JP5972662B2

JP5972662B2 - タンデム飛行時間型質量分析計

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Publication number: JP5972662B2
Application number: JP2012111118A
Authority: JP
Inventors: 貴弥佐藤
Original assignee: Jeol Ltd
Current assignee: Jeol Ltd
Priority date: 2012-05-15
Filing date: 2012-05-15
Publication date: 2016-08-17
Anticipated expiration: 2032-05-15
Also published as: DE102013007288A1; US8766175B2; US20130306859A1; JP2013239319A

Description

本発明は、微量化合物の定量分析、定性一斉分析、および試料イオンの構造解析分野に用いられるタンデム飛行時間型質量分析計に関する。

［飛行時間型質量分析計（TOFMS）］
TOFMSは、一定量のエネルギーを与えてイオンを加速・飛行させ、検出器に到達するまでに要する時間からイオンの質量電荷比を求める質量分析装置である。TOFMSでは、イオンを一定のパルス電圧Ｖ_aで加速する。このとき、イオンの速度ｖは、エネルギー保存則から、
ｍｖ²／２＝ｑｅＶ_a ………（１）
ｖ＝ √（２ｑｅＶ／ｍ） ………（２）
と表わされる（ただしｍ：イオンの質量、ｑ：イオンの電荷、ｅ：素電荷）。

一定距離Ｌの後に置いた検出器には、飛行時間Ｔで到達する。

Ｔ＝Ｌ／ｖ＝Ｌ√（ｍ／２ｑｅＶ） ………（３）
式（３）により、飛行時間Ｔがイオンの質量ｍによって異なることを利用して、質量を分離する装置がTOFMSである。図１に直線型TOFMSの一例を示す。また、イオン源と検出器の間に反射場を置くことにより、エネルギー収束性の向上と飛行距離の延長を可能にする反射型TOFMSも広く利用されている。図２に反射型TOFMSの一例を示す。

［TOFMSの性能向上］
TOFMSの質量分解能は、総飛行時間をＴ、ピーク幅をΔＴとすると、
質量分解能＝Ｔ／２ΔＴ ………（４）
で定義される。すなわち、ピーク幅ΔＴを一定にして、総飛行時間Ｔを延ばすことができれば、質量分解能を向上させられる。しかし、従来の直線型、反射型のTOFMSでは、総飛行時間Ｔを延ばすこと、すなわち総飛行距離を延ばすことは装置の大型化に直結する。装置の大型化を避け、かつ高質量分解能を実現するために開発された装置が、多重周回型TOFMS（非特許文献１）である。この装置は、円筒電場にマツダプレートを組み合わせたトロイダル電場を４個用い、８の字型の周回軌道を多重周回させることにより、総飛行時間Ｔを延ばすことができる。この装置では、初期位置、初期角度、初期運動エネルギーによる検出面での空間的な広がりと時間的な広がりを１次の項まで収束させることに成功している。

しかし、閉軌道を多重周回するTOFMSには、「追い越し」の問題が存在する。これは閉軌道を多重周回するため、軽いイオン（速度大きい）が重いイオン（速度小さい）を追い越してしまうことにより起こる。このため、検出面に軽いイオンから順に到着するというTOFMSの基本概念が通用しなくなる。

この問題を解決するために考案されたのが、らせん軌道型TOFMSである。らせん軌道型TOFMSは、閉軌道の始点と終点を閉軌道面に対して垂直方向にずらすことを特徴としている。これを実現するためには、イオンをはじめから斜めに入射する方法（特許文献１）や、デフレクタを用いて閉軌道の始点と終点を垂直方向にずらす方法（特許文献２）、積層トロイダル電場を用いる方法（特許文献３）がある。

また、同様のコンセプトとして、追い越しの起こる多重反射型TOFMS（特許文献４）の軌道をジグザグ型にしたTOFMSも考案されている（特許文献５）。

［MS/MS測定とTOF/TOF装置］
MSでは、イオン源で生成したイオン群を質量分析部にてm/z値ごとに分離し検出する。結果は各イオンのm/z値および相対強度をグラフ化したマススペクトルという形で表わされる。以下、この測定を後述のMS/MS測定に対し、MS測定と呼ぶ。これに対し、イオン源で生成した特定のイオンを初段のMS装置（以下MS1）で選択し（選択されたイオンはプリカーサイオンと呼ばれる）、自発的または強制的に開裂させ、生成したイオン群（開裂生成したイオンはプロダクトイオンと呼ばれる）を後段のMS装置（以下MS2）で質量分析するMS/MS測定（図３）があり、それが可能な装置をMS/MS装置（図４）と呼ぶ。MS/MS測定（図３）では、プリカーサイオンのm/z値と複数の開裂経路で生成するプロダクトイオンのm/z値、およびそれらの相対強度情報が得られるため、プリカーサイオンの構造解析を行なうことができる。

TOFMSを２台直列接続したMS/MS装置は、一般的にタンデムTOF（あるいはTOF/TOF）と呼ばれ、主にMALDIイオン源を採用した装置に使用されている。従来のタンデムTOFの多くは、直線型TOFMSと反射型TOFMSで構成される（図５）。その２つのTOFMSの間には、プレカーサイオンを選択するためのイオンゲートが設けられ、イオンゲート付近に第１TOFMSの収束点が配置される。プリカーサイオンは、自発的に開裂する場合や、第１TOFMSもしくは、第２TOFMSの反射場以前に配置された衝突室において強制的に開裂させられる場合がある。

さて、本発明に特に関係が深い単一飛行時間測定において、複数のプリカーサイオンを選択する方法について説明する（特許文献５）。直線型TOFMSを第１TOFMSに採用し、反射型TOFMSを第２TOFMSに採用した場合のように、第２TOFMSの方が第１TOFMSよりも飛行時間が長い場合には、１回の飛行時間測定について、１つのプリカーサイオンを選択して行なうMS/MS測定しかできない。

このとき、選択されているプリカーサイオン以外は、試料を浪費していることになる。しかしながら、第１TOFMSの飛行時間の方が第１TOFMSのそれよりも十分に長い場合には、単一飛行時間測定内で複数のプリカーサイオンを選択することが可能である。第１TOFMSの飛行時間を第２TOFMSの飛行時間で除した値が０．５、２、５、１０の場合について、最初に選択したプリカーサイオンの質量と、次に選択可能なプリカーサイオンの質量の関係を、図６に示す。

図６から明らかなように、第１TOFMSの飛行時間が第２TOFMSのそれと比較して大きくなるに従って、単一飛行時間測定内により多くのプリカーサイオンを選択することができ、１つしか選択できない場合よりも、試料の利用効率が格段に上がることが分かる。

第１TOFMSの飛行時間を長くする方法として、第１TOFMSの加速電圧を第２TOFMSのそれに較べて非常に小さくする方法や、第１TOFMSに飛行距離の長いTOFMSを採用する方法などがある。しかしながら、どちらの場合でも、飛行時間を長くすることで、第１TOFMSでのプリカーサイオンの透過率は低下する。第１TOFMSを長くし過ぎると、イオン源で生成したプリカーサイオンのイオン量に対する、第１TOFMS通過後のイオン量の減衰が無視できなくなる。

M. Toyoda, D. Okumura, M. Ishihara and I. Katakuse, J. Mass Spectrom., 2003, 38, pp. 1125-1142. 特開２０００−２４３３４５号公報特開２００３−８６１２９号公報特開２００６−１２７８２号公報英国特許第２０８００２１号公報国際公開第２００５／００１８７８号パンフレット

従来のタンデム飛行時間質量分析法の問題は、第１TOFMSの飛行時間が、第２TOFMSのそれよりも短い場合は、単一飛行時間測定においてプリカーサイオンを１つしか選択することができず、試料の浪費につながる。また、第１TOFMSの飛行時間が、第２TOFMSのそれよりも十分長い場合（例えば１０倍以上）は、単一飛行時間測定においてプリカーサイオンを複数選択できるものの、第１TOFMSでのイオン透過率が低下し、やはり試料の利用効率の低下につながるという問題があった。

本発明の目的は、上述した点に鑑み、第１TOFMSの飛行時間が第２TOFMSのそれよりも数倍程度長い場合を想定することで、第１TOFMSでのイオン量の減少を抑えることを特徴とする。このとき、単一飛行時間測定で選択できるプリカーサイオン数は限定されてしまうので、プリカーサイオン選択の方法を工夫することを提案する。

また、単一飛行時間測定で複数のプリカーサイオンを選択する場合に、プリカーサイオンのイオン量や、得られたプロダクトイオン・スペクトルの質に応じて、十分な質のプロダクトイオン・スペクトルを得るための積算回数が異なることが多い。そのような場合についても、効率的にプロダクトイオン・スペクトルを得ることができる方法を提案する。

この目的を達成するため、本発明にかかるタンデム飛行時間型質量分析計は、サンプルをイオン化し、繰り返しパルス的に射出するイオン源と、繰り返し射出されるサンプルイオンを飛行させ質量分離する第１の飛行時間型質量分析部と、該第１の飛行時間型質量分析部により質量電荷比に応じて分離されたプリカーサイオンを検出するための第１の検出部と、前記第１の飛行時間型質量分析部により質量電荷比に応じて分離されたプリカーサイオンが飛行する経路に配置されるイオンゲートと、該イオンゲートを通過したプリカーサイオンを導入し開裂させプロダクトイオンを生成する衝突室と、該衝突室から取り出されたプロダクトイオンを飛行させ、質量電荷比に応じて分離する第２の飛行時間型質量分析部と、該第２の飛行時間型質量分析部で分離されたイオンを検出する第２の検出部と、前記イオン源からのサンプルイオンの射出後タイミングを取って前記イオンゲートを開き所望のイオン種を通過させるためのゲート信号を発生するゲート信号発生部と、を備えたタンデム飛行時間型質量分析計であって、第１の飛行時間型質量分析部における所要飛行時間Ｔ１を第２の飛行時間型質量分析部における所要飛行時間Ｔ２の２倍以上に設定されると共に、前記ゲート信号発生部は、あらかじめ前記第１の検出部を用いて取得したプリカーサイオンの質量スペクトルデータに基づき、該質量スペクトルに出現する各プリカーサイオンについて、前記イオンゲートを選択通過させた際にプロダクトイオンが第２の検出部によって検出される飛行時間範囲が重ならないように各プリカーサイオンを選択通過させるゲート信号の発生タイミングのスケジュールを作成するスケジュール作成手段を備えており、前記ゲート信号発生部は、該スケジュール作成手段により作成されたスケジュールに基づいてゲート信号を発生して前記イオンゲートに供給し、前記スケジュール作成手段は、前記第１の飛行時間型質量分析部において１回の質量分析を行う間に、プリカーサイオンの質量スペクトルに出現する全てのプリカーサイオンについての第２の飛行時間型質量分析部によるプロダクトイオンの質量分析が行えない場合、第１の飛行時間型質量分析部による複数回の質量分析により全てのプリカーサイオンについての第２の飛行時間型質量分析部によるプロダクトイオンの質量分析が行えるように複数回の質量分析にわたるゲート信号の発生タイミングのスケジュールを作成することを特徴としている。

本発明のタンデム飛行時間型質量分析計によれば、サンプルをイオン化し、繰り返しパルス的に射出するイオン源と、繰り返し射出されるサンプルイオンを飛行させ質量分離する第１の飛行時間型質量分析部と、該第１の飛行時間型質量分析部により質量電荷比に応じて分離されたプリカーサイオンを検出するための第１の検出部と、前記第１の飛行時間型質量分析部により質量電荷比に応じて分離されたプリカーサイオンが飛行する経路に配置されるイオンゲートと、該イオンゲートを通過したプリカーサイオンを導入し開裂させプロダクトイオンを生成する衝突室と、該衝突室から取り出されたプロダクトイオンを飛行させ、質量電荷比に応じて分離する第２の飛行時間型質量分析部と、該第２の飛行時間型質量分析部で分離されたイオンを検出する第２の検出部と、前記イオン源からのサンプルイオンの射出後タイミングを取って前記イオンゲートを開き所望のイオン種を通過させるためのゲート信号を発生するゲート信号発生部と、を備えたタンデム飛行時間型質量分析計であって、第１の飛行時間型質量分析部における所要飛行時間Ｔ１を第２の飛行時間型質量分析部における所要飛行時間Ｔ２の２倍以上に設定されると共に、前記ゲート信号発生部は、あらかじめ前記第１の検出部を用いて取得したプリカーサイオンの質量スペクトルデータに基づき、該質量スペクトルに出現する各プリカーサイオンについて、前記イオンゲートを選択通過させた際にプロダクトイオンが第２の検出部によって検出される飛行時間範囲が重ならないように各プリカーサイオンを選択通過させるゲート信号の発生タイミングのスケジュールを作成するスケジュール作成手段を備えており、前記ゲート信号発生部は、該スケジュール作成手段により作成されたスケジュールに基づいてゲート信号を発生して前記イオンゲートに供給することを特徴としているので、プリカーサイオンごとに必要とされる飛行時間範囲と、実際にかかる測定時間とをうまく組み合わせることによって、試料を無駄にすることなく、効率よくMS／MS測定を行なわせることが可能になった。

従来のTOFMS装置の一例を示す図である。従来のTOFMS装置の一例を示す図である。 MS／MS測定の一例を示す図である。タンデムTOFMS装置の基本構成を示す図である。タンデムTOFMS装置の一例を示す図である。プリカーサイオンの飛行時間と質量との関係を示す表である。プリカーサイオンとプロダクトイオンの関係を示す図である。本発明にかかるタンデムMS／MS測定方法の一実施例である。本発明にかかるタンデムMS／MS測定方法の別の実施例である。

以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。

［実施例１］
まず、本実施例に用いられるタンデムTOFMSの基本構成は、図４の構成とまったく同じである。すなわち、イオン源１において生成したサンプルイオンを、TOFMS(1)２により質量分離した後、該TOFMS(1)２のイオン軌道内または該TOFMS(1)２のイオン軌道の出口付近に設けられた図示しないイオンゲートのＯＮ／ＯＦＦによって所望のプリカーサイオンピークを選択し、イオンゲートの後段に置かれた衝突室などの開裂手段３に導入して、プリカーサイオンを開裂させる。

開裂されたプリカーサイオンは、TOFMS(2)４においてさらに質量分離され、後段のマイクロチャンネルプレート（ＭＣＰ）などで作られた検出器で電気信号に変換される。変換されたイオン由来の電気信号は、図示しないデジタイザによってデジタル信号に変換された後、ＣＰＵ６に送られる。ＣＰＵ６で情報処理された結果が、マススペクトルとして液晶画面などの表示部７に表示される。

ＣＰＵ６は、所望のプリカーサイオンピークを選択するために、オペレータなどから与えられた指示内容に基づいて、イオン源１のレーザー光照射などによるイオン化のタイミングと加速電圧印加のタイミング、ならびにTOFMS(1)２に置かれた図示しないイオンゲートのＯＮ／ＯＦＦのタイミングをコントロールするための信号を、イオン源１と図示しないイオンゲートとに送信する。これにより、第１のＭＳ部は、所望のプリカーサイオンピークのみを選んで、開裂手段３にプリカーサイオンを導入することができる。

本実施例に用いられる第１TOFMSの飛行時間Ｔ１（イオン源からゲートまでの飛行時間）は、第２TOFMSの飛行時間Ｔ２（ゲートから第２の検出器までの飛行時間）の３倍ないし１０倍程度に設定される。この要件を満たす第１TOFMSとしては、イオン軌道を複数の扇形電場で構成したらせん軌道型TOFMSや、イオン軌道を複数の反射電場で構成したジグザグ軌道型TOFMSなどが上げられる。また、本実施例のTOF／TOF装置との接続に相性の良いイオン源として、マトリックス支援レーザー脱離イオン化法（MALDI法）に代表される、レーザーイオン化法が利用され得る。MALDI法では、主に１価イオンが生成する。

また、一般的に衝突室は、出入り口が数ミリメートル径の部屋であるため、プリカーサイオンビームの一部が出入り口において遮断される場合がある。そのため、MS測定の感度を確保するために、第１TOFMSの直後にMS測定用の検出器を配置しても良い。

その方法としては、第１TOFMSと衝突室との間に、イオン軌道上とイオン軌道外とで移動可能に構成されたMS測定用の検出器を配置するか、あるいは、扇形電場や偏向器など軌道を切り替える手段をイオン軌道上に配置し、MS測定の場合には、MS測定用の検出器へ、MS／MS測定の場合には、衝突室へとイオンビームの導入方向を切り替えるようにするかすれば良い。

第１TOFMSでは、その構成要素であるイオン源において、試料化合物群をイオン化し、パルス電圧を与えて、生成したイオンを加速させる。イオン化によって、試料化合物群は試料イオン群となる。まずはマススペクトルを測定するために、すべてのイオン群をイオンゲートで排除することなく通過させ、衝突室、第２TOFMSを経由して、第２TOFMS内の検出器に入射させて、イオン群のマススペクトルを検出する。

次に、MS／MS測定について、図７を用いて説明する。ここでは、７つのプリカーサイオンPre1〜Pre7（価数は１価とし、質量は番号の若い順に小さいものとする）から、Pre4を選択する場合を示す。各イオンは、第１TOFMSによって質量分離された後、イオンゲートに到達する。

各プリカーサイオンPreNのイオンゲート到達時間をT_N,1Gとすると、図７（ａ）に示すように、質量の小さい順にイオンゲートに到達する。Pre4はイオンゲートで選択された後、衝突室で一部開裂されて、プロダクトイオンを生成する。生成したプロダクトイオンと生き残ったプリカーサイオンは、第２TOFMSで質量分離され、検出器で検出される。

このとき、プリカーサイオンの飛行時間が最も長いので、イオンゲートでの選択からプリカーサイオンが検出器で検出されるまでの時間が、Pre4のMS／MS測定の飛行時間範囲となる。

さて、ここでプリカーサイオンをPre1からPre7まで順次測定していく場合と、複数のプリカーサイオン選択を段階的に切り替える方法について説明する。図８（ａ）、（ｂ）は、横方向に各プリカーサイオンの飛行時間範囲、縦方向に各プリカーサイオンの測定に要する時間（すなわち、単位時間測定の繰り返し回数）を示している。各プリカーサイオンは飛行時間範囲と測定時間とから成る長方形の領域を持っており、これらの領域が互いに重ならないようにしなければならない。

すなわち、選択された個々のプリカーサイオンごとに必要とされる飛行時間範囲と、実際にかかる個々のプリカーサイオンの測定時間とが、お互いに重なり合わないよう順番を整えて時系列的に配列するための配列入力手段を設け、測定の時間の配列を調整できるようにする。

この時系列的配列は、熟練したオペレータが自分の持つ経験に基づいて決定しても良いし、予備的な測定によって求められたマススペクトル中の各イオンピークの質量電荷比の値を、図６に例示されるようなプリカーサイオンの質量とそのプリカーサイオンを開裂させてTOFMS(2)４で測定を行なってから次のプリカーサイオンの測定を行なえるようになるまでに要する時間とをまとめたテーブルの数値とＣＰＵに比較させることにより、自動的に最適な時系列的配列を決定させた上で、本測定に入るようにしも良い。

さらに、この目的実現のために、本発明のタンデム飛行時間型質量分析計は、イオンゲートを開き所望のイオン種を通過させるためのゲート信号を発生するゲート信号発生部を備えたタンデム飛行時間型質量分析計であって、該ゲート信号発生部は、あらかじめ前記第１の検出部を用いて取得したプリカーサイオンの質量スペクトルデータに基づき、該質量スペクトルに出現する各プリカーサイオンについて、前記イオンゲートを選択通過させた際にプロダクトイオンが第２の検出部によって検出される飛行時間範囲が重ならないように各プリカーサイオンを選択通過させるゲート信号の発生タイミングのスケジュールを作成するスケジュール作成手段を備えるような構成としても良い。

この例では、第１TOFMSの時間が十分長くないため、Pre1〜Pre7のすべてを同時にMS／MS測定にかけることはできない。図８（ａ）は、各プリカーサイオンを順次選択した場合を示し、図８（ｂ）は、Pre1、3、5、7を選択する第１のステップと、Pre2、4、6を選択する第２のステップの２段階で切り替える場合を示した。

図８（ａ）、（ｂ）の測定時間を比較すれば、図８（ａ）の例よりも、図８（ｂ）の例の方が、短時間に効率よくMS／MS測定を行なえることを示している。この複数段の測定を交互に繰り返し行なうことで、測定データを積算させ、短い時間で効率よく、試料の無駄を低減させながら、質の高いマススペクトルを得ることができる。

要するに、個々のプリカーサイオンごとに必要とされる飛行時間範囲と、実際にかかる個々のプリカーサイオンの測定時間とが、お互いに重なり合わないようにするため、本実施例では、測定される個々のプリカーサイオンの測定を重なり合わないプリカーサイオン群のみから成る複数段の測定段に再構成し、該測定段を切り替えながら繰り返し測定を進めるようにした点が、本実施例の核心である。

従って、設けられる測定段は、図８（ｂ）の場合、わずか２段であるが、これは３段以上の複数段に設定されていても良いことは、言うまでもない。

［実施例２］
本実施例に用いられるタンデムTOFMSの装置構成も、図４の構成とまったく同じであるので、ここではその説明を省く。

実施例１は、各プリカーサイオンの測定時間が同じ場合の例だった。しかし一般に、イオン化時点での各プリカーサイオンのイオン量は、イオン種ごとに異なっているのが普通である。そのため、イオン量の少ないプリカーサイオンは、その測定時間を長くして積算回数をより増やすことで、十分なプロダクトイオン量を確保し、得られる情報の質を向上させる必要がある。

本実施例では、Pre4とPre7のイオンが、他のイオンに比べて長い測定時間を要すると仮定する。Pre1、Pre3、Pre5、Pre7をまず選択して測定した場合、長い測定時間を必要とするPre7に測定の終了時間を合わせると、Pre1、Pre3、Pre5の３つのイオンについては、過剰な品質の測定を行なう結果となる。

そこで、本実施例では、図９に示すように、Pre1、Pre3、Pre5の必要測定時間だけ測定を行なった後、Pre7の１度目の測定を行ない、その後、Pre7と時間的な干渉を生じないPre2とPre4の測定を行なう。その後、再びPre7の測定を行なって、Pre7のデータの質を向上させる。

Pre7の２度目の測定が終了したら、その後、Pre7と時間的な干渉を生じないPre4とPre6の測定を開始する。ここでPre4は、２度目の測定であり、これにより、Pre4のデータの質を向上させることができる。

要するに、本実施例では、プリカーサイオンのうち、イオン量が少ないプリカーサイオンについては、前記複数段の測定段の測定を跨いで測定を行なうことができるよう、測定の時間の配列を再調整できるようにした。

このように、プリカーサイオンごとに必要とされる飛行時間範囲と、実際にかかる測定時間とをうまく組み合わせることによって、試料を無駄にすることなく、効率よくMS／MS測定を行なわせることができる。

タンデム型飛行時間型質量分析装置のMS／MS測定に広く利用できる。

１：イオン源、２：第１の飛行時間質量分析計、３：開裂手段、４：第２の飛行時間質量分析計、５：検出器、６：ＣＰＵ、７：表示部

Claims

サンプルをイオン化し、繰り返しパルス的に射出するイオン源と、
繰り返し射出されるサンプルイオンを飛行させ質量分離する第１の飛行時間型質量分析部と、
該第１の飛行時間型質量分析部により質量電荷比に応じて分離されたプリカーサイオンを検出するための第１の検出部と、
前記第１の飛行時間型質量分析部により質量電荷比に応じて分離されたプリカーサイオンが飛行する経路に配置されるイオンゲートと、
該イオンゲートを通過したプリカーサイオンを導入し開裂させプロダクトイオンを生成する衝突室と、
該衝突室から取り出されたプロダクトイオンを飛行させ、質量電荷比に応じて分離する第２の飛行時間型質量分析部と、
該第２の飛行時間型質量分析部で分離されたイオンを検出する第２の検出部と、
前記イオン源からのサンプルイオンの射出後タイミングを取って前記イオンゲートを開き所望のイオン種を通過させるためのゲート信号を発生するゲート信号発生部と、
を備えたタンデム飛行時間型質量分析計であって、
第１の飛行時間型質量分析部における所要飛行時間Ｔ１を第２の飛行時間型質量分析部における所要飛行時間Ｔ２の２倍以上に設定されると共に、
前記ゲート信号発生部は、あらかじめ前記第１の検出部を用いて取得したプリカーサイオンの質量スペクトルデータに基づき、該質量スペクトルに出現する各プリカーサイオンについて、前記イオンゲートを選択通過させた際にプロダクトイオンが第２の検出部によって検出される飛行時間範囲が重ならないように各プリカーサイオンを選択通過させるゲート信号の発生タイミングのスケジュールを作成するスケジュール作成手段を備えており、
前記ゲート信号発生部は、該スケジュール作成手段により作成されたスケジュールに基づいてゲート信号を発生して前記イオンゲートに供給し、
前記スケジュール作成手段は、前記第１の飛行時間型質量分析部において１回の質量分析を行う間に、プリカーサイオンの質量スペクトルに出現する全てのプリカーサイオンについての第２の飛行時間型質量分析部によるプロダクトイオンの質量分析が行えない場合、第１の飛行時間型質量分析部による複数回の質量分析により全てのプリカーサイオンについての第２の飛行時間型質量分析部によるプロダクトイオンの質量分析が行えるように複数回の質量分析にわたるゲート信号の発生タイミングのスケジュールを作成することを特徴とするタンデム飛行時間型質量分析計。
前記ゲート信号発生部は、イオンゲートで選択したプリカーサイオンの質量電荷比と次に選択可能なプリカーサイオンの質量電荷比との関係を表す情報を保有しており、前記スケジュール作成手段は、該情報に基づいてプリカーサイオン質量スペクトルに出現する各プリカーサイオンについて、前記イオンゲートを選択通過させた際にプロダクトイオンが第２の検出部によって検出される飛行時間範囲が重ならないように各プリカーサイオンを選択通過させるゲート信号の発生タイミングのスケジュールを作成することを特徴とする請求項１記載のタンデム飛行時間型質量分析計。
前記Ｔ１は、前記Ｔ２の３倍以上から１０倍以下に設定されていることを特徴とする請求項１又は２に記載のタンデム飛行時間型質量分析計。