JP3984611B2 - 有機無機ハイブリッド絶縁膜の形成方法 - Google Patents
有機無機ハイブリッド絶縁膜の形成方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3984611B2 JP3984611B2 JP2004367596A JP2004367596A JP3984611B2 JP 3984611 B2 JP3984611 B2 JP 3984611B2 JP 2004367596 A JP2004367596 A JP 2004367596A JP 2004367596 A JP2004367596 A JP 2004367596A JP 3984611 B2 JP3984611 B2 JP 3984611B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- organic
- insulating film
- group
- inorganic hybrid
- siloxane
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Description
102 気化器
103 反応室
104 配管
111 シロキサン部位
112 主鎖を構成していない有機分子部位
113 主鎖を構成する有機分子部位
A 3次元的な有機無機ポリマーのネットワーク構造
a シロキサン部位
b 有機分子部位
c 空孔
Claims (4)
- シロキサン結合を有する有機シリコン化合物を気化する工程と、
前記気化された有機シリコン化合物をモノマーの状態に保持しながら反応室に輸送する工程と、
前記反応室内において、プラズマCVD法により前記気化された有機シリコン化合物をプラズマ重合することにより、前記反応室内に設置された基板上に、シロキサン部位と有機分子部位とが交互に結合することにより構成された構造の主鎖を有する有機無機ハイブリッド絶縁膜を形成する工程とを備え、
前記有機シリコン化合物は、直鎖シロキサン構造を有し、
前記有機シリコン化合物は、1,3−ジフェニル−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、1,3−ジメチル−1,1,3,3−テトラフェニルジシロキサン、1,3−ジビニル−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、1,3−ジメチル−1,1,3,3−テトラビニルジシロキサン、又はヘキサビニルジシロキサンのいずれかである
ことを特徴とする有機無機ハイブリッド絶縁膜の形成方法。 - シロキサン結合を有する有機シリコン化合物を、熱重合を防止しながら気化する工程と、
前記気化された有機シリコン化合物を反応室に輸送する工程と、
前記反応室内において、プラズマCVD法により前記気化された有機シリコン化合物をプラズマ重合することにより、前記反応室内に設置された基板上に、シロキサン部位と有機分子部位とが交互に結合することにより構成された構造の主鎖を有する有機無機ハイブリッド絶縁膜を形成する工程とを備え、
前記有機シリコン化合物は、直鎖シロキサン構造を有し、
前記有機シリコン化合物は、1,3−ジフェニル−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、1,3−ジメチル−1,1,3,3−テトラフェニルジシロキサン、1,3−ジビニル−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、1,3−ジメチル−1,1,3,3−テトラビニルジシロキサン、又はヘキサビニルジシロキサンのいずれかである
ことを特徴とする有機無機ハイブリッド絶縁膜の形成方法。 - 前記有機無機ハイブリッド絶縁膜を形成する工程において、酸化剤を用いずにプラズマ重合を行なうことを特徴とする請求項1又は2に記載の有機無機ハイブリッド絶縁膜の形成方法。
- 前記有機無機ハイブリッド絶縁膜を形成する工程において、非酸化雰囲気中においてプラズマ重合を行なうことを特徴とする請求項1又は2に記載の有機無機ハイブリッド絶縁膜の形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004367596A JP3984611B2 (ja) | 2004-02-13 | 2004-12-20 | 有機無機ハイブリッド絶縁膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004037050 | 2004-02-13 | ||
JP2004367596A JP3984611B2 (ja) | 2004-02-13 | 2004-12-20 | 有機無機ハイブリッド絶縁膜の形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005260205A JP2005260205A (ja) | 2005-09-22 |
JP3984611B2 true JP3984611B2 (ja) | 2007-10-03 |
Family
ID=35085591
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004367596A Expired - Fee Related JP3984611B2 (ja) | 2004-02-13 | 2004-12-20 | 有機無機ハイブリッド絶縁膜の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3984611B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005294333A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Semiconductor Process Laboratory Co Ltd | 成膜方法及び半導体装置 |
US8133821B2 (en) | 2008-11-18 | 2012-03-13 | Renesas Electronics Corporation | Method of manufacturing porous insulating film, method of manufacturing semiconductor device, and semiconductor device |
US8268675B2 (en) * | 2011-02-11 | 2012-09-18 | Nordson Corporation | Passivation layer for semiconductor device packaging |
KR101672237B1 (ko) * | 2015-04-20 | 2016-11-04 | 경북대학교 산학협력단 | 열처리를 이용한 유기 메모리 소자 및 그 제조 방법 |
-
2004
- 2004-12-20 JP JP2004367596A patent/JP3984611B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005260205A (ja) | 2005-09-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3762304B2 (ja) | 低誘電率層間絶縁膜の形成方法 | |
US6936537B2 (en) | Methods for forming low-k dielectric films | |
US7582575B2 (en) | Method for forming insulation film | |
JP3432783B2 (ja) | 集積回路構造物用の低誘電率の多数炭素−含有酸化ケイ素誘電体 | |
JP4842251B2 (ja) | 下にあるバリア層への多孔性低誘電率膜の接着を促進する手法 | |
US20070032675A1 (en) | Forming a dielectric layer using a hydrocarbon-containing precursor | |
JP4217870B2 (ja) | 有機シロキサン共重合体膜、その製造方法、成長装置、ならびに該共重合体膜を用いた半導体装置 | |
TWI649445B (zh) | 矽環化合物及使用其的膜沉積方法 | |
US20060258176A1 (en) | Method for forming insulation film | |
JP2013102174A (ja) | 優勢エッチング抵抗性を具備する低k誘電バリアを得る方法 | |
CN102770580A (zh) | 藉由等离子体增强化学气相沉积使用含有具有机官能基的硅的杂化前驱物所形成的超低介电材料 | |
US20030017718A1 (en) | Method for forming interlayer dielectric film | |
KR100609305B1 (ko) | 다공성 저 유전율 필름을 형성하기 위한 비-열적 방법 | |
JP2008544533A (ja) | 誘電体膜の形成方法及び該方法を実施するための新規な前駆体 | |
CN101202227A (zh) | 最小化湿法蚀刻底切度并提供极低k值(k<2.5)电介质封孔的方法 | |
TW202012419A (zh) | 矽化合物及使用其沉積膜的方法 | |
JP3984611B2 (ja) | 有機無機ハイブリッド絶縁膜の形成方法 | |
JP2006351880A (ja) | 層間絶縁膜の形成方法及び層間絶縁膜の膜構造 | |
US9054110B2 (en) | Low-K dielectric layer and porogen | |
JP3486155B2 (ja) | 層間絶縁膜の形成方法 | |
EP1564268A2 (en) | Method for forming organic/inorganic hybrid insulation | |
JP4701017B2 (ja) | 半導体装置の製造方法及び半導体装置 | |
JP4997435B2 (ja) | 絶縁膜用材料およびその成膜方法 | |
JP2004064023A (ja) | 共重合高分子膜及びその形成方法、共重合高分子膜を用いた半導体装置ならびに高分子膜成長装置 | |
KR20010040901A (ko) | 저 유전 상수 필름을 증착하는 플라즈마 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20061127 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20061219 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070219 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070313 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070508 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20070528 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070612 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070706 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100713 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110713 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110713 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120713 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120713 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130713 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |