JP3751611B2

JP3751611B2 - ジッタ測定装置

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Publication number: JP3751611B2
Application number: JP2003195251A
Authority: JP
Inventors: 有紀村尾; 修杉山
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 2003-07-10
Filing date: 2003-07-10
Publication date: 2006-03-01
Anticipated expiration: 2023-07-10
Also published as: JP2005030867A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ジッタ測定装置において、その測定ポイントを簡単に且つ適正に設定するための技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
データ信号を伝送するシステムでは、データ信号の位相の揺らぎ（ジッタまたはワンダ）が大きいとデータを正しく伝達できなくなる。
【０００３】
このため、データ伝送システムやそれを構成する機器について、予めジッタやワンダに対するシステムの耐力や伝達特性が、規格を満たしているか否か把握しておくことが必要となる。
【０００４】
なお、一般的にデータ信号の位相変動の周波数が１０Ｈｚ以上の成分をジッタと呼び、１０Ｈｚ以下の成分をワンダと呼んでいる。
【０００５】
例えば、ＳＤＨ、ＳＯＮＥＴ，ＯＴＮ等のネットワークに接続される装置に関し、ＩＴＵ−ＴやＴｅｌｃｏｒｄｉａ等の国際規格で規定されている代表的な特性としてジッタ耐力特性およびジッタ伝達特性がある。
【０００６】
ジッタ耐力特性は、測定対象の装置がどの程度のジッタに耐えられるかをその位相変動の周波数毎に表すものであり、図１３に示すように測定によって得られた特性ＪＴと規格特性Ｒとを対比することで、測定対象のジッタ耐力の良否を判定することができる。
【０００７】
また、ジッタ伝達特性は、測定対象の装置が入力された信号のジッタをどの程度抑圧して出力するかをその位相変動の周波数毎に表すものであり、入力ジッタと出力ジッタの比を周波数毎に求めたものである。
【０００８】
なお、一般的にジッタ伝達特性の入力ジッタ量は、ジッタ耐力の規格特性に沿った値を用いている。
【０００９】
このようなジッタの耐力や伝達特性を測定するために、図１４に示すジッタ測定装置１０が用いられている。
【００１０】
このジッタ測定装置１０は、設定モードと測定モードの二つの動作モードを有しており、操作部１１により設定モードが指定されたとき、測定対象１に対するジッタ周波数を測定ポイントとして設定するための測定ポイント設定部１２と、測定モードが指定されたときに、予め測定ポイント設定部１２によって設定されたジッタ周波数による耐力測定あるいは伝達特性の測定を測定対象１に対して行なう測定部１６と、設定したジッタ周波数や測定結果等を表示するための表示器２５とを有している。
【００１１】
測定ポイント設定部１２は、ジッタ耐力の規格特性Ｒ（ジッタ周波数対ジッタ量のデータ）が予め記憶されている規格特性メモリ１３、測定ポイント入力手段１４および測定ポイントメモリ１５を有している。
【００１２】
測定ポイント入力手段１４は、操作部１１によって設定モードが指定されたときに、規格特性メモリ１３に記憶されている規格特性Ｒのデータを読込み、設定入力可能な測定ポイントの周波数範囲を表示器２１に表示して、その範囲内の任意の周波数の入力を促し、操作部１１の操作によって入力された周波数値を測定ポイントとして表示器２１に表示するとともに、その測定ポイントの周波数を測定ポイントメモリ１５に記憶する。
【００１３】
一方、測定部１６は、クロック発生器１７、変調信号発生器１８、位相変調器１９、データ信号発生器２０、誤り測定器２１、クロック再生器２２、位相比較器２３および測定制御部２４によって構成されている。
【００１４】
クロック発生器１７は、所定周波数の基準クロックＣを生成して位相変調器１９へ出力する。
【００１５】
変調信号発生器１８は、測定制御部２４から指定された周波数ｆｍと振幅Ｖｍの変調信号Ｍを生成して位相変調器１９に出力する。
【００１６】
位相変調器１９は、基準クロックＣを変調信号Ｍによって位相変調し、その位相変調されたジッタクロックＣｊをデータ信号発生器２０に出力する。
【００１７】
データ信号発生器２０は、ジッタクロックＣｊに同期したデータ信号Ｄを生成して測定対象１に入力する。
【００１８】
測定対象１は、例えばデータ中継装置（あるいはデータ中継機能を有する装置）であり、入力されたデータ信号Ｄからクロック成分を抽出し、そのクロック成分によってデータ信号Ｄの２値判定を行い、その判定結果を出力データ信号Ｄ′として出力する。
【００１９】
誤り測定器２１は、測定対象１の出力データ信号Ｄ′の誤り率Ｅを測定し、その測定値Ｅを測定制御部２４に出力する。
【００２０】
クロック再生器２２は、測定対象１の出力データ信号Ｄ′からクロック成分を再生し、その再生クロックＣ′を位相比較器２３に出力する。
【００２１】
位相比較器２３は、再生クロックＣ′と基準クロックＣとの位相を比較し、その位相差情報Δφを測定制御部２４に出力する。
【００２２】
測定制御部２４は、測定ポイント設定部１２の測定ポイントメモリ１５に記憶されている測定ポイントに基づいて変調信号発生器１８を制御し、誤り測定器２１および位相比較器２３の出力に基づいて、ジッタ耐力特性またはジッタ伝達特性を求める。
【００２３】
例えば、ジッタ耐力特性の測定が指定された場合、変調信号発生器１８から出力される変調信号Ｍの周波数を、測定ポイントメモリ１５に記憶されているジッタ周波数に設定し、誤り率Ｅを監視しながら変調信号Ｍの振幅（ジッタ量に相当）を可変し、誤り測定器２１によって測定される誤り率Ｅが増大変化する直前の振幅をジッタ耐力値として求める、という処理を測定ポイントメモリ１５に記憶されているジッタ周波数毎に行なって、測定対象１のジッタ耐力特性ＪＴを求め、図１３に示したように、規格特性Ｒと対比可能な状態で表示器２５に表示する。
【００２４】
この表示画面上で、測定対象１のジッタ耐力特性ＪＴが規格特性Ｒより低い箇所があれば、測定対象１は規格を満足していないと判定することができ、測定対象１のジッタ耐力特性ＪＴが規格特性Ｒより低い箇所が無ければ、測定対象１は規格を満足していると判定することができる。
【００２５】
また、ジッタ伝達特性の測定が指定された場合、変調信号発生器１８から出力される変調信号Ｍの周波数を、測定ポイントメモリ１５に記憶されているジッタ周波数に設定し、変調信号Ｍの振幅を規格特性Ｒにおけるジッタ周波数のジッタ量に対応した値に設定し、位相比較器２３によって検出された位相差情報に対応したジッタ量と、変調信号Ｍの振幅値に対応したジッタ量との比を求める、という処理を測定ポイントメモリ１５に記憶されているジッタ周波数毎に行なって、測定対象１のジッタ伝達特性を求め、表示器２５に表示する。
【００２６】
なお、ワンダに対する耐力を測定する場合、低い周波数帯域（１０Ｈｚ以下）で定義されている規格特性を用い、それに合わせて変調信号Ｍの周波数の設定範囲を低い周波数帯域内で設定する点だけが異なり、他の処理は同等である。
【００２７】
上記したジッタ測定装置のうち、ジッタ耐力の測定を行なうための基本構成は、次の特許文献１に開示されている。
【００２８】
【特許文献１】
特開平８−５０１５６号公報
【００２９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記した従来のジッタ測定装置では、以下の解決すべき課題があった。
【００３０】
（１）測定ポイントの周波数を操作部１１の操作によって入力する作業が煩雑である。
【００３１】
（２）測定ポイントの周波数を任意に設定できる自由度があるが、その自由度のために規格特性に対して必ずしも適切なポイントで測定が行なわれない場合があり、測定の再現性、信頼性に欠ける。
【００３２】
（３）測定ポイントを変更した後に、再び元の測定ポイントに戻すような場合に、前の測定ポイントの周波数を覚えていなければならないという不便さがある。
【００３３】
本発明は、これらの問題を解決し、簡単な入力作業で、規格特性に対して適切な測定ポイントを設定でき、測定ポイントの変更、戻しが簡単に行なえるジッタ測定装置を提供することを目的としている。
【００３４】
なお、本発明のジッタ測定装置は、上記したジッタ耐力測定やジッタ伝達特性を測定する場合だけでなく、ワンダの耐力を測定する装置も含むものとする。
【００３５】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明の請求項１のジッタ測定装置は、
予め設定された周波数の変調信号によって位相変調した信号を生成して測定対象に入力し、該測定対象から出力される信号に基づいて測定対象のジッタに関わる特性値を、前記変調信号の周波数毎に測定する測定部（１６）と、
所定の規定特性に対して、前記測定部が位相変調に用いる変調信号の周波数を測定ポイントとして設定するための測定ポイント設定部（３１）とを有するジッタ測定装置において、
前記測定ポイント設定部は、
測定ポイント数を任意に指定するためのポイント数指定手段（３３）と、
前記ポイント数指定手段によって指定された数の測定ポイントを前記規定特性の端点を含む変曲点に優先的に割り当てる測定ポイント割当手段（３４）とを備えている。
【００３６】
また、本発明の請求項２のジッタ測定装置は、請求項１のジッタ測定装置において、
前記測定ポイント割当手段は、
指定された測定ポイント数と前記変曲点の数とを比較し、前記測定ポイント数が前記変曲点の数と等しいときには、前記変曲点の全ての周波数を測定ポイントとして割当て、前記測定ポイント数が前記変曲点の数より少ない場合には、前記変曲点のうち、低域側端点、高域側端点、低域側変曲点の優先順位で測定ポイントを割当て、前記測定ポイント数が前記変曲点の数より多い場合には、前記変曲点の全ての周波数を測定ポイントとして割当てるとともに、残りの測定ポイントを、隣合う変曲点間の距離が長い区間に優先的に割当てるように構成されていることを特徴としている。
【００３７】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明を適用した実施形態のジッタ測定装置３０の構成を示している。
【００３８】
図１において、操作部１１、測定ポイント設定部３１の規格特性メモリ１３、測定ポイントメモリ１５、測定部１６、表示器２５は前記したジッタ測定装置１０のものと同等であるので、同一符号を付している。
【００３９】
このジッタ測定装置３０の測定部１６は、前記同様に、クロック発生器１７、変調信号発生器１８、位相変調器１９、データ信号発生器２０、誤り測定器２１、クロック再生器２２、位相比較器２３および測定制御部２４によって構成され、クロック発生器１７から出力される基準クロックＣを変調信号発生器１８から周波数ｆｍ、振幅Ｖｍで出力される変調信号Ｍによって位相変調してジッタクロックＣｊを生成し、これをデータ信号発生器２０に与えて、ジッタクロックＣｊに同期したデータ信号Ｄを生成して測定対象１に入力する。
【００４０】
また、測定対象１から出力されるデータ信号Ｄ′の誤り率Ｅを誤り測定器２１によって測定してその測定値Ｅを測定制御部２４に出力し、データ信号Ｄ′から再生された再生クロックＣ′と基準クロックＣとの位相比較処理を位相比較器２３で行い、その位相差情報Δφを測定制御部２４に出力する。
【００４１】
測定制御部２４は、操作部１１の操作等によってジッタ耐力測定が指定された場合、変調信号発生器１８から出力される変調信号Ｍの周波数を、測定ポイント設定部３１の測定ポイントメモリ１５に記憶されているジッタ周波数に設定し、誤り率Ｅを監視しながら変調信号Ｍの振幅（ジッタ量に相当）を可変し、誤り率Ｅが増大変化する直前の振幅をジッタ耐力値として求める、という処理を測定ポイントメモリ１５に記憶されているジッタ周波数毎に行なって、測定対象１のジッタ耐力特性ＪＴを求め、規格特性Ｒと対比可能な状態で表示器２５に表示する。
【００４２】
また、ジッタ伝達特性の測定が指定された場合、変調信号発生器１８から出力される変調信号Ｍの周波数を、測定ポイントメモリ１５に記憶されているジッタ周波数に設定し、変調信号Ｍの振幅を規格特性Ｒにおけるジッタ周波数のジッタ量に対応した値に設定し、位相比較器２３によって検出された位相差情報に対応したジッタ量と、変調信号Ｍの振幅値に対応したジッタ量との比を求める、という処理を測定ポイントメモリ１５に記憶されているジッタ周波数毎に行なって、測定対象１のジッタ伝達特性を求め、表示器２５に表示する。
【００４３】
このジッタ測定装置３０の測定ポイント設定部３１は、前記した規格特性メモリ１３、測定ポイントメモリ１５の他に、規格特性指定手段３２、ポイント数指定手段３３および測定ポイント割当手段３４を備えている。
【００４４】
規格特性指定手段３２は、設定モードにおいて規格特性メモリ１３に記憶されている複数の規格特性のうちの任意の一つを操作部１１の操作により指定させるためのものである。
【００４５】
ポイント数指定手段３３は、設定モードにおいて任意の測定ポイント数Ｐを操作部１１の操作により指定させるためのものである。
【００４６】
測定ポイント割当手段３４は、規格特性指定手段３２によって指定された規格特性とポイント数指定手段３３によって指定された測定ポイント数Ｐとに基づき、測定ポイントを規格特性Ｒの端点を含む変曲点に優先的に割り当てる。
【００４７】
図２〜図４は、測定ポイント割当手段３４を含めた測定ポイント設定部３１の処理手順を示すフローチャートである。
【００４８】
以下、このフローチャートに基づいて、測定ポイントの割当処理の動作を説明する。
【００４９】
図２のフローチャートにおいて、始めに図５に示すように、規格指定欄２１ａ、ポイント数指定欄２１ｂ、特性欄２１ｃ、測定ポイント欄２１ｄからなる設定画面を表示器２１に表示し、操作部１１の操作によって規格指定欄２１ａに規格特性Ｒが入力指定されると、その指定された規格特性Ｒのデータを規格特性メモリ１３から読み出し、その規格特性を特性欄２１ｃに表示するとともに、指定された規格特性の端点を含む変曲点Ａ１〜Ａｑについて、図６のように、隣合う変曲点間の距離Ｌ１〜Ｌ（ｑ−１）とその総和Ｌ０を求める（Ｓ１〜Ｓ４）。
【００５０】
なお、この距離は、各変曲点をジッタ周波数とジッタ量とのＸＹ座標の座標点とし、その座標点間の距離である。また、このＸＹ座標のジッタ周波数（Ｘ軸）とジッタ量（Ｙ軸）は、ともにｌｏｇスケールで表されており、前記した距離もこのｌｏｇスケールの座標上での距離となる。
【００５１】
そして、操作部１１の操作によってポイント数指定欄２１ｂに任意の測定ポイント数Ｐが入力指定されると、その測定ポイント数Ｐと、規格特性Ｒの変曲点Ａ１〜Ａｑの数Ｑとを比較する（Ｓ５、Ｓ６）。
【００５２】
ここで、指定された測定ポイント数Ｐが変曲点数Ｑと等しいときには、図５に示しているように、全ての変曲点Ａ１〜Ａｑの周波数ｆ（Ａ１）〜ｆ（Ａｑ）を測定ポイントとし、これを測定ポイント欄２１ｄに周波数順に表示する（Ｓ７）。ただし、図５はＰ＝Ｑ＝４の例である。また、特性欄２１ｃの規格特性上に確定した測定ポイントの位置を識別表示（図５では丸印）する（以下同様）。
【００５３】
また、測定ポイント数Ｐが変曲点数Ｑより少ない場合には、変曲点Ａ１〜Ａｑのうち、低域側端点、高域側端点、低域側変曲点の優先順位で測定ポイントを割当てる。
【００５４】
即ち、指定された測定ポイント数Ｐが１のときには、低域側端点Ａ１の周波数ｆ（Ａ１）を唯一の測定ポイントとし、これを図７のように測定ポイント欄２１ｄに表示する（Ｓ８、Ｓ９）。
【００５５】
また、指定された測定ポイント数Ｐが２のときには、低域側端点Ａ１の周波数ｆ（Ａ１）と高域側端点Ａｑの周波数ｆ（Ａｑ）を測定ポイントとし、これを図８（Ｑ＝４の例）のように測定ポイント欄２１ｄに表示する（Ｓ１０、Ｓ１１）。
【００５６】
また、指定された測定ポイント数Ｐが変曲点数Ｑより小さく２より大きいときには、図３のフローチャートに示しているように、先ず低域側端点Ａ１の周波数ｆ（Ａ１）を測定ポイントとする（Ｓ１２）。
【００５７】
そして、残りの測定ポイント数Ｕを求め、予め求めていた総和Ｌ０をＰ−１で除算して、図９に示すように、仮りの測定ポイント間の平均距離Ｌａを求める（Ｓ１３、Ｓ１４）。
【００５８】
次に、規格特性Ｒ上でその前に候補値と決定した変曲点（この場合低域側端点Ａ１）から高域側に距離Ｌａだけ移動した仮の測定ポイントの座標Ｚを求め、残りの変曲点のうち、この座標点Ｚに最も近い変曲点（図９の例ではＡ２）の周波数を測定ポイントの一つとする（Ｓ１５、Ｓ１６）。
【００５９】
なお、座標点Ｚが２つの変曲点の中間に位置する場合には、低域側の変曲点を優先する。
【００６０】
上記処理Ｓ１５、Ｓ１６を測定ポイントの残り数Ｕが１になるまで繰り返し、残り数Ｕが１になったときに、最後の測定ポイントを高域側端点Ａｑの周波数とし、確定した全ての測定ポイントを、図１０に示すように測定ポイント欄２１ｄに表示する（Ｓ１７〜Ｓ２０）。
【００６１】
また、指定された測定ポイント数Ｐが変曲点数Ｑより多い場合には、図４のフローチャートに移行して、全ての変曲点Ａ１〜Ａｑの周波数ｆ（Ａ１）、ｆ（Ａｑ）を測定ポイントに割り当てるとともに、残りの測定ポイントを、隣合う変曲点間の距離が長い区間に優先的に割当てる。
【００６２】
即ち、図１１に示しているように、予め求めた総和Ｌ０を（Ｐ−１）で除算して平均距離Ｌａを求め、各変曲点間の距離Ｌ１〜Ｌ（ｑ−１）をそれぞれ平均距離Ｌａで除算し、その除算結果を整数化して、変曲点間毎の仮の分割数Ｋ１〜Ｋ（ｑ−１）を求める（Ｓ２１、Ｓ２２）。なお、図１１は、Ｐ＝１２の例である。
【００６３】
ここで、各変曲点間の距離Ｌｌ〜Ｌ（ｑ−１）を長い順に表したものをＹ１〜Ｙ（ｑ−１）とし、それに対応する分割数をＮ１〜Ｎ（ｑ−１）とする（Ｓ２３）。
【００６４】
そして、最も長い区間について得られた仮の分割数Ｎ１を１だけ増加更新し、分割数Ｎ１〜Ｎ（ｑ−１）の総和Ｎ０と（Ｐ−１）との差ｘを求め、その差ｘが０であれば、その段階で各分割数Ｎ１〜Ｎ（ｑ−１）が確定したものとする（Ｓ２４〜Ｓ２６）。
【００６５】
また、差ｘが正であれば、最も短い区間の仮の分割数Ｎ（ｑ−１）から分割数Ｎ（ｑ−ｘ）までの値をそれぞれ１ずつ減少更新して、総和Ｎ０をＰ−１と等しくし、その段階で各分割数Ｎ１〜Ｎ（ｑ−１）が確定したものとする（Ｓ２７）。
【００６６】
また、差ｘが負であれば、２番目に長い区間の仮の分割数Ｎ２から分割数Ｎ（２＋ｘ−１）までの値をそれぞれ１ずつ増加更新して、総和Ｎ０をＰ−１と等しくし、その段階で各分割数Ｎ１〜Ｎ（ｑ−１）が確定したものとする（Ｓ２８）。
【００６７】
このようにして、隣合う変曲点間の全ての区間についての分割数が確定した後、全ての変曲点Ａ１〜Ａｑの周波数ｆ（Ａ１）〜ｆ（Ａｑ）を測定ポイントとし、続いて、１〜ｑ−１までの変数ｉに対して、長さＹｉの区間をＮｉ個に等分割する（Ｎｉ−１）個の座標点の周波数ｆ（ｉ，１）〜ｆ（ｉ，Ｎｉ−１）を測定ポイントとして求め、これらの処理で得られた全ての測定ポイントを、例えば図１２に示すように、表示器２１の測定ポイント欄２１ｄに周波数順に表示する（Ｓ２９〜Ｓ３４）。なお、図１２はＰ＝１２の例である。
【００６８】
以上のように、指定された測定ポイント数Ｐに対して自動的に求められ、表示器２１の画面上に表示された測定ポイントを測定者が確認して、確定操作、例えば操作部の特定キーに対する操作や測定モードを指定する操作を行なうと、この表示されている測定ポイントの周波数情報が測定ポイントメモリ１５に記憶され、その測定ポイントのジッタ周波数における測定対象１の耐力測定あるいは伝達特性の測定が可能となる（図２のＳ３５、Ｓ３６）。
【００６９】
このように実施形態のジッタ測定装置３０は、測定ポイント数Ｐを指定するだけで、そのポイント数の周波数を自動設定でき、測定ポイント設定作業が極めて簡単に行なえる。
【００７０】
また、測定ポイントの変更は測定ポイント数の変更のみで行なえ、指定した測定ポイント数が同じであれば、同一の測定ポイントとなるので、周波数自体を覚えていなくても、再現性の高い測定が可能となる。
【００７１】
また、測定ポイントを自動設定する際に、規格特性の端点を含む変曲点に優先的に割り当てるので、測定ポイント数が少ない場合でも測定対象のジッタ特性と規格特性との対比が容易となり、その評価を正確に行なうことができる。
【００７２】
また、指定された測定ポイント数Ｐと変曲点数Ｑとを比較し、測定ポイント数Ｐが変曲点数Ｑと等しいときには、全ての変曲点の周波数を測定ポイントとして割当て、測定ポイント数Ｐが変曲点数Ｑより少ない場合には、変曲点のうち、低域側端点、高域側端点、低域側変曲点の優先順位で測定ポイントを割当て、測定ポイント数Ｐが変曲点数Ｑより多い場合には、変曲点の全ての周波数を測定ポイントとして割当てるとともに、残りの測定ポイントを、隣合う変曲点間の距離が長い区間に優先的に割当てるようにしている。
【００７３】
このため、規格特性との対比が容易で、特性変化を見過ごさない適切な測定ポイントを設定することができ、測定の信頼性が高い。
【００７４】
なお、上記した測定ポイントの具体的な割当方法は一例であり、上記優先度にしたがっていれば割当方法は任意である。
【００７５】
また、上記説明では、測定ポイント割当手段３４によって得られた測定ポイントの周波数をそのまま測定ポイントメモリ１５に記憶していたが、測定ポイント割当手段３４によって得られた測定ポイントに対する追加や削除等の編集処理を表示画面上で行なえるようにしてもよい。
【００７６】
また、上記説明では、ジッタ耐力と伝達特性の両方を測定できる装置について説明したが、その一方だけを測定する装置やワンダの耐力測定を行なう装置についても本発明を同様に適用できる。なお、ワンダの耐力測定を行なう場合には、低い周波数帯域で定義されている規格特性を用い、それに合わせて変調信号Ｍの周波数の設定範囲を低い周波数帯域内で設定する点だけが異なり、他の処理は同等である。
【００７７】
また、ジッタ伝達特性のみを測定するジッタ測定装置の場合で、測定対象１がクロック信号の入力端子と出力端子を有している場合には、データ信号発生器２０、クロック再生器２１を省略して、ジッタクロックＣｊを測定対象１に入力し、測定対象１から出力されるクロックを位相比較器２３に直接入力する構成でよい。
【００７８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のジッタ測定装置は、測定ポイント数を指定するだけで、そのポイント数の周波数を自動設定でき、周波数設定操作が極めて簡単に行なえる。
【００７９】
また、測定ポイントの変更は測定ポイント数の変更のみで行なえ、指定した測定ポイント数が同じであれば、同一の測定ポイントとなるので、周波数自体を覚えていなくても、再現性の高い測定が可能となる。
【００８０】
また、測定ポイントを自動設定する際に、規格特性の端点を含む変曲点に優先的に割り当てるので、測定ポイント数が少ない場合でも測定対象のジッタ特性と規格特性との対比が容易となり、その評価を正確に行なうことができる。
【００８１】
また、指定された測定ポイント数と変曲点数とを比較し、測定ポイント数が変曲点数と等しいときには、全ての変曲点の周波数を測定ポイントとして割当て、測定ポイント数が変曲点数より少ない場合には、変曲点のうち、低域側端点、高域側端点、低域側変曲点の優先順位で測定ポイントを割当て、測定ポイント数が変曲点数より多い場合には、変曲点の全ての周波数を測定ポイントとして割当てるとともに、残りの測定ポイントを、隣合う変曲点間の距離が長い区間に優先的に割当てるようにしている。
【００８２】
このため、規格特性との対比が容易で、特性変化を見過ごさない適切な測定ポイントを設定することができ、測定の信頼性が高い。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態の構成を示す図
【図２】実施形態の要部の処理手順を示すフローチャート
【図３】実施形態の要部の処理手順を示すフローチャート
【図４】実施形態の要部の処理手順を示すフローチャート
【図５】実施形態の動作中の表示画面の一例を示す図
【図６】実施形態の動作を説明するための図
【図７】実施形態の動作中の表示画面の一例を示す図
【図８】実施形態の動作中の表示画面の一例を示す図
【図９】実施形態の動作を説明するための図
【図１０】実施形態の動作中の表示画面の一例を示す図
【図１１】実施形態の動作を説明するための図
【図１２】実施形態の動作中の表示画面の一例を示す図
【図１３】測定されたジッタ耐力特性と規格特性の一例を示す図
【図１４】従来装置の構成を示す図
【符号の説明】
１……測定対象、１１……操作部、１３……規格特性メモリ、１５……測定ポイントメモリ、１６……測定部、１７……クロック発生器、１８……変調信号発生器、１９……位相変調器、２０……データ信号発生器、２１……誤り測定器、２２……クロック再生器、２３……位相比較器、２４……測定制御部、２５……表示器、３０……ジッタ測定装置、３１……測定ポイント設定部、３２……規格特性指定手段、３３……ポイント数指定手段、３４……測定ポイント割当手段

Claims

予め設定された周波数の変調信号によって位相変調した信号を生成して測定対象に入力し、該測定対象から出力される信号に基づいて測定対象のジッタに関わる特性値を、前記変調信号の周波数毎に測定する測定部（１６）と、
所定の規定特性に対して、前記測定部が位相変調に用いる変調信号の周波数を測定ポイントとして設定するための測定ポイント設定部（３１）とを有するジッタ測定装置において、
前記測定ポイント設定部は、
測定ポイント数を任意に指定するためのポイント数指定手段（３３）と、
前記ポイント数指定手段によって指定された数の測定ポイントを前記規定特性の端点を含む変曲点に優先的に割り当てる測定ポイント割当手段（３４）とを備えていることを特徴とするジッタ測定装置。
前記測定ポイント割当手段は、
指定された測定ポイント数と前記変曲点の数とを比較し、前記測定ポイント数が前記変曲点の数と等しいときには、前記変曲点の全ての周波数を測定ポイントとして割当て、前記測定ポイント数が前記変曲点の数より少ない場合には、前記変曲点のうち、低域側端点、高域側端点、低域側変曲点の優先順位で測定ポイントを割当て、前記測定ポイント数が前記変曲点の数より多い場合には、前記変曲点の全ての周波数を測定ポイントとして割当てるとともに、残りの測定ポイントを、隣合う変曲点間の距離が長い区間に優先的に割当てるように構成されていることを特徴とする請求項１記載のジッタ測定装置。