶装置の生産工程や受入工程等の量産工程では、専用の試験装置を用い、複数の磁気記憶装置の良品判定を同時に試験している。良品判定は、例えば、記憶媒体にデータの読み書きを行い、記憶媒体に対する読み出し書き込み障害が発生したとき、不良品と判定する。ここで、複数の磁気記憶装置は、試験装置に、ネジにて直接固定している。しかしながら、試験装置には、例えば、６０台の磁気記憶装置を取り付ける必要があり、取付作業が容易でないものであった。そこで、最近では、磁気記憶装置の側面から簡易的な固定機構にて固定する試験装置も知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、最近、磁気記憶装置における記憶密度の増加や転送速度の高速化に伴い、磁気記憶装置自身のモータの回転速度が高速化されている。従来は、５４００ｒｐｍが一般的であったのに対して、７２００ｒｐｍや１００００ｒｐｍの回転速度を有する磁気記憶装置も用いられつつある。このような高回転速度型の磁気記憶装置を、従来の簡易固定機構を用いた試験装置で量産工程の試験を行った結果、次のような問題があることが判明した。即ち、良品判定を行った際、本来の磁気記憶媒体の不良による読出・書込障害の他に、磁気記憶装置のモータの回転振動及びヘッドの位置決め用アームの振動により、磁気記憶装置の自己振動が発生し、磁気記憶装置に対するデータの読み出し書き込みを失敗するケースが発生することが判明した。このような読み出し書込の失敗は、本来の磁気記憶媒体の不良による読出・書込障害と区別できないため、量産工程における試験を行えないという問題があることが判明した。
【０００４】
本発明の目的は、磁気記憶装置の取付・取外しが容易であるとともに、磁気記憶装置の自己振動による読出・書込不良が発生しない磁気記憶装置の固定装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、磁気記憶装置を固定する磁気記憶装置の固定装置において、上下方向に可動な押え用アダプタと、この押えアダプタに係合すると共に、押えアダプタを上下に可動するロックレバーと、上記押えアダプタにより磁気記憶装置を保持した状態で位置を固定するロック機構と、上記押え用アダプタを上記磁気記憶装置に押さえつける付勢力を与えるバネ手段とを備えるようにしたものである。
かかる構成により、磁気記憶装置の取付・取外しが容易であるとともに、磁気記憶装置の自己振動による読出・書込不良を防止し得るものとなる。
【０００６】
【発明の実施の形態】
以下、図１〜図４を用いて、本発明の一実施形態による磁気記憶装置の固定装置の構成について説明する。
最初に、図１及び図２を用いて、本実施形態による磁気記憶装置の固定装置の全体構成について説明する。
図１は、本発明の一実施形態による磁気記憶装置の固定装置の全体構成を示す斜視図である。図２は、本発明の一実施形態による磁気記憶装置の固定装置の分解斜視図である。
【０００７】
磁気記憶装置の固定装置１は、搭載用アダプタ台２と、押え用アダプタ３と、可動軸４と、ロックレバー５と、保持ブロック６と、ロックステー７と、板バネ８とから構成されている。
【０００８】
搭載用アダプタ台２は、保持ブロック６の上に、２つ載置されいる。搭載用アダプタ台２は、金属台２Ａと、弾性を有すると共に、導電性を有するスペーサ２Ｂとから構成されている。スペーサ２Ｂは、例えば、導電性プラスチックからなり、金属台２Ａの上に導電性接着剤等で固着されている。
【０００９】
移動軸４は、保持ブロック６の後方上部に回動可能に取り付けられている。可動軸４の一方の端部には、ロックレバー５が固定されている。ロックレバー５は、ストッパ５Ａを備えている。可動軸４の中央部には、板バネ８を介して、押え用アダプタ３が取り付けられている。保持ブロック６の一方の側面には、ロックステー７が取り付けられている。ロックステー７には、固定穴７Ａ，７Ｂ，７Ｃが設けられている。
【００１０】
ロックレバー５のストッパ５Ａが、固定穴７Ａに係止されている状態では、押え用アダプタ３は、上方に引き上げられており、その位置で係止している。この状態で、磁気記憶装置ＨＤＤを試験する時には、磁気記憶装置ＨＤＤを搭載用アダプター台２に乗せる。
【００１１】
次に、ロックレバー５のストッパ５Ａを固定穴７Ａから引き抜き、ロックレバー５を下方に押し下げることにより、押え用アダプタ３も下方に移動して、磁気記憶装置ＨＤＤと接触し、磁気記憶装置ＨＤＤを板バネ８のバネ力により押さえつける。この状態で、ックレバー５のストッパ５Ａを、固定穴７Ｂ，７Ｃに係止することにより、磁気記憶装置ＨＤＤは、固定装置１に固定される。固定装置１に磁気記憶装置ＨＤＤが固定されるとき、板バネ８によって、所定の荷重（例えば、２ｋｇｆ）が印加されている。この荷重は、固定装置１に固定された磁気記憶装置ＨＤＤの自己振動を抑制できる程度のものである。磁気記憶装置ＨＤＤの高さＨ１は、通常２種類のものが知られている。ハーフハイトのものは、高さＨ１が１／２インチ（約１２．７ｍｍ）であり、フルハイトのものは高さＨ１が１インチ（約２５．４ｍｍ）である。フルハイトの磁気記憶装置ＨＤＤを固定する場合には、ストッパ５Ａは、固定穴７Ｂに係止される。また、フルハイトの磁気記憶装置ＨＤＤを固定する場合には、ストッパ５Ａは、固定穴７Ｃに係止される。磁気記憶装置ＨＤＤの高さに応じて、固定穴７Ｂ，７Ｃの位置を変えるだけで、磁気記憶装置ＨＤＤを、自己振動が生じないような所定の荷重で固定することができる。また、ロックレバー５の押し下げのみで、磁気記憶装置ＨＤＤを容易に固定し、また、取り外すことができるので、作業性を向上することができる。なお、この板バネ８の強さを変更することにより磁気記憶装置の固定する強さを自由に設定し自己振動を抑制することが可能である。
【００１２】
押さえ用アダプター３には、その下方の押さえ部３Ａ，３Ｂが設けられている。押さえ部３Ａ，３Ｂは、下方に面して傾斜部を備えている。押さえ部３Ａ，３Ｂの傾斜部は、ちょうど、磁気記憶装置ＨＤＤの側面フレームａ，ｂを押さえる位置に設けられている。押さえ部３Ａ，３Ｂの傾斜部は、磁気記憶装置ＨＤＤの側面フレームａ，ｂの上部を線で押える。この時、押さえ用アダプター３は、磁気記憶装置の中央に位置する。ここで、例えば、磁気記憶装置ＨＤＤの側面フレーム以外の部分，例えば、上面ｃを押えると、磁気記憶装置内のスピンドルモータの稼動軸や底面に有る制御基板等に負荷が掛かるため適当ではないものである。
【００１３】
なお、図示は省略しているが、保持ブロック６の後方には、試験装置のコネクタが設けられており、磁気記憶装置ＨＤＤを搭載用アダプタ台２に載置し、後方に押しつけることにより、磁気記憶装置ＨＤＤのコネクタと試験装置のコネクタを接続して、試験装置を用いて、磁気記憶装置ＨＤＤの読出・書込処理を行うことができる。
【００１４】
次に、図３を用いて、本実施形態による磁気記憶装置の固定装置の他の構成について説明する。
図３は、本発明の一実施形態による磁気記憶装置の固定装置の他の構成を示す分解斜視図である。なお、図１，図２と同一符号は、同一部分を示している。
【００１５】
磁気記憶装置ＨＤＤのコネクタには、複数の種類のものが用いられる場合がある。例えば、５０ピンのコネクタと、６８ピンのコネクタ等の場合である。このような異なるコネクタが用いられる場合、そのコネクタの設置位置（例えば、磁気記憶装置の背面側において、底面からの高さ）が異なることがある。
【００１６】
そこで、本実施形態では、２種類の搭載用アダプタ台２Ｘ，２Ｙと、２種類の押え用アダプタ３Ｘ，３Ｙとを備えている。例えば、アダプタ台２Ｘの金属台２Ａ’の高さをＨ２とし、また、アダプタ台２Ｙの金属台２Ａ”の高さをＨ３とする。ここで、Ｈ２＜Ｈ３である。また、アダプタ３Ｘの高さをＨ４とし、アダプタ３Ｙの高さをＨ５とする。ここで、Ｈ４＞Ｈ５である。また、（Ｈ２＋Ｈ４＝Ｈ３＋Ｈ５）としている。
【００１７】
６８ピンコネクタの設置位置が、５０ピンコネクタの設置位置より高い場合には、搭載用アダプタ台２Ｘと、押え用アダプタ３Ｘのペアにより、６８ピンコネクタを有する磁気記憶装置ＨＤＤを固定装置１に固定する。また、搭載用アダプタ台２Ｙと、押え用アダプタ３Ｙのペアにより、５０ピンコネクタを有する磁気記憶装置ＨＤＤを固定装置１に固定する。このように、搭載用アダプタ台２Ｘ，２Ｙと、押え用アダプタ３Ｘ，３Ｙを交換するのみで、異なるコネクタ位置を有する磁気記憶装置にも容易に対応することができる。
【００１８】
また、ハーフハイトとフルハイトの磁気記憶装置のように高さＨ１が異なる場合に、押え用アダプタ３の高さを変えることで、対応することもできる。さらに、３．５インチの磁気記憶装置に対して、２．５インチの磁気記憶装置は、図１に示した幅Ｗ１が異なる。このような場合にも、押え用アダプタ３の幅を変えることによって、容易に対応することができる。
【００１９】
次に、図４を用いて、本実施形態による磁気記憶装置の固定装置が用いられる試験装置の構成について説明する。
図４は、本発明の一実施形態による磁気記憶装置の固定装置が用いられる試験装置の正面図である。
【００２０】
試験装置１０は、複数（例えば、６０台）の磁気記憶装置の読出・書込試験を同時に行えるものであり、その内部には、図１及び図２において説明した複数の固定装置１が備えられている。
【００２１】
以上説明したように、本実施形態の固定装置を磁気記憶装置の搭載される機器に実装しておくことで、ネジを使用せず容易に磁気記憶装置の脱着が行えるとともに、磁気記憶装置の自己振動を抑制できる。したがって、磁気記憶装置の量産工程での試験工数を大幅に削減することができる。
【００２２】
【発明の効果】
本発明によれば、磁気記憶装置の取付・取外しが容易であるとともに、磁気記憶装置の自己振動による読出・書込不良を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態による磁気記憶装置の固定装置の全体構成を示す斜視図である。
【図２】本発明の一実施形態による磁気記憶装置の固定装置の分解斜視図である。
【図３】本発明の一実施形態による磁気記憶装置の固定装置の他の構成を示す分解斜視図である。
【図４】本発明の一実施形態による磁気記憶装置の固定装置が用いられる試験装置の正面図である。
【符号の説明】
１…固定装置
２…搭載用アダプター台
３…押え用アダプター
４…稼動軸
５…ロックレバー
６…保持ブロック
７…ロックステー
８…板ばね

Claims

磁気記憶装置を固定する磁気記憶装置の固定装置において、
上下方向に可動な押え用アダプタと、
この押えアダプタに係合すると共に、押えアダプタを上下に可動するロックレバーと、
上記押えアダプタにより磁気記憶装置を保持した状態で位置を固定するロック機構と、
上記押え用アダプタを上記磁気記憶装置に押さえつける付勢力を与えるバネ手段とを備えたことを特徴とする磁気記憶装置の固定装置。
請求項１記載の磁気記憶装置の固定装置において、
上記押えアダプタは、磁気記憶装置の側面フレームの上辺を押さえることを特徴とする磁気記憶装置の固定装置。
請求項１記載の磁気記憶装置の固定装置において、
上記磁気記憶装置の下方に配置されるとともに、導電性を有するスペーサを備えたことを特徴とする磁気記憶装置の固定装置。