JP4063676B2 - エレクトロスプレーを使用する高電界非対称イオン移動度分光分析装置 - Google Patents
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- G01N27/624—Differential mobility spectrometry [DMS]; Field asymmetric-waveform ion mobility spectrometry [FAIMS]
Description
エレクトロスプレーを使用してFAIMSデバイスと組み合わせた飛行時間測定デバイスを形成して、飛行時間測定から提供される追加情報によりイオン種の高精度の識別を実現し、
イオンがFAIMSの開口部から検出器に移動するのに要する時間を測定可能で、それが吸引電極および案内電極の電圧を個々に制御することにより達成でき、
エレクトロスプレー・アセンブリをFAIMSの基板の1つに取り付けでき、案内電極を使用してイオンをイオン領域に導入し、
逆方向ガス流が脱溶媒を促進し、
案内電極を、FAIMSの基板の1つに取り付けられる、もしくは接続される、または基板の1つの近傍にある、自立構造にでき、
イオンの濾過の制御を、高電界非対称波形高周波信号および可変DC補償信号を制御することで達成するか、または、特に、高電界非対称波形高周波信号のデューティ・サイクル、振幅、周波数などの電界の特性を変化させることにより達成する、ことが可能である。
試料調製、イオン化、濾過および検出のすべての機能は、本発明の単一チップまたはワークピース上で実行され、
エレクトロスプレー−FAIMSが質量分析計のフィルタとして利用され、
チップ・キャリヤおよびそのキャリヤに差し込まれる使い捨てFAIMSフィルタ・チップを含み、このキャリヤが質量分析計の受入口に取り付け可能であり、
エレクトロスプレー−FAIMSが、単一ハウジング内にフィルタおよび検出システムを形成し、
本発明のエレクトロスプレー−FAIMS構成を、液体試料分析用の独立した検出器として使用するか、または質量分析計の前置部分として使用でき、
本発明は、液体クロマトグラフィ、高圧液体クロマトグラフィ、毛管電気泳動などの他の液体分離手法にも応用でき、
本発明の好ましい実施形態は、FAIMSデバイスを含み、1つの実施形態では、FAIMSデバイスは、共通のハウジングまたは基板上でエレクトロスプレー・イオン化源と一体化され、質量分析計に結合されており、
本発明の実施形態では、分子が、発生源から(例えば、エレクトロスプレー先端または毛管電気泳動装置のアウトレットから)排出され、FAIMSフィルタにより濾過される前にイオン化され、内部検出器によるか質量分析計もしくは他の検出器により検出された後に、分子の濾過ができ、
本発明の1つの実施形態では、ミクロ機械加工(MEMS)により、エレクトロスプレー先端を、平坦な電界非対称波形イオン移動度分光計フィルタとともにシンプルなユニット/デバイス内に一体化でき、それにより、正確な、高い再現性の液体試料評価に対応する、高精度で小型の分析システムを実現でき、
また、本発明の別の実施形態では、一体化されたエレクトロスプレー−FAIMSチップ(ミクロ機械加工製作技術を使用して作製できる)を使用する、生物剤検出用で携帯型の、小型で低コストの生物センサを実現でき、
FAIMS部分が平板状であり、質量分析計に対する大気圧化学物質イオン化(APCI)プレフィルタを形成し、
イオン濾過が試料のイオン化後に実行され、エレクトロスプレー・プロセスで常に生成される緩衝塩および溶媒イオンが分析対象の生体分子から分離され、これにより、きわめて単純な質量スペクトルを生成して、生体分子の検出限界および識別性能を向上させ、
エレクトロスプレーをFAIMSフィルタ・デバイスと組み合わせることにより、きわめて高感度の、高分解能を有する分析デバイスを可能にし、さらに、事例によっては、この能力は、FAIMSを利用せずには識別できない化合物を分析するのに提供され、さらに、エレクトロスプレーを従来のFAIMSフィルタ・デバイスと組み合わせることは、このデバイスを用いて大量で低コストの試料分析のために低濃度試料を処理するときに、試料汚染の問題を引き起こすが、この問題は、本発明の実施形態において克服される。
Claims (14)
- 液体試料からイオンを送り出すためのヘッドを含む、試料調製および導入セクションと、
イオン・フィルタ・セクションと、
出力部分と、
電子回路部分とを備え、
前記イオン・フィルタ・セクションが、流路を形成する絶縁表面と、前記流路を挟んで対向するイオン・フィルタ電極とをフィルタとして有し、前記液体試料から送り出されたイオンが前記流路に沿って前記イオン・フィルタ電極間を流れ、
前記電子回路部分が、前記イオン・フィルタ電極に制御信号を印加するように構成され、前記イオン・フィルタ電極に非対称周期信号を印加することにより、交番する高電界および低電界状態を生成してその交番する電界状態に応じて前記流路内のイオンの流れを濾過し、
前記フィルタの電界が補償されることにより、所望のイオン種が前記フィルタを通過して前記流路に沿って前記出力部分まで流れる電界非対称イオン移動度分光分析装置であって、
前記試料調製および導入セクションがエレクトロスプレー・アセンブリを含み、
そのエレクトロスプレー・アセンブリが基板に取り付けられてエレクトロスプレー・ヘッドを含み、
イオンが、案内電極により開口へ移送され、吸引電極および案内電極により前記流路におけるイオン領域内に吸引され、
個別のDCバイアスを各案内電極に印加して電位勾配を生成し、その電位勾配により前記イオンをイオン領域へ案内し、
前記案内電極に対称RF信号を印加することにより、脱溶媒を促進するために利用し、
脱溶媒をさらに促進するために前記案内されるイオンと逆方向に流れるガスを導入して、排出口から排出し、
前記開口に圧力勾配を発生させずに作動する電界非対称イオン移動度分光分析装置。 - 請求項1において、
イオン噴射状態を改良するために、エレクトロスプレー先端と上側案内電極の間の距離を、ベース/基板に対するハウジングの位置を変更することにより調整できるか、または、前記エレクトロスプレー・ヘッドの高さを前記上側案内電極に対して直接に調整できる電界非対称イオン移動度分光分析装置。 - 請求項1において、
前記試料調製および導入セクションが、液体試料を収容する試料収容部を有するマイクロチップを含み、
前記試料調製および導入セクションが、各種のミクロ機械加工された微小流体コンポーネントを含み、その微小流体コンポーネントを、イオン発生源として使用するか、または、エレクトロスプレー、ナノ・エレクトロスプレー、液体クロマトグラフィおよび電気泳動分離を含む微小流体コンポーネントの組み合わせとして使用する電界非対称イオン移動度分光分析装置。 - 請求項1において、
前記試料調製および導入セクションが、液体試料を収容する試料収容部を有するマイクロチップを含み、
エレクトロスプレー・ヘッドが、その先端であるエレクトロスプレー先端に通じている分離チャンネルへ供給する試料収容部を備え、
前記分離チャンネルが、前記エレクトロスプレー先端でイオン化する前に試料成分の調製または分離をするための液体クロマトグラフィもしくは電気泳動セパレータである電界非対称イオン移動度分光分析装置。 - 請求項1において、
間隔を空けた案内電極が、局部ハウジング内に限定されないかまたはその内部に含まれるカーテン・ガス流内に置かれ、
エレクトロスプレー・ヘッドが取付け台に調製可能に取り付けられ、
前記エレクトロスプレー・ヘッドの噴射角度を、基板の表面に対して調整でき、前記エレクトロスプレー・ヘッドの高さを前記基板に対して調整でき、
チップ収納アセンブリを備え、
前記マイクロチップを前記チップ収納アセンブリのソケットに挿入して収納し、前記ソケットがコントローラに電気的に接続されている電界非対称イオン移動度分光分析装置。 - 請求項1において、
間隔を空けた案内電極が、局部ハウジング内に限定されないかまたはその内部に含まれるカーテン・ガス流内に置かれ、
エレクトロスプレー・ヘッドが取付け台に調製可能に取り付けられ、
前記エレクトロスプレー・ヘッドの噴射角度を、基板の表面に対して調整でき、前記エレクトロスプレー・ヘッドの高さを前記基板に対して調整でき、
前記チップ収納アセンブリが分光計に接続するための接続部を備え、その接続部によって出力セクションからの出力開口がMS受入口に位置合わせされ、イオンが検出および分析のために前記MS受入口に導入される電界非対称イオン移動度分光分析装置。 - 請求項6において、
検出器電極を偏向電極として使用して、イオンを質量分析計の受入口の方向に偏向させ、
前記イオンを、集束電極により案内または集束し、基板の開口と取付けアダプタを経由してのプレナム・ガス・チャンバとを通過させる電界非対称イオン移動度分光分析装置。 - 請求項6において、
小流量のプレナム・ガスをチャンバに供給することにより、中和された試料・イオンまたは溶媒分子が前記質量分析計の受入口に流入するのを防止し、
前記質量分析計の受入口内に集束されたイオンを、標準の質量分析手順にしたがって検出する電界非対称イオン移動度分光分析装置。 - 請求項8において、
検出器領域に入るイオンが前記質量分析計の受入口内に集束されることにより、システムの検出効率および感度を向上させている電界非対称イオン移動度分光分析装置。 - 請求項1において、
前記電子回路部分が、複数のサブスシステムを含む電子コントローラを含み、
前記サブシステムが、エレクトロスプレー・コントローラと、高電圧RF波形およびDC発生器と協働してRF非対称駆動信号および制御バイアス信号をフィルタ電極に供給する波形発生器またはシンセサイザと、検出器電極でイオンを検出するための検出電子回路とを含み、
コンピュータが、データを収集し、システムを制御する電界非対称イオン移動度分光分析装置。 - 請求項10において、
化学分析が、検出器としての質量分析計にアダプタを介して密接に接合されたアセンブリにより実行され、
集束電極の電流を観測して、前記質量分析計の検出情報を処理するのに有効な追加の検出情報を得て、
前記質量分析計の全体イオン電流を観測することにより、FAIMSスペクトルを再構成する電界非対称イオン移動度分光分析装置。 - 請求項1において、
前記ヘッドが、エレクトロスプレー先端を含むエレクトロスプレー・ヘッドを有し、
エレクトロスプレー先端が、上側基板の開口を通過してまたは側方から前記流路におけるイオン領域内に挿入され、
前記イオンがガス流内を前記イオン・フィルタ電極に向かって移動するとき、吸引電極が前記イオンを前記流路内に吸引して案内し、
前記エレクトロスプレー先端からの液滴が、排液孔が設けられる収容部内に集められる電界非対称イオン移動度分光分析装置。 - 請求項1において、
イオンが前記フィルタを通過後、出力セクションに入る前に、イオンを収集するイオン・トラップを備えることにより、検出器信号のSN比を向上させている電界非対称イオン移動度分光分析装置。 - 請求項13において、
中性分子が、前記イオン・トラップで収集されず、前記イオン・トラップからのガス流により連続して除去される電界非対称イオン移動度分光分析装置。
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---|---|
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018025535A (ja) * | 2016-08-05 | 2018-02-15 | 株式会社リコー | イオン検出装置、洗浄用空気作成装置及び計測システム |
Families Citing this family (48)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7129482B2 (en) | 1999-07-21 | 2006-10-31 | Sionex Corporation | Explosives detection using differential ion mobility spectrometry |
US6690004B2 (en) | 1999-07-21 | 2004-02-10 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Method and apparatus for electrospray-augmented high field asymmetric ion mobility spectrometry |
US7005632B2 (en) | 2002-04-12 | 2006-02-28 | Sionex Corporation | Method and apparatus for control of mobility-based ion species identification |
US7148477B2 (en) | 1999-07-21 | 2006-12-12 | Sionex Corporation | System for trajectory-based ion species identification |
US7098449B1 (en) | 1999-07-21 | 2006-08-29 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Spectrometer chip assembly |
US6806463B2 (en) | 1999-07-21 | 2004-10-19 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromachined field asymmetric ion mobility filter and detection system |
US7057168B2 (en) | 1999-07-21 | 2006-06-06 | Sionex Corporation | Systems for differential ion mobility analysis |
US7091481B2 (en) | 2001-08-08 | 2006-08-15 | Sionex Corporation | Method and apparatus for plasma generation |
US6727496B2 (en) | 2001-08-14 | 2004-04-27 | Sionex Corporation | Pancake spectrometer |
US6998608B2 (en) * | 2002-02-08 | 2006-02-14 | Ionalytics Corporation | FAIMS with non-destructive detection of selectively transmitted ions |
US7122794B1 (en) | 2002-02-21 | 2006-10-17 | Sionex Corporation | Systems and methods for ion mobility control |
AU2003298597A1 (en) | 2002-10-12 | 2004-05-25 | Sionex Corporation | NOx MONITOR USING DIFFERENTIAL MOBILITY SPECTROMETRY |
CN1829911B (zh) * | 2003-06-20 | 2011-04-20 | 杨百翰大学 | 用于离子迁移率和离子阱质谱分析的单一装置 |
US7223970B2 (en) | 2003-09-17 | 2007-05-29 | Sionex Corporation | Solid-state gas flow generator and related systems, applications, and methods |
JP4802104B2 (ja) * | 2003-11-25 | 2011-10-26 | サイオネックス コーポレイション | サンプルの分析を改善するための分散特性、サンプル解離及び/又は圧力制御を用いた移動度ベースの装置及び方法 |
CA2554997A1 (en) * | 2004-02-02 | 2005-08-18 | Sionex Corporation | Compact sample analysis systems and related methods using combined chromatography and mobility spectrometry techniques |
US6967326B2 (en) * | 2004-02-27 | 2005-11-22 | Lucent Technologies Inc. | Mass spectrometers on wafer-substrates |
US8440968B2 (en) | 2005-02-14 | 2013-05-14 | Micromass Uk Limited | Ion-mobility analyser |
GB0503010D0 (en) * | 2005-02-14 | 2005-03-16 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
JP5219274B2 (ja) * | 2005-04-01 | 2013-06-26 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
WO2006127974A1 (en) * | 2005-05-24 | 2006-11-30 | Sionex Corporation | Combined mass and differential mobility spectrometry |
WO2007080376A1 (en) * | 2006-01-10 | 2007-07-19 | Smiths Detection-Watford Limited | Ion selection apparatus and method |
WO2008094704A2 (en) * | 2007-02-01 | 2008-08-07 | Sionex Corporation | Differential mobility spectrometer pre-filter assembly for a mass spectrometer |
CN101688848A (zh) * | 2007-02-05 | 2010-03-31 | 卓漂仪谱公司 | 离子迁移谱仪与方法 |
GB0708391D0 (en) * | 2007-05-01 | 2007-06-06 | Smiths Detection Watford Ltd | Detection and spectrometers |
US7863562B2 (en) * | 2007-06-22 | 2011-01-04 | Shimadzu Corporation | Method and apparatus for digital differential ion mobility separation |
CN101082594B (zh) * | 2007-07-06 | 2010-12-15 | 清华大学 | 物质成分测定装置 |
CN101738417B (zh) * | 2009-12-08 | 2012-09-05 | 清华大学 | 基于冷场电子检测生化物质的芯片及检测方法 |
US8389930B2 (en) * | 2010-04-30 | 2013-03-05 | Agilent Technologies, Inc. | Input port for mass spectrometers that is adapted for use with ion sources that operate at atmospheric pressure |
CN102478545A (zh) * | 2010-11-30 | 2012-05-30 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种平板式差分式离子迁移谱 |
CN102479664A (zh) * | 2010-11-30 | 2012-05-30 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种平板式离子迁移谱 |
US8890062B2 (en) | 2011-11-29 | 2014-11-18 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Differential mobility spectrometer and methods thereof |
CN103163206A (zh) * | 2011-12-19 | 2013-06-19 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种复合电离源差分式离子迁移谱 |
CN104254772B (zh) * | 2011-12-28 | 2018-11-16 | 英国质谱有限公司 | 用于液相样品的快速蒸发电离的系统和方法 |
CN102636553B (zh) * | 2012-03-23 | 2014-05-28 | 哈尔滨工业大学(威海) | 纸基电喷雾离子迁移谱分析方法 |
CN102683151B (zh) * | 2012-05-15 | 2015-01-28 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种选择控制反应离子的化学电离质谱仪 |
CN102723254B (zh) * | 2012-06-20 | 2015-07-22 | 清华大学 | 平板型高场非对称波形离子迁移谱仪的聚焦装置及方法 |
JP5997650B2 (ja) * | 2013-04-15 | 2016-09-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分析システム |
FI124792B (fi) * | 2013-06-20 | 2015-01-30 | Helsingin Yliopisto | Menetelmä ja laite näytekaasuvirtauksen partikkelien ionisoimiseksi |
CN105874331A (zh) * | 2013-12-31 | 2016-08-17 | Dh科技发展私人贸易有限公司 | 使用高效离子导向器的真空dms |
EP3167270B1 (en) | 2014-07-07 | 2024-03-13 | Nanotech Analysis S.R.L. | Portable electronic system for the analysis of time-variable gaseous flows |
JP6350391B2 (ja) * | 2015-05-22 | 2018-07-04 | 株式会社島津製作所 | 放電イオン化検出器 |
JP6456863B2 (ja) * | 2016-03-04 | 2019-01-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオン移動度分離部を備える分析装置 |
CN107357835B (zh) * | 2017-06-22 | 2020-11-03 | 电子科技大学 | 一种基于主题模型和遗忘规律的兴趣预测挖掘方法及系统 |
GB2566326A (en) * | 2017-09-11 | 2019-03-13 | Owlstone Inc | Ion mobility filter |
CN109884157B (zh) * | 2017-12-06 | 2021-06-15 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种新型正负离子快速切换的离子探测器 |
JP7102733B2 (ja) * | 2018-01-04 | 2022-07-20 | 株式会社リコー | イオン検出装置及び電界非対称波形イオン移動度分光分析システム |
CN108760637B (zh) * | 2018-07-13 | 2023-11-21 | 金华职业技术学院 | 一种研究分子光异构化的装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5420424A (en) * | 1994-04-29 | 1995-05-30 | Mine Safety Appliances Company | Ion mobility spectrometer |
US5838003A (en) * | 1996-09-27 | 1998-11-17 | Hewlett-Packard Company | Ionization chamber and mass spectrometry system containing an asymmetric electrode |
US6124592A (en) * | 1998-03-18 | 2000-09-26 | Technispan Llc | Ion mobility storage trap and method |
US6066848A (en) * | 1998-06-09 | 2000-05-23 | Combichem, Inc. | Parallel fluid electrospray mass spectrometer |
JP2002522873A (ja) * | 1998-08-05 | 2002-07-23 | ナショナル リサーチ カウンシル カナダ | 大気圧3次元イオントラッピングのための装置および方法 |
US6495823B1 (en) * | 1999-07-21 | 2002-12-17 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromachined field asymmetric ion mobility filter and detection system |
US6815668B2 (en) * | 1999-07-21 | 2004-11-09 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Method and apparatus for chromatography-high field asymmetric waveform ion mobility spectrometry |
WO2001008455A1 (en) * | 1999-07-21 | 2001-02-01 | Exatec, Llc. | Method of promoting uniform process conditions in pecvd reactor for batch production of glazing panels |
ATE308115T1 (de) * | 2000-03-14 | 2005-11-15 | Ca Nat Research Council | Faims apparatur und verfahren mit lasergestützter ionisationsquelle |
-
2002
- 2002-04-17 EP EP02726767A patent/EP1387724A4/en not_active Withdrawn
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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