JP2008105811A - Visual inspection device of workpiece - Google Patents

Visual inspection device of workpiece Download PDF

Info

Publication number
JP2008105811A
JP2008105811A JP2006290599A JP2006290599A JP2008105811A JP 2008105811 A JP2008105811 A JP 2008105811A JP 2006290599 A JP2006290599 A JP 2006290599A JP 2006290599 A JP2006290599 A JP 2006290599A JP 2008105811 A JP2008105811 A JP 2008105811A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
workpiece
inspection
rotating disk
work
disk
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006290599A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Haruo Yoshizuka
春生 吉塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Eiko Sangyo Kk
Ishikawa Seisakusho Ltd
Original Assignee
Eiko Sangyo Kk
Ishikawa Seisakusho Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Eiko Sangyo Kk, Ishikawa Seisakusho Ltd filed Critical Eiko Sangyo Kk
Priority to JP2006290599A priority Critical patent/JP2008105811A/en
Publication of JP2008105811A publication Critical patent/JP2008105811A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a visual inspection device of a workpiece capable of inspecting the conveying state of the workpiece over the whole with observation so as to secure stable posture of various rotary disk for conveying workpieces and driving means thereof and so as to quickly correspond even if a conveying trouble is caused in a workpiece transference path. <P>SOLUTION: Conveying disks D1, D2 and D3 are horizontally arranged in a conveyance line 6, and an inspecting rotary disk 22 is horizontally arranged in a workpiece inspection section 21. The rotary disks D1, D2, D3 and 22 are coupled to driving means Md1, Md2, MD3 and M4 of which driving shafts J1, J2, J3 and J22 are directed upward. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、ICチップやチップ型コンデンサ等のチップ部品等のワークを撮像手段により撮像して、良品と不良品に選別するワークの外観検査装置に関する。   The present invention relates to a work appearance inspection apparatus that picks up an image of a work such as an IC chip or a chip component such as a chip-type capacitor by an image pickup means and sorts the work into a non-defective product and a defective product.

ICチップやチップ型コンデンサ等のチップ部品等のワークは、その傷の検査やその種類や大きさを選別するための検査装置で検査され、梱包ラインに供給される。このワークの外観検査装置は、投入されたワークを整列搬送するワーク整列供給部と、ワーク整列供給部から供給されたワークを多角度的に撮像して、これらの品質を検査して選別するワーク検査部から構成される。ワーク整列供給部としては、振動によりワークを整列させながら移送する振動方式のものと、ワーク投入部に投入されたワークに回転による遠心力を与え、その外周壁にワークを沿わせるようにしてワークを移送する等、振動以外の方法でワークを移送する無振動タイプのものが挙げられる。   A work such as a chip component such as an IC chip or a chip-type capacitor is inspected by an inspection device for inspecting the scratches and selecting the type and size thereof, and is supplied to a packaging line. This workpiece visual inspection apparatus is a workpiece alignment supply unit that aligns and conveys a loaded workpiece, and a workpiece that is picked up from multiple angles by imaging the workpiece supplied from the workpiece alignment supply unit, and inspecting and sorting the quality of these workpieces. Consists of an inspection unit. The workpiece alignment and supply unit includes a vibration type that moves while aligning the workpieces by vibration, and a workpiece that is placed in the outer peripheral wall by applying centrifugal force to the workpiece that has been put in the workpiece loading unit. Non-vibration type that transfers workpieces by methods other than vibration, such as transferring

上記ワークの外観検査装置としては、例えば、特許文献1から4に係る装置がある。特許文献1に係るワークの検査部(検査装置1)は、図示されていないワークの整列供給部から供給されたワーク(微小物体)を複数(6台)の撮像手段(カメラC1〜C6)により撮影してワーク(微小物体)を順次検査し、これを選別するものである。このワーク検査部(検査装置1)は、ワークの整列供給部から供給されたワークを直線的に移送する第1フィーダ2及び第2フィーダ6と、第1フィーダ2及び第2フィーダ6の各下流端には、これらのフィーダ2,6のワーク進行方向と同一方向の回転軸を有し、各フィーダ2,6から移送されたワークを垂直姿勢で回転させる第1及び第2の回転テーブル(回転ディスク)が各々設けられている。   Examples of the workpiece appearance inspection apparatus include apparatuses according to Patent Documents 1 to 4. The workpiece inspection unit (inspection apparatus 1) according to Patent Document 1 uses a plurality (six) of imaging means (cameras C1 to C6) to supply workpieces (micro objects) supplied from a workpiece alignment supply unit (not shown). The work (micro object) is sequentially inspected and picked up. The workpiece inspection unit (inspection apparatus 1) includes a first feeder 2 and a second feeder 6 that linearly transfer workpieces supplied from a workpiece alignment supply unit, and downstream of the first feeder 2 and the second feeder 6. At the end, there are first and second rotary tables (rotations) which have a rotation axis in the same direction as the workpiece moving direction of these feeders 2 and 6 and rotate the workpieces transferred from the feeders 2 and 6 in a vertical posture. Discs) are provided.

また、特許文献2には、検査対象である微小物体(ワーク)を整列搬送するフィーダと、外周側面に微小物体を収納する収納溝が形成され回転する円盤状の回転インデクサ(検査用回転ディスク)と、フィーダと回転インデクサとの間に位置してフィーダから整列搬送される微小物体を回転インデクサの収納溝に搬送する無振動中継台と、無振動中継台に移行した微小物体を吸引する第1の吸引手段と、回転インデクサを回転させる駆動手段とを備え、円盤状の回転インデクサは、収納溝を下にした水平状態に配され、その上方に配される駆動手段により水平回転されるとともに、収納溝に収納された微小物体を上方から吸引する第2の吸引手段と連続する吸引溝が設けられ、無振動中継台は、水平状態の回転インデクサに近接配置されて、水平状態の回転インデクサの収納溝に微小物体を横方向から収納させることを特徴とする微小物体の外観検査装置が開示されている。   Patent Document 2 discloses a feeder that aligns and conveys minute objects (workpieces) to be inspected, and a disk-shaped rotating indexer (inspection rotating disk) that is rotated by forming a storage groove that accommodates minute objects on the outer peripheral side surface. A non-vibration relay stand that is positioned between the feeder and the rotary indexer and that is aligned and conveyed from the feeder to the storage groove of the rotary indexer, and a first object that sucks the micro object that has moved to the non-vibration relay stand The disk-shaped rotary indexer is arranged in a horizontal state with the storage groove down, and is horizontally rotated by the driving means arranged above the suction means, and a driving means for rotating the rotary indexer. A suction groove continuous with the second suction means for sucking a minute object stored in the storage groove from above is provided, and the vibration-free relay stand is disposed in proximity to the horizontal rotation indexer, Appearance inspection apparatus of the minute object is disclosed, wherein for accommodating the small object from the lateral direction in the receiving groove of the rotational indexer flat state.

また、特許文献3には、投入されたワークを直線状に整列させて移送するワーク整列供給部(パーツフィーダ5)と、ワーク整列供給部(パーツフィーダ5)から供給されたワークを撮像手段(カメラC1〜C4)により撮像し選別するワーク検査部とを有する。更に、このワーク検査部は、ワークの2面を撮像するための撮像手段(カメラC1,C2
)を近接配置した第1の検査用回転ディスク(第1の回転円盤10)と、ワークの他の2面を撮像するための撮像手段(カメラC3,C4)を近接配置した第2の検査用回転ディスク(第2の回転円盤20)を有する。上記ワーク整列供給部(パーツフィーダ5)から第1の検査用回転ディスク(第1の回転円盤10)に受け渡され、2面を撮像されたワークは、更に、第2の検査用回転ディスク(第2の回転円盤20)に受け渡され他の2面を撮像される。ここで、第1の検査用回転ディスク(第1の回転円盤10)では、ワークはその上面に載置されて移送されるが、第2の検査用回転ディスク(第2の回転円盤20)では、ワークはその側面に吸着保持され移送される。すなわち、第2の検査用回転ディスク(第2の回転円盤20)の側面に設けられた複数の吸引穴31によって、ワークは吸着され、この状態で回転して移送されることになる。
なお、本件出願人は、第1の回転インデクサと第2の回転インデクサは、縦型配置による連続回転方式により回転するもので、外周側面でワークを吸引するものについて特許を受けている(特許文献4)。また、上記ワークの外観検査装置を構成するワークの整列供給部として、無振動方式(回転フィーダ型)のワークの整列供給装置をすでに出願している(特願2005−220663)。
特開2002−113427号公報 特許第3511025号公報 特開2004−345859号公報 特許第3814278号公報
Patent Document 3 discloses a work alignment supply unit (part feeder 5) that linearly aligns and transfers the input workpieces, and a workpiece supplied from the work alignment supply unit (part feeder 5) with an imaging unit ( And a work inspection unit that picks up and sorts images by cameras C1 to C4). Further, the workpiece inspection unit includes imaging means (cameras C1, C2) for imaging two surfaces of the workpiece.
) In the proximity of the first inspection rotating disk (first rotating disk 10) and the imaging means (cameras C3 and C4) for imaging the other two surfaces of the workpiece in the proximity of the second inspection A rotating disk (second rotating disk 20) is included. The workpiece which has been transferred from the workpiece alignment supply unit (part feeder 5) to the first inspection rotating disk (first rotating disk 10) and imaged on two surfaces is further supplied to the second inspection rotating disk ( The image is transferred to the second rotating disk 20) and the other two surfaces are imaged. Here, in the first inspection rotating disk (first rotating disk 10), the work is placed and transferred on the upper surface, but in the second inspection rotating disk (second rotating disk 20). The work is sucked and held on its side surface and transferred. That is, the work is adsorbed by the plurality of suction holes 31 provided on the side surface of the second inspection rotating disk (second rotating disk 20), and is rotated and transferred in this state.
In addition, the present applicant has received a patent for the first rotating indexer and the second rotating indexer that rotate by a continuous rotation method using a vertical arrangement, and suck a workpiece on the outer peripheral side surface (Patent Literature). 4). Further, as a work alignment supply unit constituting the work visual inspection apparatus, a vibration-free (rotary feeder type) work alignment supply apparatus has already been filed (Japanese Patent Application No. 2005-220663).
JP 2002-113427 A Japanese Patent No. 3511025 JP 2004-345859 A Japanese Patent No. 3814278

しかしながら、上記特許文献1に係るワーク検査部(検査装置1)は、ワークを垂直姿勢(背縦方向)に回転させる第1及び第2の回転テーブルが設けられており、嵩高になる構造から、装置が大型化する問題がある。   However, the workpiece inspection unit (inspection apparatus 1) according to Patent Document 1 is provided with the first and second rotary tables that rotate the workpiece in a vertical posture (back-vertical direction). There is a problem that the apparatus becomes larger.

また、特許文献2では、ワークを水平方向に回転させる回転インデクサ(検査用回転ディスク)を有する。しかしながら、特許文献2では、回転インデクサの駆動手段がその上方に配されるもので、装置が嵩高になるのみならず、微小物体を上方から吸引する第2の吸引手段と連続する吸引溝が設けられて、吊り下げるように吸引するが、吸引が途切れる等の不慮の事態が発生すると、ワークは下方に落下してしまうという問題がある。特許文献3に係る第1の検査用回転ディスク(第1の回転円盤10)は、その上面にワークを載置して移送するが、第2の検査用回転ディスク(第2の回転円盤20)は、その側面にワークを吸着保持して移送するため、特許文献2と同様、吸引が途切れる等の不慮の事態が発生した場合の問題を有する。   Japanese Patent Application Laid-Open No. H10-228561 has a rotating indexer (inspection rotating disk) that rotates the workpiece in the horizontal direction. However, in Patent Document 2, the driving means of the rotary indexer is disposed above, so that not only the apparatus becomes bulky but also a suction groove continuous with the second suction means for sucking a minute object from above is provided. Although the suction is performed so as to be suspended, there is a problem that if an unexpected situation such as the suction being interrupted occurs, the workpiece falls downward. The first inspection rotating disk (first rotating disk 10) according to Patent Document 3 is transferred by placing a work on the upper surface thereof, but the second inspection rotating disk (second rotating disk 20). Since the work is attracted and held on the side surface and transferred, as in Patent Document 2, there is a problem in the case where an unexpected situation such as suction is interrupted.

また、特許文献1から3では、検査用回転ディスクがワークを吸引保持する間、操作者の操作位置の反対側に位置するワークは、操作者から見えなくなる。このため、ワーク搬送の異常が発生したような場合、その異常に素早く対応することができないという問題がある。   In Patent Documents 1 to 3, the work positioned on the opposite side of the operation position of the operator is invisible to the operator while the inspection rotating disk sucks and holds the work. For this reason, there is a problem that when an abnormality in the workpiece conveyance occurs, it is not possible to quickly cope with the abnormality.

さらに、特許文献2から4では、ワークを吊り下げるように吸引するか、又は、ワークを縦型配列の外周側面において吸引するが、これでは吸引手段による吸引力が大きなものが必要であるとともに、吸引用穴に連結させた吸引溝等を検査用回転ディスクに設けなければならない等の複雑な構造にならざるを得なかった。   Further, in Patent Documents 2 to 4, the workpiece is sucked so as to be suspended, or the workpiece is sucked on the outer peripheral side surface of the vertical arrangement, and this requires a large suction force by the suction means, A complicated structure such that a suction groove or the like connected to the suction hole has to be provided in the inspection rotating disk has to be provided.

そこで本発明の目的は、ワークを搬送する各種の回転ディスクとその駆動手段の安定姿勢が確保され、高速搬送に対応し得るようにするとともに、弱い吸引力でも確実にワークを吸引できる構造とし、しかも、ワークの移送路に搬送異常が生じても素早く対応可能なように、ワークの全搬送状態を観察しながら検査することができるワークの外観検査装置を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to ensure a stable posture of various rotating disks and their driving means for conveying a work, and to be able to cope with high-speed conveyance, and to have a structure capable of reliably sucking a work even with a weak suction force, In addition, an object of the present invention is to provide a workpiece appearance inspection apparatus capable of inspecting while observing the entire conveyance state of a workpiece so as to be able to respond quickly even if conveyance abnormality occurs in the workpiece transfer path.

本発明の請求項1記載のワークの外観検査装置は、投入されたワークを整列させて供給するワーク整列供給部と、整列供給部から供給されたワークを撮像手段により撮像するワーク検査部と、ワーク整列供給部とワーク検査部との間に配され整列状態のワークをワーク検査部に搬送する搬送ラインを備えたワークの外観検査装置において、上記搬送ラインに、搬送用回転ディスクが水平に配され、上記ワーク検査部に検査用回転ディスクが水平に配され、これらの回転ディスクは、駆動軸が上方に向けられた各駆動手段と連結されていることを特徴とする。ここで、本発明としては、前記投入されたワークを整列させるワーク整列供給部は、投入されたワークを回転させる投入用回転ディスクと、周方向にワークの移送路を形成して回転する整列用回転ディスクとから構成され、いずれの回転ディスクも水平に配され、駆動軸が上方に向けられた各駆動手段と連結されていることが好ましい(請求項2)。   A workpiece appearance inspection apparatus according to claim 1 of the present invention includes a workpiece alignment supply unit that aligns and supplies an input workpiece, a workpiece inspection unit that images the workpiece supplied from the alignment supply unit by an imaging unit, In a workpiece visual inspection apparatus that is arranged between a workpiece alignment supply unit and a workpiece inspection unit and transports an aligned workpiece to the workpiece inspection unit, a rotary disk for conveyance is horizontally arranged on the conveyance line. An inspection rotating disk is horizontally arranged in the work inspection section, and these rotating disks are connected to each driving means whose drive shaft is directed upward. Here, according to the present invention, the workpiece alignment supply unit for aligning the charged workpieces includes a rotating rotary disk for rotating the loaded workpieces, and an alignment for rotating by forming a workpiece transfer path in the circumferential direction. Preferably, each rotating disk is arranged horizontally, and is connected to each driving means whose drive shaft is directed upward (Claim 2).

本発明によれば、ワークの整列供給部から搬送ラインに移行したワークは、搬送用回転ディスクの上面に載せられて搬送された後、検査用回転ディスクの上面に沿って搬送されて、所定位置で撮像手段により撮像される。そして、ワーク整列供給部を含めていずれの回転ディスクも水平に配され、駆動軸が上方に向けられた駆動手段と連結されていることから、各種の回転ディスとその駆動手段の安定姿勢が確保され、高速搬送に対応し得るようになるとともに、いずれも水平な回転ディスクにより構成されているので、ワークの全搬送状態を観察しながら検査することができる。   According to the present invention, the workpiece transferred from the alignment supply unit of the workpiece to the conveyance line is placed on the upper surface of the conveyance rotary disk and conveyed, and then conveyed along the upper surface of the inspection rotary disk to be in a predetermined position. The image is picked up by the image pickup means. Since all rotating disks including the work alignment supply unit are arranged horizontally and the driving shaft is connected to the driving means directed upward, various rotating disks and stable postures of the driving means are ensured. In addition to being able to cope with high-speed conveyance, both are constituted by horizontal rotating disks, so that inspection can be performed while observing the entire conveyance state of the workpiece.

本発明の請求項3は、前記検査用回転ディスクは、透明なガラス製であり、その上面で搬送されるワークを下面から撮像する撮像手段が検査用回転ディスクの所定箇所に配されていることを特徴とする。   According to a third aspect of the present invention, the inspection rotating disk is made of transparent glass, and image pickup means for picking up an image of a work conveyed on the upper surface from the lower surface is arranged at a predetermined position of the inspection rotating disk. It is characterized by.

本発明によれば、透明なガラス製の検査用回転ディスクにより、その上面で搬送されるワークを下面から撮像手段により撮像することが可能になる。   According to the present invention, it is possible to pick up an image of the work conveyed on the upper surface by the image pickup means from the lower surface with the transparent inspection rotating disk made of glass.

本発明の請求項4は、前記検査用回転ディスクの上面に、吸引穴が形成され、その下方側に配され所定長の吸引用スリットが形成されたサクションリングを介して吸引手段によりワークを吸引することを特徴とする。   According to a fourth aspect of the present invention, a workpiece is sucked by a suction means through a suction ring in which a suction hole is formed on the upper surface of the inspection rotating disk and a suction slit having a predetermined length is formed below the suction hole. It is characterized by doing.

本発明によれば、搬送ラインから検査用回転ディスクに移行したワークは、検査用回転ディスクの上面に載せられると、その上面の吸引穴からの吸引力によりワークが吸着されて搬送される。ワークは、搬送用ディスクの上面に載せられた状態で吸引穴から吸引されることにより、弱い吸引力でも確実にワークを吸引保持して、ワークを搬送する。   According to the present invention, when the workpiece transferred from the conveyance line to the inspection rotating disk is placed on the upper surface of the inspection rotating disk, the workpiece is sucked and conveyed by the suction force from the suction hole on the upper surface. The workpiece is sucked from the suction hole while being placed on the upper surface of the transport disk, so that the workpiece is reliably sucked and held even with a weak suction force, and the workpiece is transported.

本発明の請求項5は、前記検査用回転ディスクの上面は、前記搬送用回転ディスクの上面よりも下方に配され、検査用回転ディスクの外周端側と前記搬送用回転ディスクの外周端側とが一部重なるように配されていることを特徴とする。   According to a fifth aspect of the present invention, the upper surface of the inspection rotating disk is disposed below the upper surface of the conveying rotating disk, and the outer peripheral end side of the inspection rotating disk and the outer peripheral end side of the conveying rotating disk are Are arranged so as to partially overlap.

本発明によれば、ワークが搬送用回転ディスクから検査用回転ディスクに乗り移る際に、その段差と、そのときの時間差により、ワークが連結状態であっても間隔が空けられて搬送されることになる。また、検査用回転ディスクの外周端側は、前記搬送用回転ディスクの外周端側とが一部重なるように配されていることから、その分搬送距離を短くできるとともに、ワークの外観検査装置の大型化を抑制する構成になる。   According to the present invention, when the workpiece is transferred from the conveying rotating disk to the inspection rotating disk, the workpiece is conveyed with an interval even if the workpiece is in a connected state due to the step and the time difference at that time. Become. Further, since the outer peripheral end side of the inspection rotating disk is arranged so as to partially overlap the outer peripheral end side of the conveying rotating disk, the conveying distance can be shortened by that amount, and the work appearance inspection apparatus It becomes the structure which suppresses enlargement.

本発明の請求項6は、上記検査用回転ディスクは、上記搬送用回転ディスクと面一となるように近接配置されるとともに、搬送用回転ディスクから検査用回転ディスクに亘ってワークが案内されるガイドが配されていることを特徴とする。   According to a sixth aspect of the present invention, the inspection rotating disk is disposed close to the conveying rotating disk so that the work is guided from the conveying rotating disk to the inspection rotating disk. A guide is arranged.

本発明によれば、ワークが搬送用回転ディスクから検査用回転ディスクに乗り移る際に、上記段差がないので、ガイドに沿って搬送用回転ディスクから検査用回転ディスクへとワークを傾斜させずに乗り移らせることができる。なお、搬送用回転ディスクよりも検査用回転ディスクの回転速度を早くすることにより、搬送ラインで連結された状態のワークであっても間隔が空けられて搬送されることになる。   According to the present invention, since there is no step when the workpiece is transferred from the conveying rotary disk to the inspection rotating disk, the workpiece is moved along the guide from the conveying rotary disk to the inspection rotating disk without being inclined. Can be moved. It should be noted that by increasing the rotation speed of the inspection rotating disk compared to the conveying rotating disk, even workpieces connected in a conveying line are conveyed with an interval.

本発明の請求項7は、前記検査用回転ディスクに、送風手段からの圧縮空気が供給される送風通路が形成されていることを特徴とする。   A seventh aspect of the present invention is characterized in that a blowing passage through which compressed air from the blowing means is supplied is formed in the inspection rotating disk.

本発明によれば、ワークが所定位置の撮像手段により撮像された後、その外観検査の結果が制御手段により判断されるが、良品と不良品等に判断されたものを送風通路に圧縮空気が供給されることにより外部のシュート等に排出される。   According to the present invention, after the work is imaged by the imaging means at a predetermined position, the result of the appearance inspection is judged by the control means. By being supplied, it is discharged to an external chute or the like.

本発明のワークの整列供給装置によれば、各種の回転ディスクを水平に配して、駆動軸が上方に向けられた各駆動手段と連結されていることから、各種の回転ディスクも駆動手段も安定した状態で配置できるとともに、回転ディスクを無理なく安定した状態で駆動させることができる。したがって、各種の回転ディスクの高速回転化に対応できるとともに、装置の小型化にも対応可能になる。また、ワークの整列供給部から搬送ラインを経由して検査部に移行したワークは、その検査用ディスクの上面に載せられて搬送されることから、ワークは安定した姿勢で搬送されるとともに、上方側に障害物を配さなければ、操作者等が観察するときにも、ワークの搬送状態を上方から観察しながら検査することができ、ワーク搬送の異常などに素早く対応が可能になる。また、ワークは、検査用回転ディスクの上面に載せられた状態で吸引穴により吸引されることにより、弱い吸引力でも確実にワークを吸引保持できる構造となる。   According to the work aligning and supplying apparatus of the present invention, various rotary disks are horizontally arranged and connected to each drive means whose drive shaft is directed upward. While being able to arrange in a stable state, the rotating disk can be driven in a stable state without difficulty. Therefore, it is possible to cope with high-speed rotation of various types of rotating disks and also to reduce the size of the apparatus. In addition, since the workpiece transferred from the alignment supply unit to the inspection unit via the conveyance line is placed on the upper surface of the inspection disk and conveyed, the workpiece is conveyed in a stable posture and If no obstacle is arranged on the side, even when an operator or the like observes, the inspection can be performed while observing the state of conveyance of the workpiece from above, and it becomes possible to quickly cope with abnormalities in workpiece conveyance. Further, the workpiece is sucked by the suction hole while being placed on the upper surface of the inspection rotating disk, so that the workpiece can be reliably sucked and held even with a weak suction force.

以下に、本発明を実施するための最良の形態を図面を引用しながら説明する。
(第1の実施の形態)
本実施の形態は、電子素子や電子回路等のチップ部品等のワークAを撮像手段により検査するワークの外観検査装置Iである。図1は、本実施の形態であるワークの検査装置Iの内部構造を示した斜視図である。図2は、ワーク整列供給部の内部構造を示す断面図である。図3(a)(b)は、ワーク整列供給部のスライド構造を示す平面図である。ワークの検査装置Iは、投入されたワークAを直線的に整列させ搬送するワーク整列供給部1と、ワーク整列供給部1から供給されたワークAを多角的に撮像して、これらの品質を検査して選別するワーク検査部21等から構成され、これらが下部にキャスタCaを有する筐体Daの上方に配置されている(図9)。符号Hpは、ワーク整列供給部1にワークAを供給するホッパである。符号Dlは、モニター画面(液晶ディスプレイ)であり、筐体Daの角部を切り欠いた箇所に配置されている。ここで、図7は、搬送されるワークAの種類を説明する図であり、図7(a)のような直方体形状のワークAや、これよりも薄い平板状のワークAもあり(図7(b))、図7(a)のような直方体形状のワークAの場合は、その6面を撮像し、図7(b)に示すワークAの場合は、その上面(J面)と下面(K面)のみ撮像手段F1,F5によって撮像するものとする。
The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings.
(First embodiment)
The present embodiment is a workpiece appearance inspection apparatus I that inspects a workpiece A such as a chip component such as an electronic element or an electronic circuit by an imaging means. FIG. 1 is a perspective view showing an internal structure of a workpiece inspection apparatus I according to the present embodiment. FIG. 2 is a cross-sectional view showing the internal structure of the workpiece alignment supply unit. FIGS. 3A and 3B are plan views showing a slide structure of the workpiece alignment supply unit. The workpiece inspection apparatus I linearly aligns and feeds the loaded workpiece A and picks up the workpiece A supplied from the workpiece alignment supply unit 1 from various angles, and determines the quality of these workpieces. The work inspection unit 21 and the like that are inspected and selected are arranged above a housing Da having casters Ca at the bottom (FIG. 9). Reference numeral Hp denotes a hopper that supplies the workpiece A to the workpiece alignment supply unit 1. Reference symbol Dl denotes a monitor screen (liquid crystal display), which is disposed at a location where a corner portion of the housing Da is notched. Here, FIG. 7 is a diagram for explaining the type of the workpiece A to be conveyed, and there are a rectangular parallelepiped workpiece A as shown in FIG. 7A and a flat plate-like workpiece A thinner than this (FIG. 7). (B)) In the case of a rectangular parallelepiped workpiece A as shown in FIG. 7 (a), its six surfaces are imaged. In the case of the workpiece A shown in FIG. 7 (b), its upper surface (J surface) and lower surface. It is assumed that only the (K plane) is imaged by the imaging means F1 and F5.

上記ワーク整列供給部1は、ワークAが投入される投入用回転ディスク2と、周方向にワークAの移送路3aを形成する整列用回転ディスク3と、ワークAを投入用回転ディスク2から整列用回転ディスク3へと受け渡す受け渡し用回転ディスク5と、投入用回転ディスク2と整列用回転ディスク3の外周側に配される長方形状の基台Bと、整列壁7,8を有するスライド部材S1,S2と、ワークAをワーク検査部21に供給するために搬出する搬出ライン6とを主な構成部材としている(図3、図4)。排出ライン6には、上記整列壁8と対峙する排出側の直線状の整列壁9が配されるとともに、ワークAの搬送手段である搬送用回転ディスクD1…D3が配されている。   The workpiece alignment supply unit 1 aligns the loading rotary disk 2 into which the workpiece A is loaded, the alignment rotating disk 3 that forms the transfer path 3a of the workpiece A in the circumferential direction, and the workpiece A from the loading rotary disk 2. The rotating member 5 for delivery to the rotating disk 3 for transfer, the rectangular base B disposed on the outer peripheral side of the rotating disk 2 for loading and the rotating disk 3 for alignment, and a slide member having alignment walls 7 and 8 S1 and S2 and an unloading line 6 for unloading the workpiece A to supply the workpiece inspection unit 21 are main constituent members (FIGS. 3 and 4). The discharge line 6 is provided with a linear alignment wall 9 on the discharge side facing the alignment wall 8, and rotating rotary disks D <b> 1 to D <b> 3 as conveying means for the workpiece A.

また、上記ワーク検査部21は、周方向にワークAの移送路22aを形成し、排出ライン6から移送されたワークAを受け取り、これを回転搬送する検査用回転ディスク22を有する。また、この検査用回転ディスク22の近傍には、ワークAが移送路上の所定の位置にある際に、良品かどうかの品質チェックを行う撮像手段F1,F2等が配置されている。   The work inspection unit 21 includes a rotation path 22 for inspection that forms a transfer path 22a for the work A in the circumferential direction, receives the work A transferred from the discharge line 6, and rotates and conveys the work A. Further, in the vicinity of the inspection rotating disk 22, there are arranged imaging means F1, F2, and the like for checking the quality of whether or not the workpiece A is a non-defective product when the workpiece A is at a predetermined position on the transfer path.

投入用回転ディスク2は、ワークAが所定量投入されるものであり、水平な皿型、つまり凹状の内周面2cを有するものとして形成されている(図2)。投入用回転ディスク2の中央には、中央壁2tが形成されて、底部2aから内周面2cまでの断面がドーナツ型の溝のように形成されている。すなわち、底部2aから外側上端部P1まで緩やかな曲率の内周面2cを形成している。この投入用回転ディスク2は、その中心に駆動シャフトL1を有し、この駆動シャフトL1に連結された駆動モータM1によって回転駆動する。なお、後述する整列壁7,8の円弧状の径a1・a2を調節するときの径の中心Gは、上記駆動シャフトL1の位置と一致する。   The loading rotary disk 2 is for loading a predetermined amount of workpiece A and is formed as a horizontal dish, that is, having a concave inner peripheral surface 2c (FIG. 2). A central wall 2t is formed at the center of the loading rotary disk 2, and a cross section from the bottom 2a to the inner peripheral surface 2c is formed like a donut-shaped groove. That is, the inner peripheral surface 2c having a gentle curvature is formed from the bottom 2a to the outer upper end P1. The throwing rotary disk 2 has a drive shaft L1 at the center thereof, and is driven to rotate by a drive motor M1 connected to the drive shaft L1. The center G of the diameter when adjusting the arc-shaped diameters a1 and a2 of the alignment walls 7 and 8, which will be described later, coincides with the position of the drive shaft L1.

整列用回転ディスク3は、ワークAを整列させるものであり、水平な皿型、つまり凹状の周壁3cを有するものとして形成されている。凹状の周壁3cの上面には、ワークAを整列させながら搬送する移送路3aが形成されている。移送路3aは、その幅間隔Hが除々に狭められ、狭められた最終位置での幅間隔H3が搬送するワークAの幅間隔hと一致するように設定されている(図3(a))。すなわち、移送路3aの幅間隔H3を調整することにより、移送路3aの幅間隔H3に載るものだけを整列搬送するものであり、移送路3aの幅間隔H3の調整は、整列壁7,8を有するスライド部材S1,S2のスライド動作によって行われる。整列用回転ディスク3も投入用回転ディスク2と同様水平型のものであり、これら投入用回転ディスク2と整列用回転ディスク3は、基台Bのほぼ中央に設けられた溝Baに嵌るように配置され、整列用回転ディスク3の中に投入用回転ディスク2が収められている。   The rotating disk 3 for alignment is for aligning the workpieces A, and is formed as a horizontal dish, that is, having a concave peripheral wall 3c. On the upper surface of the concave peripheral wall 3c, a transfer path 3a for conveying the work A while aligning it is formed. In the transfer path 3a, the width interval H is gradually narrowed, and the width interval H3 at the narrowed final position is set to coincide with the width interval h of the workpiece A to be conveyed (FIG. 3A). . That is, by adjusting the width interval H3 of the transfer path 3a, only those that are placed on the width interval H3 of the transfer path 3a are aligned and conveyed. It is carried out by the sliding operation of the sliding members S1, S2 having The alignment rotary disk 3 is also of a horizontal type like the input rotary disk 2, and the input rotary disk 2 and the alignment rotary disk 3 are fitted in a groove Ba provided substantially at the center of the base B. The input rotary disk 2 is housed in the aligned rotary disk 3.

この整列用回転ディスク3は、駆動シャフトL1と同じ位置で回転する軸受けL2が連結され、この軸受けL2と、駆動モータM2により回転するプーリPaとの間に、無端ベルトV2が掛け渡され、駆動モータM2によって回転駆動する。つまり、後述する整列壁7,8の円弧状の径a1・a2を調節するときの径の中心Gと上記軸受けL2の中心が一致する。   The rotating disk 3 for alignment is connected to a bearing L2 that rotates at the same position as the drive shaft L1, and an endless belt V2 is stretched between the bearing L2 and a pulley Pa that is rotated by a drive motor M2. The motor M2 is rotationally driven. That is, the center G of the diameter when adjusting the arcuate diameters a1 and a2 of the alignment walls 7 and 8 described later coincides with the center of the bearing L2.

投入用回転ディスク2の凹状の内周面2cの外側上端部P1と整列用回転ディスク3の凹状の周壁3cの内側上端部P2が近接配置されて、投入用回転ディスク2に投入されたワークAに整列用回転ディスク3の凹状の周壁3cが接触しないように配置されている。投入用回転ディスク2の内周面2cと整列用回転ディスク3の周壁3cとは、僅かの隙間を介して、互いの上記上端部P1,P2が同じ位置に来るように設けられている。ここで、この上記上端部P1,P2の位置を渡るようにワークAが引き上げられ、この渡る位置を後述する交差点Tと呼ぶ。なお、投入用回転ディスク2と整列用回転ディスク3との間の隙間からは、この隙間に塵埃が入らないように所定量の空気を噴出させている。   The workpiece A loaded into the loading rotary disk 2 is disposed close to the outer upper end P1 of the concave inner peripheral surface 2c of the loading rotary disk 2 and the inner upper end P2 of the concave peripheral wall 3c of the alignment rotating disk 3. Are arranged so that the concave peripheral wall 3c of the rotating disk 3 for alignment does not come into contact. The inner peripheral surface 2c of the loading rotary disk 2 and the peripheral wall 3c of the alignment rotary disk 3 are provided such that the upper ends P1 and P2 thereof are at the same position with a slight gap. Here, the workpiece A is pulled up so as to cross the positions of the upper end portions P1 and P2, and the crossing position is referred to as an intersection T described later. A predetermined amount of air is ejected from the gap between the input rotary disk 2 and the alignment rotary disk 3 so that dust does not enter the gap.

受け渡し用回転ディスク5は、ワークAを投入用回転ディスク2から整列用回転ディスク3へと受け渡すものであり、水平な投入用回転ディスク2に対して斜めに配されている。受け渡し用回転ディスク5は、その中心部5cと連結されるアーム(図示せず)を有しており、上記ドーナツ型の溝に対して斜め、つまり投入用回転ディスク2の片側の底部2aから内周面2cにかけて斜めに摺接するように配される。すなわち、投入用回転ディスク2の底部2aから外側上端部P1まで緩やかな曲率として形成される内周面2cに、受け渡し用回転ディスク5の外周端が摺接しながら、ワークAを上記底部2aから除々に凹状の内周面2cに沿うようにして引き上げる構造である。受け渡し用回転ディスク5は、投入用回転ディスク2の径の半分以下の大きさの径を有し、投入用回転ディスク2に投入されたワークAをその外周端に載せるとともに、自身の回転により外周端に載せたワークAを整列用回転ディスクの移送路3aと交差する交差点Tの位置で移送路3aに移載させる。   The transfer rotary disk 5 is for transferring the workpiece A from the input rotary disk 2 to the aligning rotary disk 3, and is disposed obliquely with respect to the horizontal input rotary disk 2. The delivery rotating disk 5 has an arm (not shown) connected to the central portion 5c, and is inclined with respect to the donut-shaped groove, that is, from the bottom 2a on one side of the loading rotating disk 2. It arrange | positions so that it may slidably contact over the surrounding surface 2c. That is, the workpiece A is gradually removed from the bottom portion 2a while the outer peripheral end of the transfer rotating disc 5 is in sliding contact with the inner peripheral surface 2c formed as a gentle curvature from the bottom portion 2a of the loading rotary disc 2 to the outer upper end portion P1. It is the structure pulled up so that it may follow along the concave inner peripheral surface 2c. The transfer rotary disk 5 has a diameter that is less than half the diameter of the input rotary disk 2 and places the workpiece A that has been input to the input rotary disk 2 on its outer peripheral edge, The workpiece A placed on the end is transferred to the transfer path 3a at the position of the intersection T intersecting the transfer path 3a of the rotating disk for alignment.

受け渡し用回転ディスク5が投入用回転ディスク2の底部2aに摺接する角度は、25度程度の緩やかな傾斜角度である。本実施の形態では、投入用回転ディスク2の緩やかな曲率の底部2aから内周面2cに接するようにするためであるが、更に、投入用回転ディスク2が水平でその底が浅いものが使用されていること、上記緩やかな傾斜角度でワークAを受け渡し用回転ディスク5上で滑り落とすような事態を抑制すること、多すぎるワークAを落とすときに傾斜角度の緩やかなほうが好ましいからである。また、受け渡し用回転ディスク5には、ワークAを貫通させることができる貫通穴5aが4つ形成され、投入用回転ディスク2に投入されたワークAが積み重ねられたような場合に、上記貫通穴5aから余分なワークAを投入用回転ディスク2の凹状の底部2aに戻すようになっている。   The angle at which the transfer rotating disk 5 is in sliding contact with the bottom 2a of the loading rotating disk 2 is a gentle inclination angle of about 25 degrees. In the present embodiment, it is to make contact with the inner peripheral surface 2c from the bottom 2a of the gentle curvature of the input rotary disk 2, but further, the input rotary disk 2 is horizontal and has a shallow bottom. This is because the situation in which the workpiece A slides on the transfer rotary disk 5 at a gentle inclination angle is suppressed, and when the workpiece A is dropped too much, a gentle inclination angle is preferable. Further, in the transfer rotating disk 5, four through holes 5 a through which the work A can be passed are formed, and when the work A thrown into the throwing rotary disk 2 is stacked, the through hole is formed. The extra work A is returned to the concave bottom 2a of the loading rotary disk 2 from 5a.

整列用回転ディスク3の移送路3aは、凹状の周壁3cの上面3aの周方向に形成され、この移送路3aの幅間隔Hは、整列壁7,8により徐々に狭めながら移送される(H3<H2<H1)。整列壁7,8の一方の第1の整列壁7は、直線状の整列壁7yと第1の円弧状の整列壁a1で形成され、他方の第2の整列壁8は、第2の円弧状の整列壁a2と直線状の整列壁8yから構成され、上記第1の円弧状の整列壁a1と第2の円弧状の整列壁a2との組み合わせにより所定長の円弧状の整列壁a1・a2が構成されている。つまり、整列用回転ディスク3により、上記交差点Tで整列用回転ディスク3の移送路3a上に引き上げられたワークAは、約180度の円弧状の移送路3aを回転搬送して直線状の搬出ライン6へと供給されるものであり、引き上げられる位置は、上記一方の第1の整列壁7の直線状の整列壁7yの位置であり、この位置から約180度の円弧状の移送路3aを搬送され、他方の第2の整列壁8の直線状の整列壁8yと直線状の整列壁9の間(搬出ライン6)へと移送される。   The transfer path 3a of the rotating disk 3 for alignment is formed in the circumferential direction of the upper surface 3a of the concave peripheral wall 3c, and the width interval H of the transfer path 3a is transferred while being gradually narrowed by the alignment walls 7 and 8 (H3 <H2 <H1). One of the alignment walls 7 and 8 is formed of a straight alignment wall 7y and a first arc-shaped alignment wall a1, and the other second alignment wall 8 is a second circle. An arcuate alignment wall a2 and a linear alignment wall 8y are formed. The combination of the first arcuate alignment wall a1 and the second arcuate alignment wall a2 has a predetermined arcuate alignment wall a1. a2 is configured. That is, the work A, which has been pulled up by the alignment rotary disk 3 onto the transfer path 3a of the alignment rotary disk 3 at the intersection T, rotates and conveys the arc-shaped transfer path 3a of about 180 degrees to carry out a straight line. The position to be supplied to the line 6 and pulled up is the position of the linear alignment wall 7y of the one first alignment wall 7, and the arc-shaped transfer path 3a of about 180 degrees from this position. And is transferred between the linear alignment wall 8y of the other second alignment wall 8 and the linear alignment wall 9 (unloading line 6).

第1と第2の円弧状の整列壁a1・a2の所定の円弧形状の変更は、第2のスライド部材S2により、Y方向に対してスライド可能となっている。第2の円弧状の整列壁a2は、第2のスライド部材S2により、X方向に対してスライドすることが可能となっている。第1と第2の整列壁7,8は、スライド部材S1,S2に設けられてスライド動作し、ほぼ180度の整列壁a1,a2が形成されている。スライド部材S1,S2は、基台Bの上に配置されて基台Bの縦方向(図中Y方向)にスライドさせる第1のスライド部材S1と、第1のスライド部材S1の上に配置されて基台Bの横方向(図中X方向)にスライドさせる第2のスライド部材S2とからなり、第1のスライド部材S1には、上記第1の円弧状の整列壁a1を有し、第2のスライド部材S2には、上記第2の円弧状の整列壁a2を有する。より具体的には、ワークAは移送路3a上を約180度分回転搬送して直線状の搬出ライン6へと供給され、つまり上記交差点Tから最初の約90度分の円弧の移送路a1を形成するのが第1の円弧状の整列壁a1であり、次の約90度分の円弧の移送路a2を形成するのが第2の整列壁8の第2の円弧状の整列壁a2である(図3(a)、(b))。第1の円弧状の整列壁a1と第2の円弧状の整列壁a2とを組み合わせると、その円弧の形成の仕方によっては、円弧の形状a1・a2をより大きくしたり、円弧の形状a1・a2そのものを変更したりすることが可能である。第1の整列壁7と第2の整列壁8とは、上記X方向と平行な面を有するスライド面7a,8aで互いにスライド可能に連結されている。つまり図3(a)中の符号Sの位置で連結され、この位置Sで第1の整列壁7と第2の整列壁8とがその円弧状の整列壁a1,a2の形状を変更することができる。   The change of the predetermined arc shape of the first and second arc-shaped alignment walls a1 and a2 can be slid in the Y direction by the second slide member S2. The second arcuate alignment wall a2 can be slid in the X direction by the second slide member S2. The first and second alignment walls 7 and 8 are provided on the slide members S1 and S2 and slide to form approximately 180-degree alignment walls a1 and a2. The slide members S1 and S2 are disposed on the base B and are disposed on the first slide member S1 that is slid in the vertical direction (Y direction in the drawing) of the base B and the first slide member S1. The second slide member S2 is slid in the lateral direction (X direction in the figure) of the base B, and the first slide member S1 has the first arc-shaped alignment wall a1 and is The second slide member S2 has the second arcuate alignment wall a2. More specifically, the work A is rotated and conveyed by about 180 degrees on the transfer path 3a and supplied to the linear unloading line 6, that is, the first circular transfer path a1 of about 90 degrees from the intersection T. Is formed by the first arcuate alignment wall a1, and the second arcuate transfer wall a2 of the second alignment wall 8 forms the next arc transfer path a2 of about 90 degrees. (FIGS. 3A and 3B). When the first arc-shaped alignment wall a1 and the second arc-shaped alignment wall a2 are combined, depending on how the arc is formed, the arc shape a1 and a2 can be made larger, or the arc shape a1 It is possible to change a2 itself. The first alignment wall 7 and the second alignment wall 8 are connected to each other by slide surfaces 7a and 8a having surfaces parallel to the X direction. That is, the first alignment wall 7 and the second alignment wall 8 are connected to each other at the position S in FIG. 3A, and the shapes of the arc-shaped alignment walls a1 and a2 are changed. Can do.

スライド部材S1,S2は、調整ねじSn1,Sn2とキー溝Sx,Syにより基台Bの縦横(基台BのY方向とX方向)にスライド可能である。スライド部材S1は、上記Y方向に向かって切り欠かれたキー溝Syが平行に形成され、他方、基台Bにはキー溝Syに嵌合するキーkkが設けられている。そして、上記Y方向のねじ調整を行う調節ねじSn1が配される切り欠きSKが形成され、この切欠部SKに位置する基台Bにねじ受けB1が配され、その位置の第1のスライド部材S1にもねじ受けB2が配置され、これらのねじ受けB1とB2の間に調節ねじSn1が配されている。スライド部材S2は、上記X方向に向かって切り欠かれたキー溝Sxが平行に形成され、第1のスライド部材S1にはこのキー溝Sxに嵌合するキーkkが設けられている。そして、上記X方向のねじ調整を行う調節ねじSn2が配される切り欠きSKが形成され、この切欠部SKにねじ受けB3とねじ受けB4が配置され、これらのねじ受けB3とB4の間に調節ねじSn2が配されている。   The slide members S1 and S2 can be slid in the vertical and horizontal directions (Y direction and X direction of the base B) by the adjusting screws Sn1 and Sn2 and the key grooves Sx and Sy. In the slide member S1, a key groove Sy cut out in the Y direction is formed in parallel. On the other hand, the base B is provided with a key kk that fits into the key groove Sy. Then, a notch SK in which the adjusting screw Sn1 for adjusting the screw in the Y direction is arranged is formed, and a screw receiver B1 is arranged on the base B located in the notch SK, and the first slide member at that position. A screw receiver B2 is also arranged in S1, and an adjusting screw Sn1 is arranged between these screw receivers B1 and B2. In the slide member S2, a key groove Sx cut out in the X direction is formed in parallel, and the first slide member S1 is provided with a key kk that fits in the key groove Sx. A notch SK in which the adjusting screw Sn2 for adjusting the screw in the X direction is arranged, and a screw receiver B3 and a screw receiver B4 are arranged in the notch SK, and between these screw receivers B3 and B4. An adjusting screw Sn2 is arranged.

第1及び第2の円弧状の整列壁a1,a2をY方向にスライドさせる際は、上記調整ねじSn1を回してスライド部材S1をスライドさせると、第1及び第2の円弧状の整列壁a1とa2が同時にスライド動作する(図3(a))。一方、第2の円弧状の整列壁a2をX方向にスライドさせる際は、上記調整ねじSn2を回すと、スライド部材S2がスライドし、第2の円弧状の整列壁a2をスライドさせることが可能となる(図3(b))。これにより、ワークAのサイズあるいは整列させる向きに合わせて、整列用回転ディスク3の移送路3aの幅間隔H等を調整することが可能となる。   When the first and second arcuate alignment walls a1 and a2 are slid in the Y direction, the first and second arcuate alignment walls a1 are rotated by turning the adjusting screw Sn1 and sliding the slide member S1. And a2 slide simultaneously (FIG. 3A). On the other hand, when the second arcuate alignment wall a2 is slid in the X direction, when the adjusting screw Sn2 is turned, the slide member S2 slides and the second arcuate alignment wall a2 can be slid. (FIG. 3B). Thereby, the width interval H of the transfer path 3a of the rotating disk 3 for alignment can be adjusted in accordance with the size of the work A or the direction of alignment.

移送路3aには、選別板16やエアーノズル17が設けられている(図5,図6)。選別板16は、ワークAの高さを規制するもので(符号A1は積み重ねられたワークを示す)、つまり、ワークAが移送路3aに多段積み状態で移送されたり、上記長方形状の電子素子(チップ部品)Cの上記Q面やN面を底面として移送されてきた場合に(上記Q面やN面を移送路3aに接触して移送)、これらを通過させず、上記投入用回転ディスク2の底部2aに落下させる役割を果たす。このような整列板16は、複数個配置させることは実施に応じ任意である。   In the transfer path 3a, a sorting plate 16 and an air nozzle 17 are provided (FIGS. 5 and 6). The sorting plate 16 regulates the height of the workpiece A (reference numeral A1 indicates a stacked workpiece), that is, the workpiece A is transferred to the transfer path 3a in a multi-stacked state, or the rectangular electronic element. (Chip part) When the Q surface or N surface of C is transferred with the bottom surface as the bottom surface (the Q surface or N surface is transferred in contact with the transfer path 3a), these do not pass through, but the loading rotary disk 2 plays a role of dropping to the bottom 2a. Arranging a plurality of such alignment plates 16 is optional depending on the implementation.

エアーノズル17は、移送路3a上を横断して、投入用回転ディスク2側にせり出すように設置され、移送路3aから投入用回転ディスク2側にはみ出した状態のワークAや、向きの異なるワークAを投入用回転ディスク2の底部2aに吹き落とすもので(符号A2はワークAの長手方向が移送路3aにせり出した例である)、複数個配置されている。例えば、上記長方形状のワークAがその長手方向を移送路3aの幅間隔H3として移送されてきたような場合に、移送路3aに対してワークAのはみ出した部分にエアーを当てて投入用回転ディスク2の底部2aに吹き落とす。また、図示しないが、ワークAの表裏面の判別や外周に施された記号(製品記号)等を読み取るセンサー等を取り付け、このセンサーに呼応してエアーを噴出して、所定のワークのみを通過させ、それ以外は投入用回転ディスク2の底部2aに落下するようにしてもよい。ここで、整列壁8と移送路3aとの水平な境界面間隙から負圧でエアー吸引することにより、ワークAが整列壁a2に確実に接触して判別精度が高まるとともに、確実に直線状の搬出ライン6へと送られる。   The air nozzle 17 is installed so as to cross the transfer path 3a and protrude to the loading rotary disk 2 side, and the work A in a state of protruding from the transfer path 3a to the loading rotary disk 2 side, or a workpiece of different orientation A is blown off to the bottom 2a of the loading rotary disk 2 (reference A2 is an example in which the longitudinal direction of the workpiece A protrudes to the transfer path 3a), and a plurality of A are disposed. For example, when the above-mentioned rectangular workpiece A is transferred with the longitudinal direction of the workpiece A as the width interval H3 of the transfer path 3a, rotation is performed by applying air to the protruding part of the workpiece A with respect to the transfer path 3a. Blow off the bottom 2a of the disk 2. Although not shown, a sensor that reads the front and back surfaces of the workpiece A and reads the symbols (product symbols) on the outer periphery is attached, and air is blown in response to this sensor to pass only the specified workpiece. Otherwise, it may be dropped on the bottom 2a of the loading rotary disk 2. Here, air suction is performed with a negative pressure from the horizontal boundary surface gap between the alignment wall 8 and the transfer path 3a, so that the workpiece A reliably comes into contact with the alignment wall a2 and the discrimination accuracy is increased. It is sent to the carry-out line 6.

搬出ライン6側では、直線状の整列壁9と第2の整列壁8の直線状の整列壁8yとによりワークAの搬出ライン6が形成されるとともに、この搬出ライン6にワークAを搬送する搬送用回転ディスクD1,D2,D3が設置されている(図1、図4、図8)。搬送用回転ディスクD1,D2,D3は、上記移送路3aと面一となる回転面(上面)を有し、その上面で搬出ライン6内のワークAをワーク検査部21へと導く。詳しくは、排出ライン6の底部にベース部材が配置され、このベース部材に送用回転ディスクD1,D2,D3が埋設され、ベース部材の上面と埋設された搬送用回転ディスクD1,D2,D3の上面と上記移送路3aの面とが面一になっている。このため、移送路3aから移送されてきたワークAの搬送面を同じにして、次のワーク検査部21に搬出するための排出口6zへと搬出する。ここで、搬送用回転ディスクD1,D2,D3での回転速度を任意に変更することも可能である。複数の搬送用回転ディスクD1,D2,D3は、第2の円弧状の整列壁a2に沿って移送されるワークAの移送方向Q1と同一方向の2直線Q2,Q3上に、その回転の中心が位置するように、かつ、直線Q2上に中心を有する各搬送用回転ディスクD2と、直線Q3上に中心を有する各搬送用回転ディスクD1,D3とが互いに接するように配される。つまり千鳥配置のように配されるが、隣接する互いの搬送用回転ディスクD1,D2,D3は摺接して、これによりワークAを搬出ライン6に搬送する際、間隔を近付けたり、連結状態になっても互いの間隔が密着しないようにできる。ここで、本実施の形態の搬出ライン6は直線状であるが、搬送用回転ディスクD1,D2,D3が配置される構造は、搬出ライン6が曲折する場合にも、その曲折する箇所に配置される各搬送用回転ディスクD1,D2,D3によって確実に安定して搬送することとなる。なお、搬送用回転ディスクの径の大きさや、配する枚数については、ワークAの形状等の条件を考慮して決定すればよく、例えば図17に示すように配列することも可能である。また、搬送用回転ディスクのみで安定してワークAを搬送できる場合は、ベース部材を設けず、排出ラインの底面が搬送用回転ディスクのみとする構成としてもよい。   On the unloading line 6 side, a unloading line 6 for the workpiece A is formed by the linear alignment wall 9 and the linear alignment wall 8y of the second alignment wall 8, and the workpiece A is transported to the unloading line 6. Transport rotary disks D1, D2, and D3 are installed (FIGS. 1, 4, and 8). The conveying rotating disks D1, D2, D3 have a rotating surface (upper surface) that is flush with the transfer path 3a, and guides the workpiece A in the carry-out line 6 to the workpiece inspection unit 21 on the upper surface. More specifically, a base member is disposed at the bottom of the discharge line 6, and sending rotary disks D1, D2, and D3 are embedded in the base member, and the upper surface of the base member and the conveying rotary disks D1, D2, and D3 are embedded. The upper surface and the surface of the transfer path 3a are flush with each other. For this reason, the conveyance surface of the workpiece | work A transferred from the transfer path 3a is made the same, and it carries out to the discharge port 6z for carrying out to the following workpiece | work inspection part 21. FIG. Here, it is also possible to arbitrarily change the rotational speed of the conveying rotary disks D1, D2, and D3. The plurality of transfer rotary disks D1, D2, D3 are centered on two straight lines Q2, Q3 in the same direction as the transfer direction Q1 of the workpiece A transferred along the second arc-shaped alignment wall a2. Are positioned so that the respective transport rotary disks D2 having the center on the straight line Q2 and the respective transport rotary disks D1, D3 having the center on the straight line Q3 are in contact with each other. That is, although arranged like a staggered arrangement, the adjacent rotary disks D1, D2, and D3 adjacent to each other are in sliding contact with each other, so that when the work A is conveyed to the carry-out line 6, the interval is reduced or the connected state is set. Even if it becomes, it can prevent a mutual space | interval from adhering. Here, the carry-out line 6 of the present embodiment is linear, but the structure in which the transport rotary disks D1, D2, and D3 are arranged is also arranged at the bent portion even when the carry-out line 6 is bent. Thus, the transport rotary disks D1, D2, D3 are surely and stably transported. Note that the diameter of the conveying rotary disk and the number of disks to be arranged may be determined in consideration of conditions such as the shape of the workpiece A. For example, they can be arranged as shown in FIG. Further, in the case where the workpiece A can be stably conveyed with only the conveying rotary disk, the base member may not be provided, and the bottom of the discharge line may be configured to include only the conveying rotary disk.

3つの搬送用回転ディスクD1,D2,D3には、それぞれ独立した駆動モータMd1,Md2,Md3が取り付けられている(図9)。すなわち、水平姿勢の3つの搬送用回転ディスクD1,D2,D3は、駆動軸J1,J2,J3が上方に向けられた駆動手段Md1,Md2,Md3と連結されている。本実施の形態では、搬送用回転ディスクD1,D3の径に比べ、搬送用回転ディスクD2の径を小さくして、3つの搬送用回転ディスクD1,D2,D3の中央の隙間ができるだけ生じないようにされている。そして、各搬送用回転ディスクの周速度を同一に保つために、搬送用回転ディスクD1,D3の回転速度と比較して、搬送用回転ディスクD2の回転速度を早くして、各駆動手段Md1,Md2,Md3を調整している。上記移送路3aから排出ライン6に誘導されたワークAは、搬送ライン6内で数珠状に接した状態で搬出口6zに達し、ワーク検査部21の検査用回転ディスク22に受け渡される。また、検査用回転ディスク22の移送路22a上の速度が、搬送用回転ディスクD3上のワークAの搬送速度よりも速くなるように検査用回転ディスク22の回転速度は設定されている。これにより、搬出ライン6から検査用回転ディスク22の移送路22a上に受け渡されたワークAは、数珠状に連なった状態から、互いに引き離されて移送路22a上を移送されることになる。   Independent drive motors Md1, Md2, and Md3 are attached to the three transfer rotary disks D1, D2, and D3, respectively (FIG. 9). That is, the three transport rotary disks D1, D2, and D3 in the horizontal posture are coupled to the drive means Md1, Md2, and Md3 with the drive shafts J1, J2, and J3 directed upward. In the present embodiment, the diameter of the transport rotary disk D2 is made smaller than the diameter of the transport rotary disks D1 and D3 so that the gap between the centers of the three transport rotary disks D1, D2 and D3 does not occur as much as possible. Has been. Then, in order to keep the peripheral speeds of the respective transport rotating disks the same, the rotational speed of the transport rotating disk D2 is made faster than the rotational speeds of the transport rotating disks D1 and D3, and each drive means Md1, Md2 and Md3 are adjusted. The workpiece A guided from the transfer path 3a to the discharge line 6 reaches the carry-out port 6z in a state where it is in a rosary shape in the transfer line 6 and is delivered to the inspection rotary disk 22 of the workpiece inspection section 21. The rotation speed of the inspection rotary disk 22 is set so that the speed of the inspection rotary disk 22 on the transfer path 22a is higher than the transfer speed of the workpiece A on the transfer rotary disk D3. As a result, the workpieces A transferred from the carry-out line 6 onto the transfer path 22a of the inspection rotating disk 22 are separated from each other and transferred on the transfer path 22a from the state of being linked in a bead shape.

搬送用回転ディスクD1,D2,D3としては、図17(a)(b)に示すように、これよりも多い搬送用回転ディスクD1…D6とし、搬送用回転ディスクD1…D6が配送ライン6の底部側のベース部材11に取り付けられ、各々の駆動軸にプーリp1…p6が連結されて、無端ベルトV1が掛け渡されている構成でも良い。そして、駆動モータM4により回転駆動する駆動軸にプーリp7が連結され、このプーリp7に上記無端ベルトV1が掛け渡されている。したがって、駆動モータM4によりプーリp7が回転駆動すると、無端ベルトV1を介して各プーリp1…p6が回転し、これにより、各搬送用回転ディスクD1…D6がワークAを搬出する方向に回転する。また、この図16(a)(b)に示す例では、最も排出側の搬送用回転ディスクD6のプーリp6は、その他の搬送用回転ディスクD1…D5のプーリp1…p5よりも無端ベルトV1が掛けられるプーリp6の径が小さく形成されて、最も排出側6zの搬送用回転ディスクD6は他の搬送用回転ディスクD1…D5よりも回転速度が速く構成されている。このため、ワークAが最も排出側のディスクD6の位置に来ると、それに続くワークAから引き離されるように早く排出され、排出口6zでワークAの目詰まりが生じるようなことがなく分離して排出される構造になっている。   As shown in FIGS. 17A and 17B, the transport rotating disks D1, D2, and D3 are more transport rotating disks D1... D6, and the transport rotating disks D1. A configuration may be adopted in which the base member 11 is attached to the bottom side, pulleys p1... P6 are connected to the respective drive shafts, and the endless belt V1 is suspended. A pulley p7 is connected to a drive shaft that is rotationally driven by the drive motor M4, and the endless belt V1 is stretched around the pulley p7. Therefore, when the pulley p7 is rotationally driven by the drive motor M4, the pulleys p1... P6 are rotated via the endless belt V1, thereby rotating the transport rotary disks D1. Further, in the example shown in FIGS. 16A and 16B, the pulley p6 of the most transporting rotary disk D6 has an endless belt V1 that is more than the pulleys p1... P5 of the other transport rotary disks D1. The diameter of the pulley p6 to be hung is formed small, and the rotation disk D6 on the discharge side 6z is configured to have a higher rotation speed than the other rotation disks D1... D5. For this reason, when the workpiece A comes to the position of the disk D6 on the most discharge side, the workpiece A is quickly discharged so as to be separated from the subsequent workpiece A, and the workpiece A is separated without causing clogging of the workpiece A. It is structured to be discharged.

次に、ワーク整列供給部1から受け渡されたワークAを撮像手段により検査して選別するワーク検査部21について説明する。
上記したように、ワーク検査部21は、周方向にワークAの移送路22aを形成し、ワーク整列供給部1から搬送されたワークAを受け取り、これを回転搬送する検査用回転ディスク22を有する。この検査用回転ディスク22の近傍には、ワークAが移送路22a上の所定の位置にある際に、これを上下から撮像する撮像手段F1,F5が取り付けられている。これら撮像手段F1,F5により撮像された画像を解析処理し、ワークAの品質チェックを行う画像検査部23と、画像検査部23の指令により不良品と判定されたワークAを上記移送路22a上から除去する除去手段(エアーノズル)24と、除去手段(エアーノズル)24から除去されたワークAを貯留するシュート25と、画像検査部23により良品と判定されたワークAを上記移送路22a上から移す除去手段(エアーノズル)26と、除去手段(エアーノズル)26から除去されたワークAを貯留するシュート27とを有する(図10)。なお、図1中には、撮像手段F4も配置されているが、これは第2の実施の形態のように使用するときに使用する。
Next, the workpiece inspection unit 21 that inspects and sorts the workpiece A delivered from the workpiece alignment supply unit 1 using an imaging unit will be described.
As described above, the workpiece inspection unit 21 includes the inspection rotating disk 22 that forms the transfer path 22a of the workpiece A in the circumferential direction, receives the workpiece A conveyed from the workpiece alignment supply unit 1, and rotates and conveys the workpiece A. . In the vicinity of the inspection rotating disk 22, when the workpiece A is at a predetermined position on the transfer path 22a, imaging means F1 and F5 are mounted for imaging the workpiece A from above and below. The image picked up by the image pickup means F1 and F5 is subjected to analysis processing, and the quality inspection of the work A is performed. The work A determined as a defective product by the instruction of the image inspection section 23 is placed on the transfer path 22a. The removal means (air nozzle) 24 for removing the workpiece A, the chute 25 for storing the workpiece A removed from the removal means (air nozzle) 24, and the workpiece A determined to be non-defective by the image inspection unit 23 on the transfer path 22a. The removal means (air nozzle) 26 moved from 1 and the chute 27 which stores the workpiece | work A removed from the removal means (air nozzle) 26 (FIG. 10). In FIG. 1, the image pickup means F4 is also arranged, but this is used when used as in the second embodiment.

上記検査用回転ディスク22は、透明なガラス製の円形状のディスクであり、その周縁にワークAを移送路22aに沿って回転搬送させる。検査用回転ディスク22は、平板で構成され、ワークAを沿わせるような周壁(凸部)は設けられていない。すなわち、ガラス製の検査用回転ディスク22の上に載せられるだけで、回転搬送され、移送路22aと言えども、ラインや周壁が形成されているようなものではない。また、搬出ライン6側の整列壁8,9の先端8b,9bを移送路22aの軌道上まで延長されている。なお、整列壁8の先端8b側には、移送路22aに導くための円弧形状部分8cを設けることで、径方向の回転に合わせた回転搬送が可能になる(図19参照)。   The inspection rotating disk 22 is a transparent circular disk made of glass, and rotates and conveys the workpiece A along the transfer path 22a to the periphery thereof. The inspection rotary disk 22 is formed of a flat plate, and is not provided with a peripheral wall (convex portion) along which the workpiece A is placed. In other words, even if the transfer path 22a is rotated and conveyed simply by being placed on the inspection rotating disk 22 made of glass, a line or a peripheral wall is not formed. Further, the tips 8b and 9b of the alignment walls 8 and 9 on the carry-out line 6 side are extended to the track of the transfer path 22a. In addition, by providing the arcuate portion 8c for guiding to the transfer path 22a on the front end 8b side of the alignment wall 8, it becomes possible to perform rotational conveyance in accordance with the rotation in the radial direction (see FIG. 19).

検査用回転ディスク22は、搬出ライン6の搬送用回転ディスクD3の下方に潜り込んだ位置に配置される。すなわち、上方から見ると、搬送用回転ディスクD3と検査用回転ディスク22の外周端側が重なって配置されている(図9,10,11参照)。ここで、排出口6zから排出されたワークAが、その直後、検査用回転ディスク22の移送路22aの位置にくるように検査用回転ディスク22を配置することが望ましい。このように配置することで、排出ライン6の搬出口6zから排出されたワークAが検査用回転ディスク22の移送路22aの最も回転移送に適した軌道上に受け渡される。なお、搬送用回転ディスクD3は、薄型のディスクを使用することで、上記段差Hcを抑えることが好ましい(図11(b))。   The inspection rotary disk 22 is disposed at a position where the inspection rotary disk 22 is submerged below the transfer rotary disk D3 in the carry-out line 6. That is, when viewed from above, the outer peripheral end sides of the transport rotary disk D3 and the inspection rotary disk 22 are overlapped (see FIGS. 9, 10, and 11). Here, it is desirable to arrange the inspection rotating disk 22 so that the workpiece A discharged from the discharge port 6z is immediately after that at the position of the transfer path 22a of the inspection rotating disk 22. By arranging in this way, the workpiece A discharged from the carry-out port 6z of the discharge line 6 is transferred onto the track most suitable for rotational transfer of the transfer path 22a of the inspection rotary disk 22. In addition, it is preferable to suppress the said level | step difference Hc by using the thin disk for the rotation disk D3 for conveyance (FIG.11 (b)).

検査用回転ディスク22は、石英ガラス等、透明度の高い材質のもので形成されている。検査用回転ディスク22を透明度の高い材質のもので形成することで、移送路22aの下方に撮像手段F5を配置し、移送路22a上のワークAの下面を移送路22a越しに撮像するためである。透明なガラス製のディスクは、傷つき易いが、搬出ライン6から排出されたワークAが直ちに移送路22aに搬送されることで、ワークAとの摩擦により、検査用回転ディスク22に傷がつき難く、その透明度を維持するようにしている。   The inspection rotating disk 22 is made of a highly transparent material such as quartz glass. By forming the inspection rotary disk 22 with a highly transparent material, the imaging means F5 is arranged below the transfer path 22a, and the lower surface of the workpiece A on the transfer path 22a is imaged through the transfer path 22a. is there. The transparent glass disk is easily damaged, but the work A discharged from the carry-out line 6 is immediately conveyed to the transfer path 22a, so that the inspection rotating disk 22 is hardly damaged by friction with the work A. , Trying to maintain its transparency.

検査用回転ディスク22の中心には、当該検査用回転ディスク22を回転させる駆動軸J22が取り付けられるとともに、この回転軸J22に検査用回転ディスク22を回転駆動させる駆動モータM4が連結されている。駆動モータM4は、検査用回転ディスク22の下方に配され、その駆動軸J22を上方に向けて配されている(図9)。   A driving shaft J22 for rotating the inspection rotating disk 22 is attached to the center of the inspection rotating disk 22, and a driving motor M4 for rotating the inspection rotating disk 22 is coupled to the rotating shaft J22. The drive motor M4 is disposed below the inspection rotary disk 22, and the drive shaft J22 is disposed upward (FIG. 9).

検査用回転ディスク22の近傍には、撮像手段F1とF5が取り付けられている(図1)。撮像手段F1は、移送路22aの上方に配置され、ワークAが移送路22aの第1の撮像位置G1に達したとき、このワークAの上面を撮像する。撮像手段F1の撮像タイミングは、例えば、撮像位置G1の手前に、ワークAの通過を検知する検知センサを設け、この検知センサからの信号により撮像手段F1の撮像タイミングを合わせて行われる。撮像手段F5は、上記第1の撮像位置G1を通過したワークAが、更に回転移送され、移送路22aの第2の撮像位置G2に達したとき、このワークAの下面を撮像する。撮像手段F5の撮像タイミングも、上記と同様に第2の撮像位置G2の手前に、ワークAの通過を検知する検知センサを設け、この検知センサからの信号により撮像手段F5の撮像タイミングを合わせて行われる。ここで、撮像手段F1を第2の撮像位置G2の上方に配置し、ワークAの上面と下面の撮影を一箇所で行えるようにしてもよく、逆に、撮像位置を増やして、各撮像位置に各撮像手段を配置する構成としてもよい。なお、撮像手段F4は、ワークAの一側面を測定するもので(第2の実施の形態を参照)、第2の撮像位置G2を通過したときに、撮像手段F5と同じように撮像する。   Imaging means F1 and F5 are attached in the vicinity of the inspection rotating disk 22 (FIG. 1). The imaging means F1 is disposed above the transfer path 22a, and images the upper surface of the work A when the work A reaches the first imaging position G1 of the transfer path 22a. The imaging timing of the imaging unit F1 is performed by, for example, providing a detection sensor that detects the passage of the workpiece A before the imaging position G1, and matching the imaging timing of the imaging unit F1 with a signal from the detection sensor. The imaging means F5 images the lower surface of the workpiece A when the workpiece A that has passed through the first imaging position G1 is further rotationally transferred and reaches the second imaging position G2 of the transfer path 22a. Similarly to the above, the imaging timing of the imaging means F5 is provided with a detection sensor that detects the passage of the workpiece A before the second imaging position G2, and the imaging timing of the imaging means F5 is matched with the signal from this detection sensor. Done. Here, the imaging means F1 may be arranged above the second imaging position G2 so that the upper surface and the lower surface of the workpiece A can be photographed at one location. Conversely, the imaging positions are increased and each imaging position is increased. It is good also as a structure which arrange | positions each imaging means. The imaging unit F4 measures one side of the workpiece A (see the second embodiment), and images the same as the imaging unit F5 when passing through the second imaging position G2.

各撮像手段F1,F5により撮像された2面の画像データは、これらの画像データを解析処理し、ワークAの品質チェックを行う画像検査部23に送られる。この画像検査部23は、本検査装置Iの筐体Da内に配置される(図9)。この画像検査部23により、ワークAの外観の品質チェック(傷の有無や、種類や大きさ等)が行われる。   The image data of the two surfaces picked up by each of the image pickup means F1 and F5 is sent to the image inspection unit 23 that analyzes the image data and checks the quality of the work A. The image inspection unit 23 is disposed in the housing Da of the inspection apparatus I (FIG. 9). The image inspection unit 23 performs a quality check of the appearance of the workpiece A (whether there is a scratch, the type, the size, etc.).

画像検査部23により、不良品と判定されたワークAは、検査用回転ディスク22上に配置されたエアーノズル24によって移送路22a上から吹き落とされる。エアーノズル24は、検査用回転ディスク22上に、そのエアー噴出口24aが移送路22a上のワーク除去位置G3側を向くように設置されている。このエアーノズル24は、上記画像検査部23からの信号を受け、エアー噴出口24aからエアーを噴射し、不良品と判定されたワークAのみを移送路22a上から吹き落とす。エアーノズル24がエアー噴出口24aからエアーを噴出するタイミングは、画像検査部23からの信号が送られるタイミングで決定されるが、このタイミングは、画像検査部23が上記撮像手段F1,F5から画像データを受け取った時点を基準にして、ワークAの移送路22a上での搬送速度を加味して算出される。除去位置G3でエアーノズル24により吹き落とされたワークAは、エアーノズル24のエアー噴出方向に合わせて検査用回転ディスク22近傍に配置された第1のシュート25に貯留される。   The workpiece A determined to be defective by the image inspection unit 23 is blown off from the transfer path 22a by the air nozzle 24 arranged on the inspection rotary disk 22. The air nozzle 24 is installed on the inspection rotary disk 22 so that the air ejection port 24a faces the workpiece removal position G3 on the transfer path 22a. The air nozzle 24 receives a signal from the image inspection unit 23, injects air from the air outlet 24a, and blows off only the workpiece A determined to be defective from the transfer path 22a. The timing at which the air nozzle 24 ejects air from the air ejection port 24a is determined by the timing at which a signal is sent from the image inspection unit 23. This timing is determined by the image inspection unit 23 from the imaging means F1, F5. The calculation is performed taking into account the transport speed of the work A on the transfer path 22a with reference to the time when the data is received. The workpiece A blown off by the air nozzle 24 at the removal position G3 is stored in a first chute 25 disposed in the vicinity of the inspection rotary disk 22 in accordance with the air ejection direction of the air nozzle 24.

画像検査部23により、良品と判定されたワークAは、検査用回転ディスク22上に配置されたエアーノズル26によって移送路22aから吹き落とされ、第2のシュート27に貯留される。このエアーノズル26のエアー噴出タイミングは、例えば、上記選択位置G4の手前に、ワークAの通過を検知する検知センサを設け、この検知センサS3からの信号によりエアーノズル26のエアー噴出タイミングを合わせればよい。このエアーノズル26が、エアー噴出口26aからエアーを噴射し、良品と判定されたワークAのみを移送路22a上から吹き落とす。選択位置G4でエアーノズル26により吹き落とされたワークAは、エアーノズル26のエアー噴出方向に合わせて検査用回転ディスク22近傍に配置された第2のシュート27に貯留される。   The work A determined to be non-defective by the image inspection unit 23 is blown off from the transfer path 22 a by the air nozzle 26 disposed on the inspection rotating disk 22 and stored in the second chute 27. For example, a detection sensor for detecting the passage of the workpiece A is provided in front of the selection position G4, and the air ejection timing of the air nozzle 26 is matched with the signal from the detection sensor S3. Good. This air nozzle 26 injects air from the air outlet 26a, and blows off only the workpiece | work A determined to be non-defective from the transfer path 22a. The workpiece A blown off by the air nozzle 26 at the selected position G4 is stored in a second chute 27 disposed in the vicinity of the inspection rotary disk 22 in accordance with the air ejection direction of the air nozzle 26.

次に、本実施の形態のワークの検査装置Iを用いて実際にワークAを外観検査を行う場合は、まず、ワークAのサイズあるいは整列させる向きに合わせて、第1及び第2の円弧状の整列壁a1,a2の移送路3aの幅H3を決定する。例えば、図7(a)において、ワークAのサイズが縦a、横b、奥行きc(a>b>c)であり、このワークAの各面をJ面(a×b),N面(b×c),Q面(c×a)であるとする。ここで、ワークAのN面が進行方向に対して直行する向きで、かつ、J面が移送路3aに接する向きとなるようにワークAを移送したい場合(図7(a)参照)、上記移送路3aの幅H3をbとする必要がある。そこで、第1と第2の円弧状の整列壁a1,a2を第1のスライド部材S1によりY方向にスライドさせるか、第2の円弧状の整列壁a2のみをX方向にスライドさせる等して上記移送路3aの幅間隔H3やH4を決定する。ここで、第1及び第2のスライド部材S1をスライドさせる場合は、図3(b)のように、上記第1の整列壁7と第2の整列壁8の境界付近(中心Gと交わる付近)での移送路3aの幅H3が最も狭くなるため、この境界付近の幅H3がbとなるように設定する。一方、第2の円弧状の整列壁8のみをスライドさせる場合は、第2の円弧状の整列壁8の円弧面8aの中間付近で移送路3aの幅H4が最も狭くなるため、この幅bとなるように設定する。   Next, when the appearance inspection of the workpiece A is actually performed using the workpiece inspection apparatus I according to the present embodiment, first and second arc shapes are matched to the size or alignment direction of the workpiece A. The width H3 of the transfer path 3a of the alignment walls a1 and a2 is determined. For example, in FIG. 7A, the size of the workpiece A is vertical a, horizontal b, and depth c (a> b> c), and each surface of the workpiece A is defined as J plane (a × b), N plane ( b × c) and Q-plane (c × a). Here, when it is desired to transfer the workpiece A so that the N surface of the workpiece A is perpendicular to the traveling direction and the J surface is in contact with the transfer path 3a (see FIG. 7A), the above The width H3 of the transfer path 3a needs to be b. Therefore, the first and second arcuate alignment walls a1 and a2 are slid in the Y direction by the first slide member S1, or only the second arcuate alignment wall a2 is slid in the X direction. The width intervals H3 and H4 of the transfer path 3a are determined. Here, when the first and second slide members S1 are slid, as shown in FIG. 3B, near the boundary between the first alignment wall 7 and the second alignment wall 8 (near the center G). ), The width H3 of the transfer path 3a is the narrowest, so the width H3 in the vicinity of this boundary is set to b. On the other hand, when only the second arcuate alignment wall 8 is slid, the width H4 of the transfer path 3a is the smallest near the middle of the arc surface 8a of the second arcuate alignment wall 8, so this width b Set to be.

そして、上記整列壁7,8を用いると、移送するワークAのサイズに合わせて、上記移送路3a上の移送路3aの幅間隔H(H1…H3・H4)や円弧の形状を精密に変更することが可能となり、例えば、電子素子Cよりも大きな錠剤やカプセル剤を整列搬送させるように移送路3aの幅間隔Hを調整することも容易かつ正確に可能である(図3)。   When the alignment walls 7 and 8 are used, the width interval H (H1... H3 · H4) and the arc shape of the transfer path 3a on the transfer path 3a are precisely changed according to the size of the workpiece A to be transferred. For example, it is possible to easily and accurately adjust the width interval H of the transfer path 3a so that tablets and capsules larger than the electronic element C are aligned and conveyed (FIG. 3).

このように設定した後は、駆動モータM1…等を駆動させ、投入用回転ディスク2の底部2aにワークAを投入する。ここで、整列用回転ディスク3と投入用回転ディスク2とは別駆動であるため、整列用回転ディスク3を高速回転に設定するが、投入用回転ディスク2は低速回転とすることができる。この低速回転としては、ワークAの回転による損傷を生じさせないために、投入用回転ディスク2の底部2aにワークAが静止した状態で回転するほどの低速回転が好ましい。なお、整列用回転ディスク3を高速回転させるが、投入用回転ディスク2の低速回転に比較して20倍以上に設定可能である。投入用回転ディスク2の底部2aに投入された各ワークAは、投入用回転ディスク2の回転により回転し(静止した状態で回転し)、底部2aに摺接する受け渡し用回転ディスク5に堰き止められる。そして、受け渡し用回転ディスク5に捕獲された各ワークAは、受け渡し用回転ディスク5の回転により、底部2aから内周面2cの形状等に沿って上記投入用回転ディスク2の内周面2cの外側上端部P1と上記整列用回転ディスク3の移送路3aとの交差点Tまで移送されて整列用回転ディスク3の移送路3aに受け渡される。ここで、受け渡し用回転ディスク5によって堰き止められたワークAのうち、移送路3aに移送できなかったものについては、受け渡し用回転ディスク5の中央付近に設けられた貫通孔5aから再び投入用回転ディスク2の底部2aに戻される。   After setting in this way, the drive motor M1... Is driven, and the workpiece A is loaded into the bottom 2a of the loading rotary disk 2. Here, since the alignment rotary disk 3 and the input rotary disk 2 are driven separately, the alignment rotary disk 3 is set to a high speed rotation, but the input rotary disk 2 can be set to a low speed rotation. As this low speed rotation, in order not to cause damage due to the rotation of the workpiece A, a low speed rotation is preferable so that the workpiece A rotates in a stationary state on the bottom 2a of the loading rotary disk 2. The alignment rotating disk 3 is rotated at a high speed, but can be set to 20 times or more as compared with the low-speed rotation of the loading rotating disk 2. Each workpiece A put into the bottom 2a of the loading rotary disk 2 rotates (rotates in a stationary state) by the rotation of the loading rotary disk 2 and is dammed up by the transfer rotary disk 5 that is in sliding contact with the bottom 2a. . Then, each workpiece A captured by the transfer rotating disk 5 is rotated on the inner peripheral surface 2c of the loading rotary disk 2 along the shape of the inner peripheral surface 2c from the bottom 2a by the rotation of the transfer rotating disk 5. It is transferred to the intersection T between the outer upper end P1 and the transfer path 3a of the aligning rotary disk 3 and transferred to the transfer path 3a of the aligning rotary disk 3. Here, among the workpieces A blocked by the transfer rotating disk 5, those that could not be transferred to the transfer path 3 a are again inserted into the rotation through the through hole 5 a provided near the center of the transfer rotating disk 5. The disk 2 is returned to the bottom 2a.

整列用回転ディスク3の移送路3aに受け渡された各ワークAは、この移送路3aと第1と第2の円弧状の整列壁7,8により除々に狭くなる移送路3a上を移送される(H1>H2>H3・H4)。ここで、上記移送路3aに受け渡されたワークAは、多段積み状態(符号A1参照)やワークAの長手方向が移送路3aにせり出したりしているものもあるので、(符号A2参照)、整列板16やエアーノズル17によるエアーの噴射等により、通過させるワークAの選定を行う。   Each workpiece A transferred to the transfer path 3a of the rotating disk 3 for alignment is transferred on the transfer path 3a which becomes gradually narrower by the transfer path 3a and the first and second arcuate alignment walls 7 and 8. (H1> H2> H3 · H4). Here, the workpiece A delivered to the transfer path 3a may be in a multi-stacked state (see reference A1) or in some cases where the longitudinal direction of the work A protrudes to the transfer path 3a (see reference A2). Then, the workpiece A to be passed is selected by air jetting by the alignment plate 16 or the air nozzle 17 or the like.

移送路3a上を移送されてきたワークAは、上記第2の円弧状の整列壁a2の内側に接しながら、移送路3aに連続して設置された搬出ライン6へと誘導され、上記移送路3aと面一となる搬送用回転ディスクD1,D2,D3の回転によって搬出ライン6に移送される。つまり直線状の整列壁8yに達したワークAは、最初の搬送用回転ディスクD1,D2,D3の回転によってワーク検査部21側に移送され、この最初の搬送用回転ディスクD1,D2,D3と接する次の搬送用回転ディスクD1,D2,D3に順次受け渡される。ここで、搬出ライン6は、各搬送用回転ディスクD1,D2,D3の回転によってワークAを移送するため、その搬送速度を調整することができるほか、面一な回転ディスクであることから、従来の振動形式の搬出ラインに比べ、ワークAをスムーズに搬出できるとともに、電子素子のようなワークAについても傷つけることなく確実に搬出することが可能となる。なお、本実施の形態では、搬出ライン6への誘導の際に、ワークAをこの方向への誘導を補助する吸引装置が配置されている。搬出ライン6へと誘導されたワークAは、数珠状に連なった状態で搬送用回転ディスクD1,D2,D3により移送され、搬出口6zから、ワーク検査部21の検査用回転ディスク22へと受け渡される。   The workpiece A transferred on the transfer path 3a is guided to the carry-out line 6 continuously installed in the transfer path 3a while being in contact with the inside of the second arc-shaped alignment wall a2. It is transferred to the carry-out line 6 by the rotation of the transfer rotary disks D1, D2, D3 which are flush with 3a. In other words, the workpiece A that has reached the linear alignment wall 8y is transferred to the workpiece inspection unit 21 side by the rotation of the first transfer rotary disks D1, D2, and D3, and the first transfer rotary disks D1, D2, and D3 It is sequentially delivered to the next rotating rotary disks D1, D2, D3 that come into contact. Here, since the carry-out line 6 transfers the workpiece A by the rotation of the respective transport rotary disks D1, D2, and D3, the transport speed can be adjusted, and since the transport line 6 is a flush rotary disk, it is conventional. Compared with the vibration-type unloading line, the workpiece A can be unloaded smoothly, and the workpiece A such as an electronic element can be unloaded reliably without being damaged. In the present embodiment, a suction device that assists in guiding the workpiece A in this direction at the time of guiding to the carry-out line 6 is disposed. The workpiece A guided to the carry-out line 6 is transferred by the transfer rotary disks D1, D2 and D3 in a bead-like state, and is received from the carry-out port 6z to the inspection rotary disk 22 of the workpiece inspection unit 21. Passed.

搬出口6zから排出されたワークAは、検査用回転ディスク22の移送路22a上に受け渡される(図10、図11)。ここで、搬送用回転ディスクD3の回転速度(ワークAが載置される部分での周速度)に比べ、検査用回転ディスク22の回転速度(検査用回転ディスク22の移送路22a上の周速度)の方が高速に設定されている。このため、排出ライン6内で数珠状に連なっていたワークAは、検査用回転ディスク22に受け渡された直後に、後続のワークAと引き離され、移送路22a上の各ワークAが等間隔に整列した状態で搬送される。また、搬送用回転ディスクD3と検査用回転ディスク22との段差Hcによっても、連結状態のワークAであっても引き離されるようになる。なお、図11(b)中の符号Hcは、搬送用回転ディスクD3の外周端を示す。ここで、検査用回転ディスク22は、排出口6zから排出されたワークAが、その直後に検査用回転ディスク22の移送路22aの位置にくるように搬送用回転ディスクD3の下方に近接配置されていることにより、ワークAを検査用回転ディスク22に受け渡した直後から移送路22a上の最も回転移送に適した軌道上に載置する。   The workpiece A discharged from the carry-out port 6z is transferred onto the transfer path 22a of the inspection rotary disk 22 (FIGS. 10 and 11). Here, the rotational speed of the inspection rotary disk 22 (the peripheral speed on the transfer path 22a of the inspection rotary disk 22) compared to the rotational speed of the transport rotary disk D3 (the peripheral speed at the portion where the workpiece A is placed). ) Is set faster. For this reason, the workpieces A that have been arranged in a bead shape in the discharge line 6 are separated from the subsequent workpieces A immediately after being transferred to the inspection rotary disk 22, and the workpieces A on the transfer path 22 a are equally spaced. It is transported in a state of being aligned. Further, the connected workpiece A is also separated by the step Hc between the conveying rotary disk D3 and the inspection rotary disk 22. In addition, the code | symbol Hc in FIG.11 (b) shows the outer peripheral end of the rotation disk D3 for conveyance. Here, the inspection rotating disk 22 is arranged close to the lower part of the conveying rotating disk D3 so that the workpiece A discharged from the discharge port 6z is immediately after that at the position of the transfer path 22a of the inspection rotating disk 22. As a result, the workpiece A is placed on the trajectory most suitable for rotational transfer immediately after the workpiece A is transferred to the inspection rotary disk 22.

移送路22a上で移送されるワークAは、第1及び第2の撮像位置G1,G2にて、各撮像手段F1,F5により2面が撮像される(図1)。各撮像手段F1,F5からの画像データを受け取った撮像検査部23により、良品か不良品か等の品質チェックがされる。ここで、不良品と判定されたワークAについては、移送路22a上の位置G3にて、エアーノズル24によって移送路22a上から吹き落とされ、第1のシュート(箱)25に貯留される。良品と判定されたワークAについては、移送路22a上の除去位置G3を通過した後、移送路22a上の選択位置G4にて、エアーノズル26によって移送路22a上から吹き落とされ、第2のシュート(箱)27に貯留される。   Two surfaces of the workpiece A transferred on the transfer path 22a are imaged by the imaging means F1 and F5 at the first and second imaging positions G1 and G2 (FIG. 1). The image inspection unit 23 that has received the image data from each of the imaging means F1 and F5 performs a quality check such as whether the product is a non-defective product or a defective product. Here, the work A determined to be defective is blown off from the transfer path 22a by the air nozzle 24 at a position G3 on the transfer path 22a and stored in the first chute (box) 25. About the work A determined to be non-defective, after passing through the removal position G3 on the transfer path 22a, it is blown off from the transfer path 22a by the air nozzle 26 at the selected position G4 on the transfer path 22a. It is stored in a chute (box) 27.

ところで、本実施の形態によれば、投入されたワークAが投入用回転ディスク2により回転している間(静止した状態で低速回転している間)、ワークAは整列用回転ディスク3と接触することはない。つまり、高速に回転している整列用回転ディスク3と接触摩擦による損傷の影響を受けることはない。このため、ワークAを高速で整列させるために整列用回転ディスク3を高速で回転させる必要がある場合でも、投入用回転ディスク2による回転は遅くすることができ、遠心力に依存しない構造にすることにより、ワークAを損傷等させる割合を少なくすることができる(投入用回転ディスク2の回転による損傷も、整列用回転ディスク3と接触摩擦による損傷も受けることはない。)。そして、整列用回転ディスク3の移送路3aに引き上げられたワークAを高速回転により移送し、更にそれよりも早く搬出ライン6の搬送用回転ディスクD1,D2,D3によりワークAを搬出させることが可能である。ここで、各搬送用回転ディスクD1,D2,D3の駆動は各々独立しているために、必要なときは、最も排出側の搬送用回転ディスクD3を他の搬送用回転ディスクD1,D2よりも回転速度を速くすることで、従来装置と比較して搬送速度をより高めて整列搬送させることが可能である。   By the way, according to the present embodiment, while the loaded workpiece A is rotated by the loading rotary disk 2 (while rotating at a low speed in a stationary state), the workpiece A contacts the alignment rotary disk 3. Never do. That is, the alignment rotating disk 3 rotating at high speed is not affected by damage due to contact friction. Therefore, even when it is necessary to rotate the alignment rotating disk 3 at a high speed in order to align the workpieces A at a high speed, the rotation by the input rotating disk 2 can be slowed, and the structure does not depend on the centrifugal force. As a result, the rate of damaging the workpiece A can be reduced (there is no damage due to the rotation of the throwing rotating disk 2 or damage due to contact friction with the aligning rotating disk 3). Then, the work A pulled up to the transfer path 3a of the rotating disk 3 for alignment is transferred by high speed rotation, and the work A is unloaded by the transfer rotating disks D1, D2, D3 of the unloading line 6 earlier than that. Is possible. Here, since the driving of the transport rotary disks D1, D2, and D3 is independent of each other, the transport rotary disk D3 on the most discharge side is set to be more than the other transport rotary disks D1 and D2 when necessary. By increasing the rotational speed, it is possible to carry out alignment and transport at a higher transport speed than in the conventional apparatus.

(第2の実施の形態)
図12は、第2の実施の形態のワークの外観検査装置を示す平面図である。本実施の形態の検査装置I2は、ステンレス製の第1の検査用回転ディスク32の次に、透明なガラス製の第2の検査用回転ディスク22を配し、搬送ライン6から第1の検査用回転ディスク32に受け渡されて、透明なガラス製の検査用回転ディスク22に受け渡される構造である。本実施の形態では、ワークAの一方側面(Q面)が第1の検査用回転ディスク(吸引穴32cを有する検査用回転ディスク)32の近傍の撮像手段F4により撮像され、ワークAの前後の(N面とその反対側の面)が撮像手段F2とF3により撮像され、それ以外の3面は、第2の検査用回転ディスク22の移送路22aの所定箇所Ghに配された撮像手段F1,F5によりワークAの上下面が撮像され、撮像手段F6によりワークAの他方側面(Q面とは反対側の面)が撮像される。なお、第2の検査用回転ディスク22は、第1の実施の形態の透明ガラス製の検査用回転ディスクと同じ構成で、さらに排出機構33aから33c,34が設けられたものである。
(Second Embodiment)
FIG. 12 is a plan view showing a workpiece appearance inspection apparatus according to the second embodiment. The inspection apparatus I2 according to the present embodiment arranges the second inspection rotating disk 22 made of transparent glass next to the first inspection rotating disk 32 made of stainless steel, and performs the first inspection from the conveying line 6. The structure is transferred to the rotating disk 32 for inspection and transferred to the rotating disk 22 for inspection made of transparent glass. In the present embodiment, one side surface (Q surface) of the workpiece A is imaged by the imaging means F4 in the vicinity of the first inspection rotating disk (inspection rotating disk having the suction holes 32c) 32, and before and after the workpiece A. (N surface and the opposite surface) are imaged by imaging means F2 and F3, and the other three surfaces are imaging means F1 arranged at a predetermined location Gh of the transfer path 22a of the second inspection rotating disk 22. , F5 images the upper and lower surfaces of the workpiece A, and the imaging means F6 images the other side surface (the surface opposite to the Q surface) of the workpiece A. The second inspection rotary disk 22 has the same configuration as the transparent glass inspection rotary disk of the first embodiment, and is further provided with discharge mechanisms 33a to 33c and 34.

第1の検査用回転ディスク32の移送路32aには、移送路32a上のワークAを吸引固定する吸引穴32cが多数形成されている。吸引穴32cは、第1の検査用回転ディスク32の中心から伸びた放射線上に等間隔で複数配置されている。この吸引穴32cは、検査用回転ディスク32の下方に設けられたサクションリング(図示せず)を介して吸引手段によりワークAを下面側から吸引する。すなわち、サクションリングは、所定長の吸引用スリットが形成されたものであり、吸引ポンプ等の吸引手段は、筐体(装置本体)Daに配されている。したがって、ワークAは、第2の検査用回転ディスク32が高速で回転している間も、その遠心力により移送路32aからその外側へと飛ばされることなく、移送路上に固定されたまま回転移送される。また、吸引穴32cの形状や個数、或いは、その配置等は任意である。そして、筐体(装置本体)Daの画像検査部23により、不良品と判定されたワークAは、上記検査用回転ディスク22上に配置されたエアーノズル33aから33cによって移送路22a上からシュート34に吹き落とされる。   A number of suction holes 32c for sucking and fixing the workpiece A on the transfer path 32a are formed in the transfer path 32a of the first inspection rotary disk 32. A plurality of suction holes 32 c are arranged at equal intervals on the radiation extending from the center of the first inspection rotary disk 32. The suction hole 32c sucks the workpiece A from the lower surface side by suction means through a suction ring (not shown) provided below the inspection rotary disk 32. That is, the suction ring is formed with a suction slit having a predetermined length, and suction means such as a suction pump is disposed in the housing (apparatus body) Da. Accordingly, the workpiece A is rotated and transferred while being fixed on the transfer path without being blown from the transfer path 32a to the outside by the centrifugal force even while the second inspection rotating disk 32 is rotating at a high speed. Is done. Further, the shape and number of the suction holes 32c, the arrangement thereof, and the like are arbitrary. Then, the work A, which is determined to be defective by the image inspection unit 23 of the housing (apparatus body) Da, is a chute 34 from above the transfer path 22a by the air nozzles 33a to 33c disposed on the inspection rotating disk 22. Blown off.

第1の検査用回転ディスク32から第2の検査用回転ディスク22への受け渡しは、ガイドGTを介して行われる(図14(a))。ガイドGTは、所定幅を有した左右の側壁T1,T2とで構成され、図示しない吊り下げ部材により上方から吊り下げられた状態で、移送路32a上と移送路22a上に掛け渡される。このガイドGTは、上記移送路32a上の最もワークAの回転移送に適した軌道上と、上記移送路32a上の最もワークAの回転移送に適した軌道上とを結び、移送路32aのワークAをガイドGT内(左右の側壁T1,T2の間)に侵入させ、移送路22a上に誘導する。移送路22a上まで誘導されたワークAは、ガラス製の第2の検査用回転ディスク22により回転移送される。   Delivery from the first inspection rotating disk 32 to the second inspection rotating disk 22 is performed via the guide GT (FIG. 14A). The guide GT is composed of left and right side walls T1 and T2 having a predetermined width, and is suspended over the transfer path 32a and the transfer path 22a while being suspended from above by a suspension member (not shown). The guide GT connects the track on the transfer path 32a most suitable for the rotational transfer of the work A and the track on the transfer path 32a most suitable for the rotary transfer of the work A, and the work on the transfer path 32a. A is introduced into the guide GT (between the left and right side walls T1 and T2) and guided onto the transfer path 22a. The workpiece A guided to the transfer path 22a is rotated and transferred by the second inspection rotating disk 22 made of glass.

本実施の形態では、図12に示すように、第1の検査用回転ディスク32が第2の検査用回転ディスク22の径よりも小さなものを使用している。これは、筐体Daの上面の面積には限りがあることから、その限られた範囲で設けなければならないこと(装置の小型化の要請)、ワークAの前後の面(N面とその反対側の面)を撮像するときに、大きな径の回転ディスク22では、連続搬送される次のワークAが撮像するワークAの影になる可能性が高い。すなわち、図18に示すように、大きな径の回転ディスク22では、撮像手段F3による撮像が撮像するワークAの次に搬送されて来るワークAbにより妨げられる可能性が高いが(ワークAとワークAbの距離が同じ距離にあるとすると)、小さな径の回転ディスク32では、搬送されてくるワークAの角度差が大きいことから、半径が小さな回転ディスク32によりワークAの前後の面(N面とその反対側の面)を撮像可能にしている。   In the present embodiment, as shown in FIG. 12, the first inspection rotating disk 32 is smaller than the diameter of the second inspection rotating disk 22. This is because the area of the upper surface of the casing Da is limited, so that it must be provided in a limited range (request for downsizing of the apparatus), and the front and rear surfaces of the workpiece A (the N surface and vice versa) When the image of the side surface) is taken, it is highly likely that the next work A, which is continuously conveyed, will be a shadow of the work A to be imaged on the rotating disk 22 having a large diameter. That is, as shown in FIG. 18, in the large-diameter rotating disk 22, there is a high possibility that the imaging by the imaging means F3 is hindered by the workpiece Ab conveyed next to the workpiece A to be imaged (work A and workpiece Ab). Are the same distance), the rotary disk 32 having a small diameter has a large angle difference between the workpieces A being conveyed. The opposite surface) can be imaged.

(第3の実施の形態)
図13は、第3の実施の形態のワークの外観検査装置を示す平面図である。本実施の形態の検査装置I3は、透明なガラス製の第1の検査用回転ディスク22は、搬送ライン6の次の位置に配置され、更に、第1の検査用回転ディスク22からワークAを受け継ぐステンレス製の第2の検査用回転ディスク35が配されている。本実施の形態では、第1の検査用回転ディスク22では、ワークAの上面(J面)と下面(K面)と一方側面(Q面)が撮像手段F1,F4,F5により撮像され、それ以外の3面は、第2の検査用回転ディスク35の移送路35aの所定箇所Ghに配された撮像手段F2,F3,F6により撮像される。第1の検査用回転ディスク22から第2の検査用回転ディスク35へのワークAの受け渡しについては、上記のガイドGTを用いて受け渡す構成とすればよい(図14(a)参照)。第2の実施の形態と同じ理由で、第1の検査用回転ディスク22が第2の検査用回転ディスク35の径よりも小さなものを使用している。
(Third embodiment)
FIG. 13 is a plan view showing a workpiece appearance inspection apparatus according to the third embodiment. In the inspection apparatus I3 of the present embodiment, the first inspection rotating disk 22 made of transparent glass is disposed at the next position of the transport line 6, and further the workpiece A is removed from the first inspection rotating disk 22. A second inspection rotating disk 35 made of stainless steel is provided. In the present embodiment, on the first inspection rotating disk 22, the upper surface (J surface), the lower surface (K surface) and one side surface (Q surface) of the workpiece A are imaged by the imaging means F1, F4, F5. The other three surfaces are imaged by imaging means F2, F3, and F6 arranged at a predetermined location Gh of the transfer path 35a of the second inspection rotating disk 35. The delivery of the workpiece A from the first inspection rotary disk 22 to the second inspection rotary disk 35 may be configured to use the guide GT (see FIG. 14A). For the same reason as in the second embodiment, the first inspection rotating disk 22 is smaller than the diameter of the second inspection rotating disk 35.

第2の検査用回転ディスク35の移送路35aには、ワークAを吸引固定する吸引穴35cが多数配置される。吸引穴35cは、第2の検査用回転ディスク35の中心から伸びた放射線上に等間隔で複数配置されている。この吸引穴35cは、検査用回転ディスク35の下方に設けられたサクションリング(図示せず)を介して吸引手段によりワークAを下面側から吸引する。すなわち、サクションリングは、所定長の吸引用スリットが形成されたものであり、吸引ポンプ等の吸引手段は、筐体(装置本体)Daに配されている。したがって、ワークAは、第2の検査用回転ディスク35が高速で回転している間も、その遠心力により移送路35aからその外側へと飛ばされることなく、移送路上に固定されたまま回転移送される。そして、筐体(装置本体)Daの画像検査部23により、不良品と判定されたワークAは、上記検査用回転ディスク35上に配置されたエアーノズル36a,36b,36cによって移送路35a上からシュート37に吹き落とされる。   A number of suction holes 35c for sucking and fixing the workpiece A are arranged in the transfer path 35a of the second inspection rotary disk 35. A plurality of suction holes 35 c are arranged at equal intervals on the radiation extending from the center of the second inspection rotary disk 35. The suction hole 35c sucks the workpiece A from the lower surface side by suction means through a suction ring (not shown) provided below the inspection rotary disk 35. That is, the suction ring is formed with a suction slit having a predetermined length, and suction means such as a suction pump is disposed in the housing (apparatus body) Da. Therefore, the workpiece A is rotated and transferred while being fixed on the transfer path without being blown from the transfer path 35a to the outside by the centrifugal force while the second inspection rotating disk 35 is rotating at a high speed. Is done. Then, the work A, which is determined to be defective by the image inspection unit 23 of the housing (apparatus main body) Da, is removed from the transfer path 35a by the air nozzles 36a, 36b, 36c disposed on the inspection rotating disk 35. It is blown off by the chute 37.

(第4の実施の形態)
図15は、本発明の第4の実施の形態のワークの外観検査装置の平面図である。図16は、排出ライン6からワーク検査部41の第1の検査用回転ディスク42へのワークの受け渡しの様子を示す図である。ワーク検査部41は、第1の検査用回転ディスク42と、この回転ディスク42からワークAを受け取る第2の検査用回転ディスク52とから構成されている。第1と第2の検査用回転ディスク42,52は、いずれもステンレス製のものであり、吸引穴42c,52cがいずれにも形成されている。本実施の形態は、吸引穴42c,52cによる吸引により、超高速回転によりワークAの外観検査を行うものである。なお、本実施の形態では、ワークAの下面からの撮像以外の5面が撮像手段により撮像される。
(Fourth embodiment)
FIG. 15 is a plan view of a workpiece appearance inspection apparatus according to the fourth embodiment of the present invention. FIG. 16 is a diagram illustrating a state of workpiece transfer from the discharge line 6 to the first inspection rotating disk 42 of the workpiece inspection unit 41. The workpiece inspection unit 41 includes a first inspection rotating disk 42 and a second inspection rotating disk 52 that receives the workpiece A from the rotating disk 42. The first and second inspection rotating disks 42 and 52 are both made of stainless steel, and suction holes 42c and 52c are formed in both. In the present embodiment, the appearance inspection of the workpiece A is performed by ultra high-speed rotation by suction through the suction holes 42c and 52c. In the present embodiment, five surfaces other than the imaging from the lower surface of the workpiece A are imaged by the imaging means.

第1の検査用回転ディスク42は、周方向にワークAの移送路42aを形成し、排出ライン6から搬送されたワークAを受け取り、これを回転搬送し、周方向にワークAの移送路52aを形成した第2の検査用回転ディスク52にワークAを引き渡す。また、撮像手段(図示せず)により撮像された画像を解析処理し、ワークAの品質チェックを行う画像検査部23と、この画像検査部23からの指令により不良品と判定されたワークAを上記移送路52a上から除去するエアーノズル44,45と、エアーノズル44,45から除去されたワークAを貯留する第1及び第2のシュート46,47とを有する。更に、良品と判定されたワークAをエアーノズル48により落下させ、これを回収する第3のシュート49を有する。   The first inspection rotating disk 42 forms a transfer path 42a for the workpiece A in the circumferential direction, receives the workpiece A conveyed from the discharge line 6, rotates and conveys it, and transfers the workpiece A in the circumferential direction 52a. The workpiece A is delivered to the second inspection rotating disk 52 formed with the above. Further, the image picked up by the image pickup means (not shown) is subjected to analysis processing, and the image inspection unit 23 for checking the quality of the work A, and the work A determined as a defective product by a command from the image inspection unit 23. Air nozzles 44 and 45 removed from the transfer path 52a, and first and second chutes 46 and 47 for storing the work A removed from the air nozzles 44 and 45 are provided. Furthermore, the work A determined to be non-defective is dropped by the air nozzle 48, and a third chute 49 is provided for collecting the work A.

ワーク検査部41である第1と第2の検査用回転ディスク42,52は、ステンレス製の円形状のディスクであり、その移送路42a,52aに吸引穴42c,52cが形成され、以下で説明する吸引手段により移送路42a,52a上で吸引固定された状態で、回転移送される。なお、上記サクションリングは、検査用回転ディスク42,52の全域に設けられる必要はなく、例えば、第1の検査用回転ディスク42からの受渡しの位置では、ワークAの移動(受け渡し)を阻害しないように、ディスク42のその部分には設けないようにすることが好ましい。他方、受け取る側では、ワークAが乗り移った直後にその移動を止めるために、その検査用回転ディスク52のその部分には設けることが好ましい。   The first and second inspection rotating disks 42 and 52 which are the work inspection unit 41 are stainless steel circular disks, and suction holes 42c and 52c are formed in the transfer paths 42a and 52a, which will be described below. It is rotated and transferred in a state where it is sucked and fixed on the transfer paths 42a and 52a by the suction means. The suction ring does not need to be provided in the entire area of the inspection rotary disks 42 and 52. For example, at the position of delivery from the first inspection rotary disk 42, the movement (delivery) of the workpiece A is not hindered. Thus, it is preferable not to provide it in that portion of the disk 42. On the other hand, the receiving side is preferably provided at that portion of the inspection rotary disk 52 in order to stop the movement immediately after the workpiece A is transferred.

第1の検査用回転ディスク42の上面は、上記搬出ライン6の搬送用回転ディスクD3の上面と面一となるように、搬送用回転ディスクD3近傍に配置されている(図16(a)(b))。両ディスクの上面が面一となるように第1の検査用回転ディスク42を配置することで、ワークAの搬送用回転ディスクD3上から第1の検査用回転ディスク42上への移送を段差なく行える構造になっている。ここで、排出ライン6から第1の検査用回転ディスク42にワークAを受け渡す際は、第1の検査用回転ディスク42の移送路42aの最も回転移送に適した軌道上にワークAを受け渡すことが望ましい。このため、排出ライン6を構成する整列壁(ガイド)8の先端8bは、上記移送路42aの回転移送に適した軌道上までワークAをガイドできるように、第1の検査用回転ディスク42上まで延長されている。この延長された整列壁(ガイド)8により、ワークAは、移送路42a上を第1の検査用回転ディスク42の回転方向に流されず直進し、移送路42a上の最も回転搬送に適した軌道上にワークAを搬送することとなる。ここで、上記整列壁8の先端8b側には、検査用回転ディスク22の移送路22a上に移送されるように、検査用回転ディスク22の径に対応した円弧状部分8cが形成されている(図19)。   The upper surface of the first inspection rotating disk 42 is arranged in the vicinity of the conveying rotating disk D3 so as to be flush with the upper surface of the conveying rotating disk D3 of the carry-out line 6 (FIG. 16A). b)). By arranging the first inspection rotating disk 42 so that the upper surfaces of both disks are flush with each other, the transfer of the workpiece A from the conveying rotating disk D3 to the first inspection rotating disk 42 can be performed without any step. It has a structure that can be done. Here, when the workpiece A is delivered from the discharge line 6 to the first inspection rotary disk 42, the workpiece A is received on a track most suitable for rotational transfer of the transfer path 42a of the first inspection rotary disk 42. It is desirable to pass. For this reason, the front end 8b of the alignment wall (guide) 8 constituting the discharge line 6 is arranged on the first inspection rotary disk 42 so that the workpiece A can be guided to a track suitable for the rotational transfer of the transfer path 42a. Has been extended. The extended alignment wall (guide) 8 allows the workpiece A to travel straight on the transfer path 42a without flowing in the rotation direction of the first inspection rotary disk 42, and is most suitable for rotational conveyance on the transfer path 42a. The workpiece A is transported on the track. Here, an arcuate portion 8c corresponding to the diameter of the inspection rotating disk 22 is formed on the alignment wall 8 at the front end 8b side so as to be transferred onto the transfer path 22a of the inspection rotating disk 22. (FIG. 19).

第1の検査用回転ディスク42の移送路42aには、移送路42a上のワークAを吸引固定する吸引穴42cが無数に配置される。これらの吸引穴42cは、第1の検査用回転ディスク42の中心から伸びた無数の放射線上に等間隔で複数配置される。この吸引穴42cは、第1の検査用回転ディスク42の下方に設けられた吸引手段と連結され、この吸引手段からの吸引によりワークAの下面を吸引し、その位置でワークAを固定する。これによって、ワークAは、第1の検査用回転ディスク42が高速で回転している間も、その遠心力により移送路42aからその外側へと飛ばされることなく、移送路42a上に固定されたまま、回転移送される。   An infinite number of suction holes 42c for sucking and fixing the work A on the transfer path 42a are arranged in the transfer path 42a of the first inspection rotating disk 42. A plurality of these suction holes 42c are arranged at equal intervals on innumerable radiation extending from the center of the first inspection rotary disk 42. The suction hole 42c is connected to suction means provided below the first inspection rotary disk 42, sucks the lower surface of the work A by suction from the suction means, and fixes the work A at that position. As a result, the workpiece A is fixed on the transfer path 42a without being blown from the transfer path 42a to the outside by the centrifugal force even while the first inspection rotating disk 42 is rotating at a high speed. It is rotated and transferred as it is.

第2の検査用回転ディスク52は、その移送路52aは、第1の検査用回転ディスク42の移送路42aと面一となるように近接配置される。第2の移送路用回転ディスク52の構成は、上記第1の検査用回転ディスク42と同一であるため、その説明は省略する。   The second inspection rotating disk 52 is disposed close to the transfer path 52a so as to be flush with the transfer path 42a of the first inspection rotating disk 42. Since the configuration of the second transfer path rotary disk 52 is the same as that of the first inspection rotary disk 42, the description thereof is omitted.

第1の検査用回転ディスク42から第2の検査用回転ディスク52へ受け渡しは、上記したようにガイドGTにより行われる(図14(a)参照)。ガイドGTは、所定幅を有した左右の側壁T1,T2と各側壁T1,T2とで構成され、図示しない吊り下げ部材により上方から吊り下げられた状態で、移送路42a上と移送路52a上に掛け渡される。このガイドGTは、上記移送路42a上の最もワークAの回転移送に適した軌道上と、上記移送路52a上の最もワークAの回転移送に適した軌道上とを結び、移送路42aのワークAをガイドGT内に侵入させ、移送路52a上に誘導する。移送路52a上まで誘導されたワークAは、移送路52a上の最もワークAの回転移送に適した軌道上に達し、この位置で吸引穴52cによって吸引固定され、第2の検査用回転ディスク52により回転移送される。ガイドGTとしては、板状のもので、ワークの片面(一側面)のみを沿わせて受け渡しするものでも良い。   The transfer from the first inspection rotary disk 42 to the second inspection rotary disk 52 is performed by the guide GT as described above (see FIG. 14A). The guide GT is composed of left and right side walls T1 and T2 having a predetermined width and side walls T1 and T2, and is suspended from above by a suspension member (not shown), on the transfer path 42a and the transfer path 52a. It is passed over to. The guide GT connects a track on the transfer path 42a most suitable for the rotational transfer of the work A and a track on the transfer path 52a most suitable for the rotary transfer of the work A, and the work on the transfer path 42a. A is introduced into the guide GT and guided onto the transfer path 52a. The work A guided up to the transfer path 52a reaches the most suitable path for the rotational transfer of the work A on the transfer path 52a, and is sucked and fixed at this position by the suction hole 52c. Is rotated and transferred. The guide GT may be a plate-shaped one that delivers only along one side (one side) of the workpiece.

ここで、上記では、第1及び第2の検査用回転ディスク42,52とが面一となるように近接配置したが、第1の検査用回転ディスク42に対し、第2の検査用回転ディスク52が潜りこむように、第2の検査用回転ディスク52を配置してもよい(図14(b))。このような構成とする場合は、第1の検査用回転ディスク42上に左右側壁T1,T2を有するガイドGTを第1の検査用回転ディスク42上のみに配し、ワークAを移送路42a上から移送路52a上に導けばよい。移送路52a上の最もワークAの回転に適した軌道上からガイドGT内に侵入したワークAは、ガイドGTを抜けると同時に移送路42aから移送路52aへと受け渡され、吸引穴52cによって吸引固定され回転移送される。   Here, in the above description, the first and second inspection rotating disks 42 and 52 are disposed so as to be flush with each other, but the second inspection rotating disk 42 is arranged with respect to the first inspection rotating disk 42. The second inspection rotary disk 52 may be arranged so that the 52 is submerged (FIG. 14B). In the case of such a configuration, the guide GT having the left and right side walls T1, T2 is arranged only on the first inspection rotating disk 42 on the first inspection rotating disk 42, and the workpiece A is placed on the transfer path 42a. To the transfer path 52a. The workpiece A that has entered the guide GT from the trajectory most suitable for the rotation of the workpiece A on the transfer path 52a passes through the guide GT and is transferred from the transfer path 42a to the transfer path 52a, and is sucked by the suction hole 52c. Fixed and rotated.

本発明の第1の実施の形態であるワークの外観検査装置を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the external appearance inspection apparatus of the workpiece | work which is the 1st Embodiment of this invention. 上記第1の実施の形態のワーク整列供給部の内部構造を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the internal structure of the workpiece | work alignment supply part of the said 1st Embodiment. 上記第1の実施の形態のワーク整列供給部のスライド構造を示す平面図であり、図3(a)は、第1と第2の円弧状の整列壁をY方向にスライドさせた平面図であり、図3(b)は、第2の円弧状の整列壁をX方向にスライドさせた平面図である。It is a top view which shows the slide structure of the workpiece | work alignment supply part of the said 1st Embodiment, Fig.3 (a) is a top view which slid the 1st and 2nd circular arc-shaped alignment wall in the Y direction. FIG. 3B is a plan view of the second arcuate alignment wall slid in the X direction. 上記第1の実施の形態のワーク整列供給部の搬出ラインの構造を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the carrying-out line of the workpiece | work alignment supply part of the said 1st Embodiment. 上記第1の実施の形態のワーク整列供給部の整列板が配される箇所を示す図であり、図5(a)はその平面図であり、図5(b)はその断面図である。It is a figure which shows the location where the alignment plate of the workpiece | work alignment supply part of the said 1st Embodiment is arrange | positioned, Fig.5 (a) is the top view, FIG.5 (b) is the sectional drawing. 上記第1の実施の形態のワーク整列供給部のエアーノズルが配される箇所を示す図であり、図6(a)はその平面図であり、図6(b)はその断面図である。It is a figure which shows the location where the air nozzle of the workpiece | work alignment supply part of the said 1st Embodiment is distribute | arranged, Fig.6 (a) is the top view, FIG.6 (b) is the sectional drawing. 上記実施の形態により搬送されるワークの例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the example of the workpiece | work conveyed by the said embodiment. 上記実施の形態により搬送されるワークの他の例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the other example of the workpiece | work conveyed by the said embodiment. 上記実施の形態の内部構造を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the internal structure of the said embodiment. 上記実施の形態の排出ライン及び検査用回転ディスク周辺の構造を示す平面図である。It is a top view which shows the structure around the discharge line of the said embodiment, and the rotation disk for a test | inspection. 図11(a)は、上記実施の形態の排出ラインから検査用回転ディスクへのワークの受け渡しの様子を示す拡大平面図であり、図11(b)は、排出ラインから検査用回転ディスクへのワークの受け渡しの様子を示す断面図である。FIG. 11A is an enlarged plan view showing a state of workpiece transfer from the discharge line to the inspection rotating disk according to the above-described embodiment, and FIG. 11B shows the state from the discharge line to the inspection rotating disk. It is sectional drawing which shows the mode of the delivery of a workpiece | work. 本発明の第2の実施の形態のワークの外観検査装置の平面図である。It is a top view of the external appearance inspection apparatus of the workpiece | work of the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施の形態のワークの外観検査装置を示す平面図である。It is a top view which shows the external appearance inspection apparatus of the workpiece | work of the 3rd Embodiment of this invention. 上記実施の形態の第1の検査用回転ディスクから第2の検査用回転ディスクへの受け渡しの様子を示す斜視図であり、図14(a)は、第1及び第2の検査用回転ディスクがわずかに重なって配置される場合のワークの受け渡し状態を表す斜視図であり、図14(b)は、第1及び第2の検査用回転ディスクが面一に近接配置される場合のワークの受け渡しを表す斜視図である。It is a perspective view which shows the mode of delivery to the 2nd test | inspection rotary disk from the 1st test | inspection rotary disk of the said embodiment, Fig.14 (a) is a 1st and 2nd test | inspection rotary disk. FIG. 14B is a perspective view showing a workpiece transfer state in the case where the first and second inspection rotating disks are arranged close to each other. FIG. 本発明の第4の実施の形態のワークの外観検査装置を示す平面図である。It is a top view which shows the external appearance inspection apparatus of the workpiece | work of the 4th Embodiment of this invention. 上記第4の実施の形態の第1の検査用回転ディスクから第2の検査用回転ディスクへの受け渡しの様子を示す平面図である。It is a top view which shows the mode of the delivery from the 1st test | inspection rotary disk of the said 4th Embodiment to the 2nd test | inspection rotary disk. 本発明の第1の実施の形態の搬送ラインの他の例を示す図であり、図17(a)はその平面図であり、図17(b)はその断面図である。It is a figure which shows the other example of the conveyance line of the 1st Embodiment of this invention, Fig.17 (a) is the top view, FIG.17 (b) is the sectional drawing. 第2の実施の形態において、撮像手段による撮像でワークの影になる状態を説明する図である。In 2nd Embodiment, it is a figure explaining the state used as the shadow of a workpiece | work by the imaging by an imaging means. 第4の実施の形態において、整列壁の先端側に形成された円弧状部分に沿ってワークが移送する状態を説明する図である。In 4th Embodiment, it is a figure explaining the state which a workpiece | work moves along the circular arc-shaped part formed in the front end side of the alignment wall.

符号の説明Explanation of symbols

1 ワーク整列供給部、
2 投入用回転ディスク 2a 底部、2c 凹状の内周面、
3 整列用回転ディスク、3a 移送路、3c 凹状の周壁、
5 受け渡し用回転ディスク、
6 搬出ライン、
7 第1の整列壁、
a1 第1の円弧状の整列壁、a2 第2の円弧状の整列壁、
8 第2の整列壁、8b 整列壁の先端、
9 直線状の整列壁、9b 整列壁の先端、
16 選別板、
17 エアーノズル、
21,41 ワーク検査部、
22 検査用回転ディスク(第1又は第2の検査用回転ディスク)、
22a,32a,42a,52a 移送路、
22c,32c,42c 吸引穴、
32,42 第1の検査用回転ディスク、
GT ガイド、
35 第2の検査用回転ディスク、35a 移送路、
62 第2の検査用回転ディスク、62a 移送路、
A,A1,A2 ワーク、A1 積み重ね状態のワーク、A2 せり出したワーク、
S1 第1のスライド部材,Sy キー溝、Sn1 調整ねじ、
S2 第2のスライド部材,Sx キー溝、Sn2 調整ねじ、
D1…D6 搬送用回転ディスク、D3,D6 最も排出側の搬送用回転ディスク、
H,H1…H4 移送路の幅間隔、H3,H4 最も狭い移送路の幅間隔、
Hc 段差
I,I2,I3 ワークの外観検査装置、
P1 投入用回転ディスクの凹状の内周面の上端部、
P2 整列用回転ディスクの凹状の周壁の上端部、
p1…p3 プーリ、
V1,V2 無端ベルト、
T 交差点
1 Work alignment supply unit,
2 Rotating disc for loading 2a Bottom portion, 2c Concave inner peripheral surface,
3 rotating disk for alignment, 3a transfer path, 3c concave peripheral wall,
5 Rotating disc for delivery,
6 Unloading line,
7 first alignment wall,
a1 first arcuate alignment wall, a2 second arcuate alignment wall,
8 second alignment wall, 8b tip of alignment wall,
9 linear alignment wall, 9b tip of alignment wall,
16 sorting plate,
17 Air nozzle,
21, 41 Work inspection part,
22 Inspection rotating disk (first or second inspection rotating disk),
22a, 32a, 42a, 52a transfer path,
22c, 32c, 42c suction holes,
32, 42 First inspection rotating disk,
GT guide,
35 second inspection rotating disk, 35a transfer path,
62 second rotating disk for inspection, 62a transfer path,
A, A1, A2 workpiece, A1 stacked workpiece, A2 protruding workpiece,
S1 first slide member, Sy keyway, Sn1 adjusting screw,
S2 second slide member, Sx keyway, Sn2 adjustment screw,
D1... D6 Transport rotary disk, D3 and D6 The most discharge side transport rotary disk,
H, H1... H4 width interval of transfer path, H3, H4 width interval of narrowest transfer path,
Hc steps I, I2, I3 Workpiece visual inspection device,
P1 The upper end of the concave inner peripheral surface of the rotating disk for loading,
P2 The upper end of the concave peripheral wall of the rotating disk for alignment,
p1 ... p3 pulley,
V1, V2 endless belt,
T intersection

Claims (7)

投入されたワークを整列させるワーク整列供給部と、整列供給部から供給されたワークを撮像手段により撮像するワーク検査部と、ワーク整列供給部とワーク検査部との間に配され整列状態のワークをワーク検査部に搬送する搬送ラインを備えたワークの外観検査装置において、
上記搬送ラインに、その上面でワークが搬送される搬送用回転ディスクが水平に配され、上記ワーク検査部に、その上面でワークが搬送される検査用回転ディスクが水平に配され、これらの回転ディスクは、駆動軸が上方に向けられた各駆動手段と連結されていることを特徴とするワークの外観検査装置。
A workpiece alignment supply unit that aligns the loaded workpieces, a workpiece inspection unit that images the workpieces supplied from the alignment supply unit by an imaging unit, and a workpiece that is arranged between the workpiece alignment supply unit and the workpiece inspection unit In the work visual inspection device equipped with a transport line that transports the work to the work inspection unit,
A rotating rotating disk for conveying a work on its upper surface is horizontally arranged on the conveying line, and an inspection rotating disk for conveying a work on its upper surface is horizontally arranged on the work inspection section, and these rotations are performed. An apparatus for inspecting the appearance of a workpiece, wherein the disk is connected to each drive means whose drive shaft is directed upward.
前記投入されたワークを整列させるワーク整列供給部は、投入されたワークを回転させる投入用回転ディスクと、周方向にワークの移送路を形成して回転する整列用回転ディスクとから構成され、いずれの回転ディスクも水平に配され、駆動軸が上方に向けられた各駆動手段と連結されていることを特徴とする請求項1記載のワークの外観検査装置。   The workpiece alignment supply unit for aligning the charged workpieces is composed of a rotating rotary disk for rotating the charged workpieces and an alignment rotary disk that rotates by forming a workpiece transfer path in the circumferential direction. 2. The work visual inspection apparatus according to claim 1, wherein said rotary disk is also arranged horizontally and is connected to each drive means whose drive shaft is directed upward. 前記検査用回転ディスクは、透明なガラス製であり、その上面で搬送されるワークを下面から撮像する撮像手段が検査用回転ディスクの所定箇所に配されていることを特徴とする請求項1記載のワークの外観検査装置。   2. The inspection rotating disk is made of transparent glass, and image pickup means for picking up an image of a work conveyed on the upper surface from the lower surface is arranged at a predetermined position of the inspection rotating disk. Equipment inspection equipment. 前記検査用回転ディスクの上面に、吸引穴が形成され、その下方側に配され所定長の吸引用スリットが形成されたサクションリングを介して吸引手段によりワークを吸引することを特徴とする請求項1記載のワークの外観検査装置。   2. The work is sucked by a suction means through a suction ring in which a suction hole is formed on an upper surface of the inspection rotating disk and a suction slit having a predetermined length is formed on a lower side thereof. The work visual inspection apparatus according to 1. 前記検査用回転ディスクの上面は、前記搬送用回転ディスクの上面よりも下方に配され、検査用回転ディスクの外周端側と前記搬送用回転ディスクの外周端側とが一部重なるように配されていることを特徴とする請求項1記載のワークの外観検査装置。   The upper surface of the inspection rotating disk is arranged below the upper surface of the conveying rotating disk, and the outer peripheral end side of the inspection rotating disk and the outer peripheral end side of the conveying rotating disk are arranged so as to partially overlap. The work visual inspection apparatus according to claim 1, wherein the work visual inspection apparatus is provided. 前記検査用回転ディスクの上面は、前記搬送用回転ディスクの上面と面一となるように近接配置されるとともに、搬送用回転ディスクから検査用回転ディスクに亘ってワークが案内されるガイドが配されていることを特徴とする請求項1記載のワークの外観検査装置。   The upper surface of the inspection rotating disk is disposed close to the upper surface of the conveying rotating disk, and a guide for guiding a work from the conveying rotating disk to the inspection rotating disk is disposed. The work visual inspection apparatus according to claim 1, wherein the work visual inspection apparatus is provided. 前記検査用回転ディスクに、送風手段からの圧縮空気が供給される送風通路が形成されていることを特徴とする請求項1記載のワークの外観検査装置。




The work visual inspection apparatus according to claim 1, wherein an air passage for supplying compressed air from an air blowing unit is formed in the inspection rotating disk.




JP2006290599A 2006-10-26 2006-10-26 Visual inspection device of workpiece Pending JP2008105811A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006290599A JP2008105811A (en) 2006-10-26 2006-10-26 Visual inspection device of workpiece

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006290599A JP2008105811A (en) 2006-10-26 2006-10-26 Visual inspection device of workpiece

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008105811A true JP2008105811A (en) 2008-05-08

Family

ID=39439495

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006290599A Pending JP2008105811A (en) 2006-10-26 2006-10-26 Visual inspection device of workpiece

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008105811A (en)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010216950A (en) * 2009-03-16 2010-09-30 Ishikawa Seisakusho Ltd Visual inspection device for component
JP2011133458A (en) * 2009-11-27 2011-07-07 Tokyo Weld Co Ltd Visual inspection device for workpiece, and visual inspection method for workpiece
JP2013023296A (en) * 2011-07-15 2013-02-04 Ishikawa Seisakusho Ltd Aligning and conveying device of workpiece and appearance inspection device of workpiece
JP2013047128A (en) * 2011-08-29 2013-03-07 Ishikawa Seisakusho Ltd Aligning and conveying device for workpiece
CN103204375A (en) * 2012-01-17 2013-07-17 东京威尔斯股份有限公司 Appearance inspection apparatus of workpiece and appearance inspection method of workpiece
JP5376386B1 (en) * 2012-12-04 2013-12-25 上野精機株式会社 Transfer equipment
WO2014087682A1 (en) * 2012-12-04 2014-06-12 上野精機株式会社 Transfer device
CN104597053A (en) * 2014-10-28 2015-05-06 北京鸿浩信达技术有限公司 Miniature workpiece surface defect and size out-of-tolerance automatic detector
JP2016027996A (en) * 2015-11-20 2016-02-25 株式会社石川製作所 Workpiece alignment transport device and workpiece appearance inspection device
JP2017114582A (en) * 2015-12-21 2017-06-29 株式会社村田製作所 Transport device, substrate, and manufacturing method of substrate
JP2017114583A (en) * 2015-12-21 2017-06-29 株式会社村田製作所 Transport device and substrate used in the same
US9926142B2 (en) 2015-07-10 2018-03-27 Seiko Epson Corporation Workpiece supplying device, picking device, timepiece assembling apparatus, and picking method
JP2020158258A (en) * 2019-03-27 2020-10-01 東レ・プレシジョン株式会社 Aligning device and aligning method

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010216950A (en) * 2009-03-16 2010-09-30 Ishikawa Seisakusho Ltd Visual inspection device for component
JP2011133458A (en) * 2009-11-27 2011-07-07 Tokyo Weld Co Ltd Visual inspection device for workpiece, and visual inspection method for workpiece
JP2013023296A (en) * 2011-07-15 2013-02-04 Ishikawa Seisakusho Ltd Aligning and conveying device of workpiece and appearance inspection device of workpiece
JP2013047128A (en) * 2011-08-29 2013-03-07 Ishikawa Seisakusho Ltd Aligning and conveying device for workpiece
KR101436449B1 (en) * 2012-01-17 2014-09-02 가부시키가이샤 도쿄 웰드 Apparatus and method of inspecting appearance of work
JP2013148362A (en) * 2012-01-17 2013-08-01 Tokyo Weld Co Ltd Device and method for inspecting appearance of work-piece
CN103204375A (en) * 2012-01-17 2013-07-17 东京威尔斯股份有限公司 Appearance inspection apparatus of workpiece and appearance inspection method of workpiece
JP5376386B1 (en) * 2012-12-04 2013-12-25 上野精機株式会社 Transfer equipment
WO2014087682A1 (en) * 2012-12-04 2014-06-12 上野精機株式会社 Transfer device
CN104768702A (en) * 2012-12-04 2015-07-08 上野精机株式会社 Transfer device
CN104597053A (en) * 2014-10-28 2015-05-06 北京鸿浩信达技术有限公司 Miniature workpiece surface defect and size out-of-tolerance automatic detector
US9926142B2 (en) 2015-07-10 2018-03-27 Seiko Epson Corporation Workpiece supplying device, picking device, timepiece assembling apparatus, and picking method
JP2016027996A (en) * 2015-11-20 2016-02-25 株式会社石川製作所 Workpiece alignment transport device and workpiece appearance inspection device
JP2017114582A (en) * 2015-12-21 2017-06-29 株式会社村田製作所 Transport device, substrate, and manufacturing method of substrate
JP2017114583A (en) * 2015-12-21 2017-06-29 株式会社村田製作所 Transport device and substrate used in the same
JP2020158258A (en) * 2019-03-27 2020-10-01 東レ・プレシジョン株式会社 Aligning device and aligning method
JP7327968B2 (en) 2019-03-27 2023-08-16 東レ・プレシジョン株式会社 Alignment device, alignment method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008105811A (en) Visual inspection device of workpiece
JP4388286B2 (en) Micro object inspection system
JP4039505B2 (en) Appearance inspection device
JP4241439B2 (en) Chip-type electronic component handling equipment
JP2007045597A (en) Chip component carrying device
KR101533976B1 (en) Feeder for Supplying Component with Directional Nature and Method for Supplying the Same
JP5183979B2 (en) Work inspection equipment
JP5106139B2 (en) Appearance inspection equipment for parts
JP4381356B2 (en) Work alignment device
JP2003275688A (en) Component inspection method, component feeder and component inspection device
JP2004026453A (en) Feeder for polyhedron inspection, and polyhedron inspection device
JP2007039142A (en) Conveying device and appearance inspection device
JP2004345859A (en) Chip part conveyance method, its device, appearance inspection method, and its device
JP3464990B2 (en) Small object inspection equipment
EP1411347B1 (en) Appearance inspection machine for flat tablets
JP4264155B2 (en) Small object appearance inspection device
JP5835244B2 (en) Work transfer device
JP5688710B2 (en) Fruit selection system
JP3553832B2 (en) Transfer device, inspection device and alignment supply device
JP6182996B2 (en) Conveying device and conveying rotor
JP2004010301A (en) Work carrier device and work carrying method
JP2004010254A (en) Conveying device
JP5688712B2 (en) Fruit selection system
JP2003246439A (en) Sealing material reversing apparatus and reversing method
JP2012225855A (en) Visual inspection device of minute workpiece