JP4044538B2 - 半導体装置 - Google Patents
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Description
K. Arimoto et al., "A Speed-Enhanced DRAM Array Architecture with Embedded ECC," IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS, VOL.25, NO.1, FEBRUARY 1990, pp.11-17.
また、この発明の一態様に係る半導体装置は、複数のメモリセルがアレイ状に配置されたメモリセルアレイと、前記メモリセルアレイ中のビット線と同じ配線幅、配線間隔の配線で構成され、読み出しタイミング信号を生成するための第1レプリカビット線と、前記メモリセルアレイ中のビット線と同じ配線幅、配線間隔の配線で構成され、書き込みタイミング信号を生成するための第2レプリカビット線と、前記メモリセルアレイ中のメモリセルにデータを書き込むための書き込みバッファ回路と、前記第1レプリカビット線を用いて生成された読み出しタイミング信号が入力され、前記第2レプリカビット線を駆動するレプリカ書き込みバッファ回路とを具備し、前記第2レプリカビット線は、前記メモリセルアレイ中のビット線と等しい容量であり、前記レプリカ書き込みバッファ回路は、前記書き込みバッファ回路の半分の電流駆動力である。
[第1の実施形態]
図1は、この発明の第1の実施形態に係る半導体装置の概略構成を示すブロック図である。ここでは2mワード×nビットのSRAMマクロを例に取っており、クロック信号CLK、チップイネーブル信号CE、ライトイネーブル信号WE、出力イネーブル信号OE、mビットのアドレス信号ADD、nビットのビットライトイネーブル信号BWE、及びnビットのデータ入力信号DINがそれぞれ入力され、nビットのデータ(出力信号)DOUTを出力する。
上述した第1の実施形態に係る半導体装置では、通常のビット線対BL,BLBの一方と同じ配線長、配線幅、負荷容量の配線を2本接続して第2レプリカビットRBL2を形成した。また、レプリカ書き込みバッファ回路21を通常の書き込みバッファ回路32と同じ電流駆動力となるように構成することで、通常のビット線BLまたはBLBの電位がフルスイングする遅延と等しい遅延時間を生成した。
Claims (4)
- 複数のメモリセルがアレイ状に配置されたメモリセルアレイと、
前記メモリセルアレイ中のビット線と同じ配線幅、配線間隔の配線で構成され、読み出しタイミング信号を生成するための第1レプリカビット線と、
前記メモリセルアレイ中のビット線と同じ配線幅、配線間隔の配線で構成され、書き込みタイミング信号を生成するための第2レプリカビット線と、
前記メモリセルアレイ中のメモリセルにデータを書き込むための書き込みバッファ回路と、
前記第1レプリカビット線を用いて生成された読み出しタイミング信号が入力され、前記第2レプリカビット線を駆動するレプリカ書き込みバッファ回路とを具備し、
前記第2レプリカビット線は、前記メモリセルアレイ中のビット線の2倍の容量であり、
前記レプリカ書き込みバッファ回路は、前記書き込みバッファ回路と等しい電流駆動力であることを特徴とする半導体装置。 - 複数のメモリセルがアレイ状に配置されたメモリセルアレイと、
前記メモリセルアレイ中のビット線と同じ配線幅、配線間隔の配線で構成され、読み出しタイミング信号を生成するための第1レプリカビット線と、
前記メモリセルアレイ中のビット線と同じ配線幅、配線間隔の配線で構成され、書き込みタイミング信号を生成するための第2レプリカビット線と、
前記メモリセルアレイ中のメモリセルにデータを書き込むための書き込みバッファ回路と、
前記第1レプリカビット線を用いて生成された読み出しタイミング信号が入力され、前記第2レプリカビット線を駆動するレプリカ書き込みバッファ回路とを具備し、
前記第2レプリカビット線は、前記メモリセルアレイ中のビット線と等しい容量であり、
前記レプリカ書き込みバッファ回路は、前記書き込みバッファ回路の半分の電流駆動力であることを特徴とする半導体装置。 - 前記請求項1又は2に記載の半導体装置において、
前記メモリセルアレイ中のメモリセルから読み出されたデータ、または前記メモリセルに書き込むデータを増幅するセンスアンプを更に具備し、
前記第1レプリカビット線を用いて生成された読み出しタイミング信号により前記センスアンプ及び前記書き込みバッファ回路を活性化し、
前記第2レプリカビット線を用いて生成された書き込みタイミング信号により前記センスアンプ及び前記書き込みバッファを非活性化することを特徴とする半導体装置。 - 前記請求項1乃至3のいずれか1つの項に記載の半導体装置において、
前記メモリセルアレイから読み出されたデータ中のエラーを訂正するためのECC回路を更に具備することを特徴とする半導体装置。
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JP2005025827A (ja) * | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Toshiba Corp | 半導体集積回路装置およびそのエラー検知訂正方法 |
JP2005276348A (ja) * | 2004-03-25 | 2005-10-06 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置、及びプリチャージ制御方法 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US9966125B2 (en) | 2016-09-15 | 2018-05-08 | Toshiba Memory Corporation | Memory device |
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