JP3831406B1 - Appearance inspection device - Google Patents

Appearance inspection device Download PDF

Info

Publication number
JP3831406B1
JP3831406B1 JP2006071392A JP2006071392A JP3831406B1 JP 3831406 B1 JP3831406 B1 JP 3831406B1 JP 2006071392 A JP2006071392 A JP 2006071392A JP 2006071392 A JP2006071392 A JP 2006071392A JP 3831406 B1 JP3831406 B1 JP 3831406B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic component
disk
electronic
disks
air flow
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2006071392A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2007244987A (en
Inventor
満 長門
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HAMAMURA YUATSU CO,.LTD
Original Assignee
HAMAMURA YUATSU CO,.LTD
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by HAMAMURA YUATSU CO,.LTD filed Critical HAMAMURA YUATSU CO,.LTD
Priority to JP2006071392A priority Critical patent/JP3831406B1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3831406B1 publication Critical patent/JP3831406B1/en
Publication of JP2007244987A publication Critical patent/JP2007244987A/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Specific Conveyance Elements (AREA)
  • Sorting Of Articles (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

【課題】円盤への電子部品の供給不良が生じた場合におけるその電子部品の排出性を向上した外観検査装置の提供。
【解決手段】円盤3の溝9に電子部品Wを吸着して搬送する負圧形成手段12、30〜34と、変位部材が互いに離間したときに露出する開口から電子部品Wを吸引するための吸引空気流を発生する排出吸引手段と、検知手段によって円盤3への電子部品の供給不良を検知したときに、変位部材を互いに離間する状態に変位するとともに、離脱手段28、29により離脱空気流を形成する制御手段とを有する。
【選択図】図16
Provided is an appearance inspection apparatus that improves the discharge performance of an electronic component when a defective supply of the electronic component to a disk occurs.
SOLUTION: Vacuum pressure forming means 12, 30 to 34 for attracting and transporting an electronic component W in a groove 9 of a disk 3 and an opening for exposing the electronic component W from an opening exposed when a displacement member is separated from each other. When a defective supply of electronic components to the disk 3 is detected by the discharge suction means that generates the suction air flow and the detection means, the displacement member is displaced to be separated from each other, and the separation air flows by the separation means 28 and 29. And control means for forming
[Selection] Figure 16

Description

本発明は、電子部品の外観に基づき電子部品の検査を行なう外観検査装置に関する。   The present invention relates to an appearance inspection apparatus that inspects an electronic component based on the appearance of the electronic component.

従来、例えば〔特許文献1〕〜〔特許文献3〕に開示されているように、回転により電子部品を搬送する円盤を備え、円盤によって搬送される電子部品の外観に基づき電子部品の検査を行なう外観検査装置が知られている。   Conventionally, as disclosed in, for example, [Patent Document 1] to [Patent Document 3], a disk for transporting an electronic component by rotation is provided, and the electronic component is inspected based on the appearance of the electronic component transported by the disk. An appearance inspection apparatus is known.

このような外観検査装置においては、例えば〔特許文献4〕に記載されているように、電子部品を円盤に供給するためのフィーダが備えられている。〔特許文献4〕に記載のフィーダは、円盤に備えられた凹部に電子部品を供給するとともに、電子部品の供給不良が生じたときに、電子部品を排出するための吸引を行なうようになっている。   In such an appearance inspection apparatus, for example, as described in [Patent Document 4], a feeder for supplying electronic components to a disk is provided. The feeder described in [Patent Document 4] supplies an electronic component to the recess provided in the disk, and performs suction for discharging the electronic component when a defective supply of the electronic component occurs. Yes.

特開2004−10301号公報JP 2004-10301 A 特開2002−28578号公報JP 2002-28578 A 特開2003−275688号公報JP 2003-275688 A 特開2003−112818号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2003-112818

しかし、〔特許文献4〕の円盤は、電子部品を凹部に収納して搬送するため、電子部品の外観検査を行なうことが困難である。また、電子部品を凹部に収納するのみで搬送するため、電子部品が凹部から脱落する恐れがある。電子部品を円盤に良好に保持する技術としては、例えば〔特許文献3〕に記載されているように、電子部品を円盤に吸引して保持する技術が知られている。ところが、電子部品を吸引により保持する技術を、〔特許文献4〕に記載のように、電子部品の供給不良が生じたときに吸引を行なって排出する構成に採用しても、電子部品の排出がうまく行なわれない可能性がある。   However, since the disk of [Patent Document 4] accommodates and transports the electronic component in the recess, it is difficult to inspect the appearance of the electronic component. Further, since the electronic component is transported only by being housed in the recess, the electronic component may fall out of the recess. As a technique for favorably holding an electronic component on a disk, for example, as described in [Patent Document 3], a technique for sucking and holding an electronic part on a disk is known. However, even if the technology for holding the electronic component by suction is employed in a configuration in which suction is performed and the electronic component is discharged as described in [Patent Document 4], the electronic component is discharged. May not work well.

本発明は、上述したような事情に鑑みてなされたものであり、円盤への電子部品の供給不良が生じた場合におけるその電子部品の排出性を向上した外観検査装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the circumstances as described above, and an object thereof is to provide an appearance inspection apparatus that improves the dischargeability of an electronic component when a defective supply of the electronic component to a disk occurs. To do.

以上のような目的を達成するため、請求項1記載の発明は、回転により電子部品を搬送するための円盤を備え、前記円盤によって搬送される電子部品の外観を撮像し、撮像された電子部品の外観に基づいて当該電子部品の外観検査を行なう外観検査装置において、前記円盤を2つ備え、前記2つの円盤はそれぞれ、ほぼ水平に配設されているとともに、その周縁部に、互いに向き合う方向に突設された環状の凸部を有し、前記凸部は、前記円盤の周方向に複数備えられた、電子部品を保持するためのV字状の溝を有し、前記2つの円盤の回転時に、それぞれの前記凸部の前記溝の1つが互いに向き合うように、前記2つの円盤を、それぞれの一部が上下方向において互いに重なり合うように配置し、上側の前記円盤から下側の前記円盤に電子部品を受け渡す外観検査装置であって、電子部品を前記溝において前記円盤に吸着して搬送するための負圧を形成する負圧形成手段と、前記負圧形成手段によって形成される負圧に抗して上側の前記円盤に吸着された電子部品を上側の前記円盤から離脱させるための第1の離脱空気流を形成する第1の離脱手段と、上側の前記円盤に電子部品を1つずつ供給するための切り出し部と、前記第1の離脱手段と前記切り出し部とを制御する制御手段と有し、前記切り出し部は、互いに接離する方向に変位するとともに、互いに当接した状態で電子部品を搬送する孔を形成する変位部材と、前記孔を通過した電子部品の前縁に当接してこの電子部品の位置決めを行なう当接部材と、前記変位部材が互いに離間したときに露出する開口と、前記開口から電子部品を吸引するための吸引空気流を発生する排出吸引手段と、前記排出吸引手段によって前記開口から吸引された電子部品を収容する収容部材と、前記円盤への電子部品の供給不良を検知する検知手段とを有し、前記制御手段は、前記検知手段によって前記供給不良を検知したときに、前記変位部材を互いに離間する状態に変位するとともに、前記第1の離脱手段により前記第1の離脱空気流を形成することを特徴とする。   In order to achieve the above object, the invention described in claim 1 is provided with a disk for transporting an electronic component by rotation, images the appearance of the electronic component transported by the disk, and the imaged electronic component In the appearance inspection apparatus for inspecting the appearance of the electronic component on the basis of the appearance, the two disks are provided, each of the two disks being disposed substantially horizontally and facing each other at the peripheral edge thereof. A plurality of convex portions provided in the circumferential direction of the disc, each of which has a V-shaped groove for holding an electronic component. When rotating, the two disks are arranged so that one of the grooves overlaps each other in the vertical direction so that one of the grooves of each of the convex portions faces each other, and the lower disk from the upper disk To electronic An appearance inspection apparatus for delivering a product, wherein negative pressure forming means for forming a negative pressure for adsorbing and transporting an electronic component to the disk in the groove and negative pressure formed by the negative pressure forming means Accordingly, a first detachment means for forming a first detachment air flow for detaching the electronic components adsorbed on the upper disk from the upper disk, and one electronic component on the upper disk. A cutting unit for supplying, and a control unit for controlling the first detaching unit and the cutting unit. The cutting unit is displaced in a direction of contacting and separating from each other, and the electrons are in contact with each other. A displacement member that forms a hole for conveying the component, a contact member that contacts the front edge of the electronic component that has passed through the hole and positions the electronic component, and an opening that is exposed when the displacement member is separated from each other And the opening A discharge suction unit that generates a suction air flow for sucking the electronic component, a housing member that stores the electronic component sucked from the opening by the discharge suction unit, and a supply failure of the electronic component to the disk are detected. Detecting means, and the control means displaces the displacement members in a state of being separated from each other when the supply failure is detected by the detecting means, and the first detaching means performs the first detachment. It is characterized by forming an air flow.

請求項2記載の発明は、請求項1に記載の外観検査装置において、前記円盤によって搬送されている、検査が終了した電子部品を、検査結果に基づいて仕分ける仕分け手段を有し、前記仕分け手段は、検査が終了した前記電子部品を、検査結果に応じた所定位置で下側の前記円盤から排出させる仕分け排出手段と、前記仕分け排出手段によって下側の前記円盤から排出された電子部品を収容する、検査結果に応じて設けられた収容部とを有し、前記仕分け排出手段は、下側の前記円盤によって搬送されている電子部品を下側の前記円盤から離脱させて前記収容部に向けて送り出すための第2の離脱空気流を形成する第2の離脱手段と、下側の前記円盤によって搬送されている電子部品を前記収容部に向けて吸引するための収容空気流を発生する収容吸引手段とを有することを特徴とする。   According to a second aspect of the present invention, in the visual inspection apparatus according to the first aspect of the present invention, the visual inspection apparatus includes a sorting unit that sorts the electronic components that are transported by the disk and that have been inspected based on the inspection result. The sorting and discharging means for discharging the electronic components that have been inspected from the lower disk at a predetermined position according to the inspection result, and the electronic components discharged from the lower disk by the sorting and discharging means are accommodated. And the sorting and discharging means detaches the electronic components conveyed by the lower disk from the lower disk and directs it toward the receiving section. And a second release means for forming a second release air flow for sending out and an accommodation air flow for sucking the electronic components conveyed by the lower disk toward the accommodation portion. And having a housing suction means.

請求項3記載の発明は、請求項1又は請求項2に記載の外観検査装置において、前記負圧形成手段は、前記溝に電子部品を吸着するために前記溝に連なる孔と、前記円盤内部において前記円盤の中心部から前記孔のそれぞれに連通するように放射状に設けられた複数の管部と、前記管部を互いに連通させる連通部とを有し、前記管部がそれぞれ、前記円盤の径方向における中途に、前記離脱空気流の緩衝を行う緩衝部を有することを特徴とする。   According to a third aspect of the present invention, in the appearance inspection apparatus according to the first or second aspect, the negative pressure forming means includes a hole connected to the groove for adsorbing an electronic component in the groove, and an inside of the disk. A plurality of pipe portions radially provided so as to communicate with each of the holes from a central portion of the disc, and a communication portion that communicates the pipe portions with each other, and each of the pipe portions is formed on the disc. It has a buffer part which buffers the above-mentioned separation air flow in the middle in the diameter direction.

本発明は、回転により電子部品を搬送するための円盤を備え、前記円盤によって搬送される電子部品の外観を撮像し、撮像された電子部品の外観に基づいて当該電子部品の外観検査を行なう外観検査装置において、前記円盤を2つ備え、前記2つの円盤はそれぞれ、ほぼ水平に配設されているとともに、その周縁部に、互いに向き合う方向に突設された環状の凸部を有し、前記凸部は、前記円盤の周方向に複数備えられた、電子部品を保持するためのV字状の溝を有し、前記2つの円盤の回転時に、それぞれの前記凸部の前記溝の1つが互いに向き合うように、前記2つの円盤を、それぞれの一部が上下方向において互いに重なり合うように配置し、上側の前記円盤から下側の前記円盤に電子部品を受け渡す外観検査装置であって、電子部品を前記溝において前記円盤に吸着して搬送するための負圧を形成する負圧形成手段と、前記負圧形成手段によって形成される負圧に抗して上側の前記円盤に吸着された電子部品を上側の前記円盤から離脱させるための第1の離脱空気流を形成する第1の離脱手段と、上側の前記円盤に電子部品を1つずつ供給するための切り出し部と、前記第1の離脱手段と前記切り出し部とを制御する制御手段と有し、前記切り出し部は、互いに接離する方向に変位するとともに、互いに当接した状態で電子部品を搬送する孔を形成する変位部材と、前記孔を通過した電子部品の前縁に当接してこの電子部品の位置決めを行なう当接部材と、前記変位部材が互いに離間したときに露出する開口と、前記開口から電子部品を吸引するための吸引空気流を発生する排出吸引手段と、前記排出吸引手段によって前記開口から吸引された電子部品を収容する収容部材と、前記円盤への電子部品の供給不良を検知する検知手段とを有し、前記制御手段は、前記検知手段によって前記供給不良を検知したときに、前記変位部材を互いに離間する状態に変位するとともに、前記第1の離脱手段により前記第1の離脱空気流を形成するので、電子部品を円盤に吸着して搬送するから電子部品を円盤に良好に保持させて搬送することができるとともに、円盤への電子部品の供給不良が生じた場合には、第1の離脱空気流及び吸引空気流により電子部品の排出を行なうことができるので、供給不良の際の電子部品の排出性が向上した外観検査装置を提供することができる。   The present invention includes a disk for conveying an electronic component by rotation, images the appearance of the electronic component conveyed by the disk, and performs an appearance inspection of the electronic component based on the imaged appearance of the electronic component In the inspection apparatus, the two disks are provided, and each of the two disks is disposed substantially horizontally, and has an annular convex portion projecting in a direction facing each other at the peripheral edge thereof, The convex portion has a plurality of V-shaped grooves provided in the circumferential direction of the disk for holding electronic components, and when the two disks are rotated, one of the grooves of each of the convex portions is An appearance inspection apparatus that arranges the two disks so as to face each other so that parts of the two disks overlap each other in the vertical direction, and delivers electronic components from the upper disk to the lower disk, parts A negative pressure forming means for forming a negative pressure to be sucked and conveyed by the disk in the groove; and an electronic component sucked by the upper disk against the negative pressure formed by the negative pressure forming means. A first detachment means for forming a first detachment air flow for detachment from the upper disk, a cutout section for supplying electronic components one by one to the upper disk, and the first detachment means And a control means for controlling the cut-out part, the cut-out part being displaced in a direction of contacting and separating from each other, and a displacement member forming a hole for transporting an electronic component while being in contact with each other, and the hole A contact member that contacts the front edge of the electronic component that has passed through, positioning the electronic component, an opening that is exposed when the displacement members are separated from each other, and suction air for sucking the electronic component from the opening Generate a flow A discharge member, a storage member that stores the electronic component sucked from the opening by the discharge suction unit, and a detection unit that detects a defective supply of the electronic component to the disk. When the supply failure is detected by the detection means, the displacement members are displaced away from each other and the first release air flow is formed by the first release means, so that the electronic component is adsorbed to the disk. In this case, the electronic component can be transported while being held well on the disk, and in the case where a poor supply of the electronic component to the disk occurs, the electronic component is caused by the first separation air flow and the suction air flow. Therefore, it is possible to provide an appearance inspection apparatus with improved electronic component dischargeability in the event of supply failure.

前記円盤によって搬送されている、検査が終了した電子部品を、検査結果に基づいて仕分ける仕分け手段を有し、前記仕分け手段は、検査が終了した前記電子部品を、検査結果に応じた所定位置で下側の前記円盤から排出させる仕分け排出手段と、前記仕分け排出手段によって下側の前記円盤から排出された電子部品を収容する、検査結果に応じて設けられた収容部とを有し、前記仕分け排出手段は、下側の前記円盤によって搬送されている電子部品を下側の前記円盤から離脱させて前記収容部に向けて送り出すための第2の離脱空気流を形成する第2の離脱手段と、下側の前記円盤によって搬送されている電子部品を前記収容部に向けて吸引するための収容空気流を発生する収容吸引手段とを有することとすれば、電子部品を円盤に吸着して搬送するから電子部品を円盤に良好に保持させて搬送することができるとともに、円盤への電子部品の供給不良が生じた場合には、第1の離脱空気流を形成して電子部品の排出を行なうことができるので、供給不良の際の電子部品の排出性が向上しており、さらに、検査済みの電子部品を第2の離脱空気流及び収容空気流により円盤から良好に排出できるとともに検査結果に応じて収容部に仕分けることができる外観検査装置を提供することができる。   Sorting means that sorts electronic components that have been inspected and are transported by the disk based on inspection results, and the sorting means places the electronic components that have been inspected at predetermined positions according to the inspection results. A sorting and discharging means for discharging from the lower disk; and a storage section provided in accordance with an inspection result for storing electronic components discharged from the lower disk by the sorting and discharging means. And a second detaching unit configured to form a second detachment air flow for detaching the electronic component conveyed by the lower disk from the lower disk and feeding the electronic component toward the housing unit. And holding and sucking means for generating an air flow for sucking the electronic component conveyed by the lower disk toward the receiving portion, the electronic component is adsorbed to the disk. Since the electronic component can be transported while being held well on the disk, if a poor supply of the electronic component to the disk occurs, a first separation air flow is formed to discharge the electronic component. As a result, it is possible to discharge electronic components in the event of a supply failure. Furthermore, the inspected electronic components can be satisfactorily discharged from the disk by the second separation air flow and the containing air flow, and the inspection results. Accordingly, it is possible to provide an appearance inspection apparatus that can be sorted into the accommodating portion according to the situation.

前記負圧形成手段は、前記溝に電子部品を吸着するために前記溝に連なる孔と、前記円盤内部において前記円盤の中心部から前記孔のそれぞれに連通するように放射状に設けられた複数の管部と、前記管部を互いに連通させる連通部とを有し、前記管部がそれぞれ、前記円盤の径方向における中途に、前記離脱空気流の緩衝を行う緩衝部を有することとすれば、電子部品を円盤に吸着して搬送するから電子部品を円盤に良好に保持させて搬送することができるとともに、円盤への電子部品の供給不良が生じた場合には、第1の離脱空気流及び吸引空気流により電子部品の排出を行なうことができるので、供給不良の際の電子部品の排出性が向上し、さらには、離脱空気流が他の電子部品の保持に与える影響を緩和し、所望の電子部品のみを円盤から離脱させることができることで検査効率が向上した外観検査装置を提供することができる。   The negative pressure forming means includes a plurality of holes provided in a radial pattern so as to communicate with each of the holes from the center of the disk inside the disk to adsorb an electronic component in the groove and the center of the disk. If it has a pipe part and a communication part that allows the pipe part to communicate with each other, and each of the pipe parts has a buffer part that buffers the separation air flow in the middle of the radial direction of the disk, Since the electronic component is adsorbed to the disk and transported, the electronic component can be transported while being well held by the disk, and when a defective supply of the electronic component to the disk occurs, the first separation air flow and Since electronic parts can be discharged by the suction air flow, the electronic parts can be discharged in the event of supply failure, and the influence of the release air flow on the holding of other electronic parts can be mitigated. Only electronic parts of circle Inspection efficiency by can be disengaged from it is possible to provide an appearance inspection device with improved.

以下、本発明に係る外観検査装置の一実施の形態について図面を用いて説明する。
図1に示すように、外観検査装置100は、検査対象である電子部品Wのフィーダ部Aと、フィーダ部Aから送られた電子部品Wを移動させながら外観の検査を行なう検査部Bと、検査部Bで検査した電子部品Wを検査結果に応じて仕分けるとともに蓄える仕分け部Cと、フィーダ部A、検査部B及び仕分け部Cの制御を行う図示しない制御手段としての制御部とを主に備えている。
Hereinafter, an embodiment of an appearance inspection apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings.
As shown in FIG. 1, the appearance inspection apparatus 100 includes a feeder part A of an electronic component W to be inspected, an inspection part B that inspects the appearance while moving the electronic part W sent from the feeder part A, A sorting unit C that sorts and stores the electronic components W inspected by the inspection unit B according to the inspection result, and a control unit as a control unit (not shown) that controls the feeder unit A, the inspection unit B, and the sorting unit C are mainly used. I have.

電子部品Wは略直方体形状をなす微小な部品で、例えば「0603」、「1005」、「1608」、「2412」等といわれるサイズのものである。「0603」という場合には、0.6mm×0.5mmのサイズであることを意味する。   The electronic component W is a minute component having a substantially rectangular parallelepiped shape, and has a size called “0603”, “1005”, “1608”, “2412”, and the like. “0603” means that the size is 0.6 mm × 0.5 mm.

以下、フィーダ部A、検査部B、仕分け部Cの構成をそれぞれ説明する。   Hereinafter, configurations of the feeder unit A, the inspection unit B, and the sorting unit C will be described.

・フィーダ部Aについて
フィーダ部Aは、多数の電子部品Wを蓄えているとともに、微細な振動により蓄えている電子部品Wを送り出す定量補給フィーダ1と、定量補給フィーダ1から送り出された電子部品Wを1列に整列した状態で直線的に搬送する直線フィーダ2と、直線フィーダ2の先端側に位置する切り出し部10とを有している。
-Feeder unit A The feeder unit A stores a large number of electronic components W, and also feeds the electronic component W stored by fine vibrations, and the electronic component W sent from the quantitative supply feeder 1 Are linearly conveyed in a state in which they are aligned in one row, and a cutout portion 10 located on the front end side of the linear feeder 2 is provided.

直線フィーダ2は、微細な振動により電子部品Wを搬送しながら、電子部品Wの姿勢を整えるようになっている。定量補給フィーダ1と、直線フィーダ2とは、それぞれ、電子部品Wの有無を検知する図示しない光反射型のセンサを有している。   The linear feeder 2 adjusts the posture of the electronic component W while conveying the electronic component W by fine vibration. Each of the fixed quantity replenishment feeder 1 and the linear feeder 2 has a light reflection type sensor (not shown) that detects the presence or absence of the electronic component W.

切り出し部10は、直線フィーダ2によって搬送されてきた電子部品Wを、1つずつ分離して検査部Bに送り出すための構造である。図1においては、切り出し部10の配置位置のみを図示している。切り出し部10の構造については、以下、検査部B、仕分け部Cの構成をこの順でそれぞれ説明した後に説明する。   The cutout unit 10 has a structure for separating the electronic parts W conveyed by the linear feeder 2 one by one and sending them to the inspection unit B. In FIG. 1, only the arrangement position of the cutout unit 10 is illustrated. The structure of the cutout unit 10 will be described below after describing the configurations of the inspection unit B and the sorting unit C in this order.

・検査部Bについて
検査部Bについて、図1乃至3を参照しながら説明する。図2は外観検査装置100の側面図、図3は外観検査装置100の平面図である。
-Inspection part B The inspection part B is demonstrated referring FIG. 1 thru | or 3. FIG. FIG. 2 is a side view of the appearance inspection apparatus 100, and FIG. 3 is a plan view of the appearance inspection apparatus 100.

検査部Bは、ほぼ水平方向に配置された同じ大きさ、形状の2つの円盤3、4と、円盤3、4それぞれの回転中心をなす軸3A、4Aと、円盤3を直接的に回転駆動するとともに円盤4を間接的に回転駆動する駆動手段としてのステッピングモータであるモータ5と、軸3Aと一体をなし円盤3の位相を検知するエンコーダ部6と、モータ5の駆動力を円盤4に伝達する図示しない駆動伝達機構とを有している。   The inspection unit B directly rotates the disks 3 and 4 having the same size and shape arranged in a substantially horizontal direction, the shafts 3A and 4A forming the centers of rotation of the disks 3 and 4, and the disk 3 directly. At the same time, a motor 5 as a stepping motor as a driving means for indirectly rotating the disk 4, an encoder unit 6 which is integrated with the shaft 3 A and detects the phase of the disk 3, and the driving force of the motor 5 is applied to the disk 4. And a drive transmission mechanism (not shown) for transmission.

検査部Bはまた、円盤3によって搬送されている電子部品Wの外観を撮像する3台のカメラ7A〜Cと、円盤4によって搬送されている電子部品Wを撮像する3台のカメラ7D〜Fとを有している。   The inspection unit B also includes three cameras 7A to 7C for imaging the appearance of the electronic component W conveyed by the disk 3, and three cameras 7D to F for imaging the electronic component W conveyed by the disk 4. And have.

モータ5は、駆動伝達機構により、円盤3とともに、円盤3と同期して円盤4を円盤3と等速で回転駆動する。モータ5は、制御部の指示によって作動するようになっている。   The motor 5 rotates the disk 4 together with the disk 3 at a constant speed in synchronism with the disk 3 by the drive transmission mechanism. The motor 5 is actuated by an instruction from the control unit.

円盤3、4は、互いに上下裏返した態様で配設されている。円盤3は円盤4の上方に位置し、円盤3と円盤4とは、その周縁部の一部が重なり合うように配置されている。
円盤3は、切り出し部10によって1つずつ分離されて搬送されてくる電子部品Wを、その下面に、円周方向に沿って等間隔で吸着保持し、回転に伴って搬送する。
円盤4は、円盤3によって搬送されてくる電子部品Wを、その上面に、円周方向に沿って等間隔で吸着保持し、回転に伴って搬送する。
The disks 3 and 4 are arranged in an upside down manner. The disk 3 is located above the disk 4, and the disk 3 and the disk 4 are arranged such that a part of their peripheral portions overlap each other.
The disc 3 sucks and holds the electronic components W separated and conveyed one by one by the cutout unit 10 on the lower surface thereof at equal intervals along the circumferential direction, and conveys the electronic components W as it rotates.
The disk 4 attracts and holds the electronic component W conveyed by the disk 3 on the upper surface thereof at equal intervals along the circumferential direction, and conveys the electronic component W as it rotates.

円盤3、円盤4は、その内部構造に特徴を有するが、この点については切り出し部10の構造を説明した後に図16乃至図18を参照して詳述する。   The disks 3 and 4 are characterized by their internal structures. This point will be described in detail with reference to FIGS. 16 to 18 after the structure of the cutout portion 10 is described.

図4乃至6を参照しながら、円盤3、4が電子部品Wを保持する部分の構造を説明する。図4は円盤3の底面図であるとともに円盤4の平面図であり、図5は円盤3、4の一部の側断面図であり、図6は円盤3、4の一部の正面図である。   The structure of the portion where the disks 3 and 4 hold the electronic component W will be described with reference to FIGS. 4 is a plan view of the disk 4 as well as a bottom view of the disk 3, FIG. 5 is a side sectional view of a part of the disks 3 and 4, and FIG. 6 is a front view of a part of the disks 3 and 4. is there.

円盤3、4は、その一方の面の周縁部、言い換えると周縁近傍の位置に、周縁と同心状かつ環状に突設された、電子部品Wを保持するための凸条である凸部としてのリング部8を有している。リング部8は、円盤3においてはその下面、円盤4においてはその上面に位置している。したがって、各リング部8は、互いに向き合うように円盤3、4のそれぞれに突設された状態となっている。   The disks 3 and 4 are provided as protrusions that are convex to hold the electronic component W and are concentrically and annularly projected from the peripheral edge of one surface, in other words, in the vicinity of the peripheral edge. A ring portion 8 is provided. The ring portion 8 is located on the lower surface of the disk 3 and on the upper surface of the disk 4. Therefore, each ring portion 8 is in a state of protruding from each of the disks 3 and 4 so as to face each other.

リング部8には、周方向において等間隔で60箇所に形成された、正面視でV字状の溝9を有している。ここで、周方向とは、円盤3、4の周縁における接線方向であり、正面視とは、円盤3、4の周縁から中心を向く方向に見た状態を言う。   The ring portion 8 has V-shaped grooves 9 formed in 60 locations at equal intervals in the circumferential direction, as viewed from the front. Here, the circumferential direction is a tangential direction at the periphery of the disks 3 and 4, and the front view means a state viewed from the periphery of the disks 3 and 4 toward the center.

溝9は、互いに直角をなす2つのテーパ面によって形成されている。溝9には、電子部品Wを吸着するための孔11が、その底部に連なるように形成されている。
孔11はそれぞれ、円盤3、4内部に位置する吸引用の管部としての管12につながっており、ポンプ等を有する図示しない吸引機構によって管12に負圧が与えられることで溝9に電子部品Wを保持する。
The groove 9 is formed by two tapered surfaces that are perpendicular to each other. A hole 11 for adsorbing the electronic component W is formed in the groove 9 so as to continue to the bottom thereof.
Each of the holes 11 is connected to a tube 12 as a suction tube portion located inside the disks 3 and 4, and a negative pressure is applied to the tube 12 by a suction mechanism (not shown) having a pump or the like, whereby an electron is applied to the groove 9. The part W is held.

吸引機構、孔11、管12、その他、後述する円盤3、4の内部構造等は、電子部品Wを各溝9において円盤3、4に吸着して搬送するための負圧を形成する負圧形成手段の一部を構成している。   The suction mechanism, the hole 11, the tube 12, and other internal structures of the disks 3 and 4 to be described later are negative pressures that form a negative pressure for adsorbing and transporting the electronic component W to the disks 3 and 4 in each groove 9. It constitutes a part of the forming means.

円盤3、4は、それぞれの周縁部において、一方のリング部8が他方のリング部8に対向するように上下方向で互いに重なり合っている。円盤3、4は、回転の過程でそれぞれのリング部8の溝9が互いに向き合ったとき、その状態で、上側の円盤3から下側の円盤4に電子部品Wを受け渡す。   The discs 3 and 4 overlap each other in the vertical direction so that one ring portion 8 faces the other ring portion 8 at each peripheral edge portion. When the grooves 9 of the respective ring portions 8 face each other in the course of rotation, the disks 3 and 4 deliver the electronic component W from the upper disk 3 to the lower disk 4 in that state.

円盤3、4の上下方向の間隔は、それぞれのリング部8が対向した位置で、円盤3側の溝9に保持されている電子部品Wと、円盤4側の溝との間隔ができるだけ小さくなるように調整されている。   The intervals in the vertical direction of the disks 3 and 4 are such that the distance between the electronic component W held in the groove 9 on the disk 3 side and the groove on the disk 4 side is as small as possible at the position where the ring portions 8 face each other. Have been adjusted so that.

図1において、符号13は、円盤3の上面側に配設されたノズルを示している。このノズル13は、それぞれのリング部8の溝9が対向する位置において、その溝9の孔11につながっている管12に連通するように配設されている。   In FIG. 1, reference numeral 13 indicates a nozzle disposed on the upper surface side of the disk 3. The nozzle 13 is disposed so as to communicate with the pipe 12 connected to the hole 11 of the groove 9 at a position where the groove 9 of each ring portion 8 faces.

ノズル13は、図示しないエア供給機構により、ぞれぞれのリング部8の溝9が対向するタイミングで、その溝9の孔11から空気を噴出するようになっている。この空気は、負圧形成手段によって形成される負圧に抗して円盤3に吸着された電子部品Wを円盤3から離脱させるための離脱空気流である。ノズル13と、エア供給機構とは、離脱空気流を形成して円盤3によって搬送されている電子部品Wを円盤3から離脱させて円盤4に向けて送り出す離脱手段として機能する。   The nozzle 13 ejects air from the hole 11 of the groove 9 at a timing when the groove 9 of each ring portion 8 faces by an air supply mechanism (not shown). This air is a separation air flow for separating the electronic component W adsorbed on the disk 3 from the disk 3 against the negative pressure formed by the negative pressure forming means. The nozzle 13 and the air supply mechanism function as detachment means that forms a detachment air flow and detaches the electronic component W conveyed by the disk 3 from the disk 3 and sends it toward the disk 4.

よって、電子部品Wは、円盤4に向けて安定した姿勢で移動し、円盤4側の溝9に正しい姿勢で保持される。ここで、正しい姿勢とは、円盤3側の溝9に吸引保持された状態でその溝9に当接していた上向きの2つの面が露出し、その溝9に吸引保持された状態で露出していた下向きの2つの面が円盤4側の溝に当接する状態をいう。   Therefore, the electronic component W moves in a stable posture toward the disk 4 and is held in a correct posture in the groove 9 on the disk 4 side. Here, the correct posture means that the two upward surfaces that are in contact with the groove 9 in the state of being sucked and held in the groove 9 on the disk 3 side are exposed, and are exposed in the state of being sucked and held in the groove 9. This refers to a state in which the two downward facing surfaces are in contact with the groove on the disk 4 side.

カメラ7A〜Cは、エンコーダ部6からの信号に基づき、円盤3によって搬送されている電子部品Wが所定位置を占めたときに電子部品Wのそれぞれ異なる側面の撮像を行なう。   Based on the signal from the encoder unit 6, the cameras 7 </ b> A to 7 </ b> C image different side surfaces of the electronic component W when the electronic component W conveyed by the disk 3 occupies a predetermined position.

具体的には、カメラ7Aは、円盤3の溝9に吸着された状態で下を向く2つの面のうち、円盤3の回転に伴ってカメラ7Aに向かって来る方の面を撮像する。カメラ7Bは、円盤3の溝9に吸着された状態で円周外側を向く面を撮像する。カメラ7Cは、円盤3の溝9に吸着された状態で下を向く2つの面のうち、カメラ7Aによって撮像された面とは逆面、すなわち円盤3の回転に伴ってカメラ7Cから離れる方の面を撮像する。なお円周内側を向く面を撮像することも可能であるから、円盤3による搬送過程で4面を撮像することもできる。   Specifically, the camera 7 </ b> A captures an image of the surface that faces toward the camera 7 </ b> A as the disk 3 rotates, out of the two surfaces facing downward while being attracted to the groove 9 of the disk 3. The camera 7 </ b> B captures an image of the surface facing the outer circumference in a state of being attracted to the groove 9 of the disk 3. The camera 7 </ b> C is a surface opposite to the surface imaged by the camera 7 </ b> A among the two surfaces facing downward while being attracted to the groove 9 of the disk 3, i.e., the one away from the camera 7 </ b> C with the rotation of the disk 3. Image the surface. In addition, since it is also possible to image the surface which faces the inner circumference, it is also possible to image four surfaces during the transport process by the disk 3.

カメラ7D〜Fは、エンコーダ部6からの信号に基づき、円盤4によって搬送されている電子部品Wが所定位置を占めたときに電子部品Wのそれぞれ異なる側面の撮像を行なう。   The cameras 7 </ b> D to 7 </ b> F image different side surfaces of the electronic component W when the electronic component W conveyed by the disk 4 occupies a predetermined position based on a signal from the encoder unit 6.

具体的には、カメラ7Dは、円盤4の溝9に吸着された状態で上を向く2つの面のうち、円盤4の回転に伴ってカメラ7Dに向かって来る方の面を撮像する。カメラ7Eは、円盤4の溝9に吸着された状態で円周外側を向く面、すなわちカメラ7Bによって撮像した面と反対側の面を撮像する。カメラ7Fは、円盤4の溝9に吸着された状態で下を向く2つの面のうち、カメラ7Dによって撮像された面とは逆面、すなわち円盤4の回転に伴ってカメラ7Fから離れる方の面を撮像する。なお円周内側を向く面を撮像することも可能であるから、円盤4による搬送過程で4面を撮像することもできる。   Specifically, the camera 7 </ b> D captures an image of the surface that faces the camera 7 </ b> D with the rotation of the disk 4, among the two surfaces that face upward while being attracted to the groove 9 of the disk 4. The camera 7E captures an image of a surface facing the outer circumference in a state where it is attracted to the groove 9 of the disk 4, that is, a surface opposite to the image captured by the camera 7B. The camera 7F is a surface opposite to the surface imaged by the camera 7D among the two surfaces facing downward while being attracted to the groove 9 of the disk 4, that is, the one that is separated from the camera 7F as the disk 4 rotates. Image the surface. In addition, since it is also possible to image the surface which faces a circumference inner side, it is also possible to image four surfaces in the conveyance process by the disk 4.

これにより、カメラ7A〜Fはそれぞれ、電子部品Wの6面の全てをそれぞれ撮像する。撮像された画像は制御部にて画像処理され、電子部品Wの良、不良の判定に供される。このようにして、電子部品Wは、外観により、その良、不良が判定される。   Thereby, each of the cameras 7A to F images all six surfaces of the electronic component W. The captured image is subjected to image processing by the control unit, and is used for determining whether the electronic component W is good or bad. In this way, the electronic component W is determined to be good or bad by the appearance.

各溝9には番地、言い換えるとアドレスが振られており、電子部品Wの良、不良は、その番地と対応して制御部に備えられたメモリに記憶される。不良には複数の態様があり、それぞれ区別された状態でメモリに記憶される。   Each groove 9 is assigned an address, in other words, an address, and whether the electronic component W is good or bad is stored in a memory provided in the control unit corresponding to the address. A defect has a plurality of modes and is stored in a memory in a state of being distinguished from each other.

カメラ7A〜Fの構成及び制御、カメラ7A〜Fにより撮像したデータの画像処理、この画像処理結果に基づき電子部品Wの良、不良を判定する処理、エンコーダ部6からの信号に基づくカメラ7A〜Fによる撮像タイミングの決定、及び、良、不良の判定結果を溝9の番地と関連して記憶すること、などのシーケンス、制御は一般的な手法によって制御部で行われる。   Configuration and control of the cameras 7A to 7F, image processing of data captured by the cameras 7A to 7F, processing for determining whether the electronic component W is good or defective based on the image processing results, and cameras 7A to 7 based on signals from the encoder unit 6 The sequence and control such as determination of the imaging timing by F and storing the determination result of good or bad in association with the address of the groove 9 are performed by the control unit by a general method.

このように、検査部Bでは、負圧形成手段により、電子部品Wが円盤3、4に吸着されるので、搬送の際の保持が良好であり、撮像及び検査が良好に行なわれ、時間当たりの検査不良の発生が抑制され、検査効率が高い。上側の円盤3から下側の円盤4に電子部品Wを受け渡すので、受渡しの際の電子部品Wの移動に関する安定性が高く、電子部品Wが円盤4によって良好に保持され、これによって撮像及び検査が良好に行なわれ、時間当たりの検査不良の発生が抑制され、検査効率が高い。   In this manner, in the inspection unit B, the electronic component W is attracted to the disks 3 and 4 by the negative pressure forming means, so that the holding during transportation is good, the imaging and inspection are performed well, and the time per time The occurrence of inspection defects is suppressed, and inspection efficiency is high. Since the electronic component W is transferred from the upper disk 3 to the lower disk 4, the movement of the electronic component W during the transfer is highly stable, and the electronic component W is well held by the disk 4, thereby imaging and Inspection is performed satisfactorily, occurrence of inspection failures per hour is suppressed, and inspection efficiency is high.

溝9がV字状をなしているから、電子部品Wを円盤3から円盤4に受け渡す際に、電子部品Wの下側を向いた角部が下側の円盤4の溝9にスムーズに進入して位置決めされ、受渡しの際の電子部品Wの移動に関する安定性が高く、電子部品Wが円盤4によって良好に保持され、これによって撮像及び検査が良好に行なわれ、時間当たりの検査不良の発生が抑制され、検査効率が高い。   Since the groove 9 is V-shaped, when the electronic component W is transferred from the disk 3 to the disk 4, the corner facing the lower side of the electronic component W is smoothly in the groove 9 of the lower disk 4. Entered, positioned, and highly stable with respect to movement of the electronic component W during delivery, the electronic component W is well held by the disk 4, and thus imaging and inspection are performed well, resulting in poor inspection per hour. Occurrence is suppressed and inspection efficiency is high.

溝9がV字状をなしているから、円盤3、4による電子部品Wの保持を良好に行なうとともに、ほぼ6面体の形状をなす電子部品Wの保持の際に溝9によって隠れる面が2面のみとなり、4面を露出させるから、撮像可能な面が多く、検査効率が高い。さらに、円盤3の溝9によって隠れていた面が、受渡しにより円盤4に保持されると露出するため、電子部品Wの全面を撮影可能となり、検査効率が高く、また検査の信頼性が高い。   Since the groove 9 is V-shaped, the disks 3 and 4 can hold the electronic component W well, and the surface hidden by the groove 9 when holding the electronic component W having a substantially hexahedron shape is 2 Since only four surfaces are exposed, there are many surfaces that can be imaged and inspection efficiency is high. Furthermore, since the surface hidden by the groove 9 of the disk 3 is exposed to the disk 4 by delivery, the entire surface of the electronic component W can be photographed, the inspection efficiency is high, and the inspection reliability is high.

・仕分け部Cについて
仕分け部Cは、円盤4の下面側に配設された複数のノズル14と、それぞれのノズル14に対応する位置に配設された複数のチューブ15と、それぞれのチューブ15に接続された複数の収容部としてのビン16と、チューブ15内に、それぞれ対応するビン16に向けた負圧を発生させる図示しない吸引機構とを有している。
Sorting unit C The sorting unit C includes a plurality of nozzles 14 disposed on the lower surface side of the disk 4, a plurality of tubes 15 disposed at positions corresponding to the respective nozzles 14, and each tube 15. Each of the bins 16 serving as a plurality of accommodating portions and a suction mechanism (not shown) that generates a negative pressure toward the corresponding bin 16 in each tube 15 are provided.

各ノズル14は、対応する位置を占める溝9につながった管12に連通するように配設されている。各ノズル14は、ポンプ等を備えた図示しないエア供給機構により、溝9が対応した位置を占めるタイミングで、それぞれ独立して、その溝9の孔11から空気を噴出する。   Each nozzle 14 is disposed so as to communicate with the pipe 12 connected to the groove 9 occupying the corresponding position. Each nozzle 14 independently ejects air from the hole 11 of the groove 9 at a timing when the groove 9 occupies a corresponding position by an air supply mechanism (not shown) provided with a pump or the like.

この空気は、負圧形成手段によって形成される負圧に抗して円盤4に吸着された電子部品Wを円盤4から離脱させるための離脱空気流である。各ノズル14と、エア供給機構とは、離脱空気流を形成して円盤4によって搬送されている電子部品Wを円盤4から離脱させて所定のビン16に向けて送り出す離脱手段として機能する。   This air is a separation air flow for separating the electronic component W adsorbed on the disk 4 from the disk 4 against the negative pressure formed by the negative pressure forming means. Each nozzle 14 and the air supply mechanism function as a detachment unit that forms a detachment air flow and detaches the electronic component W conveyed by the disk 4 from the disk 4 and sends it toward a predetermined bin 16.

各チューブ15は、離脱空気流により円盤3から離脱する電子部品Wが進入する位置に一端を開口し、他端を対応するビン16内に開口させている。吸引機構はポンプ等を有している。チューブ15と、吸引機構とは、円盤3によって搬送されている電子部品Wを所定のビン16に向けて吸引するための収容空気流を発生する収容吸引手段として機能する。   Each tube 15 has one end opened at a position where the electronic component W that is detached from the disk 3 enters by the separation air flow, and the other end is opened in the corresponding bin 16. The suction mechanism has a pump and the like. The tube 15 and the suction mechanism function as a housing and suction unit that generates a housing air flow for sucking the electronic component W conveyed by the disk 3 toward the predetermined bin 16.

各ビン16はそれぞれ、収容すべき電子部品Wが異なっている。すなわち、各ビン16は、電子部品Wの検査結果に応じて使い分けるように設けられているものであって、良品と判定された電子部品Wを収容するものと、不良と判断された電子部品Wを収容するものとがある。良品と判定された電子部品Wを収容するビン16は1つであるが、不良と判断された電子部品Wを収容するビン16は複数あり、不良の態様によって使い分けられる。   Each bin 16 has a different electronic component W to be accommodated. That is, each bin 16 is provided so as to be used properly according to the inspection result of the electronic component W, and accommodates the electronic component W determined to be non-defective, and the electronic component W determined to be defective. There is something to accommodate. Although there is one bin 16 for storing the electronic component W determined to be a non-defective product, there are a plurality of bins 16 for storing the electronic component W determined to be defective, and they are selectively used depending on the defect mode.

チューブ15による吸引は常時行なわれるが、各ノズル14による空気の噴出は、制御部によりそのタイミングを制御される。このタイミングは、電子部品Wの良、不良の判定結果に応じ、対応するビン16に収容されるよう、電子部品Wの良、不良の判定結果と対応して記憶されている溝9の番地を参照することで決定される。   Although suction by the tube 15 is always performed, the timing of the ejection of air from each nozzle 14 is controlled by the control unit. In this timing, the address of the groove 9 stored corresponding to the determination result of the good / bad electronic component W is stored so as to be accommodated in the corresponding bin 16 according to the determination result of the good / bad electronic component W. Determined by reference.

よって、電子部品Wは、ノズル14による空気の噴出、チューブ15による吸引により、良、不良の状態に応じて、所定位置で円盤4から確実に離脱し、所定のビン16内に確実に搬送され、収容される。このように、円盤4から排出された電子部品Wは、その状態に応じて所定のビン16に仕分けられ、振り分けられる。   Therefore, the electronic component W is surely detached from the disk 4 at a predetermined position and reliably conveyed into a predetermined bin 16 according to a good or defective state due to air ejection by the nozzle 14 and suction by the tube 15. , Housed. As described above, the electronic components W discharged from the disk 4 are sorted into the predetermined bins 16 according to the state.

離脱手段と収容吸引手段とは、検査が終了した電子部品Wを、検査結果に応じた所定位置で円盤4から排出させる仕分け排出手段として機能する。仕分け部Cは、円盤3、4によって搬送されている、検査が終了した電子部品Wを、検査結果に基づいて仕分ける仕分け手段として機能するようになっている。   The detachment means and the accommodation suction means function as sorting and discharging means for discharging the electronic component W that has been inspected from the disk 4 at a predetermined position according to the inspection result. The sorting unit C functions as a sorting unit that sorts the electronic parts W that have been inspected and are conveyed by the disks 3 and 4 based on the inspection result.

・切り出し部10について
図7乃至図9を参照しながら切り出し部10の構造を説明します。図7は切り出し部10の側面図であり、直線フィーダ2の先端部及び円盤3の一部の断面も併せて示している。図8は切り出し部10の一部の平面図、図9は切り出し部10の一部の正面図である。図7における紙面に垂直な方向は、図8、図9における左右方向に一致する。
-About the cutout unit 10 The structure of the cutout unit 10 will be described with reference to FIGS. FIG. 7 is a side view of the cutout portion 10, and also shows the front end portion of the linear feeder 2 and a partial cross section of the disk 3. FIG. 8 is a plan view of a part of the cutout unit 10, and FIG. 9 is a front view of a part of the cutout unit 10. The direction perpendicular to the paper surface in FIG. 7 corresponds to the left-right direction in FIGS.

切り出し部10は、直線フィーダ2で隙間なく直線状に並べられて搬送されてきた電子部品Wを円盤3に1つずつ供給するものである。切り出し部10は、直線フィーダ2本体とは0.03〜0.05mmの間隙を隔てて配設されることで別体をなし、無振動状態となっている。かかる間隙を設けるのは、直線フィーダ2本体の振動が切り出し部10に伝わることを防止し、かつ電子部品Wが直線フィーダ2本体から切出し部10に良好に搬送されるようにするためである。   The cutout unit 10 supplies the electronic components W, which are arranged in a straight line without a gap by the linear feeder 2, to the disk 3 one by one. The cutout unit 10 is separated from the main body of the linear feeder 2 with a gap of 0.03 to 0.05 mm and is separated from each other, and is in a non-vibrating state. The reason for providing such a gap is to prevent the vibration of the main body of the linear feeder 2 from being transmitted to the cutout section 10, and to ensure that the electronic component W is satisfactorily conveyed from the main body of the linear feeder 2 to the cutout section 10.

切り出し部10は、直線フィーダ2で隙間なく直線状に並べられて搬送されてきた電子部品Wが進入する孔24を形成する一対の変位部材としての分離ベース21と、最も先端側の電子部品Wの前側面が当接する当接部材としての当接部22とを有している。   The cutout unit 10 includes a separation base 21 as a pair of displacement members that form holes 24 into which the electronic components W that are linearly arranged and conveyed by the linear feeder 2 without any gaps, and the electronic component W on the most distal side. And a contact portion 22 as a contact member with which the front side surface contacts.

切り出し部10はまた、図7に示すポイントPにおいて同図における紙面に垂直な方向にレーザ光を出入射する図示しない検出手段としての検出部と、図8、図9における左右方向に分離ベース21を移動自在に支持した支持台23と、分離ベース21を支持台23上で互いに接離する方向すなわち図8、図9における左右方向に駆動し変位させる図示しない駆動機構と、図1に示すように円盤3の上面側に配設されたノズル28とを有している。   The cutout unit 10 also includes a detection unit (not shown) that emits and emits laser light in a direction perpendicular to the paper surface in FIG. 7 at a point P shown in FIG. 7, and a separation base 21 in the horizontal direction in FIGS. A support base 23 movably supported, a drive mechanism (not shown) that drives and displaces the separation base 21 in the direction in which the separation base 21 comes in contact with and separates from the support base 23, that is, in the left-right direction in FIGS. And a nozzle 28 disposed on the upper surface side of the disk 3.

各分離ベース21は、図8、図9に示すように互いに当接した状態で、直線フィーダ2によって搬送されてきた電子部品Wが進入する孔24を形成するように構成されている。すなわち、各分離ベース21は、図9に示すように、互いに向き合う端面にV字状の溝を有しており、これらの溝が付き合わされることで孔24が形成される。各溝は互いに直角をなす2つのテーパ面を有しており、図9に示すように、孔24を正面から見た形状は角部が上下左右方向に向く四角形状となる。   As shown in FIGS. 8 and 9, each separation base 21 is configured to form a hole 24 into which the electronic component W conveyed by the linear feeder 2 enters while being in contact with each other. That is, as shown in FIG. 9, each separation base 21 has V-shaped grooves on end surfaces facing each other, and holes 24 are formed by attaching these grooves. Each groove has two tapered surfaces which are perpendicular to each other, and as shown in FIG. 9, the shape of the hole 24 viewed from the front is a quadrangular shape whose corners are directed vertically and horizontally.

分離ベース21は、図7における右上側が切り欠かれた形状となり、当接部22との間で空間35を形成する。孔24を通過してきた、最も先端側の電子部品Wは空間35で露出する。孔24を通過して空間35に露出した電子部品Wの前縁言い換えると前側面が、当接部22に突き当たって当接し、後ろから別の電子部品Wが数珠繋ぎ状に搬送されてくることによって、最も先端側の電子部品Wが図7における左右方向において位置決めされる。   The separation base 21 has a shape in which the upper right side in FIG. 7 is cut out, and forms a space 35 between the separation base 21 and the contact portion 22. The most distal electronic component W that has passed through the hole 24 is exposed in the space 35. In other words, the front side of the electronic component W exposed through the hole 24 and exposed to the space 35 abuts against and comes into contact with the contact portion 22, and another electronic component W is conveyed in a daisy chain from behind. The most distal electronic component W is positioned in the left-right direction in FIG.

空間35に、リング部8が進入するようになっている。リング部8の下端位置は、孔24の上端位置よりも僅かに高い位置にあり、空間35への電子部品Wの搬送を妨げることはなく、また、上述のように位置決めされた電子部品Wが、管12による吸引によって上方に移動し、溝9に吸着される。図7は、電子部品Wの吸着が正常に行なわれた状態を示している。   The ring portion 8 enters the space 35. The lower end position of the ring portion 8 is slightly higher than the upper end position of the hole 24, and does not hinder the conveyance of the electronic component W to the space 35, and the electronic component W positioned as described above is not It moves upward by suction by the tube 12 and is adsorbed by the groove 9. FIG. 7 shows a state where the electronic component W is normally attracted.

当接部22の、電子部品Wの前側面が当接する面は、電子部品Wの進行方向すなわち孔24の延在方向に垂直な平面をなしており、電子部品Wの上方への移動を妨げることがないように滑らかな面となっている。   The surface of the contact portion 22 with which the front side surface of the electronic component W abuts forms a plane perpendicular to the traveling direction of the electronic component W, that is, the extending direction of the hole 24, and prevents the electronic component W from moving upward. It has a smooth surface to prevent it from happening.

検出部は、円盤3への電子部品Wの供給不良を検知することが可能なものであり、レーザ光を出射する出射部と、出射部が出射したレーザ光を受ける入射部とを有しており、入射部は、レーザ光を受けているか否かの信号を制御部に送信する。   The detection unit can detect a supply failure of the electronic component W to the disk 3, and includes an emission unit that emits laser light and an incident unit that receives the laser light emitted from the emission unit. The incident unit transmits a signal indicating whether or not the laser beam is received to the control unit.

ポイントPは、図7に示すように、電子部品Wの吸着が正常に行なわれた状態では、レーザ光が電子部品Wによって遮られることなく入射部に入射する位置とされている。そのため、入射部がレーザ光を受信しているときには電子部品Wが検出されておらず、入射部がレーザ光を受信していないときには電子部品Wが検出されていることとなる。   As shown in FIG. 7, the point P is a position where the laser light is incident on the incident portion without being blocked by the electronic component W when the electronic component W is normally adsorbed. Therefore, the electronic component W is not detected when the incident portion receives laser light, and the electronic component W is detected when the incident portion does not receive laser light.

支持台23は、図8、図9に示すように、各分離ベース21が当接した状態と、図10、図11に示すように、各分離ベース21が離間した状態との間で、各分離ベース21がスライドできるように支持している。   As shown in FIGS. 8 and 9, the support base 23 is provided between the state where each separation base 21 abuts and the state where each separation base 21 is separated as shown in FIGS. 10 and 11. The separation base 21 is supported so that it can slide.

支持台23は、図10、図11に示すように、各分離ベース21が離間した状態において上方に向けて露出する開口36と、開口36に連通した排出路25と、排出路25に負圧を与え開口36から電子部品Wを吸引するための吸引空気流を発生する排出吸引手段としての図示しない吸引機構とを有している。   As shown in FIGS. 10 and 11, the support base 23 has an opening 36 that is exposed upward when the separation bases 21 are separated from each other, a discharge path 25 that communicates with the opening 36, and a negative pressure applied to the discharge path 25. And a suction mechanism (not shown) as discharge suction means for generating a suction air flow for sucking the electronic component W from the opening 36.

排出路25は、図1において符号26で示すチューブにつながっている。チューブ26は、吸引機構によって開口36から吸引されチューブ26を通ってきた電子部品Wを収容する収容部材としてのビン27に接続されている。吸引機構は常時作動している。   The discharge path 25 is connected to a tube denoted by reference numeral 26 in FIG. The tube 26 is connected to a bin 27 as a housing member that houses the electronic component W that has been sucked from the opening 36 and passed through the tube 26 by a suction mechanism. The suction mechanism is always operating.

駆動機構は、制御部の指示により、各分離ベース21を、図8、図9に示す状態と、図10、図11に示す状態との何れかをとるように駆動する。各分離ベース21は図8、図9に示す状態を基本位置としており、後述するように何らかの異常が発生したときに、駆動機構によって図10、図11に示すように互いに離間した位置を占める。   The drive mechanism drives each separation base 21 to take one of the states shown in FIGS. 8 and 9 and the states shown in FIGS. 10 and 11 according to an instruction from the control unit. Each separation base 21 has a basic position in the state shown in FIGS. 8 and 9 and occupies positions separated from each other as shown in FIGS. 10 and 11 by the drive mechanism when some abnormality occurs as will be described later.

ノズル28は、孔24を通過し空間35内で当接部22に当接した電子部品Wの直上に位置する溝9の上方位置において、その溝9につながった管12に連通するように配設されている。ノズル28は、図示しないエア供給機構により、後述する所定のタイミングで、その溝9から空気を噴出するようになっている。   The nozzle 28 is arranged so as to communicate with the pipe 12 connected to the groove 9 at a position above the groove 9 located immediately above the electronic component W that has passed through the hole 24 and has contacted the contact portion 22 in the space 35. It is installed. The nozzle 28 ejects air from the groove 9 at a predetermined timing described later by an air supply mechanism (not shown).

この空気は、負圧形成手段によって形成される負圧に抗して円盤3に吸着された電子部品Wを円盤3から離脱させるための離脱空気流である。ノズル28と、エア供給機構とは、離脱空気流を形成して円盤3によって搬送されている電子部品Wを円盤3から離脱させてビン27に向けて送り出す離脱手段として機能する。   This air is a separation air flow for separating the electronic component W adsorbed on the disk 3 from the disk 3 against the negative pressure formed by the negative pressure forming means. The nozzle 28 and the air supply mechanism function as detachment means that forms a detachment air flow and detaches the electronic component W conveyed by the disk 3 from the disk 3 and sends it toward the bin 27.

制御部は、入射部からの信号に基づき、電子部品Wが正常に溝9に吸着されたか、何らかの異常が発生したかを判断する。異常の発生には、図12乃至図15にそれぞれ示した4つのパターンがあり、制御部は、入射部からの信号に基づき、異常が発生した場合には、所定の制御を行うようになっている。   Based on the signal from the incident part, the control part determines whether the electronic component W has been normally attracted to the groove 9 or some abnormality has occurred. The occurrence of abnormality has four patterns shown in FIGS. 12 to 15, respectively. The control unit performs predetermined control when an abnormality occurs based on a signal from the incident part. Yes.

図12に示す異常は、電子部品Wの姿勢に異常が生じた状態、すなわち電子部品Wの先端側の一部のみが溝9内に進入するのみで電子部品Wが傾いた状態となり、正常な吸着が行なわれない場合に生じる異常である。この場合、ポイントPにおいて出射部からのレーザ光が遮断され続けることになり、電子部品Wが検知され続けることとなる。この場合を、以下、ワーク姿勢異常という。   The abnormality shown in FIG. 12 is a state in which an abnormality has occurred in the posture of the electronic component W, that is, the electronic component W is inclined only by entering only a part of the tip side of the electronic component W into the groove 9. This is an abnormality that occurs when adsorption is not performed. In this case, at the point P, the laser light from the emitting part is continuously blocked, and the electronic component W is continuously detected. This case is hereinafter referred to as a workpiece posture abnormality.

制御部は、電子部品Wの連続検知状態が所定時間を超えると、異常が生じたと判断し、フィーダ部Aの駆動を停止するとともにモータ5を停止させて円盤3、円盤4の回転を停止する。制御部はまた、駆動機構を作動させて分離ベース21を図8、図9に示した状態から図10、図11に示した状態に変位させ、エア供給機構を駆動して離脱空気流を形成して電子部品Wを溝9から離脱させ、排出路25内に排出する。このとき、孔24内を搬送されている電子部品も排出路25内に落下し、これら電子部品Wはすべてチューブ26を経てビン27内に収容される。   When the continuous detection state of the electronic component W exceeds a predetermined time, the control unit determines that an abnormality has occurred, stops driving the feeder unit A, stops the motor 5, and stops the rotation of the disks 3 and 4. . The control unit also operates the drive mechanism to displace the separation base 21 from the state shown in FIGS. 8 and 9 to the state shown in FIGS. 10 and 11, and drives the air supply mechanism to form a separation air flow. Then, the electronic component W is separated from the groove 9 and discharged into the discharge path 25. At this time, the electronic components conveyed in the hole 24 also fall into the discharge path 25, and all these electronic components W are accommodated in the bin 27 via the tube 26.

制御部は、所定時間経過後、エア供給機構の作動を停止するとともに、分離ベース21を図8、図9に示した状態に復帰させ、フィーダ部Aの駆動を再開する。制御部は、所定時間内に入射部からの信号に基づき電子部品Wを検知し、所定時間内に電子部品Wを検知しなくなると、電子部品Wが正常に溝9に吸着されたと判断し、モータ5を駆動して円盤3、円盤4の回転を再開させる。   The control unit stops the operation of the air supply mechanism after a predetermined time has elapsed, returns the separation base 21 to the state shown in FIGS. 8 and 9, and resumes the driving of the feeder unit A. The control unit detects the electronic component W based on a signal from the incident unit within a predetermined time, and determines that the electronic component W is normally adsorbed to the groove 9 when the electronic component W is not detected within the predetermined time. The motor 5 is driven to restart the rotation of the disks 3 and 4.

図13に示す異常は、電子部品Wの大きさ、形状が異常であること、すなわち電子部品Wが異形であることにより、電子部品Wが上方に移動せず、正常な吸着が行なわれない場合に生じる異常である。この場合、ポイントPにおいて出射部からのレーザ光が遮断され続けることになり、電子部品Wが検知され続けることとなる。   The abnormality shown in FIG. 13 is when the size and shape of the electronic component W are abnormal, that is, when the electronic component W is abnormal, and the electronic component W does not move upward and normal suction is not performed. Is an abnormality that occurs. In this case, at the point P, the laser light from the emitting part is continuously blocked, and the electronic component W is continuously detected.

電子部品Wが異形である態様としては、図13に示すように通常の電子部品Wよりも長さが短い場合のほか、通常の電子部品Wよりも長さが長く、その一部が孔24内に残ったままの状態となる場合などがある。この場合を、以下、異形ワーク異常という。
制御部は、電子部品Wの連続検知状態が所定時間を超えると、異常が生じたと判断し、ワーク姿勢異常の場合と同様の制御を行う。
As an aspect in which the electronic component W is deformed, the length is longer than that of the normal electronic component W, as shown in FIG. In some cases, it remains in the state. Hereinafter, this case is referred to as a deformed workpiece abnormality.
When the continuous detection state of the electronic component W exceeds a predetermined time, the control unit determines that an abnormality has occurred, and performs the same control as in the case of the workpiece posture abnormality.

図14に示す異常は、ワーク姿勢異常、異形ワーク異常の何れでもなく、重量が正常のものより重いなどの何らかの要因で電子部品Wが上方に移動せず、正常な吸着が行なわれない場合に生じる異常である。この場合も、ポイントPにおいて出射部からのレーザ光が遮断され続けることになり、電子部品Wが検知され続けることとなる。この場合を、以下、吸着異常という。
制御部は、電子部品Wの連続検知状態が所定時間を超えると、異常が生じたと判断し、ワーク姿勢異常、異形ワーク異常の場合と同様の制御を行う。
The abnormality shown in FIG. 14 is neither a work posture abnormality nor a deformed work abnormality, and the electronic component W does not move upward due to a weight that is heavier than a normal one, and normal suction is not performed. It is an abnormality that occurs. In this case as well, the laser light from the emitting part is continuously blocked at the point P, and the electronic component W is continuously detected. This case is hereinafter referred to as adsorption abnormality.
When the continuous detection state of the electronic component W exceeds a predetermined time, the control unit determines that an abnormality has occurred, and performs control similar to that in the case of a workpiece posture abnormality or a deformed workpiece abnormality.

図15に示す異常は、電子部品Wの搬送に異常が生じた状態、具体的には何らかの要因で電子部品Wが孔24内に留まって詰まった状態となり、電子部品Wが孔24を通過しないために、正常な吸着が行なわれない場合に生じる異常である。この場合、ポイントPにおいて出射部からのレーザ光が入射部によって検知され続けることになり、電子部品Wが検知されない状態が続くこととなる。この場合を、以下、ワーク搬入異常という。   The abnormality shown in FIG. 15 is a state in which the conveyance of the electronic component W has occurred, specifically, the electronic component W stays in the hole 24 for some reason and becomes clogged, and the electronic component W does not pass through the hole 24. Therefore, this is an abnormality that occurs when normal adsorption is not performed. In this case, at the point P, the laser beam from the emitting part is continuously detected by the incident part, and the state where the electronic component W is not detected continues. This case is hereinafter referred to as a workpiece loading abnormality.

制御部は、電子部品Wの連続非検知状態が所定時間を超えると、異常が生じたと判断し、フィーダ部Aの駆動を停止するとともにモータ5を停止させて円盤3、円盤4の回転を停止する。制御部はまた、駆動機構を作動させて分離ベース21を図8、図9に示した状態から図10、図11に示した状態に変位させ、孔24内の電子部品Wを排出路25内に排出する。   When the continuous non-detection state of the electronic component W exceeds a predetermined time, the control unit determines that an abnormality has occurred, stops the feeder unit A, stops the motor 5, and stops the rotation of the disks 3 and 4 To do. The control unit also operates the drive mechanism to displace the separation base 21 from the state shown in FIGS. 8 and 9 to the state shown in FIGS. 10 and 11, and moves the electronic component W in the hole 24 into the discharge path 25. To discharge.

このとき、エア供給機構の駆動は行なわないが、行なうようにすることも可能である。また、直線フィーダ2の駆動を継続して電子部品Wの排出を強制的に行なう排出モードに移行するようにしても良い。排出路25内に落下した電子部品Wはチューブ26を経てビン27内に収容される。   At this time, the air supply mechanism is not driven, but may be performed. Alternatively, the linear feeder 2 may be continuously driven to shift to a discharge mode in which the electronic component W is forcibly discharged. The electronic component W that has fallen into the discharge path 25 is accommodated in the bin 27 via the tube 26.

制御部は、所定時間経過後、分離ベース21を図8、図9に示した状態に復帰させ、フィーダ部Aの駆動を再開する。制御部は、所定時間内に入射部からの信号に基づき電子部品Wを検知し、所定時間内に電子部品Wを検知しなくなると、電子部品Wが正常に溝9に吸着されたと判断し、モータ5を駆動して円盤3、円盤4の回転を再開する。   The control unit returns the separation base 21 to the state shown in FIGS. 8 and 9 after a predetermined time has elapsed, and restarts the driving of the feeder unit A. The control unit detects the electronic component W based on a signal from the incident unit within a predetermined time, and determines that the electronic component W is normally adsorbed to the groove 9 when the electronic component W is not detected within the predetermined time. The motor 5 is driven to restart the rotation of the disks 3 and 4.

その他、異常として検知される態様としては、フィーダ部Aの電子部品Wが全て検査部Bに供給されてしまい、空になった場合がある。この場合には、ワーク搬入異常と同様に、ポイントPにおいて出射部からのレーザ光が入射部によって検知され続けることになり、電子部品Wが検知されない状態が続くこととなる。またこの場合、定量補給フィーダ1、直線フィーダ2にそれぞれ備えられたセンサも、電子部品Wを検知しない状態が続く。この場合を、以下、ワーク検査完了状態という。   In addition, as an aspect detected as an abnormality, there is a case where all the electronic components W of the feeder unit A are supplied to the inspection unit B and become empty. In this case, the laser beam from the emitting part continues to be detected by the incident part at the point P as in the case of the workpiece carry-in abnormality, and the state where the electronic component W is not detected continues. In this case, the sensor provided in each of the quantitative supply feeder 1 and the linear feeder 2 also continues to be in a state where the electronic component W is not detected. This case is hereinafter referred to as a workpiece inspection completion state.

ワーク検査完了状態では、制御部は、ワーク搬入異常の場合と同様の制御を行うが、上述の所定の動作後、フィーダ部Aの駆動を再開しても、電子部品Wが検知されない状態が続くこととなる。そこで、制御部は、ワーク搬入異常時の制御を繰り返しても電子部品Wを検知しない場合には、ワーク検査完了状態になったとして、外観検査装置100の動作全てを停止させ、待機状態に移行する。ワーク搬入異常時の制御を何度繰り返した場合に待機状態に移行するかは必要に応じて適宜設定される。   In the workpiece inspection completion state, the control unit performs the same control as in the case of the workpiece loading abnormality, but the state where the electronic component W is not detected continues even after the feeder unit A is restarted after the above-described predetermined operation. It will be. Therefore, if the electronic component W is not detected even if the control at the time of the workpiece loading abnormality is repeated, the control unit stops all the operations of the appearance inspection apparatus 100 and shifts to the standby state, assuming that the workpiece inspection has been completed. To do. Whether or not to shift to the standby state when the control at the time of abnormal workpiece loading is repeated is set as appropriate.

切り出し部10は無振動であるため、空間35において露出した電子部品Wを円盤3の溝9に吸着する際に電子部品Wは振動せず、安定した姿勢を保つ。よって、溝9への供給性が高く、よってワーク姿勢異常、吸着異常が発生しにくく、時間当たりの供給不良の発生が抑制され、検査効率が高い。   Since the cutout part 10 does not vibrate, the electronic component W does not vibrate when the electronic component W exposed in the space 35 is attracted to the groove 9 of the disk 3, and maintains a stable posture. Therefore, the supply capability to the groove 9 is high, so that the workpiece posture abnormality and the suction abnormality are less likely to occur, the occurrence of supply failure per time is suppressed, and the inspection efficiency is high.

・円盤3、円盤4の内部構造について
図16乃至図18を参照して円盤3、4の内部構造を説明する。図16は、円盤3、4および軸3A、4Aの一部の側断面図であり、図17、図18は、図16のA−A断面の概略図である。
-Internal structure of disk 3 and disk 4 The internal structure of the disks 3 and 4 is demonstrated with reference to FIG. 16 thru | or FIG. 16 is a side sectional view of a part of the disks 3 and 4 and the shafts 3A and 4A, and FIGS. 17 and 18 are schematic views of the AA section of FIG.

管12はそれぞれ、円盤3、4の厚さ方向に、円盤3、4を貫くようにして形成されている。管12の一端は溝9に連通しており、他端は上述のようにノズル13、14、28に連通可能となっている。なお、図18において、ノズル13、14、28は説明の便宜上図示したに過ぎず、実際とは異なっている。   The tubes 12 are formed so as to penetrate the disks 3 and 4 in the thickness direction of the disks 3 and 4, respectively. One end of the tube 12 communicates with the groove 9, and the other end communicates with the nozzles 13, 14, and 28 as described above. In FIG. 18, the nozzles 13, 14, and 28 are merely illustrated for convenience of explanation, and are different from actual ones.

管12の他端が上述のようにノズル13、14、28に連通可能となっているのは、円盤3、4が回転する一方で、ノズル13、14、28は定位置に固定配置されているためである。   The other end of the tube 12 can communicate with the nozzles 13, 14, 28 as described above, while the disks 3, 4 rotate, while the nozzles 13, 14, 28 are fixedly arranged at fixed positions. Because it is.

管12内には、中空状のニードル29が、円盤3、4の厚さ方向のほぼ全体に亘って配設されている。なお、図17において、ニードル29は説明の便宜上図示したに過ぎず、実際とは異なっている。   A hollow needle 29 is disposed in the tube 12 over substantially the entire thickness of the disks 3 and 4. In FIG. 17, the needle 29 is only shown for convenience of explanation, and is different from the actual one.

ニードル29のノズル13、14、28側の端部は、ノズル13、14、28からの離脱空気流を全てニードル29内に導くように、管12の内壁面に密着している。ニードル29の溝9側の端部はテーパ状になっており、孔11に対向し、ノズル13、14、28から供給された空気が効率よく溝9から排出されるようになっているが、管12の内壁面とは離間している。   The end portions of the needle 29 on the nozzles 13, 14, and 28 side are in close contact with the inner wall surface of the tube 12 so as to guide all the separated air flows from the nozzles 13, 14, and 28 into the needle 29. The end of the needle 29 on the groove 9 side is tapered, facing the hole 11, and the air supplied from the nozzles 13, 14, 28 is efficiently discharged from the groove 9. It is separated from the inner wall surface of the tube 12.

よって、負圧形成手段によって形成される負圧は、孔11から溝9内に作用し、電子部品Wを溝9に吸着するが、離脱空気流が形成された場合には離脱空気流が孔11から溝9内に噴き出し、溝9に吸着されている電子部品Wが円盤3、4から離脱する。   Therefore, the negative pressure formed by the negative pressure forming means acts in the groove 9 from the hole 11 and adsorbs the electronic component W to the groove 9, but when the separation air flow is formed, the separation air flow is The electronic component W ejected into the groove 9 from 11 and adsorbed in the groove 9 is detached from the disks 3 and 4.

軸3A、4Aは、その内部に、軸方向に延設された孔30と、孔30から軸3A、4Aの周面に向けて形成された複数の孔31とを有している。孔30は吸引機構に連結され、孔30、31の内部が負圧に保たれる。   Each of the shafts 3A and 4A has a hole 30 extending in the axial direction and a plurality of holes 31 formed from the hole 30 toward the peripheral surfaces of the shafts 3A and 4A. The hole 30 is connected to a suction mechanism, and the inside of the holes 30 and 31 is maintained at a negative pressure.

円盤3、4は、軸3A、4A周りに位置する円筒形状の空間部32と、空間部32から各管12に向けて、すなわち円盤3、4の中心部から各管12に向けて放射状に形成された複数の管部33とを有している。管部33はそれぞれ、一端が空間部32に連通し、他端が管12に連通している。これにより、管部33はそれぞれ、空間部32と管12とを連通させているとともに、管12を介して孔11のそれぞれに連通している。   The discs 3 and 4 are cylindrical space portions 32 positioned around the axes 3A and 4A, and radially from the space portions 32 toward the respective tubes 12, that is, radially from the central portions of the discs 3 and 4 toward the respective tubes 12. And a plurality of formed pipe portions 33. Each of the tube portions 33 has one end communicating with the space portion 32 and the other end communicating with the tube 12. Thereby, the pipe part 33 communicates with the space part 32 and the pipe 12 and communicates with each of the holes 11 via the pipe 12.

各管12は、円盤3、4の径方向に延在している。ここで、径方向とは、円盤3、4の回転中心と外周とを結ぶ方向である。空間部32は、各管部33を互いに連通させる連通部としての機能を有している。   Each tube 12 extends in the radial direction of the disks 3 and 4. Here, the radial direction is a direction connecting the rotation center and the outer periphery of the disks 3 and 4. The space part 32 has a function as a communication part that allows the pipe parts 33 to communicate with each other.

各管部33はそれぞれ、径方向における中途に、円盤3、4の肉厚方向の深さを有する、離脱空気流の緩衝を行う緩衝部としてのポケット34を有している。ポケット34は、管部33の他の部分すなわちポケット34を除く部分より大径に形成されている。   Each pipe part 33 has a pocket 34 as a buffer part for buffering the separated air flow, having a depth in the thickness direction of the disks 3 and 4 in the middle in the radial direction. The pocket 34 is formed to have a larger diameter than the other portion of the pipe portion 33, that is, the portion excluding the pocket 34.

ポケット34は、隣り合う管部33同士で、円盤3、4の中心からの距離が交互に繰り返して互い違いになるように配設されている。これにより、円盤3、4の中心と各ポケット34との間の距離が等距離である場合に比べ、円盤3、4による電子部品Wの保持数を増加可能となっている。すなわち、溝9を多数形成して円盤3、4による電子部品Wの保持数を増加させるために、各管部33の間隔を小さくしても、各管部33に対してポケット34を配設できるよう、ポケット34を設ける領域が確保されている。   The pockets 34 are arranged such that the distances from the centers of the disks 3 and 4 are alternately repeated between the adjacent pipe portions 33. Thereby, compared with the case where the distance between the center of the disks 3 and 4 and each pocket 34 is equal distance, the holding | maintenance number of the electronic components W by the disks 3 and 4 can be increased. That is, in order to form a large number of grooves 9 and increase the number of electronic components W held by the disks 3 and 4, pockets 34 are provided for the respective tube portions 33 even if the intervals between the tube portions 33 are reduced. An area in which the pocket 34 is provided is secured so that it can be done.

ポケット34を設ける領域を確保するためには、本形態のように相隣るポケット34の円盤3、4の中心部からの距離が交互に繰り返して互い違いになるとなるように配設することが、ポケット34の形成の観点からも好ましいが、かかる距離は、交互に繰り返す態様以外の態様で、相隣るポケット34の、円盤3、4の中心部からの距離が互いに異なるように配設されていても良い。   In order to secure a region where the pocket 34 is provided, it is arranged so that the distances from the center of the disks 3 and 4 of the adjacent pockets 34 are alternately repeated as in the present embodiment, This distance is preferable from the viewpoint of the formation of the pockets 34, but such a distance is arranged in such a manner that the distances from the centers of the disks 3 and 4 of the adjacent pockets 34 are different from each other in an aspect other than the alternately repeating aspect. May be.

このような構造により、吸引機構によって孔30、31、空間部32、管部33、管12、孔11を経て、溝9に電子部品Wを吸着する負圧が生じる。これら吸引機構、孔30、31、空間部32、管部33、管12、孔11は、電子部品Wを各溝9において円盤3、4に吸着して搬送するための負圧を形成する負圧形成手段を構成している。   With such a structure, a negative pressure that attracts the electronic component W to the groove 9 is generated by the suction mechanism through the holes 30 and 31, the space portion 32, the tube portion 33, the tube 12, and the hole 11. These suction mechanisms, holes 30 and 31, space portion 32, tube portion 33, tube 12 and hole 11 form a negative pressure for adsorbing and transporting electronic component W to disks 3 and 4 in each groove 9. The pressure forming means is configured.

一方、上述のように、溝9から電子部品Wを排除すべく、所定のタイミングで、エア供給機構が駆動され、ノズル13、14、28から、管12内に空気が吹き込まれる。
この際、この管12に連通した管部33、空間部32を介して、その隣の管部33などの、他の管部33に空気が吹き込まれると、その管部33に連通した溝9に吸着しておくべき電子部品Wが離脱する恐れがある。
On the other hand, as described above, the air supply mechanism is driven at a predetermined timing to remove the electronic component W from the groove 9, and air is blown into the tube 12 from the nozzles 13, 14, and 28.
At this time, when air is blown into the other pipe part 33 such as the adjacent pipe part 33 through the pipe part 33 and the space part 32 communicated with the pipe 12, the groove 9 communicated with the pipe part 33. There is a risk that the electronic component W that should be attracted to the product will be detached.

これは、空間部32に面した管部33同士の間隙が小さくなっているため、かりに、ある管部33から離脱空気流が空間部32内に流れ込むと、周辺の気圧が高くなり、その周辺の管部33の気圧が、その管部33に連通した溝9に電子部品Wを吸着しておくのに必要な負圧を保てなくなるためである。   This is because the gap between the pipe parts 33 facing the space part 32 is small, so if a separation air flow flows into the space part 32 from a certain pipe part 33, the surrounding atmospheric pressure increases, This is because the pressure of the pipe portion 33 cannot maintain the negative pressure necessary for adsorbing the electronic component W in the groove 9 communicating with the pipe portion 33.

しかし、ニードル29を配設してノズル13、14、28から供給された離脱空気流が効率よく溝9から噴き出されるように構成したこと、及び、ポケット34を設けて管部33の体積を大きくし、管12側から空間部32側への、または空間部32側から管12側への、気圧の瞬間的な変化を緩衝するように構成したことで、ある管12に空気が吹き込まれた場合であっても、その隣や周辺の管12への影響が低減され、吸着しておくべき電子部品Wの吸着状態は確保される。   However, the needle 29 is disposed so that the separated air flow supplied from the nozzles 13, 14 and 28 is efficiently ejected from the groove 9, and the pocket 34 is provided to reduce the volume of the pipe portion 33. Air is blown into a certain pipe 12 by increasing the pressure and buffering the instantaneous change in atmospheric pressure from the pipe 12 side to the space 32 side or from the space 32 side to the pipe 12 side. Even in such a case, the influence on the adjacent and surrounding tube 12 is reduced, and the suction state of the electronic component W to be sucked is ensured.

よって、所望の電子部品Wのみを円盤3、4から離脱させ、他の電子部品Wは円盤3、4に保持された状態で搬送されるから、撮像、検査が良好に行なわれるとともに、最終的な仕分けまで良好に行なわれることとなり、検査効率が向上する。   Therefore, since only the desired electronic component W is detached from the disks 3 and 4 and the other electronic components W are transported while being held by the disks 3 and 4, the imaging and inspection are performed well and finally As a result, the inspection efficiency is improved.

隣り合うポケット34を、中心からの距離を違えて配置したため、円盤3、4の肉厚方向のみならず、径方向におけるその大きさを大きくとることができるようになっており、これにより緩衝効率が向上している。ただし、肉厚方向のみの大きさを大きくするようにしても良い。管部33全体の径を大きくすると、負圧形成効率が低下するため、ポケット34の部分のみ、その径を大きくすることが望ましく、本実施形態の管部33、ポケット34は、これに適った構造となっている。   Since the adjacent pockets 34 are arranged at different distances from the center, not only the thickness direction of the disks 3 and 4 but also the size in the radial direction can be increased, thereby improving the buffer efficiency. Has improved. However, the size only in the thickness direction may be increased. If the diameter of the entire pipe portion 33 is increased, the negative pressure forming efficiency is reduced. Therefore, it is desirable to increase the diameter of only the pocket 34 portion, and the pipe portion 33 and the pocket 34 of this embodiment are suitable for this. It has a structure.

隣り合うポケット34を、中心からの距離を違えて配置したため、円盤3、4の肉厚方向のみならず、径方向におけるその大きさも大きくとりつつ、さらには、管部33の間隔が抑制可能であるから、円盤3、4の大きさを抑制しつつ、管部33の数を増やして、円盤3、4によって保持する電子部品Wの数を増加させることが可能である。   Since the adjacent pockets 34 are arranged at different distances from the center, not only the thickness direction of the disks 3 and 4 but also the size thereof in the radial direction can be increased, and further, the interval between the pipe portions 33 can be suppressed. Therefore, it is possible to increase the number of electronic parts W held by the disks 3 and 4 by increasing the number of the pipe portions 33 while suppressing the size of the disks 3 and 4.

隣り合うポケット34を、中心からの距離が交互に繰り返して互い違いになるように配置したため、ポケット34の製造工程が簡易であり、比較的に容易にポケット34が製造され、ポケット34の形成によるコストが抑制されている。   Since the adjacent pockets 34 are arranged so that the distances from the center are alternately repeated, the manufacturing process of the pockets 34 is simple, and the pockets 34 are relatively easily manufactured. Is suppressed.

以上、本発明にかかる外観検査装置100の構成及び動作を説明したが、特に述べていない動作についても、制御部で制御するようになっている。制御部は、CUP、メモリ等を備えたものである。   The configuration and operation of the appearance inspection apparatus 100 according to the present invention have been described above, but operations that are not particularly described are also controlled by the control unit. The control unit includes a CUP, a memory, and the like.

なお、円盤3の溝9のうち、電子部品Wを円盤4に受け渡した後の溝9であって、切り出し部10で電子部品Wを吸着する前の溝9は、孔11が露出し、空気が進入する状態となっている。また、円盤4の溝9のうち、電子部品Wを仕分けした後の溝9であって、円盤3から電子部品Wを受け取る前の溝9は、孔11が露出し、空気が進入する状態となっている。そのため、かかる空気の進入によって負圧は低下するが、吸引機構の出力、孔11、管12、管部33、空間部32等の形状、大きさは、かかる負圧の低下が、溝9において電子部品Wの保持を良好に維持する範囲に保たれるように設計されている。   Of the grooves 9 of the disk 3, the grooves 9 after the electronic component W is transferred to the disk 4, and before the electronic component W is adsorbed by the cutout portion 10, the holes 11 are exposed, and the air Is in a state to enter. Further, among the grooves 9 of the disk 4, the grooves 9 after sorting the electronic components W, and before receiving the electronic components W from the disks 3, the holes 11 are exposed and air enters. It has become. Therefore, although the negative pressure is reduced by the ingress of air, the shape and size of the output of the suction mechanism, the hole 11, the pipe 12, the pipe part 33, the space part 32, etc. The electronic component W is designed to be maintained in a range in which the holding of the electronic component W is maintained well.

以上、本発明の好ましい実施の形態について詳述したが、本発明は係る特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。   The preferred embodiments of the present invention have been described in detail above. However, the present invention is not limited to the specific embodiments, and various modifications can be made within the scope of the gist of the present invention described in the claims. Deformation / change is possible.

たとえば、エンコーダ6は、ステッピングモータであるモータ5への電子的制御に加えて、機械的検知を行なうことにより、円盤3、4の回転制御の精度を向上するために用いているが、エンコーダ6を用いず、モータ5への電子的制御のみで円盤3、4の回転制御を行ってもよい。   For example, the encoder 6 is used to improve the accuracy of rotation control of the disks 3 and 4 by performing mechanical detection in addition to electronic control of the motor 5 which is a stepping motor. The rotation control of the disks 3 and 4 may be performed only by electronic control of the motor 5 without using the motor.

また、電子部品Wを撮像するカメラは、撮像すべき電子部品Wの面の数だけ、撮影すべき面の位置に対応して備えられていれば良く、6つに限らず、5つ以下を配置しても良い。各エア供給機構、各吸引機構は、ポンプ等をそれぞれ別に備えているものでも良いし、共通のポンプ等によって作動するものでも良い。   Moreover, the camera which images the electronic component W should just be provided corresponding to the position of the surface which should be image | photographed by the number of the surfaces of the electronic component W which should be imaged. It may be arranged. Each air supply mechanism and each suction mechanism may be provided with a pump or the like, or may be operated by a common pump or the like.

本発明の実施の形態に記載された効果は、本発明から生じる最も好適な効果を列挙したに過ぎず、本発明による効果は、本発明の実施の形態に記載されたものに限定されるものではない。   The effects described in the embodiments of the present invention are only the most preferable effects resulting from the present invention, and the effects of the present invention are limited to those described in the embodiments of the present invention. is not.

本実施形態における外観検査装置の概略斜視図である。It is a schematic perspective view of the external appearance inspection apparatus in this embodiment. 本実施形態における外観検査装置の概略側面図である。It is a schematic side view of the external appearance inspection apparatus in this embodiment. 本実施形態における外観検査装置の概略平面図である。It is a schematic plan view of the external appearance inspection apparatus in this embodiment. 本実施形態における外観検査装置に備えられた円盤の平面図又は底面図及びその一部の拡大図である。It is the top view or bottom view of the disk with which the appearance inspection apparatus in this embodiment was equipped, and the one part enlarged view. 本実施形態における外観検査装置に備えられた円盤の凸部および溝の拡大側断面図である。It is an expanded sectional side view of the convex part and groove | channel of a disk with which the external appearance inspection apparatus in this embodiment was equipped. 本実施形態における外観検査装置に備えられた円盤の凸部および溝の拡大正断面図である。It is an expansion front sectional view of the convex part and slot of a disk with which the appearance inspection device in this embodiment was equipped. 本実施形態における外観検査装置に備えられた切り出し部の一部の拡大側断面図であって、電子部品が正常に供給された状態を示す図である。It is a partial expanded sectional view of the cutout part with which the appearance inspection apparatus in this embodiment was equipped, Comprising: It is a figure which shows the state by which the electronic component was supplied normally. 本実施形態における外観検査装置に備えられた切り出し部の一部の平面図であって、電子部品が正常に供給されている状態を示す図である。It is a partial top view of the cutout part with which the appearance inspection apparatus in this embodiment was equipped, Comprising: It is a figure which shows the state in which the electronic component is supplied normally. 本実施形態における外観検査装置に備えられた切り出し部の一部の正面図であって、電子部品が正常に供給されている状態を示す図である。It is a front view of a part of the cutout part provided in the appearance inspection apparatus in the present embodiment, and is a diagram showing a state in which electronic components are normally supplied. 本実施形態における外観検査装置に備えられた切り出し部の一部の平面図であって、電子部品の供給が正常でなかった状態を示す図である。It is a partial top view of the cutout part with which the appearance inspection apparatus in this embodiment was equipped, Comprising: It is a figure which shows the state in which supply of the electronic component was not normal. 本実施形態における外観検査装置に備えられた切り出し部の一部の正面図であって、電子部品の供給が正常でなかった状態を示す図である。It is a front view of a part of the cutout part provided in the appearance inspection apparatus in the present embodiment, and is a diagram showing a state where the supply of electronic components is not normal. 本実施形態における外観検査装置に備えられた切り出し部の一部の拡大側断面図であって、電子部品の供給が正常でない状態を示す図である。It is a partial expanded sectional view of the cutout part with which the appearance inspection apparatus in this embodiment was equipped, Comprising: It is a figure which shows the state in which supply of an electronic component is not normal. 本実施形態における外観検査装置に備えられた切り出し部の一部の拡大側断面図であって、電子部品の供給が正常でない他の状態を示す図である。It is a partial expanded sectional view of the cutout part with which the appearance inspection apparatus in this embodiment was equipped, Comprising: It is a figure which shows the other state in which supply of an electronic component is not normal. 本実施形態における外観検査装置に備えられた切り出し部の一部の拡大側断面図であって、電子部品の供給が正常でないまた他の状態を示す図である。It is a partial expanded sectional view of the cutout part with which the appearance inspection apparatus in this embodiment was equipped, Comprising: It is a figure which shows another state in which supply of an electronic component is not normal. 本実施形態における外観検査装置に備えられた切り出し部の一部の拡大側断面図であって、電子部品の供給が正常でないさらに他の状態を示す図である。It is a partial expanded sectional view of the cutout part with which the appearance inspection apparatus in this embodiment was equipped, Comprising: It is a figure which shows the other state in which supply of an electronic component is not normal. 本実施形態における外観検査装置に備えられた円盤及びその周りの構造の一部の側断面図である。It is a sectional side view of a part of the disk provided in the appearance inspection apparatus in this embodiment and the surrounding structure. 図16のA−A断面の概略図である。It is the schematic of the AA cross section of FIG. 図16のA−A断面の他の概略図である。FIG. 17 is another schematic view taken along line AA of FIG. 16.

符号の説明Explanation of symbols

3 円盤、上側の円盤
4 円盤、下側の円盤
8 凸部
9 溝
10 切り出し部
11 孔
11、12、30〜34 負圧形成手段
13 離脱手段
14 離脱手段、第1の離脱手段
14、15 仕分け排出手段
15 収容吸引手段
16 収容部
21 変位部材
22 当接部材
27 収容部材
28 離脱手段、第1の離脱手段
32 連通部
33 管部
34 緩衝部
36 開口
100 外観検査装置
C 仕分け手段
P 検知手段による検知位置
W 電子部品
3 disc, upper disc 4 disc, lower disc 8 convex portion 9 groove 10 cutout portion 11 hole 11, 12, 30 to 34 negative pressure forming means 13 detaching means 14 detaching means, first detaching means 14, 15 Discharge means 15 Accommodating suction means 16 Accommodating section 21 Displacement member 22 Contacting member 27 Accommodating member 28 Disengaging means, first disengaging means 32 Communication section 33 Pipe section 34 Buffer section 36 Opening 100 Appearance inspection device C Sorting means P By detection means Detection position W Electronic component

Claims (3)

回転により電子部品を搬送するための円盤を備え、前記円盤によって搬送される電子部品の外観を撮像し、撮像された電子部品の外観に基づいて当該電子部品の外観検査を行なう外観検査装置において、
前記円盤を2つ備え、
前記2つの円盤はそれぞれ、ほぼ水平に配設されているとともに、その周縁部に、互いに向き合う方向に突設された環状の凸部を有し、
前記凸部は、前記円盤の周方向に複数備えられた、電子部品を保持するためのV字状の溝を有し、
前記2つの円盤の回転時に、それぞれの前記凸部の前記溝の1つが互いに向き合うように、前記2つの円盤を、それぞれの一部が上下方向において互いに重なり合うように配置し、上側の前記円盤から下側の前記円盤に電子部品を受け渡す外観検査装置であって、
電子部品を前記溝において前記円盤に吸着して搬送するための負圧を形成する負圧形成手段と、
前記負圧形成手段によって形成される負圧に抗して上側の前記円盤に吸着された電子部品を上側の前記円盤から離脱させるための第1の離脱空気流を形成する第1の離脱手段と、
上側の前記円盤に電子部品を1つずつ供給するための切り出し部と、
前記第1の離脱手段と前記切り出し部とを制御する制御手段と有し、
前記切り出し部は、互いに接離する方向に変位するとともに、互いに当接した状態で電子部品を搬送する孔を形成する変位部材と、前記孔を通過した電子部品の前縁に当接してこの電子部品の位置決めを行なう当接部材と、前記変位部材が互いに離間したときに露出する開口と、前記開口から電子部品を吸引するための吸引空気流を発生する排出吸引手段と、前記排出吸引手段によって前記開口から吸引された電子部品を収容する収容部材と、前記円盤への電子部品の供給不良を検知する検知手段とを有し、
前記制御手段は、前記検知手段によって前記供給不良を検知したときに、前記変位部材を互いに離間する状態に変位するとともに、前記第1の離脱手段により前記第1の離脱空気流を形成することを特徴とする外観検査装置。
In an appearance inspection apparatus that includes a disk for conveying an electronic component by rotation, images the appearance of the electronic component conveyed by the disk, and inspects the appearance of the electronic component based on the imaged appearance of the electronic component,
Two discs,
Each of the two disks is disposed substantially horizontally, and has an annular convex portion projecting in a direction facing each other at the peripheral edge thereof,
The convex portion has a plurality of V-shaped grooves provided in the circumferential direction of the disk for holding electronic components,
When the two disks are rotated, the two disks are arranged so that each of the grooves overlaps each other in the vertical direction so that one of the grooves of each of the convex portions faces each other, and from the upper disk An appearance inspection device that delivers electronic components to the lower disk,
Negative pressure forming means for forming a negative pressure for adsorbing and conveying the electronic component to the disk in the groove;
First detachment means for forming a first detachment air flow for detaching the electronic component adsorbed by the upper disk against the negative pressure formed by the negative pressure forming means from the upper disk; ,
A cutout section for supplying electronic components one by one to the upper disk;
Control means for controlling the first detachment means and the cutout portion;
The cutout part is displaced in a direction in which the electronic parts are separated from each other, and a displacement member that forms a hole for transporting the electronic component in contact with each other and a front edge of the electronic component that has passed through the hole are in contact with the electronic component. A contact member for positioning the component, an opening exposed when the displacement member is separated from each other, a discharge suction unit for generating a suction air flow for sucking the electronic component from the opening, and the discharge suction unit A housing member that houses the electronic component sucked from the opening, and a detection unit that detects a supply failure of the electronic component to the disk;
When the control means detects the supply failure, the control means displaces the displacement members in a state of being separated from each other, and forms the first detachment air flow by the first detachment means. A visual inspection device.
請求項1に記載の外観検査装置において、
前記円盤によって搬送されている、検査が終了した電子部品を、検査結果に基づいて仕分ける仕分け手段を有し、
前記仕分け手段は、検査が終了した前記電子部品を、検査結果に応じた所定位置で下側の前記円盤から排出させる仕分け排出手段と、
前記仕分け排出手段によって下側の前記円盤から排出された電子部品を収容する、検査結果に応じて設けられた収容部とを有し、
前記仕分け排出手段は、下側の前記円盤によって搬送されている電子部品を下側の前記円盤から離脱させて前記収容部に向けて送り出すための第2の離脱空気流を形成する第2の離脱手段と、下側の前記円盤によって搬送されている電子部品を前記収容部に向けて吸引するための収容空気流を発生する収容吸引手段とを有することを特徴とする外観検査装置。
The appearance inspection apparatus according to claim 1,
The electronic parts that have been inspected after being transported by the disk have sorting means for sorting based on the inspection results,
The sorting means is a sorting and discharging means for discharging the electronic components that have been inspected from the lower disk at a predetermined position according to the inspection result;
Containing the electronic components discharged from the lower disk by the sorting and discharging means, and a receiving portion provided according to the inspection result,
The sorting and discharging means forms a second detachment air flow for detaching the electronic component conveyed by the lower disk from the lower disk and sending it to the housing portion. And an accommodation suction means for generating an accommodation air flow for sucking an electronic component conveyed by the lower disk toward the accommodation portion.
請求項1又は請求項2に記載の外観検査装置において、
前記負圧形成手段は、前記溝に電子部品を吸着するために前記溝に連なる孔と、前記円盤内部において前記円盤の中心部から前記孔のそれぞれに連通するように放射状に設けられた複数の管部と、前記管部を互いに連通させる連通部とを有し、
前記管部がそれぞれ、前記円盤の径方向における中途に、前記離脱空気流の緩衝を行う緩衝部を有することを特徴とする外観検査装置。
In the visual inspection apparatus according to claim 1 or 2,
The negative pressure forming means includes a plurality of holes provided in a radial pattern so as to communicate with each of the holes from the center of the disk inside the disk to adsorb an electronic component in the groove and the center of the disk. A pipe part and a communication part for communicating the pipe part with each other;
Each of the tube parts has a buffer part for buffering the separated air flow in the middle of the disk in the radial direction.
JP2006071392A 2006-03-15 2006-03-15 Appearance inspection device Active JP3831406B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006071392A JP3831406B1 (en) 2006-03-15 2006-03-15 Appearance inspection device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006071392A JP3831406B1 (en) 2006-03-15 2006-03-15 Appearance inspection device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP3831406B1 true JP3831406B1 (en) 2006-10-11
JP2007244987A JP2007244987A (en) 2007-09-27

Family

ID=37214349

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006071392A Active JP3831406B1 (en) 2006-03-15 2006-03-15 Appearance inspection device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3831406B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113945584A (en) * 2021-10-25 2022-01-18 山东才聚电子科技有限公司 IC tube seat appearance detection device

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010230602A (en) * 2009-03-30 2010-10-14 Daiwa Machinery Co Ltd Image inspection method of specimen, and device of the same
CN107831176B (en) * 2017-12-04 2023-10-27 苏州斯莱克精密设备股份有限公司 Slender soft part detection device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113945584A (en) * 2021-10-25 2022-01-18 山东才聚电子科技有限公司 IC tube seat appearance detection device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007244987A (en) 2007-09-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007246214A (en) Visual inspection device
JP4906058B2 (en) Work transfer system
TWI460101B (en) Workpiece insertion mechanism and workpiece insertion method
JP4388286B2 (en) Micro object inspection system
CN109109071B (en) Blade replacement mechanism, cutting device, and blade replacement method
JP2009166003A (en) Parts sorting apparatus and apparatus for inspecting and sorting characteristics of electronic parts using this apparatus
JP2002145445A (en) Work conveying device
JP2008105811A (en) Visual inspection device of workpiece
JP5800378B1 (en) Electronic component conveyor
JP2824378B2 (en) Electronic component mounting device
JP2003275688A (en) Component inspection method, component feeder and component inspection device
JP3831406B1 (en) Appearance inspection device
JP5087032B2 (en) Electronic component mounting device
JP2004345859A (en) Chip part conveyance method, its device, appearance inspection method, and its device
JP2008308302A (en) Workpiece inspection device
JP6164623B1 (en) Electronic component moving device and electronic component conveying device
JP4337418B2 (en) Chip type electronic component handling apparatus and chip type electronic component handling method
JP2012225855A (en) Visual inspection device of minute workpiece
JP4446089B2 (en) Work transfer system
JP6182996B2 (en) Conveying device and conveying rotor
TWI447060B (en) Workpiece handling equipment
JP3259610B2 (en) Parts feeder
JP6974503B2 (en) Parts mounting machine, parts out-of-stock judgment method
JP2007135982A (en) Tablet conveyance apparatus
JP4298459B2 (en) Component recognition device, surface mounter and component testing device

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060713

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090721

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100721

Year of fee payment: 4