JP2002005974A - 品質起因測定結果の表示方法 - Google Patents

品質起因測定結果の表示方法

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 どのような測定パラメータが品質測定結果に
寄与しているかを表示する。 【解決手段】 理想信号を発生し(14)、この理想信
号を複数の測定パラメータの各々により個別に変調し
て、変調された信号を発生する(16)。総合品質測定
アルゴリズムを変調信号に適用して、総合品質測定結果
に対する各寄与を表す表を作成する(18)。測定した
総合品質測定結果と各寄与とを比較して(12)、測定
した総合品質測定結果への各パラメータの寄与の割合を
求めて表示する(20)。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に、デジタル
的に変調したRF(無線周波数)信号の品質測定結果の
表示方法に関し、特に、各パラメータが品質測定結果に
どのように寄与しているかを示す品質起因測定結果の表
示方法に関する。
【0002】
【従来の技術】8−VSB(残留側波帯)の如く、デジ
タル的に変調されたRF信号のロールドアップ・オール
インワン(rolled-up, all-in-one)品質測定を種々の
測定機器によって行っている。かかるロールドアップ・
オールインワン品質測定は、総合品質測定であり、その
一例は、信号対ノイズ比(S/N)である。RF信号の
S/Nにおける信号とは、同じ値の理想的な一連のシン
ボルが伝送されている際のそのパワーである。また、ノ
イズとは、実際に伝送されたシンボル値と、理想的なシ
ンボル値との差である。信号が大きい送信器において、
ノイズの大部分は、フラットネス(平坦度)エラー、群
遅延エラー、振幅エラー、位相エラー、位相ノイズによ
り生じた歪の結果である。すなわち、この場合、S/N
が総合品質測定であり、フラットネス・エラー、群遅延
エラー、振幅エラー、位相エラー、位相ノイズが、この
総合品質測定における各測定パラメータである。
【0003】一般的に、送信器の規格は、例えば、S/
Nがある最小値、典型的には27dBの値以上というな
どの特定の品質特性で伝送されなければならないことを
示している。S/Nは、多くの変数の関数であるので、
典型的なアプローチでは、各ノイズ源(ノイズの種類)
からのノイズがどの程度だけノイズ全体に寄与している
かを求める。この際、種々のノイズ源にノイズ・パワー
をどのように割り当てるかは、経験によっていた。そし
て、シミュレーションに基づいた評価を行い、所定パラ
メータがどの程度変化し、どの程度がノイズの限界内に
あるかを判断する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このアプローチの問題
点は、ある変動により生じたノイズが、対応するノイズ
・パラメータ曲線の形状にしばしば依存することであ
る。よって、シミュレーションを種々の同様なパラメー
タ曲線で実行し、種々のパラメータに対する性能限界を
求めている。また、シミュレーションした形状を用いる
ことにより、シミュレーションした表示に実際の表示が
いくらかでも類似するように、種々の測定結果表示用の
マスクを発生している。
【0005】これらノイズ源がどのように信号ノイズを
発生するかを分析し、各成分の劣化に対する境界又は限
界を求めることが可能である。しかし、このアプローチ
によって良好な測定結果を得るには、各パラメータの許
容変動範囲が大きすぎる。
【0006】他の問題点として、ある送信器をその品質
目標に合わせるために、複数ノイズ源からのノイズの配
分が互いに異なるようにして、その送信器をバランスさ
せる必要がある。例えば、周波数平坦性が優れた送信器
は、いくらか大きな振幅変調を許容できるので、多少振
幅変調が大きくても、依然、品質目標を達成できる。
【0007】いずれの場合でも、操作者は、ロールドア
ップ・オールインワン品質測定結果を得ている。しか
し、品質測定結果が規格外の場合、かかる品質測定結果
にどの程度、送信器の各パラメータが寄与しているか
を、操作者は知ることができない。
【0008】測定結果が許容限界値外のときに、どのパ
ラメータが測定結果に一層大きく寄与をしているかを操
作者に提供できる品質起因測定結果の表示方法が望まれ
ている。
【0009】したがって、本発明は、測定結果が許容限
界値の外であっても、どのパラメータが品質測定結果に
どの程度寄与しているかを示せる品質起因測定結果の表
示方法を提供するものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、品質に起因す
る測定結果を表示する方法であって;理想信号を発生し
(ステップ14);この理想信号を複数の測定パラメー
タの各々により個別に変調して、変調された信号を発生
し(ステップ16);総合品質測定のアルゴリズムを、
各パラメータに対する変調信号に適用して、この総合品
質測定に対する各寄与を求め(ステップ18);総合品
質測定の測定結果と寄与の各々とを比較して(ステップ
12)、総合品質測定の測定結果に対する各パラメータ
の寄与の割合を表示用に求める(ステップ20)ことを
特徴としている。
【0011】また、本発明による品質起因測定結果の表
示方法の実施例では、送信器のいくつかの測定パラメー
タの各々が総合品質(全体的な品質)測定値に寄与した
割合を表示する。測定機器は、送信器からの信号を受
け、総合品質測定に寄与する各パラメータ毎の測定結果
を求めると共に、総合品質の測定結果を求める。なお、
各測定パラメータの測定結果と総合品質測定結果とは、
そのままでは、単純には比較できない点に留意された
い。理想的な送信信号を発生し、この理想送信信号を各
測定パラメータの測定結果により変調する。よって、変
調された理想送信信号は、測定機器が受ける送信器信号
に対応する。総合品質測定結果を求める品質測定アルゴ
リズムを、変調された理想送信信号に適用して、各測定
パラメータの寄与(総合品質測定結果と同じ次元の値)
を求めて、各寄与の表を作成する。品質測定の各測定パ
ラメータの寄与を、実際に測定した総合品質測定結果と
比較して、各パラメータの寄与の割合を求める。これら
割合がパーセントとして表示されて、送信信号内にどの
ような問題が生じているかを操作者が理解できるように
する。
【0012】本発明の目的、利点及び新規な特徴は、添
付図を参照した以下の説明から理解できよう。
【0013】
【発明の実施の形態】従来のRF測定機器、例えば、ア
メリカ合衆国オレゴン州ビーバートンのテクトロニクス
社製RFA300型測定機器は、デジタル的に変調され
たRF信号の品質測定を行っている。かかる測定結果に
は、信号対ノイズ比S/N、エラー・ベクトル・マグニ
チュードEVM、変調エラー比MERなどが含まれる。
かかる従来の測定機器は、振幅非平坦性、群遅延、位相
ノイズ、振幅エラー、位相エラー、位相ノイズなどの異
なるノイズ源も測定する。かかる従来の測定について
は、例えば、1998年11月3日に出願されたアメリ
カ合衆国特許出願第09/185417号「送信器非直
線性のインサービス測定」、アメリカ合衆国特許出願第
09/185418号「位相ノイズのインサービス測定
の試験セット及び方法」、アメリカ合衆国特許出願第0
9/185421号「デジタル・データにおけるタイミ
ング位相及びレート・オフセットの評価方法」などに記
載されている。上述のアメリカ合衆国特許出願第09/
185417号に記載されたインサービス非直線性測定
では、フィルタ処理していない受信線形エラー補正信号
サンプルと、再生した基準信号サンプルとを比較し、振
幅及び位相の非直線性エラー値を計算して、非直線性を
測定しており、受信信号サンプルから線形歪を除いて、
送信器の非線形動作の特徴を求めている。上述のアメリ
カ合衆国特許出願第09/185418号に記載された
インサービス送信器ノイズの測定では、フィルタ処理し
ていない信号サンプルと、再生した基準信号とを比較
し、位相非直線性エラーを計算して、位相の非直線性を
求めている。上述のアメリカ合衆国特許出願第09/1
85421号に記載された方法では、シンボル同期シー
ケンスを有するデジタル変調信号サンプルのシンボル・
タイミング位相及びレートを評価するのに、理想的なシ
ンボル同期シーケンスの基準パターンとの相互相関を用
いて、信号サンプルのブロック内のシンボル同期シーケ
ンスの位置を見積もっている。
【0014】図1は、本発明による品質起因測定結果の
表示方法を実施するアルゴリズムの流れ図である。デジ
タル的に変調された理想的なRF信号(送信信号)を、
サンプル信号(サンプリングされた信号)を表す値のシ
ーケンス形式で発生する(ステップ14)。次に、この
理想的なシーケンスを測定パラメータの値(測定値)の
各々により変調する(ステップ16)。なお、これらパ
ラメータの値は、上述のRFA300型の如き適切な測
定機器が、実際の送信器信号を受けて測定した値である
(ステップ10)。ステップ16で変調されたシーケン
スは、ステップ10が受ける送信器信号に対応する。こ
の変調されたシーケンスを総合品質測定のアルゴリズム
により処理して、各々が各測定パラメータでの測定結果
である値を求める(ステップ18)。なお、この結果
が、測定パラメータの各々に関連した品質測定値であ
り、総合品質測定結果と同じ次元の値である。これら各
パラメータの測定値を総合品質測定に対する寄与とし
て、その表を作成する。
【0015】一方、ステップ10では、適切な測定機器
が送信器信号を測定して、複合品質測定値も求める。こ
の複合品質測定値は、総合品質測定の測定結果である。
この複合品質測定値を、ステップ18で求めた個別測定
値の各々、即ち、各パラメータの寄与の値と比較する
(ステップ18)。なお、複合測定値及び各寄与は、同
じ次元の値である。ステップ18の比較の結果により、
ステップ20では、総合品質測定の測定結果に対する各
パラメータの寄与の割合を表示用に求める。
【0016】本発明により処理した結果の有用な表示例
を図2に示す。総合品質測定の値は、図示の場合には
「信号対ノイズ」として表示されている。その表示の下
には、「ノイズ・パワーの寄与」に関する個別の測定パ
ラメータが示されている。これら個別の測定パラメータ
には、「周波数応答エラー」、「群遅延エラー」、「振
幅エラー」、「位相エラー」、「位相ノイズ」及び「そ
の他」がある。この表から、総合品質測定結果であるS
/N総合値への最大の寄与が「振幅エラー」であること
が判る。よって、この情報を利用可能な操作者は、振幅
エラーを小さくするように調整することができる。測定
データを上述のように処理することにより、所定の測定
パラメータによる品質測定寄与の各々が、総合品質測定
結果にどのように関係しているかが判る。これにより、
操作者は、何が問題の原因か、動作品質限界内で何が送
信器に悪影響をもたらしているかを理解できる。
【0017】
【発明の効果】したがって、本発明は、総合品質測定に
関連するパラメータの各々の寄与を測定し、各パラメー
タが総合品質測定結果に寄与する割合を表示することに
より、品質に起因する測定結果を表示している。よっ
て、どのパラメータが品質測定結果にどの程度寄与して
いるかを容易に知ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による品質起因測定結果の表示方法を実
施するアルゴリズムの流れ図である。
【図2】本発明による品質起因測定結果の表示方法によ
る表示例を示す図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 品質に起因する測定結果を表示する方法
    であって、 理想信号を発生し、 該理想信号を複数の測定パラメータの各々により個別に
    変調して、変調された信号を発生し、 総合品質測定のアルゴリズムを、各パラメータに対する
    上記変調された信号に適用して、上記総合品質測定に対
    する各寄与を求め、 上記総合品質測定の測定結果と上記寄与の各々とを比較
    して、上記総合品質測定の上記測定結果に対する各パラ
    メータの寄与の割合を表示用に求めることを特徴とする
    品質起因測定結果の表示方法。
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