JP3524392B2 - 画像形成装置の製造方法 - Google Patents
画像形成装置の製造方法Info
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Description
いた画像形成装置の製造方法に関する。
熱電子放出素子と冷陰極電子放出素子を用いた2種類の
ものが知られている。冷陰極電子放出素子には電界放出
型(以下、「FE型」という。)、金属/絶縁層/金属
型(以下、「MIM型」という。)や表面伝導型電子放
出素子等がある。FE型の例としてはW.P.Dyke
& W.W.Dolan,“Field emissi
on”,Advance in Electron P
hysics,8,89(1956)あるいはC.A.
Spindt,“PHYSICAL Properti
es of thin−film field emi
ssion cathodes with molyb
denium cones”,J.Appl.Phy
s.,47,5248(1976)等に開示されたもの
が知られている。MIM型の例としてはC.A.Mea
d,“Operation of Tunnel−Em
ission Devices”,J.Appl.Ph
ys.,32,646(1961)等に開示されたもの
が知られている。表面伝導型電子放出素子の例として
は、M.I.Elinson,Radio Eng.E
lectron Phys.,10,1290(196
5)等に開示されたものがある。表面伝導型電子放出素
子は、基板上に形成された小面積の薄膜に、薄膜に平行
に電流を流すことにより、電子放出が生ずる現象を利用
するものである。この表面伝導型電子放出素子として
は、前記エリンソン等によるSnO2 薄膜を用いたもの
[M.I.Elinson,Radio Eng.El
ectron Phys.,10,1200(196
5)]、Au薄膜によるもの[G.Dittmer;
“ThinSolid Films”,9,317(1
972)],In2O3/SnO2薄膜によるもの[M.
Hartwell and C.G.Fonstad;
“IEEE Trans. ED conf.”,51
9,(1975)]、カーボン薄膜によるもの[荒木
久:真空、第26巻、第1号、22頁(1983)]等
が報告されている。
単純で製造も容易であることから、大面積にわたり多数
素子を配列形成できる利点がある。そこでこの特徴を生
かせるようないろいろな応用が研究されている。例え
ば、荷電ビーム源、表示装置等があげられる。多数の表
面伝導型放出素子を配列形成した例としては、後述する
様に、並列に表面伝導型電子放出素子を配列し、個々の
素子の両端を配線(共通配線とも呼ぶ)で、それぞれ結
線した行を多数行配列した電子源があげられる。(例え
ば、特開昭64−031332、特開平1−28374
9、2−257552等)また、特に表示装置等の画像
形成装置においては、近年、液晶を用いた平板型表示装
置が、CRTに替わって、普及してきたが、自発光型で
ないため、バックライトを持たなければならない等の問
題点があり、自発光型の表示装置の開発が、望まれてき
た。自発光型表示装置としては、表面伝導型放出素子を
多数配置した電子源と電子源より放出された電子によっ
て、可視光を発光せしめる蛍光体とを組み合わせた表示
装置である画像形成装置があげられる。(例えば、US
P5066883)上記の平板型画像形成装置は、複数
の電子放出素子に配列した電子源基板と蛍光体等が配さ
れた画像形成部材が、真空部を介して、対向して配置し
て構成される。上記画像形成装置は、走査信号及び/又
は変調信号を電子源基板に形成された電子放出素子に印
加することにより、各電子放出素子もしくは一部の電子
放出素子から電子を放出させ、画像形成部材に印加した
数百から数kV以上のアノード電圧Vaにより該電子を
加速し、蛍光体に衝突させて発光させることで画像を表
示する。
においては、動作初期に、著しい輝度低下や表示画像に
点欠陥やライン欠陥を生じる事があった。これらの輝度
低下や欠陥生成の原因の一つは、画像形成装置の動作に
伴い、画像形成部材に配される蛍光体、メタルバック、
及び電子源基板に配される配線、電極、電子放出素子な
どのパネル構成部材に電子線が照射されることで、付着
ガス分子(または原子)の脱離が生じ、また、これに伴
い発生するイオンの衝撃によるガス脱離も重なって、真
空パネル内の真空悪化(圧力上昇)が発生し、この真空
悪化に起因した真空放電や電子放出素子の特性劣化が生
じることにある。
排気能力をあげること」や、「各パネル構成部材からの
脱ガス量を低減すること」が考えられる。
プ(気体ため込み式真空ポンプ)を配置することが挙げ
られる。従来のCRT等の表示装置内部を真空にする表
示装置においては、ゲッターポンプを配置するための空
間的な制約が少なく、広い領域においてゲッターポンプ
を形成することが可能であり、またCRTの場合は真空
容器内の体積に対する表面積の割合も少ないため、十分
な真空維持を行うことができた。ところが、上記平板型
表示装置の場合、ゲッターポンプを配置するための空間
的制約が多く、一般的には画像表示領域から離れたパネ
ル端部のごく限られた領域に形成される場合が多い。こ
のように、平板型の真空容器では、容器内の高さに対す
る画像表示領域までの距離が極めて大きいため、ゲッタ
ーポンプの排気コンダクタンスを十分に取り難く、特に
表示装置内の局所的な脱ガスに対して十分な排気が行い
難いという課題があった。
プロセスを行うことにより、パネル構成部材からの脱ガ
ス量の低減がはかられてきた。ところが、通常の百数十
℃のベークでは不十分であり、上記課題に対して十分な
解決策とはいい難い。また、さらに高温のベークについ
ては、表示装置に用いる部材として、高温の真空ベーク
に耐えられない部材、つまり化学反応、合金化、薄膜の
凝集等が生じる部材およびその組み合わせを用いること
ができなくなるため、表示装置の構成上の制約が大きく
なり、望ましくない。
形成時の電子放出素子の劣化、とりわけ、画像形成時に
おける画像形成部材からのガスの脱離に伴なう電子放出
素子の劣化を極力低減し、信頼性の高い画像形成装置の
製造方法を提供することにある。
の製造過程における電子放出素子の劣化の影響が画像形
成時において極力低減され得る画像形成装置の製造方法
を提供することにある。
と、該容器内に配置された、一対の電極間に複数の電子
放出サイトを有し、該一対の電極間に電圧を印加するこ
とにより該複数の電子放出サイトのうちの一部から電子
を放出する電子放出素子、及び、該電子放出素子より放
出される電子の照射により画像を形成する画像形成部材
とを備える画像形成装置の製造方法において、該画像形
成部材に該電子放出素子から放出される電子を照射する
工程を有し、該工程における電子を放出するサイトは、
該画像形成装置の画像形成のための駆動時に該電子放出
素子の該一対の電極間に印加される電圧とは逆極性の電
圧を該電子放出素子に印加することで電子放出する、該
画像形成装置の画像形成のための駆動時とは異なる電子
放出サイトであることを特徴とする画像形成装置の製造
方法を提案するものである。
放出素子から放出される電子を照射する工程は、該容器
内を排気しながら行われること、前記画像形成部材に該
電子放出素子から放出される電子を照射する工程の後、
該容器の封止が行われること、前記画像形成部材に該電
子放出素子から放出される電子を照射する工程の後、該
容器内でゲッタフラッシュがなされること、前記画像形
成部材に該電子放出素子から放出される電子を照射する
工程は、該容器内を排気しながら行われ、該工程の後、
該容器の封止と該容器内でのゲッタフラッシュがなされ
ること、前記画像形成部材に該電子放出素子から放出さ
れる電子を照射する工程は、該容器の封止が行われた後
になされること、前記画像形成部材に該電子放出素子か
ら放出される電子を照射する工程は、該容器内でゲッタ
フラッシュがなされた後に行われること、前記画像形成
部材に該電子放出素子から放出される電子を照射する工
程は、該容器の封止と該容器内でのゲッタフラッシュと
がなされた後に行われること、前記画像形成装置は、該
電子放出素子を複数有し、前記画像形成部材に該複数の
電子放出素子から放出される電子を照射する工程は、前
記一対の電極を結ぶ方向での該複数の電子放出素子の配
列ピッチをP、該一対の電極の内の一方の電極に対する
他方の電極の電位を−Vf、画像形成部材に印加される
電圧をVa、該画像形成装置の画像形成のための駆動時
における該一対の電極の内の該一方の電極に対する該他
方の電極の電位をVfp、該画像形成装置の画像形成の
ための駆動時における画像形成部材に印加される電圧を
Vap、該電子放出素子と該画像形成部材との距離をH
とすると、n・p=2H√(Vf/Va)+2H√(V
fp/Vap)[但し、nは正の整数]を満たすように
該Va、該Vpが設定されて行われること、前記画像形
成装置は、該電子放出素子を複数有し、前記画像形成部
材に該複数の電子放出素子から放出される電子を照射す
る工程は、前記一対の電極を結ぶ方向での該複数の電子
放出素子の配列ピッチをP、該一対の電極の内の一方の
電極に対する他方の電極の電位を−Vf、画像形成部材
に印加される電圧をVa、該画像形成装置の画像形成の
ための駆動時における該一対の電極の内の該一方の電極
に対する該他方の電極の電位をVfp、該画像形成装置
の画像形成のための駆動時における画像形成部材に印加
される電圧をVap、該電子放出素子と該画像形成部材
との距離をHとすると、n・p/(2H)−1.165
√(Vfp/Vap)≦√(Vf/Va)≦n・p/
(2H)−0.475√(Vfp/Vap)[但し、n
は正の整数]を満たすように該Va、該Vpが設定され
て行われること、前記電子放出素子は、表面伝導型電子
放出素子であること、前記電子放出素子は、電界放出型
電子放出素子であることを含む。
する。
の画像形成のための駆動に先立って、該画像形成装置の
パネル容器内の部材に対して、加速された電子ビームを
照射することにより該パネル容器内の部材に付着し残留
しているガスを積極的に該部材から脱離させ、排気する
工程である。
として、該画像形成装置のパネル容器内に配置されてい
る画像形成部材に付着、残留しているガスの脱離と排気
を主眼とするものであって、加速された電子ビームを主
として画像形成部材に照射することで該画像形成部材か
らガスを脱離し、この脱離したガスの排気は、該パネル
容器に接続された排気管を通じてパネル容器外に排出す
ることでなされるか、該パネル容器内に配置されたゲッ
タポンプに吸着させることでなされるか、あるいは、双
方を併用することでなされる。
での該画像形成部材への電子ビームの照射は、その後の
画像形成装置における画像形成に用いられる電子放出素
子を先に利用して行われる。
られた電子放出素子は、そのエージング工程前に比べ
て、その電子放出特性が劣化していることを知見し、本
発明に至った。即ち、電子放出素子の駆動に関し、上記
エージング工程時と上記画像形成時とで、電子放出素子
に印加される電圧極性を反転させることにより、上記エ
ージング工程後の画像形成時においても、上記エージン
グ工程前の電子放出素子とほぼ同様の電子放出特性が得
られた。
述する。
は、少なくとも一対の電極を有し、該一対の電極間に電
圧を印加することで電子を放出する素子であって、しか
も、該一対の電極間に印加する電圧の極性が反転して
も、換言するならば、該一対の電極間での電界の向きが
反転しても電子を放出する素子である。
ましい例としてまず、表面伝導型電子放出素子が挙げら
れる。
は、本発明に適用される表面伝導型電子放出素子の構成
を示す模式図であり、図1(b)は図1(a)のA−
A’断面図である。図1(a),(b)において1は基
板、2は第1の素子電極、3は第2の素子電極、4は導
電性膜、5は導電性膜4の間隙である。表面伝導型電子
放出素子は、一対の素子電極2,3間に電圧を印加する
ことにより、間隙5付近から電子が放出される。
材料、製法については本出願人による出願の特開平7−
235255号公報、特開平8−264112号公報等
に開示されている。
示される様な素子電流特性及び放出電流特性を持つ。図
4は、表面伝導型電子放出素子の上方に不図示のアノー
ド電極を設けて、かかるアノード電極に放出電子を引き
出すための正の電圧が印加されている状態において、第
2の素子電極3を基準(0V)として第1の素子電極2
に印加した素子電圧Vfと両素子電極間を流れる素子電
流If及びアノード電極に捕捉された表面伝導型電子放
出素子からの放出電流Ieの関係を示す図である。図4
においては、放出電流Ieが素子電流Ifに比べて著し
く小さいので、任意単位で示している。なお、縦・横軸
ともリニアスケールである。
子放出素子はあるしきい値電圧Vth以上の素子電圧V
fを印加すると急激に放出電流Ieが増加し、一方しき
い値電圧Vth以下の素子電圧では放出電流Ieがほと
んど検出されない。つまり、放出電流Ieに対する明確
なしきい値電圧Vthを持った非線型素子である。
出素子は、正極性のしきい値電圧Vth(p)と負極性
のしきい値電圧Vth(n)とを有し、素子電極2、3
間に印加される電圧の極性が反転しても、換言するなら
ば、素子電極2、3間での電界の向きが反転しても電子
を放出する。
好ましい別の例としては、図3に示されるような横型の
電界放出型電子放出素子が挙げられる。
62は第1の電極、163は第2の電極であり、第1の
電極162と第2の電極163の、互いに対向するそれ
ぞれの側面には突起状の電子放出部164,165が形
成されている。図3に示されるような横型の電界放出型
電子放出素子においても、前述同様に、放出電流Ieと
素子電圧Vfとの間には、正極性のしきい値電圧Vth
(p)と負極性のしきい値電圧Vth(n)が存在し、
電極162,163間に印加される電圧の極性が反転し
ても、言い換えるならば、電極162,163間での電
界の向きが反転しても電子放出する。
ては、上記表面伝導型電子放出素子や上記横型の電界放
出型素子に限定されるものではなく、前述した通り、一
対の電極を有し、該一対の電極間に電圧を印加すること
で電子を放出する電子放出素子であって、しかも、該一
対の電極間での電界の向きが反転しても電子が放出され
る素子であれば適用できる。
る電子源について以下に述べる。本発明を適用される電
子源は、例えば上述の表面伝導型電子放出素子あるいは
上述の横型の電界放出型電子放出素子を複数個を基板上
に配列したものである。
のが採用できる。
子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行を多数個配
し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向(列方向
と呼ぶ)で、該電子放出素子の上方に配した制御電極
(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出素子からの電子
を制御駆動するはしご状配置のものがある。これとは別
に、電子放出素子をX方向及びY方向に行列状に複数個
配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の電極の一
方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に配された
複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の配線に共
通に接続するものが挙げられる。このようなものは所謂
単純マトリクス配置である。
図5を用いて説明する。図5において、71は電子源基
板、72はm本のX方向配線Dx1〜Dxm、73はn
本のY方向配線Dy1〜Dynである。74は例えば前
述したような電子放出素子である。これらm本のX方向
配線72とn本のY方向配線73との間には、不図示の
層間絶縁層が設けられており、両者を電気的に分離して
いる(m,nは、共に正の整数)。
極(不図示)は、m本のX方向配線72とn本のY方向
配線73とに電気的に接続されている。
子放出素子74の行を選択するための走査信号を印加す
る不図示の走査信号印加手段が接続される。一方、Y方
向配線73には、Y方向に配列した電子放出素子74の
各列を入力信号に応じて、変調するための不図示の変調
信号発生手段が接続される。各電子放出素子に印加され
る駆動電圧は、当該素子に印加される走査信号と変調信
号の差電圧として供給される。
線を用いて、個別の素子を選択し、独立に駆動可能とす
ることができる。
用いて構成した画像形成装置について、図6と図7及び
図8を用いて説明する。図6は、画像形成装置の表示パ
ネルの一例を示す模式図であり、図7は、図6の画像形
成装置に使用される蛍光膜の模式図である。図8は、N
TSC方式のテレビ信号に応じて表示を行うための駆動
回路の一例を示すブロック図である。
配した電子源基板、81は電子源基板71を固定したリ
アプレート、86はガラス基板83の内面に蛍光膜84
とメタルバック85等が形成されたフェースプレートで
ある。82は支持枠であり、該支持枠82とリアプレー
ト81及びフェースプレート86とで表示パネルの外囲
器88が構成されている。
は電子放出素子の前述した一対の電極と接続されたX方
向配線及びY方向配線である。
ト81間には、スペーサーとよばれる不図示の支持体を
設置することにより、大気圧に対して十分な強度をもつ
外囲器88を構成することもできる。
膜84は、モノクロームの場合は蛍光体のみから構成す
ることができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配
列によりブラックストライプあるいはブラックマトリク
スなどと呼ばれる黒色導電材91と蛍光体92とから構
成することができる。ブラックストライプ、ブラックマ
トリクスを設ける目的は、カラー表示の場合、必要とな
る三原色蛍光体の各蛍光体92間の塗り分け部を黒くす
ることで混色等を目立たなくすることと、蛍光膜84に
おける外光反射によるコントラストの低下を抑制するこ
とにある。ブラックストライプの材料としては、通常良
く用いられている黒鉛を主成分とする材料の他、導電性
があり、光の透過及び反射が少ない材料を用いることが
できる。蛍光膜84の内面側には、通常メタルバック8
5が設けられる。メタルバックを設ける目的は、蛍光体
の発光のうち内面側への光をフェースプレート86側へ
鏡面反射させることにより輝度を向上させること、電子
ビーム加速電圧を印加するための電極として作用させる
こと、外囲器内で発生した負イオンの衝突によるダメー
ジから蛍光体を保護すること等である。
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
成装置における本発明の製造方法について以下に説明す
る。
子を用いた画像形成装置の製造方法を例として図6を用
いて以下に説明する。
方向配線73、及び、前述の表面伝導型電子放出素子の
一対の素子電極を、真空蒸着法とフォトリソグラフィに
より形成する。m本のX方向配線72とn本のY方向配
線73との間には、層間絶縁膜を形成して、両配線を電
気的に分離する。また、前述の表面伝導型電子放出素子
の一対の素子電極は、X方向配線72とY方向配線73
との複数の交差部近傍に各々形成され、一対の素子電極
はX方向配線72とY方向配線73とにそれぞれ電気的
に接続させる。次に、各一対の素子電極間に導電性膜を
形成する。この導電性膜は、例えば、有機金属化合物の
溶液を、スピンナーやインクジェット法等により塗布
し、加熱焼成することで形成される。
成 ガラス基板83に蛍光体を塗布する方法はスラリー法等
を用いることができる。また、蛍光膜84の内面側には
通常メタルバック85が設けられるが、メタルバック
は、蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理
(通常フィルミングと呼ばれる)を行い、その後、Al
を真空蒸着することで作製できる。
成する。前述した電子源基板71が配置されたリアプレ
ート81及び蛍光体84とメタルバック85からなる画
像形成部材が配置されたフェースプレート86を支持枠
82を介し配置し、フェースプレート86、支持枠8
2、リアプレート81の接合部にフリットガラスを塗布
し、大気中あるいは窒素雰囲気中で焼成することで封着
する。封着を行う際、カラーの場合は各色蛍光体と電子
放出素子とを対応させなくてはいけないため、十分な位
置合わせを行う。
概要を示す模式図である。画像形成装置1131は、排
気管1132を介して真空チャンバー1133に連結さ
れ、さらにゲートバルブ1134を介して排気装置11
35に接続されている。真空チャンバー1133には、
内部の圧力及び雰囲気中の各成分の分圧を測定するため
に、圧力計1136、四重極質量分析器1137等が取
り付けられている。画像形成装置1131の外囲器88
内部の圧力などを直接測定することは困難である為、該
真空チャンバー1133内の圧力などを測定し、処理条
件を制御する。
なガスを真空チャンバー内に導入して雰囲気を制御する
ため、ガス導入ライン1138が接続されている。該ガ
ス導入ライン1138の他端には導入物質源1140が
接続されており、導入物質がアンプルやボンベなどに入
れて貯蔵されている。ガス導入ラインの途中には、導入
物質を導入するレートを制御するための導入制御手段1
139が設けられている。該導入量制御手段としては具
体的には、スローリークバルブなど逃す流量を制御可能
なバルブや、マスフローコントローラーなどが、導入物
質の種類に応じて、それぞれ使用が可能である。
の図9の製造装置に接続された排気管1132を通じ真
空ポンプにて排気する。
の導電性膜に電子放出部を形成するフォーミング工程を
施す。この際、例えば図10に示すように、Y方向配線
73を共通電極141に接続し、X方向配線72の内の
一つの配線に接続された複数の素子電極間に電源142
によって、同時に電圧パルスを印加して、各素子電極間
の導電性膜に対してフォーミングを行うことができる。
パルスの形状や、処理の終了の判定などの条件は、適宜
選択される。また、複数のX方向配線に、位相をずらせ
たパルスを順次印加(スクロール)することにより、複
数のX方向配線に接続された素子をまとめてフォーミン
グすることも可能である。図中143は電流測定用抵抗
を、144は、電流測定用のオシロスコープを示す。
に示す。
れにはパルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に印
加する図11(a)に示した手法とパルス波高値を増加
させながら、電圧パルスを印加する図11(b)に示し
た手法がある。
波形のパルス幅とパルス間隔である。通常T1は1マイ
クロ秒〜10ミリ秒、T2は10マイクロ秒〜100ミ
リ秒の範囲で設定される。三角波の波高値(通電フォー
ミング時のピーク電圧)は、表面伝導型電子放出素子の
形態に応じて適宜選択される。このような条件のもと、
例えば数秒から数十分間電圧を印加する。パルス波形は
三角波に限定されるものではなく、矩形波など所望の波
形を採用することができる。
高値(通電フォーミング時のピーク電圧)は、例えば
0.1Vステップ程度づつ、増加させることができる。
通電フォーミング処理の終了は、パルス間隔T2中に、
電圧を印加し、電流を測定して検知することができる。
例えば0.1V程度の電圧印加により流れる素子電流を
測定し、抵抗値を求めて、1MΩ以上の抵抗を示した
時、通電フォーミングを終了させる。
子電極間の導電性膜には間隙(亀裂)が形成され、素子
電極間に電圧を印加することにより、かかる間隙近傍よ
り電子が放出されるようになる。
隙及びその近傍に炭素又は炭素化合物の膜(図2の6)
を堆積する。活性化工程は、例えば、外囲器88内を十
分に排気した後、有機物質のガスをガス導入ライン11
38を通じて排気管から外囲器内に導入し、パルスの印
加を繰り返すことで行うことができる。この有機物質の
ガスは、例えば油拡散ポンプやロータリーポンプなどを
用いて排気した場合に雰囲気内に残留する有機ガスを利
用して形成することができる他、イオンポンプなどによ
り一旦十分に排気した真空中に適当な有機物質のガスを
導入することによっても得られる。このときの好ましい
有機物質のガス圧は、真空容器の形状や、有機物質の種
類などにより異なるために場合に応じ適宜設定される。
適当な有機物質としては、アルカン、アルケン、アルキ
ンの脂肪族炭化水素類、芳香族炭化水素類、アルコール
類、アルデヒド類、ケトン類、アミン類、フェノール、
カルボン、スルホン酸等の有機酸類等を挙げることが出
来、具体的には、メタン、エタン、プロパンなどCnH
2n+2で表される飽和炭化水素、エチレン、プロピレンな
どCnH2n等の組成式で表される不飽和炭化水素、ベン
ゼン、ベンゾニトリル、トリニトリル、トルエン、メタ
ノール、エタノール、ホルムアルデヒド、アセトアルデ
ヒド、アセトン、メチルエチルケトン、メチルアミン、
エチルアミン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロピオン酸
等が使用できる。この処理により、雰囲気中に存在する
有機物質から、炭素あるいは炭素化合物が素子上に堆積
し、素子電流If、放出電流Ieが、著しく変化するよ
うになる。活性化処理に用いられる電圧パルス波型は任
意のものが可能であり、方形波、三角波、サイン波、台
形波等が挙げられる。また、図12(a)のように、常
にある片方の極性のパルスを印加する手法や、図12
(b)のように交互に逆の極性のパルスを印加する手法
などがあるが、本発明にて使用する表面伝導型電子放出
素子に関しては正負両極の極性を有する図12(b)の
タイプの電圧パルスを用いるのがより好ましい。
t)は固定電圧で行う手法や、時間とともに徐々に電圧
を増加させて行う手法などがある。上記活性化処理をし
た表面伝導型電子放出素子は素子電圧を印加し、素子表
面に電流を流すことにより、電子放出部より十分な量の
電子を放出する。このときの電圧の印加方法は、上記フ
ォーミングの場合と同様の結線により、一つの方向配線
につながった複数の素子電極間に、同時の電圧パルスを
印加すればよい。
な、導電性膜4の間隙の内側に炭素又は炭素化合物から
なる膜6にてより狭いギャップ5’が形成され、電子放
出効率の向上がはかられる。尚図2において、図1と同
符号の部材は同じ部材であることを意味している。
この工程は、真空容器内の有機物質を排気する工程であ
る。外囲器内の真空部の圧力は、1×10-5Pa以下が
好ましく、さらに1×10-6Pa以下が特に好ましい。
外囲器を排気する真空排気装置は、装置から発生するオ
イルが素子の特性に影響を与えないように、オイルを使
用しないものを用いるのが好ましい。具体的には、ソー
プションポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置を挙げ
ることが出来る。さらに真空容器内を排気するときに
は、真空容器全体を加熱して、真空容器内壁や、電子放
出素子に吸着した有機物質分子を排気しやすくするのが
好ましい。このときの加熱条件は、100〜300℃で
より長い時間行うことが望ましいが、特にこの条件に限
るものではなく、真空容器の大きさや形状、電子放出素
子の構成などの諸条件により適宜選ばれる条件により行
う。このような、安定化工程を行った後の、真空部の有
機物質が十分除去され、新たな炭素あるいは炭素化合物
の堆積を抑制でき、結果として素子電流If、放出電流
Ieが、安定する。
で溶着し外囲器の封止を行う。外囲器88の封止後のパ
ネル内の圧力を維持するために、ゲッター処理を行うこ
ともできる。これは、外囲器88の封止を行う直前ある
いは封止後に、抵抗加熱あるいは高周波加熱等を用いた
加熱により、外囲器88内の所定の位置(不図示)に配
置されたゲッターを加熱し、蒸着膜を形成する処理であ
る。ゲッターは通常Ba等が主成分であり、該蒸着膜の
吸着作用により、たとえば1×10-4ないしは1×10
-7Paの圧力を維持するものである。
パネル容器にエージング工程を施す。また、ここでは、
封止後にエージングを施すが、封止前すなわち安定化後
に行ってもよい。本発明にかかるエージング工程は、と
りわけ、ゲッターフラッシュ後に行われるのが好ましい
態様である。
ング装置について図13を用いて説明する。図13は、
本発明におけるエージング工程を、上述の製造工程下に
ある画像形成装置のパネル容器101に対して実施する
エージング装置の概略図である。製造工程下のパネル容
器101内には複数の電子放出素子を有する電子源が配
置された基板と、この電子源が配置された基板に対向し
て設けられた画像形成部材とが配置されている。また、
パネル容器外の端子を通じて電子源には電子源駆動装置
が、画像形成部材には電子線加速のため高圧電源(アノ
ード電源)Vaが、それぞれ接続されている。電子源駆
動装置123は、電子源基板上に配列された電子放出素
子に所望の素子電圧を印加する装置であり、電子源駆動
制御装置121によって制御され、駆動電圧Vf、駆動
パルス幅、駆動走査周波数や駆動素子数等を任意に設定
可能である。ここで、駆動走査周波数とは、駆動ライン
を順次切り替えて駆動する際の一周期周波数である。電
子源駆動制御装置121と電子源駆動装置123間は、
駆動信号バス126によって接続されており、駆動信号
及び制御信号を伝達する。高圧電源(アノード電源)V
aは、画像形成部材にアノード電圧を印加する装置であ
る。他にも、電子源駆動に伴い電子源基板を流れる電流
(主に素子電流)を測定する駆動電流測定器124、電
子源基板と画像形成部材の間を流れる電流(主に放出電
流)が測定されるアノード電流測定器125、等を配す
ることもできる。駆動電流測定器124及びアノード電
流測定器125は、それぞれ素子電流バス127及び放
出電流バス128を通じて計測した電流値のデータをデ
ータ収集/解析装置122に対して伝達することができ
る。電子源駆動制御装置121とデータ収集/解析装置
122は、同期信号によって互いの動作を同期すること
もでき、この際、それぞれ両方の機能を有する一体型の
装置を作成して使用してもかまわない。
ング工程を、前述した表面伝導型電子放出素子を単純マ
トリクス配置した電子源を用いたパネル容器101を例
に挙げ説明する。
マトリクスの配線であるX方向配線及びY方向配線と電
気的に接続するための外部端子が設けられている。電子
源駆動装置123をこの外部端子を通して、例えばX方
向配線に接続し、一方の駆動電流測定器124を同様に
Y方向配線に接続する。また、パネル容器に設けられた
画像形成部材に電気的に接続するアノード端子を通し
て、アノード電流測定器125及びアノード電源Vaを
接続する。
前述した電子放出を行うしきい値電圧Vth以上の電圧
を、X方向配線とY方向配線との間に印加することで電
子放出素子からの電子を放出し、アノード端子にX方向
配線及びY方向配線に対して正の電圧を印加すること
で、電子放出素子から放出された電子をフェースプレー
トに衝突させることができる。最終的な画像形成時にお
いて、Y方向配線の電位に対してX方向配線に印加する
電位の極性の関係は、良好な画像が得られれば正負いず
れの状態をとってもかまわないが、本実施態様例におい
ては最終的な画像形成時(通常駆動時)の電子放出を行
う素子に印加される電圧の電位関係が、X方向配線に接
続された電子放出素子の第1の素子電極に対して、Y方
向配線に接続された第2の素子電極の電位が正の極性に
なるように選ぶことにする。
ジング工程時に、電子放出を行う素子に対して印加する
電圧の極性を前記通常駆動時の極性とは異なる逆の極性
の電圧で駆動する。先の例に続けて説明するならば、電
子放出を行う素子に印加される電圧の電位関係が、X方
向配線に接続された電子放出素子の第1の素子電極に対
して、Y方向配線に接続された第2の素子電極の電位が
負の極性になるように、電子源駆動装置123から出力
される電圧信号を設定する。
ル内部における電子ビーム軌道について、図14および
図15を用いて説明する。図14は、前述した表面伝導
型電子放出素子で観測された輝点形状と、電子放出部の
鉛直アノード電極側交点位置から、素子電極間を結ぶ方
向の距離と輝点の発光強度の関係を示す図である。図1
5は、前述した表面伝導型電子放出素子を単純マトリク
ス配置した電子源を用いたパネル容器101を、X方向
配線の方向に沿って電子放出部を切断した場合の概略断
面図であり、図15(a)には通常駆動時、図15
(b)にはエージング時の電子ビーム軌道の想像図が描
かれている。これら電子ビーム軌道は、実験結果及び簡
略化した構成を用いた有限要素法による数値計算に基づ
き描かれたものである。図15は特定のパネル構成及び
電位関係においてのみ当てはまる図であるが、本発明の
エージング工程における電子ビーム軌道はこれに限定さ
れるものではなく、例えば前述したように電子源の上方
の空間に制御電極を設けたいわゆるグリッド構成等の異
なる構成においても、同様にビーム軌道の規定は可能で
ある。以降、説明を簡単にするため図15を使用し、第
2の電極電位を基準電位(この場合0V)として説明を
進める。
板、62はX方向配線及びY方向配線間の電気的絶縁を
とるための絶縁層、64はY方向配線、65は電子放出
素子の第1の素子電極、66は電子放出素子の第2の素
子電極、67は電子放出部である。第2の素子電極66
はY方向配線64と直接接続されており、第1の素子電
極65はコンタクトホールを通じてX方向配線と接続し
ている。68は画像形成部材、69はガラス基板であ
り、画像形成部材68と電子放出部67は真空領域を挟
んでHの距離だけ離れている。
の電子ビーム軌道を表しており、第1の素子電極65の
電位が負で且つ電子放出を行うしきい値電圧以上の電圧
になるように設定される(例えば、図12(c)のよう
な電圧パルスが印加される)。更に画像形成部材68
(以降アノード電極)には第1の素子電極65よりも更
に高電位の直流電圧が印加されている。図15(b)は
本発明のエージング工程中の電子ビーム軌道を表してお
り、図15(a)と異なる点は第1の素子電極65に印
加される電圧の極性が正であることである(例えば、図
12(a)のような電圧パルスが印加される)。図15
(a)および図15(b)からも明らかなように、画像
形成部材68に衝突する電子ビームのビームスポット位
置は、電子放出部67の鉛直アノード電極側交点位置よ
りも第1の素子電極もしくは第2の素子電極のうちいず
れか高電位側の電極方向にずれている。
〜十数kVの高電圧を印加し画像表示を行うと、電子放
出部67から放出された電子がアノード電極によって加
速され、前述のビームスポット位置に衝突し画像形成部
材68からのガス脱離を促進する。また、これに伴い正
イオン(主にガス分子が電離されたもの)が発生し、こ
の正イオンが高電圧により加速されて電子源を構成する
部材等に衝突し、このイオンの衝突によるガス脱離も発
生する場合がある。この際、画像形成部材68及び電子
源構成部材から放出されるガス中に、電子放出素子の特
性を劣化させるガスが含まれており、駆動に伴い電子放
出素子からの放出電流量が減少していく。特に、パネル
容器101の作成中もしくは作成後、初めて画像形成部
材68に電子ビームを衝突させたときの電子放出素子の
特性劣化は著しく、駆動初期において多量のガス脱離が
発生しているものと思われる。
通常駆動による画像形成時に先立って、予め、画像形成
部材68から上記劣化ガスを脱離させ、これをパネル容
器内に配置されたゲッタ、または、パネル容器外の排気
装置により除外するものであるが、その主たる特徴は、
エージング工程時と上記画像形成時とで、電子放出素子
に印加される電圧極性を反転させることである。これに
より、上記エージング工程において電子放出素子の上記
脱離ガスによる特性劣化が生じたとしても、画像形成時
においては、上記エージング工程前の電子放出素子とほ
ぼ同様の電子放出特性が得られる。このことに関して、
上記脱離ガスの影響をより受け易いのは、電子放出して
いる電子放出サイトであること。更には、電子放出素子
の一対の電極間での電界の向きが、上記極性の反転によ
り変わると、電子放出素子内での電子放出サイトも変化
すること。よって、仮に、エージング工程時に電子放出
している電子放出サイトが劣化しても、上記極性を反転
するならば、エージング工程時とは別の上記脱離ガスの
影響をほとんど受けていない電子放出サイトから電子放
出されるので、上記エージング工程前の電子放出素子と
ほぼ同様の電子放出特性が得られる。
放出素子に印加する電圧、制御電極及びアノード電極に
印加する電圧、更に電子源基板を構成する材料・寸法等
に依存して異なるが、上記単純マトリクス構成における
ビームスポット位置は式1のように記述できる。
部の鉛直アノード電極側交点位置からビームスポット位
置までの距離を表し、Hは電子放出素子とアノード電極
間の距離、Vfは素子電極間に印加する電圧、Vaはア
ノード電極に印加する電圧、Aは電子源基板の材料・構
成等に応じて決定される比例定数であり、例えば後述の
単純マトリクス構成で画像形成装置を作成し、Vf及び
Vaとビームスポットの位置関係を測定した場合、A=
2.0である。
れるように、ビームの強度がもっとも強い位置として示
されているが、輝点(電子ビーム衝突位置)自身は大き
さを持っており、電子放出部の鉛直アノード電極側交点
位置から最も遠い位置をXh、最も近い位置をXtとす
る。Xh及びXtの値は、式1においてAをそれぞれ
2.33及び0.95として表すことができる。尚、図
14では素子電極間を結ぶ方向のうち、高電位の素子電
極側の方向を正に取っている。
駆動条件は、エージング時における一部又は全部のビー
ムスポット位置Xc(=Xca)が、画像形成時(通常
駆動時)の一部又は全部のビームスポット位置Xc(=
Xcp)と等しくなるように、適宜Vf及び/又はVa
を選択することである。これにより、通常駆動時のビー
ムスポット領域のガス脱離を積極的に行うことができ
る。例えば本実施態様例中の単純マトリクス構成におい
て、複数配列された電子放出素子のX方向(図15の横
方向)のピッチをP、nを正の整数、Vfpを画像形成
時に印加される電子放出素子の駆動電圧、Vapを画像
形成時に画像形成部材に印加される電圧とすると、 (式2) n・p=2H√(Vf/Va)+2H√(Vfp/Vap) となるようにVf及び/又はVaを選択する。
異なる正の整数nに対応した駆動電圧条件を組み合わせ
て処理を行うことも可能である。
のビームスポット位置Xcを等しくする(Xca=Vc
p)だけでなく、エージング工程中のビームスポット位
置Xcaが、画像形成時の輝点の先端部Xhから尾部X
tの範囲を照射するようにVf及び/又はVaを変調す
ることで、もれなく脱ガス処理をすることができる。即
ち、 (式3) n・p/(2H)−1.165・√(Vfp/Vap)≦√(Vf/Va)≦n・p/(2
H)−0.475・√(Vfp/Vap) となるようにVf及び/又は
Vaを変調しながらエージング工程を行う。
ジング処理中に複数の異なる正の整数nに対応した駆動
電圧条件を組み合わせて処理を行ってもよい。
しい駆動条件は、エージング時における電子源Vaを+
500〜+1000V以下の電圧に抑えることにある。
これにより、エージング時のガス脱離に伴い、パネル容
器内圧力の上昇によって引き起こされた、放電による電
子源基板及びその他の構成部材のダメージを最小限に抑
えることができる。+500〜+1000V程度の加速
電圧で十分にエージング効果があることは、例えばM.
Nishijima and F.M.Propst:
Phys.Rev.,B2(1970)2368等が開
示されているように、+400eV以上の電子エネルギ
ーにおけるガスの脱離断面積がほとんど増加しないこと
からも明らかである。
ス配置の電子源を用いて構成した表示パネルに、NTS
C方式のテレビ信号に基づいたテレビジョン表示を行う
為の駆動回路の構成ついて、図8を用いて説明する。図
8において、101は画像表示パネル、102は走査回
路、103は制御回路、104はシフトレジスタであ
る。105はラインメモリ、106は同期信号分離回
路、107は変調信号発生器、VxおよびVaは直流電
圧源である。
通常駆動だけではなく、前記エージング工程を本回路に
て行うために、通常駆動とは逆の極性による表示パネル
の駆動も可能である。
oxm、端子Doy1乃至Doyn、及び高圧端子Hv
を介して外部の電気回路と接続している。端子Dox1
乃至Doxmには、表示パネル内に設けられている電子
源、即ちM行N列の行列状にマトリクス配線された表面
伝導型電子放出素子群を一行(N素子)ずつ順次駆動す
る為の走査信号が印加される。
により選択された一行の表面伝導型電子放出素子の各素
子の出力電子ビームを制御する為の変調信号が印加され
る。高圧端子Hvには、直流電圧減Vaより、例えば1
0kVの直流電圧が供給されるが、これは表面伝導型電
子放出素子より出力される電子ビームに蛍光体を励起す
るのに十分なエネルギーを付与する為の加速電圧であ
る。
0〜+1000V程度の電圧に設定することができる。
は、内部にM個のスイッチング素子を備えたもので(図
中、S1ないしSmで模式的に示している)ある。各ス
イッチング素子は、直流電圧源Vxの出力電圧もしくは
0V(グランドレベル)のいずれか一方を選択し、表示
パネル101の端子Dx1ないしDxmと電気的に接続
される。S1乃至Smの各スイッチング素子は、制御回
路103が出力する制御信号Tscanに基づいて動作
するものであり、例えばFETのようなスイッチング素
子を組み合わせることにより構成することができる。
の極性の電圧も設定可能である。
導型電子放出素子の特性(電子放出しきい値電圧)に基
づき走査されていない素子に印加される駆動電圧が電子
放出しきい値電圧以下となるような一定電圧を出力する
よう設定されている。
信号に基づいて適切な表示が行われるように各部の動作
を整合させる機能を有する。制御回路103は、同期信
号分離回路106より送られる同期信号Tsyncに基
づいて、各部に対してTscan、TsftおよびTm
ryの各制御信号を発生する。
されるNTSC方式のテレビ信号から同期信号成分と輝
度信号成分とを分離する為の回路で、一般的な周波数分
離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期信号
分離回路106により分離された同期信号は、垂直同期
信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便宜上
Tsync信号として図示した。前記テレビ信号から分
離された画像の輝度信号成分は便宜上DATA信号と表
した。該DATA信号はシフトレジスタ104に入力さ
れる。
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する(即ち、制御信号Tsftは、シフトレジスタ
104のシフトクロックであるということもでき
る。)。シリアル/パラレル変換された画像1ライン分
(電子放出素子N素子分の駆動データに相当)のデータ
は、Id1乃至IdnのN個の並列信号として前記シフ
トレジスタ104より出力される。
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryに従
って適宜Id1乃至Idnの内容を記憶する。記憶され
た内容はI’d1乃至I’dnとして出力され、変調信
号発生器107に入力される。
d1乃至I’dnの各々に応じて表面伝導型電子放出素
子の各々を適切に駆動変調する為の信号源であり、その
出力信号は、端子Doy1b乃至Doynを通じて表示
パネル101内の表面伝導型電子放出素子に印加され
る。
放出素子は放出電流Ieに対して以下の基本特性を有し
ている。即ち、電子放出には明確なしきい値電圧Vth
があり、Vth以上の電圧を印加された時のみ電子放出
が生じる。電子放出しきい値以上の電圧に対しては、素
子への印加電圧の変化に応じて放出電流も変化する。こ
のことから、本素子にパルス状の電圧を印加する場合、
例えば電子放出閾値以下の電圧を印加しても電子放出は
生じないが、電子放出閾値以上の電圧を印加する場合に
は電子ビームが出力される。その際、パルスの波高値V
mを変化させることにより出力電子ビームの強度を制御
することが可能である。また、パルスの幅Pwを変化さ
せることにより出力される電子ビームの電荷の総量を制
御することが可能である。
変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅変調方
式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器107として、一定長さの電圧パル
スを発生し、入力されるデータに応じて適宜パルスの波
高値を変調するような電圧変調回路方式の回路を用いる
ことができる。
変調信号発生器107として、一定の波高値の電圧パル
スを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パルス
の幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を用いる
ことができる。
5は、デジタル信号式のものをもアナログ信号式のもの
をも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行なわれれば良いからである。
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これには106の出力部にA/D変
換器を設ければ良い。これに関連してラインメモリ10
5の出力信号がデジタル信号かアナログ信号かにより、
変調信号発生器107に用いられる回路が若干異なった
ものとなる。即ち、デジタル信号を用いた電圧変調方式
の場合、変調信号発生器107には、例えばD/A変換
回路を用い、必要に応じて増幅回路などを付加する。パ
ルス幅変調方式の場合、変調信号発生器107には、例
えば高速の発振器および発振器の出力する波数を計数す
る計数器(カウンタ)及び計数器の出力値と前記メモリ
の出力値を比較する比較器(コンパレータ)を組み合わ
せた回路を用いる。必要に応じて、比較器の出力するパ
ルス変調された変調信号を表面伝導型電子放出素子の駆
動電圧にまで電圧増幅するための増幅器を付加すること
もできる。
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプなど
を用いた増幅回路を用いればよく、必要に応じてレベル
シフト回路などを付加することもできる。パルス幅変調
方式の場合には、例えば、電圧制御型発振回路(VC
O)を採用でき、必要に応じて表面伝導型電子放出素子
の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅器を付加する
こともできる。
能な画像表示装置においては、各電子放出素子に、容器
外端子Dox1乃至Doxm、Doy1乃至Doynを
介して電圧を印加することにより、電子放出が生じる。
高圧端子Hvを介してメタルバック85、あるいは透明
電極(不図示)に高圧を印加し、電子ビームを加速す
る。加速された電子は、蛍光膜84に衝突し、発光が生
じて画像が形成される。
明を適用可能な画像形成装置の一例であり、本発明の技
術思想に基づいて種々の変形が可能である。入力信号に
ついては、NTSC方式を挙げたが入力信号はこれに限
られるものではなく、PAL、SECAM方式などの
他、これよりも、多数の走査線からなるTV信号(例え
ば、MUSE方式をはじめとする高品位TV)方式をも
採用できる。
送の表示装置、テレビ会議システムやコンピューター等
の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて構成された光
プリンターとしての画像形成装置等として用いることが
できる。
く説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるもの
ではなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素
の置換や設計変更がなされたものをも包含する。
多数の表面伝導型電子放出素子を単純マトリクス配置し
た画像形成装置の製造に際し、製造装置を用いて、ゲッ
ターフラッシュ及び封止工程の前に、本発明にかかるエ
ージング工程を適用した例を示す。
を、画像形成装置のパネル容器101に対して実施する
エージング装置の概略図である。
電子源駆動制御装置、122はデータ収集/解析装置、
123は電子源駆動装置、124は駆動電流測定器、1
25はアノード電流測定器、126は駆動信号バス、1
27は素子電流信号バス、128は放出電流信号バスで
ある。
画像形成装置のパネル容器であり、該画像形成装置の電
子源は、図5で概略的に示すように、表面伝導型電子放
出素子の多数個を単純マトリクス配置(カラー3色を含
めて100行100列)した電子源を用いている。以下
に表示パネルの製造工程を説明する。
を作成する初期段階の工程である電子源基板作成、画像
形成部材作成、封着/組立について説明する。
成される電子源基板は、以下のようにして作成される。
本工程にて作成される電子源基板の平面図を図16に、
図16のC−C’断面図を図17(a)〜(d)及び図
18(e)〜(h)に示す。ここで71は基板、72は
X方向配線(下配線とも呼ぶ)、73はY方向配線(上
配線とも呼ぶ)、4は導電性膜、2、3は素子電極、1
41は層間絶縁層、145は素子電極2と下配線72と
電気的接続のためのコンタクトホールである。次に、製
造工程を図17(a)〜(d)及び図18(e)〜
(h)により工程順に従って具体的に説明する。
0.5ミクロンのシリコン酸化膜をスパッタ法で形成し
た基板71上に、真空蒸着により厚さ50オングストロ
ームのTi、厚さ6000オングストロームのAuを順
次積層した後、ホトレジスト(AZ1370ヘキスト社
製)をスピンナーにより回転塗布、ベークした後、ホト
マスク像を露光、現像して、X方向配線72のレジスト
パターンを形成し、Au/Ti堆積膜をウエットエッチ
ングして、所望の形状のX方向配線72を形成する(図
17の(a))。
リコン酸化膜からなる層間絶縁層141をRFスパッタ
法により堆積する(図17の(b))。
酸化膜にコンタクトホール145を形成するためのホト
レジストパターンを作り、これをマスクとして層間絶縁
層141をエッチングしてコンタクトホール145を形
成する。エッチングはCF4とH2 ガスを用いたRIE
(Reactive Ion Etching)法によ
った(図17の(c))。
間ギャップGとなるべきパターンをホトレジスト(RD
−2000N日立化成社製)で形成し、真空蒸着法によ
り、厚さ50オングストロームのTi、厚さ500オン
グストロームのNiを順次堆積した。ホトレジストパタ
ーンを有機溶剤で溶解し、Ni/Ti堆積膜をリフトオ
フし、素子電極間隔Gは3ミクロン、素子電極の幅W1
は200ミクロンとし、素子電極2、3を形成した(図
17の(d))。
線73のホトレジストパターンを形成した後、厚さ50
オングストロームのTi、厚さ5000オングストロー
ムのAuを順次、真空蒸着により堆積し、リフトオフに
より不要の部分を除去して、所望の形状のY方向配線7
3を形成した(図18の(e))。
のCr膜151を真空蒸着により堆積・パターニング
し、その上に有機Pd(ccp4230奥野製薬(株)
社製)をスピンナーにより回転塗布、300℃で10分
間の加熱焼成処理をした。また、こうして形成された主
としてPdO微粒子からなる電子放出部形成用薄膜4の
膜厚は85オングストローム、シート抵抗値は3.9×
10の4乗Ω/□であった(図18の(f))。
放出部形成用薄膜4を酸エッチャントによりエッチング
して所望のパターンを形成した(図18(g))。
外にレジストを塗布するようなパターン形成し、真空蒸
着により厚さ50オングストロームのTi、厚さ500
0オングストロームのAuを順次堆積した。リフトオフ
により不要の部分を除去することにより、コンタクトホ
ール145を埋め込んだ(図18の(h))。
配線72、層間絶縁層141、Y方向配線73、素子電
極2、3、電子放出部形成用薄膜4等が形成された電子
源基板を作成した。
に420μm、X方向に500μm毎に等間隔になるよ
うに上記素子電極、配線、及び導電性膜を作成した。
いて、後に説明するフェースプレートと共に図6で示す
画像形成装置を作製した。
配した上記電子源基板、81は電子源基板71を固定し
たリアプレート、86はガラス基板83の内面に蛍光膜
84とメタルバック85等が形成されたフェースプレー
トである。尚、フェースプレート86とリアプレート8
1の間は4mmとした。82は、支持枠であり該支持枠
82には、リアプレート81、フェースプレート86が
低融点のフリットガラスを用い、大気中で410℃で1
0分焼成することで接合されており、この支持枠82、
フェースプレート86及びリアプレート81で外囲器8
8が構成されている。
ストライプ形状(図7(a)参照)の蛍光体とし、先に
ブラックストライプを形成し、その間隙部にスラリー法
により各色蛍光体92を塗布して蛍光膜84を作製し
た。ブラックストライプの材料としては通常良く用いら
れている黒鉛を主成分とする材料を用いた。
ク85を設けた。メタルバック85は、蛍光膜84の作
製後、蛍光膜84の内面側表面の平滑化処理(通常、フ
ィルミングと呼ばれる)を行い、その後Alを真空蒸着
することで作製した。
4の導伝性を高めるため、蛍光膜84の外面側(ガラス
基板83側)にITOからなる透明電極(不図示)を設
けた。
蛍光体72と表面伝導型電子放出素子74とを対応させ
なくてはいけないため、十分な位置合わせを行った。
いてフォーミング及び活性化を行い、更に安定化処理を
行った。
安定化処理を、図9に示す真空装置を用いて行った。図
9において、1131は以上の工程で作製されたパネ
ル、1132は排気管であり、パネル1131と真空チ
ャンバー1133を接続している。また、真空チャンバ
ー1133はゲートバルブ1134に連結されており、
ゲートバルブ1134は排気装置1135に連結されて
いる。排気装置1135は磁気浮上型のターボ分子ポン
プと不図示のバルブを介して連結されたバックアップ用
のドライポンプによって構成されている。また、真空チ
ャンバー1133には、内部の圧力をモニターする圧力
計1136と、真空チャンバー1133内部のガス分圧
構成をモニターする四重極質量分析装置(Q−mas
s)1137が装備されている。更に、真空チャンバー
1133は、ガス導入ライン1138とガス導入ライン
1138の途中に設置されたガス導入制御装置1139
を通じて、導入物質源1140が封入されたアンプルに
連結されている。本実施例においては、ガス導入制御装
置として超高真空対応のバリアブルリークバルブを用
い、導入物質源としてベンゾニトリルを用いた。
の気体を、排気管1132と真空チャンバー1133を
通じて排気装置1135にて排気し、圧力計1136の
表示値で約1×10-3Paに達した後、図6に示された
外囲器88外の端子Dox1〜DoxmとDoy1〜D
oynを通じ、前述の電子源基板1171の電子放出部
形成用薄膜の各々に電圧を印加し、各々の電子放出部形
成用薄膜に電子放出部を形成して、本実施例における電
子源基板のフォーミング処理を完了した。
用いた。本実施例ではパルス幅を1m秒、パルス間隔を
10m秒とした。
2(b)に示す電圧波形を用いて活性化処理を行った。
本実施例の活性化処理はパルス幅を1m秒、パルス間隔
を10m秒、波高値Vfは15Vで正負両極性共に同じ
振幅の電圧を印加し、圧力計1136の表示値で約1×
10-4Paのベンゾニトリル雰囲気中で、素子電流I
f、放出電流Ieを測定しながら行った。尚、本活性化
処理に先立ち、真空チャンバー1133内は約2×10
-5Pa以下の圧力になるまで排気されており、その後ガ
ス導入制御装置1139を調節することによって真空チ
ャンバー1133内にベンゾニトリルを導入している。
その際、Q−mass1137を使用して、確実にベン
ゾニトリルのガス分子が真空チャンバー1133内に導
入されていることを確認している。
外囲器88全体を200℃で10時間加熱しながら真空
排気することで行った。安定化処理終了後、室温におけ
る真空チャンバー1133内の圧力は約1×10-6Pa
となっていた。
経たパネル101を、図13に示すエージング装置に接
続した。各電子放出素子には、容器外端子Dx1〜Dx
mを通じて電子源駆動装置123より各ラインに、パル
ス幅150μ秒、パルス波高値VF=+15Vの矩形パ
ルスを走査周波数60Hzにて印加し、高圧端子Hvを
通じてメタルバック85、透明電極(不図示)にVa=
721Vの直流高電圧を印加した。この時、容器外端子
Dy1〜Dynは駆動電流測定器124を通じてほぼ基
準電位(0V)に保たれている。なお、本工程において
駆動されるDy1〜DynとDx1〜Dxmとの間の電
位関係は、最終的に行われる画像表示時の電位関係と逆
である。
電子放出素子の駆動電圧Vf及びアノード電圧Vaの値
は(式2)を満足するように設定した。即ち素子電極間
を結ぶ方向であるX方向の素子間ピッチP=5.0×1
0-4m、フェースプレート86とリアプレート81の間
隔H=4.0×10-3m、後述する通常駆動時の素子電
極間に印加される電圧パルスの波高値Vfp=15V、
アノード電圧Vap=8000V、の値を用いて、n=
3とし、またエージング工程で素子に印加する電圧Vf
=15Vとしたとき、 (式4) 3・5.0×10-4=2・4.0×10-3・√(15/Va)+2・4.0×10-3・√
(15/8000) より、エージング工程におけるアノード電圧値Vaを決
定した。本エージング条件によるエージング処理によ
り、最終的な画像形成時における画像形成単位(即ち、
蛍光体により形成される画素単位)において、特に電子
ビームが最も多く照射される領域についての脱ガス処理
を行うことができる。
る電子ビームをフェースプレートに衝突させ、放出した
ガス分子を排気管1132を通じて表示パネル101外に除
外する操作を約1時間実施した後、エージング工程を修
了した。
後、排気管1132をガスバーナーで熱することで溶着
し、外囲器88の封止を行った。最後に、封止後のパネ
ル内の圧力を維持するために、高周波加熱法でゲッター
処理を行った。
工程のみを除いて封止/ゲッターフラッシュ工程まで実
施例1と同様に画像形成装置を作成した。このように本
比較例においてはエージング工程は全く実施されていな
い。
8に示す画像表示装置の駆動装置を用いて、走査信号及
び変調信号を、容器外端子Dx1〜Dxm、Dy1〜D
ynを通じ、信号発生手段より各々電子放出素子74の
素子電極間に15Vの電圧パルスを印加することにより
電子放出させるとともに、高圧端子Hvを通じてメタル
バック85、透明電極(不図示)に8kVの高圧を印加
して、電子ビームを加速し、蛍光膜84に衝突させ、励
起・発光させることで画像表示を行い、放出電流Ieを
測定した。尚、この時の表示画像は全面白色点灯とし
た。開始直後及び終了時の典型的な1ライン(100素
子)の放出電流値Ieの平均値<Ie>(μA)及び標
準偏差の平均値に対する割合ΔIe(%)は次の表1の
通りであった。
装置は、従来のエージング工程を施さない画像形成装置
に比べて、駆動初期から高品位な(ばらつきの小さい)
表示画像を長期にわたって安定して得られた。
多数の表面伝導型電子放出素子を単純マトリクス配置し
た画像形成装置の製造に際し、画像形成装置を用いて、
ゲッターフラッシュ及び封止工程の後に、本発明のエー
ジング工程を適用した例を示す。
像表示パネル101を実施例1と同様に作成した。本実
施例において、表示パネル101を構成する材料・寸法
は、X方向の電子放出素子間の間隔及びフェースプレー
ト上の各色の蛍光体の間隔が360μmとなるように形
成されていることを除き、実施例1とまったく同じであ
る。ただし、表示パネル101の製造工程中、安定化工
程後のエージング工程を行わず、そのまま封止/ゲッタ
ーフラッシュ工程を行った。
形成装置の駆動装置を用いてエージング工程を行った。
この際、図中のS1〜SmはすべてVxを選択するよう
に設定し、Vxを−7.5V、Dy1〜Dynに印加さ
れる走査信号の選択時の電圧を+7.5Vとなるように
設定し、Vaの電圧を+590Vから+890Vまで、
5V/分の昇圧速度で変化させた。また、本エージング
工程時の電子源を駆動する走査周波数を60Hzとし、
1ライン選択時の選択時間はすべてのラインにおいて1
50μ秒とした。なお、本工程においてDy1〜Dyn
とDx1〜Dxmとの間に印加される電圧の電位関係
は、以降に行われる画像表示時の電位関係と逆である。
電子放出素子の駆動電圧Vf及びアノード電圧Vaの値
は(式3)を満足するように設定した。即ち素子電極間
を結ぶ方向であるX方向の素子間ピッチP=3.6×1
0-4m、フェースプレート86とリアプレート81の間
隔H=4.0×10-3m、後述する画像表示時の素子電
極間に印加される電圧パルスの波高値Vfp=15V、
アノード電圧Vap=8000V、の値を用いて、n=
4とし、またエージング工程で素子電極間に印加する電
圧Vf=15Vとしたとき、エージング時のVaの最低
電圧Vamin、最高電圧Vamaxは(式3)の関係
式から求めることができ、 (式5−1) Vamin=15/(4×3.6×10-4/8.0×10-3−0.475√(15/800
0))2=590 (式5−2) Vamax=15/(4×3.6×10-4/8.0×10-3−1.165√(15/800
0))2=894 より、エージング工程におけるアノード電圧値Vaを決
定した。本エージング条件によるエージング処理によ
り、最終的な画像形成時における画像形成単位(即ち、
蛍光体により形成される画素単位)において、特に電子
ビームが照射されるほぼすべての領域について、脱ガス
処理を行うことができる。
た電子ビームをフェースプレートに衝突させ、放出した
ガス分子を表示パネル101内部に形成したゲッターポ
ンプにて排気する操作を約1時間実施した後、エージン
グ工程を終了した。
ターフラッシュ工程まで実施例2と同様に画像形成装置
を作成した。このように、本比較例においてはエージン
グ工程は全く実施されていない。
8に示す画像表示装置の駆動装置を用いて、走査信号を
−7.5V及び変調信号の波高値Vxを+7.5Vと
し、容器外端子Dx1〜Dxm、Dy1〜Dynを通
じ、信号発生手段より各々電子放出素子74の素子電極
間に15Vの電圧パルスを印加することにより電子放出
させるとともに、高圧端子Hvを通じてメタルバック8
5、透明電極(不図示)に+8kVの高圧を印加して、
電子ビームを加速し、蛍光膜84に衝突させ、励起・発
光させることで画像表示し、放出電流Ieを測定した。
尚、この時の表示画像は全面白色点灯とした。開始直後
及び終了時の典型的な1ライン(100素子)の放出電
流値Ieの平均値<Ie>(μA)及び標準偏差の平均
値に対する割合ΔIe(%)は次の表2の通りであっ
た。
装置は、従来のエージング工程を施さない画像形成装置
に比べて、駆動初期から高品位な(ばらつきの小さい)
表示画像を長期にわたって安定して得られた。
形成装置は、真空排気後の画像形成装置の製造工程が、
フォーミング処理、活性化処理、安定化処理、ゲッター
処理、エージング処理、封止の順に行われることを除
き、画像形成装置の構成及び、各工程の処理条件はすべ
て実施例2と同じである。
成し、実施例2と同様に駆動を行い、放出電流Ieを測
定し比較例2と比較した。結果が次の表3の通りであ
る。
装置は、比較例の画像形成装置に比べて、駆動初期から
高品位な(ばらつきの小さい)表示画像を長期にわたっ
て安定して得られた。
形成装置は、X方向の電子放出素子間の間隔及びフェー
スプレート上の各色蛍光体の間隔が4.6×10-4mと
なるように形成されており、電子源基板上に作成された
電子放出素子が、X方向に3列多く作成されており、増
加した3列の電子放出素子がエージング時のみしか駆動
されないことを除き、実施例2とほぼ同様の構成・製法
により作成されている。
く説明する。
の単純マトリクス構成が、X方向配線が100行、Y方
向配線が103列と、X方向に3列多く列が形成されて
おり、これに対応して電子放出素子も3列多く形成して
いる。一方、フェースプレート上に形成した蛍光体の画
素列は、R,G,B各色合計で100列である。リアプ
レートとフェースプレートとの位置合わせは、Y方向配
線Dy1からDy100に接続された電子放出素子から
放出される電子ビームが、通常駆動時において100列
の各色蛍光体をそれぞれ照射するように設定している。
構成し封着を行った後、実施例1と同様にフォーミング
処理、活性化処理、安定化処理を施し、ゲッター活性化
工程を行った後、封止工程を施した。以上の工程を施し
た製造工程下の画像形成装置を実施例2と同様に図8に
示す装置に接続し、エージング処理を施した。
のS1〜S3はグランド電位を選択し、S4〜S103
がVxを選択するように設定している。以上の設定で、
Vxを−7.5V、Dy1〜Dynに印加される走査信
号の選択時の電圧を+7.5Vとなるように設定し、V
aの電圧を+650Vから+1007Vまで、約6V/
分の昇圧速度で変化させた。また、本エージング工程時
の電子源を駆動する走査周波数を60Hzとし、1ライ
ン選択時の選択時間はすべてのラインにおいて150μ
秒とした。
電子放出素子の駆動電圧Vfおよびアノード電圧Vaの
値は(式3)を満足するように設定した。即ち素子電極
間を結ぶ方向であるX方向の素子間ピッチP=4.6×
10-4m、フェースプレート86とリアプレート81の
間隔H=4.0×10-3m、後述する画像表示時の素子
電極間に印加される電圧パルスの波高値Vfp=15
V、アノード電圧Vap=8000V、の値を用いて、
n=3とし、またエージング工程で素子電極間に印加す
る電圧Vf=15Vとしたとき、エージング時のVaの
最低電圧Vamin、最高電圧Vamaxは(式3)の
関係式から求めることができ、 (式5−1) Vamin=15÷(3×4.6×10-4/2×4.0×10-3−0.475×√
(15/8000))2=650 (式5−2)Vamax=15÷(3×4.
6×10-4/2×4.0×10-3−1.165×√(15/8000))2=1007よ
り、エージング工程におけるアノード電圧値Vaの範囲
を決定した。
線の交点に接続された電子放出素子を、記号を用いてE
(m,n)と表すと、通常駆動時にE(m,n)から放
出される電子ビームの照射位置に対して、エージング時
にE(m,n+3)から放出される電子ビームが照射さ
れる。但し、1≦m≦100、1≦n≦100である。
よるエージング処理により、最終的な画像形成時におけ
る画像形成単位(即ち、蛍光体により形成される画素単
位)において、特に電子ビームが照射されるすべての領
域について、脱ガス処理を行うことができる。同様のエ
ージング方法は、n=3の場合に限るものではなく、
(式3)中のnに対応して本実施例と同様に適宜設定で
きる。
る電子ビームをフェースプレートに衝突させ、放出した
ガス分子を表示パネル101内部に形成したゲッターポ
ンプにて排気する操作を約1時間実施した後、エージン
グ工程を終了した。
成し、実施例2と同様に駆動を行い、放出電流Ieを測
定し比較例2と比較した。結果は次の表4の通りであ
る。
装置は、比較例の画像形成装置に比べて、駆動初期から
高品位な(ばらつきの小さい)表示画像を長期にわたっ
て安定して得られた。
る電子放出素子として、横型の電界放出型電子放出素子
を用いたものである。電子源基板の基本的な構成は、実
施例1に示したものと同様であるが、電子放出素子の部
分は図3に模式的に示すような構造を有する。
基板161の上に0.5μm厚のシリコン酸化膜からな
る絶縁層を介し、エミッタ用電極162、ゲート電極1
63、エミッタ164とエージング用エミッタ165が
形成されている。エミッタ用電極162、ゲート電極1
63、エミッタ164とエージング用エミッタ165
は、厚さ0.3μmのPt薄膜で形成されている。エミ
ッタ164の先端部が通常駆動時の電子放出部で、エー
ジング用エミッタ165の先端部がエージング時の電子
放出部となる。なお、先端の角度は30°とした。
様な手順で行う。但し、実施例1の工程−dにて行われ
る表面伝導型電子放出素子の素子電極の形成に代り、本
実施例では横型の電界放出型電子放出素子のエミッタ電
極及びゲート電極を作成する。また、実施例1の工程−
f,gで行われた表面伝導型電子放出素子の電子放出部
形成用の導電性膜の形成・パターニングは行わない。
さ0.3μmのPt膜をスパッタ法により行った。続い
てレジストを塗布、ベーキングしてレジスト層を形成し
た後、フォトマスクを用いて露光、現像して、エミッタ
用電極162、ゲート電極163、エミッタ164とエ
ージング用エミッタ165の形状に相当するレジストパ
ターンを形成する。この後ドライエッチングを施し、所
望の形状のエミッタ用電極162、ゲート電極163、
エミッタ164とエージング用エミッタ165を形成し
た後、レジストを除去する。これにより、図3に示す形
状のエミッタ用電極162、ゲート電極163、エミッ
タ164とエージング用エミッタ165が、絶縁性基板
161上の所定の位置に形成される。
同様の手順で、電子源上にゲッター構造体が配設された
画像形成装置を構成した。ただし、表面伝導型電子放出
素子を用いた場合と異なり、フォーミング処理、電子放
出素子の活性化処理は必要としない。
接続し真空排気を行い真空チャンバー1133内の圧力
が1×10-5Paに到達した後、外囲器88全体を20
0℃で10時間加熱しながら真空排気することで安定化
処理を行った。安定化処理後、室温における真空チャン
バー1133内の圧力は約1×10-6Paとなってい
た。
ゲッター剤を加熱し、Baを主成分とする薄膜を外囲器
内構成部材に蒸着するゲッター活性化処理を行った。そ
の後、排気管1132をガスバーナーで熱することで溶
着し、外囲器88の封止を行った。
ネル101は、図13に示すエージング装置に接続し
た。各電子放出素子には、容器外端子Dy1ないしDy
nを通じて電子源駆動装置123より各ラインに、パル
ス幅150μ秒、パルス波高値Vf=+100Vの矩形
パルスを走査周波数60Hzにて印加し、高圧端子Hv
を通じてメタルバック85、透明電極(不図示)にVa
=1000Vの直流電圧を印加した。この時、容器外端
子Dx1〜Dxmは駆動電流測定器124を通じてほぼ
基準電位(0V)に保たれている。なお、本工程におい
て駆動されるDy1〜DynとDx1〜Dxmとの間の
電位関係は、最終的に行われる画像表示時の電位関係と
逆である。
る電子ビームをフェースプレートに衝突させ、放出した
ガス分子を外囲器内に形成したゲッターポンプで排気す
る操作を約1時間実施した後、エージング工程を終了し
た。
工程時にY方向配線に対して容器外端子Dy1〜Dyn
を通じて印加するパルス電圧の波高値をVf=−100
Vとしたこと以外、実施例5と同様に画像形成装置を作
成した。このように、本比較例においては逆極性駆動に
よるエージング工程は行われておらず、エージング工程
中も通常駆動時と同じ極性にて駆動を行っている。
8に示す画像表示装置の駆動装置を用いて、走査信号及
び変調信号を、容器外端子Dx1〜Dxn、Dy1〜D
ynを通じ、信号発生手段より各々電子放出素子74の
素子電極間に100Vの電圧パルスを印加することによ
り電子放出させるとともに、高圧端子Hvを通じてメタ
ルバック85、透明電極(不図示)に8kVの高圧を印
加して、電子ビームを加速し、蛍光膜84に衝突させ、
励起・発光させることで画像表示を行い、同時に放出電
流Ieを測定した。尚、この時の表示画像は全面白色点
灯とした。
装置は、比較例の画像形成装置に比べて、駆動初期から
高品位な(ばらつきの小さい)表示画像を長期わたって
安定して得られた。
素子の劣化、とりわけ、画像形成時における画像形成部
材からのガスの脱離に伴なう電子放出素子の劣化を極力
低減でき、信頼性の高い画像形成装置を提供することが
できる。
造過程における電子放出素子の劣化の影響が画像形成時
において極力低減され、信頼性の高い画像形成装置を提
供することができる。
子放出素子の構成を示す図で、図1(b)はA−A’断
面図である。
子放出素子の別の構成を示す図で、図2(b)はB−
B’断面図である。
子放出素子の構成を示す図である。
ついての放出電流Ie、素子電流Ifと素子電圧Vfの
関係の一例を示す図である。
子源の一例を示す模式図である。
ネルの一例を示す模式図である。
図である。
じて表示を行なうための駆動回路の一例を示すブロック
図である。
る。
ォーミング処理における電圧波形の一例を示す図であ
る。
グ処理、通常駆動・活性化処理における電圧波形の一例
を示す図である。
を示す図である。
状及び、電子放出部からの距離と輝点の発光強度の関係
を示す図である。
画像形成装置内の電子ビーム軌道を示す図である。
図である。
図である。
図である。
Claims (12)
- 【請求項1】 容器と、該容器内に配置された、一対の
電極間に複数の電子放出サイトを有し、該一対の電極間
に電圧を印加することにより該複数の電子放出サイトの
うちの一部から電子を放出する電子放出素子、及び、該
電子放出素子より放出される電子の照射により画像を形
成する画像形成部材とを備える画像形成装置の製造方法
において、該画像形成部材に該電子放出素子から放出さ
れる電子を照射する工程を有し、該工程における電子を
放出する電子放出サイトは、該画像形成装置の画像形成
のための駆動時に該電子放出素子の該一対の電極間に印
加される電圧とは逆極性の電圧を該電子放出素子に印加
することで電子放出する、該画像形成装置の画像形成の
ための駆動時とは異なる電子放出サイトであることを特
徴とする画像形成装置の製造方法。 - 【請求項2】 前記画像形成部材に該電子放出素子から
放出される電子を照射する工程は、該容器内を排気しな
がら行われる請求項1に記載の画像形成装置の製造方
法。 - 【請求項3】 前記画像形成部材に該電子放出素子から
放出される電子を照射する工程の後、該容器の封止が行
われる請求項1に記載の画像形成装置の製造方法。 - 【請求項4】 前記画像形成部材に該電子放出素子から
放出される電子を照射する工程の後、該容器内でゲッタ
フラッシュがなされる請求項1に記載の画像形成装置の
製造方法。 - 【請求項5】 前記画像形成部材に該電子放出素子から
放出される電子を照射する工程は、該容器内を排気しな
がら行われ、該工程の後、該容器の封止と該容器内での
ゲッタフラッシュがなされる請求項1に記載の画像形成
装置の製造方法。 - 【請求項6】 前記画像形成部材に該電子放出素子から
放出される電子を照射する工程は、該容器の封止が行わ
れた後になされる請求項1に記載の画像形成装置の製造
方法。 - 【請求項7】 前記画像形成部材に該電子放出素子から
放出される電子を照射する工程は、該容器内でゲッタフ
ラッシュがなされた後に行われる請求項1に記載の画像
形成装置の製造方法。 - 【請求項8】 前記画像形成部材に該電子放出素子から
放出される電子を照射する工程は、該容器の封止と該容
器内でのゲッタフラッシュとがなされた後に行われる請
求項1に記載の画像形成装置の製造方法。 - 【請求項9】 前記画像形成装置は、該電子放出素子を
複数有し、前記画像形成部材に該複数の電子放出素子か
ら放出される電子を照射する工程は、前記一対の電極を
結ぶ方向での該複数の電子放出素子の配列ピッチをP、
該一対の電極の内の一方の電極に対する他方の電極の電
位を−Vf、画像形成部材に印加される電圧をVa、該
画像形成装置の画像形成のための駆動時における該一対
の電極の内の該一方の電極に対する該他方の電極の電位
をVfp、該画像形成装置の画像形成のための駆動時に
おける画像形成部材に印加される電圧をVap、該電子
放出素子と該画像形成部材との距離をHとすると、n・
p=2H√(Vf/Va)+2H√(Vfp/Vap)
[但し、nは正の整数]を満たすように該Va、該Vp
が設定されて行われる請求項1に記載の画像形成装置の
製造方法。 - 【請求項10】 前記画像形成装置は、該電子放出素子
を複数有し、前記画像形成部材に該複数の電子放出素子
から放出される電子を照射する工程は、前記一対の電極
を結ぶ方向での該複数の電子放出素子の配列ピッチを
P、該一対の電極の内の一方の電極に対する他方の電極
の電位を−Vf、画像形成部材に印加される電圧をV
a、該画像形成装置の画像形成のための駆動時における
該一対の電極の内の該一方の電極に対する該他方の電極
の電位をVfp、該画像形成装置の画像形成のための駆
動時における画像形成部材に印加される電圧をVap、
該電子放出素子と該画像形成部材との距離をHとする
と、n・p/(2H)−1.165√(Vfp/Va
p)≦√(Vf/Va)≦n・p/(2H)−0.47
5√(Vfp/Vap)[但し、nは正の整数]を満た
すように該Va、該Vpが設定されて行われる請求項1
に記載の画像形成装置の製造方法。 - 【請求項11】 前記電子放出素子は、表面伝導型電子
放出素子である請求項1に記載の画像形成装置の製造方
法。 - 【請求項12】 前記電子放出素子は、電界放出型電子
放出素子である請求項1に記載の画像形成装置の製造方
法。
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JP22302998A JP3524392B2 (ja) | 1997-08-06 | 1998-08-06 | 画像形成装置の製造方法 |
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