JP3761268B2 - 同期型dram装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、外部から供給されるクロック信号に同期してデータの読み取り/書き込みの動作を行う同期型ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)に係り、具体的には同期型DRAM(以下、SDRAMと記載する)で使用するデータ出力バッファ用の内部クロック信号を発生する同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
近時の電子システムでは、データの、より高速演算や高速記憶処理が可能なCPUやメモリが要求されている。特にCPUの処理演算の高速化に追従した処理が可能なDRAMが極めて重要視されている。
【0003】
外部クロック信号に同期して動作するSDRAMの応答時間(応答速度)tRACが、次式(1)で表わされる。
tRAC=tCC×[tRCD+(CL−1)]+tSAC…(1)
ここでtRCDはローアドレスストローブバー(/RAS)信号からカラムアドレストローブバー(/CAS)信号までの遅延時間であり、また、CLはカラムアドレストローブバー(/CAS)信号からデータ出力までの待機時間、tCCはクロックサイクル時間、そして、tSACは外部クロックCLKのポジティブエッジから、このデータが出力されるまでの遅延時間(以下、データ出力遅延時間と記載する)である。なお、/は以下、反転した信号を示す。
【0004】
したがって、このようなSDRAMの応答時間tRACを短く、すなわち、応答速度を速くするためには、データ出力遅延時間tSACを短くする必要がある。この場合、外部クロックCLKのポジティブエッジを基準にして、データ出力バッファ用の内部クロック信号CLKDQを発生させる従来の技術では、データ出力遅延時間tSACがクロックサイクル時間tCCの究極的な限界として作用することになる。
【0005】
今日までDRAM中で最も処理速度が速いことで知られているランバスDRAMでは、前記のようなデータ出力遅延時間tSACの限界を改善するためDRAM出力バッファ用の内部クロック信号tCLK、すなわち、SDRAMのデータ出力バッファ用の内部クロック信号CLKDQに対応するクロック信号を外部クロック信号CLKより約1/4周期で速く発生させている。
【0006】
これらに着目するとSDRAMでも、以降の図10Aをもって詳細に説明するように外部クロック信号CLKのネガティブエッジを基準として内部クロック信号CLKDQを外部クロック信号CLKより約1/4周期で速く発生させることによってデータ出力遅延時間tSACを短くすることが可能である。
【0007】
しかし、無条件にデータ出力遅延時間tSACを短く、すなわち、最大周波数の外部クロック信号に適合するようにSDRAMのデータ出力遅延時間tSACを短くすれば、以降の図10Bをもって詳細に説明するように、次の周期の外部クロック信号CLKのポジティブエッジからデータを所定の時間に保持する条件となる出力ホールド時間tOH、すなわち、次のサイクルのクロック信号のポジティブエッジからデータが保持される出力ホールド時間に事実上SDRAMの最小データ出力遅延時間tSACminに該当する条件(出力ホールド時間tOH)を保証できなくなる。
【0008】
これらの問題点を図10A,10B,10Cを参照して具体的に説明する。
図10A,10B,10CはSDRAMで外部クロック信号CLKの周波数による内部クロック信号CLKDQの発生時点を示すタイミング図である。
図10Aにおいて、ここでは外部クロック信号CLKにおけるローレベル時間tCLの下で、最大周波数の外部クロック信号CLKが供給される場合の各ACパラメータと内部クロック信号CLKDQの発生時点との関係を示している。
【0009】
図10Aに示すtSTは外部クロック信号CLKのネガティブエッジから内部クロック信号CLKDQとして発生する内部クロック遅延時間である。tDELは、内部クロック信号CLKDQが発生し、かつ、データ出力バッファまで伝達される遅延時間とデータ出力バッファのデータ伝達遅延時間とを合計したデータ出力バッファでの出力遅延時間である。また、tOSは出力セットアップ時間として、最小クロックサイクル時間tCCminからSDRAMの最大データ出力遅延時間tSACmaxを除いた時間である。
【0010】
最大周波数の外部クロック信号CLKが供給される場合の最小クロックサイクル時間tCCminが次式(2)で表わされる。
この際、SDRAMの最大データ出力遅延時間tSACmaxが出力遅延時間tDELより小さければ、最大データ出力遅延時間tSACmaxを満足するためには、外部クロック信号CLKのネガティブエッジを基準とする内部クロック信号CLKDQの発生時点が次式(3)を満足する必要がある。
【0011】
tST≦tCLmin−tD …(3)
ただし tD=tDEL−tSACmax
前記のように出力ホールド時間tOHを保証するためには内部クロック発生遅延時間tSTが大きければ(長ければ)大きいほど可能になり、この内部クロック発生遅延時間tSTは次式(4)のように設定するのが望ましい。
【0012】
次に、図10Bにおいて、内部クロック信号CLKDQの発生時点下、すなわち、内部クロック発生遅延時間tSTが決定された状態で、外部クロック信号CLKの周波数がより低くなることによって、前記の出力ホールド時間tOHの保証が困難な場合の各ACパラメータを示している。
【0013】
ここでデータ出力バッファ用内部クロック信号CLKDQを発生して、出力ホールド時間tOHを保証できる基準になる外部クロック信号CLKのローレベル時間(以下、基準出力ホールドクロックレベル時間又は基準出力ホールディング時間と記載する)をtCLrefOHとすれば、次式(5)が成立する。
tCLrefOH=tCLmin+(tSACmax−tOH)…(5)
したがって、外部クロック信号CLKのローレベル時間tCLが前記の基準出力ホールディング時間tCLrefOHより、短い場合には外部クロック信号CLKのネガティブエッジを基準とし、内部クロック信号CLKDQを発生させることが出来るようになる。
【0014】
この反面、外部クロック信号CLKのローレベル時間tCLが前記の基準出力ホールディング時間tCLrefOHより長い場合は、周知のように、外部クロック信号CLKのポジティブエッジを基準として内部クロック信号CLKDQを容易に発生させることが出来る。
【0015】
しかし、このような外部クロック信号CLKのポジティブエッジを基準とする場合には、tCL=tCLrefOHである際に、所望の出力セットアップ時間「tOS=tCCmin−tSACmax」が得られない場合がある。このような場合のタイミングを図10Cに示している。この場合、データ出力バッファ用の内部クロック信号CLKDQを発生して、所望の出力セットアップ時間tOSを保証できる基準となる外部クロック信号CLKのローレベル時間(以下、基準出力セットアップローレベル時間又は基準出力セットアップ時間と記載する)をtCLrefOSとすれば、次式(6)が成立する。
tCLrefOS=tCLmin+tDEL−tSACmax…(6)
【0016】
上述したようにtCL>tCLrefOH>tCLrefOSである場合、外部クロック信号CLKのポジティブエッジを基準として内部クロック信号CLKDQを発生する。しかし、tCLrefOS>tCLrefOHである場合には、内部クロック信号CLKDQの発生が容易には出来ない。このような場合は、次の二つの状態がある。
【0017】
すなわち、tCLrefOS>tCL≧tCLrefOHの場合と、tCL≧tCLrefOS>tCLrefOHである場合を考慮する必要がある。まず、前者の場合、「tCL−tCLrefOH」の時間に比較して内部クロック発生遅延時間tSTを大きくして、内部クロック信号CLKDQの発生時点を後にすることが必要である。次に、後者の場合には、外部クロック信号CLKのポジティブエッジを基準として内部クロック信号CLKDQを発生させる。
【0018】
ここで基準出力ホールディング時間tCLrefOHと基準出力セットアップ時間tCLrefOSを概略的に算出する。50%のデュティサイクルを仮定し、
【0019】
【数1】
【0020】
したがって、tCLrefOH>tCLrefOSの関係の満足が期待できるようになる。
【0021】
この結果、SDRAMのデータ出力バッファ用内部クロック信号CLKDQを発生する際に以下の結論が得られる。すなわち、内部クロック信号CLKDQを発生する基準となる外部クロック信号CLKのローレベル時間tCLと基準出力ホールディング時間tCLrefOH、すなわち、所望の出力ホールド時間tOHを保証するための基準時間を相互比較して外部クロック信号CLKのポジティブエッジとネガティブエッジ中のいずれかを基準として内部クロック信号CLKDQが発生するようにすれば、前記の問題点を解決できることになる。
【0022】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、このような従来の技術における課題を解決するものであり、内部クロック信号の発生時点を外部クロック信号の周波数によって適応的に可変する同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路の提供を目的としている。
【0023】
本発明の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路では、内部クロック信号の発生時点が外部クロック信号の周波数によって適応的に可変されて外部クロック信号の周波数に関係なくデータ出力セットアップ時間と出力ホールド時間が十分に保証できるようになるものである。
【0024】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路では、一つの特徴として、外部クロック信号(CLK)が供給される外部クロック入力端子と、データ出力バッファ用の内部クロック信号(CLKDQ)を送出するための内部クロック入力端子と、入力信号としての外部クロック信号が入力され、所定の基準出力ホールディング時間(tCLrefOH)に対応した幅の基準パルス信号を発生する基準パルス発生手段と、基準パルス信号と外部クロック信号とが入力され、外部クロック信号のクロックレートが基準パルス信号のクロックレートより高いか否かを示す所定の信号を送出するクロックレート検出手段と、外部クロック信号のポジティブエッジを基準として第1内部クロック信号を発生する第1内部クロック信号発生手段と、外部クロック信号のネガティブエッジを基準として第2内部クロック信号を発生する第2内部クロック信号発生手段と、クロックレート検出手段からの出力信号を反転させる信号反転手段と、クロックレート検出手段からの出力信号と信号反転手段からの出力信号が入力され、クロックレート検出手段からの出力信号が所定の第1レベルであることに応答して外部クロック入力端子を通じて入力される外部クロック信号を第1内部クロック発生手段へ供給し、かつ、クロックレート検出手段からの出力信号が所定の第1レベルでないことに対応して外部クロック入力端子を通じて入力される外部クロック信号を第2内部クロック発生手段に供給する第1スイッチング手段と、クロックレート検出手段からの出力信号と信号反転手段からの出力信号が入力され、クロックレート検出手段からの出力信号が所定の第2レベルであることに対応して第1内部クロック発生手段からの第1内部クロック信号が内部クロック出力端子を通じてデータ出力バッファ用の内部クロック信号として出力され、かつ、クロックレート検出手段からの出力信号が所定の第2レベルでないことに対応して第2内部クロック発生手段からの第2内部クロック信号が内部クロック出力端子を通じてデータ出力バッファ用の内部クロック信号として出力する第2スイッチング手段とを備えている。
【0025】
他の特徴として本発明の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路では、外部クロック信号(CLK)が供給される外部クロック入力端子と、データ出力バッファ用の内部クロック信号(CLKDQ)を出力する内部クロック出力端子と、入力信号としての外部クロック信号が供給され、所定の基準出力セットアップ時間(tCLrefOS)に対応する幅の第1基準パルス信号を発生する第1基準パルス発生手段と、入力信号の外部クロック信号が供給され、所定の基準出力ホールディング時間(tCLrefOH)に対応した幅を有する第2基準パルス信号を発生する第2基準パルス発生手段と、第1基準パルス信号と外部クロック信号が供給され、外部クロック信号のクロックレートが第1基準パルス信号のクロックレートよりも高いか否かを示す相補的な二つの出力信号を送出する第1クロックレート検出手段と、第2基準パルス信号と外部クロック信号とが入力され、外部クロック信号のクロックレートが第2基準パルスのクロックレートよりも低いか否かを示す所定の出力信号を送出する第2クロックレート検出手段と、第1及び第2クロックレート検出手段からの出力信号が入力され、外部クロック信号のローレベル時間(tCL)が基準出力セットアップ時間よりも大きいか否かを示す第1クロックレート信号と外部クロック信号のローレベル時間が基準出力セットアップ時間よりも大きく、又は、基準出力セットアップ時間よりも小さいか否かを示す第2クロックレート表示信号を発生するクロックレート判定手段と、外部クロック信号のポジティブエッジを基準として第1内部クロック信号を発生する第1内部クロック発生手段と、外部クロック信号を可変的に遅延するための可変遅延手段とを備え、外部クロック信号のネガティブエッジを基準として第2内部クロック信号を発生する第2内部クロック発生手段と、外部クロック信号と第2基準パルス信号に応答して可変遅延手段を制御する遅延制御手段と、クロック判定手段の第1及び第2クロックレート信号をそれぞれ反転する第1及び第2信号反転手段と、クロックレート判定手段からの第1クロックレート信号と第1信号反転手段からの出力信号が入力され、第1クロックレート信号が所定の第1レベルであることに応答して外部クロック入力端子を通じて入力される外部クロック信号を第1内部クロック発生手段へ供給し、かつ、第1クロックレート信号が第1レベルでないことに応答して外部クロック入力端子を通じて入力される外部クロック信号を第2内部クロック発生手段へ供給する第1スイッチング手段と、第1クロックレート信号と第1信号反転手段からの出力信号が入力され、かつ、第1クロックレート信号が所定の第2レベルであることに対応して第1内部クロック発生手段からの第1内部クロック信号が内部クロック出力端子を通じて内部クロック信号として出力するように第1クロックレート信号が第2レベルでないことに対応して第2内部クロック発生手段からの第2内部クロック信号を内部クロック出力端子を通じて内部クロック信号として出力する第2スイッチング手段と、第2クロックレート信号と第2信号反転手段からの出力信号が入力され、第2クロックレート信号が所定の第3レベルであることに応答して遅延制御手段からの出力信号が可変遅延手段に供給され、かつ、第2クロックレート信号が第3レベルでないことに応答して遅延制御手段からの出力信号が可変遅延手段に供給されないようにする第3スイッチング手段とを備えるものである。
【0026】
この構成にあって具体例として、可変遅延手段は、入力電圧値に比例する遅延時間で外部クロック信号を遅延する電圧制御遅延手段を備え、遅延制御手段は、外部クロック信号と第2基準パルス発生手段との出力ローレベル保持時間の差に対応する幅をそれぞれに有するパルスのパルス列信号(PTS)を発生する入力差検出手段と、この入力差検出手段から第3スイッチング手段を通じて前記パルス列信号が供給される際に、パルス信号の平均を取った電圧信号を遅延制御信号として電圧制御遅延手段へ供給して、その遅延時間を制御する入力差電圧信号発生手段を備えるものである。
【0027】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路の実施の形態を添付図面を参照して詳細に説明する。
以下、添付図面に基づいて本発明を詳細に説明するが、本発明に関して十分に理解が出来るように、まず、本発明を概略的に説明し、次に、望ましい実施例について説明する。
【0028】
図1は本発明の基本構成である基準パルス発生回路の一例を示す回路図である。図1において、この基準パルス発生回路は、入力端子1に供給される外部クロック信号CLKがハイレベルからローレベルに遷移する際に、出力端子2を通じて所定の幅の基準パルス信号RPLSを発生する。この基準パルス発生回路は、入力信号を所定の時間で遅延する遅延部3及びパルス発生部4で構成されている。遅延部3はインバータ5及びキャパシタ(コンデンサ)6で構成されている。また、パルス発生部4はNORゲート7で構成されている。
【0029】
なお、遅延部3は、一つのインバータ5及びキャパシタ6をもって図示されているが、奇数個のインバータ及びキャパシタで構成しても良い。このような基準パルス発生回路では、遅延部3の遅延時間を調整することによって、この基準パルス発生回路からの基準パルス信号RPLSの幅を前記で説明したように、基準出力ホールディング時間tCLrefOH又は基準出力セットアップ時間tCLrefOSと同一に調整できるようになる。換言すれば、この基準パルス発生回路を用いることによって基準出力ホールディング時間tCLrefOHと基準出力セットアップ時間tCLrefOSにそれぞれ対応する幅の基準パルス信号refOH,refOSを発生できることになる。
【0030】
図2はローレベル時間tCLを分別するための外部クロック信号CLKのクロックレートを検出するクロックレート検出回路の構成を示す回路図である。このクロックレート検出回路は位相検出回路で構成されている。この位相検出回路は外部クロック信号CLKのクロックレートを検出するためのものである。この位相検出回路は、NANDゲートND1〜ND6を有したポジティブエッジトリガD型フリップフロップ(F/F)回路をで構成されている。
【0031】
この位相検出回路は、入力端子11へ供給される外部クロック信号CLKのポジティブエッジで入力端子12を通じて入力される基準パルス信号RPLSをサンプリングし、そのサンプリングの値が論理値「1」の場合に出力端子13を通じて論理値「1」の出力信号OUTを送出し、反転出力端子14を通じて論理値「0」の出力信号OUTを送出する。この逆に前記のサンプリング値が論理値「0」である場合、出力端子13を通じて論理値「0」の出力信号OUTを送出し、反転出力端子14を通じて論理値「1」の出力信号OUTを送出する。したがって、この回路を用いることによって外部クロック信号CLKのローレベル時間tCLを判別できるようになる。
【0032】
図3は入力される外部クロック信号CLK、基準パルス信号RPLSのローレベル保持時間差に比例するレベルの電圧信号Vconを発生する電圧信号発生回路の構成を示す回路図である。図3において、この電圧信号発生回路は、入力される外部クロック信号CLK、基準パルス信号RPLSにおけるローレベル保持時間の差に対応する幅のパルス列信号PTSを発生する入力差検出部15と、この入力差検出部15から供給されるパルス列信号PTSを平均した入力差電圧信号を遅延回路の制御のための電圧信号Vconとして出力する入力差電圧信号発生部16で構成されている。
【0033】
なお、二つの外部クロック信号CLK及び基準パルス信号RPLSのローレベル時間tCLの保持時間の差が変化すれば、このパルス列信号PTSのパルス幅が変化する。入力差検出部15はNORゲート17で構成できる。また、入力差電圧信号発生部16は低域通過フィルタ(LPF)による構成が可能である。この電圧信号発生回路は基準出力セットアップ時間tCLrefOSが基準出力ホールディング時間tCLrefOHより大きい場合において、「tCL−tCLrefOH」の絶対値に比例する大きさの入力差平均の電圧信号Vconを発生する。
【0034】
図4は外部クロック信号CLKのネガティブエッジ時点から所定時間が経過した後に内部クロック信号CLKDQを発生する内部クロック発生回路21の構成を示すブロック図である。
【0035】
図4において、内部クロック発生回路21には、電圧制御遅延回路22を備え、かつ、前述の位相検出器31とスイッチング回路32及び制御電圧発生回路33が設けられている。制御電圧発生回路33は、すでに説明したように「tCL−tCLrefOH」の絶対値に比例する大きさの入力差電圧信号Vmeanを電圧制御遅延回路22に供給することによって、この電圧制御遅延回路22が外部クロック信号CLKの遅延を処理する。スイッチング回路32は「tCLrefOS>tCL≧tCLrefOH」である場合にのみオン(ON)し、位相検出器31の出力信号が制御電圧発生回路33に供給される。
【0036】
図5A及び図5Bは図4における位相検出器31及び制御電圧発生回路33内の入力差検出部15の出力波形を示す波形図である。図5Aにおいて、基準パルス信号RPLSより速い外部クロック信号CLKが入力された場合には、位相検出器31の反転出力信号/OUTがローレベルを保持する。図5Bにおいて、基準パルス信号RPLSより遅い外部クロック信号CLKが入力された場合は、位相検出器31の反転出力信号/OUTがハイレベルに保持され、制御電圧発生回路33内の入力差検出部15は、外部クロック信号CLKと基準パルス信号RPLSのローレベル保持時間の差に対応する幅をそれぞれに有するパルスのパルス列信号PTSを発生する。
【0037】
以上の説明の各構成を変形し、かつ、組み合わせれば本発明のデータ出力バッファ用クロック信号発生回路が得られる。以下、詳細な実施例について説明する。
【0038】
【第1実施例】
図6は基準出力ホールディング時間tCLrefOHが基準出力セットアップ時間tCLrefOSよりも大きい場合の好適なデータ出力バッファ用クロック信号発生回路の構成を示す回路図である。図6において、このデータ出力バッファ用クロック信号発生回路は基準パルス発生部40と、クロックレート検出部50と、第1内部クロック発生部60と、第2内部クロック発生部70と、信号反転部80と、第1スイッチング部90及び第2スイッチング部100とで構成されている。以下、この各部について詳細に説明する。
【0039】
まず、基準パルス発生部40は、入力端子38を通じて外部クロック信号CLKが入力され、基準出力ホールディング時間tCLrefOHに対応した幅の基準パルス信号を発生する。基準パルス発生部40は、入力端子38に接続されるインバータ41と、このインバータ41の出力端子と接地Vssとに接続されるキャパシタ42及び入力端子38とインバータ41の出力端子に接続されるNORゲート43で構成されている。基準パルス発生部40のインバータ41は奇数個のインバータとキャパシタで構成しても良い。
【0040】
クロックレート検出部50は、基準パルス信号ref−ohと外部クロック信号CLKがそれぞれ入力され、外部クロック信号CLKのクロックレートが基準パルス信号ref−ohのクロックレートよりも高いかを示す所定の出力信号SSを出力する。クロックレート検出部50は、NORゲート43の出力端子に、そ入力端子が接続されるポジティブエッジトリガD型F/F回路で構成されている。
【0041】
第1内部クロック発生部60は、外部クロック信号CLKのポジティブエッジを基準として第1内部クロック信号CLK1を発生する。また、第1内部クロック発生部60は外部クロック信号を反転させるインバータ61と、このインバータ61が接続され、かつ、他端子がインバータ61の出力端子に接続されるNANDゲート62と、このNANDゲート62の出力端子に接続されるインバータ63とで構成されている。
【0042】
第2内部クロック発生部70は外部クロック信号CLKのネガティブエッジを基準として第2内部クロック信号CLK2を発生する。また、第2内部クロック発生部70は、インバータ71と、このインバータ71の入力端子に、その入力端子が接続され、かつ、インバータ71の出力端子に他の入力端子が接続されるNORゲート72と、このNORゲート72の出力端子に、その入力端子が接続されるインバータ73と、このインバータ73の出力端子に一方の入力端子が接続され、かつ、NORゲート72の出力端子と、他方の入力端子が接続されるNORゲート73とで構成されている。なお、ここでもインバータ71,73を奇数個のインバータで構成することも出来る。
【0043】
信号反転部80は、インバータ81で構成され、クロックレート検出部50の出力信号SSを反転させる。
【0044】
第1スイッチング部90は、クロックレート検出部50の出力信号SSと信号反転部80からの出力信号/SSが入力され、クロックレート検出部50がハイレベルである場合に応答して入力端子38を通じて入力される外部クロック信号CLKを第1内部クロック発生部60に供給する。また、クロックレート検出部50の出力信号SSがローレベルの場合に応答して入力端子38を通じて入力される外部クロック信号CLKを第2内部クロック発生部70に供給する。
【0045】
また、この第1スイッチング部90は、入力端子38にソースが接続され、かつ、第1内部クロック発生部60の入力端子にドレインが接続されるとともに、信号反転部80の出力端子にゲートが接続されるPMOSトランジスタ91を有している。さらに、入力端子38にドレインが接続され、かつ、第1内部クロック発生部60の入力端子にソースが接続されるとともに、クロックレート検出部50の出力端子にゲートが接続されるNMOSトランジスタ92を有している。
【0046】
また、第1スイッチング部90は、入力端子38にソースが接続され、かつ、第2内部クロック発生部70の入力端子にドレインが接続されるとともに、クロックレート検出部50の出力端子にゲートが接続されるPMOSトランジスタ93を有している。さらに、入力端子38にドレインが接続され、かつ、第2内部クロック発生部70の入力端子にソースが接続されるとともに、信号反転部80の出力端子にゲートが接続されるNMOSトランジスタ94を有している。
【0047】
第2スイッチング部100は、クロックレート検出部50の出力信号SSと信号反転部80からの出力信号/SSが入力され、クロックレート検出部50がハイレベルである場合に応答して第1内部クロック発生部60からの第1内部クロック信号CLK1を、入力端子38を通じてデータ出力バッファ用の内部クロック信号CLKDQとして出力する。また、クロックレート検出部50の出力信号SSがローレベルの場合に応答して第2内部クロック発生部70からの第2内部クロック信号CLK2を入力端子38を通じてデータ出力バッファ用の内部クロック信号CLKDQとして出力する。
【0048】
また、第2スイッチング部100は、第1内部クロック発生部60の出力端子にソースが接続され、かつ、内部クロック出力端子39にドレインが接続されるとともに、信号反転部80の出力端子にゲートが接続されるPMOSトランジスタ101を有している。また、第1内部クロック発生部60の出力端子にドレインが接続され、かつ、内部クロック出力端子39にソースが接続されるとともに、クロックレート検出部50の出力端子にゲートが接続されるNMOSトランジスタ102を有している。
【0049】
第2スイッチング部100は、第2内部クロック発生部70の出力端子にソースが接続され、かつ、内部クロック出力端子39にドレインが接続されるとともに、クロックレート検出部50の出力端子にゲートが接続されるPMOSトランジスタ103を有している。また、第2内部クロック発生部70の出力端子にドレインが接続され、かつ、内部クロック出力端子39にソースが接続されるととに、信号反転部80の出力端子にゲートが接続されるNMOSトランジスタ104を有している。
【0050】
図7A及び図7Bは基準出力ホールディング時間tCLrefOHが基準出力セットアップ時間tCLrefOSよりも大きい場合の外部クロック信号CLKのクロックレートによるクロックレート検出部50の出力のタイミング図である。以下、図6及び図7A並びに図7Bを参照してこの第1実施例の動作について説明する。
【0051】
まず、基準パルス発生部40へ供給された外部クロック信号CLKは遅延手段(インバータ41、キャパシタ42)によって、所定時間で遅延した信号が得られる。その際、外部クロック信号CLKの遅延時間は、基準出力ホールディング時間tCLrefOHを考慮した時間に設定される。この遅延手段の出力信号と遅延しない外部クロック信号CLKが入力されるNORゲート43は基準出力ホールディング時間tCLrefOHと同一幅の基準パルス信号ref−ohを発生する。
【0052】
基準パルス発生部40からの基準パルス信号ref−ohは、位相検出機能を有したD型F/F回路51〜56で構成されるクロックレート検出部50の入力端子に供給される。その際、D型F/F回路51〜56は、図7Aに図示したように、外部クロック信号CLKのポジティブエッジで基準パルス発生部40からの基準パルス信号ref−ohがハイレベルである場合に、ローレベルの出力信号SSを反転出力端子/OUTを通じて出力する。
【0053】
換言すれば、速い外部クロック信号CLKが入力される場合には、クロックレート検出部50がローレベルの出力信号SSを出力する。これで第1スイッチング部90のPMOSトランジスタ93,NMOSトランジスタ94、及び、第2スイッチング部100中のPMOSトランジスタ103,NMOSトランジスタ104がそれぞれターンオフする。
【0054】
この結果、外部クロック信号CLKのポジティブエッジで発生した第2内部クロック発生部70からの内部クロック信号CLK1が内部クロック出力端子39を通じてデータ出力バッファ用の内部クロック信号CLKDQとして出力される。
【0055】
基準パルス発生部40からの基準パルス信号ref−ohを、図7Bに図示したように、ローレベルの際に、すなわち、遅い外部クロック信号CLKが入力された場合には、クロックレート検出部50がハイレベルの出力信号SSを出力する。この結果、第1スイッチング部90中のPMOSトランジスタ91,NMOSトランジスタ92、及び、第2スイッチング部100中のPMOSトランジスタ101,NMOSトランジスタ102がそれぞれターンオフする。この結果、外部クロック信号CLKのポジティブエッジで発生する第1内部クロック発生部60からの内部クロック信号CLK2が内部クロック出力端子39を通じてデータ出力バッファ用の内部クロック信号CLKDQとして出力される。
【0056】
【第2実施例】
図8は基準出力ホールディング時間tCLrefOHが基準出力セットアップ時間tCLrefOSよりも小さい場合の好適なデータ出力バッファ用クロック信号発生回路の構成を示す回路図である。図8において、この内部クロック発生回路は、第1及び第2基準パルス発生部40a,40bと、第1及び第2クロックレート検出部50a,50bと、クロックレート判定部58aと、入力差検出部58bと、第1及び第2内部クロック発生部60a,60bと、入力差電圧信号発生部77と、第1及び第2信号反転部80a,80bと、第1、第2及び第3スイッチング部90a,100a,110で構成されている。
【0057】
以下、これらの動作について説明する。
まず、第1基準パルス発生部40aは、外部クロック信号CLKが入力され、基準出力セットアップ時間tCLrefOSに対応した幅の第1基準パルス信号ref−osを発生する。この第1基準パルス発生部40aは、入力端子38に接続されるインバータ41aと、このインバータ41aの出力端子と接地Vssとに接続されるキャパシタ42a、及び、入力端子38とインバータ41aとに接続されるNORゲート43aで構成されている。この第1基準パルス発生部40aのインバータ41a及びキャパシタ42aはそれぞれ奇数個のインバータ、キャパシタで構成することが出来る。
【0058】
第2基準パルス発生部40bは、外部クロック信号CLKが入力され、基準出力ホールディング時間tCLrefOHに対応する幅の第2基準パルス信号ref−oh発生する。この第2基準パルス発生部40bも第1基準パルス発生部40aと同様に入力端子38に接続されるインバータ41bと、このインバータ41bの出力端子と接地Vssとに接続されるキャパシタ42b、及び、入力端子38とインバータ41bとに接続されるNORゲート43bとで構成されている。第2基準パルス発生部40bのインバータ41bとキャパシタ42bもそれぞ奇数個のインバータ、キャパシタで構成することも出来る。
【0059】
第1クロックレート検出部50aは、第1基準パルス信号ref−osと外部クロック信号CLKがそれぞれ入力され、外部クロック信号CLKのクロックレートが第1基準パルス信号ref−osのクロックレートより高いか否かを示すコンプリメンタリの二つの出力信号を送出する。すなわち、第1基準パルス信号ref−osより速い外部クロック信号が入力された際には、出力端子OUT1を通じてハイレベルの信号を出力し、反転出力端子/OUT1を通じてローレベルの信号を出力す。第1クロックレート検出部50aは、第1基準パルス発生部40aのNORゲート43aの出力端子に接続される入力端子を有するポジティブエッジトリガD型F/F回路で構成されている。
【0060】
第2クロックレート検出部50bは、第2基準パルス信号ref−ohと外部クロック信号CLKがそれぞれ入力され、外部クロック信号CLKのクロックレートが第2基準パルス信号ref−ohのクロックレートより低いか否かを示す出力信号を送出する。この第2クロックレート検出部50bは第2基準パルス発生部40bのNORゲート43bの出力端子に入力端子が接続されるポジティブエッジトリガD型F/F回路で構成されている。第2基準パルス信号ref−ohより速い外部クロック信号が入力された際には、反転出力端子/OUTを通じてローレベル信号を出力する。
【0061】
クロックレート判定部58aは、第1及び第2クロックレート検出部50a,50bの出力信号が入力され、外部クロック信号CLKのローレベル時間tCLが基準出力セットアップ時間tCLrefOSよりも、大きいか否かを示す第1クロックレート信号SSと外部クロック信号CLKのローレベル時間tCLが基準出力ホールディング時間tCLrefOHよりも大きく、基準出力セットアップ時間tCLrefOSよりも小さいか否かを示す第2クロックレート表示信号MSを発生する。
【0062】
このクロックレート判定部58aは、第1クロックレート検出部50aの出力端子/OUT1と第2クロックレート検出部50bにおける反転出力端子/OUT2とに接続されるNORゲート59aと、クロックレート判定部58aの出力端子OUT1と第2クロックレート検出部50bの出力端子/OUT2に接続されるNORゲート59bで構成されている。
【0063】
入力差検出部58bは、一つのNORゲート59cで構成され、外部クロック信号CLKと第2基準パルス発生部40bの出力のローレベル保持時間の差に対応する幅のパルス列信号PTSを発生する。
【0064】
第1内部クロック発生部60aは外部クロック信号CLKのポジティブエッジを基準として、第1内部クロック信号CLK1を発生する。この構成は第1実施例における内部クロック発生部と同一である。
【0065】
第2内部クロック発生部70aは電圧制御遅延部71aを備えており、外部クロック信号CLKのネガティブエッジを基準として、第2内部クロック信号CLK2を発生する。第2内部クロック発生部70aは第1スイッチング部から供給される外部クロック信号を判定するインバータ71aと、このインバータ71aの出力端子にドレイン(又はソース)が接続され、低域通過フィルタにゲートが接続されるMOSトランジスタ75及び、このMOSトランジスタ75のソース(又はドレイン)と接地とにキャパシタ76が接続される構成の遅延手段を除いては第1実施例と同一の構成である。
【0066】
この遅延手段内のMOSトランジスタ75はゲート電圧に対応した正の電荷がキャパシタ76に充電される。第1及び第2信号反転部80a,80bは、クロックレート判定部58aからの第1及び第2クロックレート信号SS,MSをそれぞれ反転させる。第1信号反転部80aは、クロックレートレート判定部58aのNORゲート59aの出力端子に入力端子に接続されるインバータ82aで構成されている。第2信号反転部80bは、クロックレートレート判定部58aのNORゲート59bの出力端子にインバータ80bを接続して構成されている。
【0067】
以下、前述の第1実施例と同一の構成要素の重複した説明は省略する。
第1スイッチング部90aは、前記クロックレート判定部58aからの第1クロックレート信号SSと、前記第1信号反転部80aの出力信号/SSが入力され、第1クロックレート信号SSがハイレベルの場合に対応して入力端子38を通じて入力される外部クロック信号CLKを第1内部クロック発生部60aに供給する。また、第1クロックレート信号SSがローレベルの場合に対応して、入力端子38を通じて入力される外部クロック信号CLKを第2内部クロック発生部70aに供給する。
【0068】
第2スイッチング部100aは、クロックレート判定部58aからの第1クロックレート信号SSと、第1信号反転部80aの出力信号/SSが入力され、第1クロックレート信号SSがハイレベルの場合に対応して、第1内部クロック発生部60aからの第1内部クロック信号CLK1が内部クロック出力端子39を通じてデータ出力バッファ用の内部クロック信号CLKDQとして出力される。また、第1クロックレート信号SSがローレベルの場合に対応して、内部クロック発生部70aからの第2内部クロック信号CLK2が内部クロック出力端子39を通じてデータ出力バッファ用の内部クロック信号CLKDQとして出力される。
【0069】
入力差電圧信号発生部77は、入力差検出部58bから供給されるパルス列信号PTSを平均した電圧信号Vconを第2内部クロック発生部70aの電圧制御遅延部71aに供給して、その信号遅延時間を制御する。この入力差電圧信号発生部77は低域通過フィルタ77b,77cを有している。
【0070】
第3スイッチング部110は、前述の第2クロックレート信号MSと、前記第2信号反転部80bの出力信号/MSが入力される。第2クロックレート信号MSのローレベルの場合に対応して、入力差検出部58bからのパルス列信号PTSが入力差電圧信号発生部77に供給され、かつ、第2クロックレート信号MSのハイレベルの場合に対応して、入力差検出部58bからのパルス列信号PTSを入力差電圧信号発生部77に対して非供給にする。
【0071】
また、第3スイッチング部110は、クロックレート判定部58aの出力端子と入力差電圧信号発生部77の入力端子とに接続されるCMOSの伝達ゲートで構成されている。この伝達ゲートのNMOSトランジスタのゲートには第2クロックレート信号MSが供給され、PMOSトランジスタのゲートには、第2クロックレート信号MSの反転信号/MSが供給される。
【0072】
図9A及び図9Dには基準出力ホールディング時間tCLrefOHが基準出力セットアップ時間tCLrefOSよりも小さい場合の外部クロック信号CLKのクロックレートによる第1及び第2クロックレート検出部50a,50bの出力のタイミング図である。図9Aにおいて、ここではローレベル時間tCLが基準出力ホールディング時間tCLrefOHより、小さい外部クロック信号CLKを速い外部クロック信号CLKとする。
【0073】
また、ローレベル時間tCLが基準出力ホールディング時間tCLrefOHと基準出力セットアップ時間tCLrefOSの間である外部クロック信号を中間速度の外部クロック信号とし、かつ、ローレベル時間tCLが基準出力セットアップ時間tCLrefOSより大きい外部クロック信号CLKを遅い外部クロック信号CLKとする。
【0074】
次に、図7A,7B,7Cを参照した動作について説明する。
まず、第1クロックレート検出部50aは外部クロック信号CLKのポジティブエッジで第1基準パルス発生部40aからの第1基準パルス信号ref−osがハイレベルである際に、出力端子OUT1を通じてハイレベルの出力信号と反転出力端子/OUT1を通じてローレベルの反転信号を出力する。第2クロックレート検出部50bは外部クロック信号CLKのポジティブエッジで第2基準パルス信号ref−ohがハイレベルである際に、反転出力端子/OUT2を通じてローレベルの出力信号を送出する。
【0075】
図9Bにおいて、第1及び第2クロックレート検出部50a,50bの出力端子OUT1,OUT2を通じた出力信号がハイレベルの場合、クロックレート判定部58aは速い外部クロック信号が入力されるものと判定し、ローレベルの第1クロックレート信号SSとローレベルの第2クロックレート表示信号MSを出力する。
【0076】
この結果、第1スイッチング部90中のPMOSトランジスタ93,NMOSトランジスタ94、及び、PMOSトランジスタ103,NMOSトランジスタ104がそれぞれにターンオンする。その結果、外部クロック信号CLKのネガティブエッジで発生した第2内部クロック発生部70からの第2内部クロック信号CLK2が内部クロック出力端子39を通じてデータ出力バッファ用内部クロック信号CLKDQとして出力される。
【0077】
次に、図9Cにおいて、第1クロックレート検出部50aの出力端子OUT1を通じてハイレベルの信号が出力され、第2クロックレート検出部50bの出力端子OUT2を通じてローレベルの信号が出力された際にクロックレート判定部58aは、中間外部クロック信号が入力されるものと判定してローレベルの出力信号(クロックレート信号)SSと、ハイレベルの第2クロックレート表示信号MSを出力する。
【0078】
この結果、第1スイッチング部90のPMOSトランジスタ93及びNMOSトランジスタ94、及び、第2スイッチング部100中のPMOSトランジスタ103,NMOSトランジスタ104が、それぞれターンオフされて、第3スイッチング部110がオン状態になる。この結果、外部クロック信号CLKのネガティブエッジで発生した第2内部クロック発生部70からの第2内部クロック信号CLK2が内部クロック出力端子39を通じてデータ出力バッファ用の内部クロック信号CLKDQとして出力される。
【0079】
この際、第2内部クロック信号CLK2の発生時点は、入力差電圧信号発生部77の出力電圧Vconによって決定される。すなわち、入力差電圧信号発生部77の出力電圧Vconが相対的に高ければ、第2内部クロック信号CLK2の発生時点より遅くなり、その反対の場合は速くなる。
【0080】
次に、図9Dにおいて、第1及び第2クロックレート検出部50a,50bの出力端子OUT1,OUT2を通じてそれぞれ送出される出力信号がローレベルの際には、クロックレート判定部58aは遅い外部クロック信号が入力されるものと判定して、ハイレベルのクロックレート信号SSとローレベルのクロックレート信号MSを出力する。
【0081】
これによって、第1スイッチング部90中のPMOSトランジスタ91,NMOSトランジスタ92、及び、第1スイッチング部100中のPMOSトランジスタ101,NMOSトランジスタ102がそれぞれターンオフする。こ結果、外部クロック信号CLKのネガティブエッジで発生した第2内部クロック発生部70からの第2内部クロック信号CLK2が内部クロック出力端子39を通じてデータ出力バッファ用の内部クロック信号CLKDQとして出力される。
【0082】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路によれば、外部クロック信号の発生時点が外部クロック信号の周波数に適応的に可変される。この結果、外部クロック信号の周波数に関係なくデータの出力セットアップ時間と出力ホールド時間が十分に保証できるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の基本構成である基準パルス発生回路の一例を示す回路図。
【図2】実施形態にあってクロックレート検出回路の構成を示す回路図。
【図3】実施形態にあって電圧信号発生回路の構成を示す回路図。
【図4】実施形態にあって内部クロック発生回路の構成を示すブロック図。
【図5】実施形態にあって位相検出器及び制御電圧発生回路内の入力差検出部の出力波形図。
【図6】実施形態にあってデータ出力バッファ用クロック信号発生回路の構成を示す回路図。
【図7】実施形態にあってクロックレート検出部の出力のタイミング図。
【図8】実施形態にあってデータ出力バッファ用クロック信号発生回路の構成を示す回路図。
【図9】実施形態にあってクロックレート検出部の出力タイミング図。
【図10】従来例にあってSDRAMで外部クロック信号の周波数による内部クロック信号の発生時点を示すタイミング図。
【符号の説明】
40 基準パルス発生部
40a 第1基準パルス発生部
40b 第2基準パルス発生部
50 クロックレート検出部
50a 第1クロックレート検出部
50b 第2クロックレート検出部
60,60a 第1内部クロック発生部
60b,70 第2内部クロック発生部
80 信号反転部
80a 第1信号反転部
80b 第2信号反転部
90,90a 第1スイッチング部
100,100a 第2スイッチング部
110 第3スイッチング部
Claims (16)
- 外部クロック信号(CLK)に応答して所定の基準出力ホールディング時間(tCLrefOH)に対応する幅の基準パルス信号(ref−oh)を発生する基準パルス発生手段と、
前記パルス信号と前記クロック信号とのクロックレートを比較するクロックレート検出手段と、
前記外部クロック信号のポジティブエッジ及びネガティブエッジに対応して第1及び第2クロック信号(CLK1,CLK2)を発生する第1及び第2内部クロック発生手段と、
前記クロックレート検出手段からの出力信号に応答して前記第1内部クロック発生手段又は前記第2内部クロック発生手段の一方に外部クロック信号を供給する第1スイッチング手段と、
前記クロックレート検出手段からの出力信号に応答して前記第1及び第2クロック信号中の一方を内部クロック信号として出力する第2スイッチング手段と、
を備えることを特徴とする同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。 - 前記基準パルス発生手段は、
前記外部クロック入力端子に接続されるインバータと、
前記インバータと接地とに接続されるキャパシタと、
前記外部クロック入力端子と前記インバータの出力端子とに接続されるNORゲートと、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。 - 前記基準パルス発生手段は、
前記外部クロック入力端子に順次的に接続される奇数個のインバータと、
前記奇数個のインバータのそれぞれの入力端子と接地とに接続されるキャパシタと、
前記外部クロック入力端子と前記奇数個のインバータの最後段の出力端子に接続されるNORゲートと、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。 - 前記クロックレート検出手段は、
前記NORゲートの出力端子に入力端子が接続されるポジティブエッジトリガD型フリップフロップ回路を備えることを特徴とする請求項2に記載の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。 - 前記第1内部クロック発生手段は、
前記第1スイッチング手段から供給される外部クロック信号を反転する第1インバータ又は奇数個のインバータと、
前記第1インバータの入力端子と前記第1インバータの出力端子とに入力端子が接続される第1NANDゲートと、
前記第1NANDゲートの出力端子に入力端子が接続される第2インバータと、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。 - 前記第2内部クロック発生手段は、
前記第1スイッチング手段から供給される外部クロック信号を反転する第3インバータ又は奇数個のインバータと、
前記奇数個のインバータにおける3段目のインバータの入力端子と出力端子とに接続される第1NORゲートと、
前記第1NORゲートからの出力を反転する第4インバータ又は奇数個のインバータと、
前記第4インバータの出力端子と前記第1NORゲートの出力端子とに接続される第2NORゲートと、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。 - 所定の基準出力セットアップ時間(tCLrefOS)が所定の基準出力ホールディング時間(tCLrefOH)よりも大きい場合に、
外部クロック信号(CLK)に応答して前記所定の基準出力セットアップ時間に対応する第1基準パルス信号(ref−os)を発生する第1基準パルス発生手段と、
外部クロック信号に応答して前記所定の基準出力ホールディング時間に対応する第2基準パルス信号(ref−oh)を発生する第2基準パルス発生手段と、
前記第1基準パルス信号と外部クロック信号とのクロックレートを比較する第1クロックレート検出手段と、
前記第2基準パルス信号と前記外部クロック信号とのクロックレートを比較する第2クロックレート検出手段と、
前記第1及び第2クロックレート検出手段からの出力信号が入力され、前記外部クロック信号のローレベル時間(tCL)が前記基準出力セットアップ時間よりも大きい場合に第1クロックレート信号(SS)を発生するとともに、前記外部クロック信号のローレベル時間(tCL)が前記基準出力ホールディング時間よりも大きく、かつ、前記基準出力セットアップ時間よりも小さい場合に第2クロックレート信号(MS)を発生するクロックレート判定手段と、
前記外部クロック信号のポジティブエッジ及びネガティブエッジにそれぞれ応答して第1及び第2内部クロック信号(CLK1,CLK2)をそれぞれ発生する第1及び第2内部クロック発生手段と、
前記クロックレート判定手段からの前記第1及び第2クロックレート信号をそれぞれ反転する第1及び第2信号反転手段と、
前記第1クロックレート信号と前記第1信号反転手段からの出力信号に応答して、前記第1内部クロック発生手段又は前記第2内部クロック発生手段中の一方に前記外部クロック信号を供給する第1スイッチング手段と、
前記第1クロックレート信号と前記第1信号反転手段からの出力信号に応答して、前記第1内部クロック信号(CLK1)又は前記第2内部クロック信号(CLK2)中のいずれか一方を内部クロック信号(CLKDQ)として出力する第2スイッチング手段と、
前記第2クロックレート信号(MS)及び前記第2信号反転手段からの出力信号に応答して、可変遅延手段へ遅延制御手段からの出力信号を供給する第3スイッチング手段と、
を備えることを特徴とする同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。 - 前記可変遅延手段は、
入力電圧値に比例する遅延時間で外部クロック信号を遅延する電圧制御遅延手段を備えることを特徴とする請求項7に記載の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。 - 前記遅延制御手段は、
前記外部クロック信号と前記第2基準パルス発生手段からの出力信号(ref−oh)とのローレベル保持時間差に対応する幅をそれぞれに有するパルス列信号(PTS)を発生する入力差検出手段と、
前記入力差検出手段から前記第3スイッチング手段を通じて前記パルス列信号が供給される際に、前記パルス信号を平均した電圧信号(Vcon)を前記電圧制御遅延手段へ供給して遅延時間を制御する入力差電圧信号発生手段と、
を備えることを特徴とする請求項8に記載の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。 - 前記入力差電圧信号発生手段に低域通過フィルターを備えることを特徴とする請求項9に記載の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。
- 前記可変遅延手段は、
前記第1スイッチング手段から供給される外部クロック信号を反転する第1インバータと、
前記第1インバータの出力端子にドレイン又はソースが接続され、かつ、前記入力差電圧信号発生手段の出力端子にゲートが接続されるMOSトランジスタ及び前記MOSトランジスタのソース又はドレインと接地とに接続されるキャパシタと、
を備えることを特徴とする請求項9に記載の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。 - 前記第1及び第2基準パルス発生手段のそれぞれに、
前記外部クロック入力端子に接続されるインバータと、
前記インバータの出力端子と接地とに接続されるキャパシタと、
前記クロック入力端子と前記インバータの出力端子とに接続されるNORゲートと、
を備えることを特徴とする請求項7に記載の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。 - 前記第1及び第2基準パルス発生手段のそれぞれに、
前記外部クロック入力端子に順次的に接続される奇数個のインバータと、
前記奇数個のインバータの中の最終段のインバータの出力端子と接地とに接続されるキャパシタと、
前記クロック入力端子と前記奇数個のインバータの中の最終段のインバータの出力端子とに接続されるNORゲートと、
を備えることを特徴とする請求項7に記載の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。 - 前記第1及び第2クロックレート検出手段のそれぞれに、前記NORゲートの出力端子に接続されるポジティブエッジトリガD型フリップフロップ回路を備えることを特徴とする請求項7に記載の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。
- 前記第1内部クロック発生手段に、
前記第1スイッチング手段から供給される外部クロック信号を反転する一つのインバータ又は奇数個インバータと、
前記インバータの入力端子と出力端子とに接続されるNANDゲートと、
前記NANDゲートの出力端子に接続されるインバータと、
を備えることを特徴とする請求項7に記載の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。 - 前記第2内部クロック発生手段に、
前記第1スイッチング手段から供給される外部クロック信号を反転する一つのインバータ又は奇数個インバータと、
前記インバータの入力端子と出力端子とに接続されるNORゲートと、
前記第1NORゲートからの出力信号を反転する他の一つのインバータ又は奇数個のインバータと、
前記他の一つのインバータの出力端子と前記第1NORゲートとに接続される他の一つのNORゲートと、
を備えることを特徴とする請求項7に記載の同期型DRAM装置におけるデータ出力バッファ用クロック信号発生回路。
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