JP3703521B2 - 基板実装用ピンソケットコネクタ - Google Patents
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Description
【産業上の利用分野】
本発明は、ICテスタのICデバイスインターフェース部を構成するプリント配線基板のスルーホール内に実装する基板実装用ピンソケットコネクタに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来技術におけるICテスタのICデバイスインターフェース部は、図2−(A)及び(B)に示すような構成となっている。
即ち被測定対象物であるICデバイス19は、ICソケット18等の接続ピン17と接触し、そして接続ピン17がプリント配線基板15のスルーホール16内に実装されたピンソケットコネクタ13と称されるコネクタに挿入されて、測定系回路との接続が行われる。ピンソケットコネクタ13の構成を図2−(C)に示す。
【0003】
ところが、この従来技術によるICテスタのICデバイスインタフェース部の構成では、
(1)メス側のコネクタであるピンソケットコネクタ13の構造が、スリーブ12とインナーコンタクト11よりなっているため形状寸法が必然的に大きくなっていた。しかしピンソケットコネクタ13の実装をより高密度にするためには、スリーブ12をより小さい径のものとし、かつインナーコンタクト11をさらに小さくする必要があったが、スリーブ12内にインナーコンタクト11を圧入する構造では限界があり困難を伴った。
(2)またプリント配線基板15のスルーホール16の下部ランド20とスリーブ12とをハンダ付け14せねばならないために、作業性が悪かった。
【0004】
(3)その他には図2の(B)に示すように、より高密度実装を実現するためにピンソケットコネクタ13を構成するスリーブ12を省いて無くしてしまい、インナーコンタクト11のみでプリント配線基板15のスルーホール16内に実装する構造がある。しかしこの構成ではインナーコンタクト11の隙間を通じてプリント配線基板15のイ面21とロ面22側との空気が流通してしまい被測定対象物であるICデバイス19がおかれているイ面21側の測定雰囲気条件を一定に保持することができない。
(4)従って従来技術による構造では、構成部品の加工コスト及び作業工数等を総合すると極めてコスト高になってしまう、といった問題点を有していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
本発明が解決しようとする課題は、ICテスタのICデバイスインタフェース部の構成において(1)近時急激に高密度化しその端子間ピッチが益々小さくなるICデバイスに対応が可能で、より高密度な実装を実現する(2)メス側のコネクタとなりオスピンと接触する接続部の電気的特性のより良好な構造を得る(3)かつ部品点数を最小限とし、作業性を向上させ、よりコスト低減を図る、ことである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明のICテスタのICデバイスインターフェース部を構成するコネクタであるピンソケットコネクタの構造は図1−(A)及び図1−(C)に示すようなものとした。
(1)即ち図1−(A)及び(C)に示すように、本発明のピンソケットコネクタA(1)、同B(5)はプリント配線基板15のスルーホール16に圧入され、ピンソケットコネクタA(1)、同B(5)のスルーホールへの接触部3がスルーホール16に接触し電気的接続を行う。
(2)そして、図1−(B)に示したように上部からオスピン4或いはICソケット18等の接続ピン17によって、本発明のピンソケットコネクタA(1)、同B(5)のバネ部2に嵌合し、被測定対象物と電気的に接続する。
【0007】
(3)またバネ部2は、嵌合されるオスピン4或いはICソケット18等の接続ピン17との電気的接続をより確実にするために、導電性の良いバネ材による複数枚のバネで構成した。
(4)さらにスルーホール16の下部ランド20と本発明のピンソケットコネクタA(1)、同B(5)のボトム8周囲をハンダディップ9することで、より気密性が向上し繰り返しのオスピン4等の嵌合の際の応力に耐えられる機械的強度も向上する、構造とした。
【0008】
【作用】
本発明による構造としたことで、従来技術で用いられてきたスリーブ12を省略しても、プリント配線基板15のA面6とB面7の気密を保つことも機械的強度を保つことも本発明では可能となった。
【0009】
【実施例】
図1−(A)、(B)、(C)に本発明による実施例の概念図を示した。
(1)図1−(A)は、本発明によるピンソケットコネクタA(1)の正面図である。図示したように本発明のピンソケットコネクタA(1)の構造では、ボトム8の上部にボトム8の寸法に比べやや小さい外形形状のスルーホールへの接触部3を設け、さらにその上部にスルーホールへの接触部3の寸法に比べて小さい外形形状のベース部分から構成されるバネ部2を設けたものより成っている。また図1−(C)は、上記ピンソケットコネクタA(1)のボトム8部分に所定の寸法から成る端子34を加え、その端子34を利用することで、例えば測定回路系との電気的接続を行うことができる構造とした他の実施例のピンソケットコネクタB(5)である。
【0010】
(2)ピンソケットコネクタA(1)及び同B(5)は、共に従来技術による図2−(C)のピンソケットコネクタ13の構造と対比すれば、そのインナーコンタクト11のみで構成された構造となっている。
(3)即ち図1−(B)に示すように、(イ)本発明のピンソケットA(1)、同B(5)は、プリント配線基板15のスルーホール16に圧入され、スルーホールへの接触部3でスルーホール16の内壁に接触し電気的に接続する。またスルーホール16の下部ランド20とボトム8の周囲をハンダディップ9して接着することで、電気的な接続をより良好なものとし、かつ気密性を完全なものとして、さらに繰り返して嵌合されるオスピン4等により加えられる応力に耐えられるのに十分な機械的強度が得られる構造とした。
【0011】
(4)図1−(A)及び(B)に示すように、上部からオスピン4或いはICソケット18等の接続ピン17によって、ピンソケットコネクタA(1)、同B(5)のバネ部2に嵌合し、被測定対象物である例えばICデバイス19と電気的に接続する。
(5)またバネ部2は、嵌合されるオスピン4或いはICソケット18等の接続端子17との電気的接続をより確実なものとするために、導電性の良いバネ材による複数枚のバネで構成する構造とした。
【0012】
(6)本発明によるピンソケットコネクタA(1)、同B(5)のボトム8部は、図1−(B)に示したようにスルーホール16の下部ランド20に密着する。さらにボトム8と下部ランド20とをハンダディップ9することで、プリント配線基板15のA面6側とB面7側との空気の流通を完全に遮断する。従ってプリント配線基板15のA面6とB面7側で環境温度条件が異なる場合でも、スルーホール16を通じての熱移動を完全に防止できるので、被測定対象物を所定の環境温度条件に保持する。
【0013】
(7)図1−(A)に示した、スルーホールへの接触部3の寸法例31の□0.6mm及びボトム8部の寸法例32のφ0.9mmは実施例の1例であり、図1−(B)に示す所望の実装ピッチ33等を勘案しながら所定の寸法に決定される。
(8)またスルーホールへの接触部3の外形形状は円形でも角形でも或いはその他の形状でも良い。さらにボトム8部と下部ランド20とをハンダディップ9しないことも可能である。
(9)またバネ部2とスルーホールへの接触部3上部とを分離した構成として、その2ピースを接合して組み立てる構造のピンソケットコネクタA(1)、同B(5)としても良い。
【0014】
【発明の効果】
本発明は、以上説明したように構成されているので、以下に記載されるような効果を奏する。
(1)本発明の構造によれば、従来技術のピンソケットコネクタの構成では存在していたスリーブを省略することができたことで、インナーコンタクトのみとなったのでより小型化することができた。
(2)小型化が実現したために、実装ピッチを小さくすることができたことで、高密度化が進んだICデバイスの端子間ピッチに対応可能なICデバイスインターフェース部の高密度実装を実現することができた。
【0015】
(3)高密度実装であるため実装ピッチが小さくなっても、プリント配線基板への実装はスルーホールへ圧入することで可能となったので、本発明のピンソケットコネクタA及びBによる実装作業は、極めて容易である。
(4)従来技術のままで小型化を実現するために、インナーコンタクトのみで構成する場合とは異なり、本発明のピンソケットコネクタA及びBの構造としたことで、スルーホールを完全にふさぐことができたので、プリント配線基板の両面の環境温度条件が異なる場合でも気密性を確保できた。
(5)さらに、本発明のピンソケットコネクタの構造ではスリーブが省略できたことで、プリント配線基板上に突出するものが無くなり、実装構造上における高さの点でも薄形化が実現できた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の概念図である。(A)は本発明のピンソケットコネクタAを示す正面図であり、(B)はICデバイスインターフェース部に本発明のピンソケットコネクタAを実装した1例を示す断面図である。(C)は本発明の他の実施例を示すピンソケットコネクタBの断面図である。
【図2】従来技術によるピンソケットコネクタの断面図(C)とそれを実装したICインタフェース部を示す断面図(A)である。(B)はインナーコンタクトのみを用いて実装した1例を示す断面図である。
【符号の説明】
1 ピンソケットコネクタA
2 バネ部
3 スルーホールへの接触部
4 オスピン
5 ピンソケットコネクタB
6 A面
7 B面
8 ボトム
9 ハンダディップ
11 インナーコンタクト
12 スリーブ
13 ピンソケットコネクタ
14 ハンダ付け
15 プリント配線基板
16 スルーホール
17 接続ピン
18 ICソケット
19 ICデバイス
20 下部ランド
21 イ面
22 ロ面
31 スルーホールへの接触部の寸法例
32 ボトム部の寸法例
33 実装ピッチ
34 端子
Claims (3)
- 接続相手の複数の接続ピン(17)に対応してプリント基板(15)に形成された複数のスルーホールに圧入されるものであって、
各スルーホール(16)の下部ランド(20)に接面して各スルーホール(16)を遮蔽し、かつ上記プリント基板(15)のスルーホール(16)へ接触部(3)を圧入するときのストッパとなり、各スルーホールへ上記接触部(3)が各々圧入された状態で、ハンダディップにより上記プリント基板(15)へ電気的接続と上記プリント基板(15)の上面側と下面側の空気の流通を遮断するボトム(8)と、
上記ボトム(8)の上部に形成され、上記プリント基板(15)の面と平行な面の寸法において上記ボトム(8)の寸法よりも外形形状の寸法が小さく、上記スルーホール(16)へ圧入されて上記スルーホール(16)の内壁に接触し、導電性を有する上記接触部(3)と、
上記接触部(3)の上部に形成され、上記接触部(3)の寸法よりも外形形状の寸法が小さく、上記スルーホール(16)の内周面との間に間隔を有し、上記接続ピン(17)が挿入嵌合される導電性を有する複数枚のバネ材からなるバネ部(2)と、
を具備することを特徴とする基板実装用ピンソケットコネクタ。 - ボトム(8)の下部に端子(34)を設けた請求項1記載の基板実装用ピンソケットコネクタ。
- スルーホールへの接触部(3)からバネ部(2)を分離して2ピースとしたものを接合することによって構成した請求項1及び請求項2記載の基板実装用ピンソケットコネクタ。
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