JP3871868B2 - 液状注入封止アンダーフィル材の製造方法、液状注入封止アンダーフィル材及び半導体装置 - Google Patents

液状注入封止アンダーフィル材の製造方法、液状注入封止アンダーフィル材及び半導体装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3871868B2
JP3871868B2 JP2000289693A JP2000289693A JP3871868B2 JP 3871868 B2 JP3871868 B2 JP 3871868B2 JP 2000289693 A JP2000289693 A JP 2000289693A JP 2000289693 A JP2000289693 A JP 2000289693A JP 3871868 B2 JP3871868 B2 JP 3871868B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid injection
underfill material
raw material
injection sealing
intermediate raw
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000289693A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002097342A (ja
Inventor
雅浩 和田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Bakelite Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Bakelite Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Bakelite Co Ltd filed Critical Sumitomo Bakelite Co Ltd
Priority to JP2000289693A priority Critical patent/JP3871868B2/ja
Publication of JP2002097342A publication Critical patent/JP2002097342A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3871868B2 publication Critical patent/JP3871868B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Sealing Material Composition (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Processes Of Treating Macromolecular Substances (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、流動性に優れる液状注入封止アンダーフィル材の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
ICチップの高集積化、高密度化とICパッケージの小型化という要求からこれまでのワイヤーボンディングによる接続ではなく、ICチップ表面とプリント基板とを半田バンプで接続するフリップチップ実装方式が登場した。同実装方式に用いられる液状注入封止アンダーフィル材はチップとプリント配線基盤との隙間(スタンドギャップ:30〜150μm)を充填せねばならない為に、他の液状封止樹脂と比較して、無機充填剤の平均粒径は例えば4μm以下と小さく、かつ無機充填剤の含有率は70重量%以下である事が多い。
【0003】
無機充填剤の粒径が小さい場合、樹脂組成物の揺変度が時間と共に変動することがしばしば見受けられる。これは、樹脂組成物の混練、無機充填材の分散が不充分であるためと一般的には考えられている。このような状態では液状注入封止アンダーフィル材の注入性が不安定になり、半導体生産サイクルの遅延やフリップチップの隙間を充填する際に空気を巻き込むなどの重大な問題が発生する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は従来の液状注入封止アンダーフィル材の上記の問題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは安定した注入性を発現する液状注入封止アンダーフィル材を提供するに有る。
【0005】
【課題を解決するための手段】
(1)常温で液状のエポキシ樹脂(A)、シランカップリング剤(C)及びその他の添加剤を混練し中間原料(F)を製造する工程、(2)該中間原料(F)と無機充填材(D)を混練し中間原料(G)を製造する工程、(3)該中間原料(G)を20から30℃の環境下で12時間以上100時間以内養生する工程、(4)該中間原料(G)と芳香族ジアミン(B)とを配合、混練する工程からなる液状注入封止アンダーフィル材の製造方法である。
【0006】
更に好ましい形態は、その他の添加剤の中にカーボンブラック(E)を含み、シランカップリング剤(C)が、エポキシ基、アミノ基、メルカプト基、アクリレート基の群から選ばれる1個以上の官能基を分子内に有するシランカップリング剤であり、無機充填材(D)の形状が球状で、その平均粒径が0.4〜6μmであり、無機充填剤(D)の占める割合が液状注入封止アンダーフィル材に対して45〜70重量%である液状注入封止アンダーフィル材の製造方法である。
また、上記の液状注入封止アンダーフィル材の製造方法を用いて製作された液状注入封止アンダーフィル材であり、前記の液状注入封止アンダーフィル材を用いて製作された半導体装置である。
【0007】
【発明の実施の形態】
本発明に用いられるエポキシ樹脂は、常温で液状で、25℃における粘度が50Pa・s以下であることが好ましい。エポキシ樹脂の粘度が50Pa・sより高いと樹脂組成物の粘度が高くなり、フリップチップ実装型パッケージの中へ液状注入封止アンダーフィル材を流動注入する際、気泡を巻き込んだり、コーナー端部への充填不良が発生し易くなり信頼性低下につながる。エポキシ樹脂の粘度測定には、室温で液状のエポキシ樹脂の場合、25℃において東機産業(株)製E型粘度計、もしくはブルックフィールド粘度計で測定する。
【0008】
エポキシ樹脂としては、この要件を満たすエポキシ樹脂で有れば特に限定される物ではないが、例えば、ビスフェノールA、ビスフェノールF、フェノールノボラックとエピクロルヒドリンとの反応で得られるポリグリシジルエーテルで常温で液状の物、ビニルシクロヘキセンジオキシド、ジシクロペンタジエンオキシド、アリサイクリックジエポキシ−アジペイドの様な脂環式エポキシ、1、6―ビス(2、3―エポキシプロポキシ)ナフタレンの様なナフタレン骨格エポキシ樹脂がある。これらは単独でも混合して用いても差し支えない。
【0009】
また、信頼性の優れた液状注入封止アンダーフィル材料を得るために、使用するエポキシ樹脂はNa+、Cl-等のイオン性不純物はできるだけ少ないものが好ましい。
【0010】
芳香族ジアミン(B)としては、例えば、4,4'-ジアミノジフェニルメタン、4,4'-ジアミノジフェニルスルホン、エチル化ジアミノジフェニルメタン等があるが、常温で液状の物が望ましい。また、これらは単独でも混合して用いても差し支えない。
【0011】
シランカップリング剤(C)として、例えば、ビニルトリエトキシシラン、β-(3,4エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、γ-グリシドキプロピルトリメトキシシラン、γ-アミノプロピルトリメトキシシラン、γ-メルカプトプロピルトリメトキシシラン、γ-メタクリロキシプロピルトリメトキシシランなどがあり、その中でエポキシ基、アミノ基、メルカプト基、アクリレート基の群から選ばれる1個以上の官能基を分子内に有するシランカップリング剤が好ましく、チップへの密着性が向上する。
【0012】
無機充填材(D)としては、例えば、窒化アルミ、炭酸カルシウム、マイカ、シリカなどがある。その中で好ましいのは、シリカでその形状は球状であることが望ましい。無機充填剤(D)の占める割合が液状注入封止アンダーフィル材にたいして45〜70重量%であり、無機充填剤(D)の占める割合が液状注入封止アンダーフィル材にたいして45重量%未満であれば、樹脂硬化後の熱膨張係数が大きいために半導体装置の温度サイクル試験での寿命が短くなるという問題があり、70重量%を越えると液状注入封止アンダーフィル材の粘度が高くなるために充填特性が悪化するという問題がある。
【0013】
常温で液状のエポキシ樹脂(A)、芳香族ジアミン(B)、シランカップリング剤(C)及び無機充填材(D)等を一括して配合、混練した場合、混練直後の液状樹脂組成物の揺変度が高く、フリップチップの隙間へ注入されないため液状注入封止アンダーフィル材としての機能を果たすことができない。
しかし、このものを室温雰囲気中に放置すると、配合物のチキソトロピー性は次第に低下し、注入性が発現する。一方、室温雰囲気で放置すると樹脂の硬化反応が徐々に進行して増粘し、やがて注入性がなくなってしまう。このことはアンダーフィル材の実質的な可使用時間(ポットライフ)は短くなることを意味している。
【0014】
また、製造スケールが大きいほど、充填性が発現するまでの時間は長く、ポットライフはより短くなってしまう傾向があった。たとえば、樹脂組成物を10kgのバッチサイズで一括混合、混練した場合、チキソトロピー性が低下するのに29時間以上を要し、注入性が発現する前にこのものの硬化反応が進行し、粘度は大幅に上昇するために、このものは液状注入封止アンダーフィル材としての機能が発現しない。以上のように一括混練による製造は注入性とポットライフの両立が困難であった。
【0015】
上記の揺変度の低下する原因として次なるモデルを考えた。一般に有機マトリクス中に球状無機フィラーを分散させた複合材料は非ニュートン流体として挙動する。これは有機マトリクス相を介して無機フィラー間に相互作用が働くためである。この相互作用はフィラー表面に選択的に吸着している成分(シランカップリング剤や界面活性剤など)間に働く相互作用に大きく依存する。一般に吸着現象は、マトリックス中の吸着成分がフィラー表面へ拡散する段階と吸着成分がフィラー表面と反応する段階からなる。しかし、多成分系の場合、異成分間の相互作用が複雑に働くため前者の拡散段階は緩やかに進行する。よって、一括配合混練により得たアンダーフィル材は上記の吸着が非平衡状態にある間はアンダーフィル材の注入性が発現せず、吸着が進行するに伴い揺変度が低下し、良好な流動性が発現してくると思われる。
【0016】
以下に本発明の工程を示す。
本発明は、(1)常温で液状のエポキシ樹脂(A)、シランカップリング剤(C)及びその他の添加剤を混練し中間原料(F)を製造する工程、(2)該中間原料(F)と無機充填材(D)を混練し中間原料(G)を製造する工程、(3)該中間原料(G)を20から30℃の環境下で12時間以上100時間以内養生する工程、(4)該中間原料(G)と芳香族ジアミンとを配合、混練する工程からなる。
中間原料(G)は、混練直後において高いチキソトロピー性をしめすが時間と共に低下する。この時の経過時間を養生時間という。養生時間は12時間以上で液状注入アンダーフィル材は充分な流動性を発現し、100時間以上養生を行うと中間原料(G)の粘度が上昇し、液状注入アンダーフィル材の流動性は悪化する。養生時間は12から48時間がより好ましい。また、最適な養生時間は、無機充填材(D)の総表面積と無機充填剤をのぞいた樹脂成分との割合に依存する。例えば、アンダーフィル材全体に占める無機充填材(D)の量が60wt%の場合の最適保存時間は12時間であるが、65wt%の場合は38時間である。
【0017】
養生時の温度は20〜30℃の範囲であり、20℃よりも低い場合は中間原料(G)に結露が生じやすく液状樹脂の品質が損なわれる恐れがある。また30℃を越えると中間原料(G)のチキソトロピー性が低下する前に、中間原料(G)の粘度上昇が生じるため好ましくない。
【0018】
ここで中間原料(F)を経ずに、中間原料(G)を作成した場合には、チキソトロピー性が低下するまでの時間がより長くなってしまうので、液状樹脂の製造上好ましくない。
【0019】
本工程は中間原料(F)及び(G)が均一に混練されるならば特に方法は限定されないが、三本ロール、二本ロール、混練器による混練が望ましい。
該中間原料(G)と芳香族ジアミン(B) とを配合・混連して液状注入封止アンダーフィル材を得る。本工程は中間原料(G)及び芳香族ジアミン(B)が均一に混練されるならば特に方法は限定されないが、三本ロール、二本ロール、混練器による混練が望ましい。
【0020】
本発明の液状注入封止アンダーフィル材の製造方法により製作された液状注入封止アンダーフィル材を用いて半導体装置を製作する方法は、従来の公知の方法を用いることが出来る。
【0021】
【実施例】
以下、実施例と比較例で具体的に本発明を説明する。
表1に樹脂の配合表、表2に製造法、表3に実施例および比較例を示す。
【0022】
【表1】
Figure 0003871868
【0023】
【表2】
Figure 0003871868
【0024】
【表3】
Figure 0003871868
【0025】
<樹脂特性試験>
樹脂製造後、−40℃にて保管したものを使用する。試験を実施する際は、室温雰囲気に3時間放置したものとさらに25℃雰囲気中に24時間放置したものとを用意し以下の試験を実施した。
(1)粘度:25℃において東器産業(株)製E型粘度型(3度R14コーン)を用いて0.5RPM並びに2.5RPMにて測定した。
(2)揺変度:0.5RPMでの粘度値を2.5RPMの粘度値で除した数値で表した。
(3)注入時間:米国フリップチップテクノロジー社製PB-8(チップサイズ:10mm×10mm、SiNコート、176ピン)を太陽インク製ソルダーレジストPSR4000AUS5/CA40AUS2を塗布したFR-4基板にフリップチップ接合したものをテストパッケージとした。なお、このもののチップと基板の隙間は約50μmである。100℃熱盤にテストパッケージを置いて3分経過後、チップの一辺に樹脂を20-25mg塗布し、塗布開始から注入が終了するまでを目視で観察し、その時間をストップウオッチで測定した。
(4)充填率:注入時間測定を行ったサンプルを150℃2時間の条件で硬化し、日立建機(株)製超音波探傷装置Miscopeを用いて、チップ基板間の樹脂充填性を評価した。
【0026】
比較例1は製造直後の注入時間が実施例の150%であり、未充填部分が存在する。製造後24時間を経ると実施例と同等の特性となる。これは養生時間が短いために、製造直後に置いてシリカ-カップリング剤の吸着が不充分である為と考えられる。このような使用時間によってアンダーフィル材の注入性が変動することは、半導体製造工程において好ましくない。
比較例2は製造直後の揺変度が1.2と高く、注入時間も実施例の120%と長い。製造後24時間を経ると実施例同等となる。これは中間原料の混練、特にシリカの分散が不足し、シリカ-カップリング剤の吸着・反応が不充分である為と考えられる。このように使用時間によってアンダーフィル材の注入性が変動することは、半導体製造工程において好ましくない。
比較例3は製造直後の揺変度が1.5と高く、間隙へ注入しない。製造後24時間を経ると揺変度が低下し、注入性が発現する。それでも、実施例の150%以上の注入時間を要する。このような注入特性は、半導体製造工程に適用困難である。
比較例4は製造直後の揺変度が1.0であるものの、その粘度および注入時間は実施例の160%である。製造後24時間を経るとさらに、注入時間は長くなる。これは養生時間が長いために、中間原料の時点においてエポキシ樹脂の反応が進行したためと考えられる。このように注入時間が長いアンダーフィル材は半導体製造工程上好ましくない。
【0027】
【発明の効果】
本発明の液状注入封止アンダーフィル材の製造方法を用いることにより、安定なチキソトロピー性及び注入性を有する液状注入封止アンダーフィル材を製造でき、ひいてはフリップチップ実装の生産性を大幅に向上させることができる。また、生産性に優れた半導体装置を提供することが出来る。

Claims (4)

  1. (1)常温で液状のエポキシ樹脂(A)、シランカップリング剤(C)及びその他の添加剤を混練し中間原料(F)を製造する工程、(2)該中間原料(F)と無機充填材(D)を混練し中間原料(G)を製造する工程、(3)該中間原料(G)を20から30℃の環境下で12時間以上100時間以内養生する工程、(4)該中間原料(G)と芳香族ジアミン(B)とを配合、混練する工程からなることを特徴とする液状注入封止アンダーフィル材の製造方法。
  2. その他の添加剤の中にカーボンブラック(E)を含む請求項1記載の液状注入封止アンダーフィル材の製造方法。
  3. シランカップリング剤(C)が、エポキシ基、アミノ基、メルカプト基、アクリレート基の群から選ばれる1個以上の官能基を分子内に有するシランカップリング剤である請求項1記載の液状注入封止アンダーフィル材の製造方法。
  4. 無機充填材(D)の形状が球状で、その平均粒径が0.4〜6μmである請求項1記載の液状注入封止アンダーフィル材の製造方法。
JP2000289693A 2000-09-25 2000-09-25 液状注入封止アンダーフィル材の製造方法、液状注入封止アンダーフィル材及び半導体装置 Expired - Fee Related JP3871868B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000289693A JP3871868B2 (ja) 2000-09-25 2000-09-25 液状注入封止アンダーフィル材の製造方法、液状注入封止アンダーフィル材及び半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000289693A JP3871868B2 (ja) 2000-09-25 2000-09-25 液状注入封止アンダーフィル材の製造方法、液状注入封止アンダーフィル材及び半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002097342A JP2002097342A (ja) 2002-04-02
JP3871868B2 true JP3871868B2 (ja) 2007-01-24

Family

ID=18773042

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000289693A Expired - Fee Related JP3871868B2 (ja) 2000-09-25 2000-09-25 液状注入封止アンダーフィル材の製造方法、液状注入封止アンダーフィル材及び半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3871868B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003342449A (ja) * 2002-05-27 2003-12-03 Sumitomo Bakelite Co Ltd 液状樹脂組成物、液状樹脂組成物の製造方法及び半導体装置
JP4525079B2 (ja) * 2004-01-13 2010-08-18 住友ベークライト株式会社 熱硬化性液状封止樹脂組成物及びそれを用いた半導体装置
JP5946684B2 (ja) * 2012-04-20 2016-07-06 株式会社カネカ 熱硬化性樹脂組成物、タブレット、発光ダイオード用パッケージ、それらの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002097342A (ja) 2002-04-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH03177450A (ja) 半導体用エポキシ樹脂組成物および半導体装置の製造法
CN114989761A (zh) 一种用于晶圆级芯片尺寸封装的底部填充胶组合物及其制备方法
JP4472134B2 (ja) 電子部品用接着剤
JP3189988B2 (ja) 絶縁樹脂ペースト
JP4931079B2 (ja) アンダーフィル用液状熱硬化性樹脂組成物とそれを用いた半導体装置
JP3871868B2 (ja) 液状注入封止アンダーフィル材の製造方法、液状注入封止アンダーフィル材及び半導体装置
JP6125262B2 (ja) 液状モールド剤、および液状モールド剤の製造方法
JP2002097254A (ja) エポキシ樹脂組成物及び半導体装置
JP2003128874A (ja) 液状樹脂組成物、半導体装置の製造方法及び半導体装置
JP4810835B2 (ja) アンダーフィル用液状封止樹脂組成物及びそれを用いた半導体装置
JP3819148B2 (ja) エポキシ封止用樹脂組成物、それを用いた半導体装置、半導体チップモジュール、および半導体チップパッケージ
KR100740894B1 (ko) 고신뢰성 반도체 언더필용 액상 에폭시 수지 조성물 및 이를 이용한 반도체 패키지
TWI669341B (zh) 環氧樹脂組合物
KR101036353B1 (ko) 스크린 프린팅이 가능한 반도체 패키징용 접착 페이스트
JPH0931161A (ja) 液状エポキシ樹脂組成物
JP2004359830A (ja) 導電性接着剤組成物
KR101234848B1 (ko) 반도체 소자 밀봉용 액상 에폭시 수지 조성물 및 이를 이용한 반도체 소자
KR100797614B1 (ko) 반도체 소자 언더필용 액상 에폭시 수지 조성물 및 이를이용한 반도체 소자
JPH02173073A (ja) 絶縁ペースト
JP4858431B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2004083761A (ja) 液状封止材料及び半導体装置
KR101234847B1 (ko) 반도체 소자 언더필용 액상 에폭시 수지 조성물 및 이를 이용한 반도체 소자
JP5532582B2 (ja) フリップチップ型半導体装置を封止する方法、チップ・オン・チップ用アンダーフィル材の選定方法、及びフリップチップ型半導体装置
JP5226957B2 (ja) 半導体封止用エポキシ樹脂組成物及び半導体装置
KR100740895B1 (ko) 재작업이 가능한 고신뢰성 반도체 사이드필용 액상 에폭시수지 조성물 및 이를 이용한 반도체 소자

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050609

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050927

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051014

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060630

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060727

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20061017

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20061018

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101027

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111027

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111027

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121027

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121027

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131027

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees