JP3604525B2 - 半導体装置のキャパシタ製造方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体装置の製造方法に係り、特にセルアレー領域と周辺回路領域との段差を適宜に保持しながら、セルキャパシタンスを増大させる円筒状の下部電極を有するキャパシタの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
メモリセルの面積減少によるセルキャパシタンスの減少はDRAM(dynamic random access memory)の集積度の増加に深刻な障害要因となる。このようなセルキャパシタンスの減少はメモリセルの読出し能力を低下させ、ソフトエラー率を増大させるのみならず、低電圧における素子の動作を困難にする。したがって、半導体メモリ装置の高集積化を達成するためには、前記セルキャパシタンスの減少問題は必ず解決されなければならない。
【0003】
最近、セルキャパシタンスを増大させるための3次元的な構造のキャパシタが提案されている。
図1乃至図3は従来の技術による箱状の下部電極を有するキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
図1を参照すれば、半導体基板10の上に層間絶縁膜20及び食刻阻止層30を順次に形成する。ここで、前記層間絶縁膜20はBPSG(borophosphosilicate glass )膜で形成され、前記食刻阻止層30はシリコン窒化膜(Si3 N4 )で形成される。
【0004】
図2を参照すれば、前記食刻阻止層30及び層間絶縁膜20をパタニングして前記半導体基板10の所定領域を露出させるコンタクトホールを有する食刻阻止層パターン30a及び層間絶縁膜パターン20aを形成する。次いで、前記食刻阻止層パターン30a及び層間絶縁膜パターン20aが形成された基板の全面に導電層40、例えばドーピングされたポリシリコン層を形成する。
【0005】
図3を参照すれば、フォトレジストパターン(図示せず)を用いて前記食刻阻止層パターン30aが露出されるように導電層40をパタニングして下部電極40aを形成する。その後、前記下部電極40aが形成された基板の全面に誘電体膜50、例えばONO(SiO2 /Si3 N4 /SiO2 )膜を形成する。次に、前記誘電体膜50が形成された基板の全面に導電物質を蒸着して上部電極60を形成する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来のキャパシタ製造方法によれば、セルキャパシタンスを増大させるためには、下部電極の表面積の増加分ほど、下部電極の厚さを増加させるべきである。しかしながら、これはセルアレー領域と周辺回路領域との段差を大きくする。その結果、金属配線工程のような後続く工程時、パターンに不良が発生するか、段差塗布性が劣化するなどの問題が生ずる。
【0007】
したがって、本発明の目的はセルアレー領域と周辺回路領域との段差を減少させ、セルキャパシタンスを増大させる円筒状の下部電極を有するキャパシタの製造方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために本発明は、半導体基板上に層間絶縁膜を形成する段階と、前記層間絶縁膜をパタニングして前記半導体基板の所定領域を露出させるコンタクトホールを形成すると共に、層間絶縁膜パターンを形成する段階と、前段階の結果物の全面に前記コンタクトホールを埋め込む導電膜を形成する段階と、前記コンタクトホールの上部の導電膜を選択的に食刻して溝を備える導電膜パターンを形成する段階と、前記溝内に絶縁膜パターンを形成する段階と、前記絶縁膜パターンを食刻マスクとして前記導電膜パターンを所定の深さに食刻することにより、前記絶縁膜パターンの上部側壁を露出させる変形された導電膜パターンを形成する段階と、前記絶縁膜パターンの上部側壁にスペーサを形成する段階と、前記絶縁膜パターン及びスペーサを食刻マスクとして前記変形された導電膜パターンを食刻することにより、円筒状のストレージ電極を形成する段階と、前記絶縁膜パターン及びスペーサを湿式食刻工程で取り除く段階と、前段階の結果物上に誘電膜とプレート電極を順次に形成する段階とを含むことを特徴とする半導体装置のキャパシタ製造方法を提供する。
【0009】
かつ、本発明は、半導体基板上に層間絶縁膜、食刻阻止層及びアンダーカット形成用の絶縁膜を順次に形成する段階と、前記アンダーカット形成用の絶縁膜、食刻阻止層及び層間絶縁膜をパタニングして前記半導体基板の所定領域を露出させるコンタクトホールを形成すると共に、層間絶縁膜パターン、食刻阻止層パターン及び第1絶縁膜パターンを形成する段階と、前段階の結果物の全面に前記コンタクトホールを埋め込む導電膜を形成する段階と、前記コンタクトホールの上部の導電膜を選択的に食刻して溝を備える導電膜パターンを形成する段階と、前記溝内に第2絶縁膜パターンを形成する段階と、前記第2絶縁膜パターンを食刻マスクとして前記導電膜パターンを所定の深さに食刻することにより、前記絶縁膜パターンの上部側壁を露出させる変形された導電膜パターンを形成する段階と、前記第2絶縁膜パターンの上部側壁にスペーサを形成する段階と、前記第2絶縁膜パターン及びスペーサを食刻マスクとして前記変形された導電膜パターンを食刻することにより、円筒状のストレージ電極を形成する段階と、前記第2絶縁膜パターン、スペーサ及び第1絶縁膜パターンを取り除く段階と、前段階の結果物上に誘電膜とプレート電極を順次に形成する段階とを含むことを特徴とする半導体装置のキャパシタ製造方法を提供する。
【0010】
かつ、本発明は、半導体基板上に層間絶縁膜を形成する段階と、前記層間絶縁膜をパタニングして前記半導体基板の所定領域を露出させるコンタクトホールを形成すると共に、層間絶縁膜パターンを形成する段階と、前段階の結果物の全面に前記コンタクトホールを埋め込む導電膜を形成する段階と、前記コンタクトホールの上部の導電膜を選択的に食刻して溝を備える導電膜パターンを形成する段階と、前記溝内に絶縁膜パターンを形成する段階と、前記絶縁膜パターンを食刻マスクとして前記導電膜パターンを所定の深さに食刻することにより、前記絶縁膜パターンの上部側壁を露出させる変形された導電膜パターンを形成する段階と、前記絶縁膜パターンの上部側壁にスペーサを形成する段階と、前記絶縁膜パターン及びスペーサを食刻マスクとして前記変形された導電膜パターンを食刻することにより、円筒状のストレージ電極を形成する段階と、前記ストレージ電極を取り囲みながら、前記絶縁膜パターン及びスペーサを露出させる保護層を形成する段階と、前記絶縁膜パターン及びスペーサを取り除く段階と、前記保護層を取り除く段階とを含むことを特徴とする半導体装置のキャパシタ製造方法を提供する。
【0011】
前記保護層はフォトレジスト層で形成されることが望ましい。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、添付した図面に基づき本発明の実施の形態を詳しく説明する。
〔実施例1〕
図4は層間絶縁膜パターン120を形成する段階を説明するための図面である。具体的には、半導体基板110の上にCVD(chemical vapor deposition )方法によりBPSG膜からなる層間絶縁膜を形成する。その後、前記層間絶縁膜をパタニングすることにより、前記半導体基板110の所定領域を露出させるコンタクトホール122を有する層間絶縁膜パターン120を形成する。
【0013】
図5はストレージ電極を形成するための導電膜パターン140を形成する段階を説明するための図面である。具体的には、前記層間絶縁膜パターン120が形成された結果物の全面に前記コンタクトホール122を埋め込むストレージ電極用の導電膜、例えばドーピングされたポリシリコン層をLPCVD(Low Pressure CVD)方法により所定の厚さ(T)で形成する。その後、前記コンタクトホール122の上部の導電膜部分を露出させるフォトレジストパターン(図示せず)を形成する。引き続き、前記フォトレジストパターンを食刻マスクとして前記導電膜を前記所定の厚さ(T)より小さい所定の深さに食刻することにより、前記コンタクトホール122の上部に溝142が形成された導電膜パターン140を形成する。
【0014】
図6は前記導電膜パターン140に形成された溝142内にマスク用の絶縁膜パターン144を形成する段階を説明するための図面である。具体的には、前記工程で用いられたフォトレジストパターンを取り除いた後、前記導電膜パターン140が形成された結果物の全面にCVD方法により第1絶縁物質膜を形成する。前記第1絶縁物質膜としては、酸化膜食刻液、例えばHFを含む食刻液に対する湿式食刻率が前記層間絶縁膜パターン120のものより高い物質膜、例えばTEOS(tetra−ethyl−orthosilicate )酸化膜が用いられる。その後、前記第1絶縁物質膜をエッチバックして前記導電膜パターン140に形成された溝142内に埋め込まれるマスク用の絶縁膜パターン144を形成する。
【0015】
図7は変形された導電膜パターン140aを形成する段階を説明するための図面である。具体的には、前記マスク用の絶縁膜パターン144を食刻マスクとして前記導電膜パターン140を所定の深さに食刻することにより、前記マスク用の絶縁膜パターン144の上部側壁を露出させる変形された導電膜パターン140aを形成する。
【0016】
図8は前記マスク用の絶縁膜パターン144の露出された上部側壁にスペーサ146を形成する段階を説明するための図面である。具体的には、前記変形された導電膜パターン140aが形成された結果物の全面に第2絶縁物質膜を形成する。前記第2絶縁物質膜としては、前記層間絶縁膜パターン120より食刻率が高く、前記マスク用の絶縁膜パターン144を構成する前記第1絶縁物質膜より乾式食刻率が高い物質を用いる。例えば、前記第2絶縁物質膜としては、SiH4 ガスをソースガスとして用いるPECVD(Plasma Enhanced CVD )方法により形成された酸化膜(以下、p−SiH4 酸化膜という)が用いられる。その後、前記第2絶縁物質膜を異方性食刻することにより、前記マスク用の絶縁膜パターン144の上部側壁にスペーサ146を形成する。
【0017】
図9は円筒状のストレージ電極140bを形成する段階を説明するための図面である。具体的には、前記マスク用の絶縁膜パターン144及びスペーサ146を食刻マスクとして前記層間絶縁膜パターン120が露出されるように前記変形された導電膜パターン140aを食刻することにより、円筒状のストレージ電極140bを形成する。
【0018】
図10は前記マスク用の絶縁膜パターン144及びスペーサ146を取り除く段階を説明するための図面である。具体的には、HFを含む食刻液を用いる湿式食刻により前記マスク用の絶縁膜パターン144及びスペーサ146を取り除く。この際、前記層間絶縁膜パターン120、マスク用の絶縁膜パターン144及びスペーサ146は相異なる食刻率を有するので(具体的には、前記定義された食刻液を用いる場合、層間絶縁膜パターン120を形成するBPSG膜の食刻率は760Å/min、マスク用の絶縁膜パターン144を形成するTEOS酸化膜の食刻率は3000Å/min、スペーサ146を形成するp−SiH4 酸化膜の食刻率は2700Å/min)、前記ストレージ電極140bに残存するマスク用の絶縁膜パターン144及びスペーサ146が全部取り除かれる間、前記層間絶縁膜パターン120は比較的小さい厚さほどのみ食刻されて変形された層間絶縁膜パターン120aが得られる。このように変形された層間絶縁膜パターン120aを形成すると、示したようにアンダーカット領域S1が形成されるので、ストレージ電極140bの表面積が増大できる。
【0019】
図11はキャパシタを完成する段階を説明するための図面である。具体的には、前記ストレージ電極140bが形成された結果物の全面に誘電膜150を形成し、プレート電極用の導電物質層160を形成する。これにより、本発明の製造方法によるキャパシタが完成される。
〔実施例2〕
次に、図12乃至図16を参照して本発明の第2実施例によるキャパシタの製造方法を詳しく説明する。
【0020】
図12は層間絶縁膜220、食刻阻止層224及びアンダーカット形成用の絶縁膜228を形成する段階を説明するための図面である。具体的には、前記第1実施例と同様の方法で半導体基板210の上に層間絶縁膜220を形成する。次いで、前記層間絶縁膜220の上に食刻阻止層224を100〜200Å程度の厚さで積層する。ここで、後続く工程でストレージ電極の形成時、前記層間絶縁膜220の食刻を防ぐ前記食刻阻止層224はSiN膜またはSiON膜で形成されることができる。次に、前記食刻阻止層224の上にアンダーカット形成用の絶縁膜228を1000〜2000Å程度の厚さで積層する。ここで、前記絶縁膜228の形成に用いられる物質の食刻率に特に制限はなく、通常的に用いられる絶縁膜であれば、いずれも良い。例えば、前記絶縁膜228の形成に用いられる物質としては、シリコン窒化膜がある。
【0021】
図13はストレージ電極形成のための導電膜パターン240を形成する段階を説明するための図面である。具体的には、前記アンダーカット形成用の絶縁膜228、食刻阻止層224及び層間絶縁膜220をパタニングすることにより、前記半導体基板210の所定領域を露出させるコンタクトホールを備えるアンダーカット形成用の絶縁膜パターン228a、食刻阻止層パターン224a及び層間絶縁膜パターン220aを形成する。次いで、前記図5と同様の方法で前段階の結果物上にストレージ電極用の導電膜を形成した後、フォトレジストパターン(図示せず)を用いる食刻により溝242が形成された導電膜パターン240を形成する。
【0022】
図14はマスク用の絶縁膜パターン244及び変形された導電膜パターン240aを形成する段階を説明するための図面である。具体的には、図6及び図7と同様の方法で前記導電膜パターン240に形成された溝244内に第1絶縁物質膜によりマスク用の絶縁膜パターン244を形成し、前記マスク用の絶縁膜パターン244の上部側壁を露出させる変形された導電膜パターン240aを形成する。ここで、前記マスク用の絶縁膜パターン244の形成に用いられる第1絶縁物質膜の湿式食刻率には特別な制限はなく、前記第1絶縁物質膜は前記層間絶縁膜パターン220aの形成時に用いられる縁物質とは同じ食刻率を有する物質を用いて形成することができる。
【0023】
図15は前記マスク用の絶縁膜パターン244の上部側壁にスペーサ246を形成し、ストレージ電極240bを形成する段階を説明するための図面である。具体的には、前記図8及び図9と同様の方法で前記マスク用の絶縁膜パターン244の露出された側壁に第2絶縁物質膜によりスペーサ246を形成する。ここで、前記スペーサ246の形成に用いられる第2絶縁物質膜としては、前記マスク用の絶縁膜パターン244の形成に用いられる第1絶縁物質膜より乾式食刻率の高い絶縁物質を用いる。その後、前記マスク用の絶縁膜パターン244及びスペーサ246を食刻マスクとして前記アンダーカット形成用の絶縁膜パターン228aが露出されるように前記変形された導電膜パターン240aを食刻することにより、円筒状のストレージ電極240bを形成する。
【0024】
図16を参照すれば、HFを含む食刻液を用いる湿式食刻により前記マスク用の絶縁膜パターン224、スペーサ246及びアンダーカット形成用の絶縁膜パターン228aを取り除く。その結果、アンダーカット領域S2が前記ストレージ電極240bに形成される。
その後、前段階の結果物上に誘電膜を形成し、プレート電極用の導電物質層、例えば、ドーピングされたポリシリコン層を形成することによりキャパシタを完成する。
【0025】
本実施例においては、前記層間絶縁膜パターン220aの食刻率が前記マスク用の絶縁膜パターン244またはスペーサ246の湿式食刻率と同じであるとしても、湿式食刻時のストッパとして作用する食刻阻止層パターン224aにより所望の食刻深さを調節することができる。かつ前記アンダーカット形成用の絶縁膜パターン228aが湿式食刻により取り除かれることにより、ストレージ電極240bの下部が露出されるので、セルキャパシタンスの増加が可能である。
【0026】
〔実施例3〕
次に、図17乃至図19を参照して本発明の第3実施例によるキャパシタの製造方法を詳しく説明する。
図17は半導体基板310上に円筒状のストレージ電極340bと、フォトレジスト層350を形成する段階を説明するための図面である。具体的には、前記図4乃至図9と同様の方法で導電膜をパタニングして円筒状のストレージ電極340bを形成する。この際、前記円筒状のストレージ電極340bのパタニングのために形成されたマスク用の絶縁膜パターン344及びスペーサ346は前記第2実施例と同じ絶縁物質で形成される。
【0027】
その後、不要な膜、すなわち前記ストレージ電極340bの上部のマスク用の絶縁膜パターン344及びスペーサ346を取り除くため、ストレージ電極340bが形成された結果物の全面にフォトレジスト層350を塗布する。
図18は保護層350aを形成する段階を説明するための図面である。具体的には、前記フォトレジスト層350をエッチバックして前記マスク用の絶縁膜パターン344及びスペーサ346を露出させるフォトレジスト残留層からなる保護層350aを形成する。
【0028】
図19は前記マスク用の絶縁膜パターン344及びスペーサ346を取り除く段階を説明するための図面である。具体的には、湿式食刻により前記マスク用の絶縁膜パターン344及びスペーサ346を取り除く。この際、層間絶縁膜パターン320は前記保護層350aで覆われているので、前記マスク用の絶縁膜パターン344及びスペーサ346の除去のための湿式食刻時、前記層間絶縁膜パターン320は食刻されない。その後、前記保護層350aを取り除く。
【0029】
次に、図示していないが、前段階の結果物上に誘電膜を形成し、プレート電極用の導電物質、例えばドーピングされたポリシリコン層を形成することにより、キャパシタを完成する。
【0030】
【発明の効果】
上述したように、本発明によれば、箱状の下部電極を備えるキャパシタに比べてキャパシタンスの減少を防ぐのみならず、セルアレー領域と周辺回路領域との段差を減少させることができる。これにより、後続く工程、特に金属配線工程時のパターン不良及び段差塗布性を改善し得る。
【0031】
以上、本発明の具体的な実施例を詳しく説明したが、本発明は前記実施例に限るものでなく、本発明の技術的な思想の範囲内で当分野の通常の知識を持つ者により様々な変形が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の技術によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図2】従来の技術によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図3】従来の技術によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図4】本発明の第1実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図5】本発明の第1実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図6】本発明の第1実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図7】本発明の第1実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図8】本発明の第1実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図9】本発明の第1実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図10】本発明の第1実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図11】本発明の第1実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図12】本発明の第2実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図13】本発明の第2実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図14】本発明の第2実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図15】本発明の第2実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図16】本発明の第2実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図17】本発明の第3実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図18】本発明の第3実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【図19】本発明の第3実施例によるキャパシタの製造方法を説明するための断面図である。
【符号の説明】
110 半導体基板
120 層間絶縁膜パターン
120a 変形された層間絶縁膜パターン
122 コンタクトホール
140 導電膜パターン
140a 変形された導電膜パターン
140b ストレージ電極
142 溝
144 マスク用の絶縁膜パターン
146 スペーサ
150 誘電膜
160 導電物質層
210 半導体基板
220 層間絶縁膜
220a 層間絶縁膜パターン
224 食刻阻止層
224a 食刻阻止層パターン
228 アンダーカット形成用の絶縁膜
228a アンダーカット形成用の絶縁膜パターン
240 導電膜パターン
240a 変形された導電膜パターン
240b ストレージ電極
242 溝
244 マスク用の絶縁膜パターン
246 スペーサ
310 半導体基板
320 層間絶縁膜パターン
340b ストレージ電極
344 絶縁膜パターン
346 スペーサ
350 フォトレジスト層
350a 保護層
S1 アンダーカット領域
S2 アンダーカット領域
Claims (6)
- 半導体基板上に層間絶縁膜を形成する段階と、
前記層間絶縁膜をパタニングして前記半導体基板の所定領域を露出させるコンタクトホールを形成すると共に、層間絶縁膜パターンを形成する段階と、
前段階の結果物の全面に前記コンタクトホールを埋め込む導電膜を形成する段階と、
前記コンタクトホールの上部の導電膜を選択的に食刻して溝を備える導電膜パターンを形成する段階と、
前記溝内に絶縁膜パターンを形成する段階と、
前記絶縁膜パターンを食刻マスクとして前記導電膜パターンを所定の深さに食刻することにより、前記絶縁膜パターンの上部側壁を露出させる変形された導電膜パターンを形成する段階と、
前記絶縁膜パターンの上部側壁にスペーサを形成する段階と、
前記絶縁膜パターン及びスペーサを食刻マスクとして前記変形された導電膜パターンを食刻することにより、円筒状のストレージ電極を形成する段階と、
前記絶縁膜パターン及びスペーサを湿式食刻工程で取り除く段階と、
前段階の結果物上に誘電膜とプレート電極を順次に形成する段階とを含むことを特徴とする半導体装置のキャパシタ製造方法。 - 前記層間絶縁膜パターンがBPSG膜で形成され、前記絶縁膜パターンがTEOS酸化膜で形成され、前記スペーサはSiH4 ガスをソースガスとしてPECVD方法により形成される酸化膜で形成されることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置のキャパシタ製造方法。
- 半導体基板上に層間絶縁膜、食刻阻止層及びアンダーカット形成用の絶縁膜を順次に形成する段階と、
前記アンダーカット形成用の絶縁膜、食刻阻止層及び層間絶縁膜をパタニングして前記半導体基板の所定領域を露出させるコンタクトホールを形成すると共に、層間絶縁膜パターン、食刻阻止層パターン及び第1絶縁膜パターンを形成する段階と、
前段階の結果物の全面に前記コンタクトホールを埋め込む導電膜を形成する段階と、
前記コンタクトホールの上部の導電膜を選択的に食刻して溝を備える導電膜パターンを形成する段階と、
前記溝内に第2絶縁膜パターンを形成する段階と、
前記第2絶縁膜パターンを食刻マスクとして前記導電膜パターンを所定の深さに食刻することにより、前記絶縁膜パターンの上部側壁を露出させる変形された導電膜パターンを形成する段階と、
前記第2絶縁膜パターンの上部側壁にスペーサを形成する段階と、
前記第2絶縁膜パターン及びスペーサを食刻マスクとして前記変形された導電膜パターンを食刻することにより、円筒状のストレージ電極を形成する段階と、前記第2絶縁膜パターン、スペーサ及び第1絶縁膜パターンを取り除く段階と、
前段階の結果物上に誘電膜とプレート電極を順次に形成する段階とを含むことを特徴とする半導体装置のキャパシタ製造方法。 - 前記食刻阻止層パターンは、シリコン−窒素の膜またはシリコン−酸素−窒素の膜で形成されることを特徴とする請求項3に記載の半導体装置のキャパシタ製造方法。
- 半導体基板上に層間絶縁膜を形成する段階と、
前記層間絶縁膜をパタニングして前記半導体基板の所定領域を露出させるコンタクトホールを形成すると共に、層間絶縁膜パターンを形成する段階と、
前段階の結果物の全面に前記コンタクトホールを埋め込む導電膜を形成する段階と、
前記コンタクトホールの上部の導電膜を選択的に食刻して溝を備える導電膜パターンを形成する段階と、
前記溝内に絶縁膜パターンを形成する段階と、
前記絶縁膜パターンを食刻マスクとして前記導電膜パターンを所定の深さに食刻することにより、前記絶縁膜パターンの上部側壁を露出させる変形された導電膜パターンを形成する段階と、
前記絶縁膜パターンの上部側壁にスペーサを形成する段階と、
前記絶縁膜パターン及びスペーサを食刻マスクとして前記変形された導電膜パターンを食刻することにより、円筒状のストレージ電極を形成する段階と、
前記ストレージ電極を取り囲みながら、前記絶縁膜パターン及びスペーサを露出させる保護層を形成する段階と、
前記絶縁膜パターン及びスペーサを取り除く段階と、
前記保護層を取り除く段階とを含むことを特徴とする半導体装置のキャパシタ製造方法。 - 前記保護層はフォトレジスト層で形成されることを特徴とする請求項5に記載の半導体装置のキャパシタ製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960004699A KR100207462B1 (ko) | 1996-02-26 | 1996-02-26 | 반도체 장치의 커패시터 제조방법 |
KR1996P4699 | 1996-02-26 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09237879A JPH09237879A (ja) | 1997-09-09 |
JP3604525B2 true JP3604525B2 (ja) | 2004-12-22 |
Family
ID=19451817
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP02655397A Expired - Fee Related JP3604525B2 (ja) | 1996-02-26 | 1997-02-10 | 半導体装置のキャパシタ製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5960293A (ja) |
JP (1) | JP3604525B2 (ja) |
KR (1) | KR100207462B1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3214449B2 (ja) * | 1998-06-12 | 2001-10-02 | 日本電気株式会社 | 半導体記憶装置の製造方法 |
KR100272670B1 (ko) * | 1998-07-02 | 2000-12-01 | 윤종용 | 반도체 장치의 제조 방법 |
US6218243B1 (en) * | 1999-02-18 | 2001-04-17 | United Microelectronics Corp. | Method of fabricating a DRAM capacitor |
US6171903B1 (en) * | 1999-05-26 | 2001-01-09 | United Microelectronics Corp. | Method for forming a cylinder-shaped capacitor using a dielectric mask |
KR100470165B1 (ko) | 1999-06-28 | 2005-02-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체소자 제조 방법 |
US6746877B1 (en) * | 2003-01-07 | 2004-06-08 | Infineon Ag | Encapsulation of ferroelectric capacitors |
US7223694B2 (en) * | 2003-06-10 | 2007-05-29 | Intel Corporation | Method for improving selectivity of electroless metal deposition |
US7050290B2 (en) * | 2004-01-30 | 2006-05-23 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Integrated capacitor |
KR100876532B1 (ko) * | 2004-08-27 | 2008-12-31 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 반도체 소자의 제조 방법 |
KR100859490B1 (ko) * | 2007-06-12 | 2008-09-23 | 주식회사 동부하이텍 | 반도체 트랜지스터 제조 방법 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2689031B2 (ja) * | 1991-04-01 | 1997-12-10 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置およびその製造方法 |
TW243541B (ja) * | 1991-08-31 | 1995-03-21 | Samsung Electronics Co Ltd | |
KR960009998B1 (ko) * | 1992-06-08 | 1996-07-25 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 메모리장치의 제조방법 |
US5539612A (en) * | 1992-09-08 | 1996-07-23 | Texas Instruments Incorporated | Intermediate structure for forming a storage capacitor |
KR960006822B1 (ko) * | 1993-04-15 | 1996-05-23 | 삼성전자주식회사 | 반도체장치의 미세패턴 형성방법 |
US5429980A (en) * | 1994-10-05 | 1995-07-04 | United Microelectronics Corporation | Method of forming a stacked capacitor using sidewall spacers and local oxidation |
US5521112A (en) * | 1994-10-05 | 1996-05-28 | Industrial Technology Research Institute | Method of making capacitor for stack dram cell |
US5656532A (en) * | 1996-01-11 | 1997-08-12 | Vanguard International Semiconductor Corporation | Method for fabricating a coaxial capacitor of a semiconductor device |
US5710075A (en) * | 1996-11-06 | 1998-01-20 | Vanguard International Semiconductor Corporation | Method to increase surface area of a storage node electrode, of an STC structure, for DRAM devices |
US5766993A (en) * | 1996-11-25 | 1998-06-16 | Vanguard International Semiconductor Corporation | Method of fabricating storage node electrode, for DRAM devices, using polymer spacers, to obtain polysilicon columns, with minimum spacing between columns |
-
1996
- 1996-02-26 KR KR1019960004699A patent/KR100207462B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1997
- 1997-02-10 JP JP02655397A patent/JP3604525B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1997-02-25 US US08/806,080 patent/US5960293A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR970063733A (ko) | 1997-09-12 |
US5960293A (en) | 1999-09-28 |
JPH09237879A (ja) | 1997-09-09 |
KR100207462B1 (ko) | 1999-07-15 |
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Legal Events
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A977 | Report on retrieval |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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