JP3606696B2 - レーザ駆動制御方法および装置並びに放射線画像読取装置 - Google Patents
レーザ駆動制御方法および装置並びに放射線画像読取装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3606696B2 JP3606696B2 JP00181697A JP181697A JP3606696B2 JP 3606696 B2 JP3606696 B2 JP 3606696B2 JP 00181697 A JP00181697 A JP 00181697A JP 181697 A JP181697 A JP 181697A JP 3606696 B2 JP3606696 B2 JP 3606696B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- temperature
- laser diode
- control means
- light output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/13—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
- H01S3/131—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation
- H01S3/1312—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation by controlling the optical pumping
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/02—Constructional details
- H01S3/04—Arrangements for thermal management
- H01S3/042—Arrangements for thermal management for solid state lasers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Lasers (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、固体レーザ結晶をレーザダイオードから発せられたレーザビームによって励起するレーザダイオード励起固体レーザの光出力を制御するレーザ駆動制御方法およびその装置に関し、より詳細には所定の指令により該レーザの光出力を回復させるレーザ駆動制御方法およびその装置、並びにこのレーザ駆動制御装置を使用した励起光源を備えた放射線画像読取装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
例えば特開昭６２−１８９７８３ 号公報に示されるように、ネオジウム等の希土類が添加された固体レーザ結晶を、レーザダイオードから発せられた光によって励起するレーザダイオード励起固体レーザ（以下、単に「レーザ」という。）が公知となっている。この種のレーザにおいては、より短波長のレーザビームを得るために、その共振器内に非線形光学結晶を配置して、固体レーザビームを第２高調波や和周波等に波長変換することも広く行なわれており、例えば第２高調波を取り出すものはＳＨＧレーザといわれている。
【０００３】
また、このレーザ（上述のように波長変換するものも含む。以下同様である。）においては、励起源であるレーザダイオードの光出力および発振波長の変動を抑えるため、さらに上述の波長変換を行なう場合は非線形光学結晶において所定の位相整合状態を維持するために、レーザダイオード、固体レーザ結晶および共振器の部分を所定温度に温度調節するのが一般的である。この温度調節は通常、上記の各部分を電子冷却素子（ペルチェ素子）の冷却面上に載置するとともに、レーザダイオードや共振器内の温度を検出し、その検出温度に基づいて電子冷却素子の駆動を最終目的温度値に保つようにフィードバック制御することによってなされる。また、上記レーザの光出力を一定に保つためには、所定温度に保つ温度調節のほかに光出力を一定に保つＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御を行うのが一般的である。
【０００４】
そして、この種のレーザは、高出力の光出力を得るにも適することから、高出力レーザとしての利用が広がっており、例えば、放射線画像読取装置において、このレーザの高出力性に着目し、当該装置の励起光源としてこのレーザが使用されている。尚、「放射線画像読取装置」とは、放射線画像情報が蓄積記録された蓄積性蛍光体シートに励起光を照射する励起光照射手段と、上記蓄積性蛍光体シートに蓄積記録された上記放射線画像情報に応じて輝尽発光する輝尽発光光を検出してこの放射線画像情報を読み取る読取手段とを有するものである（例えば、特公平 ３−７９６９５号、特開平７−１９１４２１号等）。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、このレーザは一方においてＡＰＣ制御を行っているにも拘わらず経時的にその光出力が徐々に低下していくという現象を生じる。この原因については、種々考察されてはいるものの、未だ解明されていないところである。
【０００６】
上述の放射線画像読取装置の励起光源としてこのレーザを使用した場合、その光出力の低下は、即画質の劣化につながることから、上記現象が装置の性能を左右することとなる。そこで、かねてより、上記現象の原因解明と共に、この現象が生じたときの対処方法の探求もなされている。
【０００７】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、レーザの光出力が上述のように経時的な低下を生じた場合に、その光出力を回復させるための駆動制御方法およびその装置並びにこのレーザ駆動制御装置を使用した励起光源を備えた放射線画像読取装置を提供することを目的とするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本願出願人は、上記現象の原因解明およびその対処方法の探求において、上記レーザのレーザダイオードに流れる電流値が所定の値で一定している場合には、（１） さらにレーザダイオードおよび共振器の温度が所定の値で一定している場合には、該レーザの光出力が経時的に低下する、（２） レーザダイオードおよび共振器の温度によって該レーザの光出力が変化し、しかも該レーザの光出力が最大となる所定の温度が存在する、（３） 前記最大となる所定の温度は、レーザダイオードと共振器とでは必ずしも同一でない、ということを確認した。すなわち、上記レーザの駆動においては、レーザダイオードおよび共振器の温調温度の最適な値が経時的に変化するということを見いだした。
【０００９】
本発明によるレーザ駆動制御方法およびその装置は、かかる知見に基づいて、上記レーザの光出力が経時的に低下した場合に、該レーザのレーザダイオードおよび共振器を最適な温調状態に再度設定し直すことにより、該レーザの光出力を回復させることを特徴とするものである。以下、その手段について説明する。
【００１０】
本発明による第１のレーザ駆動制御方法は、固体レーザ結晶をレーザダイオードから発せられたレーザビームによって励起するレーザダイオード励起固体レーザの光出力を基準出力値に保つＡＰＣ制御と、前記レーザダイオードに流れる電流量を基準電流値に保つＡＣＣ制御との何れか１つの選択が可能であり、選択された制御方法によって前記レーザの光出力を制御するレーザ駆動制御方法であって、前記レーザダイオードの温度を一定に保つ第１の温度制御手段と、前記レーザの共振器の温度を一定に保つ第２の温度制御手段とを有し、定常状態のときは前記ＡＰＣ制御を選択し、所定の指令があったときは前記ＡＣＣ制御を選択し、前記レーザダイオードの温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記レーザダイオードの温度を検出し、該レーザダイオードの温度を前記検出した温度に設定し、前記共振器の温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記共振器の温度を検出し、該共振器の温度を前記検出した温度に設定する、というシーケンス制御によって、前記レーザの光出力を回復させた後、前記ＡＰＣ制御を選択することを特徴とするものである。
【００１１】
尚、上記基準電流値は、上記所定の指令を受ける直前に上記レーザダイオードに流れていた電流値と概ね同等の電流値であることが望ましい。
【００１２】
また、本発明による第２のレーザ駆動制御方法は、固体レーザ結晶をレーザダイオードから発せられたレーザビームによって励起するレーザダイオード励起固体レーザの光出力を基準出力値に保つＡＰＣ制御と、前記レーザダイオードの光出力を第２の基準出力値に保つダイオードＡＰＣ制御との何れか１つの選択が可能であり、選択された制御方法によって前記レーザの光出力を制御するレーザ駆動制御方法であって、前記レーザダイオードの温度を一定に保つ第１の温度制御手段と、前記レーザの共振器の温度を一定に保つ第２の温度制御手段とを有し、定常状態のときは前記ＡＰＣ制御を選択し、所定の指令があったときは前記ダイオードＡＰＣ制御を選択し、前記レーザダイオードの温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記レーザダイオードの温度を検出し、該レーザダイオードの温度を前記検出した温度に設定し、前記共振器の温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記共振器の温度を検出し、該共振器の温度を前記検出した温度に設定する、というシーケンス制御によって、前記レーザの光出力を回復させた後、前記ＡＰＣ制御を選択することを特徴とするものである。
【００１３】
尚、上記第２の基準出力値は、上記所定の指令を受ける直前に上記レーザダイオードが発光していた光出力値と概ね同等の光出力値であることが望ましい。
【００１４】
さらに、上記レーザの光出力を回復させた後、上記ＡＰＣ制御を選択したとき、上記基準出力値をこのＡＰＣ制御を選択する直前に上記レーザが発光していた光出力値と概ね同等の光出力値に設定すればなお望ましい。
【００１５】
また、上記いずれのレーザ駆動制御方法においても、上記所定の指令は、一定期間毎、上記レーザを発光させる毎、又は、このレーザの光出力が所定の限度値を下回ったときに発せられることが望ましい。
【００１６】
一方、本発明による第１のレーザ駆動制御装置は、上記第１の方法に従ってレーザの光出力の低下を回復させることを特徴とするものであって、固体レーザ結晶をレーザダイオードから発せられたレーザビームによって励起するレーザダイオード励起固体レーザの光出力を基準出力値に保つＡＰＣ制御手段と、前記レーザダイオードに流れる電流量を基準電流値に保つＡＣＣ制御手段と、前記ＡＰＣ制御手段と前記ＡＣＣ制御手段との何れか１つを選択する選択手段とからなり、選択された制御手段によって前記レーザの光出力を制御するものであり、前記レーザダイオードの温度を一定に保つ第１の温度制御手段と、前記レーザの共振器の温度を一定に保つ第２の温度制御手段とを有し、定常状態のときは前記ＡＰＣ制御手段を選択し、所定の指令があったときは前記ＡＣＣ制御手段を選択し、前記レーザダイオードの温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記レーザダイオードの温度を検出し、該レーザダイオードの温度を前記検出した温度に設定し、前記共振器の温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記共振器の温度を検出し、該共振器の温度を前記検出した温度に設定することにより前記レーザの光出力を回復させた後、前記ＡＰＣ制御手段を選択する、シーケンスコントローラ、光検出器等からなる光出力回復手段とを有することを特徴とするものである。
【００１７】
尚、上記基準電流値は、上記所定の指令を受ける直前に上記レーザダイオードに流れていた電流値と概ね同等の電流値であることが望ましい。
【００１８】
また、本発明による第２のレーザ駆動制御装置は、上記第２の方法に従ってレーザの光出力の低下を回復させることを特徴とするものであって、固体レーザ結晶をレーザダイオードから発せられたレーザビームによって励起するレーザダイオード励起固体レーザの光出力を基準出力値に保つＡＰＣ制御手段と、前記レーザダイオードの光出力を第２の基準出力値に保つダイオードＡＰＣ制御手段と、前記ＡＰＣ制御手段と前記ダイオードＡＰＣ制御手段との何れか１つを選択する選択手段とからなり、選択された制御手段によって前記レーザの光出力を制御するものであり、前記レーザダイオードの温度を一定に保つ第１の温度制御手段と、前記レーザの共振器の温度を一定に保つ第２の温度制御手段とを有し、定常状態のときは前記ＡＰＣ制御手段を選択し、所定の指令があったときは前記ダイオードＡＰＣ制御手段を選択し、前記レーザダイオードの温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記レーザダイオードの温度を検出し、該レーザダイオードの温度を前記検出した温度に設定し、前記共振器の温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記共振器の温度を検出し、該共振器の温度を前記検出した温度に設定することにより前記レーザの光出力を回復させた後、前記ＡＰＣ制御手段を選択する、シーケンスコントローラ、光検出器等からなる光出力回復手段とを有することを特徴とするものである。
【００１９】
尚、上記第２の基準出力値は、上記所定の指令を受ける直前に上記レーザダイオードが発光していた光出力値と概ね同等の光出力値であることが望ましい。
【００２０】
さらに、光出力回復手段は、上記レーザの光出力を回復させた後上記ＡＰＣ制御手段を選択したとき、上記基準出力値をこのＡＰＣ制御手段を選択する直前に上記レーザが発光していた光出力値と概ね同等の光出力値に設定するものであればなお望ましい。
【００２１】
また、上記いずれのレーザ駆動制御装置においても、一定期間毎に、前記レーザを発光させる毎に、または、このレーザの光出力が所定の限度値を下回ったときに、上記所定の指令を自動的に発する指令手段を有するものであればなお良い。
【００２２】
また、本発明による放射線画像読取装置は、放射線画像情報が蓄積記録された蓄積性蛍光体シートに励起光を照射する励起光照射手段と、
前記蓄積性蛍光体シートに蓄積記録された前記放射線画像情報に応じて輝尽発光する輝尽発光光を検出して該放射線画像情報を読み取る読取手段とを有するものであって、上記励起光照射手段（例えば、光ビーム走査装置など）が、上述のレーザ駆動制御装置により構成される励起光光源を有することを特徴とするものである。
【００２３】
【発明の効果】
本発明のレーザ駆動制御方法およびその装置によれば、レーザの光出力が経時的に低下した場合であっても、所定の指令を受けることによって、上述の簡単な手順に従い再度レーザダイオードおよび共振器の温度を最適な状態となるように設定し直すことができるので、レーザの光出力を容易に回復させることが可能となる。またその光出力も所定状態においての最適な出力とすることもできるから、回復させた後の光出力も暫くの間は安定することが期待できる。また、所定の指令は、光出力が低下したことを操作者が検知して、マニュアルにより発することもできるが、例えば、一定期間毎に、上記レーザを発光させる毎に、又は、このレーザの光出力が所定の限度値を下回ったとき等に自動的に発せられるようにすることもできるので、上記光出力の回復のために操作者を煩わせることもない。
【００２４】
従って、本発明によるレーザ駆動制御方法および装置によれば、上述の説明で明らかなように、レーザの光出力が経時的に低下しても容易にその出力を回復させることが可能となる。また、そのための構成も簡易であり、しかも、特に特殊な装置を必要とすることもなく安価に実現することができるから、実用上、工業上の価値は大きい。
【００２５】
例えば、本発明によるレーザ駆動制御装置を、放射線画像読取装置における画像読取部（例えば、光ビーム走査装置等）の励起光源に使用することも可能であり、レーザの光出力の低下を回復させる機能を有する特徴ある装置を提供することが可能となる。
【００２６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明のレーザ駆動制御方法および装置の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明による第１の実施の形態であるレーザ駆動制御装置の平面図とあわせて回路構成を表すブロック図を示したものであり、図２は当該レーザ駆動制御装置の一部破断側面図である。このレーザ駆動制御装置は、指令手段から発せられる指令を受け、レーザの光出力を回復させるシーケンス制御を行うものである。
【００２７】
レーザは、励起光としてのレーザビームＬ１を発するチップ状態の半導体レーザ１１と、発散光である上記レーザビームＬ１を集光する例えば屈折率分布型ロッドレンズ等からなる集光レンズ１２と、ネオジウム（Ｎｄ）がドーピングされた固体レーザ媒質であるＹＡＧ結晶（以下、「Ｎｄ：ＹＡＧ結晶」という。）１３と、このＮｄ：ＹＡＧ結晶１３の前方側（図中右方側）に配された共振器ミラー１４と、この共振器ミラー１４とＮｄ：ＹＡＧ結晶１３との間に配されたＫＮｂＯ３ 結晶（以下、「ＫＮ結晶」という。）１５とを有している。
【００２８】
半導体レーザ１１としては、波長８０９ ｎｍのレーザビームＬ１を発するものが用いられている。Ｎｄ：ＹＡＧ結晶１３は入射したレーザビームＬ１によってネオジウムイオンが励起されて、波長９４６ ｎｍの光を発する。Ｎｄ：ＹＡＧ結晶１３の励起光入射側の端面１３ａには、波長９４６ ｎｍの光は良好に反射させ（反射率９９．９％以上）、波長８０９ ｎｍの励起用レーザビームＬ１は良好に透過させる（透過率９９％以上）コーティングが施されている。一方共振器ミラー１４のミラー面１４ａには、波長９４６ ｎｍの光は良好に反射させ下記の波長４７３ ｎｍの光は透過させるコーティングが施されている。本実施の形態においては、Ｎｄ：ＹＡＧ結晶１３と共振器ミラー１４とによってファブリー・ペロー型共振器が構成され、波長９４６ ｎｍの光は上記各面１３ａ、１４ａ間に閉じ込められてレーザ発振を引き起こし、こうして発生したレーザビームＬ２はＫＮ結晶１５により波長が１／２すなわち４７３ ｎｍの第２高調波Ｌ３に変換され、主にこの第２高調波Ｌ３が共振器ミラー１４から出射する。すなわち、本レーザはＳＨＧレーザとして機能する。
【００２９】
半導体レーザ１１および集光レンズ１２はホルダー２０に固定され、このホルダー２０が基準板２２に固定されている。この基準板２２は、熱伝導率が高くて温度勾配が生じ難い銅等からなり、装置載置面２６上に固定されたペルチェ素子２４の上に固定されている。また、温度検出用のサーミスタ４０が基準板２２に固定され、サーミスタ４０は温度制御回路４２に接続され、ペルチェ素子２４が温度制御回路４２によって駆動制御される。半導体レーザ１１および集光レンズ１２は、基準板２２に固定されたサーミスタ４０によりその温度が検出される。温度制御回路４２はフィードバック型の温度制御回路であり、ペルチェ素子２４を駆動制御することにより、半導体レーザ１１および集光レンズ１２をシーケンスコントローラ４５により設定される基準温度Ｔ１に保つ。
【００３０】
一方、上記共振器の部分を構成するＮｄ：ＹＡＧ結晶１３、ＫＮ結晶１５および共振器ミラー１４は別のホルダー２１に固定され、このホルダー２１が別の基準板２３に固定されている。この基準板２３も、熱伝導率が高くて温度勾配が生じ難い銅等からなり、装置載置面２６上に固定された別のペルチェ素子２５の上に固定されている。また、温度検出用のサーミスタ４１が別の基準板２３に固定され、サーミスタ４１は温度制御回路４３に接続され、ペルチェ素子２５が温度制御回路４３によって駆動制御される。共振器の部分は、基準板２３に固定されたサーミスタ４１によりその温度が検出される。温度制御回路４３はフィードバック型の温度制御回路であり、ペルチェ素子２５を駆動制御することにより、共振器の部分をシーケンスコントローラ４５により設定される基準温度Ｔ２に保つ。
【００３１】
次に、レーザ出力のＡＰＣ制御について説明する。装置載置面２６上には基準板２２、２３およびペルチェ素子２４、２５とは別体にしてホルダー３０が固定され、このホルダー３０にはダイクロイック・フィルター３１および部分透過ミラー３２が固定されている。ダイクロイック・フィルター３１は、第２高調波Ｌ３とともに共振器ミラー１４から出射した微弱なレーザビームＬ１およびレーザビームＬ２をカットする。そして第２高調波Ｌ３の進行方向に対して傾けて配された部分透過ミラー３２は、第２高調波Ｌ３の大半は使用光Ｌ３Ａとして透過させる一方、一部を検出光Ｌ３Ｂとして反射させる。なおホルダー３０には、部分透過ミラー３２によって分岐される前の第２高調波Ｌ３および、分岐された後の検出光Ｌ３Ｂを通過させるための孔３０ａが形成されている。
【００３２】
上記検出光Ｌ３Ｂは基準板２３の上に固定されたＡＰＣ用光検出器３３によって検出され、その出力信号Ｓ１はＡＰＣ回路３４に入力される。選択手段３７がＡＰＣ回路３４を選択している場合、ＡＰＣ回路３４は、シーケンスコントローラ４５により設定される基準値Ｒ１に該出力信号Ｓ１が安定するように選択手段３７を介して半導体レーザ１１の駆動電流を制御する。これにより、レーザビームＬ１の光出力が制御されて、第２高調波Ｌ３の出力が一定値に安定するようになる。
【００３３】
次に、半導体レーザ１１のＡＣＣ制御について説明する。半導体レーザ１１に流れる電流量は、この半導体レーザ１１に接続された図示しない電流検出手段（例えば検出抵抗など）によって検出され、その出力信号Ｓ２はＡＣＣ回路３６に入力される。選択手段３７がＡＣＣ回路３６を選択している場合、ＡＣＣ回路３６は、シーケンスコントローラ４５により設定される基準値Ｒ２に該出力信号Ｓ２が安定するように選択手段３７を介して半導体レーザ１１の駆動電流を制御する。これにより、半導体レーザ１１に流れる電流量が一定値に安定するように制御され、この電流量に応じた第２高調波Ｌ３の出力が得られる。従って、上記ＡＰＣ制御のように第２高調波Ｌ３の出力が完全に安定するように制御されているとは言えないまでも、ある程度安定した光出力が得られる。
【００３４】
次に、レーザの光出力の低下を回復させる方法について説明する。シーケンスコントローラ４５は、所定の指令を受けるまでは、上記選択手段３７によりＡＰＣ回路３４を選択し、上述のＡＰＣ制御によって第２高調波Ｌ３の出力を一定値に安定させる。
【００３５】
第２高調波Ｌ３の出力が低下した場合には、所定の指令を受けると後述の光出力回復処理を開始する。この所定の指令は、操作者よってマニュアルで発せられるようにすることが可能なのは言うまでもないが、指令手段４７を設け、出力信号Ｓ１をモニターし、出力信号Ｓ１が所定の限度値を下回ったときに発せられるようにすることもでき、また、レーザを起動（発光）させる毎に発せられるようにしたり、さらに、タイマーを設け一定期間毎に発せられるようにすることも可能である。
【００３６】
光出力回復処理は、シーケンスコントローラ４５の命令に基づき、以下のように行われる。第２高調波Ｌ３の出力が低下し所定の指令を受けると、シーケンスコントローラ４５は選択手段４７によりＡＣＣ回路３６を選択させる。このとき、半導体レーザ１１に流れる電流値が所定の指令を受ける直前にこの半導体レーザ１１に流れていた電流値と概ね同等の電流値となるように、シーケンスコントローラ４５が基準値Ｒ２を設定する。
【００３７】
次に、シーケンスコントローラ４５は、基準温度Ｔ１を少しずつ上昇又は下降させ、温度制御回路４２によって半導体レーザ１１および集光レンズ１２の温度を少しずつ変化させる。同時に、シーケンスコントローラ４５は、第２高調波Ｌ３の出力（すなわち出力信号Ｓ１）をモニターしており、出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ１ｍ を検索する。基準温度Ｔ１を上昇又は下降させただけでは最大点が検索できない場合には、各々逆方向へも変化させる。このようにして検索された出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ１ｍ を設定し、半導体レーザ１１および集光レンズ１２の温度がこの基準温度Ｔ１ｍ を保つように温度制御回路４２により温度調節をする。
【００３８】
次に、シーケンスコントローラ４５は、基準温度Ｔ２を少しずつ上昇又は下降させ、温度制御回路４３によって上記共振器の部分の温度を少しずつ変化させる。同時に、シーケンスコントローラ４５は、第２高調波Ｌ３の出力（すなわち出力信号Ｓ１）をモニターしており、出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ２ｍ を検索する。基準温度Ｔ２を上昇又は下降させただけでは最大点が検索できない場合には、各々逆方向へも変化させる。このようにして検索された出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ２ｍ を設定し、上記共振器の部分の温度がこの基準温度Ｔ２ｍ を保つように温度制御回路４３により温度調節をする。これにより、第２高調波Ｌ３の出力が最大となるように半導体レーザ１１、集光レンズ１２および共振器の部分の温度が調節され、その出力の低下が回復することとなる。
【００３９】
第２高調波Ｌ３の出力が回復した後には、さらに、シーケンスコントローラ４５は、選択手段４７によりＡＰＣ回路３４を選択させる。このとき、出力信号Ｓ１がこのＡＰＣ回路３４を選択する直前の値と概ね同等の値となるように、シーケンスコントローラ４５が基準値Ｒ１を設定する。これにより、第２高調波Ｌ３の出力は、光出力回復処理を行った後のその出力値を保持するようにＡＰＣ制御によって安定化される。
【００４０】
以上の処理によって、レーザの第２高調波Ｌ３の出力の低下が回復され、その後暫くの間は一定の光量を得ることが可能となる。
【００４１】
次に図３および図４を参照して、本発明の第２の実施の形態によるレーザ駆動制御方法および装置について説明する。なお図３および図４において、図１および図２中の要素と同等の要素には同番号を付し、それらについての説明は特に必要のない限り省略する。図３は本発明による第２の実施の形態であるレーザ駆動制御装置の平面図とあわせて回路構成を表すブロック図を示したものであり、図４は当該レーザ駆動制御装置の一部破断側面図である。このレーザ駆動制御装置は、指令手段から発せられる指令を受け、レーザの光出力を回復させるシーケンス制御を行うものである。
【００４２】
この第２の実施の形態のレーザ駆動制御方法および装置においては、上記第１の実施の形態において設けられていた半導体レーザ11のＡＣＣ回路36に代えて、半導体レーザ11の光出力を安定化させるＡＰＣ回路 38（第２高調波L3の出力を安定化させるＡＰＣ回路34とは別個に）を設けている。
【００４３】
最初に、半導体レーザ11のＡＰＣ制御について説明する。半導体レーザ11が収納されているパッケージ内部にはフォトダイオード等の光検出素子も収納されており、レーザビームL1の光量がこの光検出素子により検出され、その出力信号S3はＡＰＣ回路 38に入力される。選択手段37がＡＰＣ回路 38を選択している場合、ＡＰＣ回路 38は、シーケンスコントローラ45により設定される基準値R3に該出力信号S3が安定するように選択手段37を介して半導体レーザ11の駆動電流を制御する。これにより、レーザビームL1の光出力が一定値に安定するようになる。
【００４４】
次に、この第２の実施の形態においてレーザの光出力の低下を回復させる方法について説明する。シーケンスコントローラ４５は、所定の指令を受けるまでは、上記選択手段３７によりＡＰＣ回路３４を選択し、上述のＡＰＣ制御によって第２高調波Ｌ３の出力を一定値に安定させる。
【００４５】
第２高調波Ｌ３の出力が低下した場合には、所定の指令を受けるとシーケンスコントローラ４５の命令に基づき、以下のように光出力回復処理が行われる。
【００４６】
最初に、シーケンスコントローラ45は選択手段47によりＡＰＣ回路 38を選択させる。このとき、出力信号S3がこのＡＰＣ回路 38を選択する直前の値と概ね同等の値となるように、シーケンスコントローラ45が基準値R3を設定する。
【００４７】
次に、シーケンスコントローラ４５は、基準温度Ｔ１を少しずつ上昇又は下降させ、温度制御回路４２によって半導体レーザ１１および集光レンズ１２の温度を少しずつ変化させる。同時に、シーケンスコントローラ４５は、第２高調波Ｌ３の出力（すなわち出力信号Ｓ１）をモニターしており、出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ１ｍ を検索する。基準温度Ｔ１を上昇又は下降させただけでは最大点が検索できない場合には、各々逆方向へも変化させる。このようにして検索された出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ１ｍ を設定し、半導体レーザ１１および集光レンズ１２の温度がこの基準温度Ｔ１ｍ を保つように温度制御回路４２により温度調節をする。
【００４８】
次に、シーケンスコントローラ４５は、基準温度Ｔ２を少しずつ上昇又は下降させ、温度制御回路４３によって上記共振器の部分の温度を少しずつ変化させる。同時に、シーケンスコントローラ４５は、第２高調波Ｌ３の出力（すなわち出力信号Ｓ１）をモニターしており、出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ２ｍ を検索する。基準温度Ｔ２を上昇又は下降させただけでは最大点が検索できない場合には、各々逆方向へも変化させる。このようにして検索された出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ２ｍ を設定し、上記共振器の部分の温度がこの基準温度Ｔ２ｍ を保つように温度制御回路４３により温度調節をする。これにより、第２高調波Ｌ３の出力が最大となるように半導体レーザ１１、集光レンズ１２および共振器の部分の温度が調節され、その出力の低下が回復することとなる。
【００４９】
第２高調波Ｌ３の出力が回復した後には、さらに、シーケンスコントローラ４５は、選択手段４７によりＡＰＣ回路３４を選択させる。このとき、出力信号Ｓ１がこのＡＰＣ回路３４を選択する直前の値と概ね同等の値となるように、シーケンスコントローラ４５が基準値Ｒ１を設定する。これにより、第２高調波Ｌ３の出力は、光出力回復処理を行った後のその出力値を保持するようにＡＰＣ制御によって安定化される。
【００５０】
以上の処理によって、この第２の実施の形態によるレーザ駆動制御装置においても、レーザの第２高調波Ｌ３の出力の低下が回復され、その後暫くの間は一定の光量を得ることが可能となる。
【００５１】
また、本発明によるレーザ駆動制御装置を励起光源（レーザ光源）に適用し、このレーザ光源を使用して特開平７−１９１４２１号等に記載の放射線画像読取装置を構成することも可能である。図５は放射線画像読取装置を構成する画像読取部の光ビーム走査装置の概略構成図であり、この光ビーム走査装置は、本発明によるレーザ駆動制御装置を適用したレーザ光源１３１ を備えている。この光ビーム走査装置について簡単に説明する。
【００５２】
光ビーム走査装置は、所定の波長のレーザ光Ｌを出射する本発明の半導体レーザ駆動回路を適用したレーザ光源１３１ 、この出射されたレーザ光Ｌを反射偏向する回転多面鏡１３２ 、この回転多面鏡１３２ を回転駆動するモータ１３３ 、レーザ光Ｌを集光するｆθレンズ１３４ 、集光されたレーザ光Ｌを反射して向きを変える反射光学系１３５ からなる。このレーザ光Ｌの照射によって、蓄積記録されている放射線画像情報に応じた光量で発光する輝尽発光光Ａを集光する光ガイド１３６ 、集光された輝尽発光光Ａを増幅して光電変換するフォトマルチプライヤ１３７ などの画像情報読取手段が蓄積性蛍光体シート１４０ に蓄積記録された放射線画像情報を読み取る。
【００５３】
放射線画像情報の蓄積記録された蓄積性蛍光体シート１４０ は搬送手段１６０ に載置されて矢印Ｘ方向に搬送され、画像読取部に搬入される。画像読取部においては、レーザ光源１３１ より出射したレーザ光Ｌは、モータ１３３ により高速回転駆動される回転多面鏡１３２ により所定の方向に偏向され、この変更されたレーザ光Ｌはｆθレンズ１３４ により集光され、さらに反射光学系１３５ により反射されて蓄積性蛍光体シート１４０ を照射する。このとき回転多面鏡１３２ の矢印Ｋ方向への回転により、レーザ光Ｌは蓄積性蛍光体シート１４０ を矢印Ｙ方向に主走査し、蓄積性蛍光体シート１４０ は、この主走査と搬送手段１６０ の矢印Ｘ方向への移動（副走査）とが組み合わされて、均一にレーザ光Ｌを照射される。
【００５４】
レーザ光Ｌを照射された蓄積性蛍光体シート１４０ の表面からは、蓄積記録された放射線画像情報に応じた輝尽発光光Ａが発光し、この輝尽発光光Ａは光ガイド１３６ によって集光されて読み取られ、フォトマルチプライヤ１３７ により増幅されたうえで電気信号Ｓ０に光電変換される。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態であるレーザ駆動制御装置の平面図とあわせて回路構成を表すブロック図を示した図
【図２】上記レーザ温度制御装置の一部破断側面図
【図３】本発明の第２の実施の形態であるレーザ駆動制御装置の平面図とあわせて回路構成を表すブロック図を示した図
【図４】上記第２の実施の形態であるレーザ温度制御装置の一部破断側面図
【図５】本発明によるレーザ駆動制御装置を用いたレーザ光源を備えた光ビーム走査装置の概略構成図
【符号の説明】
Ｌ１ レーザビーム（励起光）
Ｌ２ 固体レーザビーム
Ｌ３ 第２高調波
１１ 半導体レーザ
１２ 集光レンズ
１３ Ｎｄ：ＹＡＧ結晶
１４ 共振器ミラー
１５ ＫＮ結晶
２０，２１ ホルダー
２２，２３ 基準板
２４，２５ ペルチェ素子
２６ 装置載置面
３０ ホルダー
３１ ダイクロイック・フィルター
３１ａ、３１ｂ ダイクロイック・フィルターの光通過端面
３２ 部分透過ミラー
３３ ＡＰＣ用光検出器
３４ ＡＰＣ回路
３６ ＡＣＣ回路
３７ 選択手段
４０，４１ サーミスタ
４２，４３ 温度制御回路
４５ シーケンスコントローラ
４７ 指令手段
１３１ レーザ光源
１３２ 回転多面鏡
１３３ モータ
１３４ ｆθレンズ
１３５ 反射光学系
１３６ 光ガイド
１３７ フォトマルチプライヤ
１４０ 蓄積性蛍光体シート
１６０ 搬送手段
【発明の属する技術分野】
本発明は、固体レーザ結晶をレーザダイオードから発せられたレーザビームによって励起するレーザダイオード励起固体レーザの光出力を制御するレーザ駆動制御方法およびその装置に関し、より詳細には所定の指令により該レーザの光出力を回復させるレーザ駆動制御方法およびその装置、並びにこのレーザ駆動制御装置を使用した励起光源を備えた放射線画像読取装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
例えば特開昭６２−１８９７８３ 号公報に示されるように、ネオジウム等の希土類が添加された固体レーザ結晶を、レーザダイオードから発せられた光によって励起するレーザダイオード励起固体レーザ（以下、単に「レーザ」という。）が公知となっている。この種のレーザにおいては、より短波長のレーザビームを得るために、その共振器内に非線形光学結晶を配置して、固体レーザビームを第２高調波や和周波等に波長変換することも広く行なわれており、例えば第２高調波を取り出すものはＳＨＧレーザといわれている。
【０００３】
また、このレーザ（上述のように波長変換するものも含む。以下同様である。）においては、励起源であるレーザダイオードの光出力および発振波長の変動を抑えるため、さらに上述の波長変換を行なう場合は非線形光学結晶において所定の位相整合状態を維持するために、レーザダイオード、固体レーザ結晶および共振器の部分を所定温度に温度調節するのが一般的である。この温度調節は通常、上記の各部分を電子冷却素子（ペルチェ素子）の冷却面上に載置するとともに、レーザダイオードや共振器内の温度を検出し、その検出温度に基づいて電子冷却素子の駆動を最終目的温度値に保つようにフィードバック制御することによってなされる。また、上記レーザの光出力を一定に保つためには、所定温度に保つ温度調節のほかに光出力を一定に保つＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御を行うのが一般的である。
【０００４】
そして、この種のレーザは、高出力の光出力を得るにも適することから、高出力レーザとしての利用が広がっており、例えば、放射線画像読取装置において、このレーザの高出力性に着目し、当該装置の励起光源としてこのレーザが使用されている。尚、「放射線画像読取装置」とは、放射線画像情報が蓄積記録された蓄積性蛍光体シートに励起光を照射する励起光照射手段と、上記蓄積性蛍光体シートに蓄積記録された上記放射線画像情報に応じて輝尽発光する輝尽発光光を検出してこの放射線画像情報を読み取る読取手段とを有するものである（例えば、特公平 ３−７９６９５号、特開平７−１９１４２１号等）。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、このレーザは一方においてＡＰＣ制御を行っているにも拘わらず経時的にその光出力が徐々に低下していくという現象を生じる。この原因については、種々考察されてはいるものの、未だ解明されていないところである。
【０００６】
上述の放射線画像読取装置の励起光源としてこのレーザを使用した場合、その光出力の低下は、即画質の劣化につながることから、上記現象が装置の性能を左右することとなる。そこで、かねてより、上記現象の原因解明と共に、この現象が生じたときの対処方法の探求もなされている。
【０００７】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、レーザの光出力が上述のように経時的な低下を生じた場合に、その光出力を回復させるための駆動制御方法およびその装置並びにこのレーザ駆動制御装置を使用した励起光源を備えた放射線画像読取装置を提供することを目的とするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本願出願人は、上記現象の原因解明およびその対処方法の探求において、上記レーザのレーザダイオードに流れる電流値が所定の値で一定している場合には、（１） さらにレーザダイオードおよび共振器の温度が所定の値で一定している場合には、該レーザの光出力が経時的に低下する、（２） レーザダイオードおよび共振器の温度によって該レーザの光出力が変化し、しかも該レーザの光出力が最大となる所定の温度が存在する、（３） 前記最大となる所定の温度は、レーザダイオードと共振器とでは必ずしも同一でない、ということを確認した。すなわち、上記レーザの駆動においては、レーザダイオードおよび共振器の温調温度の最適な値が経時的に変化するということを見いだした。
【０００９】
本発明によるレーザ駆動制御方法およびその装置は、かかる知見に基づいて、上記レーザの光出力が経時的に低下した場合に、該レーザのレーザダイオードおよび共振器を最適な温調状態に再度設定し直すことにより、該レーザの光出力を回復させることを特徴とするものである。以下、その手段について説明する。
【００１０】
本発明による第１のレーザ駆動制御方法は、固体レーザ結晶をレーザダイオードから発せられたレーザビームによって励起するレーザダイオード励起固体レーザの光出力を基準出力値に保つＡＰＣ制御と、前記レーザダイオードに流れる電流量を基準電流値に保つＡＣＣ制御との何れか１つの選択が可能であり、選択された制御方法によって前記レーザの光出力を制御するレーザ駆動制御方法であって、前記レーザダイオードの温度を一定に保つ第１の温度制御手段と、前記レーザの共振器の温度を一定に保つ第２の温度制御手段とを有し、定常状態のときは前記ＡＰＣ制御を選択し、所定の指令があったときは前記ＡＣＣ制御を選択し、前記レーザダイオードの温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記レーザダイオードの温度を検出し、該レーザダイオードの温度を前記検出した温度に設定し、前記共振器の温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記共振器の温度を検出し、該共振器の温度を前記検出した温度に設定する、というシーケンス制御によって、前記レーザの光出力を回復させた後、前記ＡＰＣ制御を選択することを特徴とするものである。
【００１１】
尚、上記基準電流値は、上記所定の指令を受ける直前に上記レーザダイオードに流れていた電流値と概ね同等の電流値であることが望ましい。
【００１２】
また、本発明による第２のレーザ駆動制御方法は、固体レーザ結晶をレーザダイオードから発せられたレーザビームによって励起するレーザダイオード励起固体レーザの光出力を基準出力値に保つＡＰＣ制御と、前記レーザダイオードの光出力を第２の基準出力値に保つダイオードＡＰＣ制御との何れか１つの選択が可能であり、選択された制御方法によって前記レーザの光出力を制御するレーザ駆動制御方法であって、前記レーザダイオードの温度を一定に保つ第１の温度制御手段と、前記レーザの共振器の温度を一定に保つ第２の温度制御手段とを有し、定常状態のときは前記ＡＰＣ制御を選択し、所定の指令があったときは前記ダイオードＡＰＣ制御を選択し、前記レーザダイオードの温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記レーザダイオードの温度を検出し、該レーザダイオードの温度を前記検出した温度に設定し、前記共振器の温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記共振器の温度を検出し、該共振器の温度を前記検出した温度に設定する、というシーケンス制御によって、前記レーザの光出力を回復させた後、前記ＡＰＣ制御を選択することを特徴とするものである。
【００１３】
尚、上記第２の基準出力値は、上記所定の指令を受ける直前に上記レーザダイオードが発光していた光出力値と概ね同等の光出力値であることが望ましい。
【００１４】
さらに、上記レーザの光出力を回復させた後、上記ＡＰＣ制御を選択したとき、上記基準出力値をこのＡＰＣ制御を選択する直前に上記レーザが発光していた光出力値と概ね同等の光出力値に設定すればなお望ましい。
【００１５】
また、上記いずれのレーザ駆動制御方法においても、上記所定の指令は、一定期間毎、上記レーザを発光させる毎、又は、このレーザの光出力が所定の限度値を下回ったときに発せられることが望ましい。
【００１６】
一方、本発明による第１のレーザ駆動制御装置は、上記第１の方法に従ってレーザの光出力の低下を回復させることを特徴とするものであって、固体レーザ結晶をレーザダイオードから発せられたレーザビームによって励起するレーザダイオード励起固体レーザの光出力を基準出力値に保つＡＰＣ制御手段と、前記レーザダイオードに流れる電流量を基準電流値に保つＡＣＣ制御手段と、前記ＡＰＣ制御手段と前記ＡＣＣ制御手段との何れか１つを選択する選択手段とからなり、選択された制御手段によって前記レーザの光出力を制御するものであり、前記レーザダイオードの温度を一定に保つ第１の温度制御手段と、前記レーザの共振器の温度を一定に保つ第２の温度制御手段とを有し、定常状態のときは前記ＡＰＣ制御手段を選択し、所定の指令があったときは前記ＡＣＣ制御手段を選択し、前記レーザダイオードの温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記レーザダイオードの温度を検出し、該レーザダイオードの温度を前記検出した温度に設定し、前記共振器の温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記共振器の温度を検出し、該共振器の温度を前記検出した温度に設定することにより前記レーザの光出力を回復させた後、前記ＡＰＣ制御手段を選択する、シーケンスコントローラ、光検出器等からなる光出力回復手段とを有することを特徴とするものである。
【００１７】
尚、上記基準電流値は、上記所定の指令を受ける直前に上記レーザダイオードに流れていた電流値と概ね同等の電流値であることが望ましい。
【００１８】
また、本発明による第２のレーザ駆動制御装置は、上記第２の方法に従ってレーザの光出力の低下を回復させることを特徴とするものであって、固体レーザ結晶をレーザダイオードから発せられたレーザビームによって励起するレーザダイオード励起固体レーザの光出力を基準出力値に保つＡＰＣ制御手段と、前記レーザダイオードの光出力を第２の基準出力値に保つダイオードＡＰＣ制御手段と、前記ＡＰＣ制御手段と前記ダイオードＡＰＣ制御手段との何れか１つを選択する選択手段とからなり、選択された制御手段によって前記レーザの光出力を制御するものであり、前記レーザダイオードの温度を一定に保つ第１の温度制御手段と、前記レーザの共振器の温度を一定に保つ第２の温度制御手段とを有し、定常状態のときは前記ＡＰＣ制御手段を選択し、所定の指令があったときは前記ダイオードＡＰＣ制御手段を選択し、前記レーザダイオードの温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記レーザダイオードの温度を検出し、該レーザダイオードの温度を前記検出した温度に設定し、前記共振器の温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記共振器の温度を検出し、該共振器の温度を前記検出した温度に設定することにより前記レーザの光出力を回復させた後、前記ＡＰＣ制御手段を選択する、シーケンスコントローラ、光検出器等からなる光出力回復手段とを有することを特徴とするものである。
【００１９】
尚、上記第２の基準出力値は、上記所定の指令を受ける直前に上記レーザダイオードが発光していた光出力値と概ね同等の光出力値であることが望ましい。
【００２０】
さらに、光出力回復手段は、上記レーザの光出力を回復させた後上記ＡＰＣ制御手段を選択したとき、上記基準出力値をこのＡＰＣ制御手段を選択する直前に上記レーザが発光していた光出力値と概ね同等の光出力値に設定するものであればなお望ましい。
【００２１】
また、上記いずれのレーザ駆動制御装置においても、一定期間毎に、前記レーザを発光させる毎に、または、このレーザの光出力が所定の限度値を下回ったときに、上記所定の指令を自動的に発する指令手段を有するものであればなお良い。
【００２２】
また、本発明による放射線画像読取装置は、放射線画像情報が蓄積記録された蓄積性蛍光体シートに励起光を照射する励起光照射手段と、
前記蓄積性蛍光体シートに蓄積記録された前記放射線画像情報に応じて輝尽発光する輝尽発光光を検出して該放射線画像情報を読み取る読取手段とを有するものであって、上記励起光照射手段（例えば、光ビーム走査装置など）が、上述のレーザ駆動制御装置により構成される励起光光源を有することを特徴とするものである。
【００２３】
【発明の効果】
本発明のレーザ駆動制御方法およびその装置によれば、レーザの光出力が経時的に低下した場合であっても、所定の指令を受けることによって、上述の簡単な手順に従い再度レーザダイオードおよび共振器の温度を最適な状態となるように設定し直すことができるので、レーザの光出力を容易に回復させることが可能となる。またその光出力も所定状態においての最適な出力とすることもできるから、回復させた後の光出力も暫くの間は安定することが期待できる。また、所定の指令は、光出力が低下したことを操作者が検知して、マニュアルにより発することもできるが、例えば、一定期間毎に、上記レーザを発光させる毎に、又は、このレーザの光出力が所定の限度値を下回ったとき等に自動的に発せられるようにすることもできるので、上記光出力の回復のために操作者を煩わせることもない。
【００２４】
従って、本発明によるレーザ駆動制御方法および装置によれば、上述の説明で明らかなように、レーザの光出力が経時的に低下しても容易にその出力を回復させることが可能となる。また、そのための構成も簡易であり、しかも、特に特殊な装置を必要とすることもなく安価に実現することができるから、実用上、工業上の価値は大きい。
【００２５】
例えば、本発明によるレーザ駆動制御装置を、放射線画像読取装置における画像読取部（例えば、光ビーム走査装置等）の励起光源に使用することも可能であり、レーザの光出力の低下を回復させる機能を有する特徴ある装置を提供することが可能となる。
【００２６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明のレーザ駆動制御方法および装置の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明による第１の実施の形態であるレーザ駆動制御装置の平面図とあわせて回路構成を表すブロック図を示したものであり、図２は当該レーザ駆動制御装置の一部破断側面図である。このレーザ駆動制御装置は、指令手段から発せられる指令を受け、レーザの光出力を回復させるシーケンス制御を行うものである。
【００２７】
レーザは、励起光としてのレーザビームＬ１を発するチップ状態の半導体レーザ１１と、発散光である上記レーザビームＬ１を集光する例えば屈折率分布型ロッドレンズ等からなる集光レンズ１２と、ネオジウム（Ｎｄ）がドーピングされた固体レーザ媒質であるＹＡＧ結晶（以下、「Ｎｄ：ＹＡＧ結晶」という。）１３と、このＮｄ：ＹＡＧ結晶１３の前方側（図中右方側）に配された共振器ミラー１４と、この共振器ミラー１４とＮｄ：ＹＡＧ結晶１３との間に配されたＫＮｂＯ３ 結晶（以下、「ＫＮ結晶」という。）１５とを有している。
【００２８】
半導体レーザ１１としては、波長８０９ ｎｍのレーザビームＬ１を発するものが用いられている。Ｎｄ：ＹＡＧ結晶１３は入射したレーザビームＬ１によってネオジウムイオンが励起されて、波長９４６ ｎｍの光を発する。Ｎｄ：ＹＡＧ結晶１３の励起光入射側の端面１３ａには、波長９４６ ｎｍの光は良好に反射させ（反射率９９．９％以上）、波長８０９ ｎｍの励起用レーザビームＬ１は良好に透過させる（透過率９９％以上）コーティングが施されている。一方共振器ミラー１４のミラー面１４ａには、波長９４６ ｎｍの光は良好に反射させ下記の波長４７３ ｎｍの光は透過させるコーティングが施されている。本実施の形態においては、Ｎｄ：ＹＡＧ結晶１３と共振器ミラー１４とによってファブリー・ペロー型共振器が構成され、波長９４６ ｎｍの光は上記各面１３ａ、１４ａ間に閉じ込められてレーザ発振を引き起こし、こうして発生したレーザビームＬ２はＫＮ結晶１５により波長が１／２すなわち４７３ ｎｍの第２高調波Ｌ３に変換され、主にこの第２高調波Ｌ３が共振器ミラー１４から出射する。すなわち、本レーザはＳＨＧレーザとして機能する。
【００２９】
半導体レーザ１１および集光レンズ１２はホルダー２０に固定され、このホルダー２０が基準板２２に固定されている。この基準板２２は、熱伝導率が高くて温度勾配が生じ難い銅等からなり、装置載置面２６上に固定されたペルチェ素子２４の上に固定されている。また、温度検出用のサーミスタ４０が基準板２２に固定され、サーミスタ４０は温度制御回路４２に接続され、ペルチェ素子２４が温度制御回路４２によって駆動制御される。半導体レーザ１１および集光レンズ１２は、基準板２２に固定されたサーミスタ４０によりその温度が検出される。温度制御回路４２はフィードバック型の温度制御回路であり、ペルチェ素子２４を駆動制御することにより、半導体レーザ１１および集光レンズ１２をシーケンスコントローラ４５により設定される基準温度Ｔ１に保つ。
【００３０】
一方、上記共振器の部分を構成するＮｄ：ＹＡＧ結晶１３、ＫＮ結晶１５および共振器ミラー１４は別のホルダー２１に固定され、このホルダー２１が別の基準板２３に固定されている。この基準板２３も、熱伝導率が高くて温度勾配が生じ難い銅等からなり、装置載置面２６上に固定された別のペルチェ素子２５の上に固定されている。また、温度検出用のサーミスタ４１が別の基準板２３に固定され、サーミスタ４１は温度制御回路４３に接続され、ペルチェ素子２５が温度制御回路４３によって駆動制御される。共振器の部分は、基準板２３に固定されたサーミスタ４１によりその温度が検出される。温度制御回路４３はフィードバック型の温度制御回路であり、ペルチェ素子２５を駆動制御することにより、共振器の部分をシーケンスコントローラ４５により設定される基準温度Ｔ２に保つ。
【００３１】
次に、レーザ出力のＡＰＣ制御について説明する。装置載置面２６上には基準板２２、２３およびペルチェ素子２４、２５とは別体にしてホルダー３０が固定され、このホルダー３０にはダイクロイック・フィルター３１および部分透過ミラー３２が固定されている。ダイクロイック・フィルター３１は、第２高調波Ｌ３とともに共振器ミラー１４から出射した微弱なレーザビームＬ１およびレーザビームＬ２をカットする。そして第２高調波Ｌ３の進行方向に対して傾けて配された部分透過ミラー３２は、第２高調波Ｌ３の大半は使用光Ｌ３Ａとして透過させる一方、一部を検出光Ｌ３Ｂとして反射させる。なおホルダー３０には、部分透過ミラー３２によって分岐される前の第２高調波Ｌ３および、分岐された後の検出光Ｌ３Ｂを通過させるための孔３０ａが形成されている。
【００３２】
上記検出光Ｌ３Ｂは基準板２３の上に固定されたＡＰＣ用光検出器３３によって検出され、その出力信号Ｓ１はＡＰＣ回路３４に入力される。選択手段３７がＡＰＣ回路３４を選択している場合、ＡＰＣ回路３４は、シーケンスコントローラ４５により設定される基準値Ｒ１に該出力信号Ｓ１が安定するように選択手段３７を介して半導体レーザ１１の駆動電流を制御する。これにより、レーザビームＬ１の光出力が制御されて、第２高調波Ｌ３の出力が一定値に安定するようになる。
【００３３】
次に、半導体レーザ１１のＡＣＣ制御について説明する。半導体レーザ１１に流れる電流量は、この半導体レーザ１１に接続された図示しない電流検出手段（例えば検出抵抗など）によって検出され、その出力信号Ｓ２はＡＣＣ回路３６に入力される。選択手段３７がＡＣＣ回路３６を選択している場合、ＡＣＣ回路３６は、シーケンスコントローラ４５により設定される基準値Ｒ２に該出力信号Ｓ２が安定するように選択手段３７を介して半導体レーザ１１の駆動電流を制御する。これにより、半導体レーザ１１に流れる電流量が一定値に安定するように制御され、この電流量に応じた第２高調波Ｌ３の出力が得られる。従って、上記ＡＰＣ制御のように第２高調波Ｌ３の出力が完全に安定するように制御されているとは言えないまでも、ある程度安定した光出力が得られる。
【００３４】
次に、レーザの光出力の低下を回復させる方法について説明する。シーケンスコントローラ４５は、所定の指令を受けるまでは、上記選択手段３７によりＡＰＣ回路３４を選択し、上述のＡＰＣ制御によって第２高調波Ｌ３の出力を一定値に安定させる。
【００３５】
第２高調波Ｌ３の出力が低下した場合には、所定の指令を受けると後述の光出力回復処理を開始する。この所定の指令は、操作者よってマニュアルで発せられるようにすることが可能なのは言うまでもないが、指令手段４７を設け、出力信号Ｓ１をモニターし、出力信号Ｓ１が所定の限度値を下回ったときに発せられるようにすることもでき、また、レーザを起動（発光）させる毎に発せられるようにしたり、さらに、タイマーを設け一定期間毎に発せられるようにすることも可能である。
【００３６】
光出力回復処理は、シーケンスコントローラ４５の命令に基づき、以下のように行われる。第２高調波Ｌ３の出力が低下し所定の指令を受けると、シーケンスコントローラ４５は選択手段４７によりＡＣＣ回路３６を選択させる。このとき、半導体レーザ１１に流れる電流値が所定の指令を受ける直前にこの半導体レーザ１１に流れていた電流値と概ね同等の電流値となるように、シーケンスコントローラ４５が基準値Ｒ２を設定する。
【００３７】
次に、シーケンスコントローラ４５は、基準温度Ｔ１を少しずつ上昇又は下降させ、温度制御回路４２によって半導体レーザ１１および集光レンズ１２の温度を少しずつ変化させる。同時に、シーケンスコントローラ４５は、第２高調波Ｌ３の出力（すなわち出力信号Ｓ１）をモニターしており、出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ１ｍ を検索する。基準温度Ｔ１を上昇又は下降させただけでは最大点が検索できない場合には、各々逆方向へも変化させる。このようにして検索された出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ１ｍ を設定し、半導体レーザ１１および集光レンズ１２の温度がこの基準温度Ｔ１ｍ を保つように温度制御回路４２により温度調節をする。
【００３８】
次に、シーケンスコントローラ４５は、基準温度Ｔ２を少しずつ上昇又は下降させ、温度制御回路４３によって上記共振器の部分の温度を少しずつ変化させる。同時に、シーケンスコントローラ４５は、第２高調波Ｌ３の出力（すなわち出力信号Ｓ１）をモニターしており、出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ２ｍ を検索する。基準温度Ｔ２を上昇又は下降させただけでは最大点が検索できない場合には、各々逆方向へも変化させる。このようにして検索された出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ２ｍ を設定し、上記共振器の部分の温度がこの基準温度Ｔ２ｍ を保つように温度制御回路４３により温度調節をする。これにより、第２高調波Ｌ３の出力が最大となるように半導体レーザ１１、集光レンズ１２および共振器の部分の温度が調節され、その出力の低下が回復することとなる。
【００３９】
第２高調波Ｌ３の出力が回復した後には、さらに、シーケンスコントローラ４５は、選択手段４７によりＡＰＣ回路３４を選択させる。このとき、出力信号Ｓ１がこのＡＰＣ回路３４を選択する直前の値と概ね同等の値となるように、シーケンスコントローラ４５が基準値Ｒ１を設定する。これにより、第２高調波Ｌ３の出力は、光出力回復処理を行った後のその出力値を保持するようにＡＰＣ制御によって安定化される。
【００４０】
以上の処理によって、レーザの第２高調波Ｌ３の出力の低下が回復され、その後暫くの間は一定の光量を得ることが可能となる。
【００４１】
次に図３および図４を参照して、本発明の第２の実施の形態によるレーザ駆動制御方法および装置について説明する。なお図３および図４において、図１および図２中の要素と同等の要素には同番号を付し、それらについての説明は特に必要のない限り省略する。図３は本発明による第２の実施の形態であるレーザ駆動制御装置の平面図とあわせて回路構成を表すブロック図を示したものであり、図４は当該レーザ駆動制御装置の一部破断側面図である。このレーザ駆動制御装置は、指令手段から発せられる指令を受け、レーザの光出力を回復させるシーケンス制御を行うものである。
【００４２】
この第２の実施の形態のレーザ駆動制御方法および装置においては、上記第１の実施の形態において設けられていた半導体レーザ11のＡＣＣ回路36に代えて、半導体レーザ11の光出力を安定化させるＡＰＣ回路 38（第２高調波L3の出力を安定化させるＡＰＣ回路34とは別個に）を設けている。
【００４３】
最初に、半導体レーザ11のＡＰＣ制御について説明する。半導体レーザ11が収納されているパッケージ内部にはフォトダイオード等の光検出素子も収納されており、レーザビームL1の光量がこの光検出素子により検出され、その出力信号S3はＡＰＣ回路 38に入力される。選択手段37がＡＰＣ回路 38を選択している場合、ＡＰＣ回路 38は、シーケンスコントローラ45により設定される基準値R3に該出力信号S3が安定するように選択手段37を介して半導体レーザ11の駆動電流を制御する。これにより、レーザビームL1の光出力が一定値に安定するようになる。
【００４４】
次に、この第２の実施の形態においてレーザの光出力の低下を回復させる方法について説明する。シーケンスコントローラ４５は、所定の指令を受けるまでは、上記選択手段３７によりＡＰＣ回路３４を選択し、上述のＡＰＣ制御によって第２高調波Ｌ３の出力を一定値に安定させる。
【００４５】
第２高調波Ｌ３の出力が低下した場合には、所定の指令を受けるとシーケンスコントローラ４５の命令に基づき、以下のように光出力回復処理が行われる。
【００４６】
最初に、シーケンスコントローラ45は選択手段47によりＡＰＣ回路 38を選択させる。このとき、出力信号S3がこのＡＰＣ回路 38を選択する直前の値と概ね同等の値となるように、シーケンスコントローラ45が基準値R3を設定する。
【００４７】
次に、シーケンスコントローラ４５は、基準温度Ｔ１を少しずつ上昇又は下降させ、温度制御回路４２によって半導体レーザ１１および集光レンズ１２の温度を少しずつ変化させる。同時に、シーケンスコントローラ４５は、第２高調波Ｌ３の出力（すなわち出力信号Ｓ１）をモニターしており、出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ１ｍ を検索する。基準温度Ｔ１を上昇又は下降させただけでは最大点が検索できない場合には、各々逆方向へも変化させる。このようにして検索された出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ１ｍ を設定し、半導体レーザ１１および集光レンズ１２の温度がこの基準温度Ｔ１ｍ を保つように温度制御回路４２により温度調節をする。
【００４８】
次に、シーケンスコントローラ４５は、基準温度Ｔ２を少しずつ上昇又は下降させ、温度制御回路４３によって上記共振器の部分の温度を少しずつ変化させる。同時に、シーケンスコントローラ４５は、第２高調波Ｌ３の出力（すなわち出力信号Ｓ１）をモニターしており、出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ２ｍ を検索する。基準温度Ｔ２を上昇又は下降させただけでは最大点が検索できない場合には、各々逆方向へも変化させる。このようにして検索された出力信号Ｓ１が最大となる基準温度Ｔ２ｍ を設定し、上記共振器の部分の温度がこの基準温度Ｔ２ｍ を保つように温度制御回路４３により温度調節をする。これにより、第２高調波Ｌ３の出力が最大となるように半導体レーザ１１、集光レンズ１２および共振器の部分の温度が調節され、その出力の低下が回復することとなる。
【００４９】
第２高調波Ｌ３の出力が回復した後には、さらに、シーケンスコントローラ４５は、選択手段４７によりＡＰＣ回路３４を選択させる。このとき、出力信号Ｓ１がこのＡＰＣ回路３４を選択する直前の値と概ね同等の値となるように、シーケンスコントローラ４５が基準値Ｒ１を設定する。これにより、第２高調波Ｌ３の出力は、光出力回復処理を行った後のその出力値を保持するようにＡＰＣ制御によって安定化される。
【００５０】
以上の処理によって、この第２の実施の形態によるレーザ駆動制御装置においても、レーザの第２高調波Ｌ３の出力の低下が回復され、その後暫くの間は一定の光量を得ることが可能となる。
【００５１】
また、本発明によるレーザ駆動制御装置を励起光源（レーザ光源）に適用し、このレーザ光源を使用して特開平７−１９１４２１号等に記載の放射線画像読取装置を構成することも可能である。図５は放射線画像読取装置を構成する画像読取部の光ビーム走査装置の概略構成図であり、この光ビーム走査装置は、本発明によるレーザ駆動制御装置を適用したレーザ光源１３１ を備えている。この光ビーム走査装置について簡単に説明する。
【００５２】
光ビーム走査装置は、所定の波長のレーザ光Ｌを出射する本発明の半導体レーザ駆動回路を適用したレーザ光源１３１ 、この出射されたレーザ光Ｌを反射偏向する回転多面鏡１３２ 、この回転多面鏡１３２ を回転駆動するモータ１３３ 、レーザ光Ｌを集光するｆθレンズ１３４ 、集光されたレーザ光Ｌを反射して向きを変える反射光学系１３５ からなる。このレーザ光Ｌの照射によって、蓄積記録されている放射線画像情報に応じた光量で発光する輝尽発光光Ａを集光する光ガイド１３６ 、集光された輝尽発光光Ａを増幅して光電変換するフォトマルチプライヤ１３７ などの画像情報読取手段が蓄積性蛍光体シート１４０ に蓄積記録された放射線画像情報を読み取る。
【００５３】
放射線画像情報の蓄積記録された蓄積性蛍光体シート１４０ は搬送手段１６０ に載置されて矢印Ｘ方向に搬送され、画像読取部に搬入される。画像読取部においては、レーザ光源１３１ より出射したレーザ光Ｌは、モータ１３３ により高速回転駆動される回転多面鏡１３２ により所定の方向に偏向され、この変更されたレーザ光Ｌはｆθレンズ１３４ により集光され、さらに反射光学系１３５ により反射されて蓄積性蛍光体シート１４０ を照射する。このとき回転多面鏡１３２ の矢印Ｋ方向への回転により、レーザ光Ｌは蓄積性蛍光体シート１４０ を矢印Ｙ方向に主走査し、蓄積性蛍光体シート１４０ は、この主走査と搬送手段１６０ の矢印Ｘ方向への移動（副走査）とが組み合わされて、均一にレーザ光Ｌを照射される。
【００５４】
レーザ光Ｌを照射された蓄積性蛍光体シート１４０ の表面からは、蓄積記録された放射線画像情報に応じた輝尽発光光Ａが発光し、この輝尽発光光Ａは光ガイド１３６ によって集光されて読み取られ、フォトマルチプライヤ１３７ により増幅されたうえで電気信号Ｓ０に光電変換される。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態であるレーザ駆動制御装置の平面図とあわせて回路構成を表すブロック図を示した図
【図２】上記レーザ温度制御装置の一部破断側面図
【図３】本発明の第２の実施の形態であるレーザ駆動制御装置の平面図とあわせて回路構成を表すブロック図を示した図
【図４】上記第２の実施の形態であるレーザ温度制御装置の一部破断側面図
【図５】本発明によるレーザ駆動制御装置を用いたレーザ光源を備えた光ビーム走査装置の概略構成図
【符号の説明】
Ｌ１ レーザビーム（励起光）
Ｌ２ 固体レーザビーム
Ｌ３ 第２高調波
１１ 半導体レーザ
１２ 集光レンズ
１３ Ｎｄ：ＹＡＧ結晶
１４ 共振器ミラー
１５ ＫＮ結晶
２０，２１ ホルダー
２２，２３ 基準板
２４，２５ ペルチェ素子
２６ 装置載置面
３０ ホルダー
３１ ダイクロイック・フィルター
３１ａ、３１ｂ ダイクロイック・フィルターの光通過端面
３２ 部分透過ミラー
３３ ＡＰＣ用光検出器
３４ ＡＰＣ回路
３６ ＡＣＣ回路
３７ 選択手段
４０，４１ サーミスタ
４２，４３ 温度制御回路
４５ シーケンスコントローラ
４７ 指令手段
１３１ レーザ光源
１３２ 回転多面鏡
１３３ モータ
１３４ ｆθレンズ
１３５ 反射光学系
１３６ 光ガイド
１３７ フォトマルチプライヤ
１４０ 蓄積性蛍光体シート
１６０ 搬送手段
Claims (13)
- 固体レーザ結晶をレーザダイオードから発せられたレーザビームによって励起するレーザダイオード励起固体レーザの光出力を基準出力値に保つＡＰＣ制御と、前記レーザダイオードに流れる電流量を基準電流値に保つＡＣＣ制御との何れか１つの選択が可能であり、選択された制御方法によって前記レーザの光出力を制御するレーザ駆動制御方法において、
前記レーザダイオードの温度を一定に保つ第１の温度制御手段と、前記レーザの共振器の温度を一定に保つ第２の温度制御手段とを有し、
定常状態のときは前記ＡＰＣ制御を選択し、
所定の指令があったときは前記ＡＣＣ制御を選択し、
前記レーザダイオードの温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記レーザダイオードの温度を検出し、
該レーザダイオードの温度を前記検出した温度に設定し、
前記共振器の温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記共振器の温度を検出し、
該共振器の温度を前記検出した温度に設定することにより前記レーザの光出力を回復させた後、前記ＡＰＣ制御を選択する
ことを特徴とするレーザ駆動制御方法。 - 前記基準電流値が、前記所定の指令を受ける直前に前記レーザダイオードに流れていた電流値と略同等の電流値であることを特徴とする請求項１記載のレーザ駆動制御方法。
- 固体レーザ結晶をレーザダイオードから発せられたレーザビームによって励起するレーザダイオード励起固体レーザの光出力を基準出力値に保つＡＰＣ制御と、前記レーザダイオードの光出力を第２の基準出力値に保つダイオードＡＰＣ制御との何れか１つの選択が可能であり、選択された制御方法によって前記レーザの光出力を制御するレーザ駆動制御方法において、
前記レーザダイオードの温度を一定に保つ第１の温度制御手段と、前記レーザの共振器の温度を一定に保つ第２の温度制御手段とを有し、
定常状態のときは前記ＡＰＣ制御を選択し、
所定の指令があったときは前記ダイオードＡＰＣ制御を選択し、
前記レーザダイオードの温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記レーザダイオードの温度を検出し、
該レーザダイオードの温度を前記検出した温度に設定し、前記共振器の温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記共振器の温度を検出し、
該共振器の温度を前記検出した温度に設定することにより前記レーザの光出力を回復させた後、前記ＡＰＣ制御を選択する
ことを特徴とするレーザ駆動制御方法。 - 前記第２の基準出力値が、前記所定の指令を受ける直前に前記レーザダイオードが発光していた光出力値と略同等の光出力値であることを特徴とする請求項３記載のレーザ駆動制御方法。
- 前記レーザの光出力を回復させた後、前記ＡＰＣ制御を選択したとき、前記基準出力値を該ＡＰＣ制御を選択する直前に前記レーザが発光していた光出力値と略同等の光出力値に設定することを特徴とする請求項１から４いずれか１項記載のレーザ駆動制御方法。
- 前記所定の指令が、一定期間毎に、前記レーザを発光させる毎に、または該レーザの光出力が所定の限度値を下回ったときに自動的に発せられることを特徴とする請求項１から５いずれか１項記載のレーザ駆動制御方法。
- 固体レーザ結晶をレーザダイオードから発せられたレーザビームによって励起するレーザダイオード励起固体レーザの光出力を基準出力値に保つＡＰＣ制御手段と、前記レーザダイオードに流れる電流量を基準電流値に保つＡＣＣ制御手段と、前記ＡＰＣ制御手段と前記ＡＣＣ制御手段との何れか１つを選択する選択手段とからなり、選択された制御手段によって前記レーザの光出力を制御するレーザ駆動制御装置において、
前記レーザダイオードの温度を一定に保つ第１の温度制御手段と、
前記レーザの共振器の温度を一定に保つ第２の温度制御手段とを有し、
定常状態のときは前記ＡＰＣ制御手段を選択し、所定の指令があったときは前記ＡＣＣ制御手段を選択し、前記レーザダイオードの温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記レーザダイオードの温度を検出し、該レーザダイオードの温度を前記検出した温度に設定し、前記共振器の温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記共振器の温度を検出し、該共振器の温度を前記検出した温度に設定することにより前記レーザの光出力を回復させた後、前記ＡＰＣ制御手段を選択する光出力回復手段とを有することを特徴とするレーザ駆動制御装置。 - 前記基準電流値が、前記所定の指令を受ける直前に前記レーザダイオードに流れていた電流値と略同等の電流値であることを特徴とする請求項７記載のレーザ駆動制御装置。
- 固体レーザ結晶をレーザダイオードから発せられたレーザビームによって励起するレーザダイオード励起固体レーザの光出力を基準出力値に保つＡＰＣ制御手段と、前記レーザダイオードの光出力を第２の基準出力値に保つダイオードＡＰＣ制御手段と、前記ＡＰＣ制御手段と前記ダイオードＡＰＣ制御手段との何れか１つを選択する選択手段とからなり、選択された制御手段によって前記レーザの光出力を制御するレーザ駆動制御装置において、
前記レーザダイオードの温度を一定に保つ第１の温度制御手段と、
前記レーザの共振器の温度を一定に保つ第２の温度制御手段とを有し、
定常状態のときは前記ＡＰＣ制御手段を選択し、所定の指令があったときは前記ダイオードＡＰＣ制御手段を選択し、前記レーザダイオードの温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記レーザダイオードの温度を検出し、該レーザダイオードの温度を前記検出した温度に設定し、前記共振器の温度を変化させて前記レーザの光出力が最大となる前記共振器の温度を検出し、該共振器の温度を前記検出した温度に設定することにより前記レーザの光出力を回復させた後、前記ＡＰＣ制御手段を選択する光出力回復手段とを有することを特徴とするレーザ駆動制御装置。 - 前記第２の基準出力値が、前記所定の指令を受ける直前に前記レーザダイオードが発光していた光出力値と略同等の光出力値であることを特徴とする請求項９記載のレーザ駆動制御装置。
- 前記光出力回復手段が、前記レーザの光出力を回復させた後、前記ＡＰＣ制御手段を選択したとき、前記基準出力値を該ＡＰＣ制御手段を選択する直前に前記レーザが発光していた光出力値と略同等の光出力値に設定するものであることを特徴とする請求項７から１０いずれか１項記載のレーザ駆動制御装置。
- 一定期間毎に、前記レーザを発光させる毎に、または該レーザの光出力が所定の限度値を下回ったときに、前記所定の指令を自動的に発する指令手段を有することを特徴とする請求項７から１１いずれか１項記載のレーザ駆動制御装置。
- 放射線画像情報が蓄積記録された蓄積性蛍光体シートに励起光を照射する励起光照射手段と、前記蓄積性蛍光体シートに蓄積記録された前記放射線画像情報に応じて輝尽発光する輝尽発光光を検出して該放射線画像情報を読み取る読取手段とを有する放射線画像読取装置において、前記励起光照射手段が、請求項７から１２いずれか１項記載のレーザ駆動制御装置により構成される励起光光源を有することを特徴とする放射線画像読取装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00181697A JP3606696B2 (ja) | 1997-01-09 | 1997-01-09 | レーザ駆動制御方法および装置並びに放射線画像読取装置 |
| US09/002,248 US5974062A (en) | 1997-01-09 | 1997-12-31 | Laser drive method, laser drive system, and radiation image read-out apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00181697A JP3606696B2 (ja) | 1997-01-09 | 1997-01-09 | レーザ駆動制御方法および装置並びに放射線画像読取装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10200183A JPH10200183A (ja) | 1998-07-31 |
| JP3606696B2 true JP3606696B2 (ja) | 2005-01-05 |
Family
ID=11512100
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP00181697A Expired - Fee Related JP3606696B2 (ja) | 1997-01-09 | 1997-01-09 | レーザ駆動制御方法および装置並びに放射線画像読取装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5974062A (ja) |
| JP (1) | JP3606696B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4260306B2 (ja) * | 1999-09-27 | 2009-04-30 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | 固体レーザ装置および固体レーザ装置の制御方法 |
| US6807208B2 (en) * | 2001-08-22 | 2004-10-19 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Laser module |
| US7242700B2 (en) * | 2004-10-05 | 2007-07-10 | Coherent, Inc. | Stabilized frequency-converted laser system |
| WO2007007733A1 (ja) * | 2005-07-11 | 2007-01-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 光源、光源装置、レーザ画像形成装置、および集積回路 |
| JP4876632B2 (ja) * | 2006-02-28 | 2012-02-15 | 株式会社島津製作所 | 固体レーザ装置 |
| JP2007233039A (ja) * | 2006-03-01 | 2007-09-13 | Ntt Electornics Corp | 波長変換装置、コンピュータプログラム及びコンピュータ読み取り記録媒体 |
| CN102751646A (zh) * | 2011-04-21 | 2012-10-24 | 上海三鑫科技发展有限公司 | 采用双tec的ld泵浦绿光固体激光器及其温度控制方法 |
| JP5758732B2 (ja) * | 2011-07-29 | 2015-08-05 | 株式会社ミツトヨ | レーザ光源装置 |
| CN102496837B (zh) * | 2011-12-23 | 2013-07-24 | 索尔思光电（成都）有限公司 | EPON Triplexer OLT激光器保护模块 |
| JP6292410B2 (ja) * | 2015-05-26 | 2018-03-14 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 光走査装置及び画像形成装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AU659270B2 (en) * | 1992-02-20 | 1995-05-11 | Sony Corporation | Laser light beam generating apparatus |
| JP3320900B2 (ja) * | 1994-05-19 | 2002-09-03 | 富士通株式会社 | レーザダイオードの自動温度制御回路及びこれを用いた電気／光信号変換ユニット |
| US5832015A (en) * | 1994-09-20 | 1998-11-03 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Laser-diode-pumped solid-state laser |
| US5825793A (en) * | 1995-06-05 | 1998-10-20 | Hitachi Metals, Ltd. | Laser and laser applied units |
-
1997
- 1997-01-09 JP JP00181697A patent/JP3606696B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1997-12-31 US US09/002,248 patent/US5974062A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10200183A (ja) | 1998-07-31 |
| US5974062A (en) | 1999-10-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3606696B2 (ja) | レーザ駆動制御方法および装置並びに放射線画像読取装置 | |
| US6584127B2 (en) | Light emitting device | |
| JP3620966B2 (ja) | 半導体レーザ励起固体レーザ | |
| US6058126A (en) | Laser-diode-pumped solid state laser and radiation image read-out system | |
| JPH0797675B2 (ja) | 半導体レーザ励起型固体レーザ装置 | |
| JP2000261073A (ja) | 半導体レーザー励起固体レーザー | |
| JP2008130848A (ja) | レーザ周波数安定化装置、及びレーザ周波数安定化方法 | |
| JP3364171B2 (ja) | レーザマーカ | |
| JP2003158318A (ja) | 固体レーザ装置 | |
| US5381433A (en) | 1.94 μm laser apparatus, system and method using a thulium-doped yttrium-lithium-fluoride laser crystal pumped with a diode laser | |
| JPH11307859A (ja) | 固体レーザ装置 | |
| JPH10178228A (ja) | レーザ温度制御方法および装置ならびに放射線画像読取装置 | |
| JP4474756B2 (ja) | レーザ光発生装置 | |
| JP4382908B2 (ja) | 固体レーザ装置 | |
| JP3231341B2 (ja) | 半導体レーザ励起固体レーザ装置およびその励起波長制御方法 | |
| JP2000349390A (ja) | 半導体レーザ駆動制御方法および装置 | |
| JP3339081B2 (ja) | レーザ光発生装置 | |
| JPH10326927A (ja) | レーザダイオード励起固体レーザ装置 | |
| JP2002076487A (ja) | 半導体レーザー励起固体レーザー | |
| JPH10178230A (ja) | 半導体レーザ駆動制御方法および装置並びに放射線画像読取装置 | |
| JP3697774B2 (ja) | レーザダイオード励起固体レーザ | |
| JPH08181370A (ja) | レーザーダイオード励起固体レーザー | |
| JP3321317B2 (ja) | エタロン作製方法 | |
| JP3170911B2 (ja) | レーザ光発生装置 | |
| JP4856898B2 (ja) | 固体レーザ装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040611 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040803 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040830 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20041005 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20041005 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071015 Year of fee payment: 3 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071015 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081015 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091015 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101015 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111015 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121015 Year of fee payment: 8 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |