JP3663212B2 - フィルターを有するx線装置 - Google Patents

フィルターを有するx線装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3663212B2
JP3663212B2 JP51375496A JP51375496A JP3663212B2 JP 3663212 B2 JP3663212 B2 JP 3663212B2 JP 51375496 A JP51375496 A JP 51375496A JP 51375496 A JP51375496 A JP 51375496A JP 3663212 B2 JP3663212 B2 JP 3663212B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
filter
absorbing liquid
voltage
filter element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP51375496A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH09507423A (ja
Inventor
ゲリット ヤン フォキンク,ランベルタス
ヴィルヘルムス ヨハネス リンデルス,ペトルス
ヨハナ アントワネット マリア ソンダグ−フエソルスト
ヴィット,アンドレ レイノウド デ
ケムネル,ルドルフ
ヨゼフ アントニウス ベルケルス,フランツ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Electronics NV filed Critical Philips Electronics NV
Publication of JPH09507423A publication Critical patent/JPH09507423A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3663212B2 publication Critical patent/JP3663212B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/10Scattering devices; Absorbing devices; Ionising radiation filters

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)

Description

本発明はX線源と、X線検出器と、それらの間に配置されるフィルターとからなり、該フィルターはそれぞれのフィルター要素内のX線吸収液体の量を制御することにより調整可能なX線吸収率を有する複数のフィルター要素からなるX線検査装置に関する。
この種のX線検査装置はフランス国特許FR2599886から知られている。この知られているX線装置は輝度値の両極値間の間隔であるX線画像のダイナミックレンジを制限するフィルターからなる。X線画像はX線源とX線検出器との間に検査される患者のような対象を配置し、X線源により放射されたX線により該対象を照射することによりX線検出器上に形成される。対策がなされない場合にはX線画像のダイナミックレンジは大きい。他方で例えば肺組織のような対象のある部分に対してX線透過率は高く、一方で例えば骨組織のような対象の他の部分はX線によりほとんど透過されない。X線から検査される対象の部分を遮蔽するためにX線源により放射されたX線ビームの部分を遮るために用いられる鉛のシャッターは均一で非常に低輝度で画像化される。鉛のシャッターはまた対象を透過しないX線がX線検出器に到達し、それによりX線画像が露出過度を引き起こすのを回避する。更なる対策がとられなければX線画像は大きなダイナミックレンジで得られ、他方で例えばX線画像内の医学に関する情報はよりずっと小さなダイナミックレンジの輝度変化の中に含まれる;何故ならばそのようなX線画像の描写内で低コントラストの小さな詳細を適切に可視的にすることは可能とは言えず、そのようなX線画像は診断をなすために非常に有用には用いられ得ないからである。更にまたそのようなX線画像が画像増強器撮像チェーンにより検出されるときに問題が生ずる。画像増強器撮像チェーンは入射X線画像を光画像に変換する画像増強管と光画像から電子画像信号を得るビデオカメラとからなる。X線画像の非常に高い又は非常に低い輝度の領域からそれぞれ光画像が形成される。更なる対策がなされる場合には光画像のダイナミックレンジは電子画像信号内の攪乱を生じないでビデオカメラにより取り扱い可能な輝度値の範囲より大きい。
X線画像のダイナミックレンジを制限するために知られているX線検査装置はそれぞれが毛細管の内側壁を適切に濡らすX線吸収液体を含む貯蔵器にバルブを介して接続される平行な毛細管の束を設けられる。毛細管をX線吸収液体で満たすために問題の毛細管のバルブが開かれ、その後で毛細管は毛細管現象によりX線吸収液体で満たされる。そのような満たされた毛細管はその長手方向に概略平行な方向に毛細管を通過するX線に対する高いX線吸収率を有する。バルブは毛細管内のX線吸収液体の量が対象フィルター要素の低い吸収の部分を通過するX線ビームの一部が高いX線吸収率に適合され、対象の高い吸収率の部分を通過または鉛シャッターにより遮られるX線ビームの一部にあるフィルター要素が低いX線吸収率に適合されるように調整されることを確実にするために制御される。
知られたX線検査装置のフィルターの適合を変えるために満たされた毛細管を空にすることがまず必要である。故に磁界の印加により毛細管から除去される常磁性X線吸収液体が用いられる。全ての毛細管が空にされた後にフィルターは磁界を不作動にし、高いX線吸収率にチューブを適合するために新たなフィルター設定に対するX線吸収液体で満たされた毛細管のバルブを続いて開くことにより新たに適合される。
知られたフィルターの欠点は例えば1秒間のような短い時間でフィルターの設定を変えることに対してあまり適していないことである。故に知られたX線装置はフィルターの設定が連続したX線画像の形成の間に変化するときに高い画像速度で連続したX線画像を形成することに適切ではない。フィルター要素が新たなX線吸収率に適合される前に全ての毛細管を空にすることが必要な故に、X線吸収液体は毛細管の内側を濡し、それによりX線吸収液体が空になるのには実質的な時間、即ち数秒又は数十秒を要する故に知られたフィルターを切り替えるためには時間がかなりかかる。更にまた磁界の印加により毛細管を完全に空にすることはなお不可能である故にX線吸収液体の層は毛細管の内壁に付着する。
知られたフィルターの更なる欠点は各毛細管に対して別の機械的なバルブを用いる構成がかなり複雑であることである。
本発明の目的はその設定が短時間に変えられうるフィルターからなるX線装置を提供することにある。
この目的に対して本発明によるX線検査装置はそれぞれのフィルター要素に電圧を印加する調整回路からなり、それぞれのフィルター要素内のX線吸収液体の量は該電圧に基づいて制御されることを特徴とする。
液体の相対的な量はそれが完全に液体で満たされているときに問題のフィルター要素内の液体の量によるそのようなフィルター要素内の液体の量をここでは意味するものである。フィルター要素に印加された電圧はX線吸収液体のフィルター要素の内側への付着に影響し、この付着はX線吸収液体を有するフィルター要素の充填の度合いを決定する。各フィルター要素内のX線吸収液体の相対的な量はそれぞれのフィルター要素に印加された電圧に基づき制御される。例えば電圧の第一の値の場合には内側へのX線吸収液体の付着は増加され、問題のフィルター要素は貯蔵器からのX線吸収液体で満たされる。電圧の第二の値の場合には内側へのX線吸収液体の付着は減少され、X線吸収液体は問題のフィルター要素がら貯蔵器へ流出する。フィルター要素はX線吸収液体を満たすことにより高いX線吸収率に調整され;それらはそれらを空にすることにより低いX線吸収率に調整される。
各フィルター要素に印加される電圧を変えることは多くの時間を必要とせず(多くとも数十秒)、フィルター要素内のX線吸収液体の相対的な量は電圧が変化した後にすぐに変化するので、フィルターの設定の変化はほとんど時間を必要としない(1又は数秒以下)。更にまたフィルターの2つの適合の間に全てのフィルター要素を空にする必要はない。
フィルターにバルブの複雑な機械的システムを設ける必要はない。何故ならばフィルター要素の充填の度合いは電圧により制御されるからである。
X線吸収液体は例えば鉛の塩の水溶液により形成される。ウラン塩の溶液もまた本発明のX線吸収液体に適切である。
フィルター要素に用いる材料及びX線吸収液体に依存して、付着への電圧の影響は異なる結果を有する;例えばX線吸収液体内の電気的二層の表面が各フィルター要素の内側付近で影響され、又は電圧の影響下で酸化還元反応が生じ、それによりそのような電気的二層が影響される。電圧付着−脱着反応の影響下で生ずることはまた親水と疎水との間に内側の表面を切り替えることである。
各フィルター要素に印加された電圧は、例えば形成されるX線画像の型に特徴的なフィルター設定に対して;例えばフィルター設定が助骨の血管構造のX線画像に対して要求されるそれから変動するよう要求される患者の心臓及び冠静脈のX線画像に対して選択される。電圧はX線源の設定に基づきフィルターを適合するためにX線源を動作する高電圧及び陽極電流の設定のようなX線源の設定からまた得られる。
本発明によるX線検査装置の好ましい実施例は調整回路はX線検出器に入射するX線画像の輝度値が所定の範囲内であるようなX線吸収率に調整されるようフィルター要素が配置され、該X線画像はX線源により放射されたX線ビームにより対象を照射することにより形成されることを特徴とする。
フィルター設定が適切に選択されるときにX線画像のダイナミックレンジはX線画像内の医学的に問題の画像情報の輝度値の範囲より非常に大きくはない所定の範囲内になお残っている。このX線画像内のほとんどコントラストのない小さな詳細はよりよく再現され、それによりX線画像はより良い医学診断のツールとなる。例えばX線検出器がビデオカメラを含む画像増強器検出連鎖の形をとるよう用いられるときにフィルターの適切な設定により、X線画像の輝度値は妨害なしに画像増強器検出連鎖により電子信号に処理される範囲内にあるように達成される。この電子的画像信号を介して画像情報は例えばモニター上のような妨害のない方法で表示されうる。
本発明によるX線検査装置の更に好ましい実施例は調整回路はX線検出器により検出されたX線画像の輝度値に基づき、フィルター要素を調整するよう配置されることを特徴とする。
X線画像に基づきフィルターを調節することによりX線露出の型及び露出条件に従って自動的に調整される。この目的のために調整回路はX線画像の輝度値を表すX線検出器からの信号を受ける;例えばそのような信号はX線検出器上に形成されたX線画像の画像情報及び/又は輝度値を含む画像情報信号である。この画像情報信号は画像輝度が望ましいダイナミックレンジを越える領域内と見なしうるような著しい情報を含む;この情報に基づき、各フィルター要素に印加された電圧はX線画像の全体の画像輝度に対する値に調整されたフィルター要素のX線吸収率が該所望のダイナミックレンジ内にあるよう調整される。
例えば1秒以下のような短い時間内の画像情報に基づくフィルターの設定を変化することは患者の動きによるX線画像内の攪乱に対して逆に作用する。検査される患者の動きは例えば呼吸又は心拍によるが、そのような動きがフィルター設定が自動的にかつ実時間で動きを追いかけるように回避されるようにX線画像の画質に悪影響を与える。
本発明によるX線検査装置の更に好ましい実施例は各フィルター要素は一以上の毛細管を設けられ、調整回路の出力は該電圧を出力するために毛細管の内側に結合されることを特徴とする。
調整回路によりそのような毛細管の内側に印加された電圧の小さな変動はX線吸収液体でこれらの毛細管を満たす割合の早い大きな変化を生ずる。例えば数cmの長さを有する空の毛細管は最初に完全に満たされ、それから約1ボルトの電圧変動により数秒以内で再び完全に空になる。各フィルター要素はX線吸収液体を含む貯蔵器と一端を介して連通する1以上の毛細管を設ける。例えば毛細管がX線ビームに概略平行に延在するような方法でフィルターは構成される;空間的なX線吸収パターンの均一な空間解像度がX線ビームの断面にわたり達成される。代替的にフィルターは毛細管が相互に概略平行に延在するように構成される;これはX線ビームがX線が減衰することなく実質的に2つのチューブ間で受け渡しされないように毛細管を通して少なくとも部分的に実質的に全てのX線路を拡散するときに達成される。
フィルター要素のX線吸収率は電圧値による問題のフィルター要素の毛細管内のX線吸収液体の相対的な量を調整することにより調整される。幾つかの毛細管の群を設けられるフィルター要素のX線吸収を調整する他の可能性は問題のフラクションの毛細管に電圧を選択的に印加して実質的に完全に群の毛細管のフラクションを満たし、残りの群の毛細管を空又はそれらをバッファ液体で満たしたままにすることからなる。それでフィルター要素のX線吸収はそれが問題の群の満たされた毛細管のフラクションの調整により調整されるように満たされた毛細管のフラクションに概略正比例する。医学診断用のX線はそれがウラニウム塩の溶液を通して10mm以上の長さを透過するように用いられる。、特に水で満たされた毛細管内の塩化ウランは実質的に完全に吸収する。塩化ウラン溶液のようなウラニウム塩がX線吸収液体として用いられるときにフィルターはまたX線ビームから検査される患者の部分に対して適切に遮蔽し、それにより生体組織に有害であるX線の不要な露出はX線画像の質を劣化させずに更に減少される。
本発明によるX線検査装置の更なる好ましい実施例は毛細管の内側の少なくとも一部分は導電性層により覆われることを特徴とする。
毛細管は好ましくはガラスで作られる。何故ならばガラスはX線に適切な耐久性を有し、例えば200μmのような小さな直径を有する毛細管を作るのにも適切であるが、導電性であることは必要ではない。電圧は少なくとも内側を部分的に覆う導電性層に印加される。導電性層は金、銀、プラチナ、銅、タングステン、グラファイト、又はドープされたガリウム砒素又はそれらの組合せのような材料を含み、それは導電性であるが、また印加された電圧の影響の元で(又は影響なしに)X線吸収液体と化学的に反応による侵蝕に適切に耐えられる。
本発明によるX線検査装置の更に好ましい実施例は導電性層はそれによりX線吸収液体が接触角値90゜を含む値の範囲で導電性層に印加される電圧の関数として変化する接触角で封入されるコーティング層により覆われることを特徴とする。
X線吸収液体で満たされた毛細管内で液面は管の内側に対してある角度で封入される;この角度は、接触角と称されるがX線吸収液体の付着の尺度である。印加された電圧の関数としての接触角の範囲はコーティング層により導電性層を覆うことにより導電性層の材料に独立にあたえられる。結果として導電性層の組成は所望の接触角範囲によらずに最適に選択可能である。コーティング層の材料は電圧の第一の値に対してX線吸収液体と内側の導電性層との間の接触角が90゜以下であり、第二の値に対して該接触角は90゜以上であるように好ましく選択される。そこへ第一の値の電圧が印加される毛細管は該第一の電圧値に依存する実質的な程度にX線吸収液体を満たされ、そこへ第二のの値の電圧が印加される毛細管はX線吸収液体を満たされない、又はごくわずかに満たされるだけである。該第二の電圧値は例えばX線吸収液体内の基準電極の電圧に等しい。
本発明によるX線検査装置の更に好ましい実施例はX線吸収液体はX線吸収材料の水溶液を含み、コーティング層はCN,C1又はCH3群又はそれらの組合せで置換されたフェロセン チオール及びアルカン チオールの群からの材料を含むことを特徴とする。
チオールを含むそのようなコーティング層を用いて接触角は水溶液がX線吸収液体として用いられるときに90゜以上及び以下の値の間で切り替えられる。このチオールは金の層を覆うために特に適切である。何故ならばチオールの硫黄は金と適切な結合するからである。チオールの量がX線吸収液体に加えられるときに例えばX線の吸収によりチオールの分解により生ずるコーティング層内の欠陥はコーティング層がX線吸収液体からチオールを吸収する故に自動的に修復される。プラチナ層が導電性層として用いられるときに水銀がコーティング層として適切な材料である。導電性グラファイト層は水に溶解された鉛及びウラニウム塩が電圧により90゜以上及び以下の値の間で切り替えられる接触角を生ずるという特徴を有し、それによりグラファイト層は別のコーティング層により覆われる必要はない。
X線吸収液体の粘性及び付着特性は与えられた程度にフィルターの温度に依存ずる;フィルターがX線に曝され、更なる対策がなされていない場合には例えばX線吸収液体内のX線の吸収によりこの温度は上昇しうる。フィルターの調整挙動を安定させるためにフィルター及び特にX線吸収液体の温度を実質的に一定に保つ温度制御システムを設けることが望ましい。
本発明のこれらの及び他の特徴は以下に説明する実施例を参照して明らかとなる。
図面の説明:
図1は本発明によるフィルターからなるX線検査装置を示す。
図2は図1のX線検査装置のフィルターの実施例の断面図を示す。
図3はX線吸収液体で満たされた図2のフィルターのフィルター要素の断面図を示す。
図4はX線吸収液体で満たされない図2のフィルターのフィルター要素の断面図を示す。
図5は図1に示されるX線検査装置のフィルターの平面図を示す。
図1は本発明によるフィルターからなるX線検査装置を示す。X線源1は例えば検査される患者である対象3が露出されるX線ビーム2を出射する。対象3でのX線吸収の局部的な違いの結果としてX線画像はこの場合画像増強撮像チェーンであるX線検出器4上に形成される。X線画像はX線増強器6の入射スクリーン5上に形成され、出射窓7上での光画像に変換され、この光画像はレンズシステム8によりビデオカメラ9上に画像化される。ビデオカメラ9は光画像から電子画像を形成する。電子画像信号は例えば更なる処理のために画像処理ユニット10又はX線画像内の画像情報が表示されるモニター11に印加される。
X線源1と対象3との間にそのX線吸収は調整回路14により毛細管の内側への電圧の印加により調整される毛細管の形の種々のフィルター要素13によりX線ビーム12の局部減衰に対してフィルター12が配列される。電圧は例えばX線画像の輝度値及び/又はX線源の設定に基づいて調整回路14により調整される;この目的のために調整回路はX線源の電源15及びビデオカメラ9の出力端子16に結合される。
出射窓の光の一部は出射窓上の画像の画像情報に基づき高電圧源を制御するために光画像から制御信号を得る露出制御システム20に分割プリズム19により導かれる。出射窓7上の画像の画像情報を受けるためにフィルター12の調整回路14は露出制御システム20に結合され、それによりフィルター12は出射窓7上の画像に基づいて調整される。
フィルターは例えば毛細管がX線ビーム2の方向に概略平行に延在するような方法で構成され;故に空間的なX線吸収パターンの均一な空間解像度はX線ビームの断面にわたり達成される。代替的にフィルターは毛細管が相互に概略平行に延在するような方法でまた構成される;X線ビームが拡散するときに実質的に全てのX線が少なくとも部分的には毛細管を通過し、それによりX線は減衰なしには2つの管の間を通過しない。調整回路は内側へのX線吸収液体の付着に影響するために毛細管の内側に電圧を印加する。フィルター要素を高いX線吸収率に調整するために第一の値の電圧は調整回路14により問題のフィルター要素の毛細管の内側に印加され、それにより問題の毛細管は内側へのX線吸収液体の強い付着により貯蔵器17からのX線吸収液体で満たされる。フィルター要素を低X線吸収率に調整するために例えばX線吸収液体内の基準電極(例えば基準カロメル電極)の電位と等しい第二の値の電圧は調整回路14により問題のフィルター要素の毛細管の内側に印加され、それにより問題の毛細管は内側へのX線吸収液体の弱い付着によりこれらの毛細管は貯蔵器17からのX線吸収液体で満たされない。フィルター要素は幾つかの毛細管の群からまたなり、フィルター要素のX線吸収率はフラクションの毛細管に第一の値の電圧の印加及び群の残りのフラクションの毛細管に第二の値の電圧の印加によるX線吸収液体で満たされた該群の毛細管のフラクションを調整することにより調整される。調整回路はX線画像の輝度値が例えば電子画像信号内に攪乱を導入せずにビデオカメラ9により取り扱われる光画像の輝度値の範囲に従って所定の範囲にあるようにフィルター要素のX線吸収率を調整する。対象により強く減衰されるX線ビームの部分により辿られるフィルター要素は低X線吸収率に調整され、対象により良く透過されるX線ビームの部分により辿られるフィルター要素は高X線吸収率に調整される。
フィルター12はX線ビーム2の路内に配置される補正フィルター18を設けられる。補正フィルターは毛細管が空の時に補正フィルター18と共にフィルター12を通過するX線が概略同じ程度に全てが減衰することを確実にする空間的変化を有するX線吸収率を有する。フィルター12に関して補正フィルター18のずれを防ぐために補正フィルター18はフィルター12に機械的に固定接続されることが好ましい。補正フィルターの使用の結果として、フィルター12の構造はそれが毛細管内でX線吸収液体によりX線を吸収される限りはX線画像内の分布に導入されない。
図2は図1に示されたX線検査装置のフィルターの実施例の断面図である。フィルター12は多数のフィルター要素13からなり、それらの各々は毛細管13により形成される。1ダースの毛細管が例示のために示されるが、特定の実施例では本発明によるX線検査装置のフィルターは例えば5cmx5cmの200x200のマトリックス配置内で40000のように非常に多数の毛細管を含む。各毛細管13はX線吸収液体22用の貯蔵器17を有する端21により連通する。X線吸収液体22は例えば過塩素酸鉛、硝酸鉛、塩素酸鉛水和物、酢酸鉛3水和物、又はジオチン酸鉛のような鉛塩の水溶液からなる。塩化ウラニル、4臭化ウラン、又は4塩化ウランの水溶液のようなウラニウム塩の溶液はまた本発明に用いられるX線吸収液体22を構成する。X線吸収液体22の溶液の電気分解による好ましくないガスの発生を回避するためにほぼ1ボルトのDCの電圧が好ましい。代替的に溶媒として用いられる水の分解は数十Hzから数kHzの周波数で数kVの高い交流電圧の使用により防止される。
毛細管を通過するX線の概略10倍の減衰は約12mmの長さにわたる硝酸鉛の実質的に飽和水溶液で毛細管を満たすことにより達成され、該充填は約0.2秒で完了する。過塩素塩鉛が最大の溶解量での硝酸鉛の代わりに用いられる場合には同じ減衰を得るために毛細管は1.6mmの長さのみにわたって満たされる必要があり、毛細管を満たすのに必要な時間は例えば数ミリ秒のように1秒よりずっと短い。
毛細管がX線吸収液体22で満たされていない、又は満たされない限り毛細管はX線吸収液体と混合しないX線透過バッファ液体で満たされる。バッファ溶液は好ましくは毛細管の内側上及びバッファ溶液のX線吸収液体の材料にまた依存する接触角が毛細管の内側に印加される電圧をDCの約0から1ボルトの間で変化する、又は数十Hzから数kHz間の周波数のACを0から数kVの間で変化することにより90゜の角度を含む範囲で変化するように選択される。X線吸収液体22のそれと概略等しい濃度を有するバッファ液体を選択することにより、X線吸収液体22で毛細管を満たすことは実質的に重力に依存せず、故にフィルターの空間的な方向に依存しないことを確実にする。
毛細管の内側は例えば金、銀、又はプラチナ層である導電層23を設けられ、それは例えばフェロセン チオール又はアルカン チオールのようなコーティング層24により覆われる。各毛細管の内側の導電層23は電解効果トランジスタのようなスイッチング要素25により電源リード26に結合される。電源リード26上の電圧を毛細管の導電層に印加するために問題のスイッチング要素25は制御リード27を介して供給される信号により閉じられる。毛細管の内側への付着は毛細管の内側に設けられた導電層上の電圧値に依存し;従ってX線吸収液体22で各毛細管を満たす程度は該電圧値により調整される。それぞれの毛細管に異なる電圧値を印加することによりフィルターのX線吸収率は例えばミリメートル尺度での短い距離にわたり変化される。フィルターの設定を変化するために印加された電圧値は約0.12秒間変化され、変化された電圧値故に、毛細管の充填の度合いは一秒の数十分の一で変化する。
図3はX線吸収液体22で満たされた図2のフィルターのフィルター要素の断面図である。毛細管13の導電層23はスイッチング要素として動作し、そのソース接触31は電源リード26と結合する電界効果トランジスタ25のドレイン接触30に結合される。電界効果トランジスタ25は制御リード27を介して電界効果トランジスタ25のゲート接触32に印加される制御電圧によりオンされる、即ちスイッチング要素が閉じられる。導電層23はスイッチング要素を閉じることにより電源リード26の電圧に接続される。電源リードが該第一の電圧値に接続されるときにX線吸収液体22のコーティング層24に関する接触角θは90゜以下の値を仮定し、問題の毛細管は電圧の値に依存する度合いにX線吸収液体で満たされる。
図4はX線吸収液体22で満たされていない図2のフィルターのフィルター要素の断面図である。コーティング層及びX線吸収液体は好ましくは電圧の不在、即ちX線吸収液体内の基準電極の電位に等しい電圧で接触角の値は90゜を越えるよう選択される。電源リード26の電位が基準電極の電位に等しいときにスイッチング要素25を閉じることによりX線吸収液体の付着は調整され、それにより接触角θは90゜より大きくなり;X線吸収液体は毛細管13にほとんど又は全く入らなくなる。
図5は図1に示されるX線検査装置のフィルターの平面図である。例として、行及び列を有する正方マトリックス配列内の3x3の毛細管からなるフィルターが示される。実際に例えば200x200の毛細管のように非常に多数の毛細管からなる、及び正方形マトリックスの代わりにどのような他の配列でも用いられるフィルターが設けられる。毛細管は好ましくは最密充填が達成される構成で配置され;これは毛細管がだいたい正方形の断面又は菱形(三角形)配置を有するときに、毛細管が概略円形の断面を有するときに正方形の構成が用いられることである。比較的簡単に失敗のない方法で実現される六角形の構成がまた用いられる。各毛細管13が導電層23によりそのソース接触により電源リード26に結合される電界効果トランジスタ25のドレイン接触30に結合される。毛細管13の各行に対して制御リード27により制御される行内の電界効果トランジスタのゲート接触32に制御電圧を印加することにより電界効果トランジスタを制御する制御リード27が設けられる。電圧を内側、特に毛細管の導電層23に印加するために調整回路14は問題の毛細管に結合された電源リードにより適切な電圧値で通電される。調整回路は制御電圧を問題の毛細管の制御リード27に印加し、該制御電圧は問題の毛細管のゲート接触32に印加され、それにより電界効果トランジスタはオンし、電源リード上の電圧は毛細管の内側の導電性層に印加される。短時間の後に制御電圧はスイッチオフされ、それにより制御された行内の電界効果トランジスタは電気的に隔離され、故に電源リード上の電圧はスイッチオフされる。それで制御及び電源リードから電気的に離脱された問題の毛細管は印加された電圧を維持する。毛細管が問題の列内で動作される行に電源リードに対して列毎に電圧を電源リードに対して制御電圧を連続的に印加することにより所望の電圧がフィルターを調整するために毛細管又は全体のマトリックスフィルター要素に印加されることが達成される。

Claims (7)

  1. −X線源(1)と、
    −X線検出器(4)と、
    −それらの間に配置されるフィルター(12)とからなり、該フィルターは、
    −それぞれのフィルター要素(13)内のX線吸収液体(22)の量を制御することにより調整可能なX線吸収率を有する複数のフィルター要素(13)からなる、X線検査装置であって、
    −X線検査装置はそれぞれのフィルター要素(13)に電圧を印加する調整回路(14)からなり、
    −それぞれのフィルター要素(13)内のX線吸収液体(22)の量は該電圧に基づいて制御されることを特徴とするX線検査装置。
  2. 調整回路(14)はフィルター要素(13)をX線検出器(4)上に入射するX線画像の輝度値が所定の範囲内であるようなX線吸収率に調整するように配置され、該X線画像はX線源(1)により放射されたX線ビーム(2)により対象(3)を照射することにより形成されることを特徴とする請求項1記載のX線検査装置。
  3. 調整回路(14)はX線検出器(4)により撮像されたX線画像の輝度値に基づき、フィルター要素(13)を調整するように配置されることを特徴とする請求項1又は2記載のX線検査装置。
  4. 各フィルター要素(13)は一以上の毛細管(13)を設けられ、調整回路(14)の出力は該電圧を出力するために毛細管(13)の内側に結合されることを特徴とする請求項1から3のうちのいずれか一項記載のX線検査装置。
  5. 毛細管(13)の内側の少なくとも一部分は導電性層(23)により覆われることを特徴とする請求項4記載のX線検査装置。
  6. 導電性層(23)はそれによりX線吸収液体(22)が接触角値90゜を含む値の範囲で導電性層に印加される電圧の関数として変化する接触角をなすコーティング層(24)により覆われることを特徴とする請求項5記載のX線検査装置。
  7. X線吸収液体(22)はX線吸収材料の水溶液を含み、コーティング層はCN,C1又はCH3群又はそれらの組合せで置換されたフェロセン チオール及びアルカン チオールの群からの材料を含むことを特徴とする請求項6記載のX線検査装置。
JP51375496A 1994-10-25 1995-10-16 フィルターを有するx線装置 Expired - Fee Related JP3663212B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
AT94203094.1 1994-10-25
EP94203094 1994-10-25
PCT/IB1995/000874 WO1996013040A1 (en) 1994-10-25 1995-10-16 X-ray apparatus comprising a filter

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09507423A JPH09507423A (ja) 1997-07-29
JP3663212B2 true JP3663212B2 (ja) 2005-06-22

Family

ID=8217307

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP51375496A Expired - Fee Related JP3663212B2 (ja) 1994-10-25 1995-10-16 フィルターを有するx線装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5625665A (ja)
EP (1) EP0740839B1 (ja)
JP (1) JP3663212B2 (ja)
DE (1) DE69504954T2 (ja)
WO (1) WO1996013040A1 (ja)

Families Citing this family (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10506039A (ja) * 1995-07-13 1998-06-16 フィリップス エレクトロニクス エヌ ベー フィルタを含むx線検査装置
EP0786138B1 (en) * 1995-07-13 1999-12-01 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus comprising a filter
DE69712840T2 (de) * 1996-02-14 2002-12-12 Koninklijke Philips Electronics N.V., Eindhoven Mit einem röntgenstrahlungsfilter versehene röntgenstrahlprüfvorrichtung
US5878111A (en) * 1996-09-20 1999-03-02 Siemens Aktiengesellschaft X-ray absorption filter having a field generating matrix and field sensitive liquids
DE69714571T2 (de) * 1996-11-12 2003-04-24 Koninklijke Philips Electronics N.V., Eindhoven Rontgenstrahlungsuntersuchungsvorrichtung mit rontgenstrahlungsfilter
WO1998052468A2 (en) * 1997-05-23 1998-11-26 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus including a filter
WO1999018579A2 (en) * 1997-10-06 1999-04-15 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus including x-ray filter and collimator
EP0970479B1 (en) 1998-01-23 2003-06-04 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus comprising a filter
US6108403A (en) * 1998-04-21 2000-08-22 Picker International, Inc. X-ray equalization filter
CN1300436A (zh) 1998-05-22 2001-06-20 皇家菲利浦电子有限公司 包括x射线滤光器的x射线检查装置
EP1040653A2 (en) * 1998-07-01 2000-10-04 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus including an x-ray filter
WO2000008653A1 (en) * 1998-08-04 2000-02-17 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus having an adjustable x-ray filter
EP1048039A1 (en) * 1998-11-17 2000-11-02 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus including an x-ray filter
WO2000038198A1 (en) * 1998-12-22 2000-06-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus
GB9902252D0 (en) 1999-02-03 1999-03-24 Philips Electronics Nv X-ray filter and x-ray examination apparatus using the same
EP1145250A1 (en) 1999-10-18 2001-10-17 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray apparatus including a filter with filter elements having an adjustable absorptivity
EP1153399A1 (en) 1999-12-08 2001-11-14 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray apparatus with filter comprising filter elements with adjustable x-ray absorption and x-ray absorption sensor
WO2001057884A1 (en) * 2000-02-04 2001-08-09 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray apparatus including a filter provided with filter elements having an adjustable absorption
JP2003522328A (ja) * 2000-02-04 2003-07-22 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 調節可能な吸収を有するフィルタ要素が備えられたフィルタを有するx線装置
JP2003531386A (ja) * 2000-04-17 2003-10-21 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 動的に調整可能な吸収率を有するフィルタを備えたx線機器
JP2004509678A (ja) 2000-09-21 2004-04-02 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 手動調整可能フィルタを含むx線診断装置
EP1348220A1 (en) * 2000-12-27 2003-10-01 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus
US6836535B2 (en) 2002-04-22 2004-12-28 General Electric Company Method and apparatus of modulating the filtering of radiation during radiographic imaging
US6920203B2 (en) 2002-12-02 2005-07-19 General Electric Company Method and apparatus for selectively attenuating a radiation source
US6990171B2 (en) * 2003-10-27 2006-01-24 General Electric Company System and method of determining a user-defined region-of-interest of an imaging subject for x-ray flux management control
US7272208B2 (en) * 2004-09-21 2007-09-18 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc System and method for an adaptive morphology x-ray beam in an x-ray system
US7308073B2 (en) * 2005-10-20 2007-12-11 General Electric Company X-ray filter having dynamically displaceable x-ray attenuating fluid
DE102008055921B4 (de) * 2008-11-05 2010-11-11 Siemens Aktiengesellschaft Modulierbarer Strahlenkollimator
US9521982B2 (en) * 2011-06-17 2016-12-20 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Computed tomography system with dynamic bowtie filter
US9414792B2 (en) 2011-06-17 2016-08-16 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Computed tomography system with dynamic bowtie filter
EP2564786A1 (en) 2011-08-31 2013-03-06 General Electric Company Method for automatic contour filter positioning for medical X-ray imaging
DE102012220750B4 (de) 2012-02-08 2015-06-03 Siemens Aktiengesellschaft Konturkollimator mit einer magnetischen, Röntgenstrahlung absorbierenden Flüssigkeit und zugehöriges Verfahren
DE102012201856B4 (de) 2012-02-08 2015-04-02 Siemens Aktiengesellschaft Konturkollimator und adaptives Filter mit elektroaktiven Polymerelementen und zugehöriges Verfahren
DE102012206953B3 (de) * 2012-04-26 2013-05-23 Siemens Aktiengesellschaft Adaptives Röntgenfilter und Verfahren zur adaptiven Schwächung einer Röntgenstrahlung
DE102012207627B3 (de) * 2012-05-08 2013-05-02 Siemens Aktiengesellschaft Adaptives Röntgenfilter zur Veränderung der lokalen Intensität einer Röntgenstrahlung
DE102012209150B3 (de) 2012-05-31 2013-04-11 Siemens Aktiengesellschaft Adaptives Röntgenfilter und Verfahren zur Veränderung der lokalen Intensität einer Röntgenstrahlung
US9431141B1 (en) * 2013-04-30 2016-08-30 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Reconfigurable liquid attenuated collimator
KR101495440B1 (ko) * 2013-08-06 2015-02-23 가톨릭대학교 산학협력단 저항열을 이용한 방사선 치료용 콜리메이터
US9966159B2 (en) 2015-08-14 2018-05-08 Teledyne Dalsa, Inc. Variable aperture for controlling electromagnetic radiation

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE347859B (ja) * 1970-11-30 1972-08-14 Medinova Ab
FR2553907B1 (fr) * 1983-10-21 1985-12-13 Thomson Csf Modulateur optique
FR2599886B1 (fr) * 1986-06-06 1988-08-19 Thomson Csf Dispositif d'affichage d'image a fluide paramagnetique et son utilisation pour la realisation de filtres spatiaux de rayons x en imagerie medicale
FR2601493A1 (fr) * 1986-07-08 1988-01-15 Thomson Csf Dispositif pour former des images par deplacement de fluides et son utilisation a la realisation de filtres spatiaux a rayons x
NL8903110A (nl) * 1989-12-20 1991-07-16 Philips Nv Roentgenonderzoekapparaat met dynamisch filter.
NL9000896A (nl) * 1990-04-17 1991-11-18 Philips Nv Roentgenstraling absorberend filter.

Also Published As

Publication number Publication date
EP0740839A1 (en) 1996-11-06
DE69504954T2 (de) 1999-05-12
US5625665A (en) 1997-04-29
DE69504954D1 (de) 1998-10-29
WO1996013040A1 (en) 1996-05-02
JPH09507423A (ja) 1997-07-29
EP0740839B1 (en) 1998-09-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3663212B2 (ja) フィルターを有するx線装置
JP4043511B2 (ja) フィルタよりなるx線検査装置
JP4487032B2 (ja) ヒール効果補正フィルタ、x線照射装置、x線ct装置及びx線ct撮像方法
JP2001509899A (ja) X線フィルタを含むx線検査装置
EP0826220B1 (en) X-ray examination apparatus with x-ray filter
JP3172180B2 (ja) X線透視法におけるダイナミックパルス制御
JPWO2008013255A1 (ja) X線診断装置
US6453012B2 (en) X-ray apparatus with filter comprising filter elements with adjustable X-ray absorption and X-ray absorption sensor
JPH10506039A (ja) フィルタを含むx線検査装置
JP2000504424A (ja) X線フィルタを含むx線検査装置
JP2002535626A (ja) X線検査装置及びこれを調整する方法
US7194065B1 (en) Method and apparatus for control of exposure in radiological imaging systems
EP1444952A1 (en) Scanning digital radiography system with reduced ionizing-radiation dose
US6584173B2 (en) X-ray examination device comprising a manually adjustable filter
DE2548531A1 (de) Verfahren der roentgendiagnostik zur verbesserung des bildkontrastes sowie vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
US5185775A (en) X-ray apparatus including a homogenizing filter
DE102006026722A1 (de) Radiographiegerät zur Aufnahme dynamischer Vorgänge und zugehöriges Aufnahmeverfahren
JPH11508174A (ja) コリメータを含むx線検査装置
Kuehn et al. A tomographic technique of assessing lateral pharyngeal wall displacement
DE19618801A1 (de) Verfahren zum automatischen Einstellen von Belichtungsparametern in einem nach dem linear-tomographischen Prinzip arbeitenden, bilderzeugenden Gerät
JPH06237924A (ja) X線診断装置
DE19933776C2 (de) Verfahren zur Kompensation der Spannungserhöhung bei dentalen Röntgenschichtaufnahmen oder Ceph-Aufnahmen und Verfahren zur Bildverarbeitung dieser Aufnahmen
JPH0145367B2 (ja)
JPH04279153A (ja) X線条件の自動制御機構
JPH10211195A (ja) X線ct装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20041012

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050301

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050328

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees