JPH10319323A - 共焦点装置 - Google Patents
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Abstract
る。 【解決手段】 試料の共焦点画像を測定する共焦点装置
において、光源と、複数の開口が設けられた平板と、複
数の受光セルから構成される受光器と、光源からの入射
光を透過若しくは反射させて平板に入射し、平板からの
出力光を受光器に反射若しくは透過させるビームスプリ
ッタと、試料上に平板の開口を通過した光の像を結像さ
せ、試料からの戻り光を平板に集光する対物レンズとを
備え、受光器に集光される光スポット間隔が受光セル間
隔の2倍以下である。
Description
を高速に測定できる共焦点装置に関し、特に照射光の走
査が不要な共焦点装置に関する。
前記試料からの反射光をピンホール等を介して受光する
ことにより、前記試料面の分解能のみならず光軸方向の
分解能を有するものである。
を示す構成ブロック図である。図5において1はレーザ
光源、2はビームスプリッタ、3及び4はミラースキャ
ナ、5はミラー、6は対物レンズ、7は試料、8はピン
ホール、9は受光器である。
2を透過し、ミラースキャナ3及び4、ミラー5、対物
レンズ6を順次介して試料7に集光される。
光は対物レンズ6、ミラー5、ミラースキャナ4及び3
を順次介してビームスプリッタ2に入射される。
れてピンホール8を通過して受光器9に入射される。
る。レーザ光源1の出力光は対物レンズ6等により試料
7上の1点に集光される。
出力光による戻り光をピンホール8を介して検出するこ
とにより、共焦点効果が得られる。すなわち、3次元空
間中の1点の精密な観測ができる。
料7の表面であるx軸方向やy軸方向に走査することに
より、試料7表面の共焦点画像を得ることができる。
ナ3及び4で走査して、戻り光をピンホール8を介して
検出することにより、共焦点画像を得ることが可能にな
る。
を示す構成ブロック図であり、本願出願人の出願に係る
特願平4−15411号(特開平5−60980号公
報)に記載されたものである。
段としてマイクロレンズが設けられた円板(以下、マイ
クロレンズ板と呼ぶ。)、11は光分岐手段であるビー
ムスプリッタ、12は開口としてピンホールが設けられ
た円板(以下、ピンホール板と呼ぶ。)、13は対物レ
ンズ、14は試料、15はリレーレンズ、16は受光
器、17はマイクロレンズ板10及びピンホール板12
を同期して回転させるモータである。
0に入射され、マイクロレンズ板10に設けられた各々
のマイクロレンズによりビームスプリッタ11を介して
ピンホール板12上の各々のピンホールに集光される。
ピンホール板12上の各々のピンホールを通過した光は
対物レンズ13を介して試料14の上に入射される。
再び対物レンズ13を介してピンホール板12に入射さ
れ、ピンホール板12上の各々のピンホールを通過した
光はビームスプリッタ11で反射され、リレーレンズ1
5を介して受光器16に入射される。
ル板12は同一の軸に固定され、この軸に取付けられた
モータ17によって同期して回転される。
る。レーザ1aの出力光は同期して回転するマイクロレ
ンズ板10上の各々のマイクロレンズ及びピンホール板
12上の各々のピンホールを通過することにより試料1
4表面を走査する。そして、試料14からの反射光等は
受光器16で受光されて共焦点画像が得られる。
に設けられた各々のマイクロレンズは入射光をビームス
プリッタ11を介してピンホール板12上の各々のピン
ホールに集光する。即ち、マイクロレンズの焦点位置に
ピンホールを配置することによりレーザ1aからの入射
光の利用効率を向上させることが可能になる。
器16の検出範囲内に約1000点のピンホールが存在
し、この各ピンホールの通過光で試料14を照射するマ
ルチビームとなる。このため、1つ1つのビームの走査
範囲は小さくなるので高速走査が可能になる。
来例では走査手段であるミラースキャナ3及び4の構成
が複雑であり装置の価格が高価になり、小型化が困難で
ある。
能であるものの各ビーム間には一定の間隔が存在するた
め、共焦点画像上でその間隔を埋めるためにビームの走
査が必要であり、このビーム走査に要する時間で共焦点
画像の撮像速度が制限されてしまう。
は”1ms”程度の時間がかかってしまい、たとえ高速
カメラを用いて撮像しても”1ms”以下で共焦点画像
を撮像することは出来ないと言った問題点があった。従
って本発明が解決しようとする課題は、照射光の走査が
不要な共焦点装置を実現することにある。
るために、本発明の第1では、試料の共焦点画像を測定
する共焦点装置において、光源と、複数の開口が設けら
れた平板と、複数の受光セルから構成される受光器と、
前記光源からの入射光を透過若しくは反射させて前記平
板に入射し、前記平板からの出力光を前記受光器に反射
若しくは透過させるビームスプリッタと、前記試料上に
前記平板の前記開口を通過した光の像を結像させ、前記
試料からの戻り光を前記平板に集光する対物レンズとを
備え、前記受光器に集光される光スポット間隔が前記受
光セル間隔の2倍以下であることを特徴とするものであ
る。
の第2では、本発明の第1において、前記受光器に集光
される一の光スポットを前記受光器の隣接する2以上の
受光セルにまたがって集光させることを特徴とするもの
である。
の第3では、本発明の第1において、前記受光器に集光
される一の光スポットを前記受光器の一の受光セルの範
囲内に集光させることを特徴とするものである。
の第4では、本発明の第1において、前記受光器に集光
される複数の光スポットを前記受光器の一の受光セルの
範囲内に集光させることを特徴とするものである。
の第5では、本発明の第2乃至第4において、前記受光
器の各受光セルの範囲内に集光される光スポットが同数
であることを特徴とするものである。
の第6では、本発明の第1において、前記開口の形状が
円形であることを特徴とするものである。
の第7では、本発明の第1において、前記開口の形状が
スリット状であることを特徴とするものである。
の第8では、本発明の第1において、前記平板を照明系
の光源絞りの位置に設けたことを特徴とするものであ
る。
説明する。図1は本発明に係る共焦点装置の一実施例を
示す構成図である。
14aは試料、15aはリレーレンズ、18は開口とし
て複数のピンホールが設けられた平板(以下、ピンホー
ルアレイ板と呼ぶ。)、19は対物レンズ、20はCC
D(Charge Coupled Device)カメラ等の受光器、10
0は入射光である。
透過してピンホールアレイ板18に入射される。この光
はピンホールアレイ板18上に設けられた複数のピンホ
ールを通過して、対物レンズ19により集光され試料1
4aに光スポットを形成する。
は対物レンズ19により先に通過したピンホールアレイ
板18上に設けられたピンホールを再び通過してビーム
スプリッタ11aに入射される。
せてリレーレンズ15aを介して受光器20に入射す
る。
明の簡単のためにピンホールアレイ板18上には9個の
ピンホールが設けられており、CCDカメラ等の受光器
20も9個の受光セルから構成している。
ズ19の結像面(中間像面)に設置される。
レイ板18上のピンホールを通過した入射光は図1中”
ロ”に示すように試料14a上に光スポットを形成す
る。
中”イ”に示すピンホールを通過しリレーレンズ15a
により図1中”ハ”に示す光スポットを形成する。
倍”、図1中”ロ”に示す光スポットを”1μm”とす
ると結像面での光スポットは”100μm”となり、等
倍のリレーレンズ15aで受光器20に結像される光ス
ポットも”100μm”となる。
セルは”5〜10μm”程度であるので、”100μ
m”の光スポットが受光器20に集光された場合には光
スポット間の隙間が受光器20により識別される。
るためには試料14a上に形成される光スポットを走査
する必要が生じる。
した場合には結像面での光スポットは”1μm”のまま
であり、また、受光器20に集光される光スポットも”
1μm”となる。
構成する1つの受光セルは”5〜10μm”程度である
ので、図1中”ハ”に集光されている光スポットは図1
中”ニ”に示す受光セルの範囲内に集光されることにな
る。
5μm”、受光器20に集光される光スポットの間隔
を”5μm”とすると、受光セル間隔と光スポット間隔
が”1:1”で対応する。
集光された各々の光スポットは受光器20のそれぞれ対
応する受光セルの範囲内に集光されることになる。
隙間を認識することができなくなる。言い換えれば、共
焦点画面上では光スポットを走査して埋めるべき隙間が
存在しなくなる。即ち、光スポットを走査することなく
共焦点画像を得ることができる。
光器20に集光される光スポット間隔とを”1:1”に
対応させ各々の光スポットを受光器20のそれぞれ対応
する受光セルの範囲内に集光させることにより、照射光
の走査が不要になる。
型化が容易になる。また、走査に要する時間が無くなる
ので共焦点画像の撮像速度の制限が無くなり高速化が可
能になる。
20の受光セル間隔と受光器20に集光される光スポッ
ト間隔とを”1:1”としたがこれに限定されるもので
はない。
と受光器20に集光される光スポット間隔との関係を説
明する説明図である。図2中”イ”,”ロ”,”ハ”及
び”ニ”は受光器20の受光セル、図2中”ホ”及び”
ヘ”は受光器20に集光された光スポット、図2中”
ト”及び”チ”は受光セル間隔及び光スポット間隔であ
る。
隔は”1:2”となっており、1つの光スポットが隣接
する2つの受光セルにまたがって集光されている。言い
換えれば1つの受光セルの範囲内に”0.5個”の光ス
ポットが集光されていることになる。
ット間の隙間を認識することができないので、光スポッ
トを走査することなく共焦点画像を得ることができる。
れる光スポットの数は”1個”に限定されるものではな
い。
れる光スポットの一例を示す説明図であり、図3中”
イ”は受光セル、図3中”ロ”及び”ハ”は集光される
光スポットである。
す受光セルには”1.5個”の光スポットが集光されて
いることになる。
る光スポットの数は実数個であれば構わない。但し、各
受光セル間で集光される光スポット数が異なると明暗の
むらが生じ易くなるため各受光セルに集光される光スポ
ット数は同数が良い。
8の開口の形状としては円形に限定されるものではな
く、方形、楕円等どのような形状でも構わない。
れる光スポットの形状の一例を示す説明図であり、図4
中”イ”及び”ロ”は受光セル、図4中”ハ”は集光さ
れるスリット状の光スポットである。
スポット(スリット)間の隙間を認識することができな
いので、光スポットを走査することなく共焦点画像を得
ることができる。
ルアレイ板18の設置場所としては対物レンズ19の結
像面としたが、顕微鏡の照明系の光源絞りの位置でも構
わない。
は入射光100を透過させ、ピンホールアレイ板18か
らの光を反射させているが、ビームスプリッタ11aは
入射光100を反射させ、ピンホールアレイ板18から
の光を透過させても構わない。
接する2つの受光セルにまたがって集光されていたが、
隣接する4つの受光セルにまたがって集光しても構わな
い。
本発明によれば次のような効果がある。受光器の受光セ
ル間隔と受光器に集光される光スポット間隔とを”1:
1”に対応させ各々の光スポットを受光器のそれぞれ対
応する受光セルの範囲内に集光させることにより、照射
光の走査が不要になる。
が容易になり、走査に要する時間が無くなるので共焦点
画像の撮像速度の制限が無くなり高速化が可能になる。
図である。
スポット間隔との関係を説明する説明図である。
例を示す説明図である。
状の一例を示す説明図である。
である。
ク図である。
Claims (8)
- 【請求項1】試料の共焦点画像を測定する共焦点装置に
おいて、 光源と、 複数の開口が設けられた平板と、 複数の受光セルから構成される受光器と、 前記光源からの入射光を透過若しくは反射させて前記平
板に入射し、前記平板からの出力光を前記受光器に反射
若しくは透過させるビームスプリッタと、 前記試料上に前記平板の前記開口を通過した光の像を結
像させ、前記試料からの戻り光を前記平板に集光する対
物レンズとを備え、 前記受光器に集光される光スポット間隔が前記受光セル
間隔の2倍以下であることを特徴とする共焦点装置。 - 【請求項2】前記受光器に集光される一の光スポットを
前記受光器の隣接する2以上の受光セルにまたがって集
光させることを特徴とする特許請求の範囲請求項1記載
の共焦点装置。 - 【請求項3】前記受光器に集光される一の光スポットを
前記受光器の一の受光セルの範囲内に集光させることを
特徴とする特許請求の範囲請求項1記載の共焦点装置。 - 【請求項4】前記受光器に集光される複数の光スポット
を前記受光器の一の受光セルの範囲内に集光させること
を特徴とする特許請求の範囲請求項1記載の共焦点装
置。 - 【請求項5】前記受光器の各受光セルの範囲内に集光さ
れる光スポットが同数であることを特徴とする特許請求
の範囲請求項2乃至請求項4記載の共焦点装置。 - 【請求項6】前記開口の形状が円形であることを特徴と
する特許請求の範囲請求項1記載の共焦点装置。 - 【請求項7】前記開口の形状がスリット状であることを
特徴とする特許請求の範囲請求項1記載の共焦点装置。 - 【請求項8】前記平板を照明系の光源絞りの位置に設け
たことを特徴とする特許請求の範囲請求項1記載の共焦
点装置。
Priority Applications (2)
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