JP3625703B2 - 不揮発性半導体メモリ - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、不揮発性半導体メモリに関し、特に、LSIメモリの一種であるEPROM(Erasable and Programmable ROM),EEPROM(Electrical Erasable and Programmable ROMあるいはフラッシュEEPROMあるいはフラッシュメモリと称される。)等のフローテイングゲートに電荷を蓄積し、電荷の有無による閾値電圧の変化をコントロールゲートによって検出することで、データの記憶を行わせる不揮発性半導体メモリに関する。
【0002】
【従来の技術】
ここで、メモリセルなどに欠陥があり、使用できない場合に、そのメモリセルに代り、あらかじめ半導体メモリ内に作ってある冗長メモリセルを使用する技術が知られている。不良のメモリセルのアドレスは、半導体メモリの製造時に判る。その不良のメモリセルのアドレスは、冗長アドレス発生回路に記憶させておく。そして、通常のアドレス発生回路から発生するアドレスが不良のアドレスであるか否かを常時観測し、不良アドレスであれば冗長メモリセルをアドレス指定するように切り換えている。即ち、不良のメモリセルのアドレスラインは、使用しないようにしている。
【0003】
図3はそのような冗長機能を備えた半導体メモリのアドレス指定回路の一部を示す回路図である。
【0004】
図3のアドレス発生回路(1)にはアドレス指定用のアドレスデータが加わる。冗長アドレス発生回路(2)には、半導体メモリの製造時の試験により判る不良のメモリセルのアドレスデータが記憶される。比較器(3)は、アドレス発生回路(1)の出力信号と前記冗長アドレス発生回路(2)の出力信号の比較を行い、アドレス発生回路(1)から不良のメモリセルのアドレスデータが発生すると「H」レベルの信号を発生し、それ以外は「L」レベルの信号を発生する。第1の切換手段(4)は、比較器(3)の出力信号に応じて前記アドレス発生回路(1)の出力信号を選択するか、非選択とするかを決める。デコーダは第1の切換手段(4)からのアドレスデータをデコードする。このデコードには正常なメモリセルを指定するためのデコードと不良のメモリセルを指定するためのもの、即ち、冗長用のアドレスをデコードするものとがある。このデコーダ(5A),(5B),(5C)及び(5D)はワードラインWL0乃至WL3に接続される。図面では省略しているが、実際には、デコーダとWLは更に多くの数のものが接続されている。
【0005】
冗長アドレスではない、通常のアドレス発生時には、アドレス発生回路(1)の出力信号が第1の切換手段(4)を通過してデコーダ(5A),(5B),(5C)及び(5D)に加わり、選択されたWLに対応するデコーダの出力が「H」レベルとなる。これによりメモリセルの指定が行われる。
【0006】
次に、冗長アドレスがアドレス発生回路(1)から発生すると、比較器(3)から「H」レベルが発生し、第1の切換手段(4)を構成する各アンドゲートに「L」レベルが加わる。このため、アドレス発生回路(1)からのアドレスはデコーダ(5A),(5B),(5C)及び(5D)に加わらなくなる。
【0007】
一方、比較器(3)からの「H」レベルはアンドゲート(6)に加わり、アンドゲート(6)を導通状態にする。すると、冗長アドレス発生回路(2)からアドレス指定信号がアンドゲート(6)を介して冗長ワードラインRWLに伝わり、冗長メモリセルがアドレス指定できることになる。
【0008】
従って、図3の装置によれば冗長アドレスの指定を行うことができる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記半導体メモリが、いわゆるフラッシュメモリと呼ばれる不揮発性半導体メモリである場合に、以下に説明する問題が発生することがあった。
【0010】
先ず、このような不揮発性半導体メモリについて図4を参照しながら説明する。尚、不揮発性半導体メモリセルは、スプリットゲート型とスタックトゲート型に大きく分類されるが、以下では例えば、WO92/18980公報(G11C 13/00)に開示されているスプリットゲート型の不揮発性半導体メモリについて説明する。
【0011】
図4は上記不揮発性半導体メモリ(20A),(20B),(20C)及び(20D)がマトリクス配置されたメモリセルアレイ21を示す回路図、図5はその11つのメモリセルの構造説明図である。
【0012】
図4において、隣り合う不揮発性半導体メモリ(20A)及び(20B)、(20C)及び(20D)同士は、そのソース領域同士がソースラインSLに共通接続され、そのドレイン領域はそれぞれビットライン(BL0,BL2)に接続されている。また、不揮発性半導体メモリ(20A)及び(20C)、(20B)及び(20D)のコントロールゲートCGは、それぞれワードライン(WL0,WL1)に接続されている。
【0013】
ここで、このような(スプリットゲート)構造の不揮発性半導体メモリの短絡不良について説明する。
【0014】
本構造では図5に示すようにコントロールゲートCGがフローティングゲートFGの上部から側部にかけて形成されているため(スタック構造のものは、一般的にフローティングゲート上にコントロールゲートが積層されている)、特にビットラインBLとの間隔が狭くなり(場合、素子の微細化に伴い、更に厳しくなる方向にある)、例えばビットライン(BL0,BL2)形成用のコンタクト孔形成時のマスクずれ等により、コントロールゲートCG(ワードラインWL)とビットラインBLワードライン(コントロールゲートCG)との間隔が極めて小さくなるため、短絡が生じ易い。このような短絡現象が生じると使用できないため、当該セルは不良セルとして、取り扱われる。
【0015】
以下、このような構成の不揮発性半導体メモリへのデータ(電荷)の書き込み・読み出し・消去方法について説明する。尚、以下の説明では、不揮発性半導体メモリ(20A)へのデータ(電荷)の書き込み・読み出し・消去方法について説明する。
【0016】
先ず、書き込み方法は、例えばビットラインBL0、ソースラインSL、そしてワードラインWL0にそれぞれ0V、11V、2Vを印加する。これにより、高電圧が印加されたソースラインSLにより、このソースラインSLを構成する拡散層(図示せず)と強く容量結合されたフローティングゲートFGの電位がおよそ9V程度に持ち上げられ、ドレイン領域とソース領域間に発生したホットエレクトロンがフローティングゲートFGに飛び込むことで、データの書き込みが行われる。
【0017】
また、読み出し方法は、例えばビットラインBL0、ソースラインSL、そしてワードラインWL0にそれぞれ2V、0V、4Vを印加する。このとき、ドレイン領域からソース領域に読み出し電流が流れるか否かにより、フローティングゲートFGにデータが書き込まれているか否かが判定される。即ち、読み出し電流が流れないときは、フローティングゲートFGにデータが書き込まれていることになる。
【0018】
更に、消去方法は、例えばビットラインBL0、ソースラインSL、そしてワードラインWL0にそれぞれ0V、0V、14Vを印加する。これにより、前記フローティングゲートFGに書き込まれた電荷が、コントロールゲートCG側に引き抜かれることで、データが消去される。
【0019】
上記構成の不揮発性半導体メモリにおいて、そのデータ消去時に全てのワードラインWLを同時に選択する必要がある場合に、その中にリーク性の不良セルが存在すると、消去に必要な高電圧(上記説明では、14V)を各コントロールゲートCGに供給できなくなってしまう。
【0020】
図3において、消去時には、デコーダ(5A),(5B),(5C)及び(5D)は全て選択される。そして、高電圧発生回路(8)からの高電圧は、デコーダ(5A),(5B),(5C)及び(5D)を通じてワードラインWL0,WL1,WL2及びWL3に印加される。ここで、ワードラインWL0,WL1,WL2及びWL3が接続されたいずれかのメモリセル(冗長対象のセル)内にリーク不良があると、ワードラインWL0,WL1,WL2及びWL3の電圧が14V程度まで上昇することができなくなる。すると、WL0,WL1,WL2及びWL3が接続された全てのメモリセルが正常に消去できなくなる。
【0021】
ここで、リーク不良とは、ワードラインWLにおける短絡のことで、ワードラインWLに過大電流が流れてしまう現象であり、その原因として、例えばワードラインWLとビットラインBLとが接触不良を起こした場合等が考えられる。
【0022】
ここで、不揮発性半導体メモリには、記憶領域をセクターと呼ばれる複数の領域に分けるものがある。1つのセクターは一括消去が可能な最小単位である。このセクターを使えば、部分消去が容易になる。
【0023】
その一方でチップ全体を消去するチップ消去を行いたい場合もある。その消去方法としては、セクター毎に順次消去していく方法も考えられるが、トータルの消去時間が長くなる。そのため、複数のセクターを一括で消去したい。
【0024】
しかし、チップ全体の中には、上記したようにリーク不良を有するセルを持つセクターも含まれる可能性がある。(不良セクターは冗長セクターに置き換えられるが、チップ全体の一括消去動作時には消去対象に含まれている)。そのようなセクターが入っていると、上述したように各コントロールゲートCGに消去に必要な高電圧を供給できなくなってしまう。即ち、冗長対象となっている不良セクターが正常セクターに悪影響を与えてしまうことになる。
【0025】
その結果、本来の意味での一括消去に困難な状況が発生していた。
【0026】
そこで、本発明では冗長対象となっている不良セクターの存在の有無に係わらず、一括消去可能な不揮発性半導体メモリを提供することを目的とする。
【0027】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上述の課題を解決するために為されたもので、図1に示すように記憶したデータの一括消去を行うことができるセクター(9A),(9B),(9C)を複数領域有する不揮発性半導体メモリ(20A),(20B),(20C),(20D)(図4参照)であり、不揮発性半導体メモリのデータ消去用に使う高電圧を発生する高電圧発生回路8と、該高電圧発生回路8と前記複数領域のセクター(9A),(9B),(9C)との間に各々接続される複数個のトランジスタ(10A),(10B),(10C)とを備え、データの一括消去時には前記複数個のトランジスタ(10A),(10B),(10C)を定電流動作させ、前記複数領域のセクター(9A),(9B),(9C)に流れる電流を制限したことを特徴とする。
【0028】
また、上記不揮発性半導体メモリ(20A),(20B),(20C),(20D)において、図2に示すようにデータの非消去時に、前記複数個のトランジスタ(10A),(10B),(10C)による定電流動作を解除するスイッチ19を各々備えたことを特徴とする。
【0029】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の不揮発性半導体メモリの第1の実施形態について図1を参照しながら説明する。
【0030】
図1において、(8)は不揮発性半導体メモリのワードラインWLに供給する消去電圧(本実施形態では、14V)を発生する高電圧(消去)発生回路である。尚、図示した説明は省略するが、データの書き込み時および及び読み出し時に、前記ワードラインWLにそれぞれ書き込み電圧及び読み出し電圧を発生する書き込み電圧発生回路および及び読み出し電圧発生回路とがあり、データの書き込み・読み出し・消去の各動作に応じて、スイッチ(図示せず)の切り替えにより、何れかの電圧発生回路が選択接続されて、この選択された所望の電圧発生回路から所望の電圧が前記ワードラインWLに供給される。
【0031】
本発明の実施形態の不揮発性半導体メモリの特徴は、一括消去が可能な最小単位である第1,第2及び第3セクター(9A),(9B)及び(9C)と、前記高電圧発生回路8との間に各々定電流トランジスタである第1,第2及び第3トランジスタ(10A),(10B)及び(10C)を接続し、第1乃至第3のセクターに定電流を供給するようにしたものである。
【0032】
ここで、定電流発生回路、例えば、カレントミラー回路(11),(17)及び(18)は前記トランジスタ(10A),(10B)及び(10C)に流れる電流が定電流となるように制御する回路であり、前記トランジスタ(10A),(10B)及び(10C)は、該カレントミラー回路の一部を構成している。
【0033】
前記カレントミラー回路(11),(17)及び(18)の構成は、従来周知な構成であるため、その説明は簡略化するが、そのソース電極に電源電圧Vddが接続された第1のPチャネル型MOSトランジスタ(Tr1)のゲート電極に基準電圧Vrefがゲート入力されることで、この基準電圧Vrefに基づいた一定電流がこの第1のPチャネル型MOSトランジスタ(Tr1)に流れ、この定電流によりそのドレイン領域がグランドに接続された第2のPチャネル型MOSトランジスタ(Tr2)に流れる電流が決まる。そして、この第2のPチャネル型MOSトランジスタ(Tr2)とそのゲート電極同士が共通接続された第3のPチャネル型MOSトランジスタ(Tr3)に流れる電流が決まることで、この第3のPチャネル型MOSトランジスタ(Tr3)と直列接続された第4のPチャネル型MOSトランジスタ(Tr4)に流れる電流が決まる。従って、この第4のPチャネル型MOSトランジスタ(Tr4)とそのゲート電極同士が共通接続された前記トランジスタ(10A)に流れる電流が決定される。即ち、前記基準電圧Vrefに基づいた一定電流が、前記トランジスタ(10A)に流れることになる。
【0034】
また、前記カレントミラー回路(17),(18)を構成する前記トランジスタ(10B)及び(10C)にも、同様に定電流が流れる。
【0035】
尚、図1において、第1乃至第3セクター(9A),(9B)及び(9C)は、実際には更に多くのセクターが接続されており、第1セクター(9A)内のワードラインWL0,WL1も実際には更に多くのワードラインWLが接続され、各ワードラインWLは図4に示したように各不揮発性半導体メモリ20A,20B,20C,20D等に接続されているが、図面では便宜的に省略している。
【0036】
また、第2及び第3セクター(9B)及び(9C)の各セクター内部は、第1セクター(9A)内の構成と同様である。
【0037】
さて、図1において、その一括消去時には、ワードラインWL0及びWL1に、高電圧発生回路(8)からの高電圧(14V程度)を加える必要がある。この高電圧は全てのセクターに共通に使用される。即ち、第1トランジスタ(10A)を通じて第1セクター(9A)に高電圧が加えられ、第2トランジスタ(10B)を通じて第2セクター(9B)に高電圧が加えられ、第3トランジスタ(10C)を通じて第3セクター(9C)に高電圧が加えられる。
【0038】
そして、一括消去時にはロウデコーダ14から「L」レベルの電圧が、直列接続され、そのゲート電極同士が共通接続されたPチャネル型MOSトランジスタとNチャネル型MOSトランジスタにゲート入力されるため、トランジスタ15A及び16Aがオンし、トランジスタ15B及び16Bがオフする。このため、第1トランジスタ(10A)から供給される高一定電圧がワードラインWL0、WL1印加されることになる。
【0039】
このとき、本発明では第1トランジスタ(10A)を飽和領域で動作させる。即ち、第1トランジスタ(10A)が飽和領域で動作すると、第1トランジスタ(10A)を流れる電流は、一定であるので第1セクター(9A)内に不良のワードラインWLが含まれていても、第1トランジスタ(10A)を流れる電流は、一定値に制限されている。このため、高電圧発生回路8から供給された高電圧の電位が低下することはない。
【0040】
この本発明の特徴を為す働きは、第1乃至第3セクター(9A),(9B)及び(9C)において共通である。
【0041】
第1トランジスタ(10A)を飽和領域で動作させるために、図1では第1トランジスタ(10A)をカレントミラー回路11の一部として使用している。第1トランジスタ(10A)に流れる電流は、ゲートに基準電圧Vrefが印加されるトランジスタ(Tr1)から作られる。そのため、基準電圧Vrefのレベルにより第1トランジスタ(10A)に流れる電流を任意に制御できる。また、トランジスタ(10B)及び(10C)も飽和領域で動作するようにカレントミラー回路17、18により制御される。
【0042】
従って、図1に示す本発明の不揮発性半導体メモリによれば、全てのセクター内のデータを一括消去する際に、例えば、あるセクター内に不良セクターが存在していたとしても、従来のようにリーク電流により消去に必要な高電圧の電位が降下してしまい、全てのセクターを一括して消去することができないという問題を回避できる。
【0043】
ところで、トランジスタ(10A)乃至(10C)の存在は、各セクター(9A)乃至(9C)に対する通常のアクセス動作の点からは不利となる。即ち、メモリセルに対する制御信号のタイミングが遅くなってしまうという新たな問題が発生することになる。
【0044】
そこで、本発明の第2の実施形態では、上記新たな問題を抑止する発明について図2を参照しながら説明する。尚、図2は第2の実施形態の特徴を為すカレントミラー回路11A部分のみ抜き出した状態を示しており、他の構成は図1の構成と同様である。
【0045】
一括及び各セクター毎の消去時以外、即ち、書き込み時及び読み出し時にはトランジスタ(10A)乃至(10C)を完全なオン状態に切り換え、三極管領域で動作させるようにして、トランジスタ(10A)乃至(10C)の存在による悪影響(アクセス動作の遅れ)の度合いを低減化するものである。
【0046】
そのため、本発明では図2のようにトランジスタ(10A)のゲート電極とグランドとの間にスイッチ19を設け、内部ステータス信号(いわゆる不揮発性半導体メモリの各種動作状態の確認信号)に基づいて、消去時には前記スイッチ19を前記第4のPチャネル型MOSトランジスタ(Tr4)側に閉動作させて前述したようにトランジスタ(10A)を飽和領域で動作させ、それ以外の非消去時には前記スイッチ19をグランド側に閉動作させる。これにより、消去時以外はトランジスタ(10A)を完全なオン状態に切り換えて、三極管領域で動作させる(カレントミラー回路11による定電流供給動作を解除する。)。尚、図1に示したカレントミラー回路17,18も同様な構成とすることで、トランジスタ(10B)及び(10C)に流れる電流値を調整することができる。
【0047】
また、本発明は冗長機能を備えた不揮発性半導体メモリにおいて、冗長対象となっている不良セクターの存在の有無に係わらず、一括消去を可能にするものであり、その適用は本実施形態で説明したスプリットゲート型の不揮発性半導体メモリに限定されるものではなく、スタックゲート型の不揮発性半導体メモリであったり、また、前述したフローティングゲートやコントロールゲートの他に、さらに専用の消去ゲートを有した構造のメモリセルにも適用可能である。また定電流回路(カレントミラー回路)の配設箇所についても、本実施形態では特にワードラインWLとビットラインBLとの間での設計マージンが厳しく、この間で短絡が生じ易いためにワードラインWLに設置したが、これに限定されることなく、セル構造に応じて短絡を生じ易い箇所に配設すれば良い。
【0048】
【発明の効果】
本発明によれば、不揮発性半導体メモリにおける一括消去時に、あるセクター内に不良セクターが存在していたとしても、消去に必要な高電圧を維持できるので全てのセクターを一括して消去することができる。
【0049】
また、本発明によれば、高電圧発生回路とセクターとの間に接続されるトランジスタを飽和領域で動作させるだけで、上記効果を達成することができるので、複雑な回路構成に伴い素子数が増大するといった弊害を招くことはない。
【0050】
更に、本発明によれば、高電圧発生回路とセクターとの間に接続されるトランジスタを非消去時には完全にオン動作させているので、消去時以外には十分な電流を流すことができ、応答スピードの低下を抑止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態の不揮発性半導体メモリを示す回路図である。
【図2】本発明の第2の実施形態の不揮発性半導体メモリを示す回路図である。
【図3】従来の不揮発性半導体メモリを示す回路図である。
【図4】従来の半導体メモリを示す回路図である。
【図5】スプリットゲート構造の不揮発性半導体メモリの断面説明図である。
【符号の説明】
8 高電圧発生回路
9A 第1セクター
9B 第2セクター
9C 第3セクター
10A 第1トランジスタ
10B 第2トランジスタ
10C 第3トランジスタ
11 カレントミラー回路
11A カレントミラー回路
17 カレントミラー回路
18 カレントミラー回路
Claims (4)
- 記憶したデ−タの一括消去を行うことができるセクタ−を複数領域有する不揮発性半導体メモリであり、不揮発性半導体メモリのデ−タ消去用に使う高電圧を発生する高電圧発生回路と、前記高電圧発生回路と前記複数領域のセクタ−との間に各々接続される複数個の定電流回路とを備え、デ−タの一括消去時には前記複数個の定電流回路を動作させ、前記複数領域のセクタ−に流れる電流を制限したことを特徴とする不揮発性半導体メモリ。
- 前記定電流回路はカレントミラ−回路であり、該カレントミラ−回路の入力電流に応じた出力電流を流す定電流トランジスタが前記複数領域のセクタ−に接続されていることを特徴とする請求項1に記載の不揮発性半導体メモリ。
- デ−タの非消去時に前記複数個のトランジスタによる定電流動作を解除するスイッチを備えたことを特徴とする請求項1に記載の不揮発性半導体メモリ。
- 前記不揮発性メモリは、スプリットゲ−ト構造のEEPROMであり、前記定電流回路は前記EEPROMのワ−ドラインに接続されていることを特徴とする請求項1に記載の不揮発性半導体メモリ。
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