JP2000065738A - 原子吸光光度計 - Google Patents
原子吸光光度計Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】分光器に入射する黒鉛管発光の反射光を制限し
測定光量の低下を最小限として分析精度を向上できる電
気加熱炉分析法による原子吸光光度計を実現する。 【解決手段】光源側透過板５は均等な厚みを有する透過
板であり、測定光４の光軸に対して１０°傾けて配置さ
れている。電気加熱炉１は黒鉛管２を通電加熱する。光
源から測定光４が光源側透過板５を介して黒鉛管２の中
心位置に結像し、黒鉛管２、分光器側透過板１１通過し
て分光器に導かれる。黒鉛管２内部にはガス制御部１５
により不活性ガスが供給され、光源側透過板５と分光器
側透過板１１とによりガスの流出が抑制される。加熱さ
れた黒鉛管４の内面が発光して、その発光光１７の一部
が光源側透過板５に向かい光源側透過板５の表面で反射
する。光源側透過板５は測定光４の光軸に対して１０°
傾斜しているので光源側透過板５で反射された発光光１
７の光軸が測定光４の光軸に重なることが回避される。
測定光量の低下を最小限として分析精度を向上できる電
気加熱炉分析法による原子吸光光度計を実現する。 【解決手段】光源側透過板５は均等な厚みを有する透過
板であり、測定光４の光軸に対して１０°傾けて配置さ
れている。電気加熱炉１は黒鉛管２を通電加熱する。光
源から測定光４が光源側透過板５を介して黒鉛管２の中
心位置に結像し、黒鉛管２、分光器側透過板１１通過し
て分光器に導かれる。黒鉛管２内部にはガス制御部１５
により不活性ガスが供給され、光源側透過板５と分光器
側透過板１１とによりガスの流出が抑制される。加熱さ
れた黒鉛管４の内面が発光して、その発光光１７の一部
が光源側透過板５に向かい光源側透過板５の表面で反射
する。光源側透過板５は測定光４の光軸に対して１０°
傾斜しているので光源側透過板５で反射された発光光１
７の光軸が測定光４の光軸に重なることが回避される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、試料を加熱し原子
化させ、その原子を吸光分析することにより金属元素の
分析を行う電気加熱炉分析法による原子吸光光度計に関
する。
化させ、その原子を吸光分析することにより金属元素の
分析を行う電気加熱炉分析法による原子吸光光度計に関
する。
【０００２】
【従来の技術】図５は、従来における電気加熱炉分析法
による原子吸光光度計の概略構成図である。図５におい
て、電気加熱炉１の黒鉛管２内には測定対象である試料
１０が配置され、黒鉛管２が通電加熱されて試料１０が
原子化される。黒鉛官２の加熱時には不活性ガス１４が
ガス制御部１５により流量が制御されて電気加熱炉１に
供給され、黒鉛管２内に導かれて、加熱による酸化が少
なくとも抑制される。
による原子吸光光度計の概略構成図である。図５におい
て、電気加熱炉１の黒鉛管２内には測定対象である試料
１０が配置され、黒鉛管２が通電加熱されて試料１０が
原子化される。黒鉛官２の加熱時には不活性ガス１４が
ガス制御部１５により流量が制御されて電気加熱炉１に
供給され、黒鉛管２内に導かれて、加熱による酸化が少
なくとも抑制される。
【０００３】電気加熱炉１内に導かれた不活性ガス１４
は、光源側透過板５と分光器側透過板１１とにより測定
光４の光軸上に位置する光源３側と分光器６側への流出
が制限される。また、黒鉛管２内に導かれた不活性ガス
１４は、黒鉛管２の試料注入孔１６から排出される。光
源３は直径３ｍｍのものが一般的に用いられ、少なくと
も１９０〜９００ｎｍの波長を含む測定光４を照射す
る。
は、光源側透過板５と分光器側透過板１１とにより測定
光４の光軸上に位置する光源３側と分光器６側への流出
が制限される。また、黒鉛管２内に導かれた不活性ガス
１４は、黒鉛管２の試料注入孔１６から排出される。光
源３は直径３ｍｍのものが一般的に用いられ、少なくと
も１９０〜９００ｎｍの波長を含む測定光４を照射す
る。
【０００４】光源３から出射された測定光４は、集光ミ
ラー１２により集光され黒鉛管２の中心位置に結像す
る。黒鉛管２内では、試料１０の原子化により原子吸収
が生じ、吸収を受けた測定光４は、黒鉛管２を通過後、
集光ミラー１３により再度集光され、分光器６に導かれ
る。
ラー１２により集光され黒鉛管２の中心位置に結像す
る。黒鉛管２内では、試料１０の原子化により原子吸収
が生じ、吸収を受けた測定光４は、黒鉛管２を通過後、
集光ミラー１３により再度集光され、分光器６に導かれ
る。
【０００５】分光器６では、測定光４が分光され、設定
された測定波長の光のみが検知器８に導かれる。検知器
８では、光の強度を電気信号に変換して中央処理装置７
に出力する。中央処理装置７は、電気加熱炉１の温度制
御、光源３の電流制御、ガス制御部１５の制御、分光器
６の波長制御を行う。入力装置９は、測定波長および試
料原子化時の加熱温度、光源の電流値の設定を行う。
された測定波長の光のみが検知器８に導かれる。検知器
８では、光の強度を電気信号に変換して中央処理装置７
に出力する。中央処理装置７は、電気加熱炉１の温度制
御、光源３の電流制御、ガス制御部１５の制御、分光器
６の波長制御を行う。入力装置９は、測定波長および試
料原子化時の加熱温度、光源の電流値の設定を行う。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記電気加熱炉分析法
による原子吸光光度計においては、測定時に黒鉛管２が
加熱されることにより、黒鉛管２自体が発光するという
現象を伴う。黒鉛管２の発光源は測定光４の光路上から
外れてるため黒鉛管２からの直接の発光光は分光器６に
は入らない。
による原子吸光光度計においては、測定時に黒鉛管２が
加熱されることにより、黒鉛管２自体が発光するという
現象を伴う。黒鉛管２の発光源は測定光４の光路上から
外れてるため黒鉛管２からの直接の発光光は分光器６に
は入らない。
【０００７】しかし、黒鉛管２の発光が光源側透過板５
の表面で反射した発光の少なくとも一部が測定光４の光
軸と交わり、測定光４の光路上に入り込む。従って、測
定光４以外にも、黒鉛管２から発光した光も分光器６に
入ってしまう。この黒鉛管２からの発光は原子吸収測定
に不要なバックグラウンド成分となり、原子吸収測定の
分析精度を低下している。
の表面で反射した発光の少なくとも一部が測定光４の光
軸と交わり、測定光４の光路上に入り込む。従って、測
定光４以外にも、黒鉛管２から発光した光も分光器６に
入ってしまう。この黒鉛管２からの発光は原子吸収測定
に不要なバックグラウンド成分となり、原子吸収測定の
分析精度を低下している。
【０００８】従来の原子吸光測定においては、光源側透
過板５の表面反射光が分光器６に入り込んでいたことが
認識されておらず、この表面反射光については、考慮さ
れていなかった。
過板５の表面反射光が分光器６に入り込んでいたことが
認識されておらず、この表面反射光については、考慮さ
れていなかった。
【０００９】加熱温度によって増加減する黒鉛管２の発
光が、光源側透過板５の表面反射にて分光器６に入り込
むと、原子吸収測定に不要なバックグラウンド成分が増
加すると共にバックグラウンド成分が変動する。そのた
め、測定信号からバックグラウンド成分を取り除き、原
子吸収量を求めるバックグラウンド補正において補正精
度が低下するという問題があった。
光が、光源側透過板５の表面反射にて分光器６に入り込
むと、原子吸収測定に不要なバックグラウンド成分が増
加すると共にバックグラウンド成分が変動する。そのた
め、測定信号からバックグラウンド成分を取り除き、原
子吸収量を求めるバックグラウンド補正において補正精
度が低下するという問題があった。
【００１０】特に、測定波長の長い試料、または原子化
時加熱温度が高い試料の測定においては、黒鉛管２の発
光が多くなるため、バックグラウンド補正精度を更に低
下してしまっていた。
時加熱温度が高い試料の測定においては、黒鉛管２の発
光が多くなるため、バックグラウンド補正精度を更に低
下してしまっていた。
【００１１】本発明の目的は、分光器に入り込む黒鉛管
発光の反射光を適切に制限して、測定光量の低下を最小
限にとどめ、分析精度を向上することが可能な電気加熱
炉分析法による原子吸光光度計を実現することである。
発光の反射光を適切に制限して、測定光量の低下を最小
限にとどめ、分析精度を向上することが可能な電気加熱
炉分析法による原子吸光光度計を実現することである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、次のように構成される。 （１）測定試料を加熱し、原子化を行う黒鉛管を有する
加熱手段と、原子化した試料に対して測定光を照射する
発光手段と、この発光手段と上記黒鉛管との間であっ
て、上記測定光の光軸上に配置される光源側光透過板
と、上記加熱手段を通過した測定光を任意の波長毎に分
光する分光手段と、この分光手段により分光された波長
について光度検出を行う検出手段と、上記各手段の制御
を行う制御手段とを有する原子吸光光度計において、加
熱時の上記黒鉛管からの発光が上記光源側光透過板によ
り反射された反射光の少なくとも一部を上記測定光の光
軸から変位させる変位手段を備える。
め、本発明は、次のように構成される。 （１）測定試料を加熱し、原子化を行う黒鉛管を有する
加熱手段と、原子化した試料に対して測定光を照射する
発光手段と、この発光手段と上記黒鉛管との間であっ
て、上記測定光の光軸上に配置される光源側光透過板
と、上記加熱手段を通過した測定光を任意の波長毎に分
光する分光手段と、この分光手段により分光された波長
について光度検出を行う検出手段と、上記各手段の制御
を行う制御手段とを有する原子吸光光度計において、加
熱時の上記黒鉛管からの発光が上記光源側光透過板によ
り反射された反射光の少なくとも一部を上記測定光の光
軸から変位させる変位手段を備える。
【００１３】（２）また、測定試料を加熱し、原子化を
行う黒鉛管を有する加熱手段と、原子化した試料に対し
て測定光を照射する発光手段と、この発光手段と上記黒
鉛管との間であって、上記測定光の光軸上に配置される
光源側光透過板と、上記加熱手段を通過した測定光を任
意の波長毎に分光する分光手段と、この分光手段により
分光された波長について光度検出を行う検出手段と、上
記各手段の制御を行う制御手段とを有する原子吸光光度
計において、上記光透過板の上記黒鉛管側の表面は、上
記測定光の光軸に対して垂直より傾斜させて配置され、
加熱時の上記黒鉛管からの発光が上記光透過板により反
射された反射光の少なくとも一部を上記測定光の光軸か
ら変位させる。
行う黒鉛管を有する加熱手段と、原子化した試料に対し
て測定光を照射する発光手段と、この発光手段と上記黒
鉛管との間であって、上記測定光の光軸上に配置される
光源側光透過板と、上記加熱手段を通過した測定光を任
意の波長毎に分光する分光手段と、この分光手段により
分光された波長について光度検出を行う検出手段と、上
記各手段の制御を行う制御手段とを有する原子吸光光度
計において、上記光透過板の上記黒鉛管側の表面は、上
記測定光の光軸に対して垂直より傾斜させて配置され、
加熱時の上記黒鉛管からの発光が上記光透過板により反
射された反射光の少なくとも一部を上記測定光の光軸か
ら変位させる。
【００１４】（３）好ましくは、上記（２）において、
上記光透過板の上記発光手段側の表面は、上記測定光の
光軸に対して、ほぼ垂直に配置される。
上記光透過板の上記発光手段側の表面は、上記測定光の
光軸に対して、ほぼ垂直に配置される。
【００１５】（４）また、好ましくは、上記（２）又は
（３）において、上記光透過板の傾斜させる角度は、上
記測定光の光軸に対して３°以上６０°以下の範囲であ
る。
（３）において、上記光透過板の傾斜させる角度は、上
記測定光の光軸に対して３°以上６０°以下の範囲であ
る。
【００１６】（５）また、好ましくは、上記（１）にお
いて、上記変位手段は、上記光透過板と上記黒鉛管との
間に配置され、上記測定光の光軸上に貫通孔を有する光
遮断板である。
いて、上記変位手段は、上記光透過板と上記黒鉛管との
間に配置され、上記測定光の光軸上に貫通孔を有する光
遮断板である。
【００１７】本発明では上記構成により、黒鉛管の発光
光が、光源側透過板により反射されても、上記変位手段
又は光源側透過板の黒鉛管側表面の傾斜角により測定光
の光軸と交わらないため、反射光が直接分光手段に入り
込むことが抑制される。これにより、ほとんど測定光量
を低下させることなく、黒鉛管の発光光の反射光を適切
に制限して、分析精度を向上することが可能となる。
光が、光源側透過板により反射されても、上記変位手段
又は光源側透過板の黒鉛管側表面の傾斜角により測定光
の光軸と交わらないため、反射光が直接分光手段に入り
込むことが抑制される。これにより、ほとんど測定光量
を低下させることなく、黒鉛管の発光光の反射光を適切
に制限して、分析精度を向上することが可能となる。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につい
て、図１〜４を用いて説明する。図１は、本発明の第１
の実施形態による原子吸光光度計の要部概略断面図であ
り、図２は、測定波長及び加熱温度と黒鉛管からの発光
量との相関関係について示すグラフである。この図２の
グラフは、黒鉛管２を完全黒体と仮定し、測定光の波長
と黒鉛管からの発光強度との関係を理論式を立てて、求
めたものである。
て、図１〜４を用いて説明する。図１は、本発明の第１
の実施形態による原子吸光光度計の要部概略断面図であ
り、図２は、測定波長及び加熱温度と黒鉛管からの発光
量との相関関係について示すグラフである。この図２の
グラフは、黒鉛管２を完全黒体と仮定し、測定光の波長
と黒鉛管からの発光強度との関係を理論式を立てて、求
めたものである。
【００１９】この図２によれば、黒鉛管２の発光は、原
子吸光光度計の測定波長範囲である１９０ｎｍから９０
０ｎｍ全域で影響を与え、特に、波長が長くなるにつ
れ、加熱温度が大となるにつれ、大きくなる。
子吸光光度計の測定波長範囲である１９０ｎｍから９０
０ｎｍ全域で影響を与え、特に、波長が長くなるにつ
れ、加熱温度が大となるにつれ、大きくなる。
【００２０】図１において、電気加熱炉１の光源側透過
板５は、均等な厚みを有する透過板であり、この光源側
透過板５は、測定光４の光軸に対して、その表面が１０
°傾けて配置されている。なお、図１に示していない他
の部分は、図５の例と同様であるので、それらの図示及
び説明は省略する。
板５は、均等な厚みを有する透過板であり、この光源側
透過板５は、測定光４の光軸に対して、その表面が１０
°傾けて配置されている。なお、図１に示していない他
の部分は、図５の例と同様であるので、それらの図示及
び説明は省略する。
【００２１】図１において、電気加熱炉１は黒鉛管２を
通電加熱する。光源から測定光４が光源側透過板５を介
して黒鉛管２の中心位置に結像（およそ直径３ｍｍ）
し、黒鉛管２、分光器側透過板１１通過して分光器に導
かれる。黒鉛管２内部にはガス制御部１５により不活性
ガスが供給され、光源側透過板５と分光器側透過板１１
とによりガスの流出が抑制される。
通電加熱する。光源から測定光４が光源側透過板５を介
して黒鉛管２の中心位置に結像（およそ直径３ｍｍ）
し、黒鉛管２、分光器側透過板１１通過して分光器に導
かれる。黒鉛管２内部にはガス制御部１５により不活性
ガスが供給され、光源側透過板５と分光器側透過板１１
とによりガスの流出が抑制される。
【００２２】このとき、加熱された黒鉛管４の内面が発
光して、その発光光１７の一部が光源側透過板５に向か
い光源側透過板５の表面で反射する。光源側透過板５
は、上述したように、測定光４の光軸に対して、１０°
傾斜しているので、光源側透過板５で反射された発光光
１７の光軸が、測定光４の光軸に重なることが回避され
る。
光して、その発光光１７の一部が光源側透過板５に向か
い光源側透過板５の表面で反射する。光源側透過板５
は、上述したように、測定光４の光軸に対して、１０°
傾斜しているので、光源側透過板５で反射された発光光
１７の光軸が、測定光４の光軸に重なることが回避され
る。
【００２３】以上のように、本発明の第１の実施形態に
よれば、電気加熱炉分析法による原子吸光光度計におい
て、均等な厚みを有する光源側透過板５を測定光４の光
軸に対して、１０°傾斜して配置させているので、加熱
された黒鉛管４の内面からの発光光１７の一部が光源側
透過板５に反射されても、その光軸が測定光４の光軸に
重畳することが回避される。
よれば、電気加熱炉分析法による原子吸光光度計におい
て、均等な厚みを有する光源側透過板５を測定光４の光
軸に対して、１０°傾斜して配置させているので、加熱
された黒鉛管４の内面からの発光光１７の一部が光源側
透過板５に反射されても、その光軸が測定光４の光軸に
重畳することが回避される。
【００２４】したがって、分光器に入り込む黒鉛管発光
の反射光を適切に制限し、測定光量の低下を最小限にと
どめ、分析精度を向上することが可能な電気加熱炉分析
法による原子吸光光度計を安価に実現することができ
る。
の反射光を適切に制限し、測定光量の低下を最小限にと
どめ、分析精度を向上することが可能な電気加熱炉分析
法による原子吸光光度計を安価に実現することができ
る。
【００２５】また、原子吸光測定に不要なバックグラウ
ンド成分の低減により分析精度を向上し、長波長側及び
原子化時加熱温度が高い試料についても上記と同様の効
果を得ることができる。
ンド成分の低減により分析精度を向上し、長波長側及び
原子化時加熱温度が高い試料についても上記と同様の効
果を得ることができる。
【００２６】図３は、本発明の第２の実施形態による原
子吸光光度計の要部概略断面図であり、この第２の実施
形態は、第１の実施形態における光源側透過板５とその
形状が異なり、その他の部分は、第１の実施形態と同様
な構成となっている。
子吸光光度計の要部概略断面図であり、この第２の実施
形態は、第１の実施形態における光源側透過板５とその
形状が異なり、その他の部分は、第１の実施形態と同様
な構成となっている。
【００２７】つまり、図３における光源側透過板５は、
光源側側面が、測定光４の光軸に対して、ほぼ垂直な面
となっており、黒鉛管４側側面は、測定光４の光軸に対
して、１０°傾けた不均等な厚みを有する透過板となっ
ている。
光源側側面が、測定光４の光軸に対して、ほぼ垂直な面
となっており、黒鉛管４側側面は、測定光４の光軸に対
して、１０°傾けた不均等な厚みを有する透過板となっ
ている。
【００２８】この第２の実施形態においては、第１の実
施形態と同様に、加熱された黒鉛管４からの発光光１７
の一部が光源側透過板５に向かい光源側透過板５の表面
で反射する。光源側透過板５は、上述したように、測定
光４の光軸に対して、１０°傾斜しているので、光源側
透過板５で反射された発光光１７の光軸が、測定光４の
光軸に重なることが回避される。
施形態と同様に、加熱された黒鉛管４からの発光光１７
の一部が光源側透過板５に向かい光源側透過板５の表面
で反射する。光源側透過板５は、上述したように、測定
光４の光軸に対して、１０°傾斜しているので、光源側
透過板５で反射された発光光１７の光軸が、測定光４の
光軸に重なることが回避される。
【００２９】以上のように、本発明の第２の実施形態に
よれば、第１の実施形態と同様な効果を得ることができ
る。さらに、この第２の実施形態によれば、光源側透過
板５の光源側側面は、測定光４の光軸に対して、ほぼ垂
直な面となっており、黒鉛管４側側面のみ、測定光４の
光軸に対して、１０°傾けた形状となっているので、光
側側面も測定光４の光軸に対して傾斜させる場合と比較
して、入射する測定光４が、この光源側透過板５に反射
される量を減少でき、より多くの光を黒鉛管２内を通過
させることができる。
よれば、第１の実施形態と同様な効果を得ることができ
る。さらに、この第２の実施形態によれば、光源側透過
板５の光源側側面は、測定光４の光軸に対して、ほぼ垂
直な面となっており、黒鉛管４側側面のみ、測定光４の
光軸に対して、１０°傾けた形状となっているので、光
側側面も測定光４の光軸に対して傾斜させる場合と比較
して、入射する測定光４が、この光源側透過板５に反射
される量を減少でき、より多くの光を黒鉛管２内を通過
させることができる。
【００３０】図４は、本発明の第３の実施形態による原
子吸光光度計の要部概略断面図であり、光源側透過板５
は、光側側面及び黒鉛側側面共に、測定光４の光軸に対
して、ほぼ垂直な面となっており、ほぼ均一な厚みを有
する透過板となっている。
子吸光光度計の要部概略断面図であり、光源側透過板５
は、光側側面及び黒鉛側側面共に、測定光４の光軸に対
して、ほぼ垂直な面となっており、ほぼ均一な厚みを有
する透過板となっている。
【００３１】そして、光源側透過板５と黒鉛管２との間
であって、測定光４の光軸上に光遮断板１８（変位手
段）が配置されている。この光遮断板１８は、その中央
部であって、測定光４の光軸と同軸の円形の孔が形成さ
れており、測定光４は、光遮断板１８の円形孔を介して
光源側透過板５から黒鉛管２を通過する。
であって、測定光４の光軸上に光遮断板１８（変位手
段）が配置されている。この光遮断板１８は、その中央
部であって、測定光４の光軸と同軸の円形の孔が形成さ
れており、測定光４は、光遮断板１８の円形孔を介して
光源側透過板５から黒鉛管２を通過する。
【００３２】加熱された黒鉛管４の内面からの発光光１
７が光遮断板１８に向かう。そして、光遮断板１８に向
かった発光光１７の一部の光は、光遮断板１８により反
射され、その他の光は、光遮断板１８の円形孔を通過し
て光源側透過板５に向かい、この光源側透過板５によ
り、反射される。
７が光遮断板１８に向かう。そして、光遮断板１８に向
かった発光光１７の一部の光は、光遮断板１８により反
射され、その他の光は、光遮断板１８の円形孔を通過し
て光源側透過板５に向かい、この光源側透過板５によ
り、反射される。
【００３３】光遮断板１８により反射された発光光１７
の一部は、測定光４の光軸と同一となることはない。ま
た、発光光１７のうち、光遮断板１８の円形孔を通過し
た光は、光源側透過板５の側面に垂直には入射しないの
で、透過板５により反射された光の光軸が測定光４の光
軸と同一となることはない。
の一部は、測定光４の光軸と同一となることはない。ま
た、発光光１７のうち、光遮断板１８の円形孔を通過し
た光は、光源側透過板５の側面に垂直には入射しないの
で、透過板５により反射された光の光軸が測定光４の光
軸と同一となることはない。
【００３４】以上のように、本発明の第３の実施形態に
よれば、上述した第２の実施形態と同様な効果を奏する
ことができる。
よれば、上述した第２の実施形態と同様な効果を奏する
ことができる。
【００３５】なお、上述した第１及び第２の実施形態に
おいては、光源側透過板５の黒鉛管４側の側面は、測定
光４の光軸に対して、１０°傾けた形状となっている
が、この傾斜角度は、１０°に限らず、３°〜６０°で
あれば、本発明の効果を奏することができる。この傾斜
角度は、好ましくは、５°〜３０°程度である。
おいては、光源側透過板５の黒鉛管４側の側面は、測定
光４の光軸に対して、１０°傾けた形状となっている
が、この傾斜角度は、１０°に限らず、３°〜６０°で
あれば、本発明の効果を奏することができる。この傾斜
角度は、好ましくは、５°〜３０°程度である。
【００３６】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているため、次のような効果がある。つまり、電気加熱
炉分析法による原子吸光光度計において、少なくとも、
黒鉛管側側面を、測定光の光軸に対して、１０°傾けて
配置させているので、加熱された黒鉛管の内面からの発
光光の一部が光源側透過板に反射されても、その光軸が
測定光４の光軸に重畳することが回避される。
ているため、次のような効果がある。つまり、電気加熱
炉分析法による原子吸光光度計において、少なくとも、
黒鉛管側側面を、測定光の光軸に対して、１０°傾けて
配置させているので、加熱された黒鉛管の内面からの発
光光の一部が光源側透過板に反射されても、その光軸が
測定光４の光軸に重畳することが回避される。
【００３７】したがって、分光器に入り込む黒鉛管発光
の反射光を適切に制限し、測定光量の低下を最小限にと
どめ、分析精度を向上することが可能な電気加熱炉分析
法による原子吸光光度計を安価に実現することができ
る。
の反射光を適切に制限し、測定光量の低下を最小限にと
どめ、分析精度を向上することが可能な電気加熱炉分析
法による原子吸光光度計を安価に実現することができ
る。
【００３８】また、光源側透過板の光源側側面は、測定
光の光軸に対して、ほぼ垂直な面とし、黒鉛管側側面の
み、測定光の光軸に対して、１０°傾けた形状とすれ
ば、光側側面も測定光の光軸に対して傾斜させる場合と
比較して、入射する測定光が、光源側透過板に反射され
る量を減少でき、より多くの光を黒鉛管内を通過させる
ことができる。
光の光軸に対して、ほぼ垂直な面とし、黒鉛管側側面の
み、測定光の光軸に対して、１０°傾けた形状とすれ
ば、光側側面も測定光の光軸に対して傾斜させる場合と
比較して、入射する測定光が、光源側透過板に反射され
る量を減少でき、より多くの光を黒鉛管内を通過させる
ことができる。
【００３９】また、光源側透過板は、光側側面及び黒鉛
側側面共に、測定光の光軸に対して、ほぼ垂直な面と
し、光源側透過板と黒鉛管との間であって、測定光の光
軸上に円形の孔を有する遮断板を配置するように構成し
ても、分光器に入り込む黒鉛管発光の反射光を適切に制
限して、かつ測定光量の低下を最小限にとどめて、分析
精度を向上でき、かつ、入射する測定光が、光源側透過
板に反射される量を減少でき、より多くの光を黒鉛管内
を通過させることができる。
側側面共に、測定光の光軸に対して、ほぼ垂直な面と
し、光源側透過板と黒鉛管との間であって、測定光の光
軸上に円形の孔を有する遮断板を配置するように構成し
ても、分光器に入り込む黒鉛管発光の反射光を適切に制
限して、かつ測定光量の低下を最小限にとどめて、分析
精度を向上でき、かつ、入射する測定光が、光源側透過
板に反射される量を減少でき、より多くの光を黒鉛管内
を通過させることができる。
【００４０】また、原子吸光測定に不要なバックグラウ
ンド成分の低減により分析精度を向上し、長波長側及び
原子化時加熱温度が高い試料についても上記と同様の効
果を得ることができる。
ンド成分の低減により分析精度を向上し、長波長側及び
原子化時加熱温度が高い試料についても上記と同様の効
果を得ることができる。
【図１】本発明の第１の実施形態による原子吸光光度計
の要部概略断面図である。
の要部概略断面図である。
【図２】黒鉛管からの発光による像の発光強度の分布を
示すグラフである。
示すグラフである。
【図３】本発明の第２の実施形態による原子吸光光度計
の要部概略断面図である。
の要部概略断面図である。
【図４】本発明の第３の実施形態による原子吸光光度計
の要部概略断面図である。
の要部概略断面図である。
【図５】従来の一般的な原子吸光光度計の概念構成図で
ある。
ある。
１ 電気加熱炉 ２ 黒鉛管 ３ 光源 ４ 測定光 ５ 光源側透過板 ６ 分光器 ７ 中央処理装置 ８ 検知器 ９ 入力装置 １０ 試料 １１ 分光器側透過板 １２、１３ 集光ミラー １４ 不活性ガス １５ ガス制御部 １６ 試料注入孔 １７ 発光光 １８ 光遮断板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 照井 康 茨城県ひたちなか市市毛882番地 株式会 社日立製作所計測器事業部内 Ｆターム(参考） 2G059 AA01 BB08 CC02 EE01 HH01 HH02 HH03 HH06 JJ01 JJ21 JJ30 LL04 NN01
Claims (5)
- 【請求項１】測定試料を加熱し、原子化を行う黒鉛管を
有する加熱手段と、原子化した試料に対して測定光を照
射する発光手段と、この発光手段と上記黒鉛管との間で
あって、上記測定光の光軸上に配置される光源側光透過
板と、上記加熱手段を通過した測定光を任意の波長毎に
分光する分光手段と、この分光手段により分光された波
長について光度検出を行う検出手段と、上記各手段の制
御を行う制御手段とを有する原子吸光光度計において、 加熱時の上記黒鉛管からの発光が上記光源側光透過板に
より反射された反射光の少なくとも一部を上記測定光の
光軸から変位させる変位手段を備えることを特徴とする
原子吸光光度計。 - 【請求項２】測定試料を加熱し、原子化を行う黒鉛管を
有する加熱手段と、原子化した試料に対して測定光を照
射する発光手段と、この発光手段と上記黒鉛管との間で
あって、上記測定光の光軸上に配置される光源側光透過
板と、上記加熱手段を通過した測定光を任意の波長毎に
分光する分光手段と、この分光手段により分光された波
長について光度検出を行う検出手段と、上記各手段の制
御を行う制御手段とを有する原子吸光光度計において、 上記光透過板の上記黒鉛管側の表面は、上記測定光の光
軸に対して垂直より傾斜させて配置され、加熱時の上記
黒鉛管からの発光が上記光透過板により反射された反射
光の少なくとも一部を上記測定光の光軸から変位させる
ことを特徴とする原子吸光光度計。 - 【請求項３】請求項２記載の原子吸光光度計において、
上記光透過板の上記発光手段側の表面は、上記測定光の
光軸に対して、ほぼ垂直に配置されることを特徴とする
原子吸光光度計。 - 【請求項４】請求項２又は３記載の原子吸光光度計にお
いて、上記光透過板の傾斜させる角度は、上記測定光の
光軸に対して３°以上６０°以下の範囲であることを特
徴とする原子吸光光度計。 - 【請求項５】請求項１記載の原子吸光光度計において、
上記変位手段は、上記光透過板と上記黒鉛管との間に配
置され、上記測定光の光軸上に貫通孔を有する光遮断板
であることを特徴とする原子吸光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23981098A JP3563607B2 (ja) | 1998-08-26 | 1998-08-26 | 原子吸光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23981098A JP3563607B2 (ja) | 1998-08-26 | 1998-08-26 | 原子吸光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000065738A true JP2000065738A (ja) | 2000-03-03 |
| JP3563607B2 JP3563607B2 (ja) | 2004-09-08 |
Family
ID=17050200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23981098A Expired - Lifetime JP3563607B2 (ja) | 1998-08-26 | 1998-08-26 | 原子吸光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3563607B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107894397A (zh) * | 2017-12-18 | 2018-04-10 | 上海仪电分析仪器有限公司 | 自适应式石墨炉自锁装置 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5136181A (ja) * | 1974-09-24 | 1976-03-26 | Hitachi Ltd | Hikarisanrankenshutsubuomotsushiryogenshikasochi |
| JPS61284642A (ja) * | 1985-06-12 | 1986-12-15 | Mitsubishi Metal Corp | 分光測定用試料冷却装置 |
| JPS63107845U (ja) * | 1987-01-05 | 1988-07-12 | ||
| JPS63169540A (ja) * | 1987-01-07 | 1988-07-13 | Hitachi Ltd | 原子吸光光度計の光温度制御装置 |
| JPS6465436A (en) * | 1987-09-07 | 1989-03-10 | Nippon Atomic Ind Group Co | Spectral cell laser beam device |
| JPH01145549A (ja) * | 1987-12-02 | 1989-06-07 | Hitachi Ltd | 原子吸光光度計 |
-
1998
- 1998-08-26 JP JP23981098A patent/JP3563607B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPH01145549A (ja) * | 1987-12-02 | 1989-06-07 | Hitachi Ltd | 原子吸光光度計 |
Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| CN107894397A (zh) * | 2017-12-18 | 2018-04-10 | 上海仪电分析仪器有限公司 | 自适应式石墨炉自锁装置 |
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|---|---|
| JP3563607B2 (ja) | 2004-09-08 |
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