JPH0827232B2 - 原子吸光分光光度計および原子吸光分光分析において光源−検出器の変動を補償する方法 - Google Patents
原子吸光分光光度計および原子吸光分光分析において光源−検出器の変動を補償する方法Info
- Publication number
- JPH0827232B2 JPH0827232B2 JP61184363A JP18436386A JPH0827232B2 JP H0827232 B2 JPH0827232 B2 JP H0827232B2 JP 61184363 A JP61184363 A JP 61184363A JP 18436386 A JP18436386 A JP 18436386A JP H0827232 B2 JPH0827232 B2 JP H0827232B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- atomizer
- burner
- measurement
- atomic absorption
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/3103—Atomic absorption analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、原子吸光分光分析、詳言すれば原子吸光分
光光度計および光源−検出器アセブリにおける変動を補
償する方法に関する。
光光度計および光源−検出器アセブリにおける変動を補
償する方法に関する。
［従来の技術］ 原子吸光分光光度計は一般に被検（looked−for）元
素の共鳴線を有する線スペクトルを放出する光源と、光
源から出発しかつ検出器に入射する測定光ビームを発生
する光学系とからなる。測定光ビームの光路内に原子の
雲が形成されるように、アトマイザは試料物質を原子状
態に転化する。アトマイザはバーナであってよく、この
場合には液状試料はバーナフレーム内に噴霧される。被
検元素の原子は測定光ビームを吸収する、従って測定光
ビームは実質的に別の元素の原子によって影響を受けな
い。従って、測定光ビームは、原子の雲、ひいては試料
内の被検元素の量に基づく減衰を受ける。原子吸光分分
析は被検試料内の被検元素の濃度を決定するための極め
て敏感かつ極めて正確な方法である。
素の共鳴線を有する線スペクトルを放出する光源と、光
源から出発しかつ検出器に入射する測定光ビームを発生
する光学系とからなる。測定光ビームの光路内に原子の
雲が形成されるように、アトマイザは試料物質を原子状
態に転化する。アトマイザはバーナであってよく、この
場合には液状試料はバーナフレーム内に噴霧される。被
検元素の原子は測定光ビームを吸収する、従って測定光
ビームは実質的に別の元素の原子によって影響を受けな
い。従って、測定光ビームは、原子の雲、ひいては試料
内の被検元素の量に基づく減衰を受ける。原子吸光分分
析は被検試料内の被検元素の濃度を決定するための極め
て敏感かつ極めて正確な方法である。
しかしながら、この測定のための必須要件は、ゼロラ
インの正確な認識である、即ち測定光ビームの強度は試
料内の被検元素の不在で測定されるべきである。このゼ
ロラインはランプ強度または検出器感度の変動により変
化することがありかつこのような変動は即座に測定に影
響を及ぼすことがある。
インの正確な認識である、即ち測定光ビームの強度は試
料内の被検元素の不在で測定されるべきである。このゼ
ロラインはランプ強度または検出器感度の変動により変
化することがありかつこのような変動は即座に測定に影
響を及ぼすことがある。
光源から出発した光ビームがチョッパー装置によって
選択的に測定光路および参照光路を通過するように配向
される二重ビーム分光光度計は公知である。この場合に
は、測定すべき試料は測定光路内に配置されかつ参照試
料は参照光路内に配置される。引き続き、ビームは半透
過性鏡またはチョッパーによって再結合されかつ共通の
検出器に入射する。その際、参照光路で得られた信号
は、測定光路で得られた信号を参照させることのできる
ゼロラインを形成する。測定光路と参照光路との間の変
化は、通常線周期の影響を受ける。このような二重ビー
ム分光光度計は、測定光ビームの作動時間のほぼ半分だ
け検出器に入射するにすぎないという欠点を有する。試
料がフレーム内の原子の雲である際に、比較的高いノイ
ズレベルが生じる。従って、好ましい信号／雑音比を得
るために、所望の信号エネルギーをできるだけ完全に利
用することが試みられた。従って、二重ビーム装置にお
いては、測定光路と参照光路との周期的に急速な変化は
不利と見なされかつ原子吸光分光光度計の感度を低下さ
せることになる。
選択的に測定光路および参照光路を通過するように配向
される二重ビーム分光光度計は公知である。この場合に
は、測定すべき試料は測定光路内に配置されかつ参照試
料は参照光路内に配置される。引き続き、ビームは半透
過性鏡またはチョッパーによって再結合されかつ共通の
検出器に入射する。その際、参照光路で得られた信号
は、測定光路で得られた信号を参照させることのできる
ゼロラインを形成する。測定光路と参照光路との間の変
化は、通常線周期の影響を受ける。このような二重ビー
ム分光光度計は、測定光ビームの作動時間のほぼ半分だ
け検出器に入射するにすぎないという欠点を有する。試
料がフレーム内の原子の雲である際に、比較的高いノイ
ズレベルが生じる。従って、好ましい信号／雑音比を得
るために、所望の信号エネルギーをできるだけ完全に利
用することが試みられた。従って、二重ビーム装置にお
いては、測定光路と参照光路との周期的に急速な変化は
不利と見なされかつ原子吸光分光光度計の感度を低下さ
せることになる。
ヨーロッパ公開特許第84391号には、フレームを回避
する参照光路が設けられた原子吸光分光光度計が記載さ
れている。この参照光路は、検出器にランプ強度の変動
または検出器感度の変動によって惹起される装置ドリフ
トを伴ってのみ信号変化をもたらす。この信号は、フレ
ームを通過する測定光路によって得られる信号内のドリ
フトの補償のために役立つ。この目的のために、可動鏡
は試料測定の間に測定光路内に運動せしめられる。光線
は参照光路に沿って配向されかつ鏡によって参照光路か
ら再び共通のモノクロメータの入射スリットに向けて反
射される。
する参照光路が設けられた原子吸光分光光度計が記載さ
れている。この参照光路は、検出器にランプ強度の変動
または検出器感度の変動によって惹起される装置ドリフ
トを伴ってのみ信号変化をもたらす。この信号は、フレ
ームを通過する測定光路によって得られる信号内のドリ
フトの補償のために役立つ。この目的のために、可動鏡
は試料測定の間に測定光路内に運動せしめられる。光線
は参照光路に沿って配向されかつ鏡によって参照光路か
ら再び共通のモノクロメータの入射スリットに向けて反
射される。
測定中に、光ビームは光源から測定光路だけを通過す
る、従って光ビームの全エネルギーが測定のために利用
されかつ好ましい信号／雑音比が生じる。参照光路を通
過する測定は、フレームが試料交換後に安定化する間に
実施される。
る、従って光ビームの全エネルギーが測定のために利用
されかつ好ましい信号／雑音比が生じる。参照光路を通
過する測定は、フレームが試料交換後に安定化する間に
実施される。
光ビームを参照光路に配向するために鏡を測定光ビー
ムの光路内に旋回させかつ次いで光ビームを測定光路に
戻すためには、旋回させるべき鏡の高い精度が必要であ
る。これらの鏡のアライメントの誤差は、２倍の角度を
もって反射される光ビームの方向に関与する。このこと
自体はモノクロメータの入射スリットを透過する光ビー
ムの強度に影響を及ぼすことがある。
ムの光路内に旋回させかつ次いで光ビームを測定光路に
戻すためには、旋回させるべき鏡の高い精度が必要であ
る。これらの鏡のアライメントの誤差は、２倍の角度を
もって反射される光ビームの方向に関与する。このこと
自体はモノクロメータの入射スリットを透過する光ビー
ムの強度に影響を及ぼすことがある。
［発明が解決しようとする課題］ 従って、本発明の目的は、新規のかつ改良された原子
吸光分光光度計を提供することである。
吸光分光光度計を提供することである。
もう１つの目的は、光源および検出器変動を補償する
と同時に強化された信号／雑音比を達成するような原子
吸光分光光度計を提供することである。
と同時に強化された信号／雑音比を達成するような原子
吸光分光光度計を提供することである。
本発明のもう１つの目的は、可動鏡およびその関連し
た精確なアライメントが回避されるような原子吸光分光
光度計を提供することである。本発明のもう１つの目的
は、試料測定および参照測定の両者のために単一の固定
光路を規定するような原子吸光分光光度計を提供するこ
とである。
た精確なアライメントが回避されるような原子吸光分光
光度計を提供することである。本発明のもう１つの目的
は、試料測定および参照測定の両者のために単一の固定
光路を規定するような原子吸光分光光度計を提供するこ
とである。
更に、本発明のもう１つの目的は、固定光路の内部お
よび外部で霧状化された試料の選択的位置決めのための
選択的に可動のアトマイザを有する原子吸光分光光度計
を提供することである。
よび外部で霧状化された試料の選択的位置決めのための
選択的に可動のアトマイザを有する原子吸光分光光度計
を提供することである。
本発明のもう１つの目的は、原子吸光分光光度計にお
いて光源検出器変動を補償する新規のかつ改良された方
法を提供することである。
いて光源検出器変動を補償する新規のかつ改良された方
法を提供することである。
［課題を解決するための手段］ 前記課題は、本発明により、 ケーシングと、 線放出光源と、 前記光源からの光の吸光度を測定する検出手段と、 ケーシングを貫通して延びる固定光路に沿って前記光
源から前記検出手段に向かう測定光ビームを発生させる
光学的手段と、 測定光ビームで原子吸光分析を行うために原子の雲を
発生させるために試料を霧状化するアトマイザと、 前記アトマイザを、該アトマイザからの原子の雲が前
記光路内に位置する第１の試料測定位置と、前記アトマ
イザからの原子の雲が前記光路の外部にある第２のドリ
フト補償参照測定位置との間で運動させるために、前記
ケーシング内に可動に取付ける手段と、 原子吸光測定およびドリフト補償を行うための前記検
出手段からの信号を処理する信号処理手段と、 （ｉ）霧状化された試料の完全な原子吸光測定を実施す
るために十分な測定時間に亙って、測定光ビームを中断
せずに試料測定を実施するための第１の測定時間帯の間
前記第１の位置に前記アトマイザを位置決めし、かつ （ii）前記試料測定のためのドリフト補償を行うために
前記試料測定後に第２の時間帯に亙って前記第２の位置
に前記アトマイザを位置決めするように、前記信号処理
手段および前記アトマイザの取り付け手段を制御する手
段とから構成されており、かつ 前記アトマイザがアトマイザ・フレームバーナからな
ることにより解決される。
源から前記検出手段に向かう測定光ビームを発生させる
光学的手段と、 測定光ビームで原子吸光分析を行うために原子の雲を
発生させるために試料を霧状化するアトマイザと、 前記アトマイザを、該アトマイザからの原子の雲が前
記光路内に位置する第１の試料測定位置と、前記アトマ
イザからの原子の雲が前記光路の外部にある第２のドリ
フト補償参照測定位置との間で運動させるために、前記
ケーシング内に可動に取付ける手段と、 原子吸光測定およびドリフト補償を行うための前記検
出手段からの信号を処理する信号処理手段と、 （ｉ）霧状化された試料の完全な原子吸光測定を実施す
るために十分な測定時間に亙って、測定光ビームを中断
せずに試料測定を実施するための第１の測定時間帯の間
前記第１の位置に前記アトマイザを位置決めし、かつ （ii）前記試料測定のためのドリフト補償を行うために
前記試料測定後に第２の時間帯に亙って前記第２の位置
に前記アトマイザを位置決めするように、前記信号処理
手段および前記アトマイザの取り付け手段を制御する手
段とから構成されており、かつ 前記アトマイザがアトマイザ・フレームバーナからな
ることにより解決される。
この場合、試料測定を参照測定を基づいて補償するた
めの、アトマイザが第１の位置に存在する際の試料測定
およびアトマイザが第２の位置に存在する際の参照測定
を行う制御は有利にはマクロプロセッサにより行われ
る。アトマイザは、試料測定位置と参照測定位置との間
での運動のために可動キャリジに取付けられたアトマイ
ザである。調整可能な取付けアセンブリは、レベルおよ
び角度に関してバーナの調整マウティング装置の選択的
調整を可能にする。
めの、アトマイザが第１の位置に存在する際の試料測定
およびアトマイザが第２の位置に存在する際の参照測定
を行う制御は有利にはマクロプロセッサにより行われ
る。アトマイザは、試料測定位置と参照測定位置との間
での運動のために可動キャリジに取付けられたアトマイ
ザである。調整可能な取付けアセンブリは、レベルおよ
び角度に関してバーナの調整マウティング装置の選択的
調整を可能にする。
本発明による構成によれば、測定光ビームは測定中に
もまたドリフト補償中にも不変のままである。測定光ビ
ームは選択的に測定時間中に原子の雲を中断することな
く透過しかつドリフト補償は測定時間外に行われる。測
定光ビームは、１度限りに、これを最終として正確に調
整された結像光学系の静止した光学部材によって正確に
配向され、かつ可動鏡およびそれに関連した精度要求が
回避される。その変わり、アトマイザー・バーナは静止
した測定光ビームの内外に配置される。バーナの位置変
換は、比較的に低コストと関係して有効かつ確実に実施
することができる。バーナの案内は極端な精度を必要と
しない、それというのもバーナの位置は測定光ビームの
位置に影響せずかつバーナは簡単な手段で試料測定位置
に再現可能に運動させることができるからである。
もまたドリフト補償中にも不変のままである。測定光ビ
ームは選択的に測定時間中に原子の雲を中断することな
く透過しかつドリフト補償は測定時間外に行われる。測
定光ビームは、１度限りに、これを最終として正確に調
整された結像光学系の静止した光学部材によって正確に
配向され、かつ可動鏡およびそれに関連した精度要求が
回避される。その変わり、アトマイザー・バーナは静止
した測定光ビームの内外に配置される。バーナの位置変
換は、比較的に低コストと関係して有効かつ確実に実施
することができる。バーナの案内は極端な精度を必要と
しない、それというのもバーナの位置は測定光ビームの
位置に影響せずかつバーナは簡単な手段で試料測定位置
に再現可能に運動させることができるからである。
本発明による光源検出器の遠藤を補償する方法は、 試料おおび参照測定を実施するために、光源と検出手
段との間の前以て規定された固定の光路に沿って原子吸
光分光分析のための光ビームを配向し、 霧状化された試料が光路内に存在するように、第１の
前以て規定された位置内で試料を霧状化するためにアト
マイザを位置決めし、 アトマイザが前記第１の位置に存在する際に、前記光
ビームの利用できる全エネルギーで完全な試料測定を実
施し、 前記アトマイザからの霧状化された試料が光路の外部
にあるように、前記アトマイザを第２の前以て規定され
た位置を位置決めし、 前記アトマイザが前記第２の位置内に存在する際に、
参照測定を実施し、 参照測定に基づき試料測定における光源変動を補償す
ることよりなる。
段との間の前以て規定された固定の光路に沿って原子吸
光分光分析のための光ビームを配向し、 霧状化された試料が光路内に存在するように、第１の
前以て規定された位置内で試料を霧状化するためにアト
マイザを位置決めし、 アトマイザが前記第１の位置に存在する際に、前記光
ビームの利用できる全エネルギーで完全な試料測定を実
施し、 前記アトマイザからの霧状化された試料が光路の外部
にあるように、前記アトマイザを第２の前以て規定され
た位置を位置決めし、 前記アトマイザが前記第２の位置内に存在する際に、
参照測定を実施し、 参照測定に基づき試料測定における光源変動を補償す
ることよりなる。
［実施例］ 次に、図示の実施例により本発明を詳細に説明する。
図面には説明のために本発明の特殊な実施例を示し、
かつこれらの本発明の実施例を説明のために特別の用語
を用いて以下に説明するが、該説明は特許請求の範囲に
規定した本発明の範囲を限定せんとするものではない。
かつこれらの本発明の実施例を説明のために特別の用語
を用いて以下に説明するが、該説明は特許請求の範囲に
規定した本発明の範囲を限定せんとするものではない。
第１図には、本発明による原子吸光分光光度計が示さ
れておりかつ中空陰極ランプの形の線放出光源10および
該光源10の光線に応答するための検出器12を有する。光
学系は光源10から出発して検出器12に入射する測定光ビ
ーム14を発生する。該測定光ビーム14は試料を霧状化し
かつ原子の雲を発生させるアトマイザを透過する。この
場合には、アトマイザは測定光ビーム14の下に配置され
たアトマイザ・バーナ16である。測定光ビーム14は、検
出器12に入射する前に、モノクロメータ18を透過する。
該モノクロメータ18は光源10によって放出された線スペ
クトルから特性スペクトル線を選択する。
れておりかつ中空陰極ランプの形の線放出光源10および
該光源10の光線に応答するための検出器12を有する。光
学系は光源10から出発して検出器12に入射する測定光ビ
ーム14を発生する。該測定光ビーム14は試料を霧状化し
かつ原子の雲を発生させるアトマイザを透過する。この
場合には、アトマイザは測定光ビーム14の下に配置され
たアトマイザ・バーナ16である。測定光ビーム14は、検
出器12に入射する前に、モノクロメータ18を透過する。
該モノクロメータ18は光源10によって放出された線スペ
クトルから特性スペクトル線を選択する。
検出器12およびマイクロプロセッサ22に信号処理回路
20が接続されている。該信号処理回路20に検出器12の出
力信号が入力される。マイクロプロセッサ22は、一方で
は信号処理回路20を制御し、かつ他方では参照測定に基
づき変動補正を含む分析測定のための信号処理回路20か
らデータ処理のための信号を受信する。マイクロプロセ
ッサ22は光源10のための給電装置24並びにモータ制御装
置26を制御する。モータ制御装置26はサーボモータ28を
制御し、該サーボモータによってバーナ16は、図示の試
料測定位置から測定光ビーム14の外側の破線で示された
参照測定位置に移動可能である。得られた測定値はマイ
クロプロセッサ22によってディスプレイユニット30に供
給される。
20が接続されている。該信号処理回路20に検出器12の出
力信号が入力される。マイクロプロセッサ22は、一方で
は信号処理回路20を制御し、かつ他方では参照測定に基
づき変動補正を含む分析測定のための信号処理回路20か
らデータ処理のための信号を受信する。マイクロプロセ
ッサ22は光源10のための給電装置24並びにモータ制御装
置26を制御する。モータ制御装置26はサーボモータ28を
制御し、該サーボモータによってバーナ16は、図示の試
料測定位置から測定光ビーム14の外側の破線で示された
参照測定位置に移動可能である。得られた測定値はマイ
クロプロセッサ22によってディスプレイユニット30に供
給される。
第２図は、原子吸光分光光度計11内の光路を示す。中
空陰極ランプからなる光源10は、測定光ビーム14を固定
の静止凹面鏡32および平面鏡34を介してケーシング38内
に形成された試料スペース36を透過させる。
空陰極ランプからなる光源10は、測定光ビーム14を固定
の静止凹面鏡32および平面鏡34を介してケーシング38内
に形成された試料スペース36を透過させる。
バーナ16は第１の試料測定位置と第２の参照測定位置
との間での運動のためにケーシング38内に可動に取付け
られている。バーナ16は、その図示の位置では、測定光
ビームが試料の原子の雲の形成されるバーナのフレーム
を透過するように、試料空間内の測定光ビーム14の下に
配置されている。試料空間36を透過した後、測定光ビー
ムは固定の静止凹面鏡40および平面鏡42によってモノク
ロメータ46の入射スリット44に向けられる。モノクロメ
ータ46は凹面鏡48および格子50からなる。格子50によっ
て回折された光線はモノクロメータ46の噴出スリット52
を経て検出器12に入射する。
との間での運動のためにケーシング38内に可動に取付け
られている。バーナ16は、その図示の位置では、測定光
ビームが試料の原子の雲の形成されるバーナのフレーム
を透過するように、試料空間内の測定光ビーム14の下に
配置されている。試料空間36を透過した後、測定光ビー
ムは固定の静止凹面鏡40および平面鏡42によってモノク
ロメータ46の入射スリット44に向けられる。モノクロメ
ータ46は凹面鏡48および格子50からなる。格子50によっ
て回折された光線はモノクロメータ46の噴出スリット52
を経て検出器12に入射する。
バーナ16は、実線で示した第１の位置と、破線で示し
た第２の位置との間で矢印54の方向で測定光ビーム14の
光軸に対して横方向に運動するために設置されている。
第２の位置では、バーナ16は測定光ビーム14の横方向に
配置されている。従って、試料および参照の両者の測定
のために単一光路が使用される。
た第２の位置との間で矢印54の方向で測定光ビーム14の
光軸に対して横方向に運動するために設置されている。
第２の位置では、バーナ16は測定光ビーム14の横方向に
配置されている。従って、試料および参照の両者の測定
のために単一光路が使用される。
第３図および第４図においては、バーナ16は混合室56
および長方形のバーナヘッド38からなる。測定光ビーム
14はバーナヘッド58上を長手方向に導かれる、従って、
バーナヘッド58の上を第３図の紙面内を水平方向に延び
ている。バーナ16は第１の位置と第２の位置との間でケ
ーシング38に対して相対的な運動方向54で駆動されるよ
うにキャリジ60上に支持されている。バーナ16をキャリ
ジ60上にレベルおよび角度に関して調整可能に支持する
ために調整マウティング装置62が設けられている。レベ
ル調整は調整ノブ64で行われかつ角度調整は調整ノブ66
で行われる。
および長方形のバーナヘッド38からなる。測定光ビーム
14はバーナヘッド58上を長手方向に導かれる、従って、
バーナヘッド58の上を第３図の紙面内を水平方向に延び
ている。バーナ16は第１の位置と第２の位置との間でケ
ーシング38に対して相対的な運動方向54で駆動されるよ
うにキャリジ60上に支持されている。バーナ16をキャリ
ジ60上にレベルおよび角度に関して調整可能に支持する
ために調整マウティング装置62が設けられている。レベ
ル調整は調整ノブ64で行われかつ角度調整は調整ノブ66
で行われる。
キャリジ60の第１の位置は調整自在のストッパまたは
突起68で規定されている。キャリジ60には戻しコイルば
ね70によってストッパ68に向かう方向にプレロードがか
けられている。キャリジ60は戻しばね70の作用に抗して
サーボモータ28によって第２の位置に案内装置上を選択
的に可動である。サーボモータ28はキャリジ60上に取付
けられており、かつキャリジの運動方向に延びかつ伸縮
しかつストッパ68に係合するプランジャ72を有する。ス
トッパ68は調整ノブ74によって調整可能であり、このよ
うにしてその第１の位置におけるバーナの位置を正確に
設定および調整することができる。ストッパ68は、バー
ナフレームの第１の位置への運動およびストッパ68との
係合に基づいて試料測定のために光ビーム14に対して相
対的に正確にアライメントされるように調整される。従
って、バーナがスペクトロメータの作動通に前進および
後退運動すると、該バーナは第１の位置で測定光ビーム
14に対して正確に規定された位置を再現可能に取る。
突起68で規定されている。キャリジ60には戻しコイルば
ね70によってストッパ68に向かう方向にプレロードがか
けられている。キャリジ60は戻しばね70の作用に抗して
サーボモータ28によって第２の位置に案内装置上を選択
的に可動である。サーボモータ28はキャリジ60上に取付
けられており、かつキャリジの運動方向に延びかつ伸縮
しかつストッパ68に係合するプランジャ72を有する。ス
トッパ68は調整ノブ74によって調整可能であり、このよ
うにしてその第１の位置におけるバーナの位置を正確に
設定および調整することができる。ストッパ68は、バー
ナフレームの第１の位置への運動およびストッパ68との
係合に基づいて試料測定のために光ビーム14に対して相
対的に正確にアライメントされるように調整される。従
って、バーナがスペクトロメータの作動通に前進および
後退運動すると、該バーナは第１の位置で測定光ビーム
14に対して正確に規定された位置を再現可能に取る。
モータ28は、バーナが試料交換のために測定光ビーム
の外部の第２の位置に駆動されるようにマイクロプロセ
ッサ22によって制御される。参照測定およびドリフト補
償は、フレームが測定光ビームの外側で安定化される間
（即ちフレーム内に長い時間帯に亙って実質的に一定な
新しい試料の原子の雲が形成される間）に行われ、次い
でバーナ16は試料測定のために第１の位置に戻される。
従って、測定光ビームは試料測定中には中断されない、
それにより測定光ビームの全エネルギーを測定のために
利用することができる。
の外部の第２の位置に駆動されるようにマイクロプロセ
ッサ22によって制御される。参照測定およびドリフト補
償は、フレームが測定光ビームの外側で安定化される間
（即ちフレーム内に長い時間帯に亙って実質的に一定な
新しい試料の原子の雲が形成される間）に行われ、次い
でバーナ16は試料測定のために第１の位置に戻される。
従って、測定光ビームは試料測定中には中断されない、
それにより測定光ビームの全エネルギーを測定のために
利用することができる。
自明のように、試料および参照測定の両者のために単
一光路を形成するために固定の静止光学部材を利用する
原子吸光分光光度計においては、光源および検出器変動
補償が達成される。可動光学部材および高い費用に結び
付いたアライメント許容差を必要とせずに、所望の信号
／雑音比が達成される。
一光路を形成するために固定の静止光学部材を利用する
原子吸光分光光度計においては、光源および検出器変動
補償が達成される。可動光学部材および高い費用に結び
付いたアライメント許容差を必要とせずに、所望の信号
／雑音比が達成される。
当業者にとって明らかなように、本発明の技術思想お
よび範囲を逸脱することなく、前記実施例の種々の変更
および改良が容易に想到される。本発明の範囲は前記特
許請求の範囲によって規定されるものである。
よび範囲を逸脱することなく、前記実施例の種々の変更
および改良が容易に想到される。本発明の範囲は前記特
許請求の範囲によって規定されるものである。
第１図は本発明による可動アトマイザ・バーナを有する
原子吸光分光光度計のブロック図、第２図は第１図に示
した原子吸光分光光度計の光路の略示図、第３図は本発
明による可動バーナの側面図および第４図は測定光ビー
ムの光軸の方向で見た、第３図に示したバーナの側面図
である。 10……光源、12……検出器、14……測定光ビーム、16…
…アトマイザ・バーナ、18,48……モノクロメータ、20
……信号処理回路、22……マイクロプロセッサ、24……
給電装置、26……モータ制御装置、28……サーボモー
タ、30……ディスプレイユニット、32,40,48……静止凹
面鏡、34,42……平面鏡、36……試料スペース、38……
ケーシング、44……入射スリット、46……モノクロメー
タ、50……格子、52……射出スリット、54……運動方
向、56……混合室、58……バーナヘッド、60……キャリ
ジ、62……調整マウンティング装置、64,68,74……調整
ノブ、68……ストッパ、70……戻しコイルばね、72……
プランジャ
原子吸光分光光度計のブロック図、第２図は第１図に示
した原子吸光分光光度計の光路の略示図、第３図は本発
明による可動バーナの側面図および第４図は測定光ビー
ムの光軸の方向で見た、第３図に示したバーナの側面図
である。 10……光源、12……検出器、14……測定光ビーム、16…
…アトマイザ・バーナ、18,48……モノクロメータ、20
……信号処理回路、22……マイクロプロセッサ、24……
給電装置、26……モータ制御装置、28……サーボモー
タ、30……ディスプレイユニット、32,40,48……静止凹
面鏡、34,42……平面鏡、36……試料スペース、38……
ケーシング、44……入射スリット、46……モノクロメー
タ、50……格子、52……射出スリット、54……運動方
向、56……混合室、58……バーナヘッド、60……キャリ
ジ、62……調整マウンティング装置、64,68,74……調整
ノブ、68……ストッパ、70……戻しコイルばね、72……
プランジャ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 トーマ・トモフ ドイツ連邦共和国ユーバーリンゲン・ラー ヴエン デルヴエーク９ (72)発明者 グンター・デンクス ドイツ連邦共和国オーヴインゲン・プリー ルシユトラーセ３ (56)参考文献 特開 昭61−7426（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−124930（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−220631（ＪＰ，Ａ) 特開 昭51−86383（ＪＰ，Ａ)
Claims (17)
- 【請求項１】ケーシングと、 線放出光源と、 前記光源からの光の吸光度を測定する検出手段と、 ケーシングを貫通して延びる固定光路に沿って前記光源
から前記検出手段に向かう測定光ビームを発生させる光
学的手段と、 測定光ビームで原子吸光分析を行うために原子の雲を発
生させるために試料を霧状化するアトマイザと、 前記アトマイザを、該アトマイザからの原子の雲が前記
光路内に位置する第１の試料測定位置と、前記アトマイ
ザからの原子の雲が前記光路の外部にある第２のドリフ
ト補償参照測定位置との間で運動させるために、前記ケ
ーシング内に可動に取付ける手段と、 原子吸光測定およびドリフト補償を行うための前記検出
手段からの信号を処理する信号処理手段と、 （ｉ）霧状化された試料の完全な原子吸光測定を実施す
るために十分な測定時間に亙って、測定光ビームを中断
せずに試料測定を実施するための第１の測定時間帯の間
前記第１の位置に前記アトマイザを位置決めし、かつ （ii）前記試料測定のためのドリフト補償を行うために
前記試料測定後に第２の時間帯に亙って前記第２の位置
に前記アトマイザを位置決めするように、前記信号処理
手段および前記アトマイザの取り付け手段を制御する手
段とから構成されており、かつ 前記アトマイザがアトマイザ・フレームバーナからなる
ことを特徴とする原子吸光分光光度計。 - 【請求項２】前記アトマイザを可動に取付ける手段が、 前記バーナを取付けかつ前記第１の試料測定位置と第２
の参照測定位置との間での運動のために可動に取付けら
れたキャリジと、 前記バーナを前記キャリジに取付けかつ角度およびレベ
ルに関して選択的に調整可能である調整マウティング装
置とからなる、特許請求の範囲第１項記載の原子吸光分
光光度計。 - 【請求項３】前記キャリジの位置を前記第１の位置に設
定するストッパと、 前記キャリジをストッパに向かってプレロードをかける
ためにキャリジに接続されたプレロードばねと、 前記キャリジを前記第２の位置に選択的に移動させるた
めに前記キャリジに接続されたサーボモータとからな
る、特許請求の範囲第２項記載の原子吸光分光光度計。 - 【請求項４】前記ストッパが前記測定位置で前記バーナ
の位置を変動させるために前記ストッパの位置を調整す
る手段を有する、特許請求の範囲第３項記載の原子吸光
分光光度計。 - 【請求項５】前記サーボモータが前記キャリジに取付け
られておりかつ前記ストッパと係合した伸縮自在のプラ
ンジャを有しかつ前記キャリジの走行方向に伸縮自在で
ある、特許請求の範囲第３項記載の原子吸光分光光度
計。 - 【請求項６】前記バーナのフレームは、該バーナが前記
試料測定位置にある際には前記光路内にあり、かつ前記
バーナが前記第２の参照測定位置にある際には、前記光
路の外部にあり、その際バーナは前記光路の横に配置さ
れる、特許請求の範囲第１項記載の原子吸光分光光度
計。 - 【請求項７】前記光学的手段が複数の光学的にアライメ
ントされた光学部材から成り、該部材が静止位置に不動
に取付けられている、特許請求の範囲第１項記載の原子
吸光分光光度計。 - 【請求項８】前記制御手段が、前記第２の時間帯中の試
料交換を制御しかつ前記第２の時間帯後に前記第１の位
置に前記アトマイザを戻すための制御手段からなる、特
許請求の範囲第１項記載の原子吸光分光光度計。 - 【請求項９】前記第２の時間帯が試料交換後に前記アト
マイザを安定化するために十分である、特許請求の範囲
第８項記載の原子吸光分光光度計。 - 【請求項１０】試料の原子吸光分光分析において光源−
検出器の変動を補償する方法において、 試料および参照測定を実施するために、光源と検出手段
との間の前以て規定された固定の光路に沿って原子吸光
分光分析のための光ビームを配向し、 霧状化された試料が光路内に存在するように、第１の前
以て規定された位置内で試料を霧状化するためにアトマ
イザを位置決めし、 アトマイザが前記第１の位置に存在する際に、前記光ビ
ームの利用できる全エネルギーで完全な試料測定を実施
し、 前記アトマイザからの霧状化された試料が光路の外部に
あるように、前記アトマイザを第２の前以て規定された
位置に位置決めし、 前記アトマイザが前記第２の位置内に存在する際に、参
照測定を実施し、 参照測定に基づき試料測定における光源変動を補償する
ことを特徴とする、試料の原子吸光分光分析において光
源−検出器変動を補償する方法。 - 【請求項１１】前記光ビームを配向するステップが、該
光ビームを位置固定の光学部材で試料及び参照測定の両
者のために単一光路に沿って配向することによりなる、
特許請求の範囲第10項記載の方法。 - 【請求項１２】アトマイザーがアトマイザ・バーナであ
り、かつ該バーナを第１の前以て規定された位置に位置
決めするステップは、該バーナをそのフレームが前記光
路内にあるように位置決めすることにより成り、かつ前
記バーナを第２の前以て規定された位置に位置決めする
ステップは、該バーナをそのフレームが前記光路の外部
にあるように位置決めすることによりなる、特許請求の
範囲第10項記載の方法。 - 【請求項１３】アトマイザは、バーナフレームが光路内
にある第１の位置と、バーナフレームが光路外にある第
２の位置との間の運動のために可動に取付けられたアト
マイザ・バーナであり、その際 前記バーナに供給された第１の試料を霧状化し、 霧状化した第１の試料の試料測定をバーナが前記第１の
位置にある状態で実施し、 前記バーナを前記第２の位置に位置決めし、 前記第２の位置にあるバーナにバーニングのために第２
の試料を供給し、 前記第２の試料を霧状化するためにバーナフレームを安
定化する間に前記参照測定を実施し、かつ 前記バーナを第１の位置に位置決めし、前記光路内で第
２の試料の霧状化を実施することよりなる、特許請求の
範囲第10項記載の方法。 - 【請求項１４】前記アトマイザをそれによって霧状化し
た第１の試料の測定を実施するステップの後に前記第２
の前以て規定された位置に位置決めし、 前記アトマイザが前記第２の位置にある間に分析すべき
第２の試料を供給し、かつ 前記第２の試料を前記第２の位置にある前記アトマイザ
に供給する間に参照測定を実施することよりなる、特許
請求の範囲第10項記載の方法。 - 【請求項１５】前記第２の試料の霧状化を、前記アトマ
イザが前記第２の位置にある間に実施し、引き続き前記
アトマイザを前記第２の試料の試料測定のための前記第
１の位置に位置決めする、特許請求の範囲第14項記載の
方法。 - 【請求項１６】前記アトマイザが前記第２の位置にある
間に前記アトマイザ内の試料を交換し、かつ該試料交換
後に前記アトマイザを前記第１の位置に再位置決めす
る、特許請求の範囲第10項記載の方法。 - 【請求項１７】前記アトマイザが試料交換後に安定化す
るまで、前記アトマイザを前記第２の位置に保持する、
特許請求の範囲第16項記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3528300.9 | 1985-08-07 | ||
| DE19853528300 DE3528300A1 (de) | 1985-08-07 | 1985-08-07 | Atomabsorptions-spektrometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6296847A JPS6296847A (ja) | 1987-05-06 |
| JPH0827232B2 true JPH0827232B2 (ja) | 1996-03-21 |
Family
ID=6277908
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61184363A Expired - Lifetime JPH0827232B2 (ja) | 1985-08-07 | 1986-08-07 | 原子吸光分光光度計および原子吸光分光分析において光源−検出器の変動を補償する方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4991960A (ja) |
| JP (1) | JPH0827232B2 (ja) |
| AU (1) | AU582261B2 (ja) |
| DE (1) | DE3528300A1 (ja) |
| GB (1) | GB2180064B (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3723032A1 (de) * | 1987-07-11 | 1989-01-19 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Atomabsorptions-spektrometer |
| DE3809212A1 (de) * | 1988-03-18 | 1989-10-05 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Atomabsorptions-spektrometer |
| JP2513082B2 (ja) * | 1991-03-30 | 1996-07-03 | 株式会社島津製作所 | 原子吸光分析装置 |
| US7133131B2 (en) * | 2001-08-10 | 2006-11-07 | Gbc Scientific Equipment Pty Ltd | Atomic absorption spectrometer |
| AU2002355449B2 (en) * | 2001-08-10 | 2007-11-29 | Gbc Scientific Equipment Pty Ltd | Atomic absorption spectrometer |
| AU2007231772B2 (en) * | 2001-08-10 | 2009-12-03 | Gbc Scientific Equipment Pty Ltd | Atomic Absorption Spectrometer |
| CN110832303B (zh) * | 2017-07-10 | 2022-09-13 | 株式会社岛津制作所 | 火焰原子吸收分光光度计 |
| RU190704U1 (ru) * | 2018-11-06 | 2019-07-09 | Алёна Юрьевна Макарова | Атомно-абсорбционный ртутный анализатор |
| JP2020173110A (ja) * | 2019-04-08 | 2020-10-22 | 株式会社島津製作所 | 土壌分析計 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US1967583A (en) * | 1932-12-15 | 1934-07-24 | Maynard D Mcfarlane | Transparency meter |
| US2043589A (en) * | 1933-05-31 | 1936-06-09 | Ralph H Muller | Photoelectric colorimeter |
| DE2523931A1 (de) * | 1975-05-30 | 1976-12-09 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Verfahren und vorrichtung zur automatischen probenaufgabe bei einem flammenlosen atomabsorptionsspektrometer |
| JPS5580055A (en) * | 1978-12-14 | 1980-06-16 | Hitachi Ltd | Liquid sample analyzer |
| DE2950105C2 (de) * | 1979-12-13 | 1982-05-19 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | Atomabsorptionsspektrometer mit verschiedenen, wahlweise einsetzbaren Atomisierungsvorrichtungen |
| GB2113829B (en) * | 1982-01-19 | 1985-07-10 | Philips Electronic Associated | Atomic absorption spectrophotometer |
-
1985
- 1985-08-07 DE DE19853528300 patent/DE3528300A1/de active Granted
-
1986
- 1986-08-06 GB GB8619210A patent/GB2180064B/en not_active Expired
- 1986-08-06 US US06/893,766 patent/US4991960A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-08-07 JP JP61184363A patent/JPH0827232B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1986-08-07 AU AU60956/86A patent/AU582261B2/en not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6296847A (ja) | 1987-05-06 |
| GB2180064B (en) | 1989-08-16 |
| AU6095686A (en) | 1987-02-12 |
| GB2180064A (en) | 1987-03-18 |
| AU582261B2 (en) | 1989-03-16 |
| DE3528300C2 (ja) | 1987-05-21 |
| US4991960A (en) | 1991-02-12 |
| DE3528300A1 (de) | 1987-02-19 |
| GB8619210D0 (en) | 1986-09-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5483337A (en) | Spectrometer with selectable radiation from induction plasma light source | |
| US7580117B2 (en) | Laser radar apparatus that measures direction and distance of an object | |
| JP4059403B2 (ja) | 時系列変換パルス分光計測装置の時系列信号取得のための光路差補償機構 | |
| US4326802A (en) | Dual monochromator type of spectroanalysis system | |
| JPH0827232B2 (ja) | 原子吸光分光光度計および原子吸光分光分析において光源−検出器の変動を補償する方法 | |
| JPH056651B2 (ja) | ||
| JPWO2016166872A1 (ja) | フーリエ変換型分光光度計 | |
| JP3047104B2 (ja) | 原子吸光光度計 | |
| US4691110A (en) | Laser spectral fluorometer | |
| EP0084392B1 (en) | Spectrophotometer | |
| US4545680A (en) | Spectroanalysis system | |
| US6222626B1 (en) | Atomic absorption spectrometer | |
| US3137758A (en) | Apparatus for spectrochemical analysis by the internal standard method | |
| JPH0197842A (ja) | 原子吸光分光分析計 | |
| JPH0259945B2 (ja) | ||
| CN208751710U (zh) | 原子吸收光谱仪及系统 | |
| JPS6312527B2 (ja) | ||
| US3620628A (en) | Photoelectric sample measuring apparatus | |
| JP2001183294A (ja) | 赤外分光装置 | |
| CN108731809A (zh) | 原子吸收光谱仪及系统 | |
| JPH0979976A (ja) | 原子吸光光度計 | |
| JPH01295135A (ja) | 原子吸光分光分析装置 | |
| US3937576A (en) | Illumination system for an atomic absorption spectral photometer | |
| Akent'ev et al. | Spectral diagnostics for plasma research at the GOL-3 facility | |
| JP4632373B2 (ja) | 時系列変換パルス分光計測装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |