JP2008226299A

JP2008226299A - 磁気ヘッドテスターの磁気ヘッド固定装置

Info

Publication number: JP2008226299A
Application number: JP2007059564A
Authority: JP
Inventors: Seitaro Mitomi; 誠太郎三冨
Original assignee: TDK Corp
Current assignee: TDK Corp
Priority date: 2007-03-09
Filing date: 2007-03-09
Publication date: 2008-09-25

Abstract

【課題】被検査磁気ヘッドを保持し回転する記録ディスクにアクセスさせる基台に、被検査磁気ヘッドのＦＰＣ接点に当接する複数のプローブを有するプローブ台を設け、このプローブに接近する方向に付勢された押圧アームを有するクランパを基台に回動操作自在に支持した磁気ヘッドテスターの磁気ヘッド固定装置において、クランパの押圧アームを薄肉化しても、該押圧アームが変形したり破損したりすることがない磁気ヘッド固定装置を得る。
【解決手段】クランパと基台にそれぞれ、該クランパのプローブ台方向への回動端を機械的に規制するストッパ壁とストッパ面とを設け、該ストッパ壁とストッパ面が当接するとき、押圧アームは押込代を残してプローブを押し込むようにした磁気ヘッド固定装置。
【選択図】図３

Description

本発明は、磁気ヘッドの記録再生特性（録再特性）の検査を行なう磁気ヘッドテスターに関し、特にその磁気ヘッド固定装置に関する。

磁気ヘッドの録再特性は、磁気ヘッドテスターを用いて全数が検査されている。被検査磁気ヘッドを支持する磁気ヘッド固定装置は、該被検査磁気ヘッドを記録ディスクにアクセスさせる基台と一体に、被検査磁気ヘッドのＦＰＣ接点に当接する複数のプローブを有するプローブ台を備えており、該基台には軸を中心に開閉操作可能で閉じる方向に回動付勢されたクランパが支持されている。開いたクランパの自由端部（押圧アーム）とプローブ台との間に磁気ヘッドのＦＰＣ接点を挟んでクランパを解放すると、該押圧アームがＦＰＣ接点とプローブとに接触圧力を生じさせる。

検査に際しては、磁気ヘッド固定装置のプローブを、録再特性の検査を行うための処理を実行する録再ＩＣ及びヘッドテスターに接続し、磁気ヘッドを記録ディスクに対してアクセスさせ、実際の記録再生と同じ状態を作り出して、録再ＩＣ及びヘッドテスターによって録再特性の検査を行う。
実開平06-002259号公報特開2003-51105号公報特開平05-120646号公報特開2005-327374号公報特開平11-153617号公報特開2005-268090号公報特開2000-180505号公報特開2000-121693号公報

このような磁気ヘッドテスターの磁気ヘッド固定装置では、被検査磁気ヘッドと記録ディスクの位置関係を実際の録再状態と可及的に同じ状態とする必要がある。その結果、最近のハードディスク装置の小型化に伴い、被検査磁気ヘッドと、検査の際に用いる記録ディスクとの距離が接近する傾向にある。このため従来、被検査磁気ヘッドのＦＰＣ接点とプローブとに接触圧力を生じさせるクランパの押圧アームの記録ディスク側の面に、記録ディスクが入り込む切欠を設けることが行われてきた。

ところが、クランパは、プローブに接近する方向に回動付勢されているため、クランパの押圧アームを薄肉化すると、該押圧アームに変形や破損が生じる可能性があることが判明した。

従って本発明は、クランパの押圧アームを薄肉化しても、該押圧アームが変形したり破損したりすることがない磁気ヘッド固定装置を得ることを目的とする。

本発明は、クランパの押圧アームとプローブ台とは別に、クランパの回動付勢端を機械的に規制するストッパ機構を設け、押圧アームにはプローブの突出付勢力だけが加わるようにすれば、以上の問題点を解決できるとの着眼に基づいてなされたものである。

すなわち、本発明は、被検査磁気ヘッドを保持し回転する記録ディスクにアクセスさせる基台；この基台に形成されたプローブ台；このプローブ台に、突出方向に付勢させて支持した、被検査磁気ヘッドのＦＰＣ接点に当接する複数のプローブ；基台に軸を中心に開閉操作可能に支持され、自由端部に基台のプローブに対して接離する押圧アームを有するクランパ；及びこのクランパをその押圧アームがプローブを押し込む方向に回動付勢する付勢手段；を有する磁気ヘッドテスターの磁気ヘッド固定装置において、クランパと基台にそれぞれ、該クランパのプローブ台方向への回動端を機械的に規制するストッパ壁とストッパ面とを設け、該ストッパ壁とストッパ面が当接するとき、押圧アームは押込代を残してプローブを押し込むようにしたことを特徴としている。

クランパの押圧アームには、先端部側から順に、プローブを押圧する薄肉部と、該薄肉部より厚肉の上記ストッパ壁を設けるのが実際的である。すなわち、押圧アームの先端部には、記録ディスクを逃げる切欠を形成して薄肉としても、押圧アームにはプローブの突出圧力しか加わらない。

本発明の磁気ヘッド固定装置によれば、クランパの押圧アームを薄肉化しても、該押圧アームにはプローブの突出圧力しか加わらないため、変形や破損を防止することができる。従って、記録ディスクと被検査磁気ヘッドを接近させた実際の録再状態と同じ状態での検査を行うことができる。

図１ないし図３は、本発明による磁気ヘッド固定装置（治具）１００の一実施形態を示している。この磁気ヘッド固定装置１００は、被検査磁気ヘッド１０を支持し、実際の記録再生と同じ状態で記録ディスクＭにアクセスさせるものである。被検査磁気ヘッド１０は、記録ディスクＭに対してデータの記録及び再生を磁気的に行なうスライダ（ＭＲヘッド）１１と、このスライダ１１を先端部に備えたジンバル１２と、スライダ１１に接続されたＦＰＣ基板１３とを有する。ＦＰＣ基板１３の端部には、スライダ１１の記録再生端子に導通するＦＰＣ接点１４が臨んでいる。

磁気ヘッド固定装置１００は、基台２０と、この基台２０に軸３１で枢着したクランパ３０とを備えている。基台２０には、ジンバル支持台２１と、プローブ台２２とが隣接して備えられている。ジンバル支持台２１は、図示しない周知のクランプ機構を介して被検査磁気ヘッド１０のジンバル１２を機械的に支持するものである。このようなクランプ機構は例えば特開平５-１２０６４６号に開示されている。プローブ台２２は、被検査磁気ヘッド１０のＦＰＣ接点１４に電気的に導通するプローブ（スプリングプローブ）２４を備えている。プローブ２４は、図２、図３に示すように、図示しない付勢手段（ばね）によって、プローブ台２２の表面２２Ｓから突出する方向に付勢されており、常時は突出端に位置している。この突出量Ｐは、例えば数ｍｍである。

クランパ３０は、軸３１から延びる一方の端部をプローブ台２２上に延びる押圧アーム３２とし、他方の端部を着力部３３としたもので、軸３１回りに設けたトーションばね３４により、押圧アーム３２がプローブ台２２に接近する方向（プローブ２４を押し込む方向、閉方向）に回動付勢されている。トーションばね３４によるクランパの閉方向の力は、プローブ２４を突出させる力より十分大きい。押圧アーム３２の先端部上面（記録ディスクＭと対向する面）には、相対的に記録ディスクＭが入り込む切欠３２ａが形成されている。すなわち、押圧アーム３２は、切欠３２ａによって薄肉となった自由端部側の薄肉部３２ｂと、軸３１側の厚肉部３２ｃとからなっている。厚肉部３２ｃの厚さＴは、薄肉部３２ｂの厚さｔより厚く容易に変形しない。厚肉部３２ｃは、ストッパ壁を構成する。

基台２０には、押圧アーム３２のストッパ壁（厚肉部）３２ｃに当接するストッパ面２５Ｓを有するストッパ柱２５が一体に設けられている。この厚肉部３２ｃとストッパ面２５Ｓは、クランパ３０のプローブ台２２側への回動端を機械的に規制し、薄肉部３２ｂに、プローブ２４を突出させるばね力のみを作用させ、トーションばね３４による力を作用させない。

すなわち、トーションばね３４の力に抗し着力部３３を押してクランパ３０を開いた状態で、プローブ台２２のプローブ２４上に被検査磁気ヘッド１０のＦＰＣ接点１４を載せ、着力部３３を解放すると、押圧アーム３２はトーションばね３４の力によりプローブ台２２上に閉じる。このとき、押圧アーム３２はそのストッパ壁３２ｃが基台２０のストッパ面２５Ｓと当接して閉方向の回動端が機械的に規制される。そして、この回動規制端において、薄肉部３２ｂは、ＦＰＣ接点１４をプローブ２４側に押して該ＦＰＣ接点１４とプローブ２４を導通させるが、このとき、プローブ２４を完全に（全ストローク）押し込むことはない。例えば前述のプローブ２４の自由状態におけるＰを４ｍｍとしたとき、押込代ｐを、１ｍｍ前後残すことで、薄肉部３２ｂはプローブ２４を不完全に押し込むことになる。

このように、押圧アーム３２に、薄肉部３２ｂとプローブ台２２（プローブ２４）との当接によるストッパ機構とは別に、ストッパ壁３２ｃとストッパ面２５Ｓとによるストッパ機構を設けることにより、記録ディスクＭの入り込む切欠３２ａを設けて薄肉部３２ｂを薄肉化しても、薄肉部３２ｂが変形、破損するおそれがない磁気ヘッド固定装置１００を得ることができる。

ちなみに従来品は、押圧アーム３２のストッパ壁３２ｃとストッパ面２５Ｓが存在せず、薄肉部３２ｂとプローブ台２２（プローブ２４）とが直接当接してトーションばね３４の力を受けていた。このため、切欠３２ａを設けることで薄肉部３２ｂの薄肉化が進行すると、該薄肉部３２ｂが変形したり破損するおそれがあった。

磁気ヘッド固定装置１００には、プローブ２４に導通する中継接点２６が設けられている。図４は、磁気ヘッド固定装置１００を含む磁気ヘッドテスター全体の接続概念図である。磁気ヘッド固定装置１００に対して相対移動可能なＩＣホルダ４０は、中継接点２６に導通するプローブ４１と、このプローブ４１に導通する録再ＩＣ４２とを有しており、録再ＩＣ４２は可撓ケーブル５１によりヘッドテスター５０に接続されている。

この磁気ヘッドテスターによる被検査磁気ヘッド１０の検査は次のように行われる。記録ディスクＭへの非アクセス位置にある磁気ヘッド固定装置１００のジンバル支持台２１及びプローブ台２２上に、上述のようにクランプ機構及びクランパ３０を介して被検査磁気ヘッド１０を支持する。次に、磁気ヘッド固定装置１００を記録ディスクＭへアクセスさせ、被検査磁気ヘッド１０（スライダ１１）を記録ディスクＭへのアクセス位置（記録再生位置）に位置させる。

アクセス終了後、ＩＣホルダ４０を磁気ヘッド固定装置１００上に移動させ、ＩＣホルダ４０のプローブ４１を中継接点２６に導通させる。すると、スライダ１１から録再ＩＣ４２、さらにはヘッドテスター５０への検査回路が完成する。この状態で記録ディスクＭを回転させて、ヘッドテスター５０からの動作信号に基づき録再ＩＣ４２からのデータを被検査磁気ヘッド１０により記録ディスクＭに記録する。また、記録ディスクＭに記録されたデータを被検査磁気ヘッド１０で再生し、その測定結果の電気信号を録再ＩＣ４２からヘッドテスター５０に送る。ヘッドテスター５０は、録再ＩＣ４２から伝送された電気信号による結果に基づいて磁気ヘッド被検査磁気ヘッド１０の良否判定を行なう。その良否判定は、ヘッドテスター５０に表示され、さらに図示しないメモリに蓄積される。

以上の磁気ヘッドテスターの全体像は一例であり、本発明の磁気ヘッド固定装置１００の録再ＩＣ４２及びヘッドテスター５０に対する接続態様には自由度がある。

本発明の磁気ヘッド固定装置の一実施形態を示す斜視図である。図１の磁気ヘッド固定装置のプローブ台とクランパ回りの拡大斜視図である。同プローブ台とクランパ回りの側面図である。磁気ヘッドテスターの回路図である。

符号の説明

１００磁気ヘッド固定装置
１０被検査磁気ヘッド
１１スライダ
１２ジンバル
１３ＦＰＣ基板
１４ＦＰＣ接点
２０基台
２１ジンバル支持台
２２プローブ台
２４プローブ
２５ストッパ面
２６中継接点
３０クランパ
３１軸
３２押圧アーム
３２ａ切欠
３２ｂ薄肉部
３２ｃ厚肉部（ストッパ壁）
３３着力部
３４トーションばね（付勢手段）
４０ＩＣホルダ
４１プローブ
４２録再ＩＣ
５０ヘッドテスター
Ｍ記録ディスク

Claims

被検査磁気ヘッドを保持し回転する記録ディスクにアクセスさせる基台；
この基台に形成されたプローブ台；
このプローブ台に、突出方向に付勢させて支持した、上記被検査磁気ヘッドのＦＰＣ接点に当接する複数のプローブ；
上記基台に軸を中心に開閉操作可能に支持され、自由端部に上記基台のプローブに対して接離する押圧アームを有するクランパ；及び
このクランパをその押圧アームが上記プローブを押し込む方向に回動付勢する付勢手段；
を有する磁気ヘッドテスターの磁気ヘッド固定装置において、
上記クランパと基台にそれぞれ、該クランパのプローブ台方向への回動端を機械的に規制するストッパ壁とストッパ面とを設け、該ストッパ壁とストッパ面が当接するとき、上記押圧アームは押込代を残してプローブを押し込むことを特徴とする磁気ヘッドテスターの磁気ヘッド固定装置。
請求項１記載の磁気ヘッド固定装置において、上記クランパの押圧アームは、先端部側から順に、プローブを押圧する薄肉部と、該薄肉部より厚肉の上記ストッパ壁を有している磁気ヘッド固定装置。
請求項１または２記載の磁気ヘッド固定装置において、クランパの上記押圧アームの先端部には、上記記録ディスクを逃げる切欠が形成されている磁気ヘッド固定装置。