JP3524036B2 - 射出成形機の異物検出方法 - Google Patents
射出成形機の異物検出方法Info
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- JP3524036B2 JP3524036B2 JP2000120356A JP2000120356A JP3524036B2 JP 3524036 B2 JP3524036 B2 JP 3524036B2 JP 2000120356 A JP2000120356 A JP 2000120356A JP 2000120356 A JP2000120356 A JP 2000120356A JP 3524036 B2 JP3524036 B2 JP 3524036B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、可動盤を型閉方向
へ移動させた際における可動型と固定型間に挟まった異
物を検出する射出成形機の異物検出方法に関する。
へ移動させた際における可動型と固定型間に挟まった異
物を検出する射出成形機の異物検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、サーボモータとボールねじ機構を
有する駆動部の進退運動を可動盤に伝達するトグルリン
ク機構を用いた射出成形機の型締装置において、可動盤
を型閉方向へ移動させた際における可動型と固定型間に
挟まった異物を検出する方法は、例えば、特許第２７７
２５８７号公報で知られている。
有する駆動部の進退運動を可動盤に伝達するトグルリン
ク機構を用いた射出成形機の型締装置において、可動盤
を型閉方向へ移動させた際における可動型と固定型間に
挟まった異物を検出する方法は、例えば、特許第２７７
２５８７号公報で知られている。
【０００３】同公報で開示される方法は、異物がない状
態で型閉を行い、金型保護区間において複数設定された
可動型の位置に対する可動型に加わる負荷を記憶すると
ともに、型閉が開始される毎に、可動型の位置と負荷を
検出し、設定された位置に対応する検出負荷と記憶され
た負荷を比較し、検出負荷が記憶された負荷よりも所定
値以上のときに、運転を停止させる処理を行うものであ
る。
態で型閉を行い、金型保護区間において複数設定された
可動型の位置に対する可動型に加わる負荷を記憶すると
ともに、型閉が開始される毎に、可動型の位置と負荷を
検出し、設定された位置に対応する検出負荷と記憶され
た負荷を比較し、検出負荷が記憶された負荷よりも所定
値以上のときに、運転を停止させる処理を行うものであ
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の異物検出方法は、次のような問題点があった。
来の異物検出方法は、次のような問題点があった。
【０００５】第一に、予め複数位置に対する負荷を記憶
させる必要があるとともに、型閉が開始される毎に検出
負荷と記憶された負荷を比較する必要があるなど、検出
処理の煩雑化及び制御系のコストアップを招く。
させる必要があるとともに、型閉が開始される毎に検出
負荷と記憶された負荷を比較する必要があるなど、検出
処理の煩雑化及び制御系のコストアップを招く。
【０００６】第二に、検出処理が非連続的であるととも
に、特に、トグルリンク機構では、型閉位置に近付くに
従ってトグル拡大率（力の拡大率）が大きくなるため、
型閉位置付近における異物検出の迅速性及び確実性、さ
らには安定性及び信頼性の面で難がある。
に、特に、トグルリンク機構では、型閉位置に近付くに
従ってトグル拡大率（力の拡大率）が大きくなるため、
型閉位置付近における異物検出の迅速性及び確実性、さ
らには安定性及び信頼性の面で難がある。
【０００７】本発明は、このような従来の技術に存在す
る課題を解決したものであり、検出処理の容易化及び制
御系のコストダウンを図れるとともに、異物検出の迅速
性及び確実性、さらには安定性及び信頼性を高めること
ができる射出成形機の異物検出方法の提供を目的とす
る。
る課題を解決したものであり、検出処理の容易化及び制
御系のコストダウンを図れるとともに、異物検出の迅速
性及び確実性、さらには安定性及び信頼性を高めること
ができる射出成形機の異物検出方法の提供を目的とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段及び実施の形態】本発明に
係る射出成形機Ｍの異物検出方法は、固定型Ｃｃを有す
る固定盤２ｃと駆動機構部Ｒを有する駆動盤２ｒ間にタ
イバー３…を架設し、このタイバー３…に可動型Ｃｍを
有する可動盤２ｍをスライド自在に装填してなる型締装
置Ｍｃにおける可動盤２ｍを、型閉方向へ移動させた際
における可動型Ｃｍと固定型Ｃｃ間に挟まった異物Ｄを
検出するに際し、可動盤２ｍを型閉方向へ移動させた際
における固定盤２ｃと駆動盤２ｒ間の距離Ｌを検出し、
可動盤２ｍが型閉位置Ｘｅに達するまでに、距離Ｌが設
定値Ｌｓ以上になったなら、異物Ｄを検出したことに伴
う異物検出処理を行うようにしたことを特徴とする。
係る射出成形機Ｍの異物検出方法は、固定型Ｃｃを有す
る固定盤２ｃと駆動機構部Ｒを有する駆動盤２ｒ間にタ
イバー３…を架設し、このタイバー３…に可動型Ｃｍを
有する可動盤２ｍをスライド自在に装填してなる型締装
置Ｍｃにおける可動盤２ｍを、型閉方向へ移動させた際
における可動型Ｃｍと固定型Ｃｃ間に挟まった異物Ｄを
検出するに際し、可動盤２ｍを型閉方向へ移動させた際
における固定盤２ｃと駆動盤２ｒ間の距離Ｌを検出し、
可動盤２ｍが型閉位置Ｘｅに達するまでに、距離Ｌが設
定値Ｌｓ以上になったなら、異物Ｄを検出したことに伴
う異物検出処理を行うようにしたことを特徴とする。
【０００９】この場合、好適な実施の態様により、駆動
機構部Ｒは、駆動部４の進退運動を可動盤２ｍに伝達す
るトグルリンク機構５を備える。また、距離Ｌの検出
は、型閉位置Ｘｅから手前に設定した所定の監視区間Ｚ
ｓで行うとともに、この監視区間Ｚｓでは、駆動電流Ｉ
が予め設定した設定電流Ｉｓを越えないように電流制限
する。この際、設定電流Ｉｓは、トグルリンク機構５に
おけるトグル拡大率の逆数の関数を用いた規制曲線によ
り設定できる。
機構部Ｒは、駆動部４の進退運動を可動盤２ｍに伝達す
るトグルリンク機構５を備える。また、距離Ｌの検出
は、型閉位置Ｘｅから手前に設定した所定の監視区間Ｚ
ｓで行うとともに、この監視区間Ｚｓでは、駆動電流Ｉ
が予め設定した設定電流Ｉｓを越えないように電流制限
する。この際、設定電流Ｉｓは、トグルリンク機構５に
おけるトグル拡大率の逆数の関数を用いた規制曲線によ
り設定できる。
【００１０】
【実施例】次に、本発明に係る好適な実施例を挙げ、図
面に基づき詳細に説明する。
面に基づき詳細に説明する。
【００１１】まず、本実施例に係る異物検出方法を実施
できる射出成形機Ｍの概略構成について、図２を参照し
て説明する。
できる射出成形機Ｍの概略構成について、図２を参照し
て説明する。
【００１２】同図に示す射出成形機Ｍは、型締装置Ｍｃ
と仮想線で示す射出装置Ｍｉを備える。型締装置Ｍｃは
離間して配した固定盤２ｃと駆動盤２ｒを備え、この固
定盤２ｃと駆動盤２ｒは不図示の機台上に固定されてい
る。また、固定盤２ｃと駆動盤２ｒ間には、四本のタイ
バー３…を架設し、このタイバー３…に可動盤２ｍをス
ライド自在に装填する。そして、この可動盤２ｍには可
動型Ｃｍを取付けるとともに、固定盤２ｃには固定型Ｃ
ｃを取付ける。この可動型Ｃｍと固定型Ｃｃは金型Ｃを
構成する。
と仮想線で示す射出装置Ｍｉを備える。型締装置Ｍｃは
離間して配した固定盤２ｃと駆動盤２ｒを備え、この固
定盤２ｃと駆動盤２ｒは不図示の機台上に固定されてい
る。また、固定盤２ｃと駆動盤２ｒ間には、四本のタイ
バー３…を架設し、このタイバー３…に可動盤２ｍをス
ライド自在に装填する。そして、この可動盤２ｍには可
動型Ｃｍを取付けるとともに、固定盤２ｃには固定型Ｃ
ｃを取付ける。この可動型Ｃｍと固定型Ｃｃは金型Ｃを
構成する。
【００１３】一方、駆動盤２ｒと可動盤２ｍ間には駆動
機構部Ｒを配設する。駆動機構部Ｒは駆動盤２ｒの背面
に取付けたサーボモータ１１と、このサーボモータ１１
により回転するボールねじ１２ｓ及びこのボールねじ１
２ｓに螺合するナット部１２ｎからなるボールねじ機構
１２を有する駆動部４を備えるとともに、駆動盤２ｒと
可動盤２ｍ間に取付けたトグルリンク機構５を備えて構
成する。また、トグルリンク機構５は、複数のトグルリ
ンクメンバ５ｒの組合わせにより構成し、入力部となる
クロスヘッド５ｈはナット部１２ｎに固定する。これに
より、駆動部４の進退運動、即ち、ナット部１２ｎの進
退運動は、トグルリンク機構５を介して可動盤２ｍに伝
達される。
機構部Ｒを配設する。駆動機構部Ｒは駆動盤２ｒの背面
に取付けたサーボモータ１１と、このサーボモータ１１
により回転するボールねじ１２ｓ及びこのボールねじ１
２ｓに螺合するナット部１２ｎからなるボールねじ機構
１２を有する駆動部４を備えるとともに、駆動盤２ｒと
可動盤２ｍ間に取付けたトグルリンク機構５を備えて構
成する。また、トグルリンク機構５は、複数のトグルリ
ンクメンバ５ｒの組合わせにより構成し、入力部となる
クロスヘッド５ｈはナット部１２ｎに固定する。これに
より、駆動部４の進退運動、即ち、ナット部１２ｎの進
退運動は、トグルリンク機構５を介して可動盤２ｍに伝
達される。
【００１４】また、２１は各種制御処理，演算処理及び
記憶処理等を実行するコンピュータ機能を備えるコント
ローラであり、このコントローラ２１に、サーボモータ
１１及びこのサーボモータ１１に付設したロータリエン
コーダ２２を接続する。さらに、型締装置Ｍｃにはリニ
アスケール（位置検出器）２３を付設し、少なくとも固
定盤２ｃと駆動盤２ｒ間の距離Ｌを高精度で検出する機
能を持たせる。この場合、リニアスケール２３は、検出
側となる棒状のスケール部２３ｓと、このスケール部２
３ｓに接続した本体部２３ｍと、駆動盤２ｒに固定した
第一被検出部２３ａと、可動盤２ｍに固定した第二被検
出部２３ｂを備え、第一被検出部２３ａと第二被検出部
２３ｂはマグネットを有する。これにより、本体部２３
ｍでは、スケール部２３ｓ上における第一被検出部２３
ａと第二被検出部２３ｂの位置をそれぞれ高精度に検出
することができ、検出した位置データはコントローラ２
１に付与される。なお、リニアスケール２３の配設位置
は、固定盤２ｃ及び駆動盤２ｒが固定されている機台に
対し、できるだけ離れた位置に配することが望ましい。
記憶処理等を実行するコンピュータ機能を備えるコント
ローラであり、このコントローラ２１に、サーボモータ
１１及びこのサーボモータ１１に付設したロータリエン
コーダ２２を接続する。さらに、型締装置Ｍｃにはリニ
アスケール（位置検出器）２３を付設し、少なくとも固
定盤２ｃと駆動盤２ｒ間の距離Ｌを高精度で検出する機
能を持たせる。この場合、リニアスケール２３は、検出
側となる棒状のスケール部２３ｓと、このスケール部２
３ｓに接続した本体部２３ｍと、駆動盤２ｒに固定した
第一被検出部２３ａと、可動盤２ｍに固定した第二被検
出部２３ｂを備え、第一被検出部２３ａと第二被検出部
２３ｂはマグネットを有する。これにより、本体部２３
ｍでは、スケール部２３ｓ上における第一被検出部２３
ａと第二被検出部２３ｂの位置をそれぞれ高精度に検出
することができ、検出した位置データはコントローラ２
１に付与される。なお、リニアスケール２３の配設位置
は、固定盤２ｃ及び駆動盤２ｒが固定されている機台に
対し、できるだけ離れた位置に配することが望ましい。
【００１５】次に、本実施例に係る異物検出方法を含む
型締装置Ｍｃの型締動作について、図２〜図４を参照し
つつ図１に示すフローチャートに従って説明する。
型締装置Ｍｃの型締動作について、図２〜図４を参照し
つつ図１に示すフローチャートに従って説明する。
【００１６】まず、コントローラ２１には、固定盤２ｃ
と駆動盤２ｒ間の距離Ｌを監視（検出）するための監視
区間Ｚｓを設定する。この場合、監視区間Ｚｓは、型閉
位置Ｘｅを終端（監視終了位置）とし、この型閉位置Ｘ
ｅを含む手前に設定するとともに、監視区間Ｚｓの始端
となる監視開始位置Ｘｓは、異物の大きさ等を考慮して
設定する。また、検出した距離Ｌを判定するための設定
値Ｌｓを設定する。設定値Ｌｓは、例えば、異物Ｄが存
在しない状態の監視区間Ｚｓにおける固定盤２ｃと駆動
盤２ｒ間の距離Ｌｏを予め検出し、この距離Ｌｏに一定
値Ｋを加えた大きさに設定できる。なお、型閉位置Ｘｅ
は、可動型Ｃｍが固定型Ｃｃに対して近接又は接触して
いるが、負荷圧力は直前に行われる低圧型締（監視区間
Ｚｓ）と同じ状態となる。
と駆動盤２ｒ間の距離Ｌを監視（検出）するための監視
区間Ｚｓを設定する。この場合、監視区間Ｚｓは、型閉
位置Ｘｅを終端（監視終了位置）とし、この型閉位置Ｘ
ｅを含む手前に設定するとともに、監視区間Ｚｓの始端
となる監視開始位置Ｘｓは、異物の大きさ等を考慮して
設定する。また、検出した距離Ｌを判定するための設定
値Ｌｓを設定する。設定値Ｌｓは、例えば、異物Ｄが存
在しない状態の監視区間Ｚｓにおける固定盤２ｃと駆動
盤２ｒ間の距離Ｌｏを予め検出し、この距離Ｌｏに一定
値Ｋを加えた大きさに設定できる。なお、型閉位置Ｘｅ
は、可動型Ｃｍが固定型Ｃｃに対して近接又は接触して
いるが、負荷圧力は直前に行われる低圧型締（監視区間
Ｚｓ）と同じ状態となる。
【００１７】さらに、監視区間Ｚｓでは、駆動電流Ｉが
予め設定した設定電流Ｉｓを越えないように電流制限す
る。即ち、駆動電流Ｉは、正常な場合、図３に示すよう
に高圧型締の開始位置（型閉位置Ｘｅと同じ）から急激
に増加する。また、異物Ｄが挟まった場合であって、特
に、異物Ｄが小さい場合には、ドグルリンク機構５のト
グル拡大率により大きなトルクが発生して金型Ｃを破損
する原因になる。このため、少なくとも監視区間Ｚｓに
おいては、駆動電流Ｉが、図３に示す設定電流Ｉｓを越
えないように電流制限するとともに、この設定電流Ｉｓ
は、トグル拡大率の逆数の関数を用いた規制曲線により
設定する。
予め設定した設定電流Ｉｓを越えないように電流制限す
る。即ち、駆動電流Ｉは、正常な場合、図３に示すよう
に高圧型締の開始位置（型閉位置Ｘｅと同じ）から急激
に増加する。また、異物Ｄが挟まった場合であって、特
に、異物Ｄが小さい場合には、ドグルリンク機構５のト
グル拡大率により大きなトルクが発生して金型Ｃを破損
する原因になる。このため、少なくとも監視区間Ｚｓに
おいては、駆動電流Ｉが、図３に示す設定電流Ｉｓを越
えないように電流制限するとともに、この設定電流Ｉｓ
は、トグル拡大率の逆数の関数を用いた規制曲線により
設定する。
【００１８】一方、型締動作及び異物検出処理は次のよ
うに行なわれる。まず、型締動作は次のようになる。
今、型締装置Ｍｃの可動盤２ｍは、型開位置にあるもの
とする。この状態から、まず、高速型閉が行われる（ス
テップＳ１）。これにより、可動盤２ｍは、型開位置か
ら型閉方向へ高速で前進移動する。そして、図３に示す
ように、可動盤２ｍが減速開始位置Ｘａに達すれば、減
速処理が行なわれ、さらに、低圧開始位置Ｘｂに達すれ
ば、低圧型締が行われる（ステップＳ２，Ｓ３）。ま
た、可動盤２ｍが低圧型締の終了する低圧終了位置、即
ち、型閉位置Ｘｅに達すれば、高圧制御による高圧型締
が行われる（ステップＳ４）。以上が正常に行われる型
締動作であり、図３は、正常時における可動盤２ｍの型
閉速度（型締速度）Ｖと駆動電流Ｉを示す。なお、減速
開始位置Ｘａ，低圧開始位置Ｘｂ及び型閉位置Ｘｅは、
第二被検出部２３ｂを利用して検出される。
うに行なわれる。まず、型締動作は次のようになる。
今、型締装置Ｍｃの可動盤２ｍは、型開位置にあるもの
とする。この状態から、まず、高速型閉が行われる（ス
テップＳ１）。これにより、可動盤２ｍは、型開位置か
ら型閉方向へ高速で前進移動する。そして、図３に示す
ように、可動盤２ｍが減速開始位置Ｘａに達すれば、減
速処理が行なわれ、さらに、低圧開始位置Ｘｂに達すれ
ば、低圧型締が行われる（ステップＳ２，Ｓ３）。ま
た、可動盤２ｍが低圧型締の終了する低圧終了位置、即
ち、型閉位置Ｘｅに達すれば、高圧制御による高圧型締
が行われる（ステップＳ４）。以上が正常に行われる型
締動作であり、図３は、正常時における可動盤２ｍの型
閉速度（型締速度）Ｖと駆動電流Ｉを示す。なお、減速
開始位置Ｘａ，低圧開始位置Ｘｂ及び型閉位置Ｘｅは、
第二被検出部２３ｂを利用して検出される。
【００１９】他方、可動型Ｃｍと固定型Ｃｃ間に異物が
存在する場合の処理は、次のように行われる。まず、正
常時と同様に高速型閉が行われる（ステップＳ１）。こ
れにより、可動盤２ｍは、型開位置から型閉方向へ高速
で前進移動する。そして、図４に示すように、可動盤２
ｍが減速開始位置Ｘａに達すれば、減速処理が行なわ
れ、さらに、低圧開始位置Ｘｂに達すれば、低圧型締が
行われる（ステップＳ２，Ｓ３）。
存在する場合の処理は、次のように行われる。まず、正
常時と同様に高速型閉が行われる（ステップＳ１）。こ
れにより、可動盤２ｍは、型開位置から型閉方向へ高速
で前進移動する。そして、図４に示すように、可動盤２
ｍが減速開始位置Ｘａに達すれば、減速処理が行なわ
れ、さらに、低圧開始位置Ｘｂに達すれば、低圧型締が
行われる（ステップＳ２，Ｓ３）。
【００２０】一方、可動盤２ｍが減速開始位置Ｘａに達
した後、監視開始位置Ｘｓに達すれば、コントローラ２
１は、リニアスケール２３から検出される固定盤２ｃと
駆動盤２ｒ間の距離Ｌを監視する（ステップＳ５，Ｓ
６）。この際、可動型Ｃｍと固定型Ｃｃ間に異物Ｄが存
在すれば、可動盤２ｍが型閉位置Ｘｅに達する前にタイ
バー３…が伸長するため、検出される距離Ｌは大きくな
る。よって、検出された距離Ｌが設定値Ｌｓ以上になれ
ば、コントローラ２１は、異物Ｄを検出したことに伴う
異物検出処理を行う（ステップＳ７，Ｓ８）。即ち、型
締装置Ｍｃ（サーボモータ１１）の作動を停止させた
り、アラームにより警報を出力する処理を実行する。
した後、監視開始位置Ｘｓに達すれば、コントローラ２
１は、リニアスケール２３から検出される固定盤２ｃと
駆動盤２ｒ間の距離Ｌを監視する（ステップＳ５，Ｓ
６）。この際、可動型Ｃｍと固定型Ｃｃ間に異物Ｄが存
在すれば、可動盤２ｍが型閉位置Ｘｅに達する前にタイ
バー３…が伸長するため、検出される距離Ｌは大きくな
る。よって、検出された距離Ｌが設定値Ｌｓ以上になれ
ば、コントローラ２１は、異物Ｄを検出したことに伴う
異物検出処理を行う（ステップＳ７，Ｓ８）。即ち、型
締装置Ｍｃ（サーボモータ１１）の作動を停止させた
り、アラームにより警報を出力する処理を実行する。
【００２１】また、監視区間Ｚｓでは、駆動電流Ｉが設
定電流Ｉｓを越えないように電流制限する。即ち、異物
Ｄが挟まっている場合、トグルリンク機構５のトグル拡
大率に基づいてトルクが増大しようとするが、駆動電流
Ｉは、トグル拡大率の逆数の関数を用いた規制曲線によ
り設定された設定電流Ｉｓを越えないように電流制限さ
れる。したがって、トルクの増大は回避される。
定電流Ｉｓを越えないように電流制限する。即ち、異物
Ｄが挟まっている場合、トグルリンク機構５のトグル拡
大率に基づいてトルクが増大しようとするが、駆動電流
Ｉは、トグル拡大率の逆数の関数を用いた規制曲線によ
り設定された設定電流Ｉｓを越えないように電流制限さ
れる。したがって、トルクの増大は回避される。
【００２２】このように、本実施例に係る異物検出方法
によれば、可動盤２ｍを型閉方向へ移動させた際におけ
る固定盤２ｃと駆動盤２ｒ間の距離Ｌを検出し、可動盤
２ｍが型閉位置Ｘｅに達するまでに、距離Ｌが設定値Ｌ
ｓ以上になったなら、異物Ｄを検出したことに伴う異物
検出処理を行うため、検出処理の容易化及び制御系のコ
ストダウンを図れるとともに、異物検出の迅速性及び確
実性、さらには安定性及び信頼性を高めることができ
る。また、トグルリンク機構５を備える型締装置Ｍｃに
おいて、型閉位置Ｘｅから手前に設定した所定の監視区
間Ｚｓで距離Ｌの検出を行うとともに、この監視区間Ｚ
ｓでは、駆動電流Ｉが予め設定した設定電流Ｉｓを越え
ないように電流制限されるため、トルクの増大により金
型Ｃが破損するなどの不具合は回避される。
によれば、可動盤２ｍを型閉方向へ移動させた際におけ
る固定盤２ｃと駆動盤２ｒ間の距離Ｌを検出し、可動盤
２ｍが型閉位置Ｘｅに達するまでに、距離Ｌが設定値Ｌ
ｓ以上になったなら、異物Ｄを検出したことに伴う異物
検出処理を行うため、検出処理の容易化及び制御系のコ
ストダウンを図れるとともに、異物検出の迅速性及び確
実性、さらには安定性及び信頼性を高めることができ
る。また、トグルリンク機構５を備える型締装置Ｍｃに
おいて、型閉位置Ｘｅから手前に設定した所定の監視区
間Ｚｓで距離Ｌの検出を行うとともに、この監視区間Ｚ
ｓでは、駆動電流Ｉが予め設定した設定電流Ｉｓを越え
ないように電流制限されるため、トルクの増大により金
型Ｃが破損するなどの不具合は回避される。
【００２３】以上、実施例について詳細に説明したが、
本発明はこのような実施例に限定されるものではなく、
細部の構成，手法等において本発明の要旨を逸脱しない
範囲で任意に変更，追加，削除できる。例えば、実施例
は、駆動機構部Ｒにトグルリンク機構５を備える場合を
示したが、トグルリンク機構５を用いない直圧形式の駆
動機構部にも同様に利用することができる。また、設定
電流Ｉｓは、トグル拡大率の逆数の関数を用いた規制曲
線により設定した場合を示したが、一定値により設定す
る場合を排除するものではない。
本発明はこのような実施例に限定されるものではなく、
細部の構成，手法等において本発明の要旨を逸脱しない
範囲で任意に変更，追加，削除できる。例えば、実施例
は、駆動機構部Ｒにトグルリンク機構５を備える場合を
示したが、トグルリンク機構５を用いない直圧形式の駆
動機構部にも同様に利用することができる。また、設定
電流Ｉｓは、トグル拡大率の逆数の関数を用いた規制曲
線により設定した場合を示したが、一定値により設定す
る場合を排除するものではない。
【００２４】
【発明の効果】このように、本発明に係る射出成形機の
異物検出方法は、可動盤を型閉方向へ移動させた際にお
ける固定盤と駆動盤間の距離を検出し、可動盤が型閉位
置に達するまでに、当該距離が設定値以上になったな
ら、異物を検出したことに伴う異物検出処理を行うよう
にしたため、次のような顕著な効果を奏する。
異物検出方法は、可動盤を型閉方向へ移動させた際にお
ける固定盤と駆動盤間の距離を検出し、可動盤が型閉位
置に達するまでに、当該距離が設定値以上になったな
ら、異物を検出したことに伴う異物検出処理を行うよう
にしたため、次のような顕著な効果を奏する。
【００２５】（１） 検出処理の容易化及び制御系のコ
ストダウンを図れるとともに、異物検出の迅速性及び確
実性、さらには安定性及び信頼性を高めることができ
る。
ストダウンを図れるとともに、異物検出の迅速性及び確
実性、さらには安定性及び信頼性を高めることができ
る。
【００２６】（２） 好適な実施の態様により、トグル
リンク機構を備える型締装置において、所定の監視区間
を設定するとともに、この監視区間における駆動電流が
予め設定した設定電流を越えないように電流制限すれ
ば、トルクの増大により金型が破損するなどの不具合を
回避できる。
リンク機構を備える型締装置において、所定の監視区間
を設定するとともに、この監視区間における駆動電流が
予め設定した設定電流を越えないように電流制限すれ
ば、トルクの増大により金型が破損するなどの不具合を
回避できる。
【図１】本発明の好適な実施例に係る異物検出方法を含
む型締装置の型締動作を説明するためのフローチャー
ト、
む型締装置の型締動作を説明するためのフローチャー
ト、
【図２】同異物検出方法を実施できる射出成形機の構成
図、
図、
【図３】同異物検出方法を実施した際の正常時における
各部の信号変化を示すタイミングチャート、
各部の信号変化を示すタイミングチャート、
【図４】同異物検出方法を実施した際の異物が存在する
際における各部の信号変化を示すタイミングチャート、
際における各部の信号変化を示すタイミングチャート、
２ｃ 固定盤
２ｒ 駆動盤
２ｍ 可動盤
３… タイバー
４ 駆動部
５ トグルリンク機構
Ｍ 射出成形機
Ｍｃ 型締装置
Ｃｃ 固定型
Ｃｍ 可動型
Ｒ 駆動機構部
Ｄ 異物
Ｌ 固定盤と駆動盤間の距離
Ｘｅ 型閉位置
Ｚｓ 監視区間
Ｉ 駆動電流
Ｉｓ 設定電流
Claims (5)
- 【請求項１】 固定型を有する固定盤と駆動機構部を有
する駆動盤間にタイバーを架設し、このタイバーに可動
型を有する可動盤をスライド自在に装填してなる型締装
置における前記可動盤を、型閉方向へ移動させた際にお
ける前記可動型と前記固定型間に挟まった異物を検出す
る射出成形機の異物検出方法において、前記可動盤を型
閉方向へ移動させた際における前記固定盤と前記駆動盤
間の距離を検出し、前記可動盤が型閉位置に達するまで
に、前記距離が設定値以上になったなら、異物を検出し
たことに伴う異物検出処理を行うことを特徴とする射出
成形機の異物検出方法。 - 【請求項２】 前記駆動機構部は、駆動部の進退運動を
前記可動盤に伝達するトグルリンク機構を備えることを
特徴とする請求項１記載の射出成形機の異物検出方法。 - 【請求項３】 前記距離の検出は、前記型閉位置から手
前に設定した所定の監視区間で行うことを特徴とする請
求項１又は２記載の射出成形機の異物検出方法。 - 【請求項４】 前記監視区間では、駆動電流が予め設定
した設定電流を越えないように電流制限することを特徴
とする請求項３記載の射出成形機の異物検出方法。 - 【請求項５】 前記設定電流は、前記トグルリンク機構
におけるトグル拡大率の逆数の関数を用いた規制曲線に
より設定することを特徴とする請求項４記載の射出成形
機の異物検出方法。
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|---|---|---|---|
| JP2000120356A JP3524036B2 (ja) | 2000-04-21 | 2000-04-21 | 射出成形機の異物検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2000120356A JP3524036B2 (ja) | 2000-04-21 | 2000-04-21 | 射出成形機の異物検出方法 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001301000A JP2001301000A (ja) | 2001-10-30 |
| JP3524036B2 true JP3524036B2 (ja) | 2004-04-26 |
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-
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- 2000-04-21 JP JP2000120356A patent/JP3524036B2/ja not_active Expired - Fee Related
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