JP3761997B2 - Bgaパッケージ用icソケット - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、BGA(Ball Grid Array)パッケージのデバイスの性能・機能をテストするために使用するICソケットに関し、特にデバイスの外部端子であるバンプをICソケットのコンタクトピン(C/P)に確実に案内する為の位置決め案内機構を備えたICソケットに関する。
【0002】
【従来の技術】
この種のBGAパッケージ用ICソケットの従来構造を図7に縦断面図で示し、BGAパッケージのバンプが確実にコンタクトされた時の様子を図8に縦断面図で示す。また、図9に、図7中のA部の詳細図を示す。
【0003】
図7に示されるように従来のBGAパッケージ用ICソケットは、相対する平行な2面を少なくとも持つように一体成形されたICソケット本体102からなる。このICソケット本体102には複数のコンタクトピン(C/P)104がBGAパッケージ101の外部端子であるボールバンプ(半田ボール)102の配置に対応して、ICソケット本体1の相対する平行な2面に対して垂直に埋め込まれている。各コンタクトピン104の先端部はそれぞれICソケット本体102の相対する平行な2面のうちの一方の面から突出しており、しかも、その一方の面の、各コンタクトピン104の先端部の周辺は、ボールバンプ102の誘い込み部105としてすり鉢状にくり抜かれている。また、各コンタクトピン104の先端部は各コンタクトピン104の中に入っているスプリング(不図示)により外側に向かって付勢されていて、そのスプリングの付勢力に抗して外部から押さえられると内部へ引っ込む様になっている。したがって、図8に示すように、ボールバンプ102がコンタクトピン104の先端部に正しく乗れば、バンプ102は誘い込み部105に沿ってコンタクトピン104とコンタクトできる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら上記のようなICソケットは、コンタクト時にデバイスのバンプが、ICソケットの誘い込み部より先にコンタクトピン(C/P)に接触する構造を持つ。その為、図9に示すようにバンプの中心がコンタクトピンの外形(D)よりずれた場合、ICソケットの誘い込み部による位置修正は困難であり、コンタクトミスの原因になる。
【0005】
そこで本発明の目的は、上記の従来技術の問題点に鑑み、BGAパッケージのデバイスの性能・機能をテストする際、正確なコンタクトポジションを確保することができるICソケットを提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために本発明は、相対する平行な2面を少なくとも有するソケット本体と、BGAパッケージの複数のボールバンプの配置に対応するように前記ソケット本体に前記平行な2面に垂直に埋め込まれ、先端部が前記平行な2面のうちの一方の面から突出している複数のコンタクトピンと、を有するBGAパッケージ用ICソケットにおいて、前記複数のコンタクトピンを突出させている面に対して浮いた状態となるように弾性的に支持された平板状の誘い込み板であって、前記複数のボールバンプのうちの最も外側のボールバンプの外側面で画される輪郭に合った一つの穴が形成されていて前記複数のコンタクトピンの先端部を収容しており、前記穴の開口縁が前記各ボールバンプの中心を前記各コンタクトピンの先端部の外形の範囲内で誘い込めるようにテーパ形状になっている誘い込み板と、前記誘い込み板の相対する側部にそれぞれ配設された平板状の脚部と、前記脚部の各々を前記ソケット本体に対して浮くように押し上げるスプリングと、前記脚部を貫通して前記ソケット本体とねじ合うねじであって、ねじの頭により前記脚部を所定の高さで静止させて前記誘い込み板のフローティング高さを調節するねじと、をさらに備えたことを特徴とする。
【0007】
上記のとおりに構成した発明では、BGAパッケージのボールバンプを誘い込み板の穴に入れていくと、バンプはコンタクトピンと接触する前に穴によりコンタクトピンの先端部へと案内されて、バンプの中心がコンタクトピンの先端部の外形の範囲内で位置決めされる。その後、BGAパッケージと共に誘い込み板をソケット本体の側へと押し付けると、バンプは誘い込み板の穴により正確な位置を確保しながらコンタクトピンと接続される。このため、コンタクトミスをなくすことができる。
【0008】
また、上記何れかのBGAパッケージ用ICソケットにおいて、前記誘い込み板の相対する側部にそれぞれ平板状の脚部が設けられており、該脚部の各々は、スプリングにより前記ソケット本体に対して浮くように押し上げられて、前記脚部を貫通して前記ソケット本体とねじ合うねじの頭により所定の高さで静止しているものが適用できる。この構成では、ねじを変更することにより誘い込み板のフローティング高さを調整することが可能である。
【0009】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して説明するが、その説明の前に、本発明の参考形態であるICソケットを図1〜5に基づいて説明する。
【0010】
図1は本発明の参考形態であるICソケットを示す全体斜視図、図2は図1に示したICソケットの平面図、図3は図1に示したICソケットの側面図、図4は図2のA−A’線断面図、図5は図4中のB部の詳細図である。
【0011】
参考形態のICソケットは図1から図4に示すように、相対する平行な2面を少なくとも持つように一体成形されたICソケット本体1からなる。特に図4に示すように、ICソケット本体1には複数のコンタクトピン(C/P)2がBGAパッケージ3のバンプ(半田ボール)4の配置に対応して、ICソケット本体1の相対する平行な2面に対して垂直に埋め込まれている。各コンタクトピン2の先端部はそれぞれ、ICソケット本体1の相対する平行な2面のうちの一方の面から突き出ており、しかも各コンタクトピン2の中に入っているスプリング(不図示)により外側に向かって付勢されていて、そのスプリング(不図示)の付勢力に抗して外部から押さえられると内部へ引っ込むものとなっている。
【0012】
ICソケット本体1の、コンタクトピン2の先端部が突き出た面部(前記のICソケット本体1の相対する平行な2面のうちの一方の面)と対向する箇所には、BGAパッケージ3の各バンプ4の配置及び外形に対応させた複数の穴5aを持つ平板状の誘い込み板5が浮かぶように支持されている。しかもこの時、各コンタクトピン2の先端部は誘い込み板5の各穴5aから突き出ないように、各穴5aの中に位置している。また、各バンプ4の中心を各コンタクトピン2の先端部の外形の範囲内に確実に誘い込めるように、各穴5aの開口縁はテーパ形状となっている。
【0013】
上記のように誘い込み板5を浮かせた状態で支持するために本形態では、誘い込み板5の相対する側部にそれぞれ平板状の脚部6が、誘い込み板5と高さを変えて平行になるように一体成形もしくは組付けられている。そして各脚部6はスプリング9(図3参照)によりICソケット本体1に対して浮くように押し上げられ、脚部6を貫通してICソケット本体1とねじ合うねじ8の頭により所定の高さで静止している。このようにして脚部6が設けられた誘い込み板5は浮いた状態になっており、ねじ8の変更によりフローティング高さを調整することができる。
【0014】
上述したような形態では、BGAパッケージ3のバンプ4をそれぞれ誘い込み板5の穴5aに入れていくと、バンプ4はコンタクトピン2と接触する前に穴5aによりコンタクトピン2の先端部へと案内されて、図5に示すようにバンプ4の中心がコンタクトピン2の先端部の外形の範囲内で位置決めされる。その後、BGAパッケージ3と共に誘い込み板5をICソケット本体1の側へと押し付けると、バンプ4は誘い込み板5の穴5aにより正確な位置を確保しながらコンタクトピン2と接続される。このため、コンタクトミスをなくすことができる。
【0015】
なお、本形態において、ICソケット本体1には、誘い込み板5をICソケット本体1に近付けた時に脚部6の移動範囲がICソケット本体1で規制されないように、脚部6が入り込む溝7が形成されていてもよい。また、本形態のように平板状の脚部6の高さを誘い込み板5と変えているのは、BGAパッケージ3と共に誘い込み板5をICソケット本体1の側へ移動させた際に、ねじ8の頭にBGAパッケージ3の外周部が当たらないようにする為である。しかし、ねじ8がBGAパッケージ3と当たらない位置にあれば、脚部6と誘い込み板5とは同一高さにあってもよいのは勿論の事である。
【0016】
以上説明したように参考形態では、誘い込み板5に、各バンプ4の配置及び外形に対応させた複数の穴5aを形成してあるが、これに代わり、本発明の実施形態は、図6に示すように誘い込み板5に、BGAパッケージ3に設けられた複数のバンプ4で画する外周に合わせて一つの穴5bを開け、その穴5bの開口縁を、各バンプ4の中心を各コンタクトピン2の先端部の外形の範囲内で誘い込めるようにテーパ形状にしたものである。
【0017】
【発明の効果】
以上説明したように本発明は、相対する平行な2面を少なくとも持つソケット本体に複数のコンタクトピンをBGAパッケージの複数のボールバンプの配置に対応して埋め込み、各コンタクトピンの先端部をそれぞれ前記平行な2面のうちの一方の面から突出させ、前記平行な2面のうちの一方の面と対向する箇所に、前記各ボールバンプの中心を前記各コンタクトピンの先端部の外形の範囲内で誘い込める穴を持つ平板状の誘い込み板を、浮いた状態で弾性的に支持した構造としたことにより、コンタクト前にバンプを穴によってコンタクトピンの先端部へと案内し、バンプの中心をコンタクトピンの先端部の外形の範囲内で位置決めすることができるので、コンタクトミスをなくすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の参考形態であるICソケットを示す全体斜視図である。
【図2】図1に示したICソケットの平面図である。
【図3】図1に示したICソケットの側面図である。
【図4】図2のA−A’線断面図である。
【図5】図4中のB部の詳細図である。
【図6】本発明の実施形態における誘い込み板を示す断面図である。
【図7】従来の、BGAパッケージ用のICソケットの構造を示す縦断面図である。
【図8】従来のICソケットにおいて、BGAパッケージのバンプが確実にコンタクトされた時の様子を示す断面図である。
【図9】図7に示したA部の詳細図である。
【符号の説明】
1 ICソケット本体
2 コンタクトピン
3 BGAパッケージ
4 バンプ
5 誘い込み板
5a、5b 穴
6 脚部
7 溝
8 ねじ
9 スプリング
Claims (1)
- 相対する平行な2面を少なくとも有するソケット本体と、
BGAパッケージの複数のボールバンプの配置に対応するように前記ソケット本体に前記平行な2面に垂直に埋め込まれ、先端部が前記平行な2面のうちの一方の面から突出している複数のコンタクトピンと、を有するBGAパッケージ用ICソケットにおいて、
前記複数のコンタクトピンを突出させている面に対して浮いた状態となるように弾性的に支持された平板状の誘い込み板であって、前記複数のボールバンプのうちの最も外側のボールバンプの外側面で画される輪郭に合った一つの穴が形成されていて前記複数のコンタクトピンの先端部を収容しており、前記穴の開口縁が前記各ボールバンプの中心を前記各コンタクトピンの先端部の外形の範囲内で誘い込めるようにテーパ形状になっている誘い込み板と、
前記誘い込み板の相対する側部にそれぞれ配設された平板状の脚部と、
前記脚部の各々を前記ソケット本体に対して浮くように押し上げるスプリングと、
前記脚部を貫通して前記ソケット本体とねじ合うねじであって、ねじの頭により前記脚部を所定の高さで静止させて前記誘い込み板のフローティング高さを調節するねじと、
をさらに備えたことを特徴とするBGAパッケージ用ICソケット。
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Families Citing this family (38)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6048744A (en) | 1997-09-15 | 2000-04-11 | Micron Technology, Inc. | Integrated circuit package alignment feature |
| JPH11233216A (ja) * | 1998-02-16 | 1999-08-27 | Nippon Denki Factory Engineering Kk | テスト用icソケット |
| US6283780B1 (en) * | 1998-04-01 | 2001-09-04 | Molex Incorporated | Test socket lattice |
| US6502221B1 (en) | 1998-07-14 | 2002-12-31 | Nvidia Corporation | Prototype development system |
| KR100495091B1 (ko) * | 1998-09-21 | 2005-09-02 | 삼성전자주식회사 | 노운 굳 다이 캐리어 |
| TW465060B (en) * | 1998-12-23 | 2001-11-21 | Mirae Corp | Wafer formed with CSP device and test socket of BGA device |
| KR100290734B1 (ko) * | 1998-12-23 | 2001-07-12 | 정문술 | Csp소자가형성된웨이퍼및bga소자의테스트소켓 |
| TW421333U (en) * | 1999-02-24 | 2001-02-01 | Hung Rung Fang | IC socket |
| JP3133303B2 (ja) * | 1999-05-01 | 2001-02-05 | ミラエ・コーポレーション | マイクロbga型素子用キャリヤーモジュール |
| JP2000357571A (ja) * | 1999-06-14 | 2000-12-26 | Tokyo Eletec Kk | Icソケット |
| US6265886B1 (en) * | 1999-07-12 | 2001-07-24 | Micron Technology, Inc. | Conductive bump array contactors having an ejector and methods of testing using same |
| KR100631402B1 (ko) * | 1999-08-25 | 2006-10-09 | 삼성전자주식회사 | 비지에이 패키지용 유니버설 소켓 및 그를 이용한 패키지 테스트 방법 |
| KR20010054178A (ko) * | 1999-12-03 | 2001-07-02 | 송재인 | 볼 그리드 어레이용 집적회로 소켓 |
| US6464513B1 (en) * | 2000-01-05 | 2002-10-15 | Micron Technology, Inc. | Adapter for non-permanently connecting integrated circuit devices to multi-chip modules and method of using same |
| US6407566B1 (en) | 2000-04-06 | 2002-06-18 | Micron Technology, Inc. | Test module for multi-chip module simulation testing of integrated circuit packages |
| KR20010105854A (ko) * | 2000-05-19 | 2001-11-29 | 이영희 | 집적회로 소켓 |
| JP3921163B2 (ja) * | 2000-09-26 | 2007-05-30 | 株式会社アドバンストシステムズジャパン | スパイラルコンタクタ及びその製造方法、並びにそれを用いた半導体検査装置、及び電子部品 |
| JP2002373748A (ja) * | 2001-06-14 | 2002-12-26 | Yamaichi Electronics Co Ltd | 半導体装置用ソケット |
| KR100540434B1 (ko) | 2001-07-13 | 2006-01-10 | 니혼 하츠쵸 가부시키가이샤 | 접촉자 |
| US7045889B2 (en) * | 2001-08-21 | 2006-05-16 | Micron Technology, Inc. | Device for establishing non-permanent electrical connection between an integrated circuit device lead element and a substrate |
| US7049693B2 (en) * | 2001-08-29 | 2006-05-23 | Micron Technology, Inc. | Electrical contact array for substrate assemblies |
| US6991960B2 (en) | 2001-08-30 | 2006-01-31 | Micron Technology, Inc. | Method of semiconductor device package alignment and method of testing |
| US6769919B2 (en) * | 2002-09-04 | 2004-08-03 | Itt Manufacturing Enterprises, Inc. | Low profile and low resistance connector |
| JP3768183B2 (ja) * | 2002-10-28 | 2006-04-19 | 山一電機株式会社 | 狭ピッチicパッケージ用icソケット |
| US6861862B1 (en) | 2003-03-17 | 2005-03-01 | John O. Tate | Test socket |
| TWI239695B (en) * | 2003-08-11 | 2005-09-11 | Speed Tech Corp | Matrix connector |
| CN1306662C (zh) * | 2003-08-27 | 2007-03-21 | 宣得股份有限公司 | 矩阵式连接器 |
| KR100602442B1 (ko) * | 2004-05-18 | 2006-07-19 | 삼성전자주식회사 | 매개 기판을 갖는 볼 그리드 어레이 패키지용 테스트 소켓 |
| TWM266611U (en) * | 2004-07-16 | 2005-06-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical connector |
| US7108535B1 (en) | 2005-07-12 | 2006-09-19 | Spansion, Llc | Integrated circuit test socket |
| US20070126445A1 (en) * | 2005-11-30 | 2007-06-07 | Micron Technology, Inc. | Integrated circuit package testing devices and methods of making and using same |
| TWI385773B (zh) * | 2008-05-21 | 2013-02-11 | 利汎科技股份有限公司 | Lead frame carrier and method of manufacturing the same |
| TWM359860U (en) * | 2008-11-25 | 2009-06-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical connector |
| JP5564304B2 (ja) * | 2010-03-29 | 2014-07-30 | 株式会社エンプラス | 電気部品用ソケット |
| WO2012098837A1 (ja) * | 2011-01-19 | 2012-07-26 | ユニテクノ株式会社 | 検査ソケット |
| KR101217205B1 (ko) * | 2011-09-23 | 2012-12-31 | 하이콘 주식회사 | 아이씨 테스트용 소켓장치 |
| JP2013137286A (ja) * | 2011-12-28 | 2013-07-11 | Advantest Corp | 電子部品試験装置 |
| US8764458B1 (en) * | 2012-09-10 | 2014-07-01 | Amazon Technologies, Inc. | Spring connector and corresponding guide element |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2509285B2 (ja) * | 1988-03-18 | 1996-06-19 | 富士通株式会社 | 半導体装置の試験方法 |
| JPH05129478A (ja) * | 1991-11-06 | 1993-05-25 | Hitachi Ltd | リード異物除去機能付ソケツト |
| US5247250A (en) * | 1992-03-27 | 1993-09-21 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Integrated circuit test socket |
| EP0616394A1 (en) * | 1993-03-16 | 1994-09-21 | Hewlett-Packard Company | Method and system for producing electrically interconnected circuits |
| US5518410A (en) * | 1993-05-24 | 1996-05-21 | Enplas Corporation | Contact pin device for IC sockets |
| US5500605A (en) * | 1993-09-17 | 1996-03-19 | At&T Corp. | Electrical test apparatus and method |
| US5376010A (en) * | 1994-02-08 | 1994-12-27 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Burn-in socket |
| JP2648120B2 (ja) * | 1995-02-08 | 1997-08-27 | 山一電機株式会社 | 表面接触形接続器 |
| US5570033A (en) * | 1995-07-20 | 1996-10-29 | Vlsi Technology, Inc. | Spring probe BGA (ball grid array) contactor with device stop and method therefor |
| JP3518091B2 (ja) * | 1995-09-25 | 2004-04-12 | 株式会社エンプラス | Icソケット |
| US5702255A (en) * | 1995-11-03 | 1997-12-30 | Advanced Interconnections Corporation | Ball grid array socket assembly |
| US5791914A (en) * | 1995-11-21 | 1998-08-11 | Loranger International Corporation | Electrical socket with floating guide plate |
| US5730606A (en) * | 1996-04-02 | 1998-03-24 | Aries Electronics, Inc. | Universal production ball grid array socket |
| JP3042408B2 (ja) * | 1996-07-08 | 2000-05-15 | 日本電気株式会社 | 半導体装置の測定方法及び測定治具 |
-
1996
- 1996-11-15 JP JP30469496A patent/JP3761997B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
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