JP3585018B2 - 共焦点装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、試料の共焦点画像を高速に測定できる共焦点装置に関し、特に照射光の走査が不要な共焦点装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
共焦点装置は試料上で照射光を走査し、前記試料からの反射光をピンホール等を介して受光することにより、前記試料面の分解能のみならず光軸方向の分解能を有するものである。
【０００３】
図５はこのような従来の共焦点装置の一例を示す構成ブロック図である。図５において１はレーザ光源、２はビームスプリッタ、３及び４はミラースキャナ、５はミラー、６は対物レンズ、７は試料、８はピンホール、９は受光器である。
【０００４】
レーザ光源１の出力光はビームスプリッタ２を透過し、ミラースキャナ３及び４、ミラー５、対物レンズ６を順次介して試料７に集光される。
【０００５】
また、試料７からの反射光や蛍光等の戻り光は対物レンズ６、ミラー５、ミラースキャナ４及び３を順次介してビームスプリッタ２に入射される。
【０００６】
この戻り光はビームスプリッタ２で反射されてピンホール８を通過して受光器９に入射される。
【０００７】
ここで、図５に示す従来例の動作を説明する。レーザ光源１の出力光は対物レンズ６等により試料７上の１点に集光される。
【０００８】
試料７の１点に集光されたレーザ光源１の出力光による戻り光をピンホール８を介して検出することにより、共焦点効果が得られる。すなわち、３次元空間中の１点の精密な観測ができる。
【０００９】
さらに、ミラースキャナ３及び４により試料７の表面であるｘ軸方向やｙ軸方向に走査することにより、試料７表面の共焦点画像を得ることができる。
【００１０】
この結果、試料７上の集光をミラースキャナ３及び４で走査して、戻り光をピンホール８を介して検出することにより、共焦点画像を得ることが可能になる。
【００１１】
また、図６は従来の共焦点装置の他の一例を示す構成ブロック図であり、本願出願人の出願に係る特願平４−１５４１１号（特開平５−６０９８０号公報）に記載されたものである。
【００１２】
図６において１ａはレーザ、１０は集光手段としてマイクロレンズが設けられた円板（以下、マイクロレンズ板と呼ぶ。）、１１は光分岐手段であるビームスプリッタ、１２は開口としてピンホールが設けられた円板（以下、ピンホール板と呼ぶ。）、１３は対物レンズ、１４は試料、１５はリレーレンズ、１６は受光器、１７はマイクロレンズ板１０及びピンホール板１２を同期して回転させるモータである。
【００１３】
レーザ１ａの出力光はマイクロレンズ板１０に入射され、マイクロレンズ板１０に設けられた各々のマイクロレンズによりビームスプリッタ１１を介してピンホール板１２上の各々のピンホールに集光される。ピンホール板１２上の各々のピンホールを通過した光は対物レンズ１３を介して試料１４の上に入射される。
【００１４】
試料１４からの反射光や蛍光等の戻り光は再び対物レンズ１３を介してピンホール板１２に入射され、ピンホール板１２上の各々のピンホールを通過した光はビームスプリッタ１１で反射され、リレーレンズ１５を介して受光器１６に入射される。
【００１５】
また、マイクロレンズ板１０及びピンホール板１２は同一の軸に固定され、この軸に取付けられたモータ１７によって同期して回転される。
【００１６】
ここで、図６に示す従来例の動作を説明する。レーザ１ａの出力光は同期して回転するマイクロレンズ板１０上の各々のマイクロレンズ及びピンホール板１２上の各々のピンホールを通過することにより試料１４表面を走査する。そして、試料１４からの反射光等は受光器１６で受光されて共焦点画像が得られる。
【００１７】
また、前述のようにマイクロレンズ板１０に設けられた各々のマイクロレンズは入射光をビームスプリッタ１１を介してピンホール板１２上の各々のピンホールに集光する。即ち、マイクロレンズの焦点位置にピンホールを配置することによりレーザ１ａからの入射光の利用効率を向上させることが可能になる。
【００１８】
また、図６に示す従来例は視野である受光器１６の検出範囲内に約１０００点のピンホールが存在し、この各ピンホールの通過光で試料１４を照射するマルチビームとなる。このため、１つ１つのビームの走査範囲は小さくなるので高速走査が可能になる。
【００１９】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、図５に示す従来例では走査手段であるミラースキャナ３及び４の構成が複雑であり装置の価格が高価になり、小型化が困難である。
【００２０】
また、図６に示す従来例では高速走査は可能であるものの各ビーム間には一定の間隔が存在するため、共焦点画像上でその間隔を埋めるためにビームの走査が必要であり、このビーム走査に要する時間で共焦点画像の撮像速度が制限されてしまう。
【００２１】
例えば、１つの共焦点画像を走査するのには”１ｍｓ”程度の時間がかかってしまい、たとえ高速カメラを用いて撮像しても”１ｍｓ”以下で共焦点画像を撮像することは出来ないと言った問題点があった。
従って本発明が解決しようとする課題は、照射光の走査が不要な共焦点装置を実現することにある。
【００２２】
【課題を解決するための手段】
このような課題を達成するために、本発明の第１では、
試料の共焦点画像を測定する共焦点装置において、
光源と、
複数の開口が設けられた平板と、
複数の受光セルから構成される受光器と、
前記光源からの入射光を透過若しくは反射させて前記平板に入射し、前記平板からの出力光を前記受光器に反射若しくは透過させるビームスプリッタと、
前記試料上に前記平板の前記開口を通過した光の像を結像させ、前記試料からの戻り光を前記平板に集光する対物レンズとを備え、
前記受光器に集光される光スポット間隔が前記受光セル間隔の２倍以下であり、且つ、前記受光器に集光される１つの光スポットを前記受光器の隣接する２以上の受光セルにまたがって集光させることを特徴とするものである。
【００２３】
このような課題を達成するために、本発明の第２では、
本発明の第１において、
前記受光器の各受光セルの範囲内に集光される光スポットが同数であることを特徴とするものである。
【００２４】
このような課題を達成するために、本発明の第３では、
本発明の第１において、
前記開口の形状が円形であることを特徴とするものである。
【００２５】
このような課題を達成するために、本発明の第４では、
本発明の第１において、
前記開口の形状がスリット状であることを特徴とするものである。
【００２６】
このような課題を達成するために、本発明の第５では、
本発明の第１において、
前記平板を照明系の視野絞りの位置に設けたことを特徴とするものである。
【００３０】
【発明の実施の形態】
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明に係る共焦点装置の一実施例を示す構成図である。
【００３１】
図１において１１ａはビームスプリッタ、１４ａは試料、１５ａはリレーレンズ、１８は開口として複数のピンホールが設けられた平板（以下、ピンホールアレイ板と呼ぶ。）、１９は対物レンズ、２０はＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）カメラ等の受光器、１００は入射光である。
【００３２】
入射光１００はビームスプリッタ１１ａを透過してピンホールアレイ板１８に入射される。この光はピンホールアレイ板１８上に設けられた複数のピンホールを通過して、対物レンズ１９により集光され試料１４ａに光スポットを形成する。
【００３３】
試料１４ａからの反射光や蛍光等の戻り光は対物レンズ１９により先に通過したピンホールアレイ板１８上に設けられたピンホールを再び通過してビームスプリッタ１１ａに入射される。
【００３４】
ビームスプリッタ１１ａは入射光を反射させてリレーレンズ１５ａを介して受光器２０に入射する。
【００３５】
ここで、図１に示す実施例を説明する。説明の簡単のためにピンホールアレイ板１８上には９個のピンホールが設けられており、ＣＣＤカメラ等の受光器２０も９個の受光セルから構成している。
【００３６】
また、ピンホールアレイ板１８は対物レンズ１９の結像面（中間像面）に設置される。
【００３７】
例えば、図１中”イ”に示すピンホールアレイ板１８上のピンホールを通過した入射光は図１中”ロ”に示すように試料１４ａ上に光スポットを形成する。
【００３８】
この光スポットからの戻り光は再び図１中”イ”に示すピンホールを通過しリレーレンズ１５ａにより図１中”ハ”に示す光スポットを形成する。
【００３９】
この時、対物レンズ１９の倍率を”１００倍”、図１中”ロ”に示す光スポットを”１μｍ”とすると結像面での光スポットは”１００μｍ”となり、等倍のリレーレンズ１５ａで受光器２０に結像される光スポットも”１００μｍ”となる。
【００４０】
通常、ＣＣＤカメラ等の受光器２０の受光セルは”５〜１０μｍ”程度であるので、”１００μｍ”の光スポットが受光器２０に集光された場合には光スポット間の隙間が受光器２０により識別される。
【００４１】
このため、共焦点画像上で前記隙間を埋めるためには試料１４ａ上に形成される光スポットを走査する必要が生じる。
【００４２】
一方、対物レンズ１９の倍率を”１倍”とした場合には結像面での光スポットは”１μｍ”のままであり、また、受光器２０に集光される光スポットも”１μｍ”となる。
【００４３】
例えば、図１中”ニ”に示す受光器２０を構成する１つの受光セルは”５〜１０μｍ”程度であるので、図１中”ハ”に集光されている光スポットは図１中”ニ”に示す受光セルの範囲内に集光されることになる。
【００４４】
ここで、受光器２０の受光セルの間隔を”５μｍ”、受光器２０に集光される光スポットの間隔を”５μｍ”とすると、受光セル間隔と光スポット間隔が”１：１”で対応する。
【００４５】
従って、図１に示すように受光器２０上に集光された各々の光スポットは受光器２０のそれぞれ対応する受光セルの範囲内に集光されることになる。
【００４６】
この場合、受光器２０では光スポット間の隙間を認識することができなくなる。言い換えれば、共焦点画面上では光スポットを走査して埋めるべき隙間が存在しなくなる。即ち、光スポットを走査することなく共焦点画像を得ることができる。
【００４７】
この結果、受光器２０の受光セル間隔と受光器２０に集光される光スポット間隔とを”１：１”に対応させ各々の光スポットを受光器２０のそれぞれ対応する受光セルの範囲内に集光させることにより、照射光の走査が不要になる。
【００４８】
このため、構造が簡単になり低価格化や小型化が容易になる。また、走査に要する時間が無くなるので共焦点画像の撮像速度の制限が無くなり高速化が可能になる。
【００４９】
なお、図１に示す実施例の説明では受光器２０の受光セル間隔と受光器２０に集光される光スポット間隔とを”１：１”としたがこれに限定されるものではない。
【００５０】
例えば、図２は受光器２０の受光セル間隔と受光器２０に集光される光スポット間隔との関係を説明する説明図である。図２中”イ”，”ロ”，”ハ”及び”ニ”は受光器２０の受光セル、図２中”ホ”及び”ヘ”は受光器２０に集光された光スポット、図２中”ト”及び”チ”は受光セル間隔及び光スポット間隔である。
【００５１】
この場合、受光セル間隔及び光スポット間隔は”１：２”となっており、１つの光スポットが隣接する２つの受光セルにまたがって集光されている。言い換えれば１つの受光セルの範囲内に”０．５個”の光スポットが集光されていることになる。
【００５２】
このような状態でも受光器２０では光スポット間の隙間を認識することができないので、光スポットを走査することなく共焦点画像を得ることができる。
【００５３】
また、同様に各受光セルの範囲内に集光される光スポットの数は”１個”に限定されるものではない。
【００５４】
例えば、図３は受光セルの範囲内に集光される光スポットの一例を示す説明図であり、図３中”イ”は受光セル、図３中”ロ”及び”ハ”は集光される光スポットである。
【００５５】
図３から分かるように、図３中”イ”に示す受光セルには”１．５個”の光スポットが集光されていることになる。
【００５６】
すなわち、各受光セルの範囲内に集光される光スポットの数は実数個であれば構わない。但し、各受光セル間で集光される光スポット数が異なると明暗のむらが生じ易くなるため各受光セルに集光される光スポット数は同数が良い。
【００５７】
また、光スポットやピンホールアレイ板１８の開口の形状としては円形に限定されるものではなく、方形、楕円等どのような形状でも構わない。
【００５８】
例えば、図４は受光セルの範囲内に集光される光スポットの形状の一例を示す説明図であり、図４中”イ”及び”ロ”は受光セル、図４中”ハ”は集光されるスリット状の光スポットである。
【００５９】
このような形状にしても受光器２０では光スポット（スリット）間の隙間を認識することができないので、光スポットを走査することなく共焦点画像を得ることができる。
【００６０】
また、図１に示す実施例においてピンホールアレイ板１８の設置場所としては対物レンズ１９の結像面としたが、顕微鏡の照明系の視野絞りの位置でも構わない。
【００６１】
また、図１に示すビームスプリッタ１１ａは入射光１００を透過させ、ピンホールアレイ板１８からの光を反射させているが、ビームスプリッタ１１ａは入射光１００を反射させ、ピンホールアレイ板１８からの光を透過させても構わない。
【００６２】
また、図２において１つの光スポットが隣接する２つの受光セルにまたがって集光されていたが、隣接する４つの受光セルにまたがって集光しても構わない。
【００６４】
【発明の効果】
以上説明したことから明らかなように、本発明によれば次のような効果がある。
受光器に集光される１つの光スポットを受光器の隣接する２以上の受光セルにまたがって集光させることにより、照射光の走査が不要になる。
【００６５】
また、構造が簡単になり低価格化や小型化が容易になり、走査に要する時間が無くなるので共焦点画像の撮像速度の制限が無くなり高速化が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る共焦点装置の一実施例を示す構成図である。
【図２】受光器の受光セル間隔と受光器に集光される光スポット間隔との関係を説明する説明図である。
【図３】受光セルの範囲内に集光される光スポットの一例を示す説明図である。
【図４】受光セルの範囲内に集光される光スポットの形状の一例を示す説明図である。
【図５】従来の共焦点装置の一例を示す構成ブロック図である。
【図６】従来の共焦点装置の他の一例を示す構成ブロック図である。
【符号の説明】
１，１ａ レーザ光源
２，１１，１１ａ ビームスプリッタ
３，４ ミラースキャナ
５ ミラー
６，１３，１９ 対物レンズ
７，１４，１４ａ 試料
８ ピンホール
９，１６，２０ 受光器
１０ マイクロレンズ板
１２ ピンホール板
１５，１５ａ リレーレンズ
１７ モータ
１８ ピンホールアレイ板
１００ 入射光
【発明の属する技術分野】
本発明は、試料の共焦点画像を高速に測定できる共焦点装置に関し、特に照射光の走査が不要な共焦点装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
共焦点装置は試料上で照射光を走査し、前記試料からの反射光をピンホール等を介して受光することにより、前記試料面の分解能のみならず光軸方向の分解能を有するものである。
【０００３】
図５はこのような従来の共焦点装置の一例を示す構成ブロック図である。図５において１はレーザ光源、２はビームスプリッタ、３及び４はミラースキャナ、５はミラー、６は対物レンズ、７は試料、８はピンホール、９は受光器である。
【０００４】
レーザ光源１の出力光はビームスプリッタ２を透過し、ミラースキャナ３及び４、ミラー５、対物レンズ６を順次介して試料７に集光される。
【０００５】
また、試料７からの反射光や蛍光等の戻り光は対物レンズ６、ミラー５、ミラースキャナ４及び３を順次介してビームスプリッタ２に入射される。
【０００６】
この戻り光はビームスプリッタ２で反射されてピンホール８を通過して受光器９に入射される。
【０００７】
ここで、図５に示す従来例の動作を説明する。レーザ光源１の出力光は対物レンズ６等により試料７上の１点に集光される。
【０００８】
試料７の１点に集光されたレーザ光源１の出力光による戻り光をピンホール８を介して検出することにより、共焦点効果が得られる。すなわち、３次元空間中の１点の精密な観測ができる。
【０００９】
さらに、ミラースキャナ３及び４により試料７の表面であるｘ軸方向やｙ軸方向に走査することにより、試料７表面の共焦点画像を得ることができる。
【００１０】
この結果、試料７上の集光をミラースキャナ３及び４で走査して、戻り光をピンホール８を介して検出することにより、共焦点画像を得ることが可能になる。
【００１１】
また、図６は従来の共焦点装置の他の一例を示す構成ブロック図であり、本願出願人の出願に係る特願平４−１５４１１号（特開平５−６０９８０号公報）に記載されたものである。
【００１２】
図６において１ａはレーザ、１０は集光手段としてマイクロレンズが設けられた円板（以下、マイクロレンズ板と呼ぶ。）、１１は光分岐手段であるビームスプリッタ、１２は開口としてピンホールが設けられた円板（以下、ピンホール板と呼ぶ。）、１３は対物レンズ、１４は試料、１５はリレーレンズ、１６は受光器、１７はマイクロレンズ板１０及びピンホール板１２を同期して回転させるモータである。
【００１３】
レーザ１ａの出力光はマイクロレンズ板１０に入射され、マイクロレンズ板１０に設けられた各々のマイクロレンズによりビームスプリッタ１１を介してピンホール板１２上の各々のピンホールに集光される。ピンホール板１２上の各々のピンホールを通過した光は対物レンズ１３を介して試料１４の上に入射される。
【００１４】
試料１４からの反射光や蛍光等の戻り光は再び対物レンズ１３を介してピンホール板１２に入射され、ピンホール板１２上の各々のピンホールを通過した光はビームスプリッタ１１で反射され、リレーレンズ１５を介して受光器１６に入射される。
【００１５】
また、マイクロレンズ板１０及びピンホール板１２は同一の軸に固定され、この軸に取付けられたモータ１７によって同期して回転される。
【００１６】
ここで、図６に示す従来例の動作を説明する。レーザ１ａの出力光は同期して回転するマイクロレンズ板１０上の各々のマイクロレンズ及びピンホール板１２上の各々のピンホールを通過することにより試料１４表面を走査する。そして、試料１４からの反射光等は受光器１６で受光されて共焦点画像が得られる。
【００１７】
また、前述のようにマイクロレンズ板１０に設けられた各々のマイクロレンズは入射光をビームスプリッタ１１を介してピンホール板１２上の各々のピンホールに集光する。即ち、マイクロレンズの焦点位置にピンホールを配置することによりレーザ１ａからの入射光の利用効率を向上させることが可能になる。
【００１８】
また、図６に示す従来例は視野である受光器１６の検出範囲内に約１０００点のピンホールが存在し、この各ピンホールの通過光で試料１４を照射するマルチビームとなる。このため、１つ１つのビームの走査範囲は小さくなるので高速走査が可能になる。
【００１９】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、図５に示す従来例では走査手段であるミラースキャナ３及び４の構成が複雑であり装置の価格が高価になり、小型化が困難である。
【００２０】
また、図６に示す従来例では高速走査は可能であるものの各ビーム間には一定の間隔が存在するため、共焦点画像上でその間隔を埋めるためにビームの走査が必要であり、このビーム走査に要する時間で共焦点画像の撮像速度が制限されてしまう。
【００２１】
例えば、１つの共焦点画像を走査するのには”１ｍｓ”程度の時間がかかってしまい、たとえ高速カメラを用いて撮像しても”１ｍｓ”以下で共焦点画像を撮像することは出来ないと言った問題点があった。
従って本発明が解決しようとする課題は、照射光の走査が不要な共焦点装置を実現することにある。
【００２２】
【課題を解決するための手段】
このような課題を達成するために、本発明の第１では、
試料の共焦点画像を測定する共焦点装置において、
光源と、
複数の開口が設けられた平板と、
複数の受光セルから構成される受光器と、
前記光源からの入射光を透過若しくは反射させて前記平板に入射し、前記平板からの出力光を前記受光器に反射若しくは透過させるビームスプリッタと、
前記試料上に前記平板の前記開口を通過した光の像を結像させ、前記試料からの戻り光を前記平板に集光する対物レンズとを備え、
前記受光器に集光される光スポット間隔が前記受光セル間隔の２倍以下であり、且つ、前記受光器に集光される１つの光スポットを前記受光器の隣接する２以上の受光セルにまたがって集光させることを特徴とするものである。
【００２３】
このような課題を達成するために、本発明の第２では、
本発明の第１において、
前記受光器の各受光セルの範囲内に集光される光スポットが同数であることを特徴とするものである。
【００２４】
このような課題を達成するために、本発明の第３では、
本発明の第１において、
前記開口の形状が円形であることを特徴とするものである。
【００２５】
このような課題を達成するために、本発明の第４では、
本発明の第１において、
前記開口の形状がスリット状であることを特徴とするものである。
【００２６】
このような課題を達成するために、本発明の第５では、
本発明の第１において、
前記平板を照明系の視野絞りの位置に設けたことを特徴とするものである。
【００３０】
【発明の実施の形態】
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明に係る共焦点装置の一実施例を示す構成図である。
【００３１】
図１において１１ａはビームスプリッタ、１４ａは試料、１５ａはリレーレンズ、１８は開口として複数のピンホールが設けられた平板（以下、ピンホールアレイ板と呼ぶ。）、１９は対物レンズ、２０はＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）カメラ等の受光器、１００は入射光である。
【００３２】
入射光１００はビームスプリッタ１１ａを透過してピンホールアレイ板１８に入射される。この光はピンホールアレイ板１８上に設けられた複数のピンホールを通過して、対物レンズ１９により集光され試料１４ａに光スポットを形成する。
【００３３】
試料１４ａからの反射光や蛍光等の戻り光は対物レンズ１９により先に通過したピンホールアレイ板１８上に設けられたピンホールを再び通過してビームスプリッタ１１ａに入射される。
【００３４】
ビームスプリッタ１１ａは入射光を反射させてリレーレンズ１５ａを介して受光器２０に入射する。
【００３５】
ここで、図１に示す実施例を説明する。説明の簡単のためにピンホールアレイ板１８上には９個のピンホールが設けられており、ＣＣＤカメラ等の受光器２０も９個の受光セルから構成している。
【００３６】
また、ピンホールアレイ板１８は対物レンズ１９の結像面（中間像面）に設置される。
【００３７】
例えば、図１中”イ”に示すピンホールアレイ板１８上のピンホールを通過した入射光は図１中”ロ”に示すように試料１４ａ上に光スポットを形成する。
【００３８】
この光スポットからの戻り光は再び図１中”イ”に示すピンホールを通過しリレーレンズ１５ａにより図１中”ハ”に示す光スポットを形成する。
【００３９】
この時、対物レンズ１９の倍率を”１００倍”、図１中”ロ”に示す光スポットを”１μｍ”とすると結像面での光スポットは”１００μｍ”となり、等倍のリレーレンズ１５ａで受光器２０に結像される光スポットも”１００μｍ”となる。
【００４０】
通常、ＣＣＤカメラ等の受光器２０の受光セルは”５〜１０μｍ”程度であるので、”１００μｍ”の光スポットが受光器２０に集光された場合には光スポット間の隙間が受光器２０により識別される。
【００４１】
このため、共焦点画像上で前記隙間を埋めるためには試料１４ａ上に形成される光スポットを走査する必要が生じる。
【００４２】
一方、対物レンズ１９の倍率を”１倍”とした場合には結像面での光スポットは”１μｍ”のままであり、また、受光器２０に集光される光スポットも”１μｍ”となる。
【００４３】
例えば、図１中”ニ”に示す受光器２０を構成する１つの受光セルは”５〜１０μｍ”程度であるので、図１中”ハ”に集光されている光スポットは図１中”ニ”に示す受光セルの範囲内に集光されることになる。
【００４４】
ここで、受光器２０の受光セルの間隔を”５μｍ”、受光器２０に集光される光スポットの間隔を”５μｍ”とすると、受光セル間隔と光スポット間隔が”１：１”で対応する。
【００４５】
従って、図１に示すように受光器２０上に集光された各々の光スポットは受光器２０のそれぞれ対応する受光セルの範囲内に集光されることになる。
【００４６】
この場合、受光器２０では光スポット間の隙間を認識することができなくなる。言い換えれば、共焦点画面上では光スポットを走査して埋めるべき隙間が存在しなくなる。即ち、光スポットを走査することなく共焦点画像を得ることができる。
【００４７】
この結果、受光器２０の受光セル間隔と受光器２０に集光される光スポット間隔とを”１：１”に対応させ各々の光スポットを受光器２０のそれぞれ対応する受光セルの範囲内に集光させることにより、照射光の走査が不要になる。
【００４８】
このため、構造が簡単になり低価格化や小型化が容易になる。また、走査に要する時間が無くなるので共焦点画像の撮像速度の制限が無くなり高速化が可能になる。
【００４９】
なお、図１に示す実施例の説明では受光器２０の受光セル間隔と受光器２０に集光される光スポット間隔とを”１：１”としたがこれに限定されるものではない。
【００５０】
例えば、図２は受光器２０の受光セル間隔と受光器２０に集光される光スポット間隔との関係を説明する説明図である。図２中”イ”，”ロ”，”ハ”及び”ニ”は受光器２０の受光セル、図２中”ホ”及び”ヘ”は受光器２０に集光された光スポット、図２中”ト”及び”チ”は受光セル間隔及び光スポット間隔である。
【００５１】
この場合、受光セル間隔及び光スポット間隔は”１：２”となっており、１つの光スポットが隣接する２つの受光セルにまたがって集光されている。言い換えれば１つの受光セルの範囲内に”０．５個”の光スポットが集光されていることになる。
【００５２】
このような状態でも受光器２０では光スポット間の隙間を認識することができないので、光スポットを走査することなく共焦点画像を得ることができる。
【００５３】
また、同様に各受光セルの範囲内に集光される光スポットの数は”１個”に限定されるものではない。
【００５４】
例えば、図３は受光セルの範囲内に集光される光スポットの一例を示す説明図であり、図３中”イ”は受光セル、図３中”ロ”及び”ハ”は集光される光スポットである。
【００５５】
図３から分かるように、図３中”イ”に示す受光セルには”１．５個”の光スポットが集光されていることになる。
【００５６】
すなわち、各受光セルの範囲内に集光される光スポットの数は実数個であれば構わない。但し、各受光セル間で集光される光スポット数が異なると明暗のむらが生じ易くなるため各受光セルに集光される光スポット数は同数が良い。
【００５７】
また、光スポットやピンホールアレイ板１８の開口の形状としては円形に限定されるものではなく、方形、楕円等どのような形状でも構わない。
【００５８】
例えば、図４は受光セルの範囲内に集光される光スポットの形状の一例を示す説明図であり、図４中”イ”及び”ロ”は受光セル、図４中”ハ”は集光されるスリット状の光スポットである。
【００５９】
このような形状にしても受光器２０では光スポット（スリット）間の隙間を認識することができないので、光スポットを走査することなく共焦点画像を得ることができる。
【００６０】
また、図１に示す実施例においてピンホールアレイ板１８の設置場所としては対物レンズ１９の結像面としたが、顕微鏡の照明系の視野絞りの位置でも構わない。
【００６１】
また、図１に示すビームスプリッタ１１ａは入射光１００を透過させ、ピンホールアレイ板１８からの光を反射させているが、ビームスプリッタ１１ａは入射光１００を反射させ、ピンホールアレイ板１８からの光を透過させても構わない。
【００６２】
また、図２において１つの光スポットが隣接する２つの受光セルにまたがって集光されていたが、隣接する４つの受光セルにまたがって集光しても構わない。
【００６４】
【発明の効果】
以上説明したことから明らかなように、本発明によれば次のような効果がある。
受光器に集光される１つの光スポットを受光器の隣接する２以上の受光セルにまたがって集光させることにより、照射光の走査が不要になる。
【００６５】
また、構造が簡単になり低価格化や小型化が容易になり、走査に要する時間が無くなるので共焦点画像の撮像速度の制限が無くなり高速化が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る共焦点装置の一実施例を示す構成図である。
【図２】受光器の受光セル間隔と受光器に集光される光スポット間隔との関係を説明する説明図である。
【図３】受光セルの範囲内に集光される光スポットの一例を示す説明図である。
【図４】受光セルの範囲内に集光される光スポットの形状の一例を示す説明図である。
【図５】従来の共焦点装置の一例を示す構成ブロック図である。
【図６】従来の共焦点装置の他の一例を示す構成ブロック図である。
【符号の説明】
１，１ａ レーザ光源
２，１１，１１ａ ビームスプリッタ
３，４ ミラースキャナ
５ ミラー
６，１３，１９ 対物レンズ
７，１４，１４ａ 試料
８ ピンホール
９，１６，２０ 受光器
１０ マイクロレンズ板
１２ ピンホール板
１５，１５ａ リレーレンズ
１７ モータ
１８ ピンホールアレイ板
１００ 入射光
Claims (5)
- 試料の共焦点画像を測定する共焦点装置において、
光源と、
複数の開口が設けられた平板と、
複数の受光セルから構成される受光器と、
前記光源からの入射光を透過若しくは反射させて前記平板に入射し、前記平板からの出力光を前記受光器に反射若しくは透過させるビームスプリッタと、
前記試料上に前記平板の前記開口を通過した光の像を結像させ、前記試料からの戻り光を前記平板に集光する対物レンズとを備え、
前記受光器に集光される光スポット間隔が前記受光セル間隔の２倍以下であり、且つ、前記受光器に集光される１つの光スポットを前記受光器の隣接する２以上の受光セルにまたがって集光させることを特徴とする共焦点装置。 - 前記受光器の各受光セルの範囲内に集光される光スポットが同数であることを特徴とする
特許請求の範囲請求項１記載の共焦点装置。 - 前記開口の形状が円形であることを特徴とする
特許請求の範囲請求項１記載の共焦点装置。 - 前記開口の形状がスリット状であることを特徴とする
特許請求の範囲請求項１記載の共焦点装置。 - 前記平板を照明系の視野絞りの位置に設けたことを特徴とする
特許請求の範囲請求項１記載の共焦点装置。
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