JP3563607B2 - 原子吸光光度計 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、試料を加熱し原子化させ、その原子を吸光分析することにより金属元素の分析を行う電気加熱炉分析法による原子吸光光度計に関する。
【0002】
【従来の技術】
図5は、従来における電気加熱炉分析法による原子吸光光度計の概略構成図である。
図5において、電気加熱炉1の黒鉛管2内には測定対象である試料10が配置され、黒鉛管2が通電加熱されて試料10が原子化される。黒鉛官2の加熱時には不活性ガス14がガス制御部15により流量が制御されて電気加熱炉1に供給され、黒鉛管2内に導かれて、加熱による酸化が少なくとも抑制される。
【0003】
電気加熱炉1内に導かれた不活性ガス14は、光源側透過板5と分光器側透過板11とにより測定光4の光軸上に位置する光源3側と分光器6側への流出が制限される。また、黒鉛管2内に導かれた不活性ガス14は、黒鉛管2の試料注入孔16から排出される。光源3は直径3mmのものが一般的に用いられ、少なくとも190〜900nmの波長を含む測定光4を照射する。
【0004】
光源3から出射された測定光4は、集光ミラー12により集光され黒鉛管2の中心位置に結像する。黒鉛管2内では、試料10の原子化により原子吸収が生じ、吸収を受けた測定光4は、黒鉛管2を通過後、集光ミラー13により再度集光され、分光器6に導かれる。
【0005】
分光器6では、測定光4が分光され、設定された測定波長の光のみが検知器8に導かれる。検知器8では、光の強度を電気信号に変換して中央処理装置7に出力する。中央処理装置7は、電気加熱炉1の温度制御、光源3の電流制御、ガス制御部15の制御、分光器6の波長制御を行う。入力装置9は、測定波長および試料原子化時の加熱温度、光源の電流値の設定を行う。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
上記電気加熱炉分析法による原子吸光光度計においては、測定時に黒鉛管2が加熱されることにより、黒鉛管2自体が発光するという現象を伴う。黒鉛管2の発光源は測定光4の光路上から外れてるため黒鉛管2からの直接の発光光は分光器6には入らない。
【0007】
しかし、黒鉛管2の発光が光源側透過板5の表面で反射した発光の少なくとも一部が測定光4の光軸と交わり、測定光4の光路上に入り込む。従って、測定光4以外にも、黒鉛管2から発光した光も分光器6に入ってしまう。この黒鉛管2からの発光は原子吸収測定に不要なバックグラウンド成分となり、原子吸収測定の分析精度を低下している。
【0008】
従来の原子吸光測定においては、光源側透過板5の表面反射光が分光器6に入り込んでいたことが認識されておらず、この表面反射光については、考慮されていなかった。
【0009】
加熱温度によって増加減する黒鉛管2の発光が、光源側透過板5の表面反射にて分光器6に入り込むと、原子吸収測定に不要なバックグラウンド成分が増加すると共にバックグラウンド成分が変動する。そのため、測定信号からバックグラウンド成分を取り除き、原子吸収量を求めるバックグラウンド補正において補正精度が低下するという問題があった。
【0010】
特に、測定波長の長い試料、または原子化時加熱温度が高い試料の測定においては、黒鉛管2の発光が多くなるため、バックグラウンド補正精度を更に低下してしまっていた。
【0011】
本発明の目的は、分光器に入り込む黒鉛管発光の反射光を適切に制限して、測定光量の低下を最小限にとどめ、分析精度を向上することが可能な電気加熱炉分析法による原子吸光光度計を実現することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は次のように構成される。
(1)測定試料を加熱し、原子化を行う黒鉛管を有する加熱手段と、原子化した試料に対して測定光を照射する発光手段と、この発光手段と上記黒鉛管との間であって、上記測定光の光軸上に配置される光源側光透過板と、上記加熱手段を通過した測定光を任意の波長毎に分光する分光手段と、この分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、上記各手段の制御を行う制御手段とを有する原子吸光光度計において、上記光源側光透過板と上記黒鉛管との間に、上記測定光が通過する貫通孔を有する光遮断板を備える。
【0013】
(2)また、測定試料を加熱し、原子化を行う黒鉛管を有する加熱手段と、原子化した試料に対して測定光を照射する発光手段と、この発光手段と上記黒鉛管との間であって、上記測定光の光軸上に配置される光源側光透過板と、上記加熱手段を通過した測定光を任意の波長毎に分光する分光手段と、この分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、上記各手段の制御を行う制御手段とを有する原子吸光光度計において、上記光源側光透過板の上記黒鉛管側の表面は、上記測定光の光軸に対して垂直より傾斜させて配置される
【0014】
(3)好ましくは、上記(2)において、上記光透過板の上記発光手段側の表面は、上記測定光の光軸に対して、ほぼ垂直に配置される。
【0015】
(4)また、好ましくは、上記(2)又は(3)において、上記光透過板の傾斜させる角度は、上記測定光の光軸に対して3°以上60°以下の範囲である。
【0017】
本発明では上記構成により、黒鉛管の発光光が、光源側透過板により反射されても、上記変位手段又は光源側透過板の黒鉛管側表面の傾斜角により測定光の光軸と交わらないため、反射光が直接分光手段に入り込むことが抑制される。これにより、ほとんど測定光量を低下させることなく、黒鉛管の発光光の反射光を適切に制限して、分析精度を向上することが可能となる。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態について、図1〜4を用いて説明する。
図1は、本発明の第1の実施形態による原子吸光光度計の要部概略断面図であり、図2は、測定波長及び加熱温度と黒鉛管からの発光量との相関関係について示すグラフである。この図2のグラフは、黒鉛管2を完全黒体と仮定し、測定光の波長と黒鉛管からの発光強度との関係を理論式を立てて、求めたものである。
【0019】
この図2によれば、黒鉛管2の発光は、原子吸光光度計の測定波長範囲である190nmから900nm全域で影響を与え、特に、波長が長くなるにつれ、加熱温度が大となるにつれ、大きくなる。
【0020】
図1において、電気加熱炉1の光源側透過板5は、均等な厚みを有する透過板であり、この光源側透過板5は、測定光4の光軸に対して、その表面が10°傾けて配置されている。なお、図1に示していない他の部分は、図5の例と同様であるので、それらの図示及び説明は省略する。
【0021】
図1において、電気加熱炉1は黒鉛管2を通電加熱する。光源から測定光4が光源側透過板5を介して黒鉛管2の中心位置に結像(およそ直径3mm)し、黒鉛管2、分光器側透過板11通過して分光器に導かれる。黒鉛管2内部にはガス制御部15により不活性ガスが供給され、光源側透過板5と分光器側透過板11とによりガスの流出が抑制される。
【0022】
このとき、加熱された黒鉛管4の内面が発光して、その発光光17の一部が光源側透過板5に向かい光源側透過板5の表面で反射する。光源側透過板5は、上述したように、測定光4の光軸に対して、10°傾斜しているので、光源側透過板5で反射された発光光17の光軸が、測定光4の光軸に重なることが回避される。
【0023】
以上のように、本発明の第1の実施形態によれば、電気加熱炉分析法による原子吸光光度計において、均等な厚みを有する光源側透過板5を測定光4の光軸に対して、10°傾斜して配置させているので、加熱された黒鉛管4の内面からの発光光17の一部が光源側透過板5に反射されても、その光軸が測定光4の光軸に重畳することが回避される。
【0024】
したがって、分光器に入り込む黒鉛管発光の反射光を適切に制限し、測定光量の低下を最小限にとどめ、分析精度を向上することが可能な電気加熱炉分析法による原子吸光光度計を安価に実現することができる。
【0025】
また、原子吸光測定に不要なバックグラウンド成分の低減により分析精度を向上し、長波長側及び原子化時加熱温度が高い試料についても上記と同様の効果を得ることができる。
【0026】
図3は、本発明の第2の実施形態による原子吸光光度計の要部概略断面図であり、この第2の実施形態は、第1の実施形態における光源側透過板5とその形状が異なり、その他の部分は、第1の実施形態と同様な構成となっている。
【0027】
つまり、図3における光源側透過板5は、光源側側面が、測定光4の光軸に対して、ほぼ垂直な面となっており、黒鉛管4側側面は、測定光4の光軸に対して、10°傾けた不均等な厚みを有する透過板となっている。
【0028】
この第2の実施形態においては、第1の実施形態と同様に、加熱された黒鉛管4からの発光光17の一部が光源側透過板5に向かい光源側透過板5の表面で反射する。光源側透過板5は、上述したように、測定光4の光軸に対して、10°傾斜しているので、光源側透過板5で反射された発光光17の光軸が、測定光4の光軸に重なることが回避される。
【0029】
以上のように、本発明の第2の実施形態によれば、第1の実施形態と同様な効果を得ることができる。さらに、この第2の実施形態によれば、光源側透過板5の光源側側面は、測定光4の光軸に対して、ほぼ垂直な面となっており、黒鉛管4側側面のみ、測定光4の光軸に対して、10°傾けた形状となっているので、光側側面も測定光4の光軸に対して傾斜させる場合と比較して、入射する測定光4が、この光源側透過板5に反射される量を減少でき、より多くの光を黒鉛管2内を通過させることができる。
【0030】
図4は、本発明の第3の実施形態による原子吸光光度計の要部概略断面図であり、光源側透過板5は、光側側面及び黒鉛側側面共に、測定光4の光軸に対して、ほぼ垂直な面となっており、ほぼ均一な厚みを有する透過板となっている。
【0031】
そして、光源側透過板5と黒鉛管2との間であって、測定光4の光軸上に光遮断板18(変位手段)が配置されている。この光遮断板18は、その中央部であって、測定光4の光軸と同軸の円形の孔が形成されており、測定光4は、光遮断板18の円形孔を介して光源側透過板5から黒鉛管2を通過する。
【0032】
加熱された黒鉛管4の内面からの発光光17が光遮断板18に向かう。そして、光遮断板18に向かった発光光17の一部の光は、光遮断板18により反射され、その他の光は、光遮断板18の円形孔を通過して光源側透過板5に向かい、この光源側透過板5により、反射される。
【0033】
光遮断板18により反射された発光光17の一部は、測定光4の光軸と同一となることはない。また、発光光17のうち、光遮断板18の円形孔を通過した光は、光源側透過板5の側面に垂直には入射しないので、透過板5により反射された光の光軸が測定光4の光軸と同一となることはない。
【0034】
以上のように、本発明の第3の実施形態によれば、上述した第2の実施形態と同様な効果を奏することができる。
【0035】
なお、上述した第1及び第2の実施形態においては、光源側透過板5の黒鉛管4側の側面は、測定光4の光軸に対して、10°傾けた形状となっているが、この傾斜角度は、10°に限らず、3°〜60°であれば、本発明の効果を奏することができる。この傾斜角度は、好ましくは、5°〜30°程度である。
【0036】
【発明の効果】
本発明は、以上説明したように構成されているため、次のような効果がある。
つまり、電気加熱炉分析法による原子吸光光度計において、少なくとも、黒鉛管側側面を、測定光の光軸に対して、10°傾けて配置させているので、加熱された黒鉛管の内面からの発光光の一部が光源側透過板に反射されても、その光軸が測定光4の光軸に重畳することが回避される。
【0037】
したがって、分光器に入り込む黒鉛管発光の反射光を適切に制限し、測定光量の低下を最小限にとどめ、分析精度を向上することが可能な電気加熱炉分析法による原子吸光光度計を安価に実現することができる。
【0038】
また、光源側透過板の光源側側面は、測定光の光軸に対して、ほぼ垂直な面とし、黒鉛管側側面のみ、測定光の光軸に対して、10°傾けた形状とすれば、光側側面も測定光の光軸に対して傾斜させる場合と比較して、入射する測定光が、光源側透過板に反射される量を減少でき、より多くの光を黒鉛管内を通過させることができる。
【0039】
また、光源側透過板は、光側側面及び黒鉛側側面共に、測定光の光軸に対して、ほぼ垂直な面とし、光源側透過板と黒鉛管との間であって、測定光の光軸上に円形の孔を有する遮断板を配置するように構成しても、分光器に入り込む黒鉛管発光の反射光を適切に制限して、かつ測定光量の低下を最小限にとどめて、分析精度を向上でき、かつ、入射する測定光が、光源側透過板に反射される量を減少でき、より多くの光を黒鉛管内を通過させることができる。
【0040】
また、原子吸光測定に不要なバックグラウンド成分の低減により分析精度を向上し、長波長側及び原子化時加熱温度が高い試料についても上記と同様の効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態による原子吸光光度計の要部概略断面図である。
【図2】黒鉛管からの発光による像の発光強度の分布を示すグラフである。
【図3】本発明の第2の実施形態による原子吸光光度計の要部概略断面図である。
【図4】本発明の第3の実施形態による原子吸光光度計の要部概略断面図である。
【図5】従来の一般的な原子吸光光度計の概念構成図である。
【符号の説明】
1 電気加熱炉
2 黒鉛管
3 光源
4 測定光
5 光源側透過板
6 分光器
7 中央処理装置
8 検知器
9 入力装置
10 試料
11 分光器側透過板
12、13 集光ミラー
14 不活性ガス
15 ガス制御部
16 試料注入孔
17 発光光
18 光遮断板

Claims (4)

  1. 測定試料を加熱し、原子化を行う黒鉛管を有する加熱手段と、原子化した試料に対して測定光を照射する発光手段と、この発光手段と上記黒鉛管との間であって、上記測定光の光軸上に配置される光源側光透過板と、上記加熱手段を通過した測定光を任意の波長毎に分光する分光手段と、この分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、上記各手段の制御を行う制御手段とを有する原子吸光光度計において、
    上記光源側光透過板と上記黒鉛管との間に、上記測定光が通過する貫通孔を有する光遮断板を備えることを特徴とする原子吸光光度計。
  2. 測定試料を加熱し、原子化を行う黒鉛管を有する加熱手段と、原子化した試料に対して測定光を照射する発光手段と、この発光手段と上記黒鉛管との間であって、上記測定光の光軸上に配置される光源側光透過板と、上記加熱手段を通過した測定光を任意の波長毎に分光する分光手段と、この分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、上記各手段の制御を行う制御手段とを有する原子吸光光度計において、
    上記光源側光透過板の上記黒鉛管側の表面は、上記測定光の光軸に対して垂直より傾斜させて配置されることを特徴とする原子吸光光度計。
  3. 請求項2記載の原子吸光光度計において、上記光透過板の上記発光手段側の表面は、上記測定光の光軸に対して、ほぼ垂直に配置されることを特徴とする原子吸光光度計。
  4. 請求項2又は3記載の原子吸光光度計において、上記光透過板の傾斜させる角度は、上記測定光の光軸に対して3°以上60°以下の範囲であることを特徴とする原子吸光光度計。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5136181A (ja) * 1974-09-24 1976-03-26 Hitachi Ltd Hikarisanrankenshutsubuomotsushiryogenshikasochi
JPS61284642A (ja) * 1985-06-12 1986-12-15 Mitsubishi Metal Corp 分光測定用試料冷却装置
JPS63107845U (ja) * 1987-01-05 1988-07-12
JPS63169540A (ja) * 1987-01-07 1988-07-13 Hitachi Ltd 原子吸光光度計の光温度制御装置
JPS6465436A (en) * 1987-09-07 1989-03-10 Nippon Atomic Ind Group Co Spectral cell laser beam device
JPH0672840B2 (ja) * 1987-12-02 1994-09-14 株式会社日立製作所 原子吸光光度計

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