JP3631426B2 - 高出力増幅器 - Google Patents

高出力増幅器 Download PDF

Info

Publication number
JP3631426B2
JP3631426B2 JP2000290801A JP2000290801A JP3631426B2 JP 3631426 B2 JP3631426 B2 JP 3631426B2 JP 2000290801 A JP2000290801 A JP 2000290801A JP 2000290801 A JP2000290801 A JP 2000290801A JP 3631426 B2 JP3631426 B2 JP 3631426B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
bias circuit
amplifier
base
power amplifier
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000290801A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002100938A (ja
Inventor
山 保 彦 栗
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2000290801A priority Critical patent/JP3631426B2/ja
Priority to US09/961,111 priority patent/US6549076B2/en
Priority to EP01122547A priority patent/EP1195890A3/en
Publication of JP2002100938A publication Critical patent/JP2002100938A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3631426B2 publication Critical patent/JP3631426B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/30Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters
    • H03F1/302Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters in bipolar transistor amplifiers

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、トランジスタ増幅器を用いた高出力増幅器に関する。
【0002】
【従来の技術】
無線通信装置の分野においては、CDMA(周波数多重方式:Code Division Multiple Access)などのデジタル通信方式が主流となっており、▲1▼利得が高く、▲2▼効率が高く、▲3▼温度変化の影響が少なく、▲4▼広いダイナミックレンジの出力レベルで線形に動作する高出力増幅器が要求されている。これに加え、携帯電話のような制御電圧の低いシステムでは、▲5▼コントロール電圧が低いこと、が要求されている。
【0003】
従来の高出力増幅器の1つとしては、AB級動作のエミッタ接地バイポーラトランジスタを用い、ベースバイアス回路によりバイアス電流・電圧を供給する方法がある。この方法の原理、特徴を以下に説明する。
【0004】
まず、利得が高い高出力増幅器を得るために、高出力増幅器のトランジスタ増幅器としてエミッタ接地バイポーラトランジスタを用いる。高出力増幅器は、制御回路とトランジスタ増幅器から構成されており、トランジスタ増幅器には、通常、バイポーラトランジスタが用いられている。そして、バイポーラトランジスタの接続方法には、エミッタ接地回路、ベース接地回路、コレクタ接地回路(エミッタフォロワ回路)などがあるが、高い利得が得られることから、増幅回路においてはエミッタ接地回路が圧倒的に多く使用されている。このエミッタ接地回路は、エミッタを入出力の共通端子とし、ベースに入力信号を加え、コレクタから出力を取り出す方式である。
【0005】
次に、効率の高い高出力増幅器を得るために、上述のエミッタ接地トランジスタ増幅器のバイアス条件をAB級にして、AB級動作を行うようにする。すなわち、効率の高い増幅器を得るには、バイアス条件をA級(トランジスタにかなりの電流を常に流している形式)ではなく、B級(入力がゼロのとき消費電力が本質的にゼロになる形式)にすることにより実現できるが、実際には、B級動作では素子の相互コンダクタンスの非線形性により利得の変動による歪みが大きくなるので、AB級(入力がゼロのときでもトランジスタに小さな直流電流=アイドル電流が流れる形式)のような使い方をすることにより効率の高い高出力増幅器を得ることができる。
【0006】
次に、温度変動の影響が少ない高出力増幅器を得るために、トランジスタ増幅器の制御端子(ベース)に対して、バイアス回路によりバイアスを供給する。すなわち、バイポーラートランジスタを用いた高出力増幅器では、ベース・エミッタ間電圧を基準とした回路が主流であるが、出力電流の温度係数がかなり大きいため、制御回路の1つにベースバイアス回路を用いて、温度変化によってベース電圧・電流が大幅に変化しないように工夫している。このような高出力増幅器としては、図13に示すバイアス回路を用いた、第1の従来例の高出力増幅器がある。図13のバイアス回路は、Q1がバイポーラートランジスタ、R1が抵抗であり、ベースとコレクタを短絡してダイオード接続したカレントミラー回路でバイアス電圧、およびバイアス電流Ibを供給する。
【0007】
以上のように、AB級のエミッタ接地バイポーラトランジスタを用れば、▲1▼利得が高く、▲2▼効率が高い、高出力増幅器を得ることができ、さらに図13の第1の従来例のバイアス回路によりバイアス電流・電圧を供給する方法を用いれば、▲3▼温度変化の影響が少ない、高出力増幅器を得ることができる。また、図13のバイアス回路はトランジスタが1段であるから、▲5▼コントロール電圧を低くすることができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、図13のバイアス回路を用いた第1の従来例の高出力増幅器では、▲4▼広いダイナミックレンジの出力レベルで線形に動作する高出力増幅器を得ることができない、という問題があった。すなわち、AB級動作のエミッタ接地バイポーラートランジスタは、平均コレクタ電流が出力レベルに応じて増加するので、バイアス回路もそれに応じて平均ベース電流の増加分を十分供給しなければならないが、図13のようなバイアス回路では、抵抗R1による電圧降下が起きるため、十分な電流を供給できないのである。
【0009】
そこで、広いダイナミックレンジの出力レベルで線形に動作する高出力増幅器として、図14のバイアス回路を用いた第2の従来例の高出力増幅器がある。図14の回路は、エミッタフォロワー等を介してベース電流を供給するカレントミラー回路であり、Qがバイポーラートランジスタ、Rが抵抗、Vccが電源電圧であって、出力インピータンスを下げて電流を供給することができる。
【0010】
しかし、図14のバイアス回路を用いた第2の従来例の高出力増幅器では、▲5▼バイアス回路のコントロール電圧が高くなってしまう、という問題があった。すなわち、図14のバイアス回路では、トランジスタが2段積みになるため、コントロール電圧Vcontをトランジスタのオン電圧の2倍の電圧よりかなり高くしなければ、温度変化に対するバイアス電流Ibの変動が大きくなってしまった。例えば、図14の回路で、バイポーラトランジスタQの動作電圧を1.2Vとすれば、コントロール電圧Vcontを2.4Vよりもかなり高くしなければならなず、仮に2.7V程度のコントロール電圧で動作させようとすれば、バイアス電流が温度変動の影響を大きく受けてしまう。ところが、コントロール電圧を高くすると、携帯電話のような制御電圧の低いシステムでは、大きな問題となる。
【0011】
このように、従来は、エミッタが接地されAB級にバイアスされたトランジスタ増幅器を用いることにより、▲1▼利得が高く、▲2▼効率が高い高出力増幅器を得ることはできたが、トランジスタ増幅器のベースバイアス回路の特性が不十分なため、さらに、▲3▼温度変化の影響が少なく、▲4▼広いダイナミックレンジの出力レベルで線形に動作し、▲5▼コントロール電圧が低い、高出力増幅器を得ることは困難であった。
【0012】
本発明は、かかる課題の認識に基づいてなされたものである。すなわちその目的は、トランジスタ増幅器のベースバイアス回路を工夫することにより、▲1▼利得が高く、▲2▼効率が高く、さらに、▲3▼温度変化の影響が少なく、▲4▼広いダイナミックレンジの出力レベルで線形に動作し、▲5▼コントロール電圧が低い、高出力増幅器を提供することである。
【0013】
【発明を解決するための手段】
本発明の高出力増幅器は、トランジスタ増幅器と、第1および第2のバイアス回路からなるバイアス回路とを有し、前記第1のバイアス回路が備える第1のトランジスタは、短絡された第1の端子と制御端子が第1の高圧側電源としてのコントロール電源と前記トランジスタ増幅器の制御端子とに接続され、第2の端子が低電圧側電源に接続されており、前記第2のバイアス回路が備える第2のトランジスタは、制御端子が前記コントロール電源に接続され、第1の端子が第2の高圧側電源に接続され、第2の端子が前記トランジスタ増幅器の制御端子に接続されていることを特徴とする。
【0014】
本発明の高出力増幅器は、トランジスタ増幅器と、第1のバイアス回路と第2のバイアス回路の2つのバイアス回路とを備え、トランジスタ増幅器を小信号(アイドル電流)で使用するときは温度変動の影響が少ない第1のバイアス回路でトランジスタ増幅器の制御端子にバイアスを供給し、トランジスタ増幅器を大信号で使用するときは大きなベース電流を供給することが可能な第2のバイアス回路でバイアスを供給することができるので、温度変動の影響が少なく、かつ、広いダイナミックレンジの出力レベルで線形な動作を行うことができる。
【0015】
また、本発明の高出力増幅器では、バイアス回路のコントロール電圧を低くすることができる。コントロール電圧は、例えば、第1のトランジスタのベース・エミッタ間オン電圧の2倍以下とすることができる。また、第2のトランジスタのベースを接地したり、第2のバイアス回路に第3のトランジスタを設けたりすることにより、高いコントロール電圧でも使用可能にすることがきる。
【0016】
本発明のトランジスタ増幅器としては、エミッタ接地の化合物バイポーラトランジスタ(HBT)を好ましく用いることができる。
【0017】
第1のバイアス回路の第1のトランジスタ、および第2のバイアス回路の第2のトランジスタとしては、化合物バイポーラトランジスタ(HBT)を用いることができる。また、第2のバイアス回路の第2のトランジスタとして、Si MOSFET、またはGaAs MOSFETを用いることもできる。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下に、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。
【0019】
実施形態1〜4では、バイアス回路およびトランジスタ増幅器のトランジスタに、エミッタがInGaP、ベースがGaAsで構成された化合物バイポーラトランジスタ(InGaP/GaAs HBT)を用いた例を示す。このトランジスタは、ベース・エミッタ間電圧Vbeが約1.2Vで動作する。実施例5では、バイアス回路の第2のバイアス回路のトランジスタにFETを用いた例を示す。
【0020】
(第1の実施の形態)
図1は本発明の第1の実施の形態に係わる高出力増幅器の構成を示す図である。図1中の点線で囲った部分は、バイアス回路であり、図2はこのバイアス回路を示す図である。回路中のトランジスタはすべてInGaP/GaAs HBTを用いている。
【0021】
以下では高出力増幅器、および高出力増幅器におけるバイアス回路についての、回路構成、動作、および特性について説明する。
【0022】
まず高出力増幅器の回路構成について、図1を参照にしつつ説明する。RF1はエミッタが接地されたバイポーラトランジスタ増幅器であり、エミッタサイズが4×30umで、32本のマルチエミッタ構造になっている。バイポーラトランジスタ増幅器RF1のコレクタにはインダクタンスL1を介して電圧V=3.4Vが印加されている。また、ベースにはインダクタンスL2を介してDCバイアス用ベース電圧を供給するバイアス回路が接続されており、このバイアス回路によりベース電流が供給される。ここでRF1に対しては、高効率を実現するために、バイアス回路がAB級のバイアスとなるようにする。Pinは入力端子、Poutは出力端子であり、C1、C2はキャパシタである。
【0023】
次に、バイアス回路の構成について図2を参照にしつつ説明する。バイアス回路は第1のバイアス回路と第2のバイアス回路とを備えている。第1のバイアス回路は抵抗R1とトランジスタQ1から構成され、第2のバイアス回路は抵抗R2とトランジスタQ2から構成されている。
【0024】
第1のバイアス回路のトランジスタQ1のエミッタサイズは、4×20umであり、ベースとコレクタが短絡されてダイオード接続され、ダイオードとして機能するようになっている。またQ1は、短絡されたベースとコレクタが抵抗R1=400Ωを介してコントロール電圧Vcont=2.2Vに接続され、ベースとコレクタがトランジスタ増幅器RF1の制御端子に接続され、エミッタが接地されている。第1のバイアス回路は、出力インピータンスが高いので大きなベース電流を供給することはできないが、温度変動の影響を受けずらい。
【0025】
第2のバイアス回路のトランジスタQ2のエミッタサイズは、4×30umで8本のマルチエミッタ構造になっている。Q2は、ベースが抵抗R2=200Ωを介してコントロール電圧Vcont=2.2Vに接続され、コレクタが電源電圧Vcc=3.4Vに接続され、エミッタがトランジスタ増幅器RF1の制御端子に接続されており、エミッタフォロワーである。第2のバイアス回路は、出力インピータンスが低いので大きなベース電流を供給することができる。
【0026】
本実施形態の高出力増幅器のバイアス回路は、上述の第1のバイアス回路と第2のバイアス回路を組み合わせ、それぞれの長所を生かしたものであり、コントロール電圧が2.2Vと低いにもかかわらず、大きなベース電流を供給することができ、かつ、温度が変動しても安定したベース電流を供給することができる。
【0027】
次に、本実施形態の高出力増幅器におけるバイアス回路(図2)の動作について説明する。トランジスタ増幅器RF1のベース電流がゼロか非常に小さい時には、トランジスタQ1はオンしているが、トランジスタQ2はOFFの状態である。RF1のベース電流が増加し始めると、このベース電流の増加分だけR1に流れる電流も増加する。これによりトランジスタQ1のベース・エミッタ間電圧が下がり、トランジスタQ2のエミッタの電圧がトランジスタQ1のベース電圧とともに低下し、トランジスタQ2のベース・エミッタ間電圧が増加し、Q2がON状態となる。このように本実施形態の高出力増幅器におけるバイアス回路は、2つのバイアス回路を備え、小さなベース電流は温度変動の影響が少ない第1のバイアス回路で供給することができ、大きなベース電流は第2のバイアス回路で供給することができる。
【0028】
次に、本実施形態の高出力増幅器の特性を、従来の形態と比較しながら説明する。比較例として用いた高出力増幅器は、バイアス回路として、図13の回路を用いた第1の従来例の高出力増幅器である。この高出力増幅器は、前述のように、線形動作をするレンジが狭いという問題がある。バイアス回路のコントロール電圧は、本実施形態、従来形態ともに2.2Vとした。
【0029】
図3は、本実施形態の高出力増幅器(図2、図1)および第1の従来例の高出力増幅器(図13、図1)における、1.88GHz帯での入力パワーに対する出力パワーの特性を示す図である。出力(A)は本実施形態の高出力増幅器の出力パワーを、出力(B)は従来例の高出力増幅器の出力パワーを示している。また、図4は入力パワーに対する利得の変動を示す図であり、利得(A)は本実施形態の高出力増幅器の利得を、利得(B)は第1の従来例の高出力増幅器の利得を示している。本実施形態の高効率増幅器では、飽和領域まで出力パワーおよび利得が伸びているが、従来例の高出力増幅器では、高出力領域で利得が急激に落ちている。
【0030】
また図5は、本実施形態の高出力増幅器におけるトランジスタ増幅器RF1および第1の従来例の高出力増幅器におけるトランジスタ増幅器RF1の、入力に対するコレクタ電流Ic、および入力に対するベース電流Ibの変動を示す図である。Ic(A)は本実施形態におけるトランジスタ増幅器のコレクタ電流を、Ic(B)は第1の従来例におけるトランジスタ増幅器のコレクタ電流を、Ib(A)は本実施形態のにおけるトランジスタ増幅器のベース電流を、Ib(B)は第1の従来例におけるトランジスタ増幅器のベース電流を示している。本実施形態の高効率増幅器におけるトランジスタ増幅器では、コレクタ電流Icとベース電流Ibがともに入力に応じて伸びているが、従来の高出力増幅器におけるトランジスタ増幅器では、10dB以上の入力で伸びが鈍る。
【0031】
このように、本実施形態の高出力増幅器では、従来の形態と比較して、コントロール電圧を同じにしても、広いダイナミックレンジの出力レベルで線形な動作を行うことができるという特性をもつ。これは従来の高出力増幅器におけるバイアス回路(図13)では、R1を介してベース電流を供給しているので、入力パワーが増加するとR1による電圧降下が起こり、十分な電流を供給できなくなるのに対し、本実施形態の高出力増幅器におけるバイアス回路では、入力パワーが増加すると、第2のバイアス回路のトランジスタQ2がONし、Q2からRF1のベース電流を十分に供給できるからである。
【0032】
次に、本実施形態の高出力増幅器におけるバイアス回路(図2)の特性を、従来の高出力増幅器のバイアス回路(図13)と比較しながら説明する。
【0033】
図6は本発明の第1の実施の形態に係わる高出力増幅器におけるバイアス回路および従来の高出力増幅器におけるバイアス回路の特性を示す図である。図中の鎖線は、Pin(図1)からの入力パワーとベース電流Ib(図1、図2、図13)の関係を示しており、Ib(A)は本実施形態におけるバイアス回路のQ1およびQ2(図2)が供給するIbを、Ib(A’)は本実施形態におけるバイアス回路のQ2(図2)が供給するIbを、Ib(B)は第1の従来例におけるバイアス回路のQ1が供給するIbを示している。また、図中の点線はPin(図1)からの入力パワーとトランジスタQ1(図2、図13)のベース・エミッタ間電圧を示しており、Vbe(A)は本実施形態におけるバイアス回路のVbeを、Vbe(B)は第1の従来例におけるバイアス回路のVbeを示している。
【0034】
第1の従来例におけるバイアス回路では、入力パワーが増加すると、R1による電圧降下が大きくなり、Q1のベース・エミッタ間電圧Vbeが下がって、ベース電流Ibを十分に供給できなくなる。これに対し本実施形態におけるバイアス回路では、入力パワーが増加しても、Q1のベース・エミッタ間電圧Vbeが0.2V程度下がりR1による電圧降下が1.2V程度以上になると、エミッタフォロアーQ2がONするので、ベース電流Ibを十分に供給することができる。
【0035】
以上のように、本実施形態の高出力増幅器では、2.2Vという低いコントロール電圧にもかかわらず、広いダイナミックレンジの出力レベルで線形な動作を行うことができる。
【0036】
(第2の実施の形態)
第2の実施の形態の高出力増幅器が第1の実施の形態と異なるのは、バイアス回路の第2のバイアス回路のトランジスタQ2のベースを接地したことであり、高いコントロール電圧でも使用可能である。
【0037】
図7は本発明の第2の実施の形態に係わる高出力増幅器に関する図であり、高出力増幅器におけるバイアス回路の構成を示している。
【0038】
本実施形態の高出力増幅器におけるバイアス回路(図7)は、トランジスタQ2のベースが、抵抗R2を介してコントロール電圧Vcontに接続されるとともに、ベースとコレクタが短絡されダイオード接続されたトランジスタQ3およびQ4を介して接地されている。Q3およびQ4はダイオードとして機能するようになっている。この他の部分は第1の実施の形態(図2)と同じである。本実施形態ではQ3およびQ4としてON電圧が約1.2VのHBTを用いたが、それぞれのHBTの代わりにON電圧が約1.2Vのダイオードを用いることも可能である。
【0039】
本実施形態の高出力増幅器は高いコントロール電圧でも使用可能である。すなわち、第1の実施形態におけるバイアス回路は、コントロール電圧がトランジスタのON電圧Vbeの2倍である約2.4V以上では、バイアス時にQ2がONしてしまうので、急激にベース電流が供給されてしまうが、本実施形態のように、ダイオード接続されたトランジスタ、またはダイオードにより接地しておくと、電圧がグリップされ高いコントロール電圧Vcontでも使用できる。
また、本実施形態の高出力増幅器の回路構成は、バイアス回路を図2の回路に代えて図7の回路とした以外は、第1の実施の形態(図1)と同じである。
【0040】
次に、本実施形態の高出力増幅器の特性を、従来の形態と比較しながら説明する。比較例として用いた高出力増幅器は、バイアス回路として、図14の回路を用いた第2の従来例の高出力増幅器である。この高出力増幅器は、前述のように、動作電圧を高くしなければ温度変動の影響が大きくなるという問題がある。バイアス回路のコントロール電圧は、本実施形態、従来形態ともに2.7Vとした。なお、本実施形態の高出力増幅器は第1の実施の形態と同様にバイアス回路のコントロール電圧を2.2V程度にしても使用可能であるが、比較例と同一条件とするため、コントロール電圧を2.7[V]とした。
【0041】
図8は、本実施形態および第2の従来例の高出力増幅器(図1参照)において、バイアス回路のコントロール電圧Vcont=2.7V(図7、図14)とし、温度を−30℃、25℃、80℃に変化させた時の、トランジスタ増幅器のコレクタ電流Icの変化を示す図である。また、図9は、本実施形態および第2の従来例の高出力増幅器(図1参照)において、温度を−30℃、25℃、80℃と変化させた時の、バイアス回路のコントロール電圧Vcontと、トランジスタ増幅器のコレクタ電流Icとの関係を示す図である。
【0042】
図8のように、従来の高出力増幅器では、温度変動に対するトランジスタ増幅器のコレクタ電流Icの変動が大きい。これは以下の理由による。すなわち、従来の高出力増幅器におけるバイアス回路(図14)では、温度Tに対するバイアス電流Iの変化量は、ほぼI(T+ΔT)/I(T)=(Vcont−2×Vbe(T+ΔT)/(Vcont−2×Vbe(T))で決まるので、HBTのVbeが室温(25℃)で約1.2Vであることから、Vcont=2.7Vでは温度補償に使える電圧が約0.3Vしかなく、温度変動に対する電流の変動が大きくなる。そして、温度変動に対するバイアス電流の変動が大きくなることにより、温度変動に対するトランジスタ増幅器のコレクタ電流Icの変動も大きくなるのである。
【0043】
一方、図8のように、本実施形態の高出力増幅器では、温度変動に対するトランジスタ増幅器のコレクタ電流Icの変動が小さい。この理由を図9を用いて説明する。本実施形態の高出力増幅器におけるバイアス回路では、温度変動に対する電流変動分は第2のバイアス回路のQ2から流れる電流分のみであり、第1のバイアス回路のQ1から流れる電流分は温度変動による影響をほとんど受けない。そして、バイアス電流の温度変動が小さくなれば、トランジスタ増幅器のコレクタ電流Icの温度変動も小さくなる。本実施形態の高出力増幅器では、第1のバイアス回路によりトランジスタ増幅器のコレクタ電流Icに図9中の丸で囲んだ点線のような下駄を履かせることができ、この電流分が温度変動の影響を受けずらいため、温度に対するトランジスタ増幅器のコレクタ電流Icの電流変動が、図8のように抑えられるのである。
【0044】
このように本実施形態の高出力増幅器では、広いダイナミックレンジの出力レベルで線形な動作を行うことができるのに加え、温度変動の影響も少なくすることができる。
【0045】
また、図9のように、従来の高出力増幅器(図14参照)では、室温で、コントロール電圧が約2.4[V]以下ではバイアス回路が動作せず使用することができないが、本実施形態の高出力増幅器(図7、図1)では、コントロール電圧を低くしても使用することができる。
【0046】
さらに、本実施形態の高出力増幅器は、第1の実施形態と同様に低いコントロール電圧で使用が可能なのに加え、必要に応じて高いコントロール電圧でも使用することが可能であり、また劣化等の原因でコントロール電圧が高くなってしまった場合でも正常な動作が可能であるので、実用的である。
【0047】
(第3の実施の形態)
第3の実施の形態の高出力増幅器が第1の実施の形態と異なるのは、バイアス回路にトランジスタQ3を備えたことであり、第2の実施の形態と同様に、高いコントロール電圧でも使用可能である。
【0048】
図10は本発明の第3の実施の形態に係わる高出力増幅器に関する図であり、高出力増幅器におけるバイアス回路を示している。
【0049】
本実施形態におけるバイアス回路(図10)は、第2のバイアス回路がさらにトランジスタQ3を備え、Q3は、コレクタがトランジスタQ2のベースに接続され、ベースがトランジスタQ1のベースおよびコレクタに接続され、エミッタが接地されている。この他の部分は第1の実施の形態(図2)と同じである。
また、本実施形態の高出力増幅器の回路構成は、バイアス回路を図2の回路に代えて図10の回路とした以外は、第1の実施の形態(図1)と同じである。
【0050】
本実施形態の高出力増幅器は第2の実施の形態と同様、高いコントロール電圧でも使用可能である。すなわち、第1の実施の形態におけるバイアス回路(図2)は、コントロール電圧がQ1のベース・エミッタ間オン電圧の2倍(〜2.4V)以上では、バイアス時にQ2がONしてしまうので、急激にベース電流が供給されてしまうが、本実施形態のバイアス回路(図10)では、Q3に電流を流しQ2の電流をグリップすることができるので、コントロール電圧Vcontが高くなっても使用することができる。
【0051】
(第4の実施の形態)
第4の実施の形態の高出力増幅器は、トランジスタ増幅器を2段にしたものである。バイアス回路の基本構造は、第1の実施の形態と同じである。
【0052】
図11は本発明の第4の実施の形態に係わる高出力増幅器に関する図であり、高出力増幅器の回路構成を示している。トランジスタ増幅器は前段のRF2と後段のRF3の2段で構成されている。後段のトランジスタ増幅器RF3に対しては、高効率を実現するために、バイアス回路がAB級のバイアスとなるようにする。RF3のバイアス回路は第1の実施の形態と同じである。L3はインダクタンス、C3はキャパシタ、R3、R4は抵抗である。
【0053】
トランジスタ増幅器を複数段用いた場合は、最終段のトランジスタ増幅器のバイアス電流を制御することが重要である。すなわち、複数段のトランジスタ増幅器を用いた場合には、最終段のトランジスタ増幅器のベース電位を実施例1〜3で説明した方法等により制御すれば、コントロール電圧を低くしつつ、広いダイナミックレンジの出力レベルで線形な動作を行うことができ、かつ、温度変動の影響も少なくすることができる。
【0054】
本実施形態の高出力増幅器では、2段のトランジスタ増幅器RF2、RF3を用い、後段のトランジスタ増幅器RF3のベース電圧・電流を実施例1の方法により制御したことにより、2.2V程度という低いコントロール電圧にもかかわらず、広いダイナミックレンジの出力レベルで線形な動作を行うことができ、かつ、温度変動の影響も少なくすることができる。
【0055】
(第5の実施の形態)
第5の実施の形態の高出力増幅器が第1の実施の形態と異なるのは、バイアス回路の第2のバイアス回路のトランジスタとしてFETを用いたことであり、動作電圧をさらに低減できる。
【0056】
図12は本発明の第5の実施の形態に係わる高出力増幅器に関する図であり、高出力増幅器におけるバイアス回路を示している。
【0057】
本実施形態の高出力増幅器におけるバイアス回路(図12)は、第2のバイアス回路のトランジスタQ5としてFETを用いている。FETとしては、Si MOSFETやGaAs MOSFETを用いることができる。FETのゲートは抵抗R2を介してコントロール電圧Vcont=2.0Vに接続されるとともに抵抗R5を介して接地され、ドレインが電源端子Vcc=3.4Vに接続されている。また、ソースがトランジスタQ1のベースおよびコレクタに接続されており、ソースフォロアーになっている。
【0058】
本実施形態の高出力増幅器の回路構成は、バイアス回路を図2の回路に代えて図12の回路とした以外は、第1の実施の形態(図1)と同じである。
【0059】
本実施形態では、ゲートバイアスはR2とR5で決める。基本的な動作や、効果は第1の実施の形態と同じであるが、FETの閾値を選ぶことによって、さらに低電圧化が可能である。
【0060】
【発明の効果】
本発明の高出力増幅器によれば、トランジスタ増幅器と、第1および第2のバイアス回路からなるバイアス回路とを有し、トランジスタを小信号(アイドル電流)で使用するときは温度変動の影響が少ない第1のバイアス回路でトランジスタ増幅器の制御端子にバイアスを供給し、トランジスタを大信号で使用するときは大きなベース電流を供給することが可能な第2のバイアス回路でバイアスを供給することができるので、広いダイナミックレンジの出力レベルで線形な動作を行うことができ、コントロール電圧が低く、かつ、温度変動の影響が少ない高出力増幅器を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係わる高出力増幅器の回路構成を示す図。
【図2】本発明の第1の実施の形態に係わる高出力増幅器におけるバイアス回路の構成を示す図。
【図3】本発明の第1の実施の形態に係わる高出力増幅器、および第1の従来例の高出力増幅器の、入力パワーと出力パワーの関係を示す図。
【図4】本発明の第1の実施の形態に係わる高出力増幅器、および第1の従来例の高出力増幅器の、入力パワーと利得の関係を示す図。
【図5】本発明の第1の実施の形態に係わる高出力増幅器におけるトランジスタ増幅器、および第1の従来例の高出力増幅器におけるトランジスタ増幅器の、入力パワーとベース電流Ibの関係、および入力パワーとコレクタ電流Icの関係を示す図。
【図6】本発明の第1の実施の形態に係わる高出力増幅器におけるバイアス回路および第1の従来例の高出力増幅器におけるバイアス回路の特性を示す図であり、入力パワーとベース電流Ibの関係、および、入力パワーとトランジスタQ1のベース・エミッタ間電圧Vbeの関係、を示す図。
【図7】本発明の第2の実施の形態に係わる高出力増幅器におけるバイアス回路の構成を示す図。
【図8】本発明の第2の実施の形態に係わる高出力増幅器、および第2の従来例の高出力増幅器の特性を示す図であり、温度と、トランジスタ増幅器のコレクタ電流Icとの関係を示す図。
【図9】本発明の第2の実施の形態に係わる高出力増幅器、および第2の従来例の高出力増幅器の特性を示す図であり、温度を−30℃、25℃、80℃とした時の、バイアス回路のコントロール電圧Vcontと、トランジスタ増幅器のコレクタ電流Icとの関係を示す図。
【図10】本発明の第3の実施の形態に係わる高出力増幅器におけるバイアス回路の構成を示す図。
【図11】本発明の第4の実施の形態に係わる高出力増幅器の回路構成を示す図。
【図12】本発明の第5の実施の形態に係わる高出力増幅器におけるバイアス回路の構成を示す図。
【図13】第1の従来例の高出力増幅器におけるバイアス回路の構成を示す図。
【図14】第2の従来例の高出力増幅器におけるバイアス回路の構成を示す図。
【符号の説明】
RF1 トランジスタ増幅器
RF2 前段のトランジスタ増幅器
RF3 後段のトランジスタ増幅器
C1〜C3 キャパシタ
L1〜L3 インダクタンス
Pin 入力端子
Pout 出力端子
R、R1〜R5 抵抗
Q、Q1〜Q5 バイポーラートランジスタ
Q5 FET
Vcont コントロール電圧
Vcc 電源電圧
Vc 電源電圧
Ib バイアス回路が供給するトランジスタ増幅器のベース電流
Ic トランジスタ増幅器のコレクタ電流

Claims (7)

  1. トランジスタ増幅器と、第1および第2のバイアス回路からなるバイアス回路とを有し、
    前記第1のバイアス回路が備える第1のトランジスタは、短絡された第1の端子と制御端子が第1の高圧側電源としてのコントロール電源と前記トランジスタ増幅器の制御端子とに接続され、第2の端子が低電圧側電源に接続されており、
    前記第2のバイアス回路が備える第2のトランジスタは、制御端子が前記コントロール電源に接続され、第1の端子が第2の高圧側電源に接続され、第2の端子が前記トランジスタ増幅器の制御端子に接続されていることを特徴とする高出力増幅器。
  2. エミッタ接地のトランジスタ増幅器と、第1および第2のバイアス回路からなるバイアス回路とを有し、
    前記第1のバイアス回路は、短絡されたベースとコレクタが第1の抵抗を介してコントロール電圧に接続され、さらに前記ベースと前記コレクタが前記トランジスタ増幅器の制御端子にも接続された第1のトランジスタを備え、
    前記第2のバイアス回路は、ベースが第2の抵抗を介して前記コントロール電圧に接続されるとともにエミッタが前記第1のトランジスタのベースおよびコレクタに接続されたエミッタフォロワーの第2のトランジスタを備えていることを特徴とする高出力増幅器。
  3. 前記第2のバイアス回路が備える、エミッタフォロワーの前記第2のトランジスタに代えて、ソースフォロワーのSi MOSFETまたはGaAs MOSFETを備えたことを特徴とする請求項2に記載の高出力増幅器。
  4. 前記第2のトランジスタのベースが、ベースとコレクタが短絡されたダイオード接続の複数のトランジスタを介して、接地されていることを特徴とする請求項2または請求項3に記載の高出力増幅器。
  5. 前記第2のバイアス回路がさらに第3のトランジスタを備え、前記第3のトランジスタは、コレクタが前記第2のトランジスタのベースに接続され、ベースが前記第1のトランジスタのベースおよびコレクタに接続され、エミッタが接地されていることを特徴とする請求項2乃至請求項4のいずれかに記載の高出力増幅器。
  6. 前記コントロール電圧が、前記第1のトランジスタのベース・エミッタ間オン電圧の2倍以下であることを特徴とする、請求項2乃至請求項5のいずれかに記載の高出力増幅器。
  7. 前記トランジスタ増幅器、前記第1のトランジスタ、前記第2のトランジスタが化合物バイポーラトランジスタであることを特徴とする請求項2、請求項4、請求項5、または請求項6のいずれかに記載の高出力増幅器。
JP2000290801A 2000-09-25 2000-09-25 高出力増幅器 Expired - Fee Related JP3631426B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000290801A JP3631426B2 (ja) 2000-09-25 2000-09-25 高出力増幅器
US09/961,111 US6549076B2 (en) 2000-09-25 2001-09-24 High-output amplifier
EP01122547A EP1195890A3 (en) 2000-09-25 2001-09-24 High-output amplifier

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000290801A JP3631426B2 (ja) 2000-09-25 2000-09-25 高出力増幅器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002100938A JP2002100938A (ja) 2002-04-05
JP3631426B2 true JP3631426B2 (ja) 2005-03-23

Family

ID=18773972

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000290801A Expired - Fee Related JP3631426B2 (ja) 2000-09-25 2000-09-25 高出力増幅器

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6549076B2 (ja)
EP (1) EP1195890A3 (ja)
JP (1) JP3631426B2 (ja)

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6784748B1 (en) * 2000-02-24 2004-08-31 Skyworks Solutions, Inc. Power amplifying system with supply and bias enhancements
JP2003324323A (ja) * 2002-05-01 2003-11-14 Nec Corp 高出力増幅回路
KR100630340B1 (ko) * 2002-05-22 2006-10-02 학교법인 한국정보통신학원 전력증폭기의 바이어스 제어 회로
JP2004040735A (ja) * 2002-07-08 2004-02-05 Toyota Industries Corp 半導体集積回路及び半導体集積回路の製造方法
US6756852B2 (en) * 2002-09-05 2004-06-29 Gatax Technology Co., Ltd. Method for reducing output noise of a power amplifier
US6882227B2 (en) * 2002-09-13 2005-04-19 Anadigics Bias circuit linearization and dynamic power control
US6906592B2 (en) * 2002-11-13 2005-06-14 Qualcomm Inc Continuously variable gain radio frequency driver amplifier having linear in decibel gain control characteristics
TW578367B (en) * 2002-12-17 2004-03-01 Delta Electronics Inc Bias circuit for a radio frequency power amplifier
US7057461B1 (en) * 2003-03-19 2006-06-06 Dynalinear Technologies, Inc. Heterostructure bipolar transistor power amplifier module with dynamic voltage supply for improved efficiency
US7049893B2 (en) * 2003-04-14 2006-05-23 M/A-Com, Inc. Apparatus, methods and articles of manufacture for power amplifier control in a communication system
JP4287190B2 (ja) * 2003-05-13 2009-07-01 三菱電機株式会社 高周波増幅回路
DE10333278A1 (de) * 2003-07-22 2005-02-24 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung zur Erhöhung einer Versorgungsspannung
GB2405758A (en) * 2003-09-03 2005-03-09 Roke Manor Research Bias circuits for optimising the efficiency of RF amplifiers in mobile 'phones
JP2005101733A (ja) * 2003-09-22 2005-04-14 Toshiba Corp バイアス回路
JP2005143079A (ja) 2003-10-14 2005-06-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 高周波電力増幅器
US6956437B2 (en) * 2003-12-23 2005-10-18 Agere Systems Inc. Metal-oxide-semiconductor device having integrated bias circuit
EP1626508B1 (en) * 2004-05-27 2010-03-17 Panasonic Corporation Transmission output control circuit, and wireless device using the same
US7358816B2 (en) * 2004-11-11 2008-04-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Variable gain amplifier
US7180367B2 (en) * 2005-01-07 2007-02-20 U.S. Monolithics, L.L.C. Systems, methods and devices for differential active bias of multi-stage amplifiers
JP4567577B2 (ja) * 2005-11-08 2010-10-20 三菱電機株式会社 電力増幅器用バイアス回路
JP2007281930A (ja) * 2006-04-07 2007-10-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd バイアス回路
JP4611934B2 (ja) 2006-05-26 2011-01-12 三菱電機株式会社 電力増幅器用バイアス回路
JP4693706B2 (ja) * 2006-06-19 2011-06-01 新日本無線株式会社 スタンバイ機能付き増幅器
WO2011007556A1 (ja) * 2009-07-13 2011-01-20 パナソニック株式会社 ポーラ変調器
JP2012019500A (ja) 2010-06-10 2012-01-26 Panasonic Corp バイアス回路および無線通信機
KR101300324B1 (ko) * 2011-11-22 2013-08-28 삼성전기주식회사 전력 증폭기
JP5857898B2 (ja) * 2012-07-11 2016-02-10 三菱電機株式会社 電力増幅器
KR101761946B1 (ko) * 2012-11-19 2017-08-04 삼성전기주식회사 전력 증폭기
JP5939404B2 (ja) * 2013-03-19 2016-06-22 株式会社村田製作所 無線周波数増幅回路及び電力増幅モジュール

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI89110C (fi) * 1991-09-19 1993-08-10 Nokia Mobile Phones Ltd Effektdetektor
GB2278727B (en) * 1993-06-02 1997-04-09 Nec Corp Bipolar transistor circuit
US5608353A (en) 1995-03-29 1997-03-04 Rf Micro Devices, Inc. HBT power amplifier
US5506544A (en) * 1995-04-10 1996-04-09 Motorola, Inc. Bias circuit for depletion mode field effect transistors
JP3327783B2 (ja) * 1996-08-30 2002-09-24 シャープ株式会社 トランジスタ電力増幅器
FI105611B (fi) * 1998-03-13 2000-09-15 Nokia Mobile Phones Ltd Radiotajuusvahvistimet
JP3471648B2 (ja) * 1999-02-26 2003-12-02 富士通カンタムデバイス株式会社 パワーアンプ回路及びそのバイアス回路
DE19945709C2 (de) 1999-09-23 2002-06-20 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung zur Regelung des Arbeitspunkts eines Leistungsverstärkers und deren Verwendung
US6313705B1 (en) * 1999-12-20 2001-11-06 Rf Micro Devices, Inc. Bias network for high efficiency RF linear power amplifier
US6300837B1 (en) * 2000-03-28 2001-10-09 Philips Electronics North America Corporation Dynamic bias boosting circuit for a power amplifier

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002100938A (ja) 2002-04-05
EP1195890A2 (en) 2002-04-10
US20020036543A1 (en) 2002-03-28
EP1195890A3 (en) 2007-06-27
US6549076B2 (en) 2003-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3631426B2 (ja) 高出力増幅器
US6414553B1 (en) Power amplifier having a cascode current-mirror self-bias boosting circuit
US6791418B2 (en) Capacitor coupled dynamic bias boosting circuit for a power amplifier
US7365604B2 (en) RF amplifier with a bias boosting scheme
US6492875B2 (en) Self-boosting circuit for a power amplifier
US6972630B2 (en) Self-biased darlington amplifier
US7439805B1 (en) Enhancement-depletion Darlington device
JP2004343244A (ja) 高周波増幅回路
JP4088177B2 (ja) バイアス電流供給回路及び増幅回路
JP2005512376A (ja) 電流ミラー回路を使用するバイアス補償を有する増幅器
US6897732B2 (en) Amplifier
JP3631060B2 (ja) 線形増幅器及びこれを用いた無線通信装置
JP2005101734A (ja) 高出力増幅回路
US7332968B2 (en) Amplifier circuit having an impedance-controllable bias-boosting circuit
US7088183B2 (en) Bias circuit
EP1573901B1 (en) Amplifier circuit having an extended wilson current-mirror self-bias boosting circuit
JP3770306B2 (ja) ベースバイアス回路及びこのベースバイアス回路を用いた電力増幅器
US7012469B2 (en) Integrated circuit device having high efficiency at the time of low power output
US5430413A (en) High gain, low distortion, faster switching transistor
US5196809A (en) High gain, low distortion, faster switching transistor
US6614306B1 (en) Bias circuit for class AB high frequency amplifiers
EP0645883A2 (en) Wideband amplifier circuit
KR20030089950A (ko) 역방향 다이오드를 이용한 전치 왜곡형 선형 전력 증폭기
JP2007110379A (ja) 高周波高出力増幅器

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041201

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041210

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20041216

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071224

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081224

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091224

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091224

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101224

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees