JP2007045597A - Chip component carrying device - Google Patents

Chip component carrying device Download PDF

Info

Publication number
JP2007045597A
JP2007045597A JP2005233147A JP2005233147A JP2007045597A JP 2007045597 A JP2007045597 A JP 2007045597A JP 2005233147 A JP2005233147 A JP 2005233147A JP 2005233147 A JP2005233147 A JP 2005233147A JP 2007045597 A JP2007045597 A JP 2007045597A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip component
transport
chip
compressed air
ejection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005233147A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4586673B2 (en
Inventor
Noboru Kato
登 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2005233147A priority Critical patent/JP4586673B2/en
Publication of JP2007045597A publication Critical patent/JP2007045597A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4586673B2 publication Critical patent/JP4586673B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Specific Conveyance Elements (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a chip component carrying device capable of picking out carried chip components in a stable attitude. <P>SOLUTION: The chip component carrying device 12 comprises a carrying table 30 and a disc-like turntable 32. The turntable 32 has a plurality of cavity portions 34 arranged circularly side by side where the chip components 20 are sucked and held. By rotating the turn table 32, the chip components 20 are carried so as to draw a circular track where the chip components 20 are picked out of the cavity portions 34 by a chip component pick-out portion. With compressed air blown out of blow holes 46 formed in the carrying table 30, the chip component pick-out portion picks the chip components 20 out of the cavity portions 34. The plurality of blow holes 46 are formed in one cavity portion 34, and the blow holes 46 are arranged on both sides of a gravity center travel line 48 along which the gravity centers of the chip components 20 travel. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

この発明は、チップ部品搬送装置に関し、特にたとえば、チップ型コンデンサなどのチップ部品を個別に搬送するためのチップ部品搬送装置に関する。   The present invention relates to a chip component transport device, and more particularly to a chip component transport device for individually transporting chip components such as chip capacitors.

図11は、従来のチップ部品搬送装置を示す図解図である。チップ部品搬送装置1は、円盤状のターンテーブル2を含む。ターンテーブル2には、同心円状に複数のキャビティ2aが形成される。キャビティ2aには、パーツフィーダ3などによってチップ部品が供給され、ターンテーブル2が回転することにより、チップ部品が搬送される。チップ部品の移動経路において、測定器4によってチップ部品の特性が測定される。そして、取出部6において、測定された特性により、たとえば良品と不良品に分類されて、チップ部品が取り出される(特許文献1参照)。   FIG. 11 is an illustrative view showing a conventional chip component conveying apparatus. The chip part conveying apparatus 1 includes a disk-shaped turntable 2. The turntable 2 is formed with a plurality of cavities 2a concentrically. Chip components are supplied to the cavity 2a by the parts feeder 3 or the like, and the turntable 2 rotates to convey the chip components. The characteristic of the chip part is measured by the measuring device 4 in the movement path of the chip part. And in the extraction part 6, according to the measured characteristic, it classify | categorizes into a non-defective product and a defective product, for example, and chip components are taken out (refer patent document 1).

ターンテーブル2は、図12および図13に示すように、ガイド板5の主面に対向するように設けられ、ガイド板5上で回転するように形成される。ガイド板5には、リング状の吸引溝6が形成され、吸引溝6を介して、キャビティ2aに収納されたチップ部品7が吸引保持される。この状態でターンテーブル2が回転し、チップ部品7がガイド板5上を滑るようにして搬送される。取出部において、ガイド板5には、ターンテーブル2のキャビティ2aに対応する位置に噴出孔8が形成される。この噴出孔8からキャビティ2aに収納されたチップ部品7に向かって圧縮空気を噴出させることにより、チップ部品7がキャビティ2aから取り出される。取出部においては、ターンテーブル2を挟んで、噴出孔8に対向する位置にホース9が配置される。このホース9により、キャビティ2aから飛び出したチップ部品が所定の場所に導かれる。   As shown in FIGS. 12 and 13, the turntable 2 is provided to face the main surface of the guide plate 5 and is formed to rotate on the guide plate 5. A ring-shaped suction groove 6 is formed in the guide plate 5, and the chip component 7 housed in the cavity 2 a is sucked and held via the suction groove 6. In this state, the turntable 2 rotates, and the chip component 7 is conveyed so as to slide on the guide plate 5. In the take-out portion, the guide plate 5 is formed with an ejection hole 8 at a position corresponding to the cavity 2 a of the turntable 2. The chip component 7 is taken out from the cavity 2a by ejecting compressed air from the ejection hole 8 toward the chip component 7 accommodated in the cavity 2a. In the take-out portion, a hose 9 is disposed at a position facing the ejection hole 8 with the turntable 2 interposed therebetween. By this hose 9, the chip component that has jumped out of the cavity 2a is guided to a predetermined location.

取り出したチップ部品がホース9の中に滞留しないように、圧縮空気の圧力や流量などが調整される。一般的に、チップ部品のサイズが小さい場合には、圧縮空気の圧力を低く、流量を少なくし、チップ部品のサイズが大きい場合には、圧縮空気の圧力を高く、流量を多くして、最適取出し条件を設定している。このように、圧縮空気の調整を行うことにより、チップ部品の回転が少なく、安定した姿勢で取り出せるようにしている。このような圧縮空気の調整を行うために、圧縮空気回路へのレギュレータ取付けによる圧力調整、流量調整バルブによる流量調整が行われている。   The pressure, flow rate, etc. of the compressed air are adjusted so that the extracted chip parts do not stay in the hose 9. In general, when the size of the chip component is small, the pressure of compressed air is low and the flow rate is low, and when the size of the chip component is large, the pressure of compressed air is high and the flow rate is high, so The extraction condition is set. In this way, by adjusting the compressed air, the chip component is rotated less and can be taken out in a stable posture. In order to adjust such compressed air, pressure adjustment by attaching a regulator to the compressed air circuit and flow rate adjustment by a flow rate adjustment valve are performed.

特開2002−29627号公報JP 2002-29627 A

しかしながら、このような従来のチップ部品搬送装置では、チップ部品のサイズが大きくなるにしたがって、噴出孔の孔径も大きくしなければ、チップ部品の重心に対して取り出す力にモーメントが生じ、チップ部品の姿勢が不安定となって、ホース内などの取出し経路において滞留が発生する。また、チップ部品のサイズが噴出孔の孔径に比べて小さい場合には、噴出孔にチップ部品が潜り込み、チップ部品に傷不良が発生する。最悪の場合、噴出孔に引っ掛かったチップ部品によって、ターンテーブルまで破損する恐れがある。   However, in such a conventional chip component transport device, if the hole diameter of the ejection hole is not increased as the size of the chip component is increased, a moment is generated in the force to be taken out with respect to the center of gravity of the chip component. The posture becomes unstable and stagnation occurs in the take-out path such as in the hose. Further, when the size of the chip part is smaller than the diameter of the ejection hole, the chip part enters the ejection hole, and the chip part is defective. In the worst case, the turntable may be damaged by the chip part caught in the ejection hole.

それゆえに、この発明の主たる目的は、搬送されてきたチップ部品を安定した姿勢で取り出すことができるチップ部品搬送装置を提供することである。   Therefore, a main object of the present invention is to provide a chip component transport apparatus that can take out a chip component that has been transported in a stable posture.

この発明は、チップ部品を搬送するための搬送面を有する搬送テーブルと、搬送テーブルの搬送面に対向して設けられる板状の搬送媒体と、搬送媒体の両主面に貫通するように形成されるチップ部品を収納するためのキャビティ部と、搬送媒体を搬送テーブルの搬送面に沿って移動させる駆動手段と、キャビティ部に収納されたチップ部品の重心が移動する重心移動ラインの両側に配置されるようにして搬送テーブルに形成され、チップ部品に向かって圧縮空気を噴出するための複数の噴出孔と、噴出孔から噴出する圧縮空気の流量、圧力および噴出時間を制御するための圧縮空気噴出機構とを含む、チップ部品搬送装置である。
また、この発明は、チップ部品を搬送するための搬送面を有する搬送テーブルと、搬送テーブルの搬送面に対向して設けられる板状の搬送媒体と、搬送テーブル側に底面を有しかつ搬送媒体の主面に開口するように形成されるチップ部品を収納するためのキャビティ部と、搬送媒体を搬送テーブルの搬送面に沿って移動させる駆動手段と、キャビティ部に収納されたチップ部品の重心が移動する重心移動ラインの両側に配置されるようにしてキャビティ部の底面に形成され、チップ部品に向かって圧縮空気を噴出するための複数の噴出孔と、キャビティ部の移動経路に沿って搬送テーブルの所定の位置に形成される噴出孔に圧縮空気を供給するための供給口と、供給口から噴出孔に圧縮空気を供給するために搬送テーブルに形成される供給経路と、噴出孔から噴出する圧縮空気の流量、圧力および噴出時間を制御するための圧縮空気噴出機構とを含む、チップ部品搬送装置である。
これらのチップ部品搬送装置において、複数の噴出孔を結ぶ線の中点は、前記重心移動ライン上にあることが好ましい。
さらに、複数の噴出孔の位置は、前記重心移動ラインを挟んで線対称であることが好ましい。
また、搬送媒体としては、同心円状にキャビティ部が形成された円盤とすることができる。
さらに、搬送媒体が上面となるようにして、水平面に対して搬送媒体の主面が45°〜90°の範囲で傾斜して設置されることが好ましい。
また、搬送媒体を挟んで噴出孔と対向する位置に、チップ部品を回収するためのホースを設置することができる。
The present invention is formed so as to penetrate through both a main surface of a transport table having a transport surface for transporting chip components, a plate-shaped transport medium provided opposite to the transport surface of the transport table, and the transport medium. Cavity part for storing chip parts to be stored, driving means for moving the transport medium along the transport surface of the transport table, and the center of gravity movement line for moving the center of gravity of the chip parts stored in the cavity part. And a plurality of ejection holes for ejecting compressed air toward the chip component, and a compressed air ejection for controlling the flow rate, pressure and ejection time of the compressed air ejected from the ejection holes. A chip component conveying device including a mechanism.
The present invention also provides a transport table having a transport surface for transporting chip components, a plate-shaped transport medium provided opposite the transport surface of the transport table, and a transport medium having a bottom surface on the transport table side. The cavity part for storing the chip parts formed so as to open in the main surface of the substrate, the drive means for moving the conveyance medium along the conveyance surface of the conveyance table, and the center of gravity of the chip parts accommodated in the cavity part are A plurality of ejection holes formed on the bottom surface of the cavity portion so as to be arranged on both sides of the moving center-of-gravity movement line, and for ejecting compressed air toward the chip component, and a transfer table along the movement path of the cavity portion A supply port for supplying compressed air to the ejection holes formed at predetermined positions, and a supply path formed on the transport table for supplying compressed air from the supply ports to the ejection holes. When the flow rate of the compressed air ejected from the ejection hole, and a compressed air jet mechanisms for controlling the pressure and jetting time, a chip component transporting device.
In these chip component conveying apparatuses, it is preferable that the midpoint of the line connecting the plurality of ejection holes is on the barycentric movement line.
Furthermore, it is preferable that the positions of the plurality of ejection holes are line symmetric with respect to the center-of-gravity movement line.
Moreover, as a conveyance medium, it can be set as the disk in which the cavity part was formed concentrically.
Further, it is preferable that the main surface of the carrier medium is inclined with respect to the horizontal plane in a range of 45 ° to 90 ° so that the carrier medium becomes the upper surface.
Further, a hose for collecting the chip components can be installed at a position facing the ejection hole with the carrier medium interposed therebetween.

搬送媒体のキャビティ部に収納されたチップ部品が搬送され、噴出孔からチップ部品に向かって圧縮空気を噴出させることにより、キャビティ部からチップ部品が取り出される。このとき、圧縮空気を噴出する複数の噴出孔が、チップ部品の重心が移動する重心移動ラインの両側に配置されることにより、チップ部品の重心の両側に押し出し力が働くため、チップ部品が安定した姿勢でキャビティ部から取り出される。さらに、良好な姿勢でチップ部品を取り出すために、圧縮空気の流量、圧力、噴出時間が最適条件となるように制御される。
このようなチップ部品搬送装置において、キャビティ部は、搬送媒体の両面に貫通するように形成されていてもよいし、搬送テーブル側に底面を有しかつ搬送媒体の主面に開口するように形成されていてもよい。搬送テーブル側に底面を有するキャビティ部が形成されている場合、チップ部品の搬送時に、チップ部品と搬送テーブルとが擦れ合わず、チップ部品の破損が防止される。
また、複数の噴出孔を結ぶ線の中点が、チップ部品の重心移動ライン上にあることによって、チップ部品が回転せずに押し出される。
特に、複数の噴出孔が、チップ部品の重心移動ラインを挟んで線対称となるように配置されているときに、安定した姿勢でチップ部品が押し出される。
また、搬送媒体を同心円状にキャビティ部を形成した円盤状とすることにより、少ないスペースで効率よくチップ部品の回収、取入れが可能となる。
さらに、搬送媒体を傾斜させることにより、キャビティ部内のチップ部品が傾斜した状態で保持されるため、搬送による振動などがあっても、チップ部品がキャビティ部から脱落しにくい。
また、搬送媒体を挟んで噴出孔と対向する位置にホースを設けることにより、回収したチップ部品を任意の場所に誘導することができ、チップ部品の回収後のテーピングなどが容易となる。
The chip component housed in the cavity portion of the transport medium is transported, and the chip component is taken out from the cavity portion by ejecting compressed air from the ejection hole toward the chip component. At this time, a plurality of ejection holes for ejecting compressed air are arranged on both sides of the center of gravity movement line where the center of gravity of the chip component moves, so that an extrusion force acts on both sides of the center of gravity of the chip component, thereby stabilizing the chip component. It is taken out from the cavity part with the posture. Furthermore, in order to take out the chip components in a good posture, the flow rate, pressure, and ejection time of the compressed air are controlled to be optimum conditions.
In such a chip component transport apparatus, the cavity portion may be formed so as to penetrate both sides of the transport medium, or formed so as to have a bottom surface on the transport table side and open to the main surface of the transport medium. May be. When the cavity part which has a bottom face is formed in the conveyance table side, at the time of conveyance of a chip component, a chip component and a conveyance table do not rub, and damage to a chip component is prevented.
Further, since the midpoint of the line connecting the plurality of ejection holes is on the center-of-gravity movement line of the chip part, the chip part is pushed out without rotating.
In particular, when the plurality of ejection holes are arranged so as to be line-symmetric with respect to the center-of-gravity movement line of the chip part, the chip part is pushed out in a stable posture.
Further, by making the carrier medium into a disk shape having concentric cavities, the chip parts can be efficiently collected and taken in a small space.
Furthermore, since the chip component in the cavity portion is held in an inclined state by inclining the carrier medium, the chip component is not easily dropped from the cavity portion even if there is vibration due to the conveyance.
Further, by providing a hose at a position facing the ejection hole with the conveyance medium in between, the collected chip component can be guided to an arbitrary place, and taping after collecting the chip component becomes easy.

この発明によれば、搬送媒体で搬送されてきたチップ部品を安定した姿勢で取り出すことができ、回収用のホースなどにチップ部品が滞留することが防止される。   According to the present invention, it is possible to take out the chip component conveyed by the conveyance medium in a stable posture, and the chip component is prevented from staying in a collecting hose or the like.

この発明の上述の目的,その他の目的,特徴および利点は、図面を参照して行う以下の発明を実施するための最良の形態の説明から一層明らかとなろう。   The above object, other objects, features, and advantages of the present invention will become more apparent from the following description of the best mode for carrying out the invention with reference to the drawings.

図1は、この発明のチップ部品搬送装置を用いたチップ部品検査装置の一例を示す図解図である。チップ部品検査装置10は、チップ部品搬送装置12を含む。さらに、チップ部品検査装置10には、チップ部品供給部14が設けられ、チップ部品搬送装置12にチップ部品が供給される。チップ部品搬送装置12で搬送されるチップ部品は、搬送途中に設けられた測定装置16まで搬送され、複数の特性が測定される。特性が測定されたチップ部品は、チップ部品取出し部18で回収される。このとき、特性の測定結果によって、たとえば良品と不良品などのように分類されて、チップ部品が回収される。   FIG. 1 is an illustrative view showing an example of a chip part inspection apparatus using the chip part conveying apparatus of the present invention. The chip part inspection apparatus 10 includes a chip part conveying apparatus 12. Further, the chip component inspection device 10 is provided with a chip component supply unit 14, and the chip components are supplied to the chip component transport device 12. The chip component conveyed by the chip component conveying device 12 is conveyed to a measuring device 16 provided in the middle of conveyance, and a plurality of characteristics are measured. The chip component whose characteristics have been measured is collected by the chip component take-out unit 18. At this time, according to the measurement result of the characteristics, for example, it is classified as a good product and a defective product, and the chip parts are collected.

チップ部品検査装置10で検査されるチップ部品20は、図2に示すように、たとえば矩形の基体22の両端に外部電極24が形成されたものである。このようなチップ部品20の例としては、たとえばチップ型コンデンサなどがあるが、それに限られず、チップ型の部品であれば何でもよい。   As shown in FIG. 2, the chip component 20 to be inspected by the chip component inspection apparatus 10 is one in which external electrodes 24 are formed at both ends of a rectangular base body 22, for example. Examples of such a chip component 20 include a chip-type capacitor, but are not limited thereto, and any chip-type component may be used.

チップ部品搬送装置12は、図3および図4に示すように、板状の搬送テーブル30を含む。搬送テーブル30の一方主面は、チップ部品20を搬送するための搬送面30aとして用いられる。搬送テーブル30の搬送面30a上には、搬送媒体としてのターンテーブル32が載置される。ターンテーブル32は円盤状に形成され、その中心点に対して同心円状に複数のキャビティ部34が形成される。キャビティ部34は、ターンテーブル32の両主面を貫通するようにして、四角形状に形成される。なお、図3においては、キャビティ部34は、円形に並べられた1列のみを示してあるが、実際には、図1に示すように、同心円状に複数列のキャビティ部34が形成される。   As shown in FIGS. 3 and 4, the chip component transport device 12 includes a plate-shaped transport table 30. One main surface of the transfer table 30 is used as a transfer surface 30 a for transferring the chip component 20. A turntable 32 as a transport medium is placed on the transport surface 30 a of the transport table 30. The turntable 32 is formed in a disc shape, and a plurality of cavity portions 34 are formed concentrically with respect to the center point. The cavity 34 is formed in a quadrangular shape so as to penetrate both main surfaces of the turntable 32. In FIG. 3, only one row of the cavity portions 34 arranged in a circle is shown, but actually, a plurality of rows of cavity portions 34 are formed concentrically as shown in FIG. 1. .

ターンテーブル32の中央部には、図4に示すように、回転軸36が取り付けられる。回転軸36は、搬送テーブル30を貫通するようにして駆動装置38に連結される。この駆動装置38によって、ターンテーブル32は、搬送テーブル30の搬送面30a上を滑るようにして回転する。   As shown in FIG. 4, a rotation shaft 36 is attached to the center portion of the turntable 32. The rotary shaft 36 is coupled to the drive device 38 so as to penetrate the transport table 30. By this driving device 38, the turntable 32 rotates so as to slide on the conveyance surface 30 a of the conveyance table 30.

また、ターンテーブル32の搬送面30a側には、キャビティ部34に連なる裏堀り溝40が形成される。裏掘り溝34は、同心円状のキャビティ部34の外周側において、それぞれのキャビティ部34の一端側に形成される。さらに、搬送テーブル30の搬送面30a側には、1列のターンテーブル32の裏掘り溝40を連結するようにして、リング状の吸引溝42が形成される。したがって、円形に配置された1列のキャビティ部34が、1つの吸引溝42で連結される。吸引溝42の対向する2箇所には、吸引孔44が形成される。吸引孔44は、たとえば真空ポンプなどに連結される。それにより、キャビティ部34内に振り込まれたチップ部品20が、裏掘り溝40側に吸引されて保持される。   Further, on the side of the conveyance surface 30 a of the turntable 32, a back digging groove 40 that is continuous with the cavity portion 34 is formed. The back digging groove 34 is formed on one end side of each cavity portion 34 on the outer peripheral side of the concentric cavity portion 34. Further, a ring-shaped suction groove 42 is formed on the conveyance surface 30 a side of the conveyance table 30 so as to connect the back digging grooves 40 of one row of turntables 32. Accordingly, a single row of cavity portions 34 arranged in a circle are connected by one suction groove 42. At two opposite positions of the suction groove 42, suction holes 44 are formed. The suction hole 44 is connected to, for example, a vacuum pump. Thereby, the chip component 20 transferred into the cavity portion 34 is sucked and held on the back digging groove 40 side.

さらに、チップ部品取出し部18において、搬送テーブル30の所定の位置に、圧縮空気を噴出するための噴出孔46が形成される。噴出孔46は、複数のキャビティ部34に対応する間隔で形成される。そして、1つのキャビティ部34に対応して、たとえば2つの噴出孔46が形成される。この2つの噴出孔46は、キャビティ部34に吸引保持されたチップ部品20の重心が移動する重心移動ライン48の両側に配置される。つまり、ターンテーブル32が回転することによって、キャビティ部34に吸引保持されたチップ部品20の重心は円形の軌道を描いて移動するが、この円形の軌道の両側に2つの噴出孔46が配置される。   Further, in the chip component take-out unit 18, an ejection hole 46 for ejecting compressed air is formed at a predetermined position of the transport table 30. The ejection holes 46 are formed at intervals corresponding to the plurality of cavity portions 34. For example, two ejection holes 46 are formed corresponding to one cavity portion 34. The two ejection holes 46 are arranged on both sides of a center-of-gravity movement line 48 in which the center of gravity of the chip component 20 sucked and held in the cavity portion 34 moves. That is, as the turntable 32 rotates, the center of gravity of the chip component 20 sucked and held in the cavity portion 34 moves in a circular orbit, and two ejection holes 46 are arranged on both sides of the circular orbit. The

ここで、1つのキャビティ部34に対応して形成される2つの噴出孔46を結ぶ線の中点は、図5(A)(B)(C)に示すように、チップ部品20の重心移動ライン48上に配置される。特に、2つの噴出孔46は、チップ部品20の重心移動ライン48に対して線対称となるように配置されることが好ましい。これらの噴出孔46は、たとえば空気圧縮機などに連結され、噴出孔46からキャビティ部34に向かって圧縮空気が噴出される。このとき、圧縮空気噴出機構(図示せず)によって、キャビティ部34に保持されるチップ部品20の大きさなどに対応して、噴出孔46から噴出する圧縮空気の流量、圧力、噴出時間などが制御される。   Here, the midpoint of the line connecting the two ejection holes 46 formed corresponding to one cavity 34 is the center of gravity movement of the chip component 20 as shown in FIGS. 5 (A), (B), and (C). Located on line 48. In particular, the two ejection holes 46 are preferably arranged so as to be line-symmetric with respect to the center-of-gravity movement line 48 of the chip component 20. These ejection holes 46 are connected to an air compressor, for example, and compressed air is ejected from the ejection holes 46 toward the cavity portion 34. At this time, the flow rate, pressure, ejection time, and the like of the compressed air ejected from the ejection hole 46 in accordance with the size of the chip component 20 held in the cavity 34 by the compressed air ejection mechanism (not shown). Be controlled.

また、チップ部品取出し部18において、ターンテーブル32を挟んで噴出孔46と対向する位置に、チップ部品20を回収するためのホース50が取り付けられる。噴出孔46は、複数のキャビティ部34に対応する間隔で形成されているため、それに対応して複数のホース50が配置される。これらのホース50は、チップ部品20を分類するための複数の場所に導かれる。ホース50によってチップ部品20が所定の場所に分類されるため、チップ部品20の回収後におけるテーピングなどが容易となる。   Further, a hose 50 for collecting the chip component 20 is attached to a position facing the ejection hole 46 across the turntable 32 in the chip component extraction unit 18. Since the ejection holes 46 are formed at intervals corresponding to the plurality of cavities 34, a plurality of hoses 50 are arranged correspondingly. These hoses 50 are led to a plurality of places for classifying the chip components 20. Since the chip component 20 is classified into a predetermined place by the hose 50, taping after the chip component 20 is collected becomes easy.

このチップ部品検査装置10では、チップ部品供給部14において、チップ部品20がターンテーブル32のキャビティ部34に振り込まれる。このとき、図4に示すように、外部電極24がターンテーブル32の厚み方向に配置されるようにして、チップ部品20がキャビティ部34に振り込まれる。キャビティ部34に振り込まれたチップ部品20は、搬送テーブル30の吸引溝42、吸引孔44およびターンテーブル32の裏掘り溝40を介して、キャビティ部34内に吸引保持される。したがって、チップ部品20は、裏掘り溝40が形成された側、つまりキャビティ部34の一定の位置に保持される。   In the chip component inspection apparatus 10, the chip component 20 is transferred into the cavity portion 34 of the turntable 32 in the chip component supply unit 14. At this time, as shown in FIG. 4, the chip component 20 is transferred into the cavity 34 so that the external electrode 24 is arranged in the thickness direction of the turntable 32. The chip component 20 transferred to the cavity part 34 is sucked and held in the cavity part 34 through the suction groove 42, the suction hole 44 of the transfer table 30 and the back digging groove 40 of the turntable 32. Therefore, the chip component 20 is held on the side where the back digging groove 40 is formed, that is, at a certain position of the cavity portion 34.

チップ部品20が保持された状態でターンテーブル32が回転することにより、チップ部品20が円形軌道を描きながら搬送される。ターンテーブル32は、たとえば周方向に隣接するキャビティ部34の間隔で間歇回転することにより、測定装置16部分でチップ部品20が一時停止する。そして、測定装置16によって、チップ部品20の特性が測定される。   When the turntable 32 rotates while the chip component 20 is held, the chip component 20 is conveyed while drawing a circular path. The turntable 32 is intermittently rotated at intervals of the cavity portions 34 adjacent to each other in the circumferential direction, for example, so that the chip component 20 is temporarily stopped at the measurement device 16 portion. Then, the characteristic of the chip component 20 is measured by the measuring device 16.

測定装置16で特性が測定されたチップ部品は、ターンテーブル32の回転によって、チップ部品取出し部18まで搬送される。チップ部品取出し部18では、噴出孔46から圧縮空気を噴出することにより、チップ部品20がキャビティ部34から飛び出し、ホース50で所定の場所に集められる。このとき、チップ部品20の特性の測定結果により、ターンテーブル32の周方向において、圧縮空気を噴出するキャビティ部34の位置が選択される。そして、選択された位置において、噴出孔46からキャビティ部34内のチップ部品20に向かって圧縮空気を噴出させることにより、たとえば良品と不良品とに分類されて、チップ部品20が取り出される。なお、噴出孔46から圧縮空気を噴出するときにも、吸引溝42には吸引がかけられている。   The chip component whose characteristics are measured by the measuring device 16 is conveyed to the chip component take-out unit 18 by the rotation of the turntable 32. In the chip part taking-out part 18, the chip part 20 is ejected from the cavity part 34 by ejecting compressed air from the ejection hole 46, and collected at a predetermined place by the hose 50. At this time, the position of the cavity portion 34 that ejects the compressed air is selected in the circumferential direction of the turntable 32 based on the measurement result of the characteristics of the chip component 20. Then, at a selected position, the compressed air is ejected from the ejection hole 46 toward the chip component 20 in the cavity portion 34, for example, to be classified into a non-defective product and a defective product, and the chip component 20 is taken out. Note that suction is also applied to the suction groove 42 when compressed air is ejected from the ejection holes 46.

チップ部品20を取り出すときに、噴出孔46から圧縮空気が噴出されるが、噴出孔46は、チップ部品20の重心移動ライン48の両側に配置されているため、チップ部品20にモーメントが生じたりしない。そのため、チップ部品20が回転することなく、安定した姿勢でホース50に飛び込み、ホース50内にチップ部品20が滞留することが防止される。特に、2つの噴出孔46を結ぶ線の中点が、チップ部品20の重心移動ライン48上にあるとき、安定した姿勢でチップ部品20を取り出すことができる。また、2つの噴出孔46が、チップ部品20の重心移動ライン48に対して線対称に配置されているとき、さらに安定した姿勢でチップ部品20を取り出すことができる。   When the chip component 20 is taken out, compressed air is ejected from the ejection holes 46. However, since the ejection holes 46 are arranged on both sides of the center of gravity moving line 48 of the chip component 20, a moment is generated in the chip component 20. do not do. For this reason, the chip component 20 is prevented from rotating into the hose 50 in a stable posture, and the chip component 20 is prevented from staying in the hose 50. In particular, when the midpoint of the line connecting the two ejection holes 46 is on the center-of-gravity movement line 48 of the chip component 20, the chip component 20 can be taken out in a stable posture. Further, when the two ejection holes 46 are arranged in line symmetry with respect to the center-of-gravity movement line 48 of the chip component 20, the chip component 20 can be taken out in a more stable posture.

このように、このチップ部品搬送装置12を用いることにより、チップ部品20を安定した姿勢で取り出すことができ、ホース50内におけるチップ部品20の滞留を防止することができるため、チップ部品20の検査、分類作業を滞ることなく行うことができる。また、このチップ部品搬送装置12では、1つのキャビティ部34に対して、圧縮空気を噴出するための噴出孔46の数が多いため、圧縮空気の管路抵抗が小さくなり、高速取出しが可能となり、装置全体の能力アップを図ることができる。   Thus, by using this chip component conveying device 12, the chip component 20 can be taken out in a stable posture, and the retention of the chip component 20 in the hose 50 can be prevented. , Classification work can be done without delay. Further, in this chip component conveying device 12, since the number of the ejection holes 46 for ejecting the compressed air is large with respect to one cavity portion 34, the pipe resistance of the compressed air is reduced, and high speed removal is possible. Therefore, the capacity of the entire apparatus can be increased.

なお、図6に示すように、キャビティ部34に底面52が形成されてもよい。底面52は、搬送テーブル30の搬送面30a側に形成される。この底面52には、たとえば2つの噴出孔54が形成される。噴出孔54は、図5(A)(B)(C)に示すように、キャビティ部34内に保持されたチップ部品20の重心移動ラインの両側に配置される。また、裏掘り溝40は、円形に配置された底面52の外周側に形成され、搬送テーブル30に形成された吸引溝42に連結される。   As shown in FIG. 6, the bottom surface 52 may be formed in the cavity portion 34. The bottom surface 52 is formed on the conveyance surface 30 a side of the conveyance table 30. For example, two ejection holes 54 are formed in the bottom surface 52. As shown in FIGS. 5A, 5 </ b> B, and 5 </ b> C, the ejection holes 54 are disposed on both sides of the center-of-gravity movement line of the chip component 20 held in the cavity portion 34. Further, the back digging groove 40 is formed on the outer peripheral side of the bottom surface 52 arranged in a circle, and is connected to the suction groove 42 formed in the transport table 30.

チップ部品取出し部18においては、ターンテーブル32の底面52に形成された噴出孔54に対応して、搬送テーブル30に圧縮空気を供給するための供給口56が形成される。供給口56に圧縮空気を送るために、搬送テーブル30には供給経路58が形成される。これらの供給口56および供給経路58は、複数のキャビティ部34に対応する間隔で形成される。   In the chip component take-out unit 18, a supply port 56 for supplying compressed air to the transport table 30 is formed corresponding to the ejection hole 54 formed in the bottom surface 52 of the turntable 32. In order to send compressed air to the supply port 56, a supply path 58 is formed in the transfer table 30. The supply port 56 and the supply path 58 are formed at intervals corresponding to the plurality of cavity portions 34.

このようなチップ部品搬送装置12では、チップ部品20を搬送する際に、チップ部品20が底面52上に保持されながら移動するため、ターンテーブル32が回転しても、チップ部品20が搬送テーブル30の搬送面30aと擦れ合わない。また、搬送されているチップ部品20が、搬送テーブル30に形成された供給口56に引っ掛かることもない。したがって、このチップ部品搬送装置12を用いれば、チップ部品20の破損の可能性を少なくすることができる。   In such a chip component transport device 12, when the chip component 20 is transported, the chip component 20 moves while being held on the bottom surface 52, so that even if the turntable 32 rotates, the chip component 20 is transported by the transport table 30. It does not rub against the transport surface 30a. Further, the chip component 20 being transported is not caught by the supply port 56 formed in the transport table 30. Therefore, if this chip component transport device 12 is used, the possibility of breakage of the chip component 20 can be reduced.

なお、チップ部品20の大きさが変わった場合には、キャビティ部34にチップ部品が入らなくなったり、キャビティ部34内におけるチップ部品20の重心位置が変わって、重心移動ライン48の位置が変わったりする。そのため、異なる大きさのチップ部品20を搬送する際には、図7に示すように、キャビティ部34の位置および大きさを変えたターンテーブル32に変更される。このターンテーブル32においては、チップ部品20の大きさに合わせてキャビティ部34の大きさが設定され、チップ部品20の重心移動ライン48の両側に噴出孔46または供給口56が配置される位置にキャビティ部34が形成される。このように、ターンテーブル32を変えることによって、複数の種類のチップ部品20に対応することができる。   When the size of the chip component 20 changes, the chip component does not enter the cavity part 34, or the position of the center of gravity of the chip part 20 in the cavity part 34 changes, and the position of the center of gravity moving line 48 changes. To do. Therefore, when the chip component 20 having a different size is transported, as shown in FIG. 7, it is changed to a turntable 32 in which the position and size of the cavity portion 34 are changed. In the turntable 32, the size of the cavity portion 34 is set in accordance with the size of the chip component 20, and the ejection holes 46 or the supply ports 56 are arranged on both sides of the center-of-gravity movement line 48 of the chip component 20. A cavity portion 34 is formed. Thus, by changing the turntable 32, it is possible to deal with a plurality of types of chip components 20.

また、キャビティ部34としては、図8に示すように、ターンテーブル32の外周部に向かって開く形状であってもよい。このような場合であっても、チップ部品20を吸引するための裏掘り溝40の位置を調整することにより、ターンテーブル32の外周側にチップ部品20がこぼれることを防止することができる。   Moreover, as the cavity part 34, the shape opened toward the outer peripheral part of the turntable 32 may be sufficient as shown in FIG. Even in such a case, the chip component 20 can be prevented from spilling on the outer peripheral side of the turntable 32 by adjusting the position of the back digging groove 40 for sucking the chip component 20.

さらに、搬送テーブル30およびターンテーブル32は、図9に示すように、水平面に対して45°〜90°の角度に形成されることが好ましい。このとき、ターンテーブル32が上側となるようにして、キャビティ部34が上側に向かって開口するように配置される。このような配置とすることにより、搬送による振動があっても、キャビティ部34に保持したチップ部品20がこぼれにくくなる。   Furthermore, as shown in FIG. 9, the transport table 30 and the turntable 32 are preferably formed at an angle of 45 ° to 90 ° with respect to the horizontal plane. At this time, the turntable 32 is arranged on the upper side, and the cavity portion 34 is arranged so as to open upward. With such an arrangement, the chip component 20 held in the cavity 34 is not easily spilled even if there is vibration due to conveyance.

また、搬送媒体としては、円盤状のターンテーブルに限らず、図10に示すように、帯状の搬送ベルト60としてもよい。この場合、搬送テーブル62も、搬送ベルト60の内側に接する円環状に形成される。搬送ベルト60には、複数のキャビティ部34が形成され、このキャビティ部34にチップ部品20が吸引保持される。そして、搬送テーブル62の周囲に搬送ベルト60を周回させることによって、チップ部品20が搬送される。   Further, the conveyance medium is not limited to the disk-shaped turntable, and may be a belt-shaped conveyance belt 60 as shown in FIG. In this case, the transport table 62 is also formed in an annular shape that contacts the inside of the transport belt 60. A plurality of cavities 34 are formed in the transport belt 60, and the chip component 20 is sucked and held in the cavities 34. Then, the chip component 20 is transported by rotating the transport belt 60 around the transport table 62.

このようなチップ部品搬送装置12においても、チップ部品取出し部において、チップ部品20の重心移動ラインの両側に配置された噴出孔から圧縮空気を噴出させることにより、安定した姿勢でチップ部品20を取り出すことができる。したがって、チップ部品20がホース内に滞留したりすることがなく、チップ部品20の検査、分類作業を滞ることなく行うことができる。   Also in such a chip component conveying device 12, the chip component take-out unit ejects the chip component 20 in a stable posture by ejecting compressed air from the ejection holes arranged on both sides of the center of gravity moving line of the chip component 20. be able to. Therefore, the chip component 20 does not stay in the hose, and the inspection and classification work of the chip component 20 can be performed without delay.

この発明のチップ部品搬送装置を用いたチップ部品検査装置の一例を示す図解図である。It is an illustration figure which shows an example of the chip component inspection apparatus using the chip component conveying apparatus of this invention. 図1に示すチップ部品検査装置で検査されるチップ部品の一例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows an example of the chip component test | inspected with the chip component inspection apparatus shown in FIG. この発明のチップ部品搬送装置の一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of the chip component conveying apparatus of this invention. 図3に示すチップ部品搬送装置の内部構造を示す図解図である。It is an illustration figure which shows the internal structure of the chip component conveying apparatus shown in FIG. 図3および図4に示すチップ部品搬送装置の噴出孔の配置を示す図解図である。It is an illustration figure which shows arrangement | positioning of the ejection hole of the chip component conveying apparatus shown to FIG. 3 and FIG. この発明のチップ部品搬送装置の他の例の内部構造を示す図解図である。It is an illustration figure which shows the internal structure of the other example of the chip component conveying apparatus of this invention. この発明のチップ部品搬送装置のさらに他の例を示す平面図である。It is a top view which shows the further another example of the chip component conveying apparatus of this invention. この発明のチップ部品搬送装置に用いられるターンテーブルの他の例を示す部分図解図である。It is a partial solution figure which shows the other example of the turntable used for the chip component conveying apparatus of this invention. この発明のチップ部品搬送装置の搬送テーブルとターンテーブルの角度を示す図解図である。It is an illustration figure which shows the angle of the conveyance table of the chip component conveying apparatus of this invention, and a turntable. この発明のチップ部品搬送装置の別の例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows another example of the chip component conveying apparatus of this invention. 従来のチップ部品搬送装置を用いたチップ部品検査装置の一例を示す図解図である。It is an illustration figure which shows an example of the chip component inspection apparatus using the conventional chip component conveyance apparatus. 従来のチップ部品搬送装置の一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of the conventional chip component conveyance apparatus. 図12に示す従来のチップ部品搬送装置の内部構造を示す図解図である。It is an illustration figure which shows the internal structure of the conventional chip component conveying apparatus shown in FIG.

符号の説明Explanation of symbols

10 チップ部品検査装置
12 チップ部品搬送装置
20 チップ部品
30 搬送テーブル
32 ターンテーブル
34 キャビティ部
36 回転軸
38 駆動装置
40 裏掘り溝
42 吸引溝
44 吸引孔
46 噴出孔
48 チップ部品の重心移動ライン
50 ホース
52 底面
54 噴出孔
56 供給口
58 供給経路
60 搬送ベルト
62 搬送テーブル
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Chip component inspection apparatus 12 Chip component conveyance apparatus 20 Chip component 30 Conveyance table 32 Turntable 34 Cavity part 36 Rotating shaft 38 Drive apparatus 40 Back digging groove 42 Suction groove 44 Suction hole 46 Ejection hole 48 Chip part center of gravity moving line 50 Hose 52 Bottom surface 54 Ejection hole 56 Supply port 58 Supply path 60 Conveying belt 62 Conveying table

Claims (7)

チップ部品を搬送するための搬送面を有する搬送テーブル、
前記搬送テーブルの搬送面に対向して設けられる板状の搬送媒体、
前記搬送媒体の両主面に貫通するように形成される前記チップ部品を収納するためのキャビティ部、
前記搬送媒体を前記搬送テーブルの搬送面に沿って移動させる駆動手段、
前記キャビティ部に収納された前記チップ部品の重心が移動する重心移動ラインの両側に配置されるようにして前記搬送テーブルに形成され、前記チップ部品に向かって圧縮空気を噴出するための複数の噴出孔、および
前記噴出孔から噴出する圧縮空気の流量、圧力および噴出時間を制御するための圧縮空気噴出機構を含む、チップ部品搬送装置。
A transfer table having a transfer surface for transferring chip components;
A plate-shaped transport medium provided facing the transport surface of the transport table;
A cavity for storing the chip component formed so as to penetrate both main surfaces of the carrier medium;
Drive means for moving the transport medium along the transport surface of the transport table;
A plurality of jets formed on the transfer table so as to be arranged on both sides of a center-of-gravity movement line in which the center of gravity of the chip component housed in the cavity portion moves, and for ejecting compressed air toward the chip component A chip component transport device including a hole, and a compressed air ejection mechanism for controlling a flow rate, pressure, and ejection time of compressed air ejected from the ejection hole.
チップ部品を搬送するための搬送面を有する搬送テーブル、
前記搬送テーブルの搬送面に対向して設けられる板状の搬送媒体、
前記搬送テーブル側に底面を有しかつ前記搬送媒体の主面に開口するように形成される前記チップ部品を収納するためのキャビティ部、
前記搬送媒体を前記搬送テーブルの搬送面に沿って移動させる駆動手段、
前記キャビティ部に収納された前記チップ部品の重心が移動する重心移動ラインの両側に配置されるようにして前記キャビティ部の底面に形成され、前記チップ部品に向かって圧縮空気を噴出するための複数の噴出孔、
前記キャビティ部の移動経路に沿って前記搬送テーブルの所定の位置に形成される前記噴出孔に圧縮空気を供給するための供給口、
前記供給口から前記噴出孔に圧縮空気を供給するために前記搬送テーブルに形成される供給経路、および
前記噴出孔から噴出する圧縮空気の流量、圧力および噴出時間を制御するための圧縮空気噴出機構を含む、チップ部品搬送装置。
A transfer table having a transfer surface for transferring chip components;
A plate-shaped transport medium provided facing the transport surface of the transport table;
A cavity portion for storing the chip component formed so as to have a bottom surface on the transport table side and open to a main surface of the transport medium;
Drive means for moving the transport medium along the transport surface of the transport table;
The plurality of chip parts formed on the bottom surface of the cavity part so as to be arranged on both sides of the center-of-gravity movement line in which the center of gravity of the chip part accommodated in the cavity part moves, and for ejecting compressed air toward the chip part Vent hole,
A supply port for supplying compressed air to the ejection holes formed at predetermined positions of the transport table along the movement path of the cavity portion;
A supply path formed in the transfer table for supplying compressed air from the supply port to the ejection holes, and a compressed air ejection mechanism for controlling the flow rate, pressure and ejection time of the compressed air ejected from the ejection holes A chip parts conveying apparatus.
複数の前記噴出孔を結ぶ線の中点は、前記重心移動ライン上にある、請求項1または請求項2に記載のチップ部品搬送装置。   The chip component transport apparatus according to claim 1, wherein a midpoint of a line connecting the plurality of ejection holes is on the center-of-gravity movement line. 複数の前記噴出孔の位置は、前記重心移動ラインを挟んで線対称である、請求項1ないし請求項3のいずれかに記載のチップ部品搬送装置。   4. The chip component transport device according to claim 1, wherein the positions of the plurality of ejection holes are line symmetric with respect to the center-of-gravity movement line. 5. 前記搬送媒体は、同心円状に前記キャビティ部が形成された円盤である、請求項1ないし請求項4のいずれかに記載のチップ部品搬送装置。   5. The chip component transport apparatus according to claim 1, wherein the transport medium is a disk in which the cavity portion is formed concentrically. 6. 前記搬送媒体が上面となるようにして、水平面に対して前記搬送媒体の主面が45°〜90°の範囲で傾斜して設置される、請求項1ないし請求項5のいずれかに記載のチップ部品搬送装置。   6. The apparatus according to claim 1, wherein the main surface of the conveyance medium is inclined with respect to a horizontal plane in a range of 45 ° to 90 ° so that the conveyance medium becomes an upper surface. Chip component transfer device. 前記搬送媒体を挟んで前記噴出孔と対向する位置に、前記チップ部品を回収するためのホースが設置された、請求項1ないし請求項6のいずれかに記載のチップ部品搬送装置。   The chip component transport apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein a hose for collecting the chip component is installed at a position facing the ejection hole with the transport medium interposed therebetween.
JP2005233147A 2005-08-11 2005-08-11 Chip component transfer device Active JP4586673B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005233147A JP4586673B2 (en) 2005-08-11 2005-08-11 Chip component transfer device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005233147A JP4586673B2 (en) 2005-08-11 2005-08-11 Chip component transfer device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007045597A true JP2007045597A (en) 2007-02-22
JP4586673B2 JP4586673B2 (en) 2010-11-24

Family

ID=37848755

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005233147A Active JP4586673B2 (en) 2005-08-11 2005-08-11 Chip component transfer device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4586673B2 (en)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010275096A (en) * 2009-06-01 2010-12-09 Murata Mfg Co Ltd Chip part conveying device
JP2011152978A (en) * 2010-01-27 2011-08-11 Kirin Techno-System Co Ltd Container conveying device
JP2014533896A (en) * 2011-11-29 2014-12-15 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH Assembly for sorting optoelectronic elements
JP2015003797A (en) * 2013-06-20 2015-01-08 株式会社村田製作所 Conveyance apparatus and conveyance rotor
KR101551784B1 (en) * 2013-02-08 2015-09-09 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 Work transporting device
TWI505981B (en) * 2014-01-02 2015-11-01 All Ring Tech Co Ltd Material to undertake positioning device
JPWO2015129514A1 (en) * 2014-02-27 2017-03-30 株式会社村田製作所 Alignment supply apparatus and alignment method
CN107303998A (en) * 2016-04-19 2017-10-31 万润科技股份有限公司 Material receiving and positioning device
KR20190038998A (en) 2017-10-02 2019-04-10 가부시키가이샤 휴모 라보라토리 Method of inspecting and sorting chip electronic component
KR20220086497A (en) 2020-12-16 2022-06-23 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 Carrier, carrier device of electronic components, and measuring apparatus of electronic components

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI576875B (en) * 2016-03-17 2017-04-01 All Ring Tech Co Ltd Method and device for winding core wire

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62136281A (en) * 1985-12-10 1987-06-19 株式会社村田製作所 Appearance inspection device for chip part
JPH06271057A (en) * 1993-03-16 1994-09-27 Kanebo Ltd Rotary table device
JPH0723739U (en) * 1993-10-06 1995-05-02 早川 仁之 Vacuum type separating and conveying device
JP2001080737A (en) * 1999-09-16 2001-03-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd Element transfer device and element transfer method
JP2002029627A (en) * 2000-07-11 2002-01-29 Murata Mfg Co Ltd Carrying device for electronic part and inspection device using the carrying device
JP2004115273A (en) * 2002-09-30 2004-04-15 Far East Engineering Co Ltd Chip automatic separation and conveyance device

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62136281A (en) * 1985-12-10 1987-06-19 株式会社村田製作所 Appearance inspection device for chip part
JPH06271057A (en) * 1993-03-16 1994-09-27 Kanebo Ltd Rotary table device
JPH0723739U (en) * 1993-10-06 1995-05-02 早川 仁之 Vacuum type separating and conveying device
JP2001080737A (en) * 1999-09-16 2001-03-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd Element transfer device and element transfer method
JP2002029627A (en) * 2000-07-11 2002-01-29 Murata Mfg Co Ltd Carrying device for electronic part and inspection device using the carrying device
JP2004115273A (en) * 2002-09-30 2004-04-15 Far East Engineering Co Ltd Chip automatic separation and conveyance device

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010275096A (en) * 2009-06-01 2010-12-09 Murata Mfg Co Ltd Chip part conveying device
JP2011152978A (en) * 2010-01-27 2011-08-11 Kirin Techno-System Co Ltd Container conveying device
US9302296B2 (en) 2011-11-29 2016-04-05 Osram Opto Semiconductors Gmbh Assembly for sorting optoelectronic devices
JP2014533896A (en) * 2011-11-29 2014-12-15 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH Assembly for sorting optoelectronic elements
KR101551784B1 (en) * 2013-02-08 2015-09-09 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 Work transporting device
JP2015003797A (en) * 2013-06-20 2015-01-08 株式会社村田製作所 Conveyance apparatus and conveyance rotor
TWI505981B (en) * 2014-01-02 2015-11-01 All Ring Tech Co Ltd Material to undertake positioning device
CN106927231A (en) * 2014-01-02 2017-07-07 万润科技股份有限公司 Material receiving and positioning method and device
CN106927231B (en) * 2014-01-02 2020-04-28 万润科技股份有限公司 Material receiving and positioning method and device
JPWO2015129514A1 (en) * 2014-02-27 2017-03-30 株式会社村田製作所 Alignment supply apparatus and alignment method
CN107303998A (en) * 2016-04-19 2017-10-31 万润科技股份有限公司 Material receiving and positioning device
KR20190038998A (en) 2017-10-02 2019-04-10 가부시키가이샤 휴모 라보라토리 Method of inspecting and sorting chip electronic component
KR20220086497A (en) 2020-12-16 2022-06-23 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 Carrier, carrier device of electronic components, and measuring apparatus of electronic components
KR102659620B1 (en) * 2020-12-16 2024-04-22 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 Carrier, carrier device of electronic components, and measuring apparatus of electronic components

Also Published As

Publication number Publication date
JP4586673B2 (en) 2010-11-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007045597A (en) Chip component carrying device
KR101768721B1 (en) Workpiece transport method and workpiece transport apparatus
TWI460101B (en) Workpiece insertion mechanism and workpiece insertion method
JP5183220B2 (en) Component classification device and electronic component characteristic inspection and classification device using the device
JP4525514B2 (en) Bulk feeder and electronic component mounting equipment
JP4388286B2 (en) Micro object inspection system
JP2008105811A (en) Visual inspection device of workpiece
JP2006273579A (en) Work feeding method and work feeding device
KR20080109821A (en) Work transfer apparatus and electronic component transfer apparatus
JP7297673B2 (en) Electronic component mounting device and electronic device manufacturing method
JP2011020759A (en) Aligning device and aligning method of electronic part
JP4079179B2 (en) Work transfer device and electronic component transfer device
KR101551784B1 (en) Work transporting device
JP2003054518A (en) Tray feeding method and tray feeder
WO2020235535A1 (en) Electronic component attaching device, method for manufacturing electronic device, and method for manufacturing strap
CN106211737A (en) Electronic component carrying apparatus
JP3464990B2 (en) Small object inspection equipment
KR101360111B1 (en) Classifying device of parts and device for characteristic-inspection/classification of electronic parts
JP3718014B2 (en) Plate-shaped material transfer device and non-contact transfer line
JP6182996B2 (en) Conveying device and conveying rotor
JP2004010301A (en) Work carrier device and work carrying method
JP5405267B2 (en) Electronic component conveyor
JP2005263467A (en) Inspection subject carrying device
WO2022224553A1 (en) Component supply device, component mounting device, and component supply method
JP5384292B2 (en) Electronic component conveyor

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080616

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100118

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100126

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100326

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100420

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100618

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100810

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100823

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4586673

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130917

Year of fee payment: 3