JPS59195164A - 回路検出用プロ−ブコンタクト - Google Patents
回路検出用プロ−ブコンタクトInfo
- Publication number
- JPS59195164A JPS59195164A JP58069735A JP6973583A JPS59195164A JP S59195164 A JPS59195164 A JP S59195164A JP 58069735 A JP58069735 A JP 58069735A JP 6973583 A JP6973583 A JP 6973583A JP S59195164 A JPS59195164 A JP S59195164A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tip
- probe contact
- printed circuit
- circuit board
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はプリント配線基板の回路の断線、ショート等を
点検するプリント基板検査用のプローブコンタクトに関
する。
点検するプリント基板検査用のプローブコンタクトに関
する。
プリント基板のスルーホール及び回路導通試験に使用さ
れるプローブコンタクトは、プリント基板の測定面に直
接的に接触して測定データを得るものであるため、前記
測定面とプローブコンタクトとの間の良好な接触が保障
されないと、満足のいく試験結果が得られない。特に、
プリント基板上に幾分誤差を伴ってスルーホールが形成
された場合、即ちスルーホールの中心線が幾分ズしたり
傾斜したりしている場合、プローブコンタクトのスルー
ホールの内壁に対する接触が確実になされない處れがあ
る。また、プリント基板上に突き出ている部品や／％ン
ダ付は等の隆起がある場合にも、接触が不完全になされ
る虞れがある。
れるプローブコンタクトは、プリント基板の測定面に直
接的に接触して測定データを得るものであるため、前記
測定面とプローブコンタクトとの間の良好な接触が保障
されないと、満足のいく試験結果が得られない。特に、
プリント基板上に幾分誤差を伴ってスルーホールが形成
された場合、即ちスルーホールの中心線が幾分ズしたり
傾斜したりしている場合、プローブコンタクトのスルー
ホールの内壁に対する接触が確実になされない處れがあ
る。また、プリント基板上に突き出ている部品や／％ン
ダ付は等の隆起がある場合にも、接触が不完全になされ
る虞れがある。
更に、これらの場合、無理に接触させようとすると、プ
リント基板の測定面に損傷を与えたり、プローブコンタ
クト自体が折れたりする危険がある。
リント基板の測定面に損傷を与えたり、プローブコンタ
クト自体が折れたりする危険がある。
不発明は前記諸点に鐵みなされたものであって、プリン
ト基板の測定面に対する確実かつ無理のない接触が得ら
れるプリント基板検査用のプローブコンタクトを提供す
ることを目的とする。
ト基板の測定面に対する確実かつ無理のない接触が得ら
れるプリント基板検査用のプローブコンタクトを提供す
ることを目的とする。
次に本発明の好ましい一具体例について図面に基づいて
説明する。
説明する。
図において、プローブコンタクト１は接触子の先端部２
と、保持バネ３を介して先端部２に連結された接触子の
中間部４と、中間部４を摺動自在に保持しているノぐイ
ブ状の胴部５、及び胴部５の内部に設けられて中間部４
を一方に押しつけているコイルバネ６とからなり、先端
ｓ２、中間部４及び胴部５は導電性の材料から碌る。先
端部２はプリント基板の測定面と接触する先端７を有し
、先端７は測定面の状態に応じた所望の形状で形成され
得る。先端部２と中間部４とは、夫々段部８及び９を有
して形成され、この段部８及び９において保持バネ３が
嵌着されており、保持バネ３は接触子の先端部２と中間
部４とを、極く僅かな間隙１０を介在させて、先端部２
及び中間部４の長手方向の中心軸線が一致するように、
−直線上に連結している。
と、保持バネ３を介して先端部２に連結された接触子の
中間部４と、中間部４を摺動自在に保持しているノぐイ
ブ状の胴部５、及び胴部５の内部に設けられて中間部４
を一方に押しつけているコイルバネ６とからなり、先端
ｓ２、中間部４及び胴部５は導電性の材料から碌る。先
端部２はプリント基板の測定面と接触する先端７を有し
、先端７は測定面の状態に応じた所望の形状で形成され
得る。先端部２と中間部４とは、夫々段部８及び９を有
して形成され、この段部８及び９において保持バネ３が
嵌着されており、保持バネ３は接触子の先端部２と中間
部４とを、極く僅かな間隙１０を介在させて、先端部２
及び中間部４の長手方向の中心軸線が一致するように、
−直線上に連結している。
僅かな間隙１０を間において、互いに対向する中間部４
の端部１１と先端部２の端部１２とは、夫々、相互に円
滑に係合し得るような、円錐又は球形の丸味をおびた形
状を備えた突起１３と、この突起１３の形状に適合する
ように形成された凹部１４とを有している。中間部４は
細く形成された小径部１５と、幾分径の大きな大径部１
６とを有し、大径部１６は胴部５の中に嵌入されて胴部
５の内部を摺動し得る。胴部５は両端に内方に折曲する
折９返し１７及び１８を有してなり、折り返し１７を大
径部１６の小径部１５に接続する端部１９に係合してい
る。大径部１６の他端には小突起２０が形成されていて
、小突起２０にはコイルバネ６が嵌着されている。コイ
ルノζネ６の他端亭 ば、胴部５の端部２１形成されたＶ］り返し１８に係合
しており、端部２１には開口２２が設けられている。
の端部１１と先端部２の端部１２とは、夫々、相互に円
滑に係合し得るような、円錐又は球形の丸味をおびた形
状を備えた突起１３と、この突起１３の形状に適合する
ように形成された凹部１４とを有している。中間部４は
細く形成された小径部１５と、幾分径の大きな大径部１
６とを有し、大径部１６は胴部５の中に嵌入されて胴部
５の内部を摺動し得る。胴部５は両端に内方に折曲する
折９返し１７及び１８を有してなり、折り返し１７を大
径部１６の小径部１５に接続する端部１９に係合してい
る。大径部１６の他端には小突起２０が形成されていて
、小突起２０にはコイルバネ６が嵌着されている。コイ
ルノζネ６の他端亭 ば、胴部５の端部２１形成されたＶ］り返し１８に係合
しており、端部２１には開口２２が設けられている。
上述のように構成されたプローブコンタクト１の使用に
際しては、プローブコンタクト１は、プリント基板検査
機のテストヘッドと相称される取伺板２３を貫通して取
付板２３に浴ヲ８又は接漸されている導電性材料により
形成されたソケット２４内に胴部５を低め込んで、プリ
ント基板検食機に取り付けられる。このようにソケット
２４に嵌め込まれて取伺板２３に固定されたプローブコ
ンタクト１が、第２図に示されるように、プリント基板
２５の面上に本来の位Ｗｔから幾分ズした中心線２６を
有して形成されたスルーホール２７に適用されるとき、
先端部２は、スルーホール２７の幾分ズした中心線２６
に対応してスルーホール２７に傾斜して係合し、先端部
２の先Ｘｔ＋ａ ７ ’６：スルーホール２７の内壁２
８に確実に接触させ得る、このとき、プローブコンタク
ト１はプリント基板２５に対して一定以上の圧力で押し
付けられているため、先端部２と中間部４とを連結して
いる保持バネ３が収縮し、中間部４の丸味をおびて形成
されている突起１３と、それｖｃ対向する先端部２の凹
部１４とが互いに密に係合して、先端部２と中間部４と
が確実に接続される８またコイルバネ６に付勢されて胴
部５の折り返し１７に端部１９で係止されている大径部
１６は、胴部５内を摺動し２て胴部５内に幾分押し込ま
れる。コイルパネ６は、通常前記保持バネ３よりも強い
弾性力をもつものが使用される。このようにプローブコ
ンタクト１が、プリント基板２５上の本来の位負から幾
分ズした中心線２６をもつスルーホール２７に適用され
た場合、プローブコンタクト１の胴部５及び中間部４は
プリント基板２５の面に対しほぼ゛垂直な位負を保ち、
先端部２の与が、スルーホール２７の幾分ズした位負に
対応して、プリント基板２５の面に対して幾分傾斜して
スルーホール２７に保合している、前記ソケット２４は
端子２９を有しておジ、端子２９にはハンダ付けなどに
よシリード線が接続される。
際しては、プローブコンタクト１は、プリント基板検査
機のテストヘッドと相称される取伺板２３を貫通して取
付板２３に浴ヲ８又は接漸されている導電性材料により
形成されたソケット２４内に胴部５を低め込んで、プリ
ント基板検食機に取り付けられる。このようにソケット
２４に嵌め込まれて取伺板２３に固定されたプローブコ
ンタクト１が、第２図に示されるように、プリント基板
２５の面上に本来の位Ｗｔから幾分ズした中心線２６を
有して形成されたスルーホール２７に適用されるとき、
先端部２は、スルーホール２７の幾分ズした中心線２６
に対応してスルーホール２７に傾斜して係合し、先端部
２の先Ｘｔ＋ａ ７ ’６：スルーホール２７の内壁２
８に確実に接触させ得る、このとき、プローブコンタク
ト１はプリント基板２５に対して一定以上の圧力で押し
付けられているため、先端部２と中間部４とを連結して
いる保持バネ３が収縮し、中間部４の丸味をおびて形成
されている突起１３と、それｖｃ対向する先端部２の凹
部１４とが互いに密に係合して、先端部２と中間部４と
が確実に接続される８またコイルバネ６に付勢されて胴
部５の折り返し１７に端部１９で係止されている大径部
１６は、胴部５内を摺動し２て胴部５内に幾分押し込ま
れる。コイルパネ６は、通常前記保持バネ３よりも強い
弾性力をもつものが使用される。このようにプローブコ
ンタクト１が、プリント基板２５上の本来の位負から幾
分ズした中心線２６をもつスルーホール２７に適用され
た場合、プローブコンタクト１の胴部５及び中間部４は
プリント基板２５の面に対しほぼ゛垂直な位負を保ち、
先端部２の与が、スルーホール２７の幾分ズした位負に
対応して、プリント基板２５の面に対して幾分傾斜して
スルーホール２７に保合している、前記ソケット２４は
端子２９を有しておジ、端子２９にはハンダ付けなどに
よシリード線が接続される。
尚、円錐形又は球形の丸味をおびた形状を有する突起を
先端部２の端部１２に設け、この突起の形状に適合する
凹部を中間部４の端部１１に形成してもよく、端部１１
及び１２のいずれか一方のみを丸味をおびるように形成
し、他方を平滑に形成してもよい。
先端部２の端部１２に設け、この突起の形状に適合する
凹部を中間部４の端部１１に形成してもよく、端部１１
及び１２のいずれか一方のみを丸味をおびるように形成
し、他方を平滑に形成してもよい。
上述のように、本発明によるプローブコンタクトは、プ
リント基板の本来の位誼から幾分ズした所にあるスルー
ホールやハンダ付は等の凹凸を有する測定面にもフレキ
シブルに適用され倚、測定面とプリント基板検食機との
間の確実な接続をなし得る。
リント基板の本来の位誼から幾分ズした所にあるスルー
ホールやハンダ付は等の凹凸を有する測定面にもフレキ
シブルに適用され倚、測定面とプリント基板検食機との
間の確実な接続をなし得る。
史に、測定面に傷をつけたり、プローブコンタクトを折
ったりすることも防止し得る。
ったりすることも防止し得る。
第１図はプリント基板検査様の取付板に取り付けられた
本発明によるプローブコンタクトの断面図、第２図は第
１図に示され°たプローブコンタクトが、プリント基板
上の本来の位誼からズした中心線を有するスルーホール
に適用された状態を示す断面図、第３図は第２図に示さ
れたプリント基板の平面図である。 １・・・プローブコンタクト、２・・・先端部、３・・
・保持バネ、 ４・・・中間部、５・・・胴部、
１３・・・突起、１４・・・凹 部、２４
・・・ソケット、２５・・・プリント基板、２７・・・
スルーホール、消Ａ 喧級埒−
本発明によるプローブコンタクトの断面図、第２図は第
１図に示され°たプローブコンタクトが、プリント基板
上の本来の位誼からズした中心線を有するスルーホール
に適用された状態を示す断面図、第３図は第２図に示さ
れたプリント基板の平面図である。 １・・・プローブコンタクト、２・・・先端部、３・・
・保持バネ、 ４・・・中間部、５・・・胴部、
１３・・・突起、１４・・・凹 部、２４
・・・ソケット、２５・・・プリント基板、２７・・・
スルーホール、消Ａ 喧級埒−
Claims (3)
- （１） 先端部と中間部とからなり、先端部と中間部
とは相互に僅かな間隙を介在さ会て保持バネにより連結
されており、先端部と中間部の互いに対向する端部の少
なくとも一方が丸味をおびて形成されていて、前記保持
バネが状綿したときに先端部と中間部とが前記互いに対
向する端部において確実に接触し得るように構成された
接触子を有してなるプローブコンタクト。 - （２） 中［１１１部の前記端部が球形の突起として
形成されておシ、先端部の前記端部がｉ′ｌｊｌ記球形
の突起の形状に適合すべく形成された凹部を有している
特許５１゛ｊ求の範囲第１横に記載のプローブコンタク
ト。 - （３）中間部の前記端部が円錐形の突起として形成され
ており、先端部の前記端部が前記円錐形の突起の形状に
適合すべく形成された凹部を有している特許請求の範囲
卯１項に記載のプローブコンタクト。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58069735A JPS59195164A (ja) | 1983-04-20 | 1983-04-20 | 回路検出用プロ−ブコンタクト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58069735A JPS59195164A (ja) | 1983-04-20 | 1983-04-20 | 回路検出用プロ−ブコンタクト |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59195164A true JPS59195164A (ja) | 1984-11-06 |
| JPH0143269B2 JPH0143269B2 (ja) | 1989-09-19 |
Family
ID=13411365
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58069735A Granted JPS59195164A (ja) | 1983-04-20 | 1983-04-20 | 回路検出用プロ−ブコンタクト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59195164A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4918384A (en) * | 1987-06-10 | 1990-04-17 | Feinmetall Gmbh | Spring contact pin for testing an electrical and/or electronic device |
| JP2008070178A (ja) * | 2006-09-13 | 2008-03-27 | Enplas Corp | 電気接触子、及び、電気部品用ソケット |
| WO2021106564A1 (ja) * | 2019-11-29 | 2021-06-03 | 株式会社ヨコオ | スプリングコネクタ |
| DE202022101319U1 (de) | 2022-03-10 | 2023-06-14 | PTR HARTMANN GmbH | Federkontaktstift |
-
1983
- 1983-04-20 JP JP58069735A patent/JPS59195164A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4918384A (en) * | 1987-06-10 | 1990-04-17 | Feinmetall Gmbh | Spring contact pin for testing an electrical and/or electronic device |
| JP2008070178A (ja) * | 2006-09-13 | 2008-03-27 | Enplas Corp | 電気接触子、及び、電気部品用ソケット |
| WO2021106564A1 (ja) * | 2019-11-29 | 2021-06-03 | 株式会社ヨコオ | スプリングコネクタ |
| DE202022101319U1 (de) | 2022-03-10 | 2023-06-14 | PTR HARTMANN GmbH | Federkontaktstift |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0143269B2 (ja) | 1989-09-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5198756A (en) | Test fixture wiring integrity verification device | |
| US7811096B2 (en) | IC socket suitable for BGA/LGA hybrid package | |
| JPS59195164A (ja) | 回路検出用プロ−ブコンタクト | |
| US5823818A (en) | Test probe for computer circuit board test fixture | |
| KR100309532B1 (ko) | 다수의평행핀을가진ic를지지하는ic소켓 | |
| JPH0627139A (ja) | コンタクトプローブおよびこれを用いた電気コネクタ | |
| JPS6256865A (ja) | プロ−ブコンタクト | |
| JPH0566243A (ja) | Ｌｓｉ評価用治具 | |
| JPS6258170A (ja) | プロ−ブコンタクト | |
| JPH0725722Y2 (ja) | 電子部品用ソケット | |
| KR0127183Y1 (ko) | 클램프 지그 장치 | |
| US6717424B2 (en) | Electrode and fixture for measuring electronic components | |
| JPS6080772A (ja) | プロ−ブニ−ドル | |
| EP3696555B1 (en) | Probe device of floating structure | |
| JP2759451B2 (ja) | プリント基板検査治具 | |
| KR20000054929A (ko) | 모듈 디바이스용 상호 접속장치 | |
| JP2000304768A (ja) | 電子部品の電気検査用ボード | |
| JPH0219745Y2 (ja) | ||
| JPH0629055A (ja) | 接続部品 | |
| JPH088000A (ja) | コネクタ | |
| JPH04110667A (ja) | コンタクトプローブ | |
| JPH05102258A (ja) | 探 針 | |
| JP2805551B2 (ja) | 実装プリント基板の機能検査装置 | |
| JP2000030826A (ja) | Ｂｇａパッケージ測定用ソケット | |
| SU1649692A1 (ru) | Контактное устройство дл контрол микросхем |