JP4010418B2 - 測定装置及びその製造方法 - Google Patents
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- Optical Measuring Cells (AREA)
Description
12…基台 14…光ファイバ
16、16A、16B…光ファイバアレイ 18…V溝
20、62…キャピラリー 22、40、50…交差溝
28…隆起部 28a…隆起部の上面
32…被測定物質 42…フィルタ部材
52…ハーフミラー部材 54…PDアレイ
56…サブマウント 60…波長選択フィルタ部材
70…逃げ溝
Claims (11)
- 基台と、1以上の光ファイバとを有し、
前記基台は、1つの面に、前記1以上の光ファイバが載置固定される1以上のV溝と、前記V溝に対して交差して設けられ、且つ、被測定物が配される交差溝とを有し、
前記光ファイバを伝搬する光を前記被測定物に照射して、前記被測定物の性質を測定することを特徴とする測定装置。 - 請求項1記載の測定装置において、
前記V溝は、前記交差溝を間に挟んで対向していることを特徴とする測定装置。 - 請求項1又は2記載の測定装置において、
さらに、前記被測定物を前記交差溝に配するための位置決め部材を有し、
前記位置決め部材は、前記交差溝に載置固定されていることを特徴とする測定装置。 - 請求項3記載の測定装置において、
前記位置決め部材は、円筒形状を有し、
前記交差溝はV溝形状を有することを特徴とする測定装置。 - 請求項3記載の測定装置において、
前記位置決め部材は、少なくとも1つの平面を有し、
前記交差溝は底部に平面を有し、
前記位置決め部材の前記平面が、前記交差溝の底部に当接されていることを特徴とする測定装置。 - 請求項1〜5のいずれか1項に記載の測定装置において、
少なくとも前記V溝に樹脂が塗布され、
前記基台の前記面のうち、前記V溝と前記基台の側面との間に前記樹脂を逃すための逃げ溝が形成されていることを特徴とする測定装置。 - 請求項3〜6のいずれか1項に記載の測定装置において、
前記光ファイバの前記交差溝に臨む端部が接着剤にて前記V溝に固定され、
前記位置決め部材が前記接着剤にて前記交差溝に固定され、
前記交差溝における前記光ファイバ間の光路のうち、前記光ファイバと前記位置決め部材間の光路に前記接着剤が充填されていることを特徴とする測定装置。 - 請求項1〜7のいずれか1項に記載の測定装置において、
前記基台は、前記1つの面に、前記交差溝のほかに、前記V溝に対して交差して設けられ、且つ、光部品が挿入される第2の交差溝を有することを特徴とする測定装置。 - 請求項8記載の測定装置において、
前記光部品は、前記光ファイバを伝搬する光の一部を分岐するフィルタ部材であり、
前記光ファイバ上のうち、前記フィルタ部材からの分岐光の光路に受光素子を有することを特徴とする測定装置。 - 基台と、1以上の光ファイバとを有し、前記基台は、1つの面に、前記1以上の光ファイバが載置固定される1以上のV溝と、前記V溝に対して交差して設けられ、且つ、被測定物が配される交差溝とを有し、前記光ファイバを伝搬する光を前記被測定物に照射して、前記被測定物の性質を測定する測定装置の製造方法であって、
前記基台の前記1つの面に前記V溝を形成する工程と、
前記V溝に光ファイバを載置固定する工程と、
前記V溝に載置固定された前記光ファイバを切断するようにして、前記基台の前記1つの面に前記交差溝を形成する工程とを有することを特徴とする測定装置の製造方法。 - 基台と、1以上の光ファイバとを有し、前記基台は、1つの面に、前記1以上の光ファイバが載置固定される1以上のV溝と、前記V溝に対して交差して設けられ、且つ、被測定物が配される交差溝とを有し、前記光ファイバを伝搬する光を前記被測定物に照射して、前記被測定物の性質を測定する測定装置の製造方法であって、
前記基台の前記1つの面に前記V溝を形成する工程と、
前記基台の前記1つの面に前記交差溝を形成する工程と、
前記被測定物を前記交差溝に配するための位置決め部材を前記交差溝に載置固定する工程と、
前記光ファイバの端面を前記位置決め部材に近接させて前記V溝に前記光ファイバを載置固定する工程とを有することを特徴とする測定装置の製造方法。
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