JP3935908B2 - 量子化誤差を減少させる装置及び方法 - Google Patents

量子化誤差を減少させる装置及び方法 Download PDF

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Description

1つの電子装置又はシステムで1つのデジタル関数を実行或いは計算するとき、1つの所定数のビットを該関数計算の入力として使用することができる。使用されるビット数が大きいほど、出力信号はより正確になり、且つ出力誤差Eは小さくなる。しかし、入力ビット数が大きくなるに連れて関数計算の複雑さも大きくなる。関数計算の複雑さを減少させるために入力ビット数を減らせば、出力誤差Eは増大する。
マトリックス反転関数などのデジタル関数を多数の入力ビットで実行するためには、多数のビットを扱うために複雑な計算ハードウェアと大きなメモリー容量とが必要であり、該関数が実行又は計算されるたびに相当の電流又は電力が消費されるという結果を招く可能性がある。デジタル関数のソフトウェア実行も、1秒あたりに多数の命令を実行するときに相当の量の電流又は電力を消費するであろう。電力消費は、バッテリーで動かされるデジタル装置又はシステムでは極めて重要であろう。
従って、上記の理由と、本明細書を読んで理解すれば明らかになる他の複数の理由から、出力誤差や量子化誤差を増大させずに1つの減少した数の入力ビットを使用し、より少量の電力を消費し、計算ハードウェアを簡単化することを可能にし、必要なメモリー容量を小さくすることを可能にする装置及び方法に対する需要がある。
複数の実施態様についての以下の詳しい記述は、本発明の複数の具体的実施態様を示す複数の添付図面を参照する。異なる複数の構造及び複数の動作を有する他の複数の実施態様は本発明の範囲から逸脱しない。
図1は、本発明の1つの実施態様に従って量子化誤差を減少させる1つの装置100の1つのブロック図である。装置100は、1つの入力信号から1つの量子化信号を作ることのできる1つの量子化器102を含むことができる。
量子化器102は、入力信号を一定有限数のビットで表わすことができる。例えば、1つの16ビット入力信号は3ビット量子化信号に量子化され得る。該ビットを量子化するステップで、一定の歪みΔが量子化信号に導入される可能性がある。入力信号と量子化信号とは、1つの誤差計算器104に入力されて良い。誤差計算器104は、入力信号と、量子化器102からの量子化信号との1つの差を判定することができる。誤差計算器104は、歪みΔ又は入力信号と量子化信号との差に応じて1つの誤差信号を作ることができる。従って、誤差信号はΔに対応するであろう。量子化器102は、1つの関数ユニット106に結合されて良い。関数ユニット106は、1つの所定関数f(x)を量子化信号に適用することによって1つの出力信号を作るように構成されて良い。関数ユニット106は、該所定関数に従って1つの入力信号を1つの出力信号にマッピングする任意の装置又はエレメントであって良い。関数ユニット106と誤差計算器104とは1つの補正ユニット108に結合されて良い。量子化信号も補正ユニット108に結合されて良い。補正ユニット108は、関数ユニット106からの出力信号の歪みを誤差信号Δに応じて補償して出力信号の精度を高めることができる。補正ユニット108は、出力信号の1つのテイラー級数近似を計算することによって1つの歪み補償済み出力信号を作ることができる。任意の或いは選択された関数f(x)は、x=aの回りのテイラー級数展開により表わされて良い。
Figure 0003935908
ここでΔ=x−aであり、f(N)(a)はf(x)のx=aでのN次導関数である。数1をf(a)について解くと、補正ユニット108の出力は歪みΔについて補償された出力信号であって関数f(x)のx=aにおける1次テイラー級数近似であって良い。
Figure 0003935908
関数ユニット106或いは補正ユニット108は、x=aについて量子化された信号に所定の関数f(x)の一次導関数f’(x)を適用する事によって数式2におけるf’(a)に対応する導関数信号即ち数式2のf’(a)に対応する項を生成してよい。精度を高めるために、テイラー級数の追加の項を数2に含めても良い。
Figure 0003935908
関数ユニット106或いは補正ユニット108も、テイラー級数の追加の項について追加の複数の導関数信号又は複数の項を作るように構成されて良い。1つの追加の導関数信号又は項は、x=aについて量子化信号に適用される所定関数f(x)の1つのそれぞれのより高い次数の導関数F(N)(a)に対応する。該追加項は関数f(x)のテイラー級数近似の精度を高めるけれども、テイラー級数の追加項は装置100の複雑さを増大させる。
装置100の動作の1つの例として、マトリックスXで表わされた1つの入力信号を量子化器102に加えることができる。量子化信号はX+Δにより表わされても良く、ここでΔは量子化プロセスで導入された歪み或いは量子化誤差である。関数ユニット106は該マトリックスの逆関数である所定関数f(x)=X−1を適用することができる。従って、関数ユニット106は、量子化信号の逆である出力信号(X+Δ)−1を作ることができる。補正ユニット108による関数f(x)=X−1の1つの歪み補償済み出力についてのテイラー級数近似は次のようになり得る。
Figure 0003935908
装置100は、関数ユニット106での所定関数計算に使用されるビット数を減少させるために入力信号を量子化することによって関数計算を簡単化することができ、補正ユニット108で所定関数のテイラー級数近似を決定することによって量子化誤差を補償する。装置100は、ハードウェア或いはソフトウェアで実現され得る。
図2は、本発明の他の実施態様に従って量子化誤差を減少させる1つの装置200の1つのブロック図である。装置200は、1つの入力信号Xから1つの量子化信号を作ることのできる1つの量子化器202を含むことができる。図2に示されている例では、1つの16ビット入力信号を或る歪みを伴う1つの8ビット量子化信号X+Δに量子化することができる。入力信号Xと量子化信号X+Δとを誤差計算器204に加えることができる。誤差計算器204は、入力信号Xと量子化信号X+Δとの1つの差を判定して、歪みΔに対応する1つの誤差信号を作ることができる。
量子化信号X+Δを1つの関数ユニット206に加えることができる。関数ユニット206は、量子化信号に1つの所定関数f(X)を適用することによって1つの出力信号を作るように構成され得る。図2に示されている実施態様では、所定関数f(X)はサイン関数であって良い。従って、関数ユニット206は、sin(X+Δ)に対応する1つの出力信号を作ることができる。関数ユニット206は出力信号sin(X+Δ)を作るために1つのサイン・テーブルを含むことができる。サイン・テーブルは256項目を含むことができる。
90°だけ移相された1つの量子化信号を量子化信号、X+Δ+N/2から作り、これを関数ユニット206に加えて、cos(X)である所定関数sin(X)の1次導関数を提供することができる。この様に、関数ユニット206は、量子化信号に加えられた所定関数の1次導関数即ちcos(X+Δ)である1つの1次導関数信号を作ることができる。cos(X+Δ)は、サイン・テーブルから判定されても良い。
関数ユニット206からの出力信号sin(X+Δ)及び1次導関数信号cos(X+Δ)を誤差信号aとともに1つの補正ユニット208に加えて、sin(X)の近似値であって良い1つの歪み補償済み出力信号を作ることができる。補正ユニット208は、上記の数2に従って数5により示される出力信号の1つのテイラー級数近似を計算することによって歪み補償済み出力信号を作ることができる。
Figure 0003935908
図3は、本発明の1つの実施態様に従って量子化誤差を減少させる1つの装置302を含む1つの電子システム300の1つのブロック図である。装置302は、図1の装置100及び図2の装置200と実質的に同様であって良い。電子システム300は、複数のアナログ信号を複数のデジタル信号に変換する1つのアナログ・デジタル変換器304(ADC)を含むことができる。ADC304を1つのデジタル信号処理装置306(DSP)に接続することができ、DSP306を、量子化誤差を減少させる装置302に接続することができる。
DSP306は、装置302に1つの入力信号を提供する1つの回路を表わすことができるとともに、装置302から1つの歪み補償済み出力信号を受け取ることもできる。装置302は、ビットの数を減少させるために1つのデジタル入力信号を量子化し、その量子化された信号に1つの所定関数を適用し、図1の装置100及び図2の装置200に関して説明されたものと同様の1つの歪み補償済み出力信号を作ることができる。DSP306を、DSP306によって検索され使用又は処理され得る情報を格納する1つのメモリー308に接続することができる。DSP306と情報をやり取りすることを容易にするために、DSP306を1つの入出力インターフェース310にも接続することができる。電子システム300は、通信装置又はシステム、コンピュータ・システム、産業用制御システムなどの1つのより大きな装置又はシステムの1つのサブシステムであって良い。
図4は、1つの出力誤差を実質的に同じに保ちながら本発明の1つの実施態様に従って量子化誤差を減少させ或いは1つの所定関数計算のための1つの入力として使用されるビットの数を減少させる1つの方法400の1つのフローチャートである。ブロック402において、入力信号のビット数より少ないビット数を有する1つの量子化信号を作るために1つの入力信号を量子化することができる。ブロック404において、入力信号と量子化信号との間の歪みに応じて1つの誤差信号を作ることができる。ブロック406において、量子化信号に1つの所定関数を適用することによって1つの出力信号を作ることができる。量子化信号のビット数は低減されているので、該所定関数を計算するときの複数の演算或いは複数の計算の数を減らすことによって該所定関数の計算の複雑さを低下させることができる。ブロック408において、誤差信号に応じて出力信号の歪みを補償することができる。出力信号の歪み又は誤差の原因の一部は、量子化信号の低減されたビット数を用いて所定関数を計算することにある。出力信号の歪みは、出力信号のテイラー級数近似を計算することによって補償され得る。従って、1つの出力誤差を元の入力信号の複数のビットの全てを用いるときのそれと実質的に等しく保ちながら、計算に使用されるビットの数を減少させることを可能にすることによって、装置100及び200は該所定関数の計算の複雑さを低下させることができる。
方法400を実行するためにコンピュータ実行可能な複数の命令を有するコンピュータ読み取り可能な媒体で方法400を具体化することができる。コンピュータ読み取り可能な媒体は、フロッピーディスク、在来のハードディスク、コンパクトディスク読み出し専用メモリー(CD−ROM)、フラッシュROM、不揮発性ROM、ランダムアクセスメモリーなどの任意の種類のコンピュータ・メモリーを含むことができる。
複数の特定の実施態様が本書において例証され説明されているけれども、同じ目的を達成すると推定される任意の構成を、図示されている複数の特定の実施態様の代わりに用いても良いことを当業者は理解するであろう。この出願は、本発明の任意の改造形或いは変化形を含むように意図されている。従って、この発明は請求項及びその同等物によってのみ限定される。
図1は、本発明の1つの実施態様に従って量子化誤差を減少させる装置の1つのブロック図である。 本発明の他の実施態様に従って量子化誤差を減少させる1つの装置の1つのブロック図である。 本発明の1つの実施態様に従って量子化誤差を減少させる1つの装置を含む1つの電子システムの1つのブロック図である。 本発明の1つの実施態様に従って量子化誤差を減少させる1つの方法の1つのフローチャートである。

Claims (28)

  1. 1つの装置であって、
    1つの入力信号から1つの量子化信号を作る1つの量子化器と、
    前記量子化信号に1つの所定関数を適用することによって1つの出力信号を作る1つの関数ユニットと、
    前記出力信号を用いて前記所定関数のテイラー級数近似を計算することによって、前記出力信号の歪みを補償する1つの補正ユニットと
    を備える、装置。
  2. 前記入力信号と前記量子化信号との間の歪みに応じて1つの誤差信号を作る1つの誤差計算器
    を更に備え、
    前記補正ユニットは、前記誤差信号に応じて前記出力信号の歪みを補償する、請求項1に記載の装置。
  3. 前記補正ユニットが、前記出力信号および前記誤差信号を用いて1つのテイラー級数近似を計算することによって1つの歪み補償済み出力信号を作る、請求項2に記載の装置。
  4. 前記補正ユニットが、前記出力信号から前記出力信号の1つのテイラー級数近似の少なくとも1つの1次項を差し引くことによって1つの歪み補償済み出力信号を作ることができる、請求項1に記載の装置。
  5. 前記出力信号の歪みに対する補償を所定量だけ増大させるために前記補正ユニットにおいて前記出力信号から前記出力信号の1つのテイラー級数近似の1つの選択された数のより高次の項が差し引かれる、請求項1に記載の装置。
  6. 前記関数ユニットまたは前記補正ユニットのうちの一方が、前記所定関数の1つの1次導関数を前記量子化信号に適用することによって少なくとも1つの導関数項を作るように構成されている、請求項1に記載の装置。
  7. 前記入力信号と前記量子化信号との間の歪みに応じて1つの誤差信号を作る1つの誤差計算器
    を更に備え、
    前記補正ユニットが、前記誤差信号と前記少なくとも1つの導関数項との少なくとも1つの積を前記出力信号から差し引くことによって前記出力信号の歪みを補正する、請求項6に記載の装置。
  8. 前記関数ユニットまたは前記補正ユニットが、2つ以上の導関数項を作るように構成されており、前記導関数項は、前記所定関数の1つのそれぞれのより高次の導関数を前記量子化信号に適用することによってそれぞれ作られる、請求項1に記載の装置。
  9. 前記入力信号と前記量子化信号との間の歪みに応じて1つの誤差信号を作る1つの誤差計算器
    を更に備え、
    前記補正ユニットは、Δが前記誤差信号に対応し、f'(a)が1つの値"a"についての前記所定関数の1次導関数に対応し、 (N) a)が値"a"についての前記所定関数のN次導関数に対応する場合、
    Figure 0003935908
    前記数1に従って前記出力信号の歪みを補償する、請求項8に記載の装置。
  10. 1つのシステムであって、
    1つの入力信号を作る1つの回路と、
    前記入力信号から、前記入力信号のビット数より少ないビット数を有する1つの量子化信号を作る1つの量子化器と、
    前記入力信号と前記量子化信号との間の歪みに応じて1つの誤差信号を作る1つの誤差計算器と、
    1つの所定関数を前記量子化信号に適用することによって1つの出力信号を作る1つの関数ユニットと、
    前記誤差信号および前記出力信号から計算されたテイラー級数近似を用いて、前記出力信号の歪みを補償する1つの補正ユニットと、
    歪み補償された前記出力信号を受け取る1つのデジタル信号処理装置、中央処理装置または記憶装置のうちの1つと
    を備える、システム。
  11. 前記補正ユニットは、前記所定関数のテイラー級数近似を計算することによって1つの歪み補償済み出力信号を作る、請求項10に記載のシステム。
  12. 前記補正ユニットは、前記出力信号の1つのテイラー級数近似の少なくとも1つの1次項を前記出力信号から差し引くことによって1つの歪み補償済み出力信号を作る、請求項10に記載のシステム。
  13. 前記出力信号の歪みに対する補償を所定量だけ増大させるために前記補正ユニットにおいて前記出力信号から前記出力信号の1つのテイラー級数近似の1つの選択された数のより高次の項が差し引かれる、請求項10に記載のシステム。
  14. 前記関数ユニットまたは前記補正ユニットが、前記所定関数の1つの1次導関数を前記量子化信号に適用することによって少なくとも1つの導関数信号を作るように構成されている、請求項10に記載のシステム。
  15. 前記補正ユニットが前記誤差信号と前記少なくとも1つの導関数信号との少なくとも1つの積を前記出力信号から差し引くことによって前記出力信号の歪みを補償する、請求項14に記載のシステム。
  16. 1つの方法であって、
    1つの入力信号を量子化して1つの量子化信号を作る段階と、
    1つの所定関数を前記量子化信号に適用することによって1つの出力信号を作る段階と、
    前記出力信号を用いて前記所定関数のテイラー級数近似を計算することによって、前記出力信号の歪みを補償する段階と
    を備える、方法。
  17. 前記出力信号の歪みを補償する段階が、前記出力信号、および前記入力信号と前記量子化信号との間の歪みに応じて生成される誤差信号を用いて、1つのテイラー級数近似を計算する段階を備える、請求項16に記載の方法。
  18. 前記出力信号の歪みを補償する段階が、前記出力信号の1つのテイラー級数近似の少なくとも1つの1次項を前記出力信号から差し引く段階を備える、請求項16に記載の方法。
  19. 前記所定関数の1つの1次導関数を前記量子化信号に適用することによって少なくとも1つの導関数項を作る段階を更に備える、請求項16に記載の方法。
  20. 前記出力信号の歪みを補償する段階が、少なくとも、1つの誤差信号と前記少なくとも1つの導関数項との積を前記出力信号から差し引く段階を備える、請求項19に記載の方法。
  21. 1つの方法であって、
    入力信号のビット数から低減されたビット数を有する1つの量子化信号を用いて1つの所定関数を計算することによって1つの出力信号を作る段階と、
    前記出力信号を用いて前記所定関数のテイラー級数近似を計算することによって、前記低減されたビット数を用いて前記所定関数を計算することに起因する前記出力信号の歪みを補償する段階と
    を備える、方法。
  22. 前記出力信号の歪みを補償する段階が、前記出力信号、および前記入力信号と前記量子化信号との間の歪みに応じて生成される誤差信号を用いて、1つのテイラー級数近似を計算する段階を備える、請求項21に記載の方法。
  23. 前記出力信号の前記テイラー級数近似を計算する段階が、前記量子化信号と1つの入力信号との1つの差を判定する段階を備える、請求項22に記載の方法。
  24. 前記出力信号の歪みを補償する段階が、前記出力信号の1つのテイラー級数近似の少なくとも1つの1次項を前記出力信号から差し引く段階を備える、請求項21に記載の方法。
  25. 1つの方法を実行するためのコンピュータ実行可能な命令を有する1つのコンピュータ読み取り可能な媒体であって、前記方法が、
    入力信号のビット数から低減されたビット数を有する1つの量子化信号を用いて1つの所定関数を計算することによって1つの出力信号を作る段階と、
    前記出力信号を用いて前記所定関数のテイラー級数近似を計算することによって、前記低減されたビット数を用いて前記所定関数を計算することに起因する前記出力信号の歪みを補償する段階と
    を備える、コンピュータ読み取り可能な媒体。
  26. 前記出力信号の歪みを補償する段階が、前記出力信号、および前記入力信号と前記量子化信号との間の歪みに応じて生成される誤差信号を用いて、1つのテイラー級数近似を計算する段階を備える、請求項25に記載の前記方法を実行するためのコンピュータ実行可能な命令を有するコンピュータ読み取り可能な媒体。
  27. 前記出力信号の前記テイラー級数近似を計算する段階が、前記量子化信号と1つの入力信号との1つの差を判定する段階を備える、請求項26に記載の前記方法を実行するためのコンピュータ実行可能な命令を有するコンピュータ読み取り可能な媒体。
  28. 前記出力信号の歪みを補償する段階が、前記出力信号の1つのテイラー級数近似の少なくとも1つの1次項を前記出力信号から差し引く段階を備える、請求項25に記載の前記方法を実行するためのコンピュータ実行可能な命令を有するコンピュータ読み取り可能な媒体。
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