JP3574919B2 - 光学的測定装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、青果物等の被測定物の透過光に基づいて、前記被測定物の状態を光学的に測定する光学的測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
青果物等の複数の被測定物を選果する選果場には、各被測定物に近赤外線をそれぞれ照射し、その透過光を分光した結果に基づいて、各被測定物の糖度及び酸度等を測定する光学的測定装置が導入されている。
【0003】
図2は特開平 7−229840号公報に開示された光学的測定装置の構成を示す模式的平面図であり、図中、80はコンベアである。コンベア80の上には複数の被測定物H,H,…が適宜距離を隔てて載置してあり、コンベア80はモータ81によって矢符方向へ駆動される。被測定物H,H,…の搬送領域に臨ませて、被測定物Hのサイズを測定するサイズ測定器61が配置してある。サイズ測定器61は、前記搬送領域の両側に光源62及び該光源62が出射した光を受光するフォトセンサ63を配置してなり、被測定物Hの通過によって光源62からフォトセンサ63へ入射する光が遮られた時間、及びコンベア80による被測定物Hの搬送速度に基づいて被測定物Hの直径が算出される。
【0004】
サイズ測定器61の下流には、被測定物Hの糖度を測定する測定装置本体41が配置してある。測定装置本体41は、前記搬送領域の一側に配置した投光器42、及び搬送領域の他側に配置した受光器51を備えている。投光器42は、ハウジング45内にランプ43及びリフレクタ44等が配設してあり、ハウジング45に開設した出光口46から被測定物Hの側部へ光を照射する。
【0005】
受光器51は、光を透過しないハウジング56を備えており、該ハウジング56の前記投光器42の出光口46に対向する部分に開設した入光口に集光レンズ52が嵌合してある。被測定物Hを透過した透過光は集光レンズ52によって集光され、スリット53に入射される。スリット53を通過した光は、フラットフィールド凹面型の回拆格子54に入射され、該回拆格子54によって分光された帯状の光は、電荷蓄積型のラインセンサ55上に照射され、該ラインセンサ55によって分光が複数の波長に対応して光電変換される。このラインセンサ55の電荷蓄積時間は、コンピュータ71に設けた制御部73によって後述する如く調整される。
【0006】
このようにしてラインセンサ55から出力された電気信号は、コンピュータ71の演算部72に与えられる。そして、演算部72は、予め定めた複数の波長に係る電気信号を用いて、被測定物Hの糖度を算出する。
【0007】
このような光学的測定装置によって被測定物Hの糖度を測定するには、コンベア80によって搬送される被測定物H,H,…がサイズ測定器61を通過する都度、サイズ測定器61から演算部72に受光結果が与えられる。演算部72は、与えられた受光結果に基づいて、各被測定物H,H,…の通過による遮光時間をそれぞれ求める。演算部72には、コンベア80の搬送速度も与えられており、演算部72は、遮光時間を求める都度、得られた遮光時間及び搬送速度を用いて、次に測定すべき被測定物Hの直径を算出し、その結果を制御部73に与える。
【0008】
制御部73には、相異なる複数の電荷蓄積時間が、被測定物Hに係る複数の直径範囲に対応付けて予め設定してあり、制御部73は、演算部72から与えられた被測定物Hの直径に対応する電荷蓄積時間を決定し、決定した電荷蓄積時間をラインセンサ55に設定する。これによって、測定すべき被測定物Hのサイズに応じた電荷蓄積時間がラインセンサ55に設定される。そして、演算部72は、ラインセンサ55から与えられた電気信号の内、予め定めた複数の波長に係る電気信号を用いて、被測定物Hの糖度を算出する。
【0009】
ところで、前述した集光レンズ52とスリット53との間には、NDフィルタ等、入射光の強度を低下させて透過させる複数枚の減光フィルタ58,58,58が、集光レンズ52からスリット53への光路に進退自在に配置してあり、該減光フィルタ58,58,58は駆動装置59によって、進退駆動される。駆動装置59の動作は前述した制御部73によって制御される。前述した減光フィルタ58〜58は、所要強度の光がラインセンサ55に入射されるようにするため、適宜透過率のものが複数枚(図2では3枚)設けてあり、被測定物Hの種類に応じて、2枚又は3枚の減光フィルタ58〜58を前記光路に進入させるようになっている。
【0010】
制御部73には、演算部72を介してサイズ測定器61から受光結果が与えられるようになっており、制御部73は、該受光結果に基づいて、投光器42から受光器51への光路内に被測定物Hが存在するか否かを判断し、存在しないと判断した場合、駆動装置59に適宜枚数の複数の減光フィルタ58〜58を前記光路内へ進入させる。そして、演算部72は、ラインセンサ55から与えられた電気信号をリファレンスとして記憶する。一方、制御部73は、投光器42から受光器51への光路内に被測定物Hが存在すると判断した場合、駆動装置59に減光フィルタ58〜58を前記光路内から退出させる。そして、演算部72は、ラインセンサ55から与えられた電気信号及び前記リファレンスを用いて、被測定物Hの糖度を算出する。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
このような光学的測定装置では、毎秒6個程度の被測定物H,H,…の糖度を測定しているが、特開平 7−229840号公報に開示された光学的測定装置では、投光器42から受光器51への光路内を、各被測定物H,H,…が通過する都度、駆動装置59によって、総重量が重い減光フィルタ58〜58の退出・進入を繰り返さなければならないため、駆動動作が速い、高出力の駆動装置59を配備する必要がある。しかし、そのような駆動装置59はサイズが大きく、受光器51をコンパクトにすることが困難であると共に、高出力の駆動装置59は高価であるという問題があった。
【0012】
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは投光器の光軸と受光器の光軸とが交差するように投光器及び受光器を配置することによって、装置をコンパクトにすることができると共に、装置コストを低減することができる光学的測定装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】
第1発明に係る光学的測定装置は、コンベアで搬送される被測定物の搬送領域を臨み、被測定物に投光する投光器と、該投光器が被測定物へ投光し、該被測定物を透過した光を受ける受光器とを備え、該受光器が受けた光の強度に基づいて前記被測定物の状態を測定する装置において、前記投光器及び受光器は、投光器の光軸と受光器の光軸とが交差するように配置してあり、前記搬送領域に前記被測定物が存在しない場合、前記投光器が投光した光束の一部が前記受光器に入射されることを特徴とする。
【0014】
投光器の光軸と受光器の光軸とが適宜の角度で交差するように投光器及び受光器が配置してある。両光軸上に被測定物が存在しないとき、投光器の光軸と受光器の光軸とが一致していないので、投光器から出射された光束の一部が受光器に入射され、大部分は受光器に入射されない。このように、両光軸上に被測定物が存在しないときに、投光器から受光器に入射する光の強度が少ないため、受光器側に設ける減光フィルタの枚数を可及的に少なくすることができ、減光フィルタを進退駆動させる駆動機に加わる荷重を低減することができる。そのため、出力が低くサイズが小さい廉価な駆動機によって減光フィルタを進退させることができ、装置をコンパクトにすることができると共に、装置コストを低減することがきる。
【0015】
一方、投光器の光軸及び受光器の光軸上に被測定物が存在するときは、投光器から出射された光は被測定物に照射され、被測定物内を散乱しつつ透過するので、投光器の光軸と受光器の光軸とが一致する場合に得られる被測定物の透過光の強度と同程度の強度の透過光が受光器に入射され、被測定物を高精度に測定することができる。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて具体的に説明する。
図1は、本発明に係る光学的測定装置の要部構成を信号処理系のブロックと共に示す平面図であり、図中、10はコンベアである。コンベア10の上には複数の被測定物H,H,…が適宜距離を隔てて載置してあり、コンベア10は図示しないモータによって矢符方向へ駆動される。コンベア10の長手方向の適宜位置には、光源31及びフォトセンサ32を対向配置してなり、被測定物H,H,…を検出する検出器3が設けてあり、検出器3は、コンベア10によって搬送される被測定物Hが光源31からフォトセンサ32への光路内に存在する場合はオン信号を、前記光路内に被測定物Hが存在しない場合はオフ信号を、後述するコンピュータ2に与える。
【0021】
検出器3より所定距離下流の位置であって、コンベア10の一側には、被測定物Hの側部へ光を出射する投光器4が、被測定物H,H,…の搬送領域に臨ませて配置してある。投光器4はハロゲンランプ、リフレクタ、スリット及びレンズ等を内蔵しており、ハロゲンランプの発光を適宜直径の平行光ビームとして出射する。コンベア10の他側には、集光レンズ及びコネクタ等を設けてなる受光器5が、前記投光器4と略同じ位置に配置してあり、該受光器5のコネクタには光ファイバ6が連結してある。これら、投光器4及び受光器5は遮光性の筐体(図示せず)内に配置してある。
【0022】
投光器4から投光され被測定物H内を透過した光は、受光器5によって受光されて光ファイバ6に入射され、該光ファイバ6によって測定装置本体1へ導かれる。測定装置本体1内に導かれた光は、減光フィルタ及び光を遮断する遮光フィルタを光路に進退可能に設けてなるフィルタ切り換えユニット11を経て分光器12に入射される。なお、フィルタ切り換えユニット11には、例えば、透過率が1%のNDフィルタが1枚取り付けてある。
【0023】
分光器12は入射された光を分光し、それを光電変換器13に与える。光電変換器13は分光器12から与えられた分光の内、所要波長(糖度を測定する場合は740nm及び840nm)の光を、その強度に応じた電気信号に変換し、それをコンピュータ2に与える。コンピュータ2は次の(1)式によって対応する波長の吸光度をそれぞれ算出し、その波長における吸光度の移動平均をそれぞれ求め、それらを2次微分して2次微分値をそれぞれ算出する。
吸光度=log10(リファレンス値/当該波長に係る電気信号の値)…(1)
【0024】
コンピュータ2には、例えば次の(2)式が予め設定してあり、コンピュータ2は(2)式に対応する2次微分値をそれぞれ代入することによって、被測定物Hの糖度Cを測定する。
C=AWL740nm +AWL840nm …(2)
但し、A,A:係数
WL:対応する波長における吸光度の2次微分値
【0025】
前述した受光器5は、その光軸Jがコンベア10の長手方向と直交するように配設してあり、投光器4は、その光軸Jが受光器5の光軸Jとコンベア10の幅方向の略中央で交わり、投光器4の光軸Jと受光器5の光軸Jとがなす角Dの角度は15°以上20°以下になるように配置してある。
【0026】
前述したコンベア10の両側には、側壁9,9がコンベア10に沿って立設してあり、側壁9,9の投光器4及び受光器5に対向する部分、及び側壁9,9の光源31及びフォトセンサ32に対向する部分には、光ビームを通過させるべく、所要直径の開口が設けてある。受光器5側の側壁9の、投光器4からの光が照射され得る部分であって前述した開口を除く部分には、ラシャ紙等、光の反射率が低い低光反射板8が取り付けてあり、前記側壁9によって反射された光が受光器5に入射することを防止している。
【0027】
このように、投光器4の光軸J及び受光器5の光軸Jが一致しておらず、また、側壁9に取り付けた低光反射板8によって、反射光が受光器5に入射することを防止してあるため、両光軸J,J上に被測定物Hが存在しないとき、投光器4から出射された光束の一部が受光器5に入射される。このとき、両光軸J,Jがなす角Dの角度は15°以上20°以下であるため、受光器5には、所要の光量に低減された弱い強度の光が入射される。
【0028】
これによって、フィルタ切り換えユニット11に設ける減光フィルタの枚数を可及的に少なくすることができ、減光フィルタを進退駆動させる駆動機に加わる荷重を低減することができるため、出力が低くサイズが小さい廉価な駆動機によって減光フィルタを進退させることができる。従って、フィルタ切り換えユニット11及び測定装置本体1をコンパクトにすることができると共に、装置コストを低減することができる。
【0029】
一方、投光器4の光軸J及び受光器5の光軸J上に被測定物Hが存在するときは、投光器4から出射された光は被測定物Hに照射され、被測定物H内を散乱しつつ透過するため、所要強度の透過光が受光器5に入射される。
【0030】
このような光学的測定装置によって被測定物Hの糖度を測定するには、コンベア10によって搬送される被測定物H,H,…が検出器3を通過する都度、検出器3からコンピュータ2にオン・オフ信号が与えられ、コンピュータ2は、与えられたオン・オフ信号に基づいて、被測定物Hが投光器4から受光器5への光路内に被測定物Hが搬送されていない場合、フィルタ切り換えユニット11に減光フィルタを退出させることによって、光電変換器13からリファレンス値を得、被測定物Hが前記光路内に被測定物Hが搬送されるタイミングで、フィルタ切り換えユニット11に減光フィルタを進入させることによって、光電変換器13から被測定物Hの透過光に係る電気信号の値を得る。そして、コンピュータ2は、それらの値を(1)式に代入して吸光度を算出し、算出した吸光度を(2)式に代入して被測定物Hの糖度を求める。
【0031】
【実施例】
次に比較試験を行った結果について説明する。
表1は、図1に示した投光器4の光軸Jと受光器5の光軸Jとがなす角Dの角度を種々異ならせて、被測定物の透過光の強度、及びリファレンスに係る光の強度をそれぞれ測定した結果を示すものである。なお、リファレンスに係る光の強度は、減光フィルタとして透過率が1%のNDフィルタを1枚、フィルタ切り換えユニット11に取り付けて測定した。
【0032】
【表1】
Figure 0003574919
【0033】
表1から明らかな如く、被測定物の透過光の強度は、前記なす角Dの角度が0°から、即ち投光器4の光軸Jと受光器5の光軸Jとを一致させた場合から、前記なす角Dの角度が30°までは略同じレベルであり、前記なす角Dの角度が35°の場合、レベルが10%程度低下し、前記なす角Dの角度が40°から45°の場合、投光器4からの光が直接、受光器5に入射されるため、測定不可能であった。
【0034】
一方、リファレンスに係る光の強度は、前記なす角Dの角度が0°から10°までの場合、投光器4から受光器5に入射される光量が過剰であるため、測定不可能であり、前記なす角Dの角度が15°から20°までの場合、適宜なレベルであり、前記なす角Dの角度が25°から30°までの場合、所要レベルより低いレベルであり、前記なす角Dの角度が35°から45°の場合、零であった。
【0035】
従って、前記なす角Dの角度を15°から20°に設定することによって、被測定物Hの透過光の強度に影響を及ぼすことなく、投光器4から受光器5に直接入射される光の強度を所要のレベルまで低減することができる。
【0036】
なお、特許請求の範囲の項に、図面との対照を便利にするために符号を記載してあるが、この記載によって本発明は添付図面の構造に限定されるものではない。
【0037】
【発明の効果】
以上詳述した如く、第1発明に係る光学的測定装置にあっては、減光フィルタの枚数を従来より少なくすることができるため、出力が低くサイズが小さい廉価な駆動機によって減光フィルタを進退させることができ、受光器をコンパクトにすることができると共に、装置コストを低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る光学的測定装置の要部構成を信号処理系のブロックと共に示す平面図である。
【図2】特開平 7−229840号公報に開示された光学的測定装置の構成を示す模式的平面図である。
【符号の説明】
1 測定装置本体
2 コンピュータ
3 検出器
4 投光器
5 受光器
6 光ファイバ
8 低光反射板
9 側壁
10 コンベア
11 フィルタ切り換えユニット
H 被測定物

Claims (1)

  1. コンベアで搬送される被測定物の搬送領域を臨み、被測定物に投光する投光器(4)と、該投光器(4)が被測定物へ投光し、該被測定物を透過した光を受ける受光器(5)とを備え、該受光器(5)が受けた光の強度に基づいて前記被測定物の状態を測定する装置において、前記投光器(4)及び受光器(5)は、投光器(4)の光軸と受光器(5)の光軸とが交差するように配置してあり、前記搬送領域に前記被測定物が存在しない場合、前記投光器(4)が投光した光束の一部が前記受光器(5)に入射されることを特徴とする光学的測定装置。
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