JP3828332B2 - 強誘電体メモリ - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、強誘電体メモリに関し、特にchain-FRAMアーキテクチャを用いた強誘電体メモリおよびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
強誘電体メモリは不揮発性でありながら記憶内容の書き換えが可能であり、種々の用途に広く用いられるようになっている。更に用途を広げるためには記憶容量の拡大とともに小型化も必須の要件となっている。強誘電体メモリのセルサイズを縮小化させる方法としては従来、COP構造や、chain-FRAM(Chain-FRAM)構造がD. Takashima et alにより1999年2月にISSCCにおいて提案されている。
【0003】
一般に、例えば図19(a)に示すような、COP構造を用いず、かつchain-FRAMでもない従来構造のFRAMでは、強誘電体キャパシタの上部電極101及び下部電極102へのコンタクト領域103や拡散層104への接続配線105が必要で、コンタクト領域103用のコンタクト穴と接続配線105との間の余裕がある程度必要なことや、配線105と配線105のスペースの数が多いため、1セルのレイアウトに必要な面積は必然的に大きい。例えば、FRAMの設計に用いる最小の寸法をFとすると、この図19(a)のセルは8F2セルということになる。
【0004】
1セルのレイアウトに必要な面積を縮小する一つの方法がchain-FRAM構造であり、例えば図19(b)に示した構造となる。このセルは、6F2セルとなり、強誘電体キャパシタの上部電極111が隣接する2個のセルに対して共通に設けられ、同様に下部電極112も隣接する2個のセルに対して共通に設けられ、それぞれコンタクト113を介して拡散層114に接続される構造となっている。拡散層114は夫々隣接するセルのトランジスタTr間で共通に用いられる。
【0005】
図19(a),(b)の構造のセルが夫々同一の寸法ルールで製造されたものとしてそれらのチップ面積を比較すると、図19(b)のchain-FRAMアーキテクチャを用いることにより、4MFRAMクラスで60%程度に縮小できる。しかしながらこの方式では現実的な微細化の限界が見えつつある。
【0006】
この限界を打破してさらに微細化を実現するために、図19(c)に示すような構造を持つchain-FRAMが提案されている。この構造のchain-FRAMは図20に示すような等価回路として表すことができる。図19(c)において、1つのメモリセルトランジスタTrのゲート電極Gを挟んだソースおよびドレインとして用いられる拡散層124がそれぞれ強誘電体キャパシタCfの上部電極121、下部電極122にコンタクトプラグ123を介して接続される。
【0007】
拡散層124は互いに隣接するセルのトランジスタのソース又はドレインとして共通に用いられ、チェーン状に接続されるアーキテクチャを構成している。ここではCOP構造を上部、下部の両電極121、122に適用することによって、理想状態では、図19(c)に示すように最小の4F2のセルとなる可能性が示されている。
【0008】
しかしながらその実現には多くの困難を伴う。たとえば、コンタクトプラグ123が酸化しやすいタングステン(W)の場合には、コンタクトプラグ123のWおよび下部電極122と十分導通が取れ、かつコンタクトプラグ123形成後のWの酸化を防ぐことのできるバリア膜の開発が必要である。また、そのバリア性がプロセス温度の上限を決めてしまうという課題もある。したがって、現在摂氏700度以上の成膜温度が必要なSBTとの組み合わせは極めて困難といえる。
【0009】
また、下部電極122側はCOP構造をとることができた場合にも、図19(c)のような理想形の上部電極121をもCOP構造とするには、工程数の増大、埋め込み回数の増大等でプロセスが非常に煩雑になり、また特に強誘電体キャパシタCfの特性の確保が難しい。このような理由によりプロセスインテグレーションを進めてゆく上で払う代償も大きい。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
このように、図19(c)に示したchain-FRAMの微細化可能な4F2構造のセルの実現には、上部電極121も下部電極122もCOP構造、即ち強誘電体キャパシタCfの下方から電極を取る構造にする必要がある。当然、上部、下部電極121,122ともに導電性のバリア膜が必要だが、現状では、十分なマージンをもって回復アニールに耐えられるほどの優秀なバリア膜はまだ見つかっていない。
【0011】
即ち、更なる低ダメージ加工プロセス、低ダメージ絶縁膜形成技術、低温、短時間ダメージ回復技術、ダメージ保護電極、カバーの各技術開発が必要である。
【0012】
そこで、この発明は、セルの微細化を実現するとともに、簡単な製造プロセスで製造でき、且つ特性も安定した強誘電体メモリとその製造方法を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】
本発明では、メモリセルトランジスタの真上に横向きに強誘電体キャパシタを有する構造の強誘電体メモリを提供する。しかも従来必要とされていた導電性バリア膜を用いずに極めて微細化されたセルサイズを実現する構造の強誘電体メモリ、及びその製造方法を提供する。
【0014】
即ち、本発明では、強誘電体キャパシタを半導体基板の表面に平行に横向き配置としたので、従来別工程で形成されていた強誘電体キャパシタの対向する2個の電極を同時に形成できることになり、製造工程を減少できるとともに、電極特性を均等にすることができる。
【0015】
また、本発明では、コンタクトプラグ上のバリア膜として、熱工程のマージンの広くない導電性のバリア膜ではなく、絶縁性のバリア膜を用い、強誘電体キャパシタ形成後、回復アニールを施した後で、隣接セルとの接続と、拡散層上のコンタクトプラグとの接続を兼ねた配線層を形成する。このように、本発明では強誘電体キャパシタの一対の電極形成を同時に行うとともに、隣接セル間の接続、セルトランジスタとの接続も1個の金属配線で1度にできるので、工程数が削減でき、且つキャパシタ特性も夫々同等な安定したものが得られる。
【0016】
この発明の一態様の強誘電体メモリは、半導体基板上に形成されたMOSトランジスタと、前記MOSトランジスタの上方にそのチャネル長方向に横向きに配置された強誘電体キャパシタと、前記MOSトランジスタのゲートおよびソース/ドレイン領域に夫々接続されたコンタクトプラグと、前記ソース/ドレイン領域に接続されたコンタクトプラグ上に夫々接続して形成され、前記強誘電体キャパシタの電極に接触する側面を有する金属配線とを備えたことを特徴とする構成を有する。
【0017】
この発明の強誘電体メモリの製造方法は、半導体基板上に複数個のMOSトランジスタを形成する工程と、前記各MOSトランジスタを覆う第1の絶縁膜を形成する工程と、前記絶縁膜中のMOSトランジスタのソース/ドレイン及びゲートのコンタクト領域にコンタクトプラグを形成する工程と、前記絶縁膜上の前記MOSトランジスタに対応する位置に電極と強誘電体膜とが横方向に配置された強誘電体キャパシタを形成する工程と、この強誘電体キャパシタ形成時の加工ダメージを回復させるアニールを施す工程と、前記コンタクトプラグ上でかつ互いに隣接する2個の強誘電体キャパシタの電極間に夫々金属配線を形成して隣接の電極間及び前記MOSトランジスタのソースドレインの接続を同時に行う工程とを有することを特徴とする
この構成及び方法により、強誘電体キャパシタの2個の電極を同時に形成できるので工程数の削減ができ、強誘電体キャパシタの対向面積を半導体基板の横方向のみならず縦方向へも拡大できるので、その分だけチップサイズの縮小が可能である。
【0018】
更に、この発明の一つの実施態様では、メモリセルトランジスタと強誘電体キャパシタとの間に絶縁性のバリア膜を形成するので、プロセスマージンを大きくでき、製造時に不可避の強誘電体キャパシタへのダメージの回復のための熱工程を十分に行うことができ、特性の良好な強誘電体メモリを製造できる。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【0020】
図1にこの発明の第1の実施の形態であるchain-FRAMの構造を示す。同図の(a)は平面図、(b)は(a)図中のA−B線に沿って切断して示す断面図、(c)は(a)図中のC−D線に沿って切断して示す断面図である。
【0021】
半導体基板30の表面には複数の埋め込み素子分離領域2が縞状に形成され、これらの素子分離領域2の間に複数の素子領域1が区画されている。
【0022】
素子領域1では第1の絶縁膜であるゲート絶縁膜21上に形成された各トランジスタTrのゲート電極3に対して、夫々自己整合的に拡散層4が形成され、一導電型の複数のMOSトランジスタTrを構成している。このMOSトランジスタTrは表面がCMP法などで平滑化された第2絶縁膜22により被覆されている。
【0023】
この第2絶縁膜22内にはコンタクトプラグ8が埋め込まれ、拡散層4と接続している。なお、ゲート3に対しては、例えば素子分離領域2の上方でゲートコンタクト8Gとしてコンタクトプラグが埋め込まれている。これらのコンタクトプラグには、たとえば、高濃度に不純物がドープされた多結晶シリコンやW(タングステン)が用いられる。
【0024】
平滑化された第2の絶縁膜22を介して各MOSトランジスタTrの真上にはトランジスタTrのゲート長の方向に、横向きに強誘電体キャパシタ電極9a、第3の絶縁膜である強誘電体膜10、及び他方のキャパシタ電極9bが順次配列された強誘電体キャパシタCfが形成されている。このキャパシタCfの上部には第4の絶縁膜11が形成されている。前記トランジスタTrの拡散層4に接続されたコンタクトプラグ8の上部には金属配線14が配置されており、その両側面が隣接した強誘電体キャパシタCfの左右電極9a、9bとも電気的に接続されている。
【0025】
強誘電体キャパシタCf及び金属配線14の上部には更に絶縁膜13が形成され、その上部にはビット線BLが素子領域1に沿って横方向に形成されている。
【0026】
さらに、図示していないが、ビット線BLの上部にはパッシベーション膜を形成し、強誘電体メモリが完成する。
【0027】
このように形成された横型の強誘電体キャパシタCfを有するメモリセルは、図1(a)に示すように、素子領域1に沿った方向のコンタクトプラグ8間の距離が2Fであり、素子領域1を横切る方向の寸法も2Fであるから、一つのメモリセルの面積は4F2となり、究極の微細化を達成している。
【0028】
ここで、強誘電体キャパシタCfは一対の隣接する金属配線14間に形成されるが、この金属配線14の間隔は例えば1.5Fであり、この寸法の中に一対のキャパシタ電極9a,9b及び強誘電体膜10が形成される。なお、この強誘電体膜10の基板30の厚み方向の寸法はたとえば2F以上が望ましいが、この寸法は強誘電体キャパシタCfの設計容量により設定は自由であることは勿論である。
【0029】
後で詳細に説明するが、図1の実施の形態の構造では、従来別々に形成していた強誘電体キャパシタCfの両電極9a,9bを同時に加工することができるので、製造の工程数を減少でき、電極9a,9bの特性のばらつきも抑制できる。
【0030】
以下、図2(a)−(c)、図3(a)−(c)、図4(a)−(c)及び図5(a)、(b)を参照して図1に示した構造を有する強誘電体メモリの製造プロセスを説明する。なお、以下の説明は、図1(a)のA−B線に沿って素子領域1の長手方向に切断した断面図を参照して行う。
【0031】
図2(a)は、図1(a)、(c)に示した例えばn型の半導体基板30の表面における素子分離領域2の形成により、この素子分離領域2の間に素子領域1を形成した後、この素子領域1の表面にゲート酸化膜21を介してゲート3を形成した状態を示す。例えば、この時の隣接するゲート3間の間隔は1.5Fであり、ゲート3のゲート長はFに設定される。ゲート幅に付いては、図1(a)に示すように素子領域1の幅よりやや狭く形成されている。
【0032】
次いで、図2(a)に示すように、ゲート3をマスクとして自己整合的にp型の拡散層4を形成し、層間絶縁膜22を堆積し、CMP法によりその表面を平坦化する。
【0033】
次いで、図2(c)に示すように、リソグラフィーにより層間絶縁膜22の上にレジストを塗布してから露光、現像によりレジストマスクを形成し、このマスクを用いてゲート3の中間部に拡散層4に至るコンタクト穴8aを開口し、このコンタクト穴8a内にコンタクトプラグ材として、タングステンWを堆積し、CMPにより層間絶縁膜22とコンタクトプラグ材WとをCMPにより整形して、コンタクトプラグ8を形成する。Wの他、たとえばドープされた多結晶シリコンをコンタクトプラグ材として用いても良い。
【0034】
次いで、図3(a)に示すように、全体に絶縁膜14iを堆積し、図3(b)に示すように、コンタクトプラグ8の上部にのみ絶縁膜14iを形成するように、絶縁膜14iをエッチングにより除去する。図3(b)では残された絶縁膜14iは夫々コンタクトプラグ8より広く形成されているが、これは、この絶縁膜14iをエッチングする際に用いられるマスクの合わせずれを考慮してあらかじめ広めに形成するものであり、理想的には丁度コンタクトプラグ8と同じ幅に形成されることが望ましい。
【0035】
次いで、図3(c)に示すように、全体に電極膜、たとえばPtをスパッタ法により堆積し、熱処理を施した後、CMP法により平坦化して絶縁膜14iの間に夫々電極膜9を形成する。なお、電極膜9として用いられる材質により悪影響を受けないように、前記絶縁膜14iの上部にストッパ膜を形成してからPtなどを堆積してもよい。
【0036】
次いで、図4(a)に示すように、前記電極膜9の中央部に図1(a)に示す強誘電体膜10形成予定領域10aをエッチングにより除去する。この場合、リソグラフィーにより強誘電体膜10形成予定領域10a以外の部分を覆うレジストマスクを形成する。この時、電極膜9からはみ出して強誘電体膜10形成予定領域10aの開口部を形成することが重要である。これにより、後で形成される強誘電体膜10により強誘電体キャパシタ電極9a、9bが確実に絶縁されることになる。
【0037】
次いで、図4(b)に示すように、強誘電体膜10形成予定領域10aを含む全体に強誘電体膜10を例えば膜質が均一になるスピン塗布法により堆積し、CMP法により開口部10aにのみ残し、全体に絶縁膜11を堆積し、CMP法により絶縁膜11の表面を平坦に形成する。このようにして強誘電体キャパシタCfが形成される。
【0038】
次いで、図4(c)に示すように、絶縁膜11と共に先に形成した絶縁膜14iをエッチング除去して開口部14aの底にコンタクトプラグ8の表面を露出させ、その後、摂氏600度から700度程度の酸素アニールを施し、強誘電体膜10におけるこれまでの加工ダメージを十分回復させる。ここで、絶縁膜11及び14iが同じ絶縁材で形成されていれば、エッチングを一つの工程で行うことができる。
【0039】
次いで、図5(a)に示すように、全面に金属配線14を堆積し、絶縁膜11と同じ面になるようにCMP法により平坦化する。この時、リフローの熱処理を加えても良い。このようにして、開口部14aにのみ金属配線14を残し、強誘電体キャパシタCfの左右の電極9a、9bとの接続、コンタクトプラグ8との接続が同時に達成される。
【0040】
最後に、全面に絶縁膜13を堆積し、CMP法により平坦化し、その上にビット線BLを形成する。この後は図示しないが、通常のパッシベーション膜を全面に形成して製造工程を終了する。以上の工程を経ることで、横型強誘電体キャパシタCfを有する微細なchain-FRAMが完成する。
【0041】
以上説明した第一の実施の形態では、図4(c)において、コンタクトプラグ8が露出した状態で、強誘電体膜10のダメージ回復のための高温のアニールを施したが、この時露出されたコンタクトプラグ8表面が酸化しやすく、その後に形成される金属配線14との接続不良が生じる可能性がある。
【0042】
従って、更に安定なプロセス、構造の確保が望まれる。そのため、例えばコンタクトプラグ8の表面が露出される以前に高温のアニールを行うことができるように、コンタクトプラグ8上に酸化拡散バリア膜をあらかじめ配置しておくことが望ましい。以下、図6及び図7を参照してこの考えに基づいた第二の実施の形態の構造及び製造プロセスを説明する。
【0043】
この第二の実施の形態と第一の実施の形態との違いは、上述の酸化拡散バリア膜として図6(b)、(c)に示すように、層間絶縁膜22と強誘電体キャパシタCfとの間に窒化膜6、酸化膜7の積層膜が配置されていることである。この酸化拡散バリア膜6,7により、コンタクトプラグ8の酸化、強誘電体膜キャパシタCf形成時の不純物のトランジスタ領域4への拡散が完全に抑えられる。たとえば、窒化膜6、酸化膜7それぞれ150nmの場合、摂氏700度の炉の熱処理に対しても十分なバリア性が確保できる事を確認している。なお、酸化拡散バリア膜6,7として十分な窒素を含んだオキシナイトライド膜を用いてもよい。図6において、その他の構造はすべて図1の実施の形態と同じであるので同じ参照符号を付してこれ以上の説明は省略する。
【0044】
以下、図7を参照して図6の実施の形態の製造プロセスを説明するが、説明の重複、煩雑化を避けるために図1の第一の実施の形態と異なる製造工程のみ説明する。
【0045】
第二の実施の形態では、図7(a)に示すように、層間絶縁膜22内にコンタクトプラグ8を埋め込み形成したあと、まず全面に窒化膜6を形成し、次いで酸化膜7を例えばそれぞれ150nmの厚さに形成する。
【0046】
その後、この酸化膜7の上に絶縁膜14iを図3(a)と同様に形成し、以下図4(c)に示す工程まで同様にして製造プロセスが進行する。但し、図4(c)と同様に、絶縁膜11と14iとがエッチングで除去された状態でエッチングを一時停止させる。
【0047】
この状態を図7(b)に示す。即ち、エッチングにより絶縁膜11と14iとが除去されて酸化膜7が露出したところでエッチングが停止される。その後、摂氏600度から700度程度の酸素アニールを施し、強誘電体膜10におけるこれまでの加工ダメージを十分回復させる。
【0048】
このようにして、高温アニールにより強誘電体キャパシタCfの加工ダメージの回復工程の後、図7(c)に示すように、コンタクトプラグ8上の酸化拡散バリア膜6,7を除去し、コンタクトプラグ8を露出させる。その後、図5( a)、(b)に示すように、金属配線14の形成、絶縁膜13を介してビット線BLの形成というプロセスをとる。
【0049】
このように、第二の実施の形態では、コンタクトプラグ8表面が金属配線14形成の直前までずっと酸化拡散バリア膜6,7で守られているので、十分高温な酸素雰囲気での強誘電体キャパシタCfの回復アニールを施し、特性を良好な物にすることができる。
【0050】
図8は本発明の第3の実施の形態の構造を示す図である。図6に示した第2の実施の形態との差は、コンタクトプラグ8と接続される金属配線14は上部の方が広く、コンタクトプラグ8との接続部では殆どコンタクトプラグ8と同等の断面積になるように細くなってテーパ形状となっている点である。
【0051】
以下、図9乃至図11を参照してこのテーパ形状の金属配線14を形成する方法を説明する。図9(a)の工程は図7(a)と同じである。図9(b)の工程はバリア膜6,7が有ることを除けば図(b)の工程に対応するが、異なるところは図9(b)ではコンタクトプラグ8とほぼ同じ太さの絶縁膜マスク14iが形成されることである。
【0052】
次いで、図3(c)の工程と同様の図9(c)の工程により、絶縁膜マスク14iを含む全体に電極膜、たとえばPtをスパッタ法により堆積し、熱処理を施した後、CMP法により平坦化して絶縁膜14iの間に夫々電極膜9を形成する。なお、電極膜9として用いられる材質により悪影響を受けないように、前記絶縁膜14iの上部にストッパ膜を形成してからPtなどを堆積してもよい。
【0053】
次いで、図10(a)に示すように、前記電極膜9の中央部に強誘電体膜10形成予定領域10aをエッチングにより形成する。この場合、リソグラフィーにより強誘電体膜10形成予定領域10a以外の部分を覆うレジストマスクを形成する。この時、電極膜9からはみ出して強誘電体膜10形成予定領域10aの開口部を形成することが重要である。これにより、後で形成される強誘電体膜10により強誘電体キャパシタ電極9a、9bが確実に絶縁されることになる。
【0054】
次いで、図10(b)に示すように、強誘電体膜10形成予定領域10aを含む全体に強誘電体膜10を堆積し、CMP法により開口部10aにのみ残し、全体に絶縁膜11を堆積し、CMP法により絶縁膜11の表面を平坦に形成する。このようにして電極9a、9bに挟まれた強誘電体膜10を有する強誘電体キャパシタCfが形成される。
【0055】
次いで、図410(c)に示すように、絶縁膜11と共に先に形成した絶縁膜14iをエッチング除去してすり鉢状に形成されたテーパ部を有する開口部14aを形成する。このようにして形成されたすり鉢状の開口部14aの底に窒化膜の表面を露出させ、その後、摂氏600度から700度程度の酸素アニールを施し、強誘電体膜10におけるこれまでの加工ダメージを十分回復させる。ここで、絶縁膜11及び14iが同じ絶縁材で形成されていれば、エッチングを一つの工程で行うことができる。
【0056】
次いで、図11(a)に示すように、窒化膜7、酸化膜6でなる酸化拡散バリア膜をエッチング除去し、コンタクトプラグ8表面を露出させ、図11(b)に示すように全面に金属配線14を堆積し、絶縁膜11と同じ面になるようにCMP法により平坦化する。この時、リフローの熱処理を加えても良い。このようにして、開口部14aにのみ金属配線14を残し、強誘電体キャパシタCfの左右の電極9a、9bとの接続、コンタクトプラグ8との接続が同時に達成される。
【0057】
最後に、図11(c)に示すように、全面に絶縁膜13を堆積し、CMP法により平坦化し、その上にビット線BLを形成する。この後は図示しないが、通常のパッシベーション膜を全面に形成して製造工程を終了する。
【0058】
以上の工程を経ることで、横型強誘電体キャパシタCfを有する微細なchain-FRAMが完成する。
【0059】
この第三の実施の形態では、バリア膜6,7のエッチング時に開口部14aの側面において強誘電体キャパシタCfのPtの電極9a、9bの上部が削られる場合があるが、この際の強誘電体キャパシタCfに入るダメージは、酸化拡散バリア膜6、7の直前でエッチングをストップし、その後の高温アニールにより回復が可能である。
【0060】
図12の実施の形態は、図12(a)に示すように強誘電体膜10が左右の電極9a、9bに対して、オンラインではなく積極的にはみ出したオフセット構造を有している構造を有する。このようにすると、左右の電極9a、9bが短絡しないようにし、製造歩留まりを改善することができる。この場合は、強誘電体膜10が左右の電極9a、9bに対して少なくとも同一面、望ましくはその両側の方向にはみ出した形状をしている必要がある。その他の構造は図8に示す実施の形態と同じであり、同一参照符号を付して説明を省略する。
【0061】
図13の実施の形態は、強誘電体キャパシタCfの電極9a、9bを窒化膜7の平面で結晶化させた時の実施の形態例である。
【0062】
図13(a)の工程は、図7、図9の実施の形態の工程に対応するが、異なる点は絶縁膜14iの代わりに、まず、コンタクトバリア膜6、7を形成した後、図13(b)に示すように、キャパシタ電極膜9をスパッタ法あるいは塗布法で形成することである。
【0063】
次いで、図13(c)に示すように、強誘電体膜10の形成予定領域の前記キャパシタ電極膜9をエッチング除去して開口部10aを形成する。
【0064】
次いで、図14(a)に示すように、強誘電体膜10を開口部10aにのみ埋め込み、絶縁膜11を堆積し、続いて、図14(b)に示すように、コンタクトプラグ8上のキャパシタ電極膜9、絶縁膜11をエッチング除去する。この場合も酸化拡散バリア膜6,7のところでエッチングを一旦ストップさせる。
【0065】
この後、加工ダメージ回復のアニールを、たとえば摂氏700度で1時間程度行う。その後、バリア膜6,7を全面エッチバックし、コンタクトプラグ8を露出させた後、金属配線14を埋め込んで図14(c)のような構造とする。金属配線14には、TiまたはNbをライナー材としたAl、又はCuを主成分とする膜を用いることが望ましい。この後は図8の実施の形態と同じである。
【0066】
図15の実施の形態は、図6の実施の形態を殆ど同じ構造であるが、違いは、図15(a)、(b)に示すように、強誘電体膜10の側部に15a,15bからなる導電性酸化物が存在することである。これらの導電性酸化物としては、Ir02,Ru02,SROなどである。製造に際しては、例えば、まず電極9を形成し、その中央部に開口を形成して強誘電体キャパシタCfの両電極9a,9bを形成し、この開口を含む全面に導電性酸化物を堆積し、CMP法およびRIE法により更にその中央に開口を形成し、この開口の両側に導電性酸化物の側壁15a、15bを残すように形成し、この開口内に強誘電体膜10を埋め込み形成すればよい。他の構造は図6の実施の形態と同じである。
【0067】
このように強誘電体膜10の側部に15a,15bからなる導電性酸化物が存在するように構成すると、強誘電体キャパシタCfの疲労特性、即ち許容データ書き換え回数が大幅に増加し、長期使用によるデータ記憶特性に変化がなく、信頼性の高いFRAMを提供できる。
【0068】
図16、図17は更に他の実施の形態の製造プロセスを示す図である。図16(a)は図13(a)と同じ工程を示す。続いて、図16(b)に示すように、強誘電体膜10形成予定領域にダミー膜10dを残すようにエッチングし、図16(c)に示すように、その後Pt電極9の堆積とCMP工程を経て、Pt電極加工を終了する。
【0069】
次いで、図17に示すように、ダミー膜10dを強誘電体膜10で置き換える。そのため、ダミー膜10dをエッチング除去し、できた開口部に強誘電体膜10を埋め込み、必要に応じてCMPにより平坦化する。この工程は図14(a)に示す工程に対応し、以後の工程は図14(b)、(c)と同じである。
【0070】
この方法では、電極9の形成材のPtをエッチングして強誘電体膜10用の開口部10aを形成する方法に比ベ開口部10aの形成にPtエッチングの量或いは時間を少なくできるので、Ptエッチング時の強誘電体キャパシタCfに対する加工ダメージを少なくすることができる。
【0071】
また、Ptを垂直にエッチングすることは極めて困難であり、開口部10aの底に必要な面積を確保するには側壁にテーパを付けて開口部10aの上部面積を大きくせざるを得ないが、この加工が容易なダミー膜10dを用いると垂直に側壁を形成でき、テーパが付かないため、パターン変換差がなくなり、より小さく微細なセルができることになる。
【0072】
図17の工程の次に、図14(a)の工程では直接に絶縁膜11を堆積しているが、この絶縁膜11の形成前に図18に示すように、バリア膜6,7と同じ構造の複合バリア膜16を形成しておくことにより、図14(b)に相当する工程においてコンタクトプラグ8に至るバリア膜6,7のエッチングを行う際の電極9の膜減り量を軽減することができる。
【0073】
特にこの複合バリア膜16を用いる実施の形態では、コンタクトプラグ8を除いて強誘電体キャパシタCfの上下面が拡散バリア膜で覆われるので、強誘電体膜10の堆積時のダメージがいわゆるリカバリーアニール工程で回復できるとともに、その後の水素雰囲気中のアニール工程におけるダメージに耐性ができ、キャパシタ特性が大きく改善される。
【0074】
なお、上述の各実施の形態において、トランジスタの拡散層4の構成として、いわゆるLDD型の構造としてもよい。また、シリサイド層がゲート3及びソース/ドレインとなる拡散層4上に形成されていても問題無い。シリサイドを使用する場合には、耐熱性、耐酸化性の問題からも、拡散バリア膜6,7を使用することが特に望ましい。また、多結晶シリコンでコンタクトプラグ8を形成する際には、十分に低いコンタクト抵抗を得られるよう不純物濃度に配慮することが必要である。
【0075】
その他、本来の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形してこれを用いることができる。
【0076】
【発明の効果】
以上詳述したようにこの発明によれば、強誘電体キャパシタの構造を従来の縦形ではなく、横形としたので、従来別工程で形成していた上部と下部の電極に相当する2個の対向電極の形成を同時に行うことが可能で、工程数が削減できる。また、COP構造ではなくCOT(Capacitor Over Transistor)構造であるから、構造的に究極サイズである4F2まで微細化が可能であり、強誘電体キャパシタにおいて、良好な特性を示すとともに微細化が可能になる。
【0077】
また、特に、コンタクトプラグを露出させるコンタクト開口まではウエハ全面が例えばSiN膜(酸化膜/窒化膜積層構造)の絶縁性の酸化拡散バリア膜で覆う場合は、従来のような特に熱工程においてプロセスマージンの狭い導電性バリア膜を用いないためプロセス設計のマージンが大きい。従って、強誘電体キャパシタの形成、加工時、および絶縁膜形成時に入るダメージの回復に十分なアニール即ち熱工程をかけることができる。従って、強誘電体キャパシタの形成、加工時、絶縁膜形成時に入るダメージの回復に十分なアニールのための熱工程をかけることができる。従って、強誘電体キャパシタの良好な特性が保証される。例えば、摂氏700度程度のバリア性が確認されているので、高温成膜が良好な特性取得のため不可欠なSBTにも本発明は適用可能である。
【0078】
製造方法の発明に関しては、コンタクトプラグとの接続にあたり、メモリセルとメモリセル以外の領域の膜の構成をそろえることができ、プロセスが簡単になる。また、対向する2個の強誘電体キャパシタ電極が同時に形成可能であり、電極材にPtを用いる場合も、このPtをエッチング加工する時間を短くすることが可能となり、強誘電体キャパシタに入る加工ダメージを低減できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の強誘電体メモリの第1の実施の形態を示す上面図及び断面図。
【図2】図1の強誘電体メモリの製造方法を説明するための工程図。
【図3】図1の強誘電体メモリの製造方法を説明するための工程図。
【図4】図1の強誘電体メモリの製造方法を説明するための工程図。
【図5】図1の強誘電体メモリの製造方法を説明するための工程図。
【図6】本発明の強誘電体メモリの第2の実施の形態を示す上面図及び断面図。
【図7】図6の強誘電体メモリの製造方法を説明するための工程図。
【図8】本発明の強誘電体メモリの第3の実施の形態を示す上面図及び断面図。
【図9】図8の強誘電体メモリの製造方法を説明するための工程図。
【図10】図8の強誘電体メモリの製造方法を説明するための工程図。
【図11】図8の強誘電体メモリの製造方法を説明するための工程図。
【図12】本発明の強誘電体メモリの第4の実施の形態を示す上面図及び断面図。
【図13】図12に示す第4の実施の形態の他の製造方法を説明する断面図。
【図14】図12に示す第4の実施の形態の他の製造方法を説明する断面図。
【図15】本発明の強誘電体メモリの第5の実施の形態を示す上面図及び断面図。
【図16】図6又は図12に示す実施の形態の他の製造方法を説明する断面図。
【図17】図6又は図12に示す実施の形態の他の製造方法を説明する断面図。
【図18】本発明の強誘電体メモリの第6の実施の形態を示す断面図。
【図19】従来の強誘電体メモリの断面構造の種々の例を示す図。
【図20】従来のchain-FRAMの回路構成を示す図。
【符号の説明】
1…素子領域
2…素子分離領域
3…ゲート電極
4…拡散層
5…第2の絶縁膜
6…窒化膜
7…第3の絶縁膜
8…コンタクトプラグ
9a,9b…強誘電体キャパシタ電極
10…強誘電体膜
11…第4の絶縁膜
12…金属配線(バリアメタル十金属)
13…絶縁膜(酸化膜)
14…ビット線(第2層配線)
15a,15b…導電性酸化膜
Claims (4)
- 半導体基板上に形成された第1、第2のソース/ドレイン領域を有するMOSトランジスタと、
前記MOSトランジスタの上方に強誘電体キャパシタの第1、第2電極を結ぶ線が前記第1、第2のソース/ドレイン領域間に形成されたチャネルに沿った方向になるように前記第1、第2電極が横方向に配置された強誘電体キャパシタと、
前記MOSトランジスタのゲートに接続された第1のコンタクトプラグならびに前記MOSトランジスタの第1、第2のソース/ドレイン領域にそれぞれ接続された第2、第3のコンタクトプラグと、
前記第1、第2のソース/ドレイン領域に接続された前記第2、第3のコンタクトプラグ上に夫々形成され、前記強誘電体キャパシタの第1、第2電極に接触する側面を夫々有する第1、第2の金属配線と、
を備えたことを特徴とする強誘電体メモリ。 - 半導体基板上に形成された第1、第2のソース/ドレイン領域を有するMOSトランジスタと、
前記MOSトランジスタを覆って形成された層間絶縁膜と、
前記MOSトランジスタの上方にその第1、第2電極を結ぶ線が前記第1、第2のソース/ドレイン領域間に形成されたチャネルに沿った方向になるように前記第1、第2電極が横向きに配置されたキャパシタと、
前記層間絶縁膜に埋設された第1、第2、第3のコンタクトプラグであって、前記第1のコンタクトプラグの一方の端部は前記MOSトランジスタのゲートに接続され、前記第2、第3のコンタクトプラグの一方の端部は前記MOSトランジスタの第1、第2のソース/ドレイン領域にそれぞれ接続され、前記第1乃至第3のコンタクトプラグの他方の端部は前記層間絶縁膜の表面から露出される、第1、第2、第3のコンタクトプラグと、
前記第1、第2のソース/ドレイン領域に接続された前記第2、第3のコンタクトプラグ上に夫々形成され、前記キャパシタの第1、第2電極に接触する側面を夫々有する第1、第2の金属配線と、
を備えたことを特徴とする強誘電体メモリ。 - 半導体基板上に並んで形成された複数の拡散領域と、
前記複数の拡散領域のうちの2つの隣接する拡散領域間において前記半導体基板の表面部に形成されたゲート絶縁膜を介してそれぞれ形成され、前記2つの隣接する拡散領域とともに複数のMOSトランジスタを形成する複数のゲート電極と、
前記夫々のMOSトランジスタの上方に横方向に配置された第1、第2電極をそれぞれ有する複数の強誘電体キャパシタと、
前記MOSトランジスタのゲートに接続された複数の第1のコンタクトプラグならびに前記MOSトランジスタのソース/ドレイン領域として動作する前記拡散領域にそれぞれ接続された複数の第2のコンタクトプラグとを含む複数のコンタクトプラグと、
夫々前記第2のコンタクトプラグに接続され、前記強誘電体キャパシタ夫々の第1電極に接触する一側面を有する第1の金属配線ならびにこの第1の金属配線と隣接して前記強誘電体キャパシタの第2電極に接触する一側面を有する第2の金属配線とを含む複数の金属配線と、
を備えたことを特徴とする強誘電体メモリ。 - 半導体基板表面上に形成された複数の拡散領域と、
前記複数の拡散領域のうちの隣接する拡散領域間において前記半導体基板の表面部に形成されたゲート絶縁膜を介してそれぞれ形成され、前記複数の拡散領域とともに複数のMOSトランジスタを形成する複数のゲート電極と、
前記MOSトランジスタを覆うように形成され且つ平らな表面を有する層間絶縁膜と、
半導体基板の表面に形成されたMOSトランジスタの上方に夫々のチャネル長方向に沿って横方向に配置された第1、第2電極をそれぞれ有する複数の強誘電体キャパシタと、
前記層間絶縁膜中に埋設され、一方の端部が前記MOSトランジスタのゲート電極ならびに前記MOSトランジスタのソース/ドレイン領域として動作する拡散領域に夫々接続され、他方の端部が前記層間絶縁膜の表面から露出した複数のコンタクトプラグと、
夫々前記ソース/ドレイン領域として動作する拡散領域に接続されたコンタクトプラグに接触し、前記強誘電体キャパシタの第1電極に接触する一側面を有する第1の金属配線ならびにこの第1の金属配線と隣接して前記強誘電体キャパシタの第2電極に接触する一側面を有する第2の金属配線とを含む複数の金属配線と、
を備えたことを特徴とする強誘電体メモリ。
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