JP4047174B2 - 表示装置の電磁適合性を検査するための方法および検査装置 - Google Patents
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Description
初期位置として、検査窓15は、セグメント18がカラーバー16の色境界17と平行に延伸するようにテストイメージ15のカラーバー16内に位置決めされる。
Claims (17)
- テストイメージ信号に加えて干渉信号を検査対象の装置(1)に与えることができる検査生成器(7)からテストイメージ用の信号を受信する表示装置の電磁適合性を検査する方法であって、
検査窓(15)の画像情報の複数の平行なセグメント(18)への分割の工程と、
前記検査窓(15)内の干渉のないテストイメージ(13)からの参照値の決定の工程と、
各セグメント(18)の信号の平均値の計算の工程と;
前記参照値からの前記各セグメント(18)の平均値のそれぞれの偏差の計算の工程と、
前記検査窓(15)のすべてのセグメント(18)の前記偏差の分散の計算の工程と、
それぞれある角度増分回転させられた複数の検査窓(15)についての前記偏差の分散の計算の繰り返しの工程と;
前記検査窓(15)の前記各回転角度について計算された前記偏差の分散の比較の工程とを含む方法。 - 前記テストイメージ(13)の画像情報がグレー値画像に変換される請求項1記載の方法。
- 前記方法が前記テストイメージ(13)のセクタ(14)について実施され、そのセクタ内部に前記検査窓(15)が位置決めされる請求項1記載の方法。
- 前記セクタ(14)の画像情報がグレー値画像に変換される請求項3記載の方法。
- 前記分散が前記参照値からの偏差の二乗の平均値として計算される請求項1乃至請求項4のいずれか1項記載の方法。
- 前記検査窓(15)のある角度増分の回転およびその後の前記偏差の分散の計算が、前記検査窓(15)の初期位置に対して合計で180°の回転角度に達するまで繰り返される請求項1乃至請求項5のいずれか1項記載の方法。
- 比較のために前記分散が前記検査窓(15)のそれぞれの回転角度について図形で示される請求項1乃至請求項6のいずれか1項記載の方法。
- 前記参照値が、乱されていないテストイメージ(13)の場合の検査窓(15)の全てのセグメント(18)の信号の平均値、又は平均値から得られる回帰関数を作成することによって生成される請求項1乃至請求項7のいずれか1項記載の方法。
- 前記テストイメージ(13)が複数のカラーバー(16)を有し、前記検査窓(15)の大きさが隣接するカラーバー(16)の画素がいかなる回転角度についても前記検査窓(15)内部に配置されることがないように決定される請求項1乃至請求項8のいずれか1項記載の方法。
- 180°の回転に達した後の前記初期位置の場所が、ある長さ増分だけカラーバー境界(17)と平行に移動される請求項6記載の方法。
- 評価が複数のカラーバー(16)について繰り返される請求項1乃至請求項10のいずれか1項記載の方法。
- 表示装置の電磁適合性を調べるための検査装置であって、テストイメージおよび干渉信号を送信するために検査対象の装置(1)に接続可能な検査生成器(7)と、前記検査生成器(7)に接続可能であって、画像情報を読み込むための入力(8a)を有するコンピュータユニット(8)とを含み、前記コンピュータユニット(8)が、
検査窓(15)の画像情報の複数の平行なセグメント(18)への分割と、
前記検査窓(15)内の干渉のないテストイメージ(13)からの参照値の決定と、
各セグメント(18)の信号の平均値の計算と、
前記参照値からの前記各セグメント(18)の平均値の偏差の計算と;
前記検査窓(15)のすべてのセグメント(18)の前記偏差の分散の計算と、
それぞれある角度増分回転させられた複数の検査窓(15)についての前記偏差の分散の計算の繰り返しと、
前記検査窓(15)の各回転角度について計算された前記偏差の分散の比較という計算を実施する検査装置。 - 前記コンピュータユニット(8)の入力(8a)が、前記画像情報を読み込むためにカメラ(5)に接続される請求項12記載の検査装置。
- 前記検査対象の装置(1)が低反射の暗室(2)に配置され、前記暗室(2)内の視野角を小さくするために筒(6)が前記カメラ(5)に配置される請求項13記載の検査装置。
- 前記カメラ(5)によって撮影された画像を監視するためにモニタ(12)が前記カメラ(5)に接続される請求項13または14のいずれか1項記載の検査装置。
- 段階的に設定可能な画像の鮮明さが、干渉のないテストイメージ(13)の画像誤り、特にモアレパターンの前記参照値に対する影響が最小であるように調節可能である請求項13乃至請求項15のいずれか1項記載の検査装置。
- 前記コンピュータユニット(8)がFPGAおよび/またはDSPをコプロセッサとして有するパーソナルコンピュータである請求項12乃至請求項16のいずれか1項記載の検査装置。
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