JP3763936B2 - アドレスデコード回路 - Google Patents

アドレスデコード回路 Download PDF

Info

Publication number
JP3763936B2
JP3763936B2 JP16621697A JP16621697A JP3763936B2 JP 3763936 B2 JP3763936 B2 JP 3763936B2 JP 16621697 A JP16621697 A JP 16621697A JP 16621697 A JP16621697 A JP 16621697A JP 3763936 B2 JP3763936 B2 JP 3763936B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
decode
output
selected state
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP16621697A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH1116366A (ja
Inventor
幸宏 藤本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP16621697A priority Critical patent/JP3763936B2/ja
Priority to US09/102,895 priority patent/US6107837A/en
Publication of JPH1116366A publication Critical patent/JPH1116366A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3763936B2 publication Critical patent/JP3763936B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/10Decoders

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、アドレスデコード回路の高速化に関するものであり、特に同期式の高速メモリのロウデコーダに用いられて好適なものである。
【0002】
【従来の技術】
メモリ装置において、アドレスデコード回路におけるロウデコーダは、入力されたアドレス信号からメモリアレイの複数のワード線のうちの1本を選択し、メモリセルを活性化させる。このため、ロウデコーダの出力はメモリセルの活性化のタイミングを決定し、それはセンスアンプにおけるデータの読み出しタイミングにも影響するため、アドレスデコード回路を高速化することはメモリアクセスを高速化する上で非常に重要である。
【0003】
図4に従来のアドレスデコード回路を示し、図5にその動作波形を示す。
【0004】
このアドレスデコード回路は、7ビットのロウアドレス信号をデコードし、128ロウのメモリアレイ100のワード線107を選択するものである。アドレスデコード回路は、プリデコード部101、メインデコード部102、ワード線バッファ部103から構成される。プリデコード部101は論理積(AND)ゲートを用いてアドレスを2ビット,2ビット,3ビットずつデコードし、それぞれ4ビット,4ビット,8ビットのプリデコード信号を出力する。メインデコード部102で各ワード線106毎に設けられたANDゲート104にそのワード線106のアドレスが対応するプリデコード信号が入力され、デコード結果が出力される。このように、2段階でデコードを行うことによって多入力のCMOSゲートを用いることなくデコードを行い、高速化を図っている。
【0005】
デコード後のワード線バッファ部103では、メインデコード部102により選択されたワード線106がクロック信号の入力によって活性化させる。このワード線バッファ部103は、メインデコード部102のデコード結果とクロック信号を入力するANDゲート105によりワード線106をクロック信号に同期して活性化させ、また、セルアレイ100のビット線のプリチャージ時にメモリセル107を活性化させないために必要である。このようなワード線バッファ部103において、ワード線106にグリッジが生じないようにするためには、図5の動作波形に示すようにクロック信号の入力タイミングは必ずデコードが完了した後でなければならない。
【0006】
このようなアドレスデコード回路においては、ワード線106の活性化はデコード出力の選択/非選択が確定した後でなければならない。このため、デコード時間を短くするにはデコード出力の立上り/立ち下がりの両方を高速化する必要があり、高速化のための制限が増える。
【0007】
この解決策として、図6に示すようにデコード部112にプリチャージ形のロジックを用いる方法がある。プリチャージ形のロジックではデータが決まる時には片方向のデータ遷移しか生じないため、P型のMOSFET(電界効果トランジスタ)、N型のMOSFETのサイズ比の調整による高速化が有効である。
【0008】
図6に示す回路構成では、アドレス入力部111において相補な2組の入力アドレスのそれぞれと第1のクロック信号のANDをとってアドレス信号をクロック化し、デコード部112において各ワード線116のデコード回路114にそれぞれワード線116のアドレスに対応するアドレス信号が入力される。デコード回路114はアドレスのビット幅分の個数のN型のMOSFET117とプリチャージ用のP型のMOSFET118で構成され、N型のMOSFET117のソース端子は接地レベルに、ドレイン端子は出力端子119に共通接続され、それぞれのゲート端子にクロック化されたアドレス信号がワード線116のアドレスに応じて入力される。P型のMOSFET118はソース端子が電源レベルに、ドレイン端子が出力端子119に接続され、ゲート端子に与えられるプリチャージ信号によって出力端子119がハイレベルにプリチャージされる。ワード線バッファ部117は、デコード部112の出力線119の出力と第2のクロック信号とのANDをとって、ワード線116を選択する信号を出力する。
【0009】
プリチャージ信号によってデコード部112のP型のMOSFET119がオンしている時は、デコード部112へのアドレス入力はアドレス入力部111の第1のクロック信号によって全てロウレベルに設定され、デコード部112のN型のMOSFET114は全てオフ状態であり、デコード回路113の出力はP型のMOSFET118によってハイレベルにプリチャージされる。この時、ワード線バッファ部113の第2のクロック信号はロウレベルであり、ワード線116は活性化されない。プリチャージ信号によってP型のMOSFET118がオフし、第1のクロック信号がハイレベルになることによってアドレス信号がデコード部112に入力されると、アドレスが指し示すワード線116に対応したデコード回路114以外はN型のMOSFET117のうちの少なくとも1つがオンし、出力信号はロウレベルに遷移する。この時、次段のワード線バッファ部113では、第2のクロック信号が入力されてもデコード出力がロウレベルであるため、ワード線116は活性化されない。アドレス信号が指し示すワード線116のデコード回路114の出力のみがプリチャージ時の電位(ハイレベル)に保たれ、次段のワード線バッファ部113において第2のクロック信号の入力によってワード線116が駆動される。
【0010】
このようなプリチャージ方式を採るアドレスデコード回路では、デコード部112のデータ遷移の方向(図6に示す例ではハイレベルからロウレベル)は一定であるために、デコード回路114はワード線116が非選択状態になる方向(図6に示す例ではハイレベルからロウレベル)のみを高速化すればよい。したがって、デコード部112の高速化が容易になり、各ゲートのP型のMOSFET118、N型のMOSFET117のサイズ比の調整等の方法が有効である。
【0011】
しかしながら、ワード線バッファ部113の第2のクロック信号の入力タイミングはデコード回路114においてワード線116が非選択状態であることを検出した後でなければならないために、前述した従来例と同様にデコード信号出力よりも遅いタイミングに調整しなければならない。
【0012】
仮に、このワード線116を活性化させる第2のクロック信号がデコード回路114の出力よりも遅くなった場合には、ワード線116にグリッジが生じて誤動作の原因となる。このため、ワード線116を活性化させる第2のクロック信号には十分なタイミング余裕が必要となり、デコード時間を遅くする原因になる。さらに、この例ではアドレス入力部111においてもアドレスデコード回路への入力をクロック化させる必要性から、第1のクロック信号とANDをとっており、この部分においてもアドレス入力と第1のクロック信号のタイミングに余裕が必要となる。したがって、これら2箇所に必要なタイミング余裕がデコード時間を却って大きくする可能性がある。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
以上説明したように、クロック信号に同期してワード線を択一的に活性化する信号を出力する従来の同期式のアドレスデコード回路においては、プリデコード方式あるいはプリチャージ方式のいずれにあっても、アドレス信号のデコード結果が確定した後にクロック信号を入力する必要があるため、デコード結果の確定とクロック信号の入力との間にタイミングの余裕が設けられていた。しかし、このタイミングの余裕が大きいとデコード結果の出力が遅れ、アドレスデコード回路の動作スピードが遅くなるという不具合を招いていた。一方、タイミングの余裕が早すぎるとワード線にグリッジが生じて誤動作するおそれがあった。これらのことから、信号遅延に関わる回路の様々な要因に影響されることなく両者のタイミングを最適に設定することは極めて困難になっていた。
【0014】
そこで、この発明は、上記に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、デコード結果の出力タイミングの最適化を図り、デコード動作時間の短縮ならびに誤動作の防止を両立し得るアドレスデコード回路を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、課題を解決する第1の手段は、nビットのアドレス信号をデコードして、2個の出力選択信号を択一的に選択状態とする同期式のアドレスデコード回路において、nビットのアドレス信号を受けて、予め選択状態に設定された2個のデコード信号の内、1つのデコード信号を選択して選択状態を保持し、選択されたデコード信号を除く他のデコード信号を選択状態から非選択状態に遷移させるデコード回路と、前記デコード回路の2個のデコード信号を受けて、選択状態が保持されたデコード信号とは異なるデコード信号が選択状態から非選択状態に遷移したことを検出した後、2個のデコード信号に対応した2個の出力選択信号の内、選択状態のデコード信号に対応した出力選択信号を択一的に選択状態とするバッファ回路を具備し、前記デコード回路は、前記nビットのアドレス信号を所定の数に分割してデコードし、そのプリデコード結果とクロック信号との論理演算を行い、前記プリデコード結果をクロック化し、クロック化したプリデコード結果を中間デコード信号として出力するプリデコード部と、前記デコード信号を出力する2本の出力線を選択状態にプリチャージするFETと、前記プリデコード部から与えられる前記中間デコード信号に対応する出力線を非選択状態にディスチャージするFETとからなるメインデコード部とを有し、前記バッファ回路は、2本の出力線の内、対応する出力線以外の何れかの出力線の信号を反転させる2個の反転回路と、対応する出力線の信号と、前記2個の反転回路の内の対応する反転回路の出力信号との論理積をとり、前記2個の出力選択信号を生成する2個のゲートバッファとを有することを特徴とする。
第2の手段は、nビットのアドレス信号をデコードして、2個の出力選択信号を択一的に選択状態とする同期式のアドレスデコード回路において、nビットのアドレス信号を受けて、予め選択状態に設定された2個のデコード信号の内、1つのデコード信号を選択して選択状態を保持し、選択されたデコード信号を除く他のデコード信号を選択状態から非選択状態に遷移させるデコード回路と、前記デコード回路の2個のデコード信号を受けて、選択状態が保持されたデコード信号とは異なるデコード信号が選択状態から非選択状態に遷移したことを検出した後、2個のデコード信号に対応した2個の出力選択信号の内、選択状態のデコード信号に対応した出力選択信号を択一的に選択状態とするバッファ回路を具備し、前記デコード回路は、前記nビットのアドレス信号を所定の数に分割してデコードし、そのプリデコード結果とクロック信号との論理演算を行い、前記プリデコード結果をクロック化し、クロック化したプリデコード結果を中間デコード信号として出力するプリデコード部と、前記デコード信号を出力する2本の出力線を選択状態にプリチャージするFETと、前記プリデコード部から与えられる前記中間デコード信号に対応する出力線を非選択状態にディスチャージするFETとからなるメインデコード部とを有し、前記バッファ回路は、2本の出力線の内、対応する出力線以外の何れかの出力線の信号を反転させる2個の反転回路と、対応する出力線の信号と、前記2個の反転回路の内の対応する反転回路の出力信号との論理積をとり、前記2個の出力選択信号を生成する
個のゲートバッファとを有し、 前記メインデコード部から与えられる2個のデコード信号は、それぞれ2本の出力線に対応した前記バッファ回路にクロック信号に同期することなく直接供給されることを特徴とする。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、図面を用いてこの発明の実施形態を説明する。
【0018】
図1はこの発明の一実施形態に係るアドレスデコード回路の構成を示す図である。
【0019】
図1において、この実施形態のアドレスデコード回路は、クロック信号に同期してnビット例えば7ビットのアドレス信号をデコードして、2n 個例えば128のワード線を選択する128の出力選択信号を択一的に選択状態するものであり、7ビットのアドレス信号を受けて、予め選択状態に設定された128個のデコード信号の内、1つのデコード信号を選択して選択状態を保持し、選択されたデコード信号を除く他のデコード信号を選択状態から非選択状態に遷移させるデコード回路となるプリデコード部1ならびにメインデコード部2と、デコード回路の128個のデコード信号を受けて、選択状態が保持されたデコード信号とは異なるデコード信号が選択状態から非選択状態に遷移したことを検出した後、128個のデコード信号に対応した128の出力選択信号の内、選択状態のデコード信号に対応した出力選択信号を択一的に選択状態とするバッファ回路となるワード線バッファ部3を備えて構成される。
【0020】
プリデコード部1は、7ビットのアドレス信号をそれぞれ2ビット、2ビット、3ビットずつ分割してデコードし、プリデコード結果とクロック信号との論理積をとり、プリデコード結果のプリデコード信号をクロック化する。このプリデコード信号はアドレス信号にかかわらずクロック信号により初期状態がロウレベルに設定され、クロック信号が入力されるとアドレス信号に応じたデコード結果として出力される。
【0021】
メインデコード部2は、メモリアレイ4の行配列されたメモリセル5を選択する128のワード線6に対応した128個のデコード回路7から構成される。デコード回路7は、アドレス信号をプリデコードするためにアドレス信号を分割した数、すなわち3つのN型のMOSFET8と1つのプリチャージ用のP型のMOSFET9で構成される。FET8はソース端子が接地レベルに接続され、ドレイン端子は出力端子10に共通接続され、それぞれのゲート端子にワード線6のアドレスに応じたプリデコード信号が入力され、出力端子10に対してワイヤードオアロジックを構成する。FET9はソース端子が電源レベルに接続され、ドレイン端子が出力端子10に接続され、ゲート端子に与えられるプリチャージ信号によってメインデコード部2の出力端子10をプリチャージする。
【0022】
ワード線バッファ部3は、それぞれのワード線6に対応してワード線6を選択あるいは非選択する128のバッファ回路11から構成される。バッファ回路11は、ワード線6のアドレスに対応したデコード回路7の出力端子10から出力されるデコード信号と、このワード線6のアドレスとは1ビット異なるアドレスに対応したデコード回路7のデコード信号が入力され、後者のデコード信号が反転ゲート12により反転され、この反転信号と前者のデコード信号が論理積(AND)ゲート13により論理積がとられ、その結果をワード線6を選択制御する出力選択信号としてそれぞれ対応するワード線6に与える。
【0023】
このような構成において、プリチャージ信号によってメインデコード部2のFET9がオンし、プリデコード部1においてクロック信号が全てのプリデコード出力をロウレベルに設定するとメインデコード部2のFET8は全てオフ状態になり、デコード信号出力は全てハイレベルに固定される。バッファ回路11のANDゲート13には、そのワード線6のアドレスとは1ビット異なるアドレスのデコード信号が反転ゲート12により反転されて生成された反転信号が入力され、この反転信号入力はロウレベルになるためワード線6は活性化されず非選択状態となる。
【0024】
プリチャージ信号によってFET9がオフし、プリデコード信号がメインデコード部2に入力されると、アドレス信号が指し示すワード線6に対応したデコード回路7以外の127のワード線デコード回路7のFET8のうち少なくとも1つがオンし、デコード信号出力はハイレベルからロウレベルに遷移する。この時、バッファ回路11のANDゲート13にはそのワード線6のアドレスに対応するデコード回路7からロウレベルが入力されるため、ANDゲート13の出力はロウレベルのままであり、ワード線6は活性化されず非選択状態が保持される。
【0025】
一方、アドレス信号が指し示すワード線6に対応したデコード回路7のFET7は全てオフするため、デコード回路7の出力端子10にはプリチャージ時のハイレベルの電位が保持される。バッファ回路11のANDゲート13の一方の入力にはこのハイレベルの電位が与えられ、かつ1ビット異なるワード線デコード回路7のデコード信号出力は必ずロウレベルに遷移するため、その反転信号のハイレベルがANDゲート13の他方の入力に与えられ、ANDゲート13の出力はロウレベルからハイレベルに遷移し、ワード線6はロウレベルからハイレベルへ活性化されて非選択状態から選択状態となる。
【0026】
このようなアドレスデコード回路では、デコード後にワード線6を活性化させるためのクロック信号が不要となる。ワード線6の活性化は1ビット異なるアドレス信号のデコード回路7が非選択を検知したタイミングで決められる。このタイミングは、1ビット異なるアドレス信号に対応したデコード回路7のデコード信号出力よりも反転ゲート12のゲート1段分の遅延があるため、決してワード線6の非選択の時に早すぎるタイミングとはならず、ワード線6の選択タイミングが補償されることになる。
【0027】
これにより、従来例のようにデコード信号出力のタイミングにワード線の活性化クロック信号のタイミングを調整して入力する必要がなくなり、このクロック信号のタイミング余裕も必要なくなる。この結果、ワード線の選択タイミングが最適化され、従来に比べてアドレス信号の入力からワード線が選択されるまでの時間、すなわちデコード動作時間を短縮することができ、かつワード線にグリッジが生じることはなくなり誤動作を防止することができる。
【0028】
さらに、メインデコーダ部2はプリチャージ方式の回路構成を採用し、デコード回路7のデコード信号出力を予め選択状態に設定してデコード信号の非選択を検出するため、デコード回路7の出力遷移方向が一定となり、デコード信号の出力を高速化しやすくなり、デコード回路7のFET8、9のトランジスタサイズ比の調整による高速化が有効である。
【0029】
図2はこの発明の他の実施形態に係るアドレスデコード回路の構成を示す図であり、図3は図2に示す回路の動作波形図である。なお、図2において図1と同符号は同一機能を有するものであり、その説明は省略する。
【0030】
図2において、この実施形態のアドレスデコード回路は、アドレス信号を入力するアドレス入力部21と、アドレス入力部21から与えられたアドレス入力をデコードするデコード部22と、図1に示すワード線バッファ部3と同様なワード線バッファ部3を備えている。
【0031】
アドレス入力部21は、それぞれのアドレス信号の相補な2組の信号(アドレス信号,反転アドレス信号)を生成し、生成されたアドレス信号とクロック信号との論理積をとりクロック化されたアドレス信号を生成する。このアドレス信号は初期状態がロウレベルに設定され、クロック信号が入力されると入力アドレス信号に応じた2組の相補なアドレス信号が生成される。
【0032】
デコード部22は、それぞれのワード線6に対応した128個のデコード回路23を備え、デコード回路23はアドレス信号のビット幅分(この実施形態では7ビット)のN型のMOSFET24とプリチャージ用のP型のMOSFET25で構成されている。FET24のソース端子は接地レベルに接続され、ドレイン端子は出力端子26に共通接続され、それぞれのゲート端子にワード線6のアドレスに応じたアドレス入力部21からのアドレス信号が入力され、出力端子26に対してワイヤードオアロジックを構成している。FET25のソース端子は電源レベルに接続され、ドレイン端子は出力端子26に接続され、ゲート端子に与えられるプリチャージ信号によってデコード部22の出力端子26をプリチャージする。
【0033】
このような構成において、プリチャージ信号によりデコード部22のFET25がオンし、クロック信号によりアドレス入力部21から出力される全ての相補のアドレス信号がロウレベルに設定されると、デコード部22のFET24は全てオフ状態になり、デコード信号出力は全てハイレベルに固定される。これにより、ワード線バッファ部3を構成するANDゲート13には、そのワード線6のアドレスとは1ビット異なるアドレスのデコード回路23のデコード信号出力が反転ゲート12により反転されて生成された反転信号が入力され、このロウレベルの反転信号の入力によりワード線6は活性化されず非選択状態となる。
【0034】
次に、プリチャージ信号によってFET25がオフし、アドレス信号がデコード部22に入力されると、アドレス信号が指し示すワード線6のデコード回路23以外のデコード回路23はFET24のうちの少なくとも1つがオンし、デコード信号出力はハイレベルからロウレベルに遷移する。これにより、ワード線バッファ部3のANDゲート13にはそのワード線6のアドレス信号に対応するデコード回路23からロウレベルの信号が入力されるため、ANDゲート13の出力はロウレベルのままであり、ワード線6は活性化されず非選択状態が保持される。
【0035】
一方、アドレス信号が指し示すワード線6のデコード回路23のFET24はどれもオンせず、出力端子26にはプリチャージ時の電位(ハイレベル)が保たれる。このため、ワード線バッファ部3のANDゲート13の一方の入力端子にはこのハイレベルの電位が入力され、かつ1ビット異なるデコード回路23のデコード信号出力は必ずロウレベルに遷移し、その反転信号のハイレベルの信号がANDゲート13の他方の入力端子に入力されるため、ANDゲート13の出力はロウレベルからハイレベルに遷移し、ワード線6はロウレベルからハイレベルへ活性化されて選択状態となる。
【0036】
この実施形態では、前述した実施形態と同様に、デコード後にワード線6を活性化させるクロック信号が必要なく、ワード線6の活性化は1ビット異なるアドレス信号のデコード回路23が非選択を検知したタイミングで自動的に決められるため、ワード線6の活性化のタイミング余裕を考慮する必要がなくなる。また、デコード部22はプリチャージ回路で構成しているため、先の実施形態と同様にワード線6の非選択のみ高速化すればよいので、高速化が容易に実現できる。さらに、デコード部22をワイヤードオア回路で構成したので、直列接続されたトランジスタでデコードを行う構成に比べて、多入力のゲートを構成できプリデコードをなくして1段でデコードを行うことが可能となり、デコード時間はさらに高速化することができる。
【0037】
このように、上述したそれぞれの実施形態においては、デコード結果を得るデータ線の遷移が一定方向で高速化し易いプリチャージ型の回路で構成でき、かつ、ワード線バッファ部3にクロック信号の入力が必要なく、タイミング余裕を考慮する必要がない。ワード線6の活性化タイミングがデコード部よって生成されるため、タイミング補償回路としての役割も果たす。さらに、ワイヤードオア回路でデコード部を構成できるため多入力ゲートが可能であり、デコード回路のゲート段数を削減することができる。これにより、アドレスデコードを高速化でき、メモリのアクセスタイムを削減することが可能になる。
【0038】
なお、上記実施形態においては、ワード線バッファ部3のそれぞれのバッファ回路11の反転ゲート12に入力されるワード線6の非選択を示す信号に対応したアドレス信号を、この信号が入力されるANDゲート13の他方の入力に与えられるデコード信号出力のアドレス信号に対して1ビット異なるアドレス信号としているが、1ビット異なるアドレス信号でなくとも非選択を示す他のアドレス信号を使用してもよく、例えばオンした1つのFET8,24でデコード回路7,23の出力端子10,26をハイレベルからロウレベルに遷移させて最も遅く非選択を検知するデコード回路7,23のデコード信号出力を使用してもよい。しかし、上記実施形態のように1ビット異なるアドレス信号を使用した場合は、隣接するデコード回路7,23のデコード信号出力をワード線バッファ部3の反転ゲート12に入力させる配線が短くなり配線レイアウトを容易に行うことができ、かつ少ない配線領域で配線が可能となる。
【0039】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明によれば、ワード線を非選択とするデコード結果を受けてワード線を選択する信号を活性化する構成を採用したので、デコード結果を出力するタイミングを決定する同期信号が不要となり、デコード結果の出力タイミングの最適化を図り、デコード動作時間の短縮ならびに誤動作の防止を両立することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施形態に係るアドレスデコード回路の構成を示す図である。
【図2】この発明の他の実施形態に係るアドレスデコード回路の構成を示す図である。
【図3】図2に示す回路の動作波形を示す図である。
【図4】従来のアドレスデコード回路の構成を示す図である。
【図5】図4に示す回路の動作波形を示す図である。
【図6】従来のアドレスデコード回路の他の構成を示す図である。
【符号の説明】
1 プリデコード部
2 メインデコード部
3 ワード線バッファ部
4 メモリアレイ
5 メモリセル
6 ワード線
7,23 デコード回路
8,24 NチャネルのFET
9,25 PチャネルのFET
10,26 出力端子
11 バッファ回路
12 反転ゲート
13 ANDゲート
21 アドレス入力部
22 デコード部

Claims (4)

  1. nビットのアドレス信号をデコードして、2個の出力選択信号を択一的に選択状態とする同期式のアドレスデコード回路において、
    nビットのアドレス信号を受けて、予め選択状態に設定された2個のデコード信号の内、1つのデコード信号を選択して選択状態を保持し、選択されたデコード信号を除く他のデコード信号を選択状態から非選択状態に遷移させるデコード回路と、
    前記デコード回路の2個のデコード信号を受けて、選択状態が保持されたデコード信号とは異なるデコード信号が選択状態から非選択状態に遷移したことを検出した後、2個のデコード信号に対応した2個の出力選択信号の内、選択状態のデコード信号に対応した出力選択信号を択一的に選択状態とするバッファ回路を具備し、
    前記デコード回路は、
    前記nビットのアドレス信号を所定の数に分割してデコードし、そのプリデコード結果とクロック信号との論理演算を行い、前記プリデコード結果をクロック化し、クロック化したプリデコード結果を中間デコード信号として出力するプリデコード部と、
    前記デコード信号を出力する2本の出力線を選択状態にプリチャージするFETと、前記プリデコード部から与えられる前記中間デコード信号に対応する出力線を非選択状態にディスチャージするFETとからなるメインデコード部とを有し、
    前記バッファ回路は、
    本の出力線の内、対応する出力線以外の何れかの出力線の信号を反転させる2個の反転回路と、
    対応する出力線の信号と、前記2個の反転回路の内の対応する反転回路の出力信号との論理積をとり、前記2個の出力選択信号を生成する2個のゲートバッファと
    を有することを特徴とするアドレスデコード回路。
  2. nビットのアドレス信号をデコードして、2個の出力選択信号を択一的に選択状態とする同期式のアドレスデコード回路において、
    nビットのアドレス信号を受けて、予め選択状態に設定された2個のデコード信号の内、1つのデコード信号を選択して選択状態を保持し、選択されたデコード信号を除く他のデコード信号を選択状態から非選択状態に遷移させるデコード回路と、
    前記デコード回路の2個のデコード信号を受けて、選択状態が保持されたデコード信号とは異なるデコード信号が選択状態から非選択状態に遷移したことを検出した後、2個のデコード信号に対応した2個の出力選択信号の内、選択状態のデコード信号に対応した出力選択信号を択一的に選択状態とするバッファ回路を具備し、
    前記デコード回路は、
    前記nビットのアドレス信号を所定の数に分割してデコードし、そのプリデコード結果とクロック信号との論理演算を行い、前記プリデコード結果をクロック化し、クロック化したプリデコード結果を中間デコード信号として出力するプリデコード部と、
    前記デコード信号を出力する2本の出力線を選択状態にプリチャージするFETと、前記プリデコード部から与えられる前記中間デコード信号に対応する出力線を非選択状態にディスチャージするFETとからなるメインデコード部とを有し、
    前記バッファ回路は、
    本の出力線の内、対応する出力線以外の何れかの出力線の信号を反転させる2個の反転回路と、
    対応する出力線の信号と、前記2個の反転回路の内の対応する反転回路の出力信号との論理積をとり、前記2個の出力選択信号を生成する2個のゲートバッファとを有し、
    前記メインデコード部から与えられる2個のデコード信号は、それぞれ2本の出力線に対応した前記バッファ回路にクロック信号に同期することなく直接供給される
    ことを特徴とするアドレスデコード回路。
  3. 前記2個の反転回路は、
    対応する出力線以外の何れかの出力線として、対応する出力線とはアドレスが1ビット異なる出力線を入力して反転させる
    ことを特徴とする請求項1記載のアドレスデコード回路。
  4. 前記2個の反転回路は、
    対応する出力線以外の何れかの出力線として、対応する出力線以外の出力線の内の最も遅く非選択状態となる出力線を入力して反転させる
    ことを特徴とする請求項1記載のアドレスデコード回路。
JP16621697A 1997-06-23 1997-06-23 アドレスデコード回路 Expired - Fee Related JP3763936B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16621697A JP3763936B2 (ja) 1997-06-23 1997-06-23 アドレスデコード回路
US09/102,895 US6107837A (en) 1997-06-23 1998-06-23 Address decoding circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16621697A JP3763936B2 (ja) 1997-06-23 1997-06-23 アドレスデコード回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1116366A JPH1116366A (ja) 1999-01-22
JP3763936B2 true JP3763936B2 (ja) 2006-04-05

Family

ID=15827265

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16621697A Expired - Fee Related JP3763936B2 (ja) 1997-06-23 1997-06-23 アドレスデコード回路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6107837A (ja)
JP (1) JP3763936B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3533357B2 (ja) 2000-02-29 2004-05-31 株式会社東芝 論理演算機能を備えた半導体集積回路
JP5034233B2 (ja) * 2005-12-28 2012-09-26 富士通株式会社 アドレスデコーダ,記憶装置,処理装置及び記憶装置におけるアドレスデコード方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3451118B2 (ja) * 1993-12-15 2003-09-29 株式会社日立製作所 半導体不揮発性記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
US6107837A (en) 2000-08-22
JPH1116366A (ja) 1999-01-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5955905A (en) Signal generator with synchronous mirror delay circuit
KR100257867B1 (ko) 2차 캐시를 구비한 시스템 장치 및 동기형 메모리 장치
US6044023A (en) Method and apparatus for pipelining data in an integrated circuit
US6363465B1 (en) Synchronous data transfer system and method with successive stage control allowing two more stages to simultaneous transfer
US6055194A (en) Method and apparatus for controlling column select lines in a synchronous memory device
US7054223B2 (en) Semiconductor memory device
KR100411469B1 (ko) 동기형반도체메모리장치
JP3259764B2 (ja) 半導体記憶装置
US6198660B1 (en) Synchronous multilevel non-volatile memory and related reading method
JP2001143477A (ja) 半導体装置
US6055207A (en) Synchronous semiconductor memory device having a column disabling circuit
US5566112A (en) Apparatus and method for enabling a bus driver when a data signal is valid
US20040120178A1 (en) Test mode circuit of semiconductor memory device
JP3763936B2 (ja) アドレスデコード回路
US6781919B2 (en) Address selection circuit and semiconductor memory device with synchronous and asynchronous address signal paths
JP3857697B2 (ja) 半導体集積回路、半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法
US5841727A (en) Semiconductor memory device
US5187394A (en) Configurable row decoder driver circuit
KR100284239B1 (ko) 어드레스 디코드회로
JP3694554B2 (ja) メモリ・デバイス及びメモリ・セル行選択方法
JP2001035184A (ja) 半導体記憶装置
JP3068382B2 (ja) プログラマブルロジックアレイ
KR20030094683A (ko) 반도체 장치
KR100214537B1 (ko) 반도체 메모리의 컬럼 디코더회로
JP3625240B2 (ja) 半導体記憶装置

Legal Events

Date Code Title Description
A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060118

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100127

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110127

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees