JP4040706B2 - 半導体ウエハ固定用シートの粘着剤及び半導体ウエハ固定用シート - Google Patents

半導体ウエハ固定用シートの粘着剤及び半導体ウエハ固定用シート Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体ウエハからチップ小片に切断・分離する際に該半導体ウエハを固定するシートの粘着剤に係り、特にチップ保持性及び非汚染性が高く、極小の半導体チップの切断に適した半導体ウエハ固定用シートの粘着剤に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、半導体ウエハ固定用シートの粘着剤は、形成すべきチップ形状に切断される際の半導体ウエハを固定するシート(例えば特開昭60−196956号公報参照)に積層される。半導体ウエハの切断・分離手段としては、半導体ウエハを回転丸刃で切断するフルダイシング方法と、形成すべきチップ小片に合わせて半導体ウエハ表面に浅く楔状溝を入れた後に外力を加えて分割するハーフダイシング方法がある。
【0003】
該シートをフルダイシング方法に対応させるためにはフルダイシング時の衝撃だけでなく分離後の水洗時に受ける水圧に耐え得るようにチップ保持性(粘着力)を設定しなければならない。特に、極小チップと呼ばれる0.3〜1.0mm角のチップの場合には小さい接触面積での上記性質を発現させなければならない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
かかる特殊な用途に用いられる粘着剤として、エマルジヨン型アクリル系粘着剤が知られているが、水に溶けやすく且つ形状が直径約0.3μmの球形であり粘着剤面と半導体ウエハ界面に水が侵入しやすいため、ダイシング時に供給される冷却水を含み粘着力を低下させ半導体ウエハをダイシングするとむやみに飛散してしまうという課題(チップ保持性が低いという課題)がある。また、エマルジョン型アクリル系粘着剤には界面活性剤が添加されているため、該界面活性剤がウエハチップに付着しチップを汚染してしまうだけでなくチップの電気特性を悪化させるという課題(非汚染性が高いという課題)を有する。
【0005】
また、特開昭60−196956号公報には光透過性の支持体と、この支持体上に設けられた光照射により硬化する粘着剤層とを備えた半導体ウエハを固定するための薄板が開示されている。半導体ウエハを切断・分離する際には半導体ウエハを粘着剤層に強固に固定し、切断後には紫外線を照射して該粘着剤層を硬化させ粘着力を減少させて切断・分離させたチップ素子を容易にピックアップさせることができる。しかしながら、かかる方法では高価な紫外線照射装置が必須であり高価な製品になってしまうという新たな課題があった。
【0006】
したがって、本発明の目的は、半導体ウエハを切断・分離する際には半導体ウエハをシート上に強固に固定する一方、切断・分離された小片の半導体素子をピックアップする際には粘着剤が該素子に付着することなく容易にピックアップでき、さらには特別な装置を必要とせずに安価に製造できる半導体ウエハ固定用シートの粘着剤を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明者は、上記に鑑み鋭意検討を行った結果、半導体ウエハ固定用シートに使用される粘着剤の主剤をエラストマ、粘着付与樹脂および硬化剤とすると共に所定比率で作製することにより上記課題を解決できることを見出だし、本発明を完成した。
【0008】
すなわち、本発明にかかる半導体ウエハ固定用シートの粘着剤は、エラストマ100重量部、粘着付与樹脂5〜200重量部および硬化剤0.05〜30重量部からなるものである。
【0009】
上記エラストマを採用したのはエラストマの分子骨格が軟らかいため、半導体ウエハにしっかりと貼り付き、ダイシング時にチップがむやみに飛散せず安定してダイシングできるためである。また、チップ飛散によるブレードの破損がなくなりブレードの耐久性が向上し、生産性向上につながるためである。
【0010】
該エラストマとしては、天然ゴム、合成イソプレンゴム、SBR(スチレンブタジエンゴム)、スチレン・ブタジエンブロック共重合体、ブチルゴム、ポリイソブチレン・シリコンゴム、ポリビニルイソブチルエーテル・クロロプレン、ニトリルゴム、クラフトゴム、スチレン・エチレン・ブチレンブロックコポリマ、スチレン・プロピレン・ブチレンブロックコポリマ、スチレン・イソプレンブロックコポリマ、アクリロニトリル・ブタジエン共重合体、メチル・メタアクリレート・ブタジエン共重合体、ポリイソブチレン・エチレン・プロピレン共重合体、エチレン酢酸ビニル共重合体、ポリブタジエン、アクリロニトリル・アクリルエステル共重合体、ポリビニルエーテル等があり、これらの単独物のみならず混合物であってもよい。また、これらの再生ゴムであってもよい。
【0011】
上記粘着付与樹脂を採用したのは上記目的を達成しつつ従来の粘着力を持たせるためであり、該粘着付与樹脂の添加量はあまりに少ないと粘着効果が出ずあまりに多いと軟らかくなりすぎて非汚染性が低くなってしまうため、5〜200重量部、好ましくは10〜100重量部がよい。
【0012】
本発明の粘着剤に含まれる上記粘着付与樹脂の具体例としては、ロジン系樹脂、テルペン系樹脂、脂肪族石油樹脂、芳香族石油樹脂、水添石油樹脂があり、これらの単独物のみならず混合物であってもよい。上記ロジン系樹脂としては、ロジン、重合ロジン、水添ロジン、ロジンエステル、水添ロジンエステル、ロジンフェノール樹脂等があり、上記テルペン系樹脂としては、テルペン、テルペンフェノール樹脂、芳香族変成テルペン樹脂等がある。また、上記水添石油樹脂としては、芳香族系のもの、ジシクロペンンタジエン系のもの、脂肪族系のもの等がある。
【0013】
本発明に係る粘着剤に上記硬化剤を採用したのは、粘着剤として凝集力を高めつつ非汚染性を高めるためであるが、あまりに多く混合すると粘着剤全体としての物性が不安定になりあまりに少ないと非汚染性が低くなるため0.05〜30重量部、好ましくは1.0〜5.0重量部混合するのがよい。
【0014】
該硬化剤としては、イソシアネート、硫黄と加流促進剤の混合物、ポリアルキルフェノール、有機過酸化物等があり、これらの単独物のみならず混合物であってもよい。上記イソシアネートとしては、フェニレンジイソシアネート、トリレンジイソシアネート、ジフェニルメタジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、シクロヘキサンジイソシアネート等があり、上記硫黄と加流促進剤としてはチアゾール系加流促進剤、スルフェンアミド系加流促進剤、チウラム系加流促進剤、ジチオ酸塩系加流促進剤等がある。上記ポリアルキルフェノールとしては、ブチルフェノール、オクチルフェノール、ノニルフェノール等があり、上記有機過酸化物としては、ベンゾイルパーオキサイド、ジクロミルパーオキサイド、ケトンパーオキサイド、パーオキシケタール、ハイドロパーオキサイド、ジアルキルパーオキサイド、パーオキシエステル、パーオキシジカーボネート等がある。
【0016】
また、本出願に係る他の発明の特徴は、上記主要成分を上記の所定量の範囲内において調整配合することにより得られる粘着剤の貯蔵弾性率を、3.0×105〜5.9×106dyn/cm2の範囲内に設定するものである。この貯蔵弾性率は、あまりに小さいと表面張力エネルギーが大きくなりすぎ軟化しすぎ切断・分離された素子に粘着剤が付着するという非汚染性が低下してしまい、あまりに大きいと表面張力エネルギーが不足し硬化してしまい切断・分離の際に切断された素子がむやみに飛散してしまうため、上記範囲内に設定するのが好ましい。なお、貯蔵弾性率は30℃において粘着剤を粘弾性測定装置にて測定した際の値である。
【0017】
また、本出願に係る他の発明の特徴は、シート状の基材と、この基材に積層された粘着剤を備え、粘着剤が請求項1記載の半導体ウエハ固定用シートの粘着剤であると共に半導体ウエハ固定用シートであって、この半導体ウエハ固定用シートの180度剥離粘着力(JIS Z 0237 10.4に準拠:剥離速度300mm/分、試験体を半導体ウエハで形成)が20〜300gf/20mm、好ましくは60〜100gf/20mmであることである。
【0018】
このような値に限定するのは、かかる値は粘着剤の組成や厚みによって異なるが、特定することによってチップ保持性がさらに向上するためである。かかる180度剥離粘着力(剥離速度300mm/分)があまりに大きいと非汚染性が低下しあまりに小さいとダイシング時に固定された筈のチップがみだりに飛んでしまう。
【0019】
なお、本出願にかかる各発明としての粘着剤を支持する支持体は、従来公知の支持体を適宜選択して使用でき、例えばポリ塩化ビニル、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレン、ポリプロピレン等のプラスチックフイルムなどがある。該支持体としての厚みは適宜変更して使用でき一般に10〜500μmの範囲内から選択される。
【0020】
【実施例】
本発明にかかる半導体ウエハ固定用シートの粘着剤の各実施例と比較例を、主要配合物とその特性値を表1〜表4に開示しつつ詳細に説明する。なお、各表における配合物の数値の単位は重量部である。
【0021】
【表1】
Figure 0004040706
【0022】
【表2】
Figure 0004040706
【0023】
【表3】
Figure 0004040706
【0024】
【表4】
Figure 0004040706
【0025】
エラストマとして可塑度(JIS K 6300)30を有するマレーシア産天然ゴム、粘着付与樹脂として荒川化学工業社製アルコンP−90(C5C9水添石油樹脂)を表に示す割合にて配合し、表外の老化防止剤としての川口化学社製のANTAGE W−500を2重量部、トルエン570重量部を添加して攪拌溶解したものにイソシアネート系硬化剤としての日本ポリウレタン工業社製のCORONATE2067を表に示す割合にて添加して粘着剤を得た。なお、表3に開示した比較例3、比較例4では、粘着付与樹脂として、それぞれテルペン樹脂(安原化学社製YSRESIN 1250)、テルペンフェノール樹脂(同社YS RESIN POLY STAR 100)を用いた。
【0026】
特性値の測定にあっては、上記配合比で作成した粘着剤を10μmの厚さでポリ塩化ビニルフイルムに塗布し100℃、1分間加熱乾燥してたもので行った。
【0027】
特性値における貯蔵弾性率は測定温度30℃においてレオメトリックファーイースト社製の粘弾性測定装置ダイナミックアナライザーRDA−11を用いて測定したものであり、180度剥離粘着力(JIS Z 0237 10.4に準拠:剥離速度300mm/分、試験体を半導体ウエハで形成)の単位はgf/20mmである。
【0028】
チップ保持性は、半導体固定用シート上に厚さ400μmのシリコン製半導体ウエハを貼り付けてから20分後に0.5mm角チップへとフルカットした際、チップがまったく飛ばないものを「5」、10%未満のチップが飛んだものを「4」、10%以上20%未満のチップが飛んだものを「3」、20%以上50%未満のチップが飛んだものを「2」、50%以上のチップが飛んだものを「1」とした。
【0029】
非汚染性は、シリコン製半導体ウエハを粘着剤に貼り付けてから65℃で7日保存した後に剥離された際のウエハ表面を顕微鏡200倍で観察したときに粘着剤が見つけられなかったものを「4」、最大直径20μm以上100μm未満の糊の塊があったものを「3」、最大直径1mm以上の糊の塊があったものを「2」、ウエハ表面の全面に糊が残っていたものを「1」とした。
【0030】
実施例1〜4では、貯蔵弾性率が3.0×10〜5.9×10dyn/cmの範囲で且つ180度剥離粘着力(剥離速度300mm/分)が20〜300gf/20mmの範囲にあるため、チップ保持性に優れ且つ非汚染性にも優れていた。
【0031】
実施例5〜8の粘着剤は、エラストマ100重量部、粘着付与樹脂5〜200重量部及び硬化剤0.05〜30重量部の配合比で製造されたものであるが、貯蔵弾性率が3.0×10〜5.9×10dyn/cmの範囲外であり且つ180度剥離粘着力(剥離速度300mm/分)が20〜300gf/20mmの範囲外であるため、製品としては本発明の目的を達成する範囲にあるがチップ保持性及び/又は非汚染性に若干劣るものであった。
【0032】
比較例1〜4の粘着剤は、主要成分の配合比が本発明の範囲外であり、貯蔵弾性率及び180°剥離粘着力も上述の範囲外となり、粘着付与樹脂が含まれないとチップ保持性が悪く(比較例1参照)、多いと非汚染性が悪かった(比較例2参照)。また、硬化剤が多いとチップ保持性が悪く(比較例3参照)、硬化剤が含まれないと非汚染性が悪かった(比較例4参照)。
【0033】
実施例9〜12は、表4に開示したように実施例1〜8と同様に調整した粘着剤であり、実施例9では可塑度が20のマレーシア産天然ゴムを用い、実施例10〜12では可塑度45のマレーシア産天然ゴムを用いた。また、粘着付与樹脂として、実施例9及び10では前述のARKON P−90を用い、実施例11及び12では前述のYS RESIN 1250及びYS RESIN POLY STAR 100を各々用いたものである。なお、表4中の特性値は上述の方法と同様な方法で行ったものである。
【0034】
該実施例から明らかなように、エラストマの可塑度や粘着付与樹脂自体を変えてもチップ保持性、非汚染性に優れた粘着剤を得られることができた。
【0035】
【発明の効果】
本発明にかかる半導体ウエハ固定用シートの粘着剤は、エラストマ100重量部、粘着付与樹脂5〜200重量部および硬化剤0.05〜30重量部からなり、これによりチップ保持性及び非汚染性が高く、特に極小のチップへのフルダイシングができるという効果を有する。
【0036】
上記配合比の粘着剤の貯蔵弾性率を3.0×105〜5.9×106dyn/cm2に特定することによって、さらにチップ保持性及び非汚染性が高く、特に極小のチップへのフルダイシングができるという効果を有する。
【0037】
また、他の発明にかかる半導体ウエハ固定用シートは、上記配合比の粘着剤の半導体ウエハに対する180度剥離粘着力(JIS Z 0237 10.4に準拠:剥離速度300mm/分、試験体を半導体ウエハで形成)を20〜300gf/20mmに限定し、これによりチップ保持性及び非汚染性がさらに高く、特に極小のチップへのフルダイシングができるという効果を有する。

Claims (3)

  1. 天然ゴム100重量部、水添石油樹脂40〜190重量部およびイソシアネート系硬化剤1〜30重量部を含有し、放射線硬化剤を含まない半導体ウエハ固定用シートの粘着剤。
  2. 3.0×10〜5.9×10dyn/cmの貯蔵弾性率を有することを特徴とする請求項1記載の半導体ウエハ固定用シートの粘着剤。
  3. シート状の基材と、この基材に積層された粘着剤を備え、粘着剤が請求項1記載の半導体ウエハ固定用シートの粘着剤であると共に半導体ウエハ固定用シートであって、この半導体ウエハ固定用シートの180度剥離粘着力(JIS Z 0237 10.4に準拠:剥離速度300mm/分、試験体を半導体ウエハで形成)が20〜300gf/20mmである半導体ウエハ固定用シート。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11199841A (ja) * 1998-01-19 1999-07-27 Nitto Denko Corp 半導体装置用接着シ―ト類と面実装型半導体装置
JP4651767B2 (ja) * 1999-12-27 2011-03-16 日東電工株式会社 固形タイプの粘着剤組成物とその粘着シ―ト類
JP4780828B2 (ja) * 2000-11-22 2011-09-28 三井化学株式会社 ウエハ加工用粘着テープ及びその製造方法並びに使用方法
JP5010800B2 (ja) * 2004-03-26 2012-08-29 リンテック株式会社 半導体デバイスの製造方法及びダイシング用粘着テープ
US8268449B2 (en) * 2006-02-06 2012-09-18 Brewer Science Inc. Thermal- and chemical-resistant acid protection coating material and spin-on thermoplastic adhesive
JP4920400B2 (ja) * 2006-12-26 2012-04-18 日東電工株式会社 防水気密用粘着シート
JP2008098669A (ja) * 2007-12-21 2008-04-24 Denki Kagaku Kogyo Kk 半導体ウエハ・ダイシング方法
JP5378484B2 (ja) * 2011-11-14 2013-12-25 日東電工株式会社 架橋された固形タイプの粘着剤組成物とその粘着シートおよび防水気密用粘着シートの製造方法
JP7072735B1 (ja) * 2021-03-31 2022-05-20 株式会社寺岡製作所 粘着組成物及び粘着テープ

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