JP3773430B2 - 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 - Google Patents
飛行時間型質量分析計のイオン光学系 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3773430B2 JP3773430B2 JP2001275940A JP2001275940A JP3773430B2 JP 3773430 B2 JP3773430 B2 JP 3773430B2 JP 2001275940 A JP2001275940 A JP 2001275940A JP 2001275940 A JP2001275940 A JP 2001275940A JP 3773430 B2 JP3773430 B2 JP 3773430B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electric field
- ion
- cylindrical electric
- electric fields
- deflection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
- H01J49/408—Time-of-flight spectrometers with multiple changes of direction, e.g. by using electric or magnetic sectors, closed-loop time-of-flight
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、飛行時間型質量分析計(TOFMS)のイオン光学系に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
飛行時間型質量分析計(TOFMS)においては、一定の加速エネルギーで加速した試料イオンが質量に応じた飛行速度を持つことに基づき、一定距離を飛行するのに要する飛行時間を計測して質量を求める。
【0003】
飛行時間型質量分析計では、飛行距離が長い程高い質量分離能が得られるが、飛行距離を長くすると装置の大型化は避けられない。そこで、大型化を防ぎつつ長い飛行距離を実現するために、これまでに多くの工夫がなされている。
【0004】
その一つとして、最近では、らせん階段型のイオン光学系が提案されている(質量分析Vol.48,p.303(2000)または特開2000-243345号公報)。この方法では、イオンが複数回周回可能なように複数の円筒電場を配置すると共に、円筒電場の軸に直交する平面に対しイオンをθ0傾けて円筒電場に打ち込むことにより、らせん階段を下るように何回もイオンを周回させて飛行距離を長くしている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、らせん階段型のイオン光学系においては、円筒電場にy方向(円筒電場の軸方向)の収束性がないため、イオンの飛行距離が増すと共にイオンビームが拡がって、周回数の異なるイオン種が混じる可能性がある。
【0006】
また、円筒電場中におけるイオンの位置や飛行方向は、イオン打ち込みの際の入射角θ0だけで決められるので、イオンをらせん階段型イオン光学系のイオン取り出し位置に正確に到達させるための入射角θ0の調整は微妙な調整となって極めて困難である。
【0007】
本発明は、上述した諸点に鑑みてなされたものであり、その目的は、円筒電場の軸方向の収束性を持ち、入射角θ0の調整が極めて容易で、イオンを所定回数だけ確実に周回させることができる飛行時間型質量分析計のイオン光学系を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
前述の課題を解決するために、本発明は、イオンが順次通過する複数の円筒電場を備え、その複数の円筒電場は最後の円筒電場を出射したイオンが最初に入射した円筒電場に再び入射するように配置されている飛行時間型質量分析計のイオン光学系において、前記円筒電場間に、イオン軌道を円筒電場の軸方向にずらせる偏向電場を備えている。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳説する。
【0010】
図1は、本発明に従う飛行時間型質量分析計のイオン光学系の一実施例を示す図であり、図1(a)はその平面図、図1(b)は図1(a)のイオン軌道中心Cに沿ったA−A断面図である。
【0011】
図1(a)において、E1〜E6は回転角度60°の同一形状及び同一強度の円筒電場である。各円筒電場E1〜E6は、同心円筒電極である内側電極1〜6と外側電極1’〜6’の間の空間に生成される。
【0012】
図1(a)に示されているように、6つの円筒電場E1〜E6は、軸心Oを中心として60°の等間隔で回転対称に配置され、それにより、正六角形状のイオン軌道が形成される。
【0013】
また、図1(a)に示されているように、電場E1とE6の間には、イオン源で生成された試料イオンを正六角形状のイオン軌道に向けて入射させるための偏向電場E0が配置されている。また、同じく電場E1とE6の間には、正六角形状のイオン軌道を飛行してきた試料イオンを外部へ取り出すための偏向電場E7が配置されている。
【0014】
さらに、本発明においては、図1(a)に示されているように、電場E3とE4の間には、イオン軌道を円筒電場の軸方向にずらせるための偏向電場Ei,Ei’が配置されている。偏向電場Eiは、図1(b)に示されているように、平行平面コンデンサ7〜12のそれぞれの平行平板間に生成される。一方、偏向電場Ei’は、図1(b)に示されているように、平行平面コンデンサ7’〜12’のそれぞれの平行平板間に生成される。このように本発明では、円筒電場E3とE4の間には、偏向電場Ei,Ei’を生成するための平行平面コンデンサが配置されており、平行平面コンデンサ7と7’のように2個で1組の平行平面コンデンサが、円筒電場の軸方向に6段配置されている。
【0015】
そして、前記偏向電場EiとEi’によるイオンの偏向方向は互いに反対であり、偏向量は等しい。すなわち、円筒電場E3から偏向電場Eiに入射したイオンは、電場Eiによってθだけ下方(−y方向)に偏向され、一方、電場Eiを通過して偏向電場Ei’に入射したイオンは、電場Ei’によってθだけ上方(y方向)に偏向される。
【0016】
このような構成において、イオン源で生成された試料イオンは、軸Oと平行に上から下へ向けて飛行し、偏向電場E0に入射する。そして、偏向電場E0により飛行方向が90°曲げられた試料イオンは、第1の円筒電場E1に入射し、その後、順次円筒電場E2,E3を通過する。上述したように、試料イオンは偏向電場E0により90°曲げられて円筒電場E1に入射するので、試料イオンが円筒電場E1,E2,E3を通過する際、その試料イオンの軌道は円筒電場の軸(軸心O)に直交する平面上にある。
【0017】
そして、図1(b)に示されているように、円筒電場E3を出射した試料イオンは、平行平面コンデンサ7の偏向電場Eiに入射する。この平行平面コンデンサ7の偏向電場Eiに入射したイオンは、その電場Eiによってθだけ−y方向に偏向され、その後、試料イオンは平行平面コンデンサ7’の偏向電場Ei’に入射する。この平行平面コンデンサ7’の偏向電場Ei’に入射したイオンは、その電場Ei’によってθだけy方向に偏向される。
【0018】
このように、本発明では、円筒電場E3を出射したイオンビームは、平行平面コンデンサ7の偏向電場Eiと平行平面コンデンサ7’の偏向電場Ei’によって、円筒電場の軸方向に平行にずらされる。
【0019】
そして、平行平面コンデンサ7’の偏向電場Ei’を出射した試料イオンは、第4の円筒電場E4に入射し、その後、順次円筒電場E5,E6,E1,E2,E3を通過する。この間、試料イオンの軌道は円筒電場の軸に直交する平面上にある。
【0020】
そして、図1(b)に示されているように、円筒電場E3を出射した試料イオンは、平行平面コンデンサ8の偏向電場Eiに入射する。ここでも、試料イオンは上述した平行平面コンデンサ7のときと同じ偏向作用を受け、平行平面コンデンサ8の偏向電場Eiに入射したイオンは、その電場Eiによってθだけ−y方向に偏向される。その後、試料イオンは平行平面コンデンサ8’の偏向電場Ei’に入射し、試料イオンは上述した平行平面コンデンサ7’のときと同じ偏向作用を受ける。すなわち、平行平面コンデンサ8’の偏向電場Ei’に入射したイオンは、その電場Ei’によってθだけy方向に偏向される。
【0021】
そして、平行平面コンデンサ8’の偏向電場Ei’を出射した試料イオンは、前記と同様にして、順次円筒電場E4,E5,E6,E1,E2,E3を通過し、その後、平行平面コンデンサ9の偏向電場Eiに入射する。
【0022】
以後、同様にして、試料イオンは、各平行平面コンデンサ(9〜12,9’〜12’)による偏向電場Ei,Ei’によって円筒電場の軸方向に平行にずらされながら、順次円筒電場E4,E5,E6,E1,E2,E3を通過する。このため、図1(b)に示されているように、イオン軌道は円筒電場内で徐々に下方(−y方向)に移動して行く。
【0023】
こうして、最初に円筒電場E1に打ち込まれた試料イオンは、図1(b)に示すイオン軌道に沿ってらせん階段を下るように下降して行き、6周したところで円筒電場E1とE6の間の6周後のイオン軌道の高さに合わせて設けられた偏向電場E7に入射し軸Oの方向に取り出されることとなる。取り出されたイオンは、図示しないイオン検出器により検出される。
【0024】
このように本発明では、合計の回転角が360°になりイオンが複数回周回可能なように複数の円筒電場を配置したイオン光学系において、円筒電場間の自由空間の1つに、イオン軌道を円筒電場の軸方向に平行にずらせる偏向電場を備えることにより、イオン軌道を円筒軸の方向に周回ごとにずらすことができる。
【0025】
しかも、図1における各平行平面コンデンサは、イオンビームに対して僅かのy方向収束作用をもつため、イオンビームは従来のようにy方向に拡散せず、一定の範囲内を収束して進行する。また、1組のコンデンサは偏向方向が反対であるから、それらによってイオンビームのエネルギー収束も成立する。
【0026】
表1は、図1に示されているイオン光学系において、円筒電場E1〜E6の回転半径を5cm、各電場間の直線軌道の長さを5cmとし、6周後に電場E6とE1の間からイオンを取り出した場合について計算により求めた、図1(b)の1,2,3,4,5,6位置におけるy方向の収束性を表わす収差係数(y|y),(y|β),(y|δ)を示している。すなわち、電場E3,E4間におけるイオン周回毎の収差係数(y|y),(y|β),(y|δ)を示している。なお、x方向の収束性は、特開2000-243345号公報に示したとおりである。
【0027】
円筒電場E1〜E6の回転半径を1として正規化すると、図1における1周のイオン軌道の長さは約12であるから、(y|β)の値は、12以下の数値なら収束していることを示している。実際、表1における(y|β)の値はいずれも12より小さく、また、表1における6周目の収差係数はいずれも極めて小さく、y方向の収束性が優れた飛行時間型質量分析系のイオン光学系であることが分かる。このようにy方向の収束性が優れた本発明のイオン光学系においては、イオンの飛行距離が増してもイオンビームはy方向に拡がらず、したがって、周回数の異なるイオン種が混じることはない。
【0028】
また、本発明においては、イオン打ち込み時の入射角θ0の調整は、単にイオンが最初の平行平面コンデンサに到達するように調整するだけなので極めて容易となる。そして、所定段数設けられた平行平面コンデンサに所定の電圧を印加するだけで、イオンを所定回数だけ確実に周回させることができる。
【0029】
さらに、本発明において、平行平面コンデンサの段数を必要に応じて増やすことにより、イオン群を10周でも20周でも走らせることができる。この際、1周毎にイオンを円筒軸方向に8mmずらせるとすると、円筒軸方向に16cmの長さを有する円筒電場を配置すれば、イオンを20周回させることができる。
【0030】
なお、本発明は上述した実施例に限定されることなく、変形が可能である。例えば、上記実施例では円筒電場E3,E4間に偏向電場Ei,Ei’を配置したが、それ以外の円筒電場間の自由空間の少なくとも1つに、偏向電場Ei,Ei’を配置するようにしても良い。
【0031】
また、上記実施例では回転角度60°の6つの円筒電場を回転対称に配置したが、これに限らず、合計の回転角度が360°となり周回が可能なように複数の円筒電場を組み合わせれば良い。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明にかかる飛行時間型質量分析計のイオン光学系の実施例を示す図である。
【符号の説明】
E1〜E6…円筒電場、Ei,Ei’…偏向電場、1 〜6…内側電極、1’〜6’…外側電極、7〜12’…平行平面コンデンサ
Claims (5)
- イオンが順次通過する複数の円筒電場を備え、その複数の円筒電場は最後の円筒電場を出射したイオンが最初に入射した円筒電場に再び入射するように配置されている飛行時間型質量分析計のイオン光学系において、
前記円筒電場間に、イオン軌道を円筒電場の軸方向にずらせる偏向電場を備えたことを特徴とする飛行時間型質量分析計のイオン光学系。 - 前記偏向電場はイオンが順次通過する2つの偏向電場を備えており、その2つの偏向電場はそれぞれ平行平面コンデンサによって生成されていて、それらの偏向電場によるイオンの偏向方向は互いに反対であることを特徴とする請求項1記載の飛行時間型質量分析計のイオン光学系。
- 前記イオンが円筒電場を通過するときのイオン軌道は、円筒電場の軸に直交する平面上にあることを特徴とする請求項1または2に記載の飛行時間型質量分析計のイオン光学系。
- 前記複数の円筒電場は、イオンの回転方向が同一で合計の回転角度が360°であることを特徴とする請求項1記載の飛行時間型質量分析計のイオン光学系。
- 前記複数の円筒電場は、回転角度及び回転半径が等しい6個の円筒電場から構成され、且つ回転対称に配置されていることを特徴とする請求項4記載の飛行時間型質量分析装置のイオン光学系。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001275940A JP3773430B2 (ja) | 2001-09-12 | 2001-09-12 | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001275940A JP3773430B2 (ja) | 2001-09-12 | 2001-09-12 | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003086129A JP2003086129A (ja) | 2003-03-20 |
JP3773430B2 true JP3773430B2 (ja) | 2006-05-10 |
Family
ID=19100719
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001275940A Expired - Fee Related JP3773430B2 (ja) | 2001-09-12 | 2001-09-12 | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3773430B2 (ja) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6867414B2 (en) | 2002-09-24 | 2005-03-15 | Ciphergen Biosystems, Inc. | Electric sector time-of-flight mass spectrometer with adjustable ion optical elements |
JP4001100B2 (ja) | 2003-11-14 | 2007-10-31 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
JP2005322429A (ja) * | 2004-05-06 | 2005-11-17 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP5226824B2 (ja) * | 2004-05-21 | 2013-07-03 | 日本電子株式会社 | 飛行時間型質量分析方法及び装置 |
JP4980583B2 (ja) | 2004-05-21 | 2012-07-18 | 日本電子株式会社 | 飛行時間型質量分析方法及び装置 |
JP4649234B2 (ja) * | 2004-07-07 | 2011-03-09 | 日本電子株式会社 | 垂直加速型飛行時間型質量分析計 |
JP4553782B2 (ja) * | 2005-04-12 | 2010-09-29 | 日本電子株式会社 | 飛行時間型質量分析計 |
JP4645424B2 (ja) | 2005-11-24 | 2011-03-09 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置 |
JP4790507B2 (ja) * | 2006-06-14 | 2011-10-12 | 日本電子株式会社 | プロダクトイオンスペクトル作成方法及び装置 |
JP5259169B2 (ja) | 2007-01-10 | 2013-08-07 | 日本電子株式会社 | タンデム型飛行時間型質量分析装置および方法 |
US8026480B2 (en) * | 2007-05-22 | 2011-09-27 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
JP2011210698A (ja) | 2010-03-11 | 2011-10-20 | Jeol Ltd | タンデム型飛行時間型質量分析装置 |
JP5555582B2 (ja) | 2010-09-22 | 2014-07-23 | 日本電子株式会社 | タンデム型飛行時間型質量分析法および装置 |
JP2012084299A (ja) | 2010-10-08 | 2012-04-26 | Jeol Ltd | タンデム型飛行時間型質量分析計 |
JP2012243667A (ja) | 2011-05-23 | 2012-12-10 | Jeol Ltd | 飛行時間質量分析装置及び飛行時間質量分析方法 |
JP5972651B2 (ja) | 2012-04-25 | 2016-08-17 | 日本電子株式会社 | 飛行時間型質量分析計 |
JP5972662B2 (ja) | 2012-05-15 | 2016-08-17 | 日本電子株式会社 | タンデム飛行時間型質量分析計 |
JP5993677B2 (ja) | 2012-09-14 | 2016-09-14 | 日本電子株式会社 | 飛行時間型質量分析計及び飛行時間型質量分析計の制御方法 |
-
2001
- 2001-09-12 JP JP2001275940A patent/JP3773430B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003086129A (ja) | 2003-03-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3773430B2 (ja) | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 | |
JP6256557B2 (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
US11158495B2 (en) | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer | |
JP4939138B2 (ja) | 質量分析装置用イオン光学系の設計方法 | |
JP3571566B2 (ja) | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 | |
EP0863537B2 (en) | Ion trap | |
JP6287419B2 (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
US9865445B2 (en) | Multi-reflecting mass spectrometer | |
US8431887B2 (en) | Central lens for cylindrical geometry time-of-flight mass spectrometer | |
US7595486B2 (en) | RF multipole ion guides for broad mass range | |
TWI459429B (zh) | 聚焦電子束成像裝置、多極靜電偏轉器及掃瞄電子束之方法 | |
JP2006228435A (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
JP2010512631A (ja) | 同軸飛行時間型質量分析装置 | |
CN1020989C (zh) | 彩色阴极射线管用的电子枪 | |
JPH0352180B2 (ja) | ||
EP0202117B1 (en) | Double focusing mass spectrometers | |
JP4766170B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JPH11135061A (ja) | 飛行時間型質量分析計におけるイオン光学系 | |
JP3571567B2 (ja) | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 | |
CN105914126B (zh) | 一种离子束调节装置、离子光学系统及二次离子质谱仪 | |
JP4957187B2 (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
US9536723B1 (en) | Thin field terminator for linear quadrupole ion guides, and related systems and methods | |
JPH09213250A (ja) | 荷電粒子ビームの偏向装置 | |
JP2018010766A (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
US20230059144A1 (en) | Ion analyzer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050614 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051214 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060131 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060214 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 3773430 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090224 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100224 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110224 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110224 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120224 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130224 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130224 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140224 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |